WO2004006239A1

WO2004006239A1 - 高密度光磁気記録再生装置及び、高密度光磁気記録再生方法

Info

Publication number: WO2004006239A1
Application number: PCT/JP2002/006738
Authority: WO
Inventors: Akihiro Itakura
Original assignee: Fujitsu Limited
Priority date: 2002-07-03
Filing date: 2002-07-03
Publication date: 2004-01-15
Also published as: EP1530211A1; EP1530211A4; JPWO2004006239A1; AU2002346148A1; CN1625772A; US20050068853A1; KR100648055B1; KR20040111577A

Description

明細書高密度光磁気記録再蝶艱ぴ、高密度光磁気記録再生方法技術分野

本発明は、高密度光磁気記録再生装置及び、高密度光磁気記録再生方法に関連し、特に、微小マークの記録再生に適する高密度光磁気記録再雜置及ぴ、高密度光磁気記録再生方法に関する。背景技術

光磁気ディスクへの情報の記録方式には、主に光変調方式と磁界変調方式の 2 種類がある。

光変調方式は、レーザー光の照射量を、記録する情報に応じて変調する力式である。この方式では、記録可能な最小マークの大きさが、光学系の特性により定まる。

一方、磁界変調^では、一定値のレーザ—光を照射し、磁界を反転して情報を記録する。しかし、磁界が反転するためには、有限な反転時間を必要とするので、変調磁界の周波数が高くなると、磁界が反転することにより形成されたエツジ領域が不確定となる。このために、このように高い周波数を有する記録された信号を再生するには、再生信号のジッターが増加するという問題がある。この問題を解決するために、レーザー光をパルス状にして照る方式が提案されている。

記録面にレーザー光を照 I ると、記録面のが上昇し、そして、そのがキュリー点を超えると、記録面に存在していた磁化が消失する。そして、レーザ一光の照射が停止され、記録面のがキュリ一点よりも下がったときに記録面に与えられている磁化の方向に従って、記録マークが形成される。

従って、パルス状のレーザー光を照射して、磁界変調記録を行うと、上述の磁化の反転時間は記録磁化の形成には影 ¾:ず、レーザーパルスを照射するタイミングのみにより、記録磁化を決定できる。これにより、再生信号のジッターを減少させることができる。従って、微小マークの記録に関しては、磁界変調方式の方が適している。

一方、記録された情報を再生するに、検出することができる記録されたマークの最小の寸法は、一般的には、読出しレーザー光の波長と開口数 N Aの光学系のパラメータにより決定される。合焦されたレーザー光のスポットサイズは、レーザー光の波長に比例し且つ、 N Aに反比例する。従って、レーザー光の波長が短いほど、そして、 NAが大きいほど、 "^されたレーザー光のスポットサイズを小さくできるので、より小さな記録されたマークの読出しが可能となる。更に、記録された微小なマークを再生するために、上記のような、再錢置の技術とは別に、 MS R (磁娜解駄^)、 DWDD (磁区移動検出方式)、及び、 MAMMO S (磁区拡大再 ^式）と呼ばれる媒体技術により、再生光学系のパラメータにより定まる限界以下の小さなサイズのマークを検出することを可能とする方法もする。

従って、 _Βίのように、磁界変調方式を使用して記録を行い、且つ、短波長レ一ザー及ぴ高 Ν Αの光学系を使用して或は、 D WD D等の媒体技術を使用して、高密度光磁気記録再生を実現することができる。

上述のように、磁界変調方式では、光変調方式と異なり、記録パターンによらず、マークのエッジの位置を化できる方式である。しかし、記録されるマークの長さ力微小な記録マークの^ こは、上述の磁界変調方式を使用しても、記録されたマークのエッジ位置が変動するという問題がある。その理由は、次のようである。

図 1は、従来技術の磁界変調方式による情報の記録を示す図である。図 1 (A) は、光ディスクにレーザービームスポット 1 0 1力された^^のディスクの？分布 1 0 2を示し、 T cはキュリ一温度を示す。また、矢印 1 0 3は、 AI† するレーザ一ビーム 1 0 1を基準にしたときの、ディスク上の記録トラックの進行方向を示す。図 1 (B) と（C) は、ディスク上のトラックの記録層 1 0 4に記録されたマークを示す。図 1 (B) では、参照番号 1 1 0は現在記録されようとしているマークを示しそして、参照番号 1 1 1は、マーク 1 1 0の前に記録されたマーク、参照番号 1 1 2は、マーク 1 1 1の前に記録されたマークを示す。また、矢印 1 0 5は、マーク 1 1 0を記録する記録磁界の方向を示す。図 1 (C) では、参照番号 1 2 0は現在記録されようとしているマークを示しそして、参照番号 1 2 1は、マーク 1 2 0の前に記録されたマーク、参照番号 1 2 2は、マーク 1 2 1の前に記録されたマークを示す。また、矢印 1 0 5は、マーク 1 1 0を記録する記録磁界の方向を示す。図 1 (D) は、前に記録されたマーク 1 1 1又は 1 2 1の記録磁界から、現在記録されているマーク 1 1 0又は 1 2 0の記録磁界への、記録磁界 1 0 5の切り替わりを示す。また、図 1 (E) は、磁界変調方式で使用するレーザー光を発光させるパルス 1 3 0を示す。図 1 (E) では、パルス 1 3 0がハイレベルのときにレーザー光が発光するものとする。

