WO2004040954A1 - Verfahren zur kontrolle von saugpipetten für bauelemente in bestückautomaten - Google Patents

Verfahren zur kontrolle von saugpipetten für bauelemente in bestückautomaten Download PDF

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determined
pipette
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Wilhelm Beutel
Roland Bürger
Matthias Hedrich
Michael Brodt
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Siemens Aktiengesellschaft
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    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0812—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines the monitoring devices being integrated in the mounting machine, e.g. for monitoring components, leads, component placement

Definitions

  • the invention relates to a method for checking suction pipettes for components in automatic placement machines.
  • the components to be assembled are picked up by vacuum suction pipettes attached to a placement head.
  • the sucked-in components are then fed to a camera for optical detection of the position on the suction pipette and, after a possible position correction by the placement head, finally placed on a substrate, generally a printed circuit board.
  • This procedure requires that the position of the component on the pipette remains unchanged despite the rapid movement sequence when positioning the placement head. This requires a constant suction force of the suction pipette, which can be impaired primarily by three factors:
  • Optical methods for pipette quality control are known, in which the brightness values of the pixels of the camera image are evaluated in the entire expected range of the pipette image. The evaluation is limited to the global assessment of the gray value histograms resulting from the brightness values, which results in undifferentiated and only rough quality statements.
  • end face pixel brightness comparison methods are also known, in which the pixels of the end face of the current pipette image are compared with the stored ideal image of a new pipette.
  • this method only allows a limited classification of errors and cannot take into account any position and angle deviations of the analyzed pipette.
  • suction pipette quality is no longer global across the entire range based on an image of the pipette end face
  • Pipette expected area evaluated, but differentiated according to the sizes of excellent surface areas a suction pipette. Geometric description data of the suction pipette are used, which were saved before the check. The influence of disruptive background structures is avoided by comparing the target surface size with the size of the actual surface.
  • the method is used for two surface areas of the pipette. These could advantageously be the vacuum channels of the suction pipette on the one hand and the end face of the suction pipette on the other hand in accordance with Claim 5.
  • the measured actual surface size results in a simple manner from the number of pixels which have a brightness value which is assigned to the surface area in question. Taking the imaging conditions into account, the actual surface size can be determined from the number of pixels.
  • the position of the suction pipette is first compared by comparing the image with a stored surface structure, including both the displacement in a plane perpendicular to the axis of the suction pipette and the angular position is understood, determined and this position is taken into account when comparing the actual surface size with the target surface size. In this way, disturbing background structures can be hidden from the view in a simple manner.
  • the method according to claim 7 does not require any complex initialization phases, in which, on the basis of the stored surface structure and the position determination of the suction pipette, individual pixels which are expected to be assigned to the excellent surface areas are selected and their brightness values are stored. Deducted from these stored brightness values, the assignment of which to the surface areas is known, an average brightness value can be determined for the individual surface areas and a threshold value interval within which the brightness values must lie if a pixel is to be counted for the corresponding surface area.
  • the analysis is discarded according to claim 8 and a new image, if necessary with different lighting and resulting new brightness values and new contrasts, is recorded.
  • FIG. 1 shows a side view of a suction pipette in partial section with a schematically illustrated image evaluation unit
  • FIG. 2 shows the end face of suction pipettes when checking the identity of the suction pipettes
  • FIG. 3 shows the end face of a dirty suction pipette
  • FIG. 4 shows the end face of a damaged suction pipette
