WO2003079115A2 - Vorrichtung zum belichten von substratmaterialien - Google Patents

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WO2003079115A2
WO2003079115A2 PCT/EP2003/002578 EP0302578W WO03079115A2 WO 2003079115 A2 WO2003079115 A2 WO 2003079115A2 EP 0302578 W EP0302578 W EP 0302578W WO 03079115 A2 WO03079115 A2 WO 03079115A2
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substrate table
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carriage
guide
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Hans Opower
Stefan Scharl
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Kleo Halbleitertechnik Gmbh & Co Kg
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Definitions

  • the invention relates to a device for exposing substrate materials, comprising at least one optical exposure device, at least one substrate table, a device for generating a relative movement between the exposure device and the substrate table in two mutually transverse directions, the relative movement taking place in a main direction with greater dynamics than in a secondary direction, at least one main drive for generating the relative movement in the main direction and at least one secondary drive for generating the relative movement in the secondary direction.
  • the invention is therefore based on the object of improving a device of the type described at the outset in such a way that, with the highest possible dynamics, it has the highest possible positional accuracy when positioning the substrate table.
  • This object is achieved according to the invention in a device of the type described in the introduction in that the device has two substrate tables which move essentially in opposite directions in the main direction.
  • This solution makes it possible to move the substrate tables with high dynamics, in particular large accelerations, without having to absorb large acceleration forces, since the acceleration forces essentially cancel each other out due to the opposite movement of the substrate tables.
  • a main drive is assigned to each substrate table.
  • the main drive could be arranged so that it drives the substrate table indirectly or directly.
  • the main drive is arranged separately from the substrate table.
  • a rotor of the main drive drives the respectively assigned substrate table via a drive connection that is rigid in the main direction.
  • this creates a rigid coupling between the rotor of the main drive and the substrate table, which allows precise guidance and positioning of the substrate table, and on the other hand a sufficiently good one Thermal and, above all, vibration decoupling between the two, the vibrations generated by the main drive and transmitted to the sub-table are reduced to a minimum.
  • Each substrate table is expediently arranged on a carrier slide and guided through this in the main direction.
  • a particularly favorable way of coupling the rotor and the substrate table is possible in that the rotor and the carrier slide of the subtra table are coupled to one another via the drive connection, which is rigid in the main direction.
  • the object set out in the case of a device according to the invention is also achieved in that the rotor of the main drive is guided on guide surfaces in the X direction, which are separated from guide surfaces for the carrier slide running in the X direction.
  • This solution also allows the rotor of the main drive to be decoupled as optimally as possible from the guide carriage and the carrier carriage carrying the guide carriage, in order likewise to obtain the least possible thermal effects from the main drive on the guide of the carrier carriage and, on the other hand, the best possible vibration decoupling of the two.
  • the substrate tables are arranged between the main drives.
  • the main drives are arranged between the substrate tables.
  • main drives for the substrate tables are combined in a common drive unit so that the opposing acceleration forces act on this common drive unit and can cancel each other out.
  • the drive unit is preferably implemented in such a way that the drive carriage carries the common drive unit and thus the drive carriage in turn does not have to absorb large acceleration forces, since these all at least essentially compensate in the drive unit.
  • Such a device can be realized particularly cheaply in that the substrate tables are arranged on opposite sides of the drive unit in the main direction.
  • the main drives work in a direction transverse to the main direction and transverse to the secondary direction in mutually spaced drive levels, so that there is the possibility of the space required for the drive unit in the main direction as far as possible to keep low.
  • an advantageous solution to the object mentioned at the outset, alternatively or in addition to the exemplary embodiments described above, in a device of the type described at the outset, is that the relative position of the substrate table and exposure device can be detected by an interferometric measuring device.
  • the device according to the invention is particularly advantageous with regard to the efficiency in the exposure of substrates if an exposure device is assigned to each of the substrate tables.
  • the substrate table and the respectively assigned exposure device can be moved relative to one another in the main direction and in the secondary direction, so that a controllable exposure of the substrate can take place for each of the substrate tables in connection with the exposure device.
  • Such an interferometric measuring device has the great advantage that it allows a precise measurement of the position of the substrate table, particularly in the nanometer range.
  • a particularly high measuring accuracy when determining the position of the substrate table can be achieved if the interferometric measuring device works with an optical head of the optical exposure device as a reference point, that is to say that all measurements of the interferometric measuring device are related to the position of the optical head as a reference position.
  • the interferometric measuring device can be integrated into a device according to the invention in a particularly favorable spatial manner if it detects the position of the optical head in a reference plane running parallel to the main direction and the secondary direction and detects the position of the substrate table in a measuring plane running parallel to the reference plane.
  • the interferometric measuring device in the reference plane and in the measuring plane to work with measuring beams impinging on mirrors extending in the main direction and the secondary direction. This makes it easy to determine distances using interference.
  • a particularly favorable implementation option provides that the optical head is provided with a reflection mirror extending in the main direction and a reflection mirror extending in the secondary direction.
  • the substrate table is provided with a mirror which extends at least in the main direction over the maximum path of the substrate table. This allows the position of the substrate in the secondary direction to be detected particularly favorably even when the substrate table is moving.
  • the substrate table is provided with a mirror which extends at least over the maximum path in the secondary direction, with which the position of the mirror in the main direction can then also be expediently determined when the substrate table is moved.
  • a particularly high measuring accuracy can be achieved with the interferometric measuring device if the interferometric measuring device measures with laser light of the same wavelength both in the main direction and in the secondary direction.
  • the interferometric measuring device works with the laser light from a common laser radiation source.
  • the optical exposure device is provided with an autofocus system which at the same time also compensates for minor inaccuracies in the guidance of the substrate table relative to the guide plane.
  • a particularly favorable solution provides, however, that the device has a transport system with which substrate materials can be transported from a preparation station to the substrate table.
  • Such a device has the advantage that time for positioning the substrate materials on the substrate table can be saved. This is particularly advantageous if the substrate materials can be prepositioned in the preparation station and can be deposited on the substrate table in a prepositioned manner by the transport system.
  • the device has a transport system with which exposed substrate materials can be transported from the substrate table to a removal station.
  • the above-mentioned object is alternatively or additionally achieved according to the invention in a device of the type described in the introduction in that the drive for the main direction is seated on a drive foundation body which is physically separate from a foundation body carrying the exposure device and the substrate table.
  • foundation bodies are preferably bodies with a large mass, in particular in the range of tons, then an optimal decoupling between the drive foundation body and the foundation body for the exposure device and the substrate table is achieved by the physically separate foundation bodies.
  • the exposure device is held stationary on the foundation body. This has the advantage that due to the stationary arrangement of the exposure device relative to the foundation body, the entire mechanical damping properties of the foundation body can be used in order to transmit the lowest possible shocks and vibrations to the exposure device.
  • this solution has the advantage that it enables the relative position between the exposure device and the substrate table to be detected It can be simplified that the stationary arrangement of the exposure device on the foundation body provides a reference point for the measuring device for determining the position of the substrate table in a simple manner.
  • the substrate table is preferably movable in the main direction and the secondary direction.
  • the substrate table is arranged on a carrier slide which is movable relative to the foundation body in the main and the secondary direction.
  • the carrier carriage For precise guidance of the carrier carriage, provision is therefore preferably made for the carrier carriage to be guided on a guide carriage so as to be movable in the direction of the main direction, the guide carriage in turn being movable at least in the secondary direction relative to the foundation body.
  • the carrier carriage is guided on the guide carriage only against relative movement in the secondary direction and in no further direction, so that the guide carriage is guided on the guide carriage with high precision can be and the guides for the other directions do not have a negative effect on the precision of the guidance of the carrier carriage on the guide carriage.
  • a particularly precise and smooth-running guide can be achieved if the carrier slide is guided on the guide slide with air guides, the guide being carried out in particular by air cushions. Such air cushions not only have the advantage of smooth guidance, but also the advantage of great damping of mechanical vibrations.
  • the carrier slide is guided in a direction transverse to the main and secondary direction on a guide plane of the foundation body.
  • the guide plane thus allows the carriage to move both in the main and in the secondary direction and brings about the greatest possible precision in the direction perpendicular to these.
  • the carrier carriage is guided on the foundation body with air guides, so that the carrier carriage is guided very smoothly, yet precisely and in particular vibration-damping.
  • the guide plane is formed by a ground, or even better, polished surface.
  • the foundation body is preferably formed from a heavy material which has a ground and polished surface as the guide plane. It is particularly advantageous if the foundation body is made of a stone, in particular granite. In order to achieve the highest possible precision, it is particularly advantageous if the substrate table can be aligned relative to the guide carriage in the direction of the secondary direction, so that it is possible to make position corrections, in particular translational and / or rotary corrections, of the substrate table by movements in the direction of the secondary direction and subsequently compensate for inaccuracies that result from the mechanical structure or the temperature behavior of the mechanical structure.
  • the substrate table can be aligned relative to the guide carriage by means of positioning elements which act in the secondary direction and which permit exact repositioning of the substrate carriage.
  • the positioning elements can be operated manually.
  • a particularly favorable solution provides that the positioning elements can be controlled by a control and thus there is the possibility of correcting the alignment of the substrate table in the secondary direction in a controlled manner at any desired time of operation.
  • the positioning elements can be designed in a wide variety of ways. It can be Lorenz motors or moving coil servos. A particularly favorable embodiment provides that the positioning elements are piezo elements. No details have so far been given regarding the positioning of the guide carriage in the secondary direction itself. A particularly favorable solution provides that the guide carriage can be moved in the secondary direction by two auxiliary drives arranged at a distance from one another in the main direction. This solution has the advantage that a high guiding accuracy of the guide carriage can be achieved in the secondary direction, since the synchronized operation of the two auxiliary drives allows the guide carriage to be moved precisely in the secondary direction by a controlled alignment.
  • the object mentioned above is also achieved according to the invention in a device of the type mentioned above in that the main drive is seated on a drive slide which is separate from the guide carriage and which, in turn, is movably guided on the drive foundation in the secondary direction by a secondary drive ,
  • This separation of the main drive from the guide carriage, which in turn guides the carrier carriage, also serves to provide the best possible thermal and mechanical decoupling of the main drive from the guide for the carrier carriage, which can be implemented with maximum precision.
  • the management level should also have the best possible management quality for the drive carriage.
  • the guide plane is designed as a ground surface, it is even better if the guide plane is designed as a polished surface.
  • the drive foundation body is also a body that is as heavy as possible, preferably made of granite.
  • the drive carriage is guided on the drive foundation body with air guides.
  • the drive slide can be moved synchronously with the guide slide.
  • the auxiliary drives for the movement of the drive carriage and the guide carriage are preferably synchronized with one another.
  • a particularly advantageous exemplary embodiment provides that a rotor of the main drive is guided on the drive carriage so as to be movable in the main direction.
  • a drive connection which is rigid in the main direction is provided between the rotor and the carrier carriage, this drive connection preferably being designed such that it has a certain mobility transversely to the main direction.
  • FIG. 1 shows a perspective view of a device according to the invention for exposing substrate materials with an exposure device represented only by an optical head;
  • FIG. 2 shows an enlarged illustration of one half of the device shown in FIG. 1 with a view in direction A in FIG. 1;
  • Fig. 3 is a section along line 3-3 in Fig. 2;
  • FIG. 4 shows an overall view of the first exemplary embodiment of the device according to the invention shown in FIG. 1 with a view in direction A in FIG. 1;
  • Fig. 5 is a section along line 5-5 in Fig. 2;
  • Fig. 6 is a plan view of the first embodiment according to
  • Fig. 7 is an enlarged view of a substrate table with the
  • Fig. 8 is a section along line 8-8 in Fig. 3;
  • FIG. 9 shows an enlarged perspective illustration similar to FIG. 1 of a part of the first exemplary embodiment of the device according to the invention with the exposure device shown completely;
  • FIG. 10 shows a partial plan view similar to FIG. 6 of a second exemplary embodiment of a device according to the invention.
  • FIG. 11 shows a representation similar to FIG. 4 of a third exemplary embodiment of the device according to the invention.
  • FIG. 12 shows a representation similar to FIG. 6 of the third exemplary embodiment of the device according to the invention.
  • FIG. 13 shows a representation similar to FIG. 9 of the third exemplary embodiment of the device according to the invention and FIG. 14 shows a representation similar to FIG. 6 of a fourth exemplary embodiment of a device according to the invention for exposing substrate materials.