磁界変調方式では、雜記録されているよりも前に記録されたマークの反磁界力現在記録されているマークに影響を与える。例えば、図 1 (B) に示すように、現在記録されているマーク 1 1 0の直前に記録されたマークが、短マーク 1 1 1の場合には、その短マーク 1 1 1とその前のマーク 1 1 2の両方の反磁界が、現在記録されているマーク 1 1 0に影響を与える。具体的には、マーク 1 1 1の反磁界 1 1 3と、マーク 1 1 2の反磁界 1 1 4力記録磁界 1 0 5に重ね合わされる。し力、し、マーク 1 1 1が短い ^には、マーク 1 1 1の反磁界 1 1 3と、マーク 1 1 2の反磁界 1 1 4の大きさが近づくために、この 2つの磁界が互いに打ち消して、図 1 (D) に示す記録磁界 1 0 5が変化する点で、磁界 1 0 5によりマーク 1 1 0力 S形成される。即ち、マーク 1 1 1からマーク 1 1 0への変化点は、磁界 1 0 5の変化点に近づく。

これに対して、図 1 (C) に示すように、現在記録されているマーク 1 2 0の直前のマーク 1 2 1が長マークであるには、直前のマーク 1 2 1の反磁界 1 2 3のみが、現在記録されているマーク 1 2 0の？ ^成に影響を与え、マーク 1 2 2の反磁界 1 2 4は、難記録されるマーク 1 2 0の形成に影響を与えない。従つて、この： ^には、マーク 1 2 0の形成のために印カ卩される記録磁界 1 0 5に、更に、直前のマーク 1 2 1の反磁界 1 2 3が加算されることとなり、実質的に、記録磁界が増加する。このために、図 1 (C) に示すように、現在記録されるマーク 1 2 0の直前のマーク 1 2 1が長マークの場合には、図 1 (D) の記録磁界 1 0 5の切り換え点よりも前に、現在記録されているマーク 1 2 0力 S形成される。即ち、 ¾記録されているマークの直前のマーク力短マーク力或は長マークかによって、現在記録されているマークのェッジ位置が変化するという問題がある。発明の開示

本発明は、上述した従雄術の問題を解決する、高密度光磁気記録再^ ¾s¾ ぴ、高密度光磁気記録再生方法を撒することを目的とする。

本発明の目的は、記録媒体から再生されたマークのェッジ位置が変化しなレ、ように、記録媒体にマークを記録することができる高密度光磁気記録再生装 m¾ぴ、高密度光磁気記録再生方法をすることである。

更に本発明の他の目的は、記録媒体からマークを再生する際に、マークのエツジ位置の変化を補償することができる高密度光磁気記録再^ ¾置及び、高密度光磁気記録再法を»することである。

この目的を達成するために、光磁気記録媒体に情報マークを記録し又は再生する光磁気記録再生装置を、記録情報マークの長さを判断する手段と、当該記録 it 報マークの直前に記録されたマークの長さに応じて、当該マークを記録する記録磁界強度を変更する手段を有するように構成する。

