WO2004040234B1 - Anordnung zur messung der geometrie bzw. struktur eines objektes - Google Patents

Anordnung zur messung der geometrie bzw. struktur eines objektes

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WO2004040234B1 PCT/EP2003/012228 EP0312228W WO2004040234B1 WO 2004040234 B1 WO2004040234 B1 WO 2004040234B1 EP 0312228 W EP0312228 W EP 0312228W WO 2004040234 B1 WO2004040234 B1 WO 2004040234B1
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Ralf Christoph
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Abstract

Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Messung der Geometrie bzw. Struktur eines Objektes (38) mittels eines Koordinatenmessgerätes mit einem optischen System zur Erfassung und Abbildung eines Messpunktes auf wenigstens einen optischen Sensor (36), wobei das optische System zumindest eine Messlinsen (14, 18, 22) aufweisende verschiebbare Linsengruppe (10, 12) enthält und wobei zumindest einige der Messlinsen jeweils von einer Aufnahme (26, 28, 30) aufgenommen sind. Dabei ist vorgesehen, dass in zumindest einigen der die Messlinsen aufnehmenden Aufnahmen der zumindest einen verschiebbaren Linsengruppe zumindest eine weitere Linsen zum Abbilden eines Lichtstrahls auf das Objekt angeordnet ist.

Claims

GEÄNDERTE ANSPRUCHE
[beim Internationalen Büro am 18 August.2004 (18.08.04) eingegangen, ursprünglicher Anspruch 1-8 geändert,]
1. Anordnung zur Messung der Geometrie bzw. Struktur eines Objekts (3 §) mittels eines Koordinatenmessgerätes (100) umfassend eine Lichtquelle, von der ein auf einen Messpunkt des Objekts aufbreffender Beleuchtungsstrahlcngang ausgeht, sowie ein optisches System zur Erfassung und Abbildung des Messpunktes auf wenigstens einem optischen Sensor (36) wie CCD-Sensor, wobei das optische System zumindest eine Messlinsen (14. ] B, 22, 58, 60, 62, 64) aufweisende verschiebbare Lhisengruppe enthält und zumindest einige der Mcsslinsen jeweils von einer Aufnahme (26, 28, 30, 68, 70, 72, 74) aufgenommen sind, dad u rch gekennzeichnet, dass in zumindest einigen der die Messlinsen (14, 18, 22, 58, 60, 62, 64) aufnehmenden Aufnahmen (26, 28, 30, 68, 70, 72, 74) der zumindest einen verschiebbaren t-insengruppe zumindest eine weitere von dem Beleuchtungsstrahl durchsette Linse (16, 20, 24, 76, 78, 80, 88) angeordnet ist, wobei von Mcsslinsen ausgebender erster Sirahlengang objektseitig parallel zu dem von der zumindest einen weiteren Linse ausgehenden Bcleuchtungsstrahlengang verläuft-
2. Λnordnun g nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeich et, dass der erste Strahlengang ein Bildverarbeϊtungsstrahlengang und/oder der Beleuchtungsstrahlengang ein solcher eines Hellfeldauflichts oder ein Laserab- standssensorstrahlengang ist.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dad urch gekennzeichnet, dass der Eeleuchtungsstrablengang und der zweite Strahlengang und gegebenenfalls ein weiterer in den Aufnahmen {26, 28, 30, 68, 70, 72, 74) artgeordnete Linsen durchsetzender Strahlengang in oder in etwa in einem Punkt des Objektes (38) auftreffen.
. Anordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, d adureh gekennzeichnet, dass in jeder Aufnahme (26, 28, 30, 6S, 70, 7274) der Messlinsen (14, ) 8, 20,
58, 60, 62, 64) der verschiebbaren Linsengruppe zumindest eine weitere Linse (16, 20, 24, 76? 78, 80, 88) wie AbbildungsJmse angeordnet ist.
- Anordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Anspr che, da durch gek ennzeichnet, dass vor oder hinter uoverschiebbar angeordneter objektsejtiger weilerer Messlinse (44) von den weiteren Linsen (16, 20.22) ausgehender zweiter Strahlengang in optische Achse (32) der Messlinsen (14, 18, 22) umlenkbar ist.
6. Anordnung insbesondere noch Anspruch 1 mit einer Abbildimgsoptik mit Zoom- Optik umfassend in Aufnahmen angeordnete von einem Strahlengang durchsetzte Linsen, die ÜUT Vergrößerungs- und/oder Arbeilsabslandsverändcruπg zueinander verstellbar sind, wobei der Strahlengang auf einen Messpunkt eines zu untersuchenden Objekts auftrifftj dad urch gekennzei chnet, dass von jeder Aufnahme Linsen für zwei oder mehrere parallel zueinander verlaufende Strahlengänge aufgenommen sind und dass die Strahleng-inge objektiv- seitig parallel zueinander verlaufen und im Messpunkt auf das zu messende Objekt aufireffen.
7. Anordnimg nach zumindest Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die von dem Bildverarbeitungsstrahlengang durchsetzten MessJ insen (14, 18, 22, 58, 60, 62, 64) und/oder die von dem Beleuchtungsstrahlcngang durchsetzten weiteren Linsen (16, 20, 4) und/oder die von dem Laserabstaidsstrah- lengang durchsetzten Linsen (76, 78, 80, 88) in Bezug auf diese durchsetzendes Licht optimiert sind.
8. Anordnung nach zumindest Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Linsen zur Erzielung einer Optimierung der diese durchsetzenden Strahlen beschichtet sind.
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2224204B1 (de) * 2004-12-16 2021-05-26 Werth Messtechnik GmbH Verfahren zum Messen von Werkstückgeometrien mit einem Koordinatenmessgerät
US8810904B2 (en) * 2011-02-09 2014-08-19 Northwestern University Optical contact micrometer
WO2014023332A1 (de) * 2012-08-07 2014-02-13 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Koordinatenmessgerät zur bestimmung von raumkoordinaten an einem messobjekt
DE102012109726A1 (de) * 2012-09-04 2014-04-03 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie eines Objektes mit einer Zoomoptik
JP6372969B2 (ja) * 2012-12-03 2018-08-15 矢崎総業株式会社 電流センサ
DE102014108353A1 (de) 2013-06-13 2014-12-18 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Geometrien an Messobjekten mittels eines kombinierten Sensorsystems
DE102016102579A1 (de) * 2016-02-15 2017-08-17 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Vielzahl von Raumkoordinaten an einem Gegenstand
FR3080677B1 (fr) * 2018-04-27 2020-05-29 Insidix Dispositif de mesure topographique
US10965464B1 (en) 2018-06-08 2021-03-30 Wells Fargo Bank, N.A. Tactile binary coded communication