  • An embodiment of an apparatus according to the invention for exposing substrate materials comprises two exposure devices 10a, b, each of the exposure devices 10a, b in FIGS. 1 and 2 being represented only by an optical head 12a, b and their arrangement otherwise will be explained in detail below.
  • the device according to the invention comprises two substrate tables 14a, b, on which substrates 16, 18 to be exposed are arranged in order to expose them by means of the optical exposure devices 10a, b.
  • the substrate table 14 is movable in an X direction and a Y direction relative to the exposure device 10.
  • the substrate table 14 is arranged on a carrier slide 20, which is slidably guided on a guide plane 22 running parallel to the X direction and parallel to the Y direction, the guide plane 22 extending transversely to a vertical, preferably approximately horizontally.
  • the carrier carriage 20 is in turn guided on a guide carriage 24 which extends with a longitudinal guide 26 parallel to the X direction, along which the carrier carriage 20 is movable in the X direction, but is guided against movement in the Y direction.
  • the longitudinal guide 26 is preferably formed by an elongated guide beam 28 which has mutually opposite side guide surfaces 30a and 30b which extend transversely to the Y direction and preferably parallel to the X direction and parallel to the Z direction, which in turn are perpendicular to the X and Y directions, extend extending planes.
  • the carrier carriage 20 in turn, surrounds the guide beams 28 in a U-shaped manner with side legs 32a, b, so that the side legs 32a, b of the carrier carriage 20 extend on both sides of the guide beam 28 and with their ends 33a, b face the guide plane 22 (FIG. 3 ).
  • These side legs 32a, b now carry on their sides facing the guide surfaces 30a, b devices 34a, b for generating air cushions so that between these devices 34a, b and the guide surfaces 30a, b the carrier slide 20 leads in the Y direction on the guide beam 28 Air cushions are created. Furthermore, the side legs 30a, b at their ends 33a, b facing the guide plane 22 are also provided with devices 36a, b for producing air cushions which each produce air cushions between them and the guide plane 22, so that the carrier slide 20 on these air cushions via the Management level 22 can slide.
  • the guide carriage 24 is in turn slidably guided by devices 38a, b for generating air cushions on the guide level 22, these devices 38a, b likewise forming the entire guide slide 24 slidingly guiding air cushions on the guide plane 22 between them and the guide plane 22 ,
  • the guide plane 22 is preferably formed by a surface of a foundation body 40, the foundation body 40 preferably being a granite block with a polished surface, which represents the guide plane 22 and is thus a highly precise surface for guiding the carrier carriage 20 ,
  • the foundation body 40 is preferably seated with an underside 42 on a footprint 44 for the device according to the invention.
  • the foundation body 40 is provided with two guide grooves 46, 48 which extend into the guide plane 22 and extend in the Y direction, each of the guide grooves 46, 48 forming guide surfaces 50a, 50b through their mutually opposite groove walls extend parallel to the Y direction and parallel to the Z direction and thus each represent a guide against movement in the X direction.
  • guide bodies 52 and 54 of the guide carriage 24 are provided, which are fixedly connected to the guide beam 28 and each carry devices 56a, 56b on opposite sides for generating air cushions, which between them and the guide surfaces 50a, b form respective bodies 52 and 54 in the guide grooves 46 and 48 leading air cushion, so that the guide carriage 24 is thereby guided against movement in the X direction relative to the foundation body 40.
  • linear motors 60 and 62 are provided in the guide grooves 46 and 48, the winding bodies 64 of which are preferably arranged stationary on a groove base 66 of the guide grooves 46 and 48, while a rotor which can be displaced by suitable energization of the winding body 64 is provided 68 is guided in the guide grooves 46 and 48 each guided in the Y direction.
  • the rotor 68 of the respective linear motor 60, 62 is preferably also guided by air cushions in the guide grooves 46 and 48.
  • connection between the rotor 68 and the guide carriage 24 is preferably established via a coupling rod 70 which is provided between the respective rotor 68 and the corresponding guide body 52 or 54 and is rigid in the Y direction.
  • the movement of the substrate table 14 in the Y direction represents a movement in a secondary direction, while the main direction of the movement is the X direction, since in the exposure of the substrate materials 16 and 18 by means of exposure device 10, the movement in the X direction has a much higher dynamic range due to the large movement path compared to the movement in the Y direction.
  • a separate drive unit 78 which comprises a linear drive 80 for moving the substrate table 14 in the X direction, which is arranged on a drive slide 82, the drive slide 82 in turn being guided on a guide plane 84 in the Y direction , which extends parallel to the X and Y directions (Fig. 1, 4, 5).
  • the drive carriage 82 preferably has devices 88 arranged on its underside 86 for generating an air cushion between the latter and the guide plane 84, so that the drive carriage 82 can be moved with respect to the guide plane 84 through the air cushion.
  • the guide plane 84 is formed by a drive foundation body 90, which is also on the footprint 44 with its underside 92.
  • the drive foundation body 90 is physically completely separate from the foundation body 40 for the carrier slide 20 and the guide slide 24.
  • the drive foundation body 90 is preferably also formed as a granite block with a polished surface as the guide plane 84.
  • the linear drive 80 for moving the carrier carriage 20 in the X direction comprises a winding body 92, which is fixedly arranged on a base 94 of a U-shaped recess 95 of the drive carriage 82, and also between lateral guide surfaces 96a and 96b of the U-shaped recess guided runner 98, which is movably guided between the guide surfaces 96a, b in the X direction, the runner 98 preferably being guided via devices 100a, 100b for generating air cushions, which run between these devices 100a, b and the guide surfaces 96 98 against a movement in the Y direction.
  • the coupling between the rotor 98 and the carrier slide 20 is preferably carried out by a coupling rod 102 which is rigid in the X direction and which engages both on the rotor 98 and on the carrier carriage 20.
  • the drive carriage 82 is preferably guided on the drive foundation body 90 by a guide groove 106 provided in the drive foundation body 90 and extending from the guide plane 84 into it, with guide surfaces 108a, 108b formed by its side walls, between which a guide body 110 is movable in the Y direction , but is guided against movement in the X direction, which is fixedly connected to the drive carriage 82.
  • the guide body 110 is in turn provided with devices 112a, 112b facing the guide surfaces 108a, b for generating an air cushion, the air cushion being located between these devices 112a, 112b and the guide surfaces 108a, b.
  • a linear motor 114 is provided, the winding carrier 116 of which is arranged on a groove base 118 of the guide groove 106 and whose rotor 120 can be moved in the guide groove 106 in the Y direction, the rotor 120 preferably also by air cushions is guided between the guide surfaces 108a, b.
  • a connection between the rotor 120 and the guide body 110 connected to the drive carriage 82 takes place via a coupling rod 122 which is rigid in the Y direction.
  • the device according to the invention advantageously provides on each of the opposite sides of the drive carriage 82 a foundation body 40a, 40b with a carrier carriage 20a, b displaceable thereon in the X direction. Furthermore, two linear drives 80a and 80b are provided in the drive unit in the drive carriage 82, the linear drive 80a for moving the carrier carriage 20a and the drive 80b for moving the carrier carriage 20b, which are located on opposite sides of the drive carriage 82, being provided.
  • linear drives 80a and 80b are controlled by a controller 130 such that the rotors 98a and 98b always move essentially in opposite directions, that is to say either both carrier slides 20a, 20b are moved away from the drive unit 78 or are moved towards the drive unit 78 ,
  • the high accelerations generated by the linear drives 80a and 80b can be at least substantially mutually compensated, so that only small forces have to be absorbed by the guide body 110 guided between the guide surfaces 108a, b, which force the drive carriage 82 exactly in the X direction lead in its X position.
  • the same offset as the drive planes 132 and 134 also have the guide planes 22a and 22b of the foundation body 40a and 40b, so that the carrier slides 20a and 20b are also guided at different heights, the carrier slides 20a and 20b and the guide carriages 24 preferably being constructed identically and are guided on the foundation body 40a, b.
  • foundation bodies 40a and 40b are also physically separate, preferably arranged without connection to the drive foundation body 90. This is primarily due to the fact that, due to the high dynamics when driving the carrier slides 20a, 20b in the Z direction, the linear drives 80a, 80b generate a lot of heat, which in turn detracts from the precision in the positioning of the carrier slides 20a, b.
  • the controller 130 now controls the movement of the carrier carriage 20a, 20b by corresponding movement of the guide carriage 24a, 24b by means of the linear motors 60 and 62 and the movement of the drive carriage 82 by means of the linear motor 114 in the Y direction such that the movement of the carrier slides 20a and 20b and of the drive carriage 82 takes place synchronously such that a central axis 136a which lies in the drive plane 132 and a central axis 136b which lies in the drive plane 134 are always in a common alignment plane 138 which is perpendicular to the Drive planes 132 and 134 and thus parallel to the Z direction.
  • an interferometric measuring device 140 is provided, as shown in FIG. 7, which comprises a mirror strip 142 extending in the Y direction with a mirror surface 144 which extends parallel to the Y and extends parallel to the Z direction across the width of the substrate table 14. Also provided on the substrate table 14 on a long side is a mirror strip 146 which extends in the X direction and which carries a mirror surface 148 which extends in the X direction and in the Z direction.
  • the mirror surfaces 144 and 148 are thus arranged fixed relative to the substrate table 14.
  • the optical head 12 is provided with a mirror surface 150 which extends parallel to the Y and Z directions and thus parallel to the mirror surface 144 and with a mirror surface 152 which is parallel to the X direction and the Z direction and thus parallel extends to the mirror surface 148.
  • Both mirror surfaces 150 and 152 are firmly connected to the optical head 12.
  • the measuring device 140 comprises two interferometer units 154 and 156, each of which emits a measuring beam 158 or 160 in the direction of the mirror surface 144 of the substrate table 14 and also a measuring beam 162 or 164, respectively, to the mirror surface 150.
  • Each of the interferometer units 154 and 156 is thus by forming the difference of the path differences which can be determined by means of the measuring beams 158 and 162 or 160 and 164, it is possible to determine the distances between the mirror surface 144 and the mirror surface 150, which thus relate the exact relative position of the substrate table 14, in this case the substrate table 14b to the optical head, in this case the optical head 12b.
  • the measuring beams 158 to 164 run exactly parallel to the X direction and preferably also the measuring beams 162 and 164 in a reference plane 188 or 158 and 160 in a measuring plane 189, both of which in turn are directed to the guide plane 22, in this case the guide plane 22b, run in parallel.
  • the two interferometer units 154 and 160 are preferably arranged such that their measuring beams 158 and 162 or 160 and 164 are arranged at a distance from one another in the Y direction, so that it is not only possible to determine the relative position of the mirror surfaces 144 and 150 in the X direction , rather can also determine whether the mirror surfaces 150 and 144 are aligned exactly parallel to each other. If there are deviations from an exactly parallel course, the substrate table 14b is rotated about an axis parallel to the Z direction.
  • the measuring device 140 also comprises an interferometer unit 170, which generates a measuring beam 172 directed towards the mirror surface 148 and lying in the measuring plane 189 and a measuring beam 154 directed towards the mirror surface 152 and lying in the reference plane 188, and by path difference of these measuring beams 152 and 154 , which run in the Y direction, can determine the position difference between the optical head 12b and the substrate table 14b in the Y direction.
  • an interferometer unit 170 which generates a measuring beam 172 directed towards the mirror surface 148 and lying in the measuring plane 189 and a measuring beam 154 directed towards the mirror surface 152 and lying in the reference plane 188, and by path difference of these measuring beams 152 and 154 , which run in the Y direction, can determine the position difference between the optical head 12b and the substrate table 14b in the Y direction.
  • a common laser light source 176 is assigned to them, which generates wavelength-stabilized laser radiation 178, which is split between the interferometer units 154, 156 and 170 via beam splitters 180 to 186, so that all Interferometer units 154, 156 and 170 work with laser radiation of the same wavelength.
  • All interferometer units 154, 156 and 170 are arranged stationary relative to the foundation body 40, so that the substrate table 14 moves relative to the measuring beams 158 and 160 and 172, which, however, still strike the corresponding mirror surface 144 and 148 in each position of the substrate table 14 , wherein the mirror surface 144 in the Y direction and the mirror surface 148 in the X direction preferably have dimensions that are greater than the paths along which the substrate table 14 is movable in the Y direction and X direction.