これにより、再生されたマークのエッジ位置は変ィ匕しないので、記録媒体に、高密度にデータを記録することができる。図面の簡単な説明

本発明の他の目的、特«ひ 1』点は、添付の図面を参照しながら以下の詳細な説明を読むことにより一層明瞭となるであろう。

図 1は、従来技術の磁界変調方式による情報の記録を示す図である。

図 2は、本発明の第 1の難例を示す図である。

図 3は、本発明の第 2の実施例を示す図である。図 4は、本発明の第 2の実施例を示す図である。

図 5は、本発明の第 3の実施例を示す図である。

図 6は、本発明の第 4の実施例を示す図である。

図 7は、本発明の第 5の実施例を示す図である。

図 8は、本発明の第 6の実施例を示す図である。

図 9は、本発明の第 7の実施例の信号フォーマットを示す図である。

図 1 0は、本発明の第 7の実施例の位相検出パターンの再生信号タイミングを示す図である。

図 1 1は、本発明の第 7の実施例の概略の構成を示す図である。発明を実施するための最良の形態

以下に、本発明を実施するための実施の形態について、図面を用いて説明する。図 2は、本発明の第 1の実施例を示す。第 1の実施例は、マークを記録媒体に記録する際に、記録されるマークを補正することによって、再生されるマークのエッジが、正規の位置になるように保持する。特に、図 2は、現在記録されているマーク 1 2 0の直前がに長マーク 1 2 1が記録されている齢に、記録されるマークを補正する方法の雄例を示す。図 2 (A) は、光ディスクにレーザービ一ムスポットが A iされたのディスクの ¾分布 1 0 2を示し、 T cはキュリーを示す。また、矢印 1 0 3は、 Λ!ίするレーザービームを基準にしたときの、ディスク上の記録トラックの進行方向を示す。図 2 (Β) は、ディスク上のトラックの記録層 1 0 4に記録されたマークを示す。参照番号 1 2 0は現在記録されているマークを示しそして、参照番号 1 2 1は、マーク 1 2 0の前に記録されたマークを示し、マーク 1 2 1は長マークである。また、矢印 1 0 5は、マーク 1 2 0を記録する記録磁界を示す。また、図 2 (C) の参照番号 1 0 5は、前に記録されたマーク 1 2 1の記録磁界から、現在記録されているマーク 1 2 0 の記録磁界への、記録磁界 1 0 5の切り替わりを示す。直前に記録されたマークが短マークのには、記録磁界の強度は、一 Μ、 +Μであるとする。また、図

2 (C) の参照番号 1 3 0は、磁界変調方式で使用するレーザー光を発光させるパルス 1 3 0を示し、パルス 1 3 0がハイレベルのときにレーザー光が発光するものとする。直前に記録されたマークが短マークの齢には、レーザー光を発光させるパルス 1 3 0の強度は Aであるとする。また、図 2 (A) から (F) にわたって伸ぴる ^2 0 1は、マーク 1 2 1が短マークであつたとした:^の、記録磁界 1 0 5の切り換え及び、レーザー光を発光させるパルス 1 3 0の発光タイミングを示す。

図 2 (C)は、マーク 1 2 0を記録するの補正の一難例を示す。図 2 (C) は、記録磁界 1 0 5の振幅を制御する方法である。図 2 (C) では、長マーク 1 2 1を記録するための記録磁界一 M力ゝら、マーク 1 2 0を記録するための記録磁界 +Mへ、記録磁界 1 0 5を変化させる時点は、直前に記録されたマークが短マークの^と同じ時点に^する。し力し、マーク 1 2 0を記録する磁界の強度を、直前に記録されたマークが短マークの:！ ^と比べて、所定の値 mだけ、低下させ、 (M-m) とする。

—方、レーザー光を発光させるパルス 1 3 0については、直前に記録されたマ一クが短マークのの発光時点と同一であり且つ、強度も、短マークを記録するの Αと同一である。

図 2 (D) は、マーク 1 2 0を記録する^^の補正の他の一実施例を示す。図 2 (D) は、記録磁界 1 0 5の変化タイミングを制御する方法である。図 2 (D) は、長マーク 1 2 1を記録するための記録磁界一Μから、マーク 1 2 0を記録するための記録磁界 +Μへ、記録磁界 1 0 5を変ィ匕させる時点を、直前に記録されたマークが短マークの^と比べて時間 t 1だけ遅延させる。しかし、マーク 1 2 0を記録する磁界の^^は、変化させず +Mのまま保持する。

一方、レーザー光を発光させるパルス 1 3 0については、直前に記録されたマ一クが短マークの： ^の発光時点と同一であり且つ、強度も、直前に記録されたマークが短マークのの赚 Aと同一である。

図 2 (E) は、マーク 1 2 0を記録する：^の補正の他の一実施例を示す。図 2 (E)は、レーザー光を発光させるパルス 1 3 0の振幅を制御する方法である。図 2 (E) は、レーザー光を発光させるパルス 1 3 0の発光時点については、直前に記録されたマークが短マークのと同じ時点に保持する。しかし、レーザ一光を発光させるパルス 1 3 0の強度を、直前に記録されたマークが短マークのと比べて、所定の値 aだけ、低下させ、 (A- a ) とする。

一方、記録磁界 1 0 5については、直前に記録されたマークが短マークのの切り換え時点と同一であり且つ、振幅も、直前に記録されたマークが短マークのの振幅一 M， +Mと同一である。

図 2 (F) は、マーク 1 2 0を記録する;^の補正の他の一実施例を示す。図 2 (F) は、レーザー光を発光させるパルス 1 3 0の発光時点を制御する方法である。図 2 (F) は、レーザー光を発光させるパルス 1 3 0の発光時点については、直前に記録されたマークが短マークのと比べて、時間 t 2だけ遅延させる。しかし、レーザー光を発光させるパルス 1 3 0の強度は、直前に記録されたマークが短マークの ^^と、同一の値 Aに麟する。

一方、記録磁界 1 0 5については、直前に記録されたマークが短マークの^^ の切り換え時点と同一であり且つ、振幅も、直前に記録されたマークが短マークのの振幅一 M， +Mと同一である。

以上により、直前に記録されたマーク 1 2 1が長マークのにおいて、次に記録されたマーク 1 2 0が再生されたときに、再生されたマークのエッジ位置が変ィ匕しないように、記録時に補正を行うことができる。