  • FIG. 5 shows a flow chart for the method according to the invention
  • FIG. 6a shows an unprocessed image of a front side of a suction pipette
  • FIG. 6b shows an analysis image for the actual surface size of the end face
  • FIG. 6c an analysis image for the actual surface size of the vacuum channels and FIG. 6d an actual surface image of the suction pipette determined therefrom.
  • a suction pipette 1 is shown in side view in partial section.
  • the end face 2 of the suction pipette 1 has at least one vacuum channel 3, on which the pressure required to hold a component (not shown) occurs on the component.
  • the end face 2 will captured by a camera 4 with a downstream image evaluation unit 5 and illuminated for this purpose with the aid of light sources 6.
  • a surface description of the end face of the suction pipette 1 is stored in a memory of the image evaluation unit.
  • FIG. 2 schematically shows an image 7 of the end face 2 of the suction pipette 1, which is formed by vacuum channels 3 and an end face 10 consisting of intermediate webs.
  • the image 7 is compared with the desired image 8 shown in broken lines in the image evaluation unit 5. Because of the different area of the end face 10 and the vacuum channels 3 in the target image 8 and in the image 7, it is thus established that the wrong suction pipette 1 is located on the placement head. The wrong suction pipette 1 can therefore be replaced without subsequent errors due to incorrectly picked up components.
  • FIG. 3 shows an example of contamination 12 on the end face 2 of a suction pipette 1, as is caused, for example, by solder paste.
  • FIG. 4 schematically shows damage 14 at the edge of the end face 7 of the suction pipette 1, which deviates from the target image 8.
  • FIG. 5 shows a flow chart for the method according to the invention, which is now explained in more detail with the aid of FIG. 6.
  • 20 suction pipette description data which include the geometric data of the end face of a suction pipette, are stored in a first step.
  • An image 30 of the end face 2 of the suction pipette 1 without component is then recorded in a step 21 with the aid of the camera 3.
  • the existing image 30 now has a different brightness value for each pixel, depending on the reflectivity of the end surface of the suction pipette 1, as shown in the image in FIG. 6a.
  • the position of the suction pipette 1 is determined in the next step 22 with the aid of known methods, such as a blop analysis (determination of the center of gravity of the blop), edge probing or a correlation method, including both the displacement of the suction pipette 1 in a plane perpendicular to the axis of the suction pipette 1 and the angular position of the suction pipette is understood.
  • known methods such as a blop analysis (determination of the center of gravity of the blop), edge probing or a correlation method, including both the displacement of the suction pipette 1 in a plane perpendicular to the axis of the suction pipette 1 and the angular position of the suction pipette is understood.
  • the available suction pipette description data and the determined position of the suction pipette 1 can now be used to take samples of individual pixels, each belonging to the end face 10, the vacuum channel 3 or the background, in a next step 23.
  • step 24 average brightness values are determined from the pixel samples for the respective surface areas end face 10, vacuum channel 3 and background.
  • step 25 the determined average brightness values are compared with one another and checked whether the average brightness values are at a sufficient distance from one another, which is synonymous with an adequate contrast. If the contrast is too low, the analysis is discarded and a new image, possibly with new lighting, is generated.
  • a threshold value interval is determined on the basis of the determined average brightness values for the respective surface areas, which contains brightness values, the pixels with this particular brightness represent a surface area, i.e. the end face 10, the vacuum channel 3 or the background.
  • next step 27 connected pixels, the brightness values in the predetermined threshold value interval have, combined into a total area (blob).
  • the pixels that form the total area of the end face 10 are shown in FIG. 6b, and the pixels that form the total area of the vacuum channels 3 are shown in FIG. 6c.
  • the actual surface size of the end face 10 and the vacuum channels 3 can be determined.
  • the measured actual surface size is then checked against the stored target surface size.
  • the comparison of the determined area with the nominal value then gives a statement about a possible blockage in the vacuum channel 3; on the end face, inhomogeneity points caused by wear or soiling are reflected in a changed size of the determined end face.