  • the controller 130 is able to control the respective linear drive, in this case the linear drive 80b, in such a way that the optical head 12 is in the desired relative position stands for the substrate table 14 and thus for the substrate materials or wafers 16b and 18b.
  • a rotation of the mirror surface 144 relative to the mirror surface 170, determined by the interferometer units 154 and 156, about an axis of rotation running in the Z direction can be corrected by the controller 130 in that the devices for generating an air cushion 34a to 34b, which are on the side legs 32a, 32b of the carrier slide 20 are arranged, each seated on piezo elements 190a to d, which can be controlled in thickness by the control 130 and thus create the possibility of varying the distance between the devices 34a to 34d for generating an air cushion from the side legs 32a and 32b , so that by suitable actuation of the piezo elements 190a to 190d, a rotation of the carrier slide 20 about an axis parallel to the Z direction is possible to a small extent, which allows the mirror surface 144 to be kept exactly parallel to the mirror surface 150. (Fig. 8)
  • the controller 130 is able to detect the displacement of the substrate table 14 in the Y direction in accordance with the measured distance between the mirror surface 152 and the mirror surface 148 and the linear motors 60 and 62, in this case the linear motors 60b and 62b, accordingly to control and at the same time to control the linear motor 114 to move the drive carriage 82 synchronously.
  • the constructive implementation of the stationary arrangement of the interferometer units 154 and 156 and 170 relative to the foundation body 140 is shown in detail in FIG. 9.
  • a bridge body In order not to impede the mobility of the coupling rod and the substrate table, in this case the coupling rod 102a, and the substrate table 14a by the arrangement of the interferometer units 154 and 156, a bridge body, designated as a whole by 200, sits on the foundation body 40 and extends over outer foot elements 202 and 204 are supported on the guide plane 22, in this case the guide plane 22a, and bridge areas 206 and 208 overlap the movement area of the carrier slide 20, in this case the carrier carriage 20a and the substrate table 14, in this case the substrate table 14a.
  • the two interferometer units 154 and 156 are seated on the bridge area 206 facing the drive unit 78, the coupling rod 102a passing below the bridge area 206, while the exposure device is located on the bridge area 208, which extends over the substrate table 14 and the carrier slide 20 10 sits, which carries the optical head 12 on its side facing the substrate table 14.
  • the exposure device 10 is designed and operates as described, for example, in the German patent application 101 60 917.5, to which reference is made in full in this regard.
  • a second exemplary embodiment of the device according to the invention comprises, as shown in FIG. 10, a transport system, designated as a whole by 220, with a gripping device 222 which can be moved, for example, in the Y direction and with which, in a preparation station 224, prepared and in particular pre-positioned unexposed substrate materials, for example the Grab wafers 16R and 18R and have them fed to the substrate table 14 in the prepositioned position.
  • a transport system designated as a whole by 220
  • a gripping device 222 which can be moved, for example, in the Y direction and with which, in a preparation station 224, prepared and in particular pre-positioned unexposed substrate materials, for example the Grab wafers 16R and 18R and have them fed to the substrate table 14 in the prepositioned position.
  • the gripping device 22 can also be moved to a removal station 226, which is arranged on a side of the foundation body 40 opposite the preparation station 224 and in which the exposed wafers 16B, 18B can be deposited.
  • the time for the positioning of the wafers 16, 18 on the substrate table 14 can thus be made optimally short and the times for the exposures of the individual substrate materials 16, 18 can thus be optimized.
  • FIGS. 11 to 13 In a third exemplary embodiment of the device according to the invention, shown in FIGS. 11 to 13, those elements which are identical to those of the exemplary embodiments described above are provided with the same reference numerals, so that full reference can be made to the above explanations.
  • the substrate tables 14a and 14b are arranged in the same way as in the preceding exemplary embodiments on support slides 20 'provided for them, but which are guided in the X direction on guide beams 28 which are stationary in the Y direction, the Guide beams 28 are held immovably on the foundation bodies 40a and 40b, so that the carrier slides 20 'can only be moved in the X direction relative to the foundation bodies 40a, 40b.
  • a drive unit 78 ' is provided, which, however, is no longer arranged on a separate foundation body, but instead sits, for example, on the foundation body 40b, and in which the linear drives 80 are arranged in a known manner, which the carrier slides 20' in the known manner drive in the X direction.
  • the entire exposure device 10 in FIG. 13 the exposure device 10a in the Y direction on the bridge body designated as a whole by 200 13, the bridge body 200a, in which a guide 230 extending in the Y direction is provided on the bridge body 200a, along which an optical carriage 232 carrying the respective exposure device 10 - for example likewise air-bearing - is guided in the Y direction by a Linear drive 234 is movable, its rotor 236 is connected to the optical slide 232 and its stator 238 is integrated in the Y-guide 230.
  • the interferometric measuring device 140 operates in the same way as described in connection with the first exemplary embodiment, with the only difference that it is necessary for the mirror surface 150 which is fixedly connected to the optical head 12 and which is parallel to the Y- Direction extends, has an extension in the Y direction, which corresponds to the path writable by the exposure device 10 in the Y direction.
  • two drive units 78 "a and 78" b are provided, the drive unit 78 "a being used to drive the substrate table 14a and the drive unit 78" b being used to drive the substrate table 14b.
  • Each of these drive units 78 " is each provided with a linear drive 80" a or 80 “b. Furthermore, each of the linear drives 80" a or 80 “b is connected to the respective substrate table 14a or by means of a coupling rod 102a or 102b already described according to the invention. 14b coupled.
  • the drive units 78 "a and 78" b are further arranged such that the substrate tables 14a, 14b lie between them, that is to say that for each substrate table 14a, 14b the associated drive unit 78 " a or 78 "b is arranged on the side opposite the other substrate table 14b or 14a.
  • the substrate tables 14a, 14b are arranged in the same way as described in connection with the preceding exemplary embodiments, on carrier slides 20 'which are guided in the X direction on guide bars 28', the guide bars 28 'preferably also being stationary on the fourth execution bar the foundation bodies 40a and 40b and are therefore not movable in the Y direction.
  • the relative movement between the substrate tables 14a and 14b and the respective optical head 12a, b is realized in the same way as in the third exemplary embodiment by the movable arrangement of the exposure devices 10a, 10b in the Y direction.

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Abstract

Um eine Vorrichtung zum Belichten von Substratmaterialien umfassend mindestens eine optische Belichtungseinrichtung, mindestens einen Substrattisch, eine Vorrichtung zur Erzeugung einer Relativbewegung zwischen der Belichtungseinrichtung und dem Substrattisch in zwei quer zueinander verlaufenden Richtungen, wobei die Relativbewegung in einer Hauptrichtung mit einer grösseren Dynamik erfolgt als in einer Nebenrichtung, mindestens einen Hauptantrieb zur Erzeugung der Relativbewegung in der Hauptrichtung und mindestens einen Nebenantrieb für die Erzeugung der Relativbewegung in der Nebenrichtung, derart zu verbessern, dass diese bei möglichst hoher Dynamik eine möglichst hohe Positionsgenauigkeit bei der Positionierung des Substrattisches aufweist, wird vorgeschlagen, dass die Vorrichtung zwei sich in Hauptrichtung im wesentlichen gegenläufig bewegende Substrattische aufweist.

Description

Vorrichtung zum Belichten von Substratmaterialien
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Belichten von Substratmaterialien, umfassend mindestens eine optische Belichtungseinrichtung, mindestens einen Substrattisch, eine Vorrichtung zur Erzeugung einer Relativbewegung zwischen der Belichtungseinrichtung und dem Substrattisch in zwei quer zueinander verlaufenden Richtungen, wobei die Relativbewegung in einer Hauptrichtung mit einer größeren Dynamik erfolgt als in einer Nebenrichtung, mindestens einen Hauptantrieb zur Erzeugung der Relativbewegung in der Hauptrichtung und mindestens einen Nebenantrieb zur Erzeugung der Relativbewegung in der Nebenrichtung.
Bei derartigen bekannten Vorrichtungen besteht stets das Problem, eine möglichst hohe Präzision der Positionierung des Substrattisches mit einer möglichst hohen Dynamik bei der Bewegung desselben zu verbinden.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der eingangs beschriebenen Art derart zu verbessern, daß diese bei möglichst hoher Dynamik eine möglichst hohe Positionsgenauigkeit bei der Positionierung des Substrattisches aufweist.
Diese Aufgabe wird bei einer Vorrichtung der eingangs beschriebenen Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Vorrichtung zwei sich in Hauptrichtung im wesentlichen gegenläufig bewegende Substrattische aufweist. Diese Lösung schafft die Möglichkeit, die Substrattische mit hoher Dynamik, insbesondere großen Beschleunigungen, zu bewegen, ohne daß große Beschleunigungskräfte aufgenommen werden müssen, da sich durch die gegenläufige Bewegung der Substrattische die Beschleunigungskräfte im wesentlichen aufheben.
Um dies zu realisieren ist vorzugsweise vorgesehen, daß jedem Substrattisch ein Hauptantrieb zugeordnet ist.
Hinsichtlich des Zusammenwirkens zwischen dem Hauptantrieb und dem Substrattisch sind die unterschiedlichsten Möglichkeiten denkbar. Beispielsweise könnte der Hauptantrieb so angeordnet sein, daß er den Substrattisch mittelbar oder unmittelbar antreibt.
Besonders günstig ist es jedoch, wenn der Hauptantrieb von dem Substrattisch getrennt angeordnet ist.
Diese Lösung führt zu einer guten thermischen Entkopplung und guten mechanischen Kopplung des Hauptantriebs von dem Substrattisch und insbesondere der Führung desselben.
Um eine Kopplung zwischen dem Hauptantrieb und dem Substrattisch günstig realisieren zu können, ist vorzugsweise vorgesehen, daß ein Läufer des Hauptantriebs den jeweils zugeordneten Substrattisch über eine in Hauptrichtung starre Antriebsverbindung antreibt.
Damit ist einerseits eine starre Kopplung zwischen dem Läufer des Hauptantriebs und dem Substrattisch realisiert, die eine präzise Führung und Positionierung des Substrattischs erlaubt, andererseits eine ausreichend gute thermische und vor allem auch schwingungsmäßige Entkopplung zwischen den beiden, die vom Hauptantrieb erzeugte und auf den Subtrattisch übertragene Schwingungen auf ein Minimum reduziert.
Zweckmäßigerweise ist dabei jeder Substrattisch auf einem Trägerschlitten angeordnet und durch diesen in der Hauptrichtung geführt.
Eine besonders günstige Art der Kopplung des Läufers und des Substrattisches ist dadurch möglich, daß der Läufer und der Trägerschlitten des Subtrattisches über die in Hauptrichtung starre Antriebsverbindung miteinander gekoppelt sind.
Alternativ oder ergänzend wird die eingangs gestellte Aufgabe bei einer erfindungsgemäßen Vorrichtung auch noch dadurch gelöst, daß der Läufer des Hauptantriebs an Führungsflächen in der X-Richtung geführt ist, die von in X- Richtung verlaufenden Führungsflächen für den Trägerschlitten getrennt sind. Auch diese Lösung erlaubt eine möglichst optimale Entkopplungs des Läufers des Hauptantriebs von dem Führungsschlitten und dem den Führungsschlitten tragenden Trägerschlitten, um ebenfalls möglichst geringfügige thermische Auswirkungen vom Hauptantrieb auf die Führung des Trägerschlittens zu erhalten und andererseits auch eine möglichst gute schwingungsmäßige Entkopplung der beiden.
Hinsichtlich der Anordnung der Substrattische und der Hauptantriebe relativ zueinander gibt es zwei günstige Möglichkeiten.
Eine Möglichkeit sieht vor, daß die Substrattische zwischen den Hauptantrieben angeordnet sind. Eine andere Möglichkeit sieht vor, daß die Hauptantriebe zwischen den Substrattischen angeordnet sind.
Besonders günstig ist es dabei, wenn die Hauptantriebe für die Substrattische in einer gemeinsamen Antriebseinheit zusammengefaßt sind, so daß auf diese gemeinsame Antriebseinheit die gegenläufigen Beschleunigungskräfte 'wirken und sich in dieser aufheben können.
Vorzugsweise ist dabei die Antriebseinheit so realisiert, daß der Antriebsschlitten die gemeinsame Antriebseinheit trägt und somit der Antriebsschlitten seinerseits keine großen Beschleunigungskräfte aufnehmen muß, da sich diese alle in der Antriebseinheit zumindest im wesentlichen kompensieren.