なお、上述の雄例では、直前に記録されたマークが短マークである:^を基準として、直前に記録されたマークが長マークである^^には、記録されるマークの記録磁界 1 0 5又はレーザー光を発光させるパルス 1 3 0を制御する構成とした。しカゝし、直前に記録されたマークが長マークであるを基準として、直前に記録されたマークが短マークであるには、記録されるマークの記録磁界 1 0 5又はレーザー光を発光させるパルス 1 3 0を、上述の実施例と逆に制御する構成としても、同様に、再生されたマークのエッジ位置が変化しないように、記録時に補正を行うことができる。なお、上述の^ i例では、直前に記録されたマークの長さのみを基準としたが、そのまた前のマークの長さを組み合わせることで、さらに精密な制御が可能となる。

更に、直前のマークの長さを 2段階としたが、これを他段階としてもよい。なお、： ¾補正量 m、 t l 、 a、 t 2は、固定として高密度光磁気記録再置内に記憶し、当該パターンの直前に記録されたパターンに応じて読み出して使用しても良い。また、更に精密に制御を行うために、記録媒体のテスト領域において、テストパターンを記録し、且つそれを読み出して、決定しても良い。このようにすることにより、記録媒体毎に更に精密に、顧補正量 m、 t 1 、 a、 t 2を決定することができる。

次に本発明の第 2の実施例について図 3と 4を用いて説明する。図 3は、本発明の高密度光磁気記録再生装置の概略のプロックを示す。本発明の高密度光磁気記録再生装置は、主に、記録系 3 1 0、磁気へッド 3 1 1、光学へッド 3 1 2、再生系 3 2 0より構成される。記録時には、記録系 3 1 0に、記録されるユーザデータ 3 0 1が入力される。記録系 3 1 0は、入力されたユーザデータ 3 1 0を記録信号に処理し、磁気へッド 3 1 1と光学へッド 3 1 2へ出力する。磁気へッド 3 1 1と光学へッド 3 1 2は、光磁気記録媒体 3 1 3に、記録系 3 1 0で処理された信号を記録する。再生時には、ディスクに記録された信号が光学ヘッド 3 1 2により読み出される。光学へッドにより読み出された MO信号 3 1 4とクロックマーク 3 1 5は、再生系 3 2 0に送られ、再生信号が処理行われ、ユーザデータ 3 2 1が出力される。

図 4は、本発明の第 2の実施例を示す図であり、上述の図 3に示す記録系 3 1 0に対応する。図 4において図 3と同一番号を付した構成要素は、同一の構成要素を示す。本難例は、上述の第 1の実施例で説明した、マークを記録媒体に記録する際に、記録されるマークを補正するための記 »の例を示す。図 4に示す、記録系は、主に、変調回路 4 0 1、記録補償回路 4 0 0より構成される。記録補償回路 4 0 0は、主に、マーク長検出器 4 0 2、記罅 IJ御回路 4 0 3、磁気へッド駆動回路 4 0 4及ぴ、レーザ駆動回路 4 0 5より構成される。

ユーザデータ 3 が変調回路 4 0 1に入力され、記録変調力 S行われる。変調回路 4 0 1により変調されたユーザデータは、マク長検出回路 4 0 2にそのマーク長が検出される。本実施例では、マーク長検出回路 4 0 2により検出されたマーク長が所定のしきい値以上の長さを有する齢には、記纏御回路に長マークが検出されたことを示す信号を送る。記織 IJ御回路 4 0 3は、長マークが検出されたことを示す信号がマーク長検出回路 4 0 2から入力されると、その長マークの次のマークを記録するときに、第 1の実施例で図 2 (C) 力ら (F) により . 示した、記録磁界又はレーザー光を発光させるパルスの、振幅又は遅延時間の制御を行う。そして、記^^御回路4 0 3は、第 1の,例で図 2 (C) から（F) により示した制御を行った後に、磁気へッド駆動回路 4 0 4及ぴレーザ駆動回路 4 0 5のそれぞれに、駆動信号を供給する。磁気ヘッド纖回路 4 0 4及ぴレーザ駆動回路 4 0 5は、供給された駆動信号により、磁気へッド 3 1 1及び光へッド 3 1 2を'駆動して、光磁気記録媒体 3 1 3に信号を記録する。