Abstract

Für die Untersuchung von Saugpipetten (1) in Bestückautomaten wird ein Verfahren vorgeschlagen, bei dem die Stirnseite (2) der Saugpipette (1) in unterschiedliche Oberflächenbereiche (3 bzw. 10) unterteilt wird, die Soll-Oberflächengröße der einzelnen Oberflächenbereiche (3 bzw. 10) abgespeichert wird, ein Abbild (7) einer realen Saugpipette (1) aufgenommen wird und anhand der ermittelten Helligkeitswerte die Bildpunkte des Abbildes (7) einem der Oberflächenbereiche (3 bzw. 10) zugeordnet werden, worauf sich eine Ist-Oberflächengröße der Oberflächenbereiche (3 bzw. 10) ergibt. Aus dem Vergleich der Soll-Oberflächengröße und der Ist-Oberflächengröße lassen sich Verstopfungen der Vakuumkanäle von Abnutzungen der Stirnseite trennen.

Description

Beschreibung
Verfahren zur Kontrolle von Saugpipetten für Bauelemente in Bestückautomaten
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Kontrolle von Saugpipetten für Bauelemente in Bestückautomaten.
In Bestückautomaten werden die zu bestückenden Bauelemente durch an einem Bestückkopf angebrachten Vakuum-Saugpipetten aufgenommen. Die angesaugten Bauelemente werden dann einer Kamera zur optischen Erkennung der Lage an der Saugpipette zugeführt und schließlich nach einer eventuellen Lagekorrektur durch den Bestückkopf auf einem Substrat, im allgemeinen einer Leiterplatte, aufgesetzt. Dieses Vorgehen erfordert, daß die -Lage des Bauelements an der Saugpipette trotz der schnellen Bewegungsabfolge beim Positionieren des Bestückkopfes unverändert bleibt. Dafür ist eine gleichbleibende An- saugkraft der Saugpipette erforderlich, diese kann vornehm- lieh durch drei Faktoren beeinträchtigt werden:
- Verstopfung eines Vakuumkanals der Saugpipette (Reduktion der Ausgangskraft) ,
- Abnutzung der Pipetten-Stirnfläche, beispielsweise durch abgeschliffene Stirnflächenbereiche (Reduktion der Reib- kräfte) , ,
- Verschmutzung der Pipetten-Stirnfläche (durch Abrieb von Bauteilen, Lotpaste oder ähnliches) .
Daher ist für eine fehlerfreie Bauelementebestückung zu gewährleisten, daß die Pipettenqualität ständig auf obige Einflußfaktoren hin kontrolliert wird. Unterschreitet ein
Qualitätskriterium dann die Mindestanforderungen für die Sicherstellung einer ausreichenden Ansaugkraft, sollte dem Bediener des Bestückautomaten die Notwendigkeit eines Austausches der Saugpipette signalisiert werden.
Bekannt sind bisher Verfahren zur Pipetten- Qualitätskontrolle, bei denen der gemessene Vakuum- Ansaugdruck als Kriterium für eine eventuell vorliegende Verstopfung des Vakuumkanals herangezogen wird. Diese Meßgröße ist jedoch aus technischen Gründen nur für größere Kanal- durchmesser auswertbar, bei kleineren Kanaldurchmessern kann keine ausreichende Aussage über die Kanaldurchlässigkeit getroffen werden.
Es sind optische Verfahren zur Pipettenqualitätskontrolle bekannt, bei denen die Helligkeitswerte der Pixel des Ka era- bildes im gesamten Erwartungsbereich des Pipettenabbildes ausgewertet werden. Die Auswertung beschränkt sich dabei auf die globale Beurteilung des sich aus den Helligkeitswerten ergebenden Grauwerte-Histogrammen, was undifferenzierte und nur grobe Qualitätsaussagen zum Ergebnis hat.
Aus EP 0851728 und aus WO 00/52987 sind ferner Stirnflächen- Pixel elligkeits-Vergleichsverfahren bekannt, bei denen die Pixel der Stirnfläche des aktuellen Pipettenabbildes mit dem gespeicherter Idealbild einer neuen Pipette verglichen wer- den. Dieses Verfahren erlaubt allerdings nur eine eingeschränkte Fehlerklassifizierung und kann keine Lage- und Winkelabweichungen der analysierten Saugpipette berücksichtigen.