Besonders günstig läßt sich eine derartige Vorrichtung dadurch realisieren, daß die Substrattische auf in Hauptrichtung einander gegenüberliegenden Seiten der Antriebseinheit angeordnet sind.
Um dabei eine möglichst kompakte Lösung zu realisieren, ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Hauptantriebe in einer Richtung quer zur Hauptrichtung und quer zur Nebenrichtung in im Abstand voneinander verlaufenden Antriebsebenen arbeiten, so daß dadurch die Möglichkeit besteht, den für die Antriebseinheit benötigten Bauraum in Hauptrichtung möglichst gering zu halten.
Besonders günstig ist es dabei, wenn der Läufer des Hauptantriebs für einen Substrattisch in der einen Antriebsebene und der Läufer des Hauptantriebs für den anderen Substrattisch in der zur einen Antriebsebenen parallelen anderen Antriebsebene arbeitet. Ferner sieht eine vorteilhafte Lösung der eingangs genannten Aufgabe alternativ oder ergänzend zu den bisher beschriebenen Ausführungsbeispielen bei einer Vorrichtung der eingangs beschriebenen Art erfindungsgemäß vor, daß die Relativposition von Substrattisch und Belichtungseinrichtung durch eine interferometrische Meßeinrichtung erfassbar ist.
Hinsichtlich der Zuordnung der mindestens einen Belichtungseinrichtung zu den Substrattischen wurden bislang keine näheren Angaben gemacht. Besonders vorteilhaft hinsichtlich der Effizienz bei der Belichtung von Substraten ist die erfindungsgemäße Vorrichtung dann, wenn jedem der Substrattische eine Belichtungseinrichtung zugeordnet ist.
Vorzugsweise ist dabei vorgesehen, daß der Substrattisch und die jeweils zugeordnete Belichtungseinrichtung relativ zueinander in der Hauptrichtung und in der Nebenrichtung bewegbar sind, so daß dadurch bei jedem der Substrattische im Zusammenhang mit der Belichtungseinrichtung eine steuerbare Belichtung des Substrats erfolgen kann.
Eine derartige interferometrische Meßeinrichtung hat den großen Vorteil, daß diese eine insbesondere im Nanometerbereich präzise Messung der Position des Substrattisches erlaubt.
Eine besonders hohe Meßgenauigkeit bei der Bestimmung der Position des Substrattisches läßt sich dann erreichen, wenn die interferometrische Meßeinrichtung mit einem Optikkopf der optischen Belichtungseinrichtung als Bezugspunkt arbeitet, das heißt, daß sämtliche Messungen der interferometrischen Meßeinrichtung auf die Position des Optikkopfes als Referenzposition bezogen werden. Die interferometrische Meßeinrichtung läßt sich dabei räumlich besonders günstig in eine erfindungsgemäße Vorrichtung integrieren, wenn diese in einer parallel zur Hauptrichtung und zur Nebenrichtung verlaufenden Referenzebene die Position des Optikkopfes erfaßt und in einer parallel zur Referenzebene verlaufenden Meßebene die Position des Substrattisches erfaßt.
Zur Erfassung der einzelnen Positionen ist vorzugsweise vorgesehen, daß die interferometrische Meßeinrichtung in der Referenzebene und in der Meßebene mit auf sich in Hauptrichtung und Nebenrichtung erstreckenden Spiegeln auftreffenden Meßstrahlen arbeitet. Damit lassen sich insbesondere in einfacher Weise Abstände über Interferenzen ermitteln.
Eine besonders günstige Realisierungsmöglichkeit sieht vor, daß der Optikkopf mit einem sich in Hauptrichtung und einem sich in Nebenrichtung erstreckenden Reflexionsspiegel versehen ist.
Hinsichtlich der Erfassung des Substrattisches ist es günstig, wenn der Substrattisch mit einem sich mindestens in Hauptrichtung über den maximalen Weg des Substrattisches erstreckenden Spiegel versehen ist. Damit läßt sich insbesondere auch bei Bewegung des Substrattisches dessen Position in der Nebenrichtung günstig erfassen.
Ferner ist vorzugsweise vorgesehen, daß der Substrattisch mit einem sich mindestens über den maximalen Weg in der Nebenrichtung erstreckenden Spiegel versehen ist, mit welchem sich dann bei der Bewegung des Substrattisches auch die Position desselben in der Hauptrichtung zweckmäßig ermitteln läßt. Eine besonders hohe Meßgenauigkeit läßt sich mit der interferometrischen Meßeinrichtung dann erreichen, wenn die interferometrische Meßeinrichtung mit Laserlicht derselben Wellenlänge sowohl in der Hauptrichtung als auch in der Nebenrichtung mißt.
Dies läßt sich besonders vorteilhaft dann erreichen, wenn die interferometrische Meßeinrichtung mit dem Laserlicht einer gemeinsamen Laserstrahlungsquelle arbeitet.
Um eine möglichst gute Fokussierung des Lichts der optischen Belichtungseinrichtung auf dem zu belichteten Substrat zu erhalten, ist vorzugsweise vorgesehen, daß die optische Belichtungseinrichtung mit einem Autofokussystem versehen ist, das gleichzeitig dabei auch geringfügige Ungenauigkeiten in der Führung des Substrattisches relativ zur Führungsebene ausgleicht.
Hinsichtlich der Beschickung des Substrattisches mit Substratmaterialien wurden bislang keine näheren Angaben gemacht. Beispielsweise wäre es denkbar, die Substratmaterialien manuell auf dem Substrattisch zu positionieren und manuell für die Belichtung mit der Belichtungseinrichtung auszurichten.
Eine besonders günstige Lösung sieht jedoch vor, daß die Vorrichtung ein Transportsystem aufweist, mit welchem Substratmaterialien von einer Vorbereitungsstation auf den Substrattisch transportierbar sind. Eine derartige Vorrichtung hat den Vorteil, daß damit Zeit für die Positionierung der Substratmaterialien auf dem Substrattisch eingespart werden kann. Besonders günstig ist dies, wenn die Substratmaterialien in der Vorbereitungsstation vorpositionierbar sind und vorpositioniert von dem Transportsystem auf dem Substrattisch ablegbar sind.
Damit besteht die Möglichkeit, die zeitaufwendige Vorpositionierung der Substratmaterialien in der Vorbereitungsstation durchzuführen, so daß beispielsweise während der Vorpositionierung der Substratmaterialien bereits auf dem Substrattisch vorhandene Substratmaterialien belichtet werden können, und dann die vorpositionierten Substratmaterialien unter Aufrechterhaltung der Vorpositionierung von dem Transportsystem auf dem Substrattisch abzulegen, nachdem die belichteten Substratmaterialien von dem Substrattisch entfernt wurden.
Um auch das Entfernen der belichteten Substratmaterialien möglichst rationell zu gestalten, ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Vorrichtung ein Transportsystem aufweist, mit welchem belichtete Substratmaterialien von dem Substrattisch in eine Abnahmestation transportierbar sind.
Die eingangs genannte Aufgabe wird alternativ oder ergänzend bei einer Vorrichtung der eingangs beschriebenen Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß der Antrieb für die Hauptrichtung auf einem Antriebsfundamentkörper sitzt, der von einem die Belichtungseinrichtung und den Substrattisch tragenden Fundamentkörper körperlich getrennt angeordnet ist.
Der Vorteil der erfindungsgemäßen Lösung ist somit darin zu sehen, daß alle negativen Einflüsse des Hauptantriebs für die Hauptrichtung, wie beispielsweise starke Beschleunigungen und Temperaturänderungen, sich nicht unmittelbar auf die Positionsgenauigkeit des Substrattisches relativ zur Belichtungseinrichtung auswirken, da sowohl der Substrattisch als auch die Belichtungseinrichtung von einem Fundamentkörper getragen werden, der körperlich getrennt von dem Antriebsfundamentkörper angeordnet ist.
Zieht man ferner in Betracht, daß derartige Fundamentkörper vorzugsweise Körper mit großer Masse, insbesondere im Bereich von Tonnen, sind, so ist durch die körperlich getrennten Fundamentkörper eine optimale Entkopplung zwischen dem Antriebsfundamentkörper und dem Fundamentkörper für die Belichtungseinrichtung und den Substrattisch erreicht.
Hinsichtlich der Ausbildung der Vorrichtung zur Erzeugung der Relativbewegung zwischen der Belichtungseinrichtung und dem Substrattisch wurden im Zusammenhang mit dem Grundkonzept der Erfindung keine näheren Angaben gemacht. So wäre es beispielsweise denkbar, einerseits die Belichtungseinrichtung in einer Achsrichtung zu bewegen und andererseits den Substrattisch in der anderen Richtung.
Besonders vorteilhaft ist es jedoch, wenn die Belichtungseinrichtung stationär an dem Fundamentkörper gehalten ist. Dies hat den Vorteil, daß durch die stationäre Anordnung der Belichtungseinrichtung relativ zum Fundamentkörper die gesamten mechanischen Dämpfungseigenschaften des Fundamentkörpers ausgenützt werden können, um möglichst geringe Erschütterungen und Vibrationen auf die Belichtungseinrichtung zu übertragen.
Darüber hinaus hat diese Lösung den Vorteil, daß eine Erfassung der Relativposition zwischen der Belichtungseinrichtung und dem Substrattisch dadurch vereinfacht werden kann, daß durch die stationäre Anordnung der Belichtungseinrichtung am Fundamentkörper in einfacher Weise ein Bezugspunkt für die Meßeinrichtung zur Bestimmung der Position des Substrattisches vorliegt.
Aus diesem Grund ist vorzugsweise der Substrattisch in der Hauptrichtung und der Nebenrichtung bewegbar.
Um diese Bewegbarkeit des Substrattisches günstig realisieren zu können, ist vorzugsweise vorgesehen, daß der Substrattisch auf einem Trägerschlitten angeordnet ist, der relativ zum Fundamentkörper in der Haupt- und der Nebenrichtung bewegbar ist.
Diese Bewegbarkeit muß andererseits aber mit einer präzisen Führung des Trägerschlittens einhergehen.
Zur präzisen Führung des Trägerschlittens ist daher vorzugsweise vorgesehen, daß der Trägerschlitten in Richtung der Hauptrichtung bewegbar an einem Führungsschlitten geführt ist, wobei der Führungsschlitten seinerseits relativ zum Fundamentkörper mindestens in der Nebenrichtung bewegbar ist.
Um eine möglichst präzise Führung des Trägerschlittens am Führungsschlitten zu erreichen, ist vorzugsweise vorgesehen, daß der Trägerschlitten an dem Führungsschlitten lediglich gegen eine Relativbewegung in der Nebenrichtung geführt ist und in keiner weiteren Richtung, so daß die Führung des Trägerschlittens an dem Führungsschlitten mit hoher Präzision ausgebildet sein kann und die Führungen für die anderen Richtungen sich nicht negativ auf die Präzision der Führung des Trägerschlittens am Führungsschlitten auswirken. Eine besonders präzise und leichtgängige Führung ist dann erreichbar, wenn der Trägerschlitten mit Luftführungen an dem Führungsschlitten geführt ist, wobei die Führung insbesondere durch Luftpolster erfolgt. Derartige Luftpolster haben nicht nur den Vorteil einer leichtgängigen Führung, sondern auch den Vorteil einer großen Dämpfung mechanischer Schwingungen.
Um den Trägerschlitten bei einer Bewegung quer zur Haupt- und Nebenrichtung präzise zu führen, ist vorzugsweise vorgesehen, daß der Trägerschlitten in einer Richtung quer zur Haupt- und Nebenrichtung auf einer Führungsebene des Fundamentkörpers geführt ist.
Die Führungsebene erlaubt somit eine Bewegung des Trägerschlittens sowohl in der Haupt- als auch in der Nebenrichtung und bewirkt eine möglichst große Führungspräzision in Richtung senkrecht zu diesen.
Besonders günstig ist es dabei, wenn der Trägerschlitten mit Luftführungen am Fundamentkörper geführt ist, so daß eine sehr leichtgängige und dennoch präzise und insbesondere schwingungsdämpfende Führung des Trägerschlittens vorliegt.
Da die Präzision der Führung des Trägerschlittens in Richtung quer zur Hauptrichtung und zur Nebenrichtung von der Qualität der Führungsebene abhängt, ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Führungsebene durch eine geschliffene, noch besser auch noch polierte Fläche gebildet wird.