このように、本発明に従って、長マークを検出して、その後の記録マークを補正して、光磁気記録媒体 3 1 3に記録することができる。

次に、記録補償回路 4 0 0の難例を図 5乃至図 8を用いて、説明する。図 5 乃至 8で、図 4と同一番号を付した構成要素は、同一の構成要素を示す。

図 5は、本発明の第 3の難例を示す図であり、図 2 (C) に対応する動作を新する、記録補償回路 4 0 0の魏例を示す。

図 5に示- Π己録補償回路 4 0 0は、主に、マーク長検出器 4 0 2、磁界鍍設 & 5 0 1 , 磁気へッド,睡回路 4 0 4、レーザ駆動回路 4 0 5及ぴ、クロック発生器 5 0 2より構成される。図 4の変調回路 4 0 1より出力される記録データ 4 1 1が、マーク長検出器 4 0 2と、磁界弓娘設定回路 5 0 1に供給される。また、クロック発生回路 5 0 2により発生されたクロック 5 0 3力磁界設定回路 5 0 1とレーザ駆動回路 4 0 5に供給される。磁界^^設定回路 5 0 1とレ一ザ駆動回路 4 0 5は、供給されたクロック 5 0 3を基準に動^ Τる。マーク長検出回路 4 0 2により、所定の長さ以上のマーク長を有する長マーク力 S検出されると、検出信号 5 0 4が、磁界強度設定回路 5 0 1に供給される。磁界強度設定回路 5 0 1は、検出信号 5 0 4が供給されると、次のマークを記録するときに、長マークを記録するための記録磁界一Mから、そのマークを記録するための記録磁界 +Mへ、記録磁界を変化させる時点は、直前に記録されたマークが短マークのと同じ時点に^する。し力し、マークを記録する磁界の弓を、直前に記録されたマークが短マークの^^と比べて、所定の値 mだけ、低下させ、 (M-m)となるように、磁気ヘッド駆動回路 4 0 4に磁界艇を設定する。磁気ヘッド,駆動回路 4 0 4は、この設定された値に対応する磁界 3娘 (M-m) を有する磁界を発生するように磁気へッド 3 1 1を駆動する。

これに対して、レーザ,駆動回路 4 0 5には、クロック 5 0 3のみが供給されているので、直前に記録されたマークが短マークの齢と同様に、光学ヘッドはレ一ザ駆動回路 4 0 5を介して «Iされる。

次に、図 6は、本発明の第 4の実施例を示す図であり、図 2 (D) に対応する動作を節する、記録補償回路 4 0 0の実施例を示す。

図 6に示己録補償回路 4 0 0は、主に、マーク長検出器 4 0 2、磁界反転位置調整部 6 0 1、磁気へッド駆動回路 4 0 4、レーザ駆動回路 4 0 5及ぴ、ク口ック発生器 5 0 2より構成される。図 4の変調回路 4 0 1より出力される記録データ 4 1 1力マーク長検出器 4 0 2と、磁界反転位置調整部 6 0 1に供給される。また、クロック発生回路 5 0 2により発生されたクロック 5 0 3力磁界反転位置調整部 6 0 1とレーザ,睡回路 4 0 5に供給される。磁界反転位置調整部 6 0 1とレーザ! ¾¾回路 4 0 5は、供給されたクロック 5 0 3を基準に動作する。マーク長検出回路 4 0 2により、所定の長さ以上のマーク長を有する長マークが検出されると、検出信号 5 0 4力磁界反転位置調整部 6 0 1に供給される。磁界反転位置調整部 6 0 1は、検出信号 5 0 4が供給されると、次のマークを記録するときに、長マークを記録するための記録磁界一 Μから、そのマークを記録するための記録磁界 +Μへ、記録磁界を変化させる時点を、直前に記録されたマ一クが短マークの:^と比べて時間 t 1だけ遅延させる。しかし、マークを記録する磁界の強度は、変ィヒさせず +Mのまま麟する。

これに対して、レーザ駆動回路 4 0 5には、クロック 5 0 3のみが供給されているので、直前に記録されたマークが短マークの ^と同様に、光学ヘッドはレ一ザ駆動回路 4 0 5を介して βされる。

次に、図 7は、本発明の第 5の魏例を示す図であり、図 2 (Ε) に対応する動作を実行する、記録補償回路 4 0 0の実施例を示す。

図 7に示己録補償回路 4 0 0は、主に、マーク長検出器 4 0 2、発光パワー設定部 7 0 1、磁気へッド駆動回路 4 0 4、レーザ駆動回路 4 0 5及ぴ、クロック発生器 5 0 2より構成される。図 4の変調回路 4 0 1より出力される記録データ 4 1 1力マーク長検出器 4 0 2と、磁気へッド睡回路 4 0 4に供給される。また、クロック発生回路 5 0 2により発生されたクロック 5 0 3力発光パワー & 7 0 1と磁気へッド駆動回路 4 0 4に供給される。発光パワー設定部 7 0 1と磁気へッド駆動回路 4 0 4は、供給されたクロック 5 0 3を基準に動作する。マーク長検出回路 4 0 2により、所定の長さ以上のマーク長を有する長マーク力 S検出されると、検出信号 5 0 4が、発光パワー設 7 0 1に供給される。発光パワー設 7 0 1は、検出信号 5 0 4が供給されると、次のマークを記録するときに、レーザー光を発光させるパルスの発光時点については、直前に記録されたマークが短マークの:^と同じ時点に保持する。しかし、レーザー光を発光させるパルスの振幅を、直前に記録されたマークが短マークの:^と比べて、所定の値 aだけ、低下させ、（A— a ) となるように設定する。