Es ist daher die Aufgabe der Erfindung, ein aussagekräftiges Verfahren zur Beurteilung der für die Pipetten-Ansaugkraft relevanten Qualitätsmerkmale zur Verfügung zu stellen, welches eine umfassende Pipettenbeurteilung mit ausreichender Geschwindigkeit erlaubt.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch ein Verfahren der eingangs genannten Art mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1.
Dabei wird die Saugpipetten-Qualität nicht mehr anhand eines Abbildes der Pipetten-Stirnfläche global über den gesamten
Pipettenerwartungsbereich ausgewertet, sondern differenziert nach den Größen von ausgezeichneten Oberflächenbereichen ei- ner Saugpipette. Dabei werden geometrische Beschreibungsdaten der Saugpipette verwendet, die vor der Kontrolle abgespeichert wurden. Durch den Vergleich der Soll-Oberflächengröße mit der Größe der Ist-Oberfläche wird der Einfluß von stören- den Hintergrundstrukturen vermieden.
In der vorteilhaften Ausgestaltung des Verfahrens nach Anspruch 2 wird das Verfahren für zwei Oberflachenbereiche der Saugpipette verwendet. Dies könnten in vorteilhafter Weise gemäß Anspruch 4 zum einen die Vakuumkanäle der Saugpipette und gemäß Anspruch 5 zum weiteren die Stirnfläche der Saugpipette sein.
In einfacher Weise ergibt sich die gemessene Ist- Oberflächengröße gemäß Anspruch 3 aus der Anzahl der Bildpunkte, die einen Helligkeitswert aufweisen, der dem jeweils betrachteten Oberflächenbereich zugeordnet ist. Unter Berücksichtigung der Abbildungsbedingungen läßt sich aus der Anzahl der Bildpunkte die Ist-Oberflächengröße ermitteln.
In der vorteilhaften Ausgestaltung des Verfahren nach Patentanspruch 6 wird vor dem Ermitteln der Ist-Oberflächengröße zunächst anhand eines Vergleichs des Abbildes mit einer abgespeicherten Oberflächenstruktur der Saugpipette deren Positi- on, worunter sowohl die Verschiebung in einer Ebene senkrecht zur Achse der Saugpipette als auch die Winkellage verstanden wird, ermittelt und diese Position beim Vergleich der Ist- Oberflächengröße mit der Soll-Oberflächengröße berücksichtigt. Dadurch können in einfacher Weise störende Hintergrund- Strukturen aus der Betrachtung ausgeblendet werden.
Ohne aufwendige Initialisierungsphasen kommt das Verfahren gemäß Anspruch 7 aus, bei dem anhand der abgespeicherten 0- berflächenstruktur und der Positionsbestimmung der Saugpipet- te einzelne Bildpunkte, die erwartungsgemäß den ausgezeichneten Oberflächenbereichen zugeordnet sind, ausgewählt und deren Helligkeitswerte abgespeichert werden. Aus diesen abge- speicherten Helligkeitswerten, deren Zuordnung zu den Oberflächenbereichen bekannt ist, läßt sich ein mittlerer Helligkeitswert für die einzelnen Oberflachenbereiche ermitteln sowie ein Schwellwertintervall, innerhalb dessen die Hellig- keitswerte liegen müssen, wenn ein Bildpunkt zum entsprechenden Oberflächenbereich zu zählen ist.
Wird während der Analyse festgestellt, daß kein ausreichender Kontrast zwischen unterschiedlichen Oberflächenbereichen zu erzielen ist, wird gemäß Anspruch 8 die Analyse verworfen und ein erneutes Abbild gegebenenfalls mit veränderter Beleuchtung und daraus resultierenden neuen Helligkeitswerten und neuen Kontrasten aufgenommen.