Vorzugsweise ist dabei der Fundamentkörper aus einem schweren Material ausgebildet, das als Führungsebene eine geschliffene und polierte Fläche aufweist. Besonders günstig ist es dabei, wenn der Fundamentkörper aus einem Stein, insbesondere Granit hergestellt ist. Um eine möglichst hohe Präzision zu erreichen, ist es besonders vorteilhaft, wenn der Substrattisch relativ zum Führungsschlitten in Richtung der Nebenrichtung ausrichtbar ist, so daß die Möglichkeit besteht, Positionskorrekturen, insbesondere translatorische und/oder rotatorische Korrekturen des Substrattisches durch Bewegungen in Richtung der Nebenrichtung vorzunehmen und somit nachträglich Ungenauigkeiten auszugleichen, die sich durch den mechanischen Aufbau oder das Temperaturverhalten des mechanischen Aufbaus ergeben.
Besonders günstig ist es dabei, wenn der Substrattisch relativ zum Führungsschlitten durch in der Nebenrichtung wirksame Positionierelemente ausrichtbar ist, die eine exakte Nachpositionierung des Substratschlittens zulassen.
Die Positionierelemente können dabei manuell betätigbar sein. Eine besonders günstige Lösung sieht vor, daß die Positionierelemente durch eine Steuerung ansteuerbar sind und somit die Möglichkeit besteht, die Ausrichtung des Substrattisches in der Nebenrichtung zu jedem gewünschten Betriebszeitpunkt gesteuert zu korrigieren.
Die Positionierelemente können dabei in unterschiedlichster Art und Weise ausgebildet sein. Es können Lorenzmotoren oder Tauchspulenservos sein. Eine besonders günstige Ausführungsform sieht vor, daß die Positionierelemente Piezoelemente sind. Hinsichtlich der Positionierung des Führungsschlittens in der Nebenrichtung selbst wurden bislang keine näheren Angaben gemacht. So sieht eine besonders günstige Lösung vor, daß der Führungsschlitten durch zwei in Hauptrichtung im Abstand voneinander angeordnete Nebenantriebe in der Nebenrichtung bewegbar ist. Diese Lösung hat den Vorteil, daß sich eine hohe Führungsgenauigkeit des Führungsschlittens in der Nebenrichtung erreichen läßt, da durch ein synchrones Betreiben der beiden Nebenantriebe der Führungsschlitten durch eine gesteuerte Ausrichtung präzise ausgerichtet in der Nebenrichtung bewegt werden kann.
Alternativ oder ergänzend zu den vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispielen wird die eingangs genannte Aufgabe bei einer Vorrichtung der eingangs genannten Art erfindungsgemäß auch dadurch gelöst, daß der Hauptantrieb auf einem von dem Führungsschlitten getrennten Antriebsschlitten sitzt, der seinerseits in der Nebenrichtung durch einen Nebenantrieb bewegbar am Antriebsfundament geführt ist.
Diese Trennung des Hauptantriebs von dem Führungsschlitten, der seinerseits den Trägerschlitten führt, dient ebenfalls einer möglichst guten thermischen und auch mechanischen Entkopplung des Hauptantriebs von der mit höchster Präzision zu realisierenden Führung für den Trägerschlitten.
Hinsichtlich der Führung des Antriebsschlittens quer zur Haupt- und Nebenrichtung sind ebenfalls die unterschiedlichsten Möglichkeiten denkbar.
Besonders günstig ist es dabei, wenn der Antriebsschiitten quer zur Hauptrichtung und quer zur Nebenrichtung auf einer Führungsebene des Antriebsfundamentkörpers geführt ist. Die Führungsebene sollte dabei ebenfalls eine möglichst gute Führungsqualität für den Antriebsschlitten haben.
Aus diesem Grund ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Führungsebene als geschliffene Fläche ausgebildet ist, noch besser ist es, wenn die Führungsebene als polierte Fläche ausgebildet ist.
Insbesondere ist dabei der Antriebsfundamentkörper ebenfalls ein möglichst schwerer Körper, vorzugsweise aus Granit.
Um auch den Antriebsschlitten möglichst leichtgängig zu führen, ist vorzugsweise vorgesehen, daß der Antriebsschlitten mit Luftführungen am Antriebsfundamentkörper geführt ist.
Um bei einer Bewegung des Führungsschlittens in der Nebenrichtung keinerlei Führungsungenauigkeit durch einen Versatz relativ zur Bewegung des Antriebsschlittens zu erreichen, ist vorzugsweise vorgesehen, daß der Antriebsschlitten synchron zum Führungsschlitten bewegbar ist.
Vorzugsweise sind dabei die Nebenantriebe für die Bewegung des Antriebsschlittens und des Führungsschlittens miteinander synchronisiert.
Hinsichtlich der Realisierung des Hauptantriebs wurden bislang ebenfalls keine näheren Angaben gemacht. So sieht ein besonders vorteilhaftes Ausführungsbeispiel vor, daß am Antriebsschlitten ein Läufer des Hauptantriebs in Hauptrichtung bewegbar geführt ist. Um die Bewegungen des Läufers auf den Trägerschlitten zu übertragen, ist vorzugsweise vorgesehen, daß zwischen dem Läufer und dem Trägerschlitten eine in Hauptrichtung starre Antriebsverbindung vorgesehen ist, wobei diese Antriebsverbindung vorzugsweise noch so ausgebildet ist, daß sie eine gewisse Beweglichkeit quer zur Hauptrichtung aufweist.
Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung sind Gegenstand der nachfolgenden Beschreibung sowie der zeichnerischen Darstellung einiger Ausführungsbeispiele.
In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Belichtung von Substratmaterialien bei nur durch einen Optikkopf repräsentierter Belichtungseinrichtung;
Fig. 2 eine vergrößerte Darstellung einer Hälfte der in Fig. 1 dargestellten Vorrichtung mit Blick in Richtung A in Fig. 1;
Fig. 3 einen Schnitt längs Linie 3-3 in Fig. 2;
Fig. 4 eine Gesamtansicht des in Fig. 1 dargestellten ersten Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Vorrichtung mit Blick in Richtung A in Fig. 1;
Fig. 5 einen Schnitt längs Linie 5-5 in Fig. 2; Fig. 6 eine Draufsicht auf das erste Ausführungsbeispiel gemäß
Fig. 1 mit Blick in Richtung B in Fig. 1;
Fig. 7 eine vergrößerte Darstellung eines Substrattisches mit dem
Transportschlitten des ersten Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Vorrichtung zusammen mit einer erfindungsgemäßen Meßeinrichtung zur Bestimmung einer Position des Substrattisches;
Fig. 8 einen Schnitt längs Linie 8-8 in Fig. 3;
Fig. 9 eine vergrößerte perspektivische Darstellung ähnlich Fig. 1 eines Teils des ersten Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Vorrichtung mit vollständig dargestellter Belichtungseinrichtung;
Fig. 10 eine ausschnittsweise Draufsicht ähnlich Fig. 6 auf ein zweites Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 11 eine Darstellung ähnlich Fig. 4 eines dritten Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 12 eine Darstellung ähnlich Fig. 6 des dritten Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 13 eine Darstellung ähnlich Fig. 9 des dritten Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Vorrichtung und Fig. 14 eine Darstellung ähnlich Fig. 6 eines vierten Ausführungsbeispiels einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Belichten von Substratmaterialien.
Ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Belichten von Substratmaterialien, partiell dargestellt in Fig. 1 und 2, umfaßt zwei BelichtungseinrichtungenlOa, b, wobei jede der Belichtungseinrichtungen 10a, b in Fig. 1 und 2 lediglich durch einen Optikkopf 12a, b repräsentiert ist und deren Anordnung im übrigen nachfolgend noch im Detail erläutert wird.
Ferner umfaßt die erfindungsgemäße Vorrichtung zwei Substrattische 14a, b, auf welchen zu belichtende Substrate 16, 18 angeordnet sind, um diese mittels der optischen Belichtungseinrichtungen 10a, b zu belichten.
Hierzu ist eine Relativbewegung zwischen dem jeweiligen Substrattisch 14a, b mit den Substraten 16 und 18 und dem jeweiligen Optikkopf 12a, b erforderlich.
Aus Gründen der Vereinfachung erfolgt zunächst eine Beschreibung der Verhältnisse, die sich für einen der Optikköpfe 12a, b und den entsprechenden der Substrattische 14a, b ergeben, wobei da die Beschreibung für beide Optikköpfe 12a, b und die entsprechenden Substrattische 14a, b gilt, die Buchstaben a, b weggelassen werden.
Diese Relativbewegung wird bei dem dargestellten erfindungsgemäßen Ausführungsbeispiel der Vorrichtung zum Belichten von Substratmaterialien, wie beispielsweise Wafem, dadurch realisiert, daß der Substrattisch 14 in einer X- Richtung und einer Y-Richtung relativ zu der Belichtungseinrichtung 10 bewegbar ist. Hierzu ist der Substrattisch 14 auf einem Trägerschlitten 20 angeordnet, welcher auf einer parallel zur X-Richtung und parallel zur Y-Richtung verlaufenden Führungsebene 22 gleitend geführt ist, wobei sich die Führungsebene 22 quer zu einer vertikalen, vorzugsweise ungefähr in der Horizontalen erstreckt.
Ferner ist der Trägerschlitten 20 seinerseits an einem Führungsschlitten 24 geführt, welcher sich mit einer Längsführung 26 parallel zur X-Richtung erstreckt, längs welcher der Trägerschlitten 20 in X-Richtung bewegbar ist, jedoch gegen eine Bewegung in Y-Richtung geführt ist.
Wie in Fig. 2 dargestellt, wird die Längsführung 26 vorzugsweise durch einen langgestreckten Führungsbalken 28 gebildet, der einander gegenüberliegende Seitenführungsflächen 30a und 30b aufweist, die sich quer zur Y-Richtung und vorzugsweise in parallel zur X-Richtung und parallel zur Z-Richtung, die ihrerseits senkrecht auf der X- und Y-Richtung steht, verlaufenden Ebenen erstrecken.
Der Trägerschlitten 20 umgreift seinerseits mit Seitenschenkeln 32a, b den Führungsbalken 28 umgekehrt U-förmig, so daß sich die Seitenschenkel 32a, b des Trägerschlittens 20 beiderseits des Führungsbalkens 28 erstrecken und mit ihren Enden 33a, b der Führungsebene 22 zugewandt sind (Fig. 3).
Diese Seitenschenkel 32a, b tragen nun an ihren den Führungsflächen 30a, b zugewandten Seiten Einrichtungen 34a, b, zum Erzeugen von Luftpolstern so daß zwischen diesen Einrichtungen 34a, b und den Führungsflächen 30a, b den Trägerschlitten 20 in Y-Richtung am Führungsbalken 28 führende Luftpolster entstehen. Ferner sind die Seitenschenkel 30a, b an ihren der Führungsebene 22 zugewandten Enden 33a, b ebenfalls mit Einrichtungen 36a, b zur Erzeugung von Luftpolstern versehen, welche zwischen sich und der Führungsebene 22 jeweils Luftpolster erzeugen, so daß der Trägerschlitten 20 auf diesen Luftpolstern über die Führungsebene 22 gleiten kann.
Darüber hinaus ist auch noch der Führungsschlitten 24 seinerseits durch Einrichtungen 38a, b zur Erzeugung von Luftpolstern auf der Führungsebene 22 gleitend geführt, wobei diese Einrichtungen 38a, b ebenfalls zwischen sich und der Führungsebene 22 den gesamten Führungsschlitten 24 auf der Führungsebene 22 gleitend führende Luftpolster bilden.
Die Führungsebene 22 wird bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Belichten von Substratmaterialien vorzugsweise durch eine Oberfläche eines Fundamentkörpers 40 gebildet, wobei der Fundamentkörper 40 vorzugsweise ein Granitblock mit einer polierten Oberfläche ist, die die Führungsebene 22 darstellt und somit eine hochpräzise Fläche zur Führung des Trägerschlittens 20 ist.
Der Fundamentkörper 40 sitzt dabei vorzugsweise mit einer Unterseite 42 auf einer Stellfläche 44 für die erfindungsgemäße Vorrichtung auf.