これに対して、磁気へッド駆動回路 4 0 4には、クロック 5 0 3と記録データ 4 1 1が供給されているので、直前に記録されたマークが短マークのと同様に、磁気ヘッドは磁気ヘッド駆動回路 4 0 4を介して、記録データに従った磁界を発生するように睡される。

次に、図 8は、本発明の第 6の実施例を示す図であり、図 2 (F) に対応する動作を新する、記録補償回路 4 0 0の実施例を示す。図 8に示 ~t己録補償回路 4 0 0は、主に、マーク長検出器 4 0 2、パルス位置調整部 8 0 1、磁気へッド,垂回路 4 0 4、レーザ駆動回路 4 0 5及ぴ、クロック発生器 5 0 2より構成される。図 4の変調回路 4 0 1より出力される記録データ 4 1 1力マーク長検出器 4 0 2と、磁気へッド駆動回路 4 0 4に供給される。また、クロック発生回路 5 0 2により発生されたクロック 5 0 3力 S、パルス位置調整部 8 0 1と磁気へッド勵回路 4 0 4に供給される。パルス位置調整部 8 0 1と磁気へッド駆動回路 4 0 4は、供給されたクロック 5 0 3を基準に動^ Tる。マーク長検出回路 4 0 2により、所定の長さ以上のマーク長を有する長マークが検出されると、検出信号 5 0 4が、パルス位置調整部 8 0 1に供給される。パルス位置調整部 8 0 1は、検出信号 5 0 4が供給されると、次のマークを記録するときに、レーザー光を発光させるパルスの発光時点については、直前に記録されたマークが短マークの ^と比べて、時間 t 2だけ il®させる。しかし、レーザ一光を発光させるパルスの振幅は、直前に記録されたマークが短マークの齢と、同一に保持する。

これに対して、磁気へッド駆動回路 4 0 4には、クロック 5 0 3と記録データ 4 1 1が供給されているので、直前に記録されたマークが短マークの # ^と同様に、磁気ヘッドは磁気ヘッド «I回路 4 0 4を介して、記録データに従った磁界を発生するように駆動される。

以上の実施例で説明したように、記録媒体から再生されたマークのエッジ位置が変化しないように、記録媒体にマークを記録することができる高密度光磁気記録再生装置及び、高密度光磁気記録再生方法をすることができる。

次に、本発明の第 7の実施例を、図 9乃至 1 1を用いて説明する。第 7の纖例は、マークを記録媒体から再生する際に、再生されるマークのエッジが、正規の位置になるように補正する。

図 9は、本発明に従った、マークを記録媒体から再生する際に、再生されるマークのエッジが、正規の位置になるように捕正するために、位置検出パターンを記録する信号フォーマットの一雄例を示す。本信号フォーマットは、 I D信号力己置されるプリピット領域 901と、 MO記擁域 902より構成される。 M O記讓域 902は、さらに、本発明に従った位相検出パターンを配置する位相検出パターン部 903と、ユーザデータ部 904を有する。

図 10は、位相検出パターン部 903に配置された位相検出パタンの再生信号タイミングを示す図である。図 10 (A) は位相検出パターン部 903力ら再生された、位相検出パターンを示す。例えば、位相検出パターンは、本実施例に示すように、最短パターンである 2 T信号の繰返し（パターン P 1， P 2、 P3) と、最長パターンである 8 Tの信号の繰返し（パターン P 4， P5、 P6) とにより構成される。図 10 (B) は、位相検出パターンを検出するためのクロック信号を示す。

図 11は、本発明に従った再生系の一難例の概略の構成を示す図である。再生系は，図 3の再生系 320に対応する。図 11に示された再生系は、主に、増幅器 1 ioi、 mmi i ι o 2、アナログ/ディジタル変灘 11 o 3、レベル検出器 1104、位相ロックループ (PLL) 1105、遅 ®Hl 106、選キ尺器 1107、データ検出器 1108、及び、復調回路 1109より構成される。

本実施例では、先ず最初に、マークを記録媒体から再生する際に、再生されるマークのエッジが、正規の位置になるように補正するために、図 9の位相検出パターン部 903力ら再生された位相検出パターンを使用して、アナ口グ Zディジタノレ変^ HI 103に供給するクロックを、選択器 1107により選択する。以下に、この動作にっレヽて図 10を参照して説明する。

図 3の本発明の高密度光磁気記録再難置の概略のプロックに示された光学へッド 312より再生系 320に供給されるクロックマーク 315が、図 11の P LL 1105に供給される。 PLL1105は、クロックマーク 315に同期したクロック CLKを発生する。クロック CLKは、遅 ®¾1106に送られ、遅の各タップ 1110力らは、所定の時間だけ遅延されたクロック CLKが出力される。選択器 1107は、各タップ 1110から出力されるクロック CLK の中から、レベル検出器 1104からの入力信号 1111に従って、何れかを選択する。