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54110856A (en) * 1978-02-18 1979-08-30 Olympus Optical Co Ltd Three-lens zoom micoroscope
US5033856A (en) * 1984-07-05 1991-07-23 Canon Kabushiki Kaisha Three-dimensional shape measuring apparatus
DE3806686A1 (de) * 1988-03-02 1989-09-14 Wegu Messtechnik Mehrkoordinatenmess- und -pruefeinrichtung
DE4134481C2 (de) * 1991-10-18 1998-04-09 Zeiss Carl Fa Operationsmikroskop zur rechnergestützten, stereotaktischen Mikrochirurgie
JP2981941B2 (ja) * 1991-12-02 1999-11-22 株式会社新川 ボンデイングワイヤ検査装置
US5359416A (en) 1992-10-19 1994-10-25 Thiokol Corporation System and process for detecting and monitoring surface defects
US5539417A (en) * 1994-11-16 1996-07-23 Kelly Communications Group, Inc. Antenna clip assembly and antenna control circuit for cellular phone
GB9705105D0 (en) * 1997-03-12 1997-04-30 Brown & Sharpe Limited Optical surface measurement apparatus and methods
DE19747027A1 (de) * 1997-04-21 1998-10-22 Wegu Messtechnik Multisensor-Tasteinrichtung
DE19733709B4 (de) * 1997-08-04 2005-08-11 Leitz Messtechnik Gmbh Optischer Tastkopf für 3D-Koordinatenmeßgeräte
DE19816270A1 (de) * 1998-04-11 1999-10-21 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Anordnung zur Erfassung der Geometrie von Gegenständen mittels eines Koordinatenmeßgeräts
US6396589B1 (en) * 1999-03-17 2002-05-28 Minolta Co., Ltd. Apparatus and method for measuring three-dimensional shape of object
DE10049303A1 (de) * 2000-07-13 2002-01-31 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren zum berührungslosen Messen von Geometrien von Gegenständen
DE10056073A1 (de) * 2000-11-08 2002-06-06 Hans Tiziani Optisches Verfahren und Sensor zur Gewinnung einer 3D-Punktwolke

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