Ferner ist der Fundamentkörper 40 mit zwei sich ausgehend von der Führungsebene 22 in diesen hinein erstreckenden Führungsnuten 46, 48 versehen, die in Y-Richtung verlaufen, wobei jede der Führungsnuten 46, 48 durch ihre einander gegenüberliegenden Nutwände Führungsflächen 50a, 50b bildet, die sich parallel zur Y-Richtung und parallel zur Z-Richtung erstrecken und somit jeweils eine Führung gegen eine Bewegung in X-Richtung darstellen. In diesen Führungsnuten 46 und 48 sind Führungskörper 52 und 54 des Führungsschlittens 24 vorgesehen, die fest mit dem Führungsbalken 28 verbunden sind und jeweils auf gegenüberliegenden Seiten Einrichtungen 56a, 56b zur Erzeugung von Luftpolstern tragen, die zwischen sich und den Führungsflächen 50a, b ein den jeweiligen Körper 52 und 54 in den Führungsnuten 46 bzw. 48 führendes Luftpolster bilden, so daß der Führungsschlitten 24 hierdurch gegen eine Bewegung in X-Richtung relativ zum Fundamentkörper 40 geführt ist.
Zur Verschiebung des Führungsschlittens 24 in Y-Richtung sind in den Führungsnuten 46 und 48 angeordnete Linearmotoren 60 und 62 vorgesehen, deren Wicklungskörper 64 vorzugsweise auf einem Nutgrund 66 der Führungsnuten 46 und 48 stationär angeordnet ist, während ein durch geeignete Bestromung des Wicklungskörpers 64 verschiebbarer Läufer 68 in den Führungsnuten 46 und 48 jeweils in der Y-Richtung geführt bewegbar ist.
Vorzugsweise ist dabei der Läufer 68 des jeweiligen Linearmotors 60, 62 ebenfalls durch Luftpolster in den Führungsnuten 46 und 48 geführt.
Die Verbindung zwischen dem Läufer 68 und dem Führungsschlitten 24 erfolgt vorzugsweise über eine zwischen dem jeweiligen Läufer 68 und dem entsprechenden Führungskörper 52 bzw. 54 vorgesehene, in Y-Richtung starre Koppelstange 70.
Die Bewegung des Substrattisches 14 in Y-Richtung stellt eine Bewegung in einer Nebenrichtung dar, während die Hauptrichtung der Bewegung die X- Richtung ist, da bei der Belichtung der Substratmaterialien 16 und 18 mittels der Belichtungseinrichtung 10 die Bewegung in X-Richtung eine weit höhere Dynamik aufgrund des großen Bewegungsweges im Vergleich zur Bewegung in Y-Richtung aufweist.
Aus diesem Grund ist eine separate Antriebseinheit 78 vorgesehen, welcher einen Linearantrieb 80 für die Bewegung des Substrattisches 14 in X-Richtung umfaßt, der auf einem Antriebsschlitten 82 angeordnet ist, wobei der Antriebsschlitten 82 seinerseits in Y-Richtung bewegbar auf einer Führungsebene 84 geführt ist, die sich parallel zur X- und Y-Richtung erstreckt (Fig. 1, 4, 5).
Vorzugsweise weist hierzu der Antriebsschlitten 82 an seiner Unterseite 86 angeordnete Einrichtungen 88 zur Erzeugung eines Luftpolsters zwischen diesen und der Führungsebene 84 auf, so daß der Antriebsschlitten 82 gegenüber der Führungsebene 84 durch die Luftpolster geführt bewegbar ist.
Die Führungsebene 84 ist dabei gebildet durch einen Antriebsfundamentkörper 90, welcher mit seiner Unterseite 92 ebenfalls auf der Stellfläche 44 steht.
Dabei ist der Antriebsfundamentkörper 90 körperlich vollständig getrennt vom Fundamentkörper 40 für den Trägerschlitten 20 und den Führungsschlitten 24.
Vorzugsweise ist der Antriebsfundamentkörper 90 ebenfalls als Granitblock mit einer polierten Oberfläche als Führungsebene 84 ausgebildet.
Der Linearantrieb 80 zum bewegen des Trägerschlittens 20 in X-Richtung umfaßt einen Wicklungskörper 92, welcher fest auf einem Grund 94 einer U- förmigen Ausnehmung 95 des Antriebsschlittens 82 angeordnet ist sowie einen zwischen seitlichen Führungsflächen 96a und 96b der U-förmigen Vertiefung geführten Läufer 98, der zwischen den Führungsflächen 96a, b in X-Richtung bewegbar geführt ist, wobei die Führung des Läufers 98 vorzugsweise über Einrichtungen 100a, 100b zur Erzeugung von Luftpolstern erfolgt, die zwischen diesen Einrichtungen 100a, b und den Führungsflächen 96 den Läufer 98 gegen eine Bewegung in Y-Richtung führen.
Die Kopplung zwischen dem Läufer 98 und dem Trägerschlitten 20 erfolgt dabei vorzugsweise durch eine in X-Richtung starre Koppelstange 102, die sowohl am Läufer 98 als auch am Trägerschlitten 20 angreift.
Die Führung des Antriebsschlittens 82 am Antriebsfundamentkörper 90 erfolgt vorzugsweise durch eine im Antriebsfundamentkörper 90 vorgesehene und sich ausgehend von der Führungsebene 84 in diesen hinein erstreckende Führungsnut 106, mit durch deren Seitenwände gebildeten Führungsflächen 108a, 108b, zwischen denen ein Führungskörper 110 in Y-Richtung beweglich, jedoch gegen eine Bewegung in X-Richtung geführt ist, der fest mit dem Antriebsschlitten 82 verbunden ist.
Der Führungskörper 110 ist dabei seinerseits mit den Führungsflächen 108a, b zugewandten Einrichtungen 112a, 112b zur Erzeugung eines Luftpolsters versehen, wobei das Luftpolster zwischen diesen Einrichtungen 112a, 112b und den Führungsflächen 108a, b liegt.
Zum Bewegen des Antriebsschlittens 82 in Y-Richtung ist ein Linearmotor 114 vorgesehen, dessen Wicklungsträger 116 auf einem Nutgrund 118 der Führungsnut 106 angeordnet ist und dessen Läufer 120 in der Führungsnut 106 in Y-Richtung bewegbar ist, wobei der Läufer 120 vorzugsweise ebenfalls durch Luftpolster zwischen den Führungsflächen 108a, b geführt ist. Eine Verbindung zwischen dem Läufer 120 und dem mit dem Antriebsschlitten 82 verbundenen Führungskörper 110 erfolgt über eine in Y-Richtung starre Koppelstange 122.
Die von dem Linearantrieb 80 erzeugten Beschleunigungen in X-Richtung zum Verschieben des Trägerschlittens 20 mit dem Substrattisch 14 in der X-Richtung würden aufgrund der hohen Dynamik und der stets erfolgenden Bewegungsumkehr nach Überstreichen der beiden Substratmaterialien 16, 18 oder Wafer, zu hohen Belastungen der Führung des Führungskörpers 110 zwischen den Führungsflächen 108a, b führen.
Aus diesem Grund sieht die erfindungsgemäße Vorrichtung vorteilhafterweise auf gegenüberliegenden Seiten des Antriebsschlittens 82 jeweils einen Fundamentkörper 40a, 40b mit einem darauf in X-Richtung verschiebbaren Trägerschlitten 20a, b vor. Ferner sind in der Antriebseinheit im Antriebsschlitten 82 zwei Linearantriebe 80a und 80b vorgesehen, wobei der Linearantrieb 80a zum Bewegen des Trägerschlittens 20a und der Antrieb 80b zum Bewegen des Trägerschlittens 20b, die auf gegenüberliegenden Seiten des Antriebsschlittens 82 liegen, vorgesehen sind. Ferner werden die Linearantriebe 80a und 80b durch eine Steuerung 130 so angesteuert, daß sich die Läufer 98a und 98b stets im wesentlichen gegenläufig bewegen, das heißt entweder beide Trägerschlitten 20a, 20b von der Antriebseinheit 78 weg bewegt werden oder auf die Antriebseinheit 78 zu bewegt werden. Dadurch lassen sich die hohen, von den Linearantrieben 80a und 80b erzeugten Beschleunigungen zumindest im wesentlichen gegenseitig kompensieren, so daß nur noch geringe Kräfte von dem zwischen den Führungsflächen 108a, b geführten Führungskörper 110 aufgenommen werden müssen, die den Antriebsschlitten 82 in X-Richtung exakt in seiner X-Position führen. Die übereinanderliegende Anordnung der Linearantriebe 80a und 80b führt, wie in Fig. 4 und 5 dargestellt, dazu, daß die Koppelstange 102a in einer ersten Antriebsebene 132 wirksam ist, während die Koppelstange 102b in einer parallel zur Antriebsebene 132 verlaufenden, jedoch gegenüber dieser versetzten Antriebsebene 134 wirksam ist, die beispielsweise näher der Stellfläche 44 verläuft.
Denselben Versatz wie die Antriebsebenen 132 und 134 weisen auch die Führungsebenen 22a und 22b der Fundamentkörper 40a und 40b auf, so daß auch die Trägerschlitten 20a und 20b in unterschiedlicher Höhe geführt sind, wobei vorzugsweise die Trägerschlitten 20a und 20b und die Führungsschlitten 24 identisch aufgebaut und an dem Fundamentkörper 40a, b geführt sind.
Aus diesem Grund gelten sämtliche bislang gemachten Ausführungen zu Aufbau, Führung und Struktur der Trägerschlitten für beide Trägerschlitten 20a, 20b.
Ferner sind auch die Fundamentkörper 40a und 40b körperlich getrennt, vorzugsweise verbindungsfrei zum Antriebsfundamentkörper 90 angeordnet. Dies hängt primär damit zusammen, daß aufgrund er hohen Dynamik beim Antrieb der Trägerschlitten 20a, 20b in Z-Richtung seitens der Linearantriebe 80a, 80b eine hohe Wärmeentwicklung entsteht, die wiederum der Präzision bei der Positionierung der Trägerschlitten 20a, b abträglich ist.
Ferner müssen aufgrund der hohen Dynamik auch Beschleunigungen vom Antriebsfundamentkörper 90 aufgenommen werden, die dann, wenn eine körperliche Trennung zwischen dem Antriebsfundamentkörper 90 und den Fundamentkörpern 40a und 40b besteht, nicht oder in einem weit geringeren Maße auf diese Fundamentkörper 40a, 40b übertragen werden. Somit kann durch die Trennung des Antriebsfundamentkörpers 90 von den Fundamentkörpern 40a und 40b die Präzision bei der hochgenauen Führung der Trägerschlitten 20a, 20b in den Führungsebenen 22a, 22b verbessert werden.
Wie in Fig. 6 dargestellt, steuert nun die Steuerung 130 die Bewegung der Trägerschlitten 20a, 20b durch entsprechende Bewegung der Führungsschlitten 24a, 24b mittels der Linearmotoren 60 und 62 sowie die Bewegung des Antriebsschlittens 82 mittels des Linearmotors 114 in Y-Richtung derart, daß die Bewegung der Trägerschlitten 20a und 20b und des Antriebsschlittens 82 derart synchron erfolgt, daß eine Mittelachse 136a, die in der Antriebsebene 132 liegt und eine Mittelachse 136b, die in der Antriebsebene 134 liegt, stets in einer gemeinsamen Ausrichtebene 138 liegen, die senkrecht zu den Antriebsebenen 132 und 134 und somit parallel zur Z-Richtung verläuft.
Zur exakten Positionierung des jeweiligen Substrattisches 14 relativ zu dem Optikkopf 12 ist, wie in Fig. 7 dargestellt, eine interferometrische Meßeinrichtung 140 vorgesehen, welche eine sich in Y-Richtung erstreckende Spiegelleiste 142 mit einer Spiegelfläche 144 umfaßt, welche sich parallel zur Y- und parallel zur Z-Richtung über die Breite des Substrattisches 14 erstreckt. Ferner ist am Substrattisch 14 auf einer Längsseite eines sich in X-Richtung erstreckende Spiegelleiste 146 vorgesehen, welche eine Spiegelfläche 148 trägt, die sich in X-Richtung und in Z-Richtung erstreckt.
Die Spiegelflächen 144 und 148 sind somit relativ zum Substrattisch 14 feststehend angeordnet. Darüber hinaus ist der Optikkopf 12 mit einer Spiegelfläche 150 versehen, die sich parallel zur Y- und Z-Richtung und somit parallel zur Spiegelfläche 144 erstreckt und mit einer Spiegelfläche 152, die sich parallel zur X-Richtung und zur Z-Richtung und somit parallel zur Spiegelfläche 148 erstreckt.