レベル検出器 1104は、初期状態に設定されているときには、選択器 110 7に対して、例えば、中心タップのような、所定のタップを選する信号を出力し、且つアナ口グ Zディジタル変 1103からの出力のレベルをする。

先ず最初に、レべ/レ検出器 1104は、 2 Tの繰返しパターンである、短パターン Pl、 P2、 P 3のサンプリング値力全て +1又は一 1の何れかとなり、ゼロ値付近のような中間値を取らないように、選択器 1107を制御して、 31 器 1106のタップ 1110を選択する。このようにして、直前の記録パターンが短マークの場合の: 1®なク口ック位相を決定する。

図 10 (A) において、円で示された点は、この短マークの ^^の最適なクロック位相の状態において、アナログ Zディジタル変換器 1103によりサンプリングされ、且つ変換されたディジタル値を示す。クロック C L Kの立ち上がり点が、アナログ/ディジタル変換器 1103のサンプリング点を示す。

図 10 (A) に示されているように、直前に記録されたマークが 2 T信号の場合（Pl， P2、 P3) には、一1又は +1の期 ί直とほぼ同様な値力サンプリングされる。しかし、円 1001に示されているように、 Ρ 4のパターンが 8 Τであるので、次のパターン Ρ 5の先頭のエッジが、直前のパターン Ρ 4の最後部内にエッジシフトし、期 {直としては、一 1であるにも関わらず、値 0がサンプリングされている。次のパターン Ρ 6の先頭のエッジも同様に、直前のパターン Ρ 5の最後部にエッジシフトし、期 |直としては、 +1であるにも関わらず、値 0がサンプリングされている。従って、パターン Ρ 5と Ρ 6をサンプリングするには、アナ口グ Ζディジタル変^^ 1103に供給するクロックを、図 1 0の例では、半クロック前にシフトしたクロックを供給することが好ましレ、。このようなクロックを供^ Τることにより、アナログ Zディジタル変 l 1103 がサンプリングする円 1002で示された点は、半ク口ック前にアナ口グ /ディジタル変 1103よりサンプリングされ、期 1直と同じ +1カ確実にサンプリングされる。

従って、レベル検出器 1 1 0 4は、アナログ Zディジタル変換器 1 1 0 3の出力を監視しながら、選択器 1 1 0 7を制御して、遅延器 1 1 0 6の遅延の少ないタップを順次選択して、円 1 0 0 2に相当するサンプリング点が、 + 1となる遅延量を選択する。

このようにして、直前の記録パターンが長マークの^の ί窗なク口ック位相を決定する。

以上のように決定された、直前の記録パターンが短マークのの最適なク口ック位相と、直前の記録パターンが長マークの齢の髓なク口ック位相は、それぞれ、レべノレ検出器 1 1 0 4の中に^ ^される。

次に、実際に、ユーザデータ 9 0 4を再生する ¾^について説明する。ユーザデータ 9 0 4を再生するには、アナ口ク 7ディジタル変鄉 1 1 0 3の出力をデータ検出器 1 1 0 8が監視する。そして、現在再生しているパターンが所定の長さ以下の短パターンであるには、上述のレベル検出器 1 1 0 4の中に蓄積した、直前の記録パターンが短マークのの; i なク口ック位相を選択するように、データ検出器 1 1 0 8からレベル検出器 1 1 0 4に信号を送る。この信号を受信すると、レベル検出器 1 1 0 4は、選択器 1 1 0 7が、直前の記録パタ一ンが短マークのの: ¾ϋなク口ック位相を選択するようにタップを選択する。一方、現在再生しているパターンが所定の長さ以上の長パターンである ^81こは、上述のレベル検出器 1 1 0 4の中に蓄積した、直前の記録パターンが長マークの ^の: tilなク口ック位相を選択するように、データ検出器 1 1 0 8からレベル検出器 1 1 0 4に信号を送る。この信号を受信すると、レベル検出器 1 1 0 4は、選択器 1 1 0 7力直前の記録パターンが長マークののなクロック位相を選択するようにタップを選キ尺する。

このように、直前のパターンが、短パターンであっても、長パターンであっても、アナログ/ディジタル変腿 1 1 0 3に供給されるクロックは、羅な位相が選択される。このようにして、アナログ/ディジタル変換され、データ検出器 1 1 0 8により検出されたデータは、復調回路 1 1 0 9に送られ、検出されたュ一ザデータ 3 2 1が出力される。

以上のように、本発明により、再生されたマークのェッジ位置が変化しても、マークをサンプリングするクロック位相を: ¾に調整することができるので、記録媒体に、高密度にデータを記録することができる。

本発明は、具体的に開示された実施例に限定されるものではなく、クレームされた本発明の範囲から «することなく、種々の変形例や ¾ϋ例が考えられる。

Claims

請求の範囲

1 . レーザ光と磁界を用いて、光磁気記録媒体に情報マークを記録し及び再生する光磁気記録再置にぉレ、て、

記録情報マークの長さを判断する手段と、

当該記録情報マークの直前に記録されたマークの長さに応じて、当該マークを記録する記録磁界娘を変更する手段を有することを赚とする、光磁気記録媒体に情報マークを記録し又は再生する光磁気記録再^ ¾