Anhand der Figuren der Zeichnung wird die Erfindung mittels eines Ausführungsbeispiels näher erläutert. Dabei zeigen Figur 1 eine Saugpipette in der Seitenansicht im Teilschnitt mit einer schematisch dargestellten Bildauswerteeinheit, Figur 2 die Stirnseite von Saugpipetten bei der Kontrolle auf Identität der Saugpipetten,
Figur 3 die Stirnseite einer verschmutzten Saugpipette, Figur 4 die Stirnseite einer beschädigten Saugpipette, Figur 5 einen Ablaufplan für das erfindungsgemäße Verfahren, Figur 6a ein unbearbeitetes Abbild einer Stirnseite einer Saugpipette,
Figur 6b ein Analysebild für die Ist-Oberflächengröße der Stirnfläche,
Figur 6c ein Analysebild für die Ist-Oberflächengröße der Vakuumkanäle und Figur 6d ein daraus ermitteltes Ist-Oberflächenbild der Saugpipette.
In Figur 1 ist eine Saugpipette 1 in Seitenansicht im Teilschnitt dargestellt. Die Stirnseite 2 der Saugpipette 1 weist dabei mindestens einen Vakuumkanal 3 auf, an dem der zum Halten eines nicht dargestellten Bauelementes erforderliche Unterdr ck am Bauelement auftritt. Die Stirnseite 2 wird dabei von einer Kamera 4 mit nachgeschalteter Bildauswerteeinheit 5 aufgenommen und dafür mit Hilfe von Lichtquellen 6 beleuchtet. In einem Speicher der Bildauswerteeinheit ist eine Oberflächenbeschreibung der Stirnfläche der Saugpipette 1 abge- speichert .
In Figur 2 ist schematisch ein Abbild 7 der Stirnseite 2 der Saugpipette 1 dargestellt, welche durch Vakuumkanäle 3 und eine aus Zwischenstegen bestehende Stirnfläche 10 gebildet wird. Das Abbild 7 wird dabei mit dem gestrichelt dargestellten Sollbild 8 in der Bildauswerteeinheit 5 verglichen. Aufgrund der unterschiedlichen Fläche der Stirnfläche 10 und der Vakuumkanäle 3 beim Sollbild 8 und beim Abbild 7 ist somit festgestellt, daß sich die falsche Saugpipette 1 am Bestück- köpf befindet. Ohne Folgefehler aufgrund falsch aufgenommener Bauelemente kann die falsche Saugpipette 1 daher ausgewechselt werden.
In Figur 3 ist ein Beispiel für eine Verschmutzung 12 an der Stirnseite 2 einer Saugpipette 1 dargestellt, wie sie beispielsweise durch Lötpaste hervorgerufen wird.
In Figur 4 ist schematisch eine Beschädigung 14 am Rand der Stirnfläche 7 der Saugpipette 1 dargestellt, die vom Sollbild 8 abweicht.
In Figur 5 ist ein Ablaufdiagramm für das erfindungsgemäße Verfahren gezeigt, welches nun mit Hilfe der Figur 6 näher erläutert wird. Zunächst werden in einem ersten Schritt 20 Saugpipetten-Beschreibungsdaten, die die geometrischen Daten der Stirnfläche einer Saugpipette umfassen, abgespeichert. Anschließend wird in einem Schritt 21 mit Hilfe der Kamera 3 ein Abbild 30 der Stirnseite 2 der Saugpipette 1 ohne Bauelement aufgenommen. Das vorhandene Abbild 30 weist nun pro Bildpunkt (Pixel) einen unterschiedlichen Helligkeitswert auf, je nach der Reflektivität der Stirnseiten-Oberfläche der Saugpipette 1, wie es im Bild der Figur 6a gezeigt ist. Mit Hilfe von bekannten Verfahren, wie beispielsweise einer Blop- Analyse (Schwerpunktbestimmung des Blops) , einer Kantenantastung oder eines Korrelationsverfahrens, wird im nächsten Schritt 22 die Position der Saugpipette 1 bestimmt, worunter sowohl die Verschiebung der Saugpipette 1 in einer Ebene senkrecht zur Achse der Saugpipette 1 als auch die Winkellage der Saugpipette verstanden wird.
Durch die vorhandenen Saugpipetten-Beschreibungsdaten und die ermittelte Position der Saugpipette 1 können nun Stichproben einzelner Pixel, die jeweils zur Stirnfläche 10, zum Vakuumkanal 3 bzw. zum Hintergrund gehören, in einem nächsten Schritt 23 aufgenommen werden.