Beide Spiegelflächen 150 und 152 sind fest mit dem Optikkopf 12 verbunden.
Ferner umfaßt die Meßeinrichtung 140 zwei Interferometereinheiten 154 und 156, von denen jede einen Meßstrahl 158 bzw. 160 in Richtung zur Spiegelfläche 144 des Substrattisches 14 aussendet und außerdem jeweils einen Meßstrahl 162 bzw. 164, zur Spiegelfläche 150. Jede der Interferometereinheiten 154 und 156 ist somit durch Differenzbildung der mittels der Meßstrahlen 158 und 162 bzw. 160 und 164 bestimmbaren Wegdifferenzen in der Lage, die Abstände zwischen der Spiegelfläche 144 und der Spiegelfläche 150 zu ermitteln, die somit die exakte Relativposition des Substrattisches 14, in diesem Fall des Substrattisches 14b relativ zu dem Optikkopf, in diesem Fall dem Optikkopf 12b, angibt.
Hierzu verlaufen die Meßstrahlen 158 bis 164 exakt parallel zur X-Richtung und vorzugsweise auch die Meßstrahlen 162 und 164 in einer Referenzebene 188 bzw. 158 und 160 in einer Meßebene 189, die beide ihrerseits zu der Führungsebene 22, in diesem Fall der Führungsebene 22b, parallel verlaufen.
Vorzugsweise sind die beiden Interferometereinheiten 154 und 160 so angeordnet, daß deren Meßstrahlen 158 und 162 bzw. 160 und 164 in Y-Richtung im Abstand voneinander angeordnet sind, so daß sich nicht nur die Relativposition der Spiegelflächen 144 und 150 in X-Richtung ermitteln läßt, sondern auch feststellen läßt, ob die Spiegelflächen 150 und 144 exakt parallel zueinander ausgerichtet sind. Liegen Abweichungen von einem exakt parallelen Verlauf vor, so liegt eine Verdrehung des Substrattisches 14b um eine zur Z- Richtung parallele Achse vor.
Darüber hinaus umfaßt die Meßeinrichtung 140 noch eine Interferometerein- heit 170, welche einen zur Spiegelfläche 148 gerichteten und in der Meßebene 189 liegenden Meßstrahl 172 und einen zur Spiegelfläche 152 gerichteten und in der Referenzebene 188 liegenden Meßstrahl 154 erzeugt und durch Wegdifferenz dieser Meßstrahlen 152 und 154, die in Y-Richtung verlaufen, die Lagedifferenz zwischen dem Optikkopf 12b und dem Substrattisch 14b in Y- Richtung ermitteln kann.
Um sicherzustellen, daß alle Interferometereinheiten 154, 156 und 170 mit derselben Wellenlänge arbeiten, ist diesen eine gemeinsame Laserlichtquelle 176 zugeordnet, welche wellenlängenstabilisierte Laserstrahlung 178 erzeugt, die über Strahlteiler 180 bis 186 auf die Interferometereinheiten 154, 156 und 170 aufgeteilt wird, so daß alle Interferometereinheiten 154, 156 und 170 mit der Laserstrahlung derselben Wellenlänge arbeiten.
Alle Interferometereinheiten 154, 156 und 170 sind relativ zum Fundamentkörper 40 stationär angeordnet, so daß sich der Substrattisch 14 relativ zu den Meßstrahlen 158 und 160 sowie 172 bewegt, die jedoch in jeder Stellung des Substrattisches 14 noch auf die entsprechende Spiegelfläche 144 bzw. 148 auftreffen, wobei die Spiegelfläche 144 in der Y-Richtung und die Spiegelfläche 148 in der X-Richtung vorzugsweise Ausdehnungen aufweisen, die größer als die Wege sind, längs welcher der Substrattisch 14 in Y-Richtung und X-Richtung bewegbar ist. Mit den von den Interferometereinheiten 154 und 156 erfaßten relativen Abständen zwischen der Spiegelfläche 150 und der Spiegelfläche 144 ist die Steuerung 130 in der Lage, den jeweiligen Linearantrieb, in diesem Fall den Linearantrieb 80b, so anzusteuern, daß der Optikkopf 12 in der gewünschten Relativposition zu dem Substrattisch 14 und somit zu den Substratmaterialien oder Wafern 16b und 18b steht.
Darüber hinaus läßt sich eine durch die Interferometereinheiten 154 und 156 festgestellte Verdrehung der Spiegelfläche 144 relativ zur Spiegelfläche 170 um eine in Z-Richtung verlaufende Drehachse dadurch durch die Steuerung 130 korrigieren, daß die Einrichtungen zur Erzeugung eines Luftpolsters 34a bis 34b, die an den Seitenschenkeln 32a, 32b des Trägerschlittens 20 angeordnet sind, jeweils auf Piezoelementen 190a bis d sitzen, die durch die Steuerung 130 ansteuerbar dickenveränderlich sind und somit die Möglichkeit schaffen, den Abstand der Einrichtungen 34a bis 34d zur Erzeugung eines Luftpolsters von den Seitenschenkeln 32a und 32b zu variieren, so daß durch geeignete Ansteuerung der Piezoelemente 190a bis 190d eine Verdrehung des Trägerschlittens 20 um eine zur Z-Richtung parallele Achse in geringem Maße möglich ist, die es erlaubt, die Spiegelfläche 144 exakt parallel zur Spiegelfläche 150 ausgerichtet zu halten. (Fig. 8)
Darüber hinaus ist die Steuerung 130 in der Lage, entsprechend dem gemessenen Abstand zwischen der Spiegelfläche 152 und der Spiegelfläche 148 die Verschiebung des Substrattisches 14 in Y-Richtung zu erfassen und die Linearmotoren 60 und 62, in diesem Fall die Linearmotoren 60b und 62b, entsprechend anzusteuern und gleichzeitig auch den Linearmotor 114 zum Bewegen des Antriebsschlittens 82 synchron anzusteuern. Die konstruktive Realisierung der stationären Anordnung der Interferometereinheiten 154 und 156 sowie 170 relativ zum Fundamentkörper 140 ist in Fig. 9 im Detail dargestellt.
Um durch die Anordnung der Interferometereinheiten 154 und 156 die Bewegbarkeit der Koppelstange und des Substrattisches, in diesem Fall der Koppelstange 102a, und des Substrattisches 14a nicht zu behindern, sitzt auf dem Fundamentkörper 40 ein als Ganzes mit 200 bezeichneter Brückenkörper, der sich über äußere Fußelemente 202 und 204 auf der Führungsebene 22, in diesem Fall der Führungsebene 22a, abstützt und mit Brückenbereichen 206 und 208 den Bewegungsbereich des Trägerschlittens 20, in diesem Fall des Trägerschlittens 20a und des Substrattisches 14, in diesem Fall des Substrattisches 14a, übergreift.
Dabei sitzen beispielsweise auf dem der Antriebseinheit 78 zugewandt angeordneten Brückenbereich 206 die beiden Interferometereinheiten 154 und 156, wobei unterhalb des Brückenbereichs 206 die Koppelstange 102a durchläuft, während auf dem Brückenbereich 208, der sich über den Substrattisch 14 und den Trägerschlitten 20 hinweg erstreckt, die Belichtungseinrichtung 10 sitzt, die auf ihrer dem Substrattisch 14 zugewandten Seite den Optikkopf 12 trägt.
Die Belichtungseinrichtung 10 ist dabei so ausgebildet und arbeitet so, wie dies beispielsweise in der deutschen Patentanmeldung 101 60 917.5 beschrieben ist, auf weiche diesbezüglich vollinhaltlich Bezug genommen wird.
Ferner sitzt die Interferometereinheit 170 auf einem seitlich des Brückenkörpers 200 vorgesehenen Sockelbereich 210, der außerhalb eines Bewegungsbereichs des Trägerschlittens 20 und des Substrattisches 14 angeordnet ist. Ein zweites Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Vorrichtung umfaßt, wie in Fig. 10 dargestellt, ein als Ganzes mit 220 bezeichnetes Transportsystem, mit einer beispielsweise in Y-Richtung bewegbaren Greifeinrichtung 222, mit welcher sich in einer Vorbereitungsstation 224 vorbereitete und insbesondere vorpositionierte unbelichtete Substratmaterialien, beispielsweise die Wafer 16R und 18R greifen und in der vorpositionierten Stellung dem Substrattisch 14 zuführen lassen.
Ferner ist die Greifeinrichtung 22 auch noch zu einer Abnahmestation 226 bewegbar, die auf einer der Vorbereitungsstation 224 gegenüberliegenden Seite des Fundamentkörpers 40 angeordnet ist und in welcher die belichteten Wafer 16B, 18B ablegbar sind.
Damit läßt sich die Zeit für die Positionierung der Wafer 16, 18 auf dem Substrattisch 14 optimal kurz gestalten und somit lassen sich die Zeiten für die Belichtungen der einzelnen Substratmaterialien 16, 18 optimieren.
Bei einem dritten Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Vorrichtung, dargestellt in den Fig. 11 bis 13 sind diejenigen Elemente, die mit denen der vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiele identisch sind, mit denselben Bezugszeichen versehen, so daß auf die voranstehenden Ausführungen hierzu vollinhaltlich Bezug genommen werden kann.
Bei dem dritten Ausführungsbeispiel sind die Substrattische 14a und 14b in gleicher Weise wie bei den voranstehenden Ausführungsbeispielen auf für diese vorgesehen Trägerschlitten 20' angeordnet, die allerdings an in der Y- Richtung stationären Führungbalken 28 in X-Richtung geführt sind, wobei die Führungsbalken 28 unverschieblich auf den Fundamentkörpern 40a und 40b gehalten sind, so daß die Trägerschlitten 20' lediglich in der X-Richtung relativ zu den Fundamentkörpern 40a, 40b bewegbar sind.
Darüber hinaus ist eine Antriebseinheit 78' vorgesehen, die allerdings nicht mehr auf einem separaten Fundamentkörper angeordnet ist, sondern beispielsweise mit auf dem Fundamentkörper 40b sitzt, und in der in bekannter Weise die Linearantriebe 80 angeordnet sind, die die Trägerschlitten 20' in der bekannten Weise in der X-Richtung antreiben.
Zur Erzeugung der Relativbewegung zwischen dem Optikkopf 12 und dem jeweiligen Substrattisch, in Fig. 13 dem Optikkopf 12a und dem Subtrattisch 14a, ist die gesamte Belichtungeinrichtung 10, in Fig. 13 die Belichtungseinrichtung 10a in Y-Richtung auf dem als Ganzes mit 200 bezeichneten Brückenkörper, in Fig. 13 dem Brückenkörper 200a, geführt, wobei auf dem Brückenkörper 200a eine sich in Y-Richtung erstreckende Führung 230 vorgesehen ist, längs welcher ein die jeweilige Belichtungseinrichtung 10 tragender Optikschlitten 232 - beispielsweise ebenfalls luftgelagert - in der Y-Richtung durch einen Linearantrieb 234 bewegbar ist, dessen Läufer 236 mit dem Optikschlitten 232 verbunden ist und dessen Stator 238 in die Y-Führung 230 integriert ist.
Damit läßt sich durch die Bewegung der Belichtungseinrichtung 10 in Y-Richtung und die Bewegung des Substrattisches 14 in X-Richtung die Relativbewegung zwischen dem Substrattisch 14 und der Belichtungseinrichtung 10 in der gewünschten einfachen Art und Weise erzeugen. Bei diesem Ausführungsbeispiel arbeitet die interferometrische Messeinrichtung 140 im Prinzip in derselben Weise, wie im Zusammenhang mit dem ersten Ausführungsbeispiel beschrieben, mit dem einzigen Unterschied, daß es erforderlich ist, daß die fest mit dem Optikkopf 12 verbundene Spiegelfläche 150, welche sich parallel zur Y-Richtung erstreckt, eine Ausdehnung in der Y- Richtung aufweist, die dem von der Belichtungseinrichtung 10 in Y-Richtung beschreibbaren Weg entspricht.
Bei einem vierten Ausführungsbeispiei, dargestellt in Fig. 14, sind zwei Antriebseinheiten 78"a und 78"b vorgesehen, wobei die Antriebseinheit 78"a dazu dient, den Substrattisch 14a anzutreiben und die Antriebseinheit 78"b dazu, den Substrattisch 14b anzutreiben.