2. レーザ光と磁界を用いて、光磁気記録媒体に情報マークを記録し及び再生する光磁気記録再雜置において、

記録情報マークの長さを判 KH"る手段と、

当該記録情報マークの直前に記録されたマークの長さに応じて、当該マークを記録する記録磁界の変化点を変更する手段とを有することを 1敷とする、光磁気記録媒体に情報マ一クを記録し又は再生する光磁気記録再生装

3. レーザ光と磁界を用いて、光磁気記録媒体に情報マークを記録し及び再生する光磁気記録再^ ¾置において、

記録情報マークの長さを半 IJ断する手段と、

当該記録情報マークの直前に記録されたマークの長さに応じて、当該マークを記録するレーザ光の発光パワーを変更する手段とを有することを樹敫とする、光磁気記録媒体に情報マークを記録し又は再生する光磁気記録再雜

4. レーザ光と磁界を用いて、光磁気記録媒体に情報マークを記録し及び再生する光磁気記録再生装置におレ、て、

記録情報マークの長さを判断する手段と、

当該記録情報マークの直前に記録されたマークの長さに応じて、当該マークを記録するレーザ光の発光時点を変更する手段とを有することを W [とする、光磁気記録媒体に情報マークを記録し又は再生する光磁気記録再錢 So

5. レーザ光と磁界を用いて、光磁気記録媒体に情報マークを記録する方法において、

記録情報マークの長さを判断するステップと、

当該記録清報マークの直前に記録されたマークの長さに応じて、当該マークを記録する記録磁界強度を変更するステップを有することを樹敷とする、方法。

6. レーザ光と磁界を用いて、光磁気記録媒体に情報マークを記録する方法において、

記録情報マークの長さを判断するステップと、

当該記録情報マークの直前に記録されたマークの長さに応じて、当該マークを記録する記録磁界の変ィ匕点を変更するステップとを有することをとする、方法。

7. レーザ光と磁界を用いて、光磁気記録媒体に情報マークを記録する方法において、

記録情報マークの長さを判断するステップと、

当該記録情報マークの直前に記録されたマークの長さに応じて、当該マークを記録するレーザ光の発光パワーを変更するステップとを有することを特徴とする、方法。

8. k一ザ光と磁界を用いて、光磁気記録媒体に情報マークを記録する方法において、

記録情報マークの長さを判断するステップと、

当該記録情報マークの直前に記録されたマークの長さに応じて、当該マークを記録するレーザ光の発光時点を変更するステップとを有することを |敷とする、方法。

9. ユーザデータの記録の前に、光磁気記録媒体の予め定められた試験領域に、所定の情報を記録するステップと、

ΙΐίΙΒ記録された所定の情報の再^^果に基づいて、変更する記録磁界強度を決定するステップとを更に有する、請求項 5に記載の光磁気記録媒体に情報マークを記録する方法。

1 0. - ユーザデータの記録の前に、光磁気記録媒体の予め定められた試験領域に、所定の情報を記録するステップと、

ttff己記録された所定の情報の再^果に基づいて、変更する記録磁界の変化点を決定するステップとを更に有する、請求項 6に記載の光磁気記録媒体に情報マークを記録する方法。

1 1 . ユーザデータの記録の前に、光磁気記録媒体の予め定められた試験領域に、所定の情報を記録するステップと、

漏己記録された所定の情報の再結果に基づいて、変更するレーザ光の発光パヮーを決定するステップとを更に有する、請求項 7に記載の光磁気記録媒体に情報マークを記録する方法。

1 2. ユーザデータの記録の前に、光磁気記録媒体の予め定められた試験領域に、所定の情報を記録するステップと、

IS記録された所定の情報の再生結果に基づいて、変更するレーザ光の発光時点を決定するステップとを更に有する、請求項 8に記載の光磁気記録媒体に情報マークを記録する方法。

1 3. 光磁気記録媒体から情報マークを再生する方法であって、

再生された情報マークを所定のサンプリング時点でサンプリングする手段と、サンプリングされた tiff己情報マークの長さを検出する手段と、

検出された ttflB情報マークの長さに応じて、次にサンプリングする情報マークの flit己サンプリング時点を変更する手段とを有する、方法。

1 4. ユーザデータを記憶する光磁気記麵域の一部に、情報マークのエッジシフトを検出する位相検出パターンを記録する領域を設けたことを樹敷とする、光磁気記録媒体。

1 5. 請求項 1 4に記載の光磁気記録媒体に記録された位相検出パターンの再 ^果に基づいて、変更する前記サンプリング時点を決定する、請求項 1 3に記載の、光磁気記録媒体から情報マークを再生する方法。