Im folgenden Schritt 24 werden aus den Pixelstichproben mittlere Helligkeitswerte bestimmt für die jeweiligen Oberflachenbereiche Stirnfläche 10, Vakuumkanal 3 und Hintergrund.
Anschließend in Schritt 25 werden die ermittelten mittleren Helligkeitswerte miteinander verglichen und überprüft, ob die mittleren Helligkeitswerte untereinander einen ausreichenden Abstand haben, was gleichbedeutend mit einem ausreichenden Kontrast ist. Ist der Kontrast zu gering, so wird die Analyse verworfen und ein neues Abbild, gegebenenfalls mit neuer Be- leuchtung, erzeugt.
Ergibt sich während dieses Schritts 25 der Überprüfung des Kontrastes, daß dieser ausreichend ist, so wird im folgenden Schritt 26 anhand der ermittelten mittleren Helligkeitswerte für die jeweiligen Oberflachenbereiche ein Schwellwertintervall festgelegt, welches Helligkeitswerte enthält, die Pixel mit dieser jeweiligen Helligkeit einem Oberflächenbereich, d.h. der Stirnfläche 10, dem Vakuumkanal 3 oder dem Hintergrund, zugeordnet werden.
Im nächsten Schritt 27 werden zusammenhängende Bildpunkte, die Helligkeitswerte im vorgegebenen Schwellwertintervall aufweisen, zu einer Gesamtfläche (Blob) zusammengef ßt. In Figur 6b sind die Pixel, die die Gesamtfläche der Stirnfläche 10 bilden, in Figur 6c die Pixel, die die Gesamtfläche der Vakuumkanäle 3 bilden, dargestellt. Mit Hilfe der bekannten Abbildungseigenschaften der Kamera 3 können daraus die Ist- Oberflächengröße der Stirnfläche 10 und der Vakuumkanäle 3 bestimmt werden.
Im folgenden Schritt 28 wird dann eine Überprüfung der gemes- senen Ist-Oberflächengröße mit der abgespeicherten Soll- Oberflächengröße durchgeführt. Der Vergleich der ermittelten Fläche mit dem Nominalwert gibt dann beim Vakuumkanal 3 eine Aussage über eine eventuell vorliegende Verstopfung, bei der Stirnfläche spiegeln sich in einer veränderten Größe der er- mittelten Stirnfläche Inhomogenitätsstellen, verursacht durch Abnutzung oder Verschmutzung wider.
Durch diese Vorgehensweise wird erreicht, daß nur auf Bildpunkte zugegriffen wird, die für die Pipettenqualität rele- vant sind. Das Analyseergebnis verfälschende Hintergrundstrukturen werden nicht mit in die Auswertung einbezogen. Durch die direkte Zuordnung der ausgewerteten Bildpunkte zur Stirnfläche 10 bzw. zum Vakuumkanal 3 entfallen auch jegliche Interpretationsproblematiken. Die hohe vorliegende Pixel- zugriffs-Selektivität des Verfahrens schließlich erlaubt auch die Analyse von Saugpipetten mit kleinen Kanaldurchmessern. Durch die exakte Positionsbestimmung der Saugpipette kann eine Positionsabweichung bei den zu analysierenden Saugpipetten voll kompensiert werden. Durch die Kenntnis der Soll- Oberflächengrößen der Stirnfläche 10 sowie der Vakuumkanäle 3 ist eine detaillierte Fehlerklassifizierung möglich, die im nächsten Schritt 29 ausgegeben wird, da eine Verstopfung des Vakuumkanals von einer Inhomogenität der Stirnfläche durch Abnutzung oder Verschmutzung unterschieden werden kann. Die Vereinigung von Analysegenauigkeit (Kompensation von Ortsbzw. Winkellageabweichung) mit erkennbarem und differenzierten Fehlerspektrum (Stirnfläche/Vakuumkanal) stellt im Zusam- menspiel mit den bekannten Pipetten-Beschreibungsdaten ein umfassenden Pipettenqualitäts-Analyseverfahren zur Verfügung, welches ohne Zwischenspeicherung von Referenzbildern sowie ohne die Kombination mit ergänzenden Verfahren auskommt.