Jede dieser Antriebseinheiten 78" ist jeweils mit einem Linearantrieb 80"a bzw. 80"b versehen. Ferner ist jeder der Linearantriebe 80"a bzw. 80"b mittels einer erfindungsgemäß bereits beschriebenen Koppelstange 102a bzw. 102b mit dem jeweiligen Substrattisch 14a bzw. 14b gekoppelt.
Im Gegensatz zu den voranstehend beschriebenen Anführungsbeispielen sind bei dem vierten Ausführungsbeispiel die Antriebseinheiten 78"a und 78"b ferner so angeordnet, daß zwischen diesen die Substrattische 14a, 14b liegen, das heißt, daß bei jedem Substrattisch 14a, 14b die zugeordnete Antriebseinheit 78"a bzw. 78"b auf der dem jeweils anderen Substrattisch 14b bzw. 14a gegenüberliegenden Seite angeordnet ist.
Diese Lösung hat den Vorteil, daß die Linearantriebe 80"a bzw. 80"b einfacher mit Energie versorgt und angesteuert werden können und im übrigen auch die Wartung der Linearantriebe 80"a und 80"b vereinfacht werden kann. Darüber hinaus lässt sich eine Bestückung beider Substrattische 14a, 14b einfacher realisieren.
Im übrigen sind die Substrattische 14a, 14b in gleicher Weise wie im Zusammenhang mit den voranstehenden Ausführungsbeispielen beschrieben, auf Trägerschlitten 20' angeordnet, die an Führungsbalken 28' in X-Richtung geführt sind, wobei vorzugsweise auch beim vierten Ausführungsbalken die Führungbalken 28' stationär auf den Fundamentkörpern 40a und 40b angeordnet und somit nicht in Y-Richtung beweglich sind. Die Relativbewegung zwischen den Substrattischen 14a und 14b und dem jeweiligen Optikkopf 12a, b wird in gleicher Weise wie beim dritten Ausführungsbeispiel durch die bewegbare Anordnung der Belichtungseinrichtungen 10a, 10b in der Y-Richtung realisiert.

Claims

PATENTANSPRÜCHE
1. Vorrichtung zum Belichten von Substratmaterialien umfassend mindestens eine optische Belichtungseinrichtung (10), mindestens einen Substrattisch (14), eine Vorrichtung zur Erzeugung einer Relativbewegung zwischen der Belichtungseinrichtung (10) und dem Substrattisch (14) in zwei quer zueinander verlaufenden Richtungen (X, Y), wobei die Relativbewegung in einer Hauptrichtung (X) mit einer größeren Dynamik erfolgt als in einer Nebenrichtung (Y), mindestens einen Hauptantrieb (80) zur Erzeugung der Relativbewegung in der Hauptrichtung (X) und mindestens einen Nebenantrieb (60, 62, 234) für die Erzeugung der Relativbewegung in der Nebenrichtung (Y), d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß die Vorrichtung zwei sich in Hauptrichtung (X) im wesentlichen gegenläufig bewegende Substrattische (14a, b) aufweist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jedem Substrattisch (14a, b) ein Hauptantrieb (80a, b) zugeordnet ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Hauptantrieb (80a, b) von dem Substrattisch getrennt (14a, b) angeordnet ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein Läufer (98) des Hauptantriebs (80a, b) den jeweils zugeordneten Substrattisch (14a, b) über eine in Hauptrichtung (X) starre Antriebsverbindung (102) antreibt.
5. Vorrichtung nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Substrattisch (14a, b) auf einem Trägerschlitten (20) angeordnet ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Läufer (98) und der Trägerschlitten (20) des Substrattisches (14a, b) über die in Hauptrichtung (X) starre Antriebsverbindung (102) miteinander gekoppelt sind.
7. Vorrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 oder nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Läufer (98) des Hauptantriebs (80) an Führungsflächen (96a, b) in der X-Richtung geführt ist, die von in X-Richtung verlaufenden Führungsflächen (30a, b) für den Trägerschlitten (20) getrennt sind.
8. Vorrichtung nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Hauptantriebe (80a, b) für die Substrattische (14a, b) in einer gemeinsamen Antriebseinheit (78) zusammengefaßt sind.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Antriebsschlitten (82) die gemeinsame Antriebseinheit (78) trägt.
10. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Substrattische (14a, b) auf in Hauptrichtung (X) einander gegenüberliegenden Seiten der Antriebseinheit (78) angeordnet sind.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Hauptantriebe (80a, b) in einer Richtung (Z) quer zur Hauptrichtung (X) und quer zur Nebenrichtung (Y) in im Abstand voneinander verlaufenden Antriebsebenen (132, 134) arbeiten.
12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Läufer (98a) des Hauptantriebs (80a) für einen Substrattisch (14a) der einen Antriebsebene (132) und der Läufer (98b) des Hauptantriebs (80b) für den anderen Substrattisch (14b) in der zur einen Antriebsebene (132) parallelen anderen Antriebsebene (134) arbeitet.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Substrattische (14a, b) zwischen den Hauptantrieben (80"a, b) angeordnet sind.
14. Vorrichtung nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jedem der Substrattische (14a, b) eine Belichtungseinrichtung (10a, b) zugeordnet ist.
15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Substrattisch (14a, b) und die jeweils zugeordnete Belichtungseinrichtung (10a, b) relativ zueinander in der Hauptrichtung (X) und der Nebenrichtung (Y) bewegbar sind.
16. Vorrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 oder nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Relativposition von Substrattisch (14) und Belichtungseinrichtung (10) durch eine interferometrische Meßeinrichtung (140) erfassbar ist.
17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die interferometrische Meßeinrichtung (140) mit einem Optikkopf (12) der optischen Belichtungseinrichtung (10) als Bezugspunkt arbeitet.
18. Vorrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die interferometrische Meßeinrichtung (140) in einer parallel zur Hauptrichtung (X) und zur Nebenrichtung (Y) verlaufenden Referenzebene (188) die Position des Optikkopfes (12) erfaßt und in einer parallel zur Referenzebene (188) verlaufenden Meßebene (189) die Position des Substrattisches (14) erfaßt.
19. Vorrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die interferometrische Meßeinrichtung (140) in der Referenzebene (188) und in der Meßebene (189) mit auf sich in Hauptrichtung (X) und Nebenrichtung (Y) erstreckenden Spiegeln (150, 152; 144, 148) auftreffenden Meßstrahlen (162, 164, 174; 158, 160, 172) arbeitet.
20. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß der Optikkopf (12) mit einem sich in Hauptrichtung (X) und einem sich in Nebenrichtung (Y) erstreckenden Reflexionsspiegel (152, 150) versehen ist.
21. Vorrichtung nach Anspruch 19 oder 20, dadurch gekennzeichnet, daß der Substrattisch (14) mit einem sich mindestens in Hauptrichtung (X) über den maximalen Weg des Substrattisches (14) erstreckenden Spiegel (148) versehen ist.
22. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 19 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß der Substrattisch (14) mit einem sich mindestens über den maximalen Weg in der Nebenrichtung (Y) erstreckenden Spiegel (144) versehen ist.
23. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 16 bis 22, dadurch gekennzeichnet, daß die interferometrische Meßeinrichtung (140) mit Laserlicht derselben Wellenlänge sowohl in der Hauptrichtung (X) als auch in der Nebenrichtung (Y) mißt.
24. Vorrichtung nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß die interferometrische Meßeinrichtung (140) mit dem Laserlicht einer gemeinsamen Laserstrahlungsquelle (176) arbeitet.
25. Vorrichtung nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung ein Transportsystem (220) aufweist, mit welchem Substrattmaterialien (16R, 18R) von einer Vorbereitungsstation (224) auf den Substrattisch (14) transportierbar sind.
26. Vorrichtung nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, daß die Substratmaterialien (16R, 18R) in der Vorbereitungsstation (224) vorpositionierbar sind und vorpositionierbar von dem Transportsystem (220) auf dem Substrattisch (14) ablegbar sind.
27. Vorrichtung nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung ein Transportsystem (220) aufweist, mit welchem belichtete Substratmaterialien (16B, 18B) von dem Substrattisch (14) in eine Abnahmestation (226) transportierbar sind.
28. Vorrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 oder nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Antrieb für die Hauptrichtung (X) auf einem Antriebsfundamentkörper (90) sitzt, der von einem die Belichtungseinrichtung (10) und den Substrattisch (14) tragenden Fundamentkörper (40) körperlich getrennt angeordnet ist.
29. Vorrichtung nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Belichtungseinrichtung (10) in einer Achsrichtung (Y) bewegbar ist und der Substrattisch (14) in der anderen Achsrichtung (X).
30. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 28, dadurch gekennzeichnet, daß die Belichtungseinrichtung (10) stationär an dem Fundamentkörper (40) gehalten ist.
31. Vorrichtung nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Substrattisch (14) auf einem Trägerschlitten (20) angeordnet ist, der relativ zum Fundamentkörper (40) in der Haupt- (X) und der Nebenrichtung (Y) bewegbar ist.
32. Vorrichtung nach Anspruch 31, dadurch gekennzeichnet, daß der Trägerschlitten (20) in Richtung der Hauptrichtung (X) bewegbar an einem Führungsschlitten (24) geführt ist.
33. Vorrichtung nach Anspruch 32, dadurch gekennzeichnet, daß der Trägerschlitten (20) an dem Führungsschlitten (24) lediglich gegen eine Relativbewegung in der Nebenrichtung (Y) geführt ist.
34. Vorrichtung nach Anspruch 32 oder 33, dadurch gekennzeichnet, daß der Trägerschlitten (20) mit Luftführungen (34) am Führungsschlitten (24) geführt ist.
35. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 31 bis 34, dadurch gekennzeichnet, daß der Trägerschlitten (20) in einer Richtung (Z) quer zur Haupt- und Nebenrichtung (X, Y) auf einer Führungsebene (22) des Fundamentkörpers (40) geführt ist.
36. Vorrichtung nach Anspruch 35, dadurch gekennzeichnet, daß der Trägerschlitten (20) mit Luftführungen (36) am Fundamentkörper (40) geführt ist.
37. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 32 bis 36, dadurch gekennzeichnet, daß der Substrattisch (14) relativ zum Führungsschlitten (24) in Richtung der Nebenrichtung (Y) ausrichtbar ist.
38. Vorrichtung nach Anspruch 37, dadurch gekennzeichnet, daß der Substrattisch (14) relativ zum Führungsschlitten (24) durch in der Nebenrichtung (Y) wirksame Positionierelemente (190) ausrichtbar ist.
39. Vorrichtung nach Anspruch 38, dadurch gekennzeichnet, daß die Positionierelemente (190) durch eine Steuerung (130) ansteuerbar sind.
40. Vorrichtung nach Anspruch 39, dadurch gekennzeichnet, daß die Positionierelemente (190) Piezoelemente sind.
41. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 32 bis 40, dadurch gekennzeichnet, daß der Führungsschlitten (24) durch zwei in Hauptrichtung (X) im Abstand voneinander angeordnete Nebenantriebe (60, 62) in der Nebenrichtung (Y) bewegbar ist.
42. Vorrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 oder nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Hauptantrieb (80) auf einem von dem Führungsschlitten (24) getrennten Antriebsschlitten (82) sitzt, der seinerseits in der Nebenrichtung (Y) durch einen Nebenantrieb (114) bewegbar am Antriebsfundamentkörper (90) geführt ist.
43. Vorrichtung nach Anspruch 42, dadurch gekennzeichnet, daß der Antriebsschlitten (82) quer zur Hauptrichtung (X) und Nebenrichtung (Y) auf einer Führungsebene (84) des Antriebsfundamentkörpers (90) geführt ist.
44. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 42 oder 43, dadurch gekennzeichnet, daß der Antriebsschlitten (80) mit Luftführungen (88) am Antriebsfundamentkörper (90) geführt ist.
45. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 42 bis 44, dadurch gekennzeichnet, daß der Antriebsschlitten (82) synchron zum Führungsschlitten (24) bewegbar ist.
46. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 42 bis 45, dadurch gekennzeichnet, daß am Antriebsschlitten (82) ein Läufer (98) des Hauptantriebs (80) in Hauptrichtung (X) bewegbar geführt ist.
47. Vorrichtung nach Anspruch 46, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Läufer (98) und dem Trägerschlitten (20) eine in Hauptrichtung (X) starre Antriebsverbindung (102) vorgesehen ist.
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