Claims

Patentansprüche:
1. Verfahren zur Kontrolle von Saugpipetten (1) für Bauelemente in Bestückautomaten bei dem - eine den Bauelementen zugewandte Stirnseite (2) der Saugpipetten in ausgezeichnete Oberflachenbereiche (10,3) aufgeteilt wird und die Größe zumindest eines der ausgezeichneten Oberflachenbereiche als Wert für die Soll-Oberflächengröße abgespeichert wird, - ein Abbild (7) der tatsächlich vorliegenden Oberfläche der Saugpipette (1) aufgenommen wird
- aus dem Abbild (7) die Ist-Oberflächengröße des zumindest einen ausgezeichneten Oberflächenbereiches (3 bzw. 10) ermittelt wird, - die Ist-Oberflächengröße mit der Soll-Oberflächengröße verglichen wird und aus dem Vergleich die Qualität der Saugpipette (1) ermittelt wird.
2. Verfahren zur Kontrolle von Saugpipetten (1) für Bauele- mente in Bestückautomaten nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Soll-Oberflächengröße eines weiteren ausgezeichneten Oberflächenbereichs (10 bzw. 3) abgespeichert wird, dass die Ist-Oberflächengröße des weiteren ausgezeichneten Oberflächenbereichs (10 bzw. 3) ermittelt wird und mit der entsprechenden Soll-Oberflächengröße verglichen wird, dass aufgrund der Vergleiche bei nicht ausreichender Übereinstimmung eine qualifizierte Fehlermeldung ausgegeben wird.
3. Verfahren zur Kontrolle von Saugpipetten (1) für Bauelemente in Bestückautomaten nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass räumlich zusammenhängende Bildpunkte mit einem für den ausgezeichneten Oberflächenbereich (3 bzw. 10) vorgegebenen Helligkeitswert dem Oberflächenbereich (3 bzw. 10) zugeordnet werden und unter Berücksichtigung von während der Aufnahme des Abbildes (7) vorliegenden Abbildungsbedingungen die Ist- Oberflächengröße ermittelt wird.
4. Verfahren zur Kontrolle von Saugpipetten (1) für Bauelemente in Bestückautomaten nach einem der Ansprüche 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass der zumindest eine Oberflächenbereich Vakuumkanäle (3) der Saugpipette (1) enthält.
5. Verfahren zur Kontrolle von Saugpipetten für Bauelemente in Bestückautomaten nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der zumindest eine bzw. der weitere Oberflächenbereich eine Stirnfläche (10) der Saugpipette (1) enthält.
6. Verfahren zur Kontrolle von Saugpipetten (1) für Bauelemente in Bestückautomaten nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberflächenstruktur der Stirnseite (2) der Saugpi- pette (1) abgespeichert wird, dass vor dem Ermitteln der Ist-Oberflächengröße aus dem Abbild (7) anhand eines Vergleichs des Abbildes (7) mit der abgespeicherten Oberflächenstruktur die Position der Saugpipette (1) ermittelt wird, dass die Position beim Vergleich der Ist-Oberflächengröße mit der Soll-Oberflächengröße berücksichtigt wird.
7. Verfahren zur Kontrolle von Saugpipetten (1) für Bauelemente in Bestückautomaten nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass mittels der Positionsbestimmung einzelne Bildpunkte, die aufgrund der abgespeicherten Oberflächenstruktur jeweils zu den ausgezeichneten Oberflächenbereichen (3 bzw. 10) und zum Hintergrund zugeordnet sind, ausgewählt werden, die Helligkeitswerte dieser einzelnen Bildpunkte abgespeichert werden, aus den Helligkeitswerten der Bildpunkte, die jeweils einem der ausgezeichneten Oberflachenbereiche (3 bzw. 10) bzw. dem Hintergrund zugeordnet sind, jeweils ein mittlerer Helligkeitswert für die Oberflachenbereiche (3 bzw. 10) und den Hintergrund ermittelt wird, aus den Abständen der jeweiligen mittleren Helligkeitswerte zueinander Schwellwertintervalle ermittelt werden, dass Bildpunkte mit einem ermittelten Helligkeitswert innerhalb der jeweiligen Schwellwertintervalle für die Bestimmung der Ist-Oberflächengröße dem jeweiligen Oberflächenbereich (3 bzw. 10) zugeordnet werden.
8. Verfahren zur Kontrolle von Saugpipetten (1) für Bauelemente in Bestückautomaten nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass bei festgestelltem zu geringem Kontrast zwischen den mittleren Helligkeitswerten für die ausgezeichneten Oberflachenbereiche (3 bzw. 10) und dem Hintergrund erneut ein Abbild, ggf. mit veränderter Beleuchtung, aufgenommen wird.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108029235A (zh) * 2015-09-15 2018-05-11 富士机械制造株式会社 控制装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10154899A (ja) * 1996-11-21 1998-06-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品装着装置
US6041494A (en) * 1996-06-27 2000-03-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electronic part mounting method
WO2000052987A1 (de) * 1999-03-03 2000-09-08 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur kontrolle von haltevorrichtungen für bauelemente in bestückautomaten

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6041494A (en) * 1996-06-27 2000-03-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electronic part mounting method
JPH10154899A (ja) * 1996-11-21 1998-06-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品装着装置
WO2000052987A1 (de) * 1999-03-03 2000-09-08 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur kontrolle von haltevorrichtungen für bauelemente in bestückautomaten

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 1998, no. 11 30 September 1998 (1998-09-30) *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108029235A (zh) * 2015-09-15 2018-05-11 富士机械制造株式会社 控制装置
JPWO2017046862A1 (ja) * 2015-09-15 2018-07-05 株式会社Ｆｕｊｉ 制御装置
CN108029235B (zh) * 2015-09-15 2019-07-02 株式会社富士 控制装置

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