WO1996000136A1 - Verfahren und vorrichtung für ein kombiniertes oder spezielles wellen- und reflow-löten von leiterplatten und dergleichen - Google Patents

Verfahren und vorrichtung für ein kombiniertes oder spezielles wellen- und reflow-löten von leiterplatten und dergleichen Download PDF

Info

Publication number
WO1996000136A1
WO1996000136A1 PCT/EP1995/002450 EP9502450W WO9600136A1 WO 1996000136 A1 WO1996000136 A1 WO 1996000136A1 EP 9502450 W EP9502450 W EP 9502450W WO 9600136 A1 WO9600136 A1 WO 9600136A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
soldering
circuit boards
solder
printed circuit
heating
Prior art date
Application number
PCT/EP1995/002450
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Ernst Wandke
Hans Isler
Original Assignee
Linde Aktiengesellschaft
Epm Handels Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Linde Aktiengesellschaft, Epm Handels Ag filed Critical Linde Aktiengesellschaft
Publication of WO1996000136A1 publication Critical patent/WO1996000136A1/de

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3494Heating methods for reflowing of solder
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K1/00Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
    • B23K1/08Soldering by means of dipping in molten solder
    • B23K1/085Wave soldering
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2101/00Articles made by soldering, welding or cutting
    • B23K2101/36Electric or electronic devices
    • B23K2101/42Printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/08Treatments involving gases
    • H05K2203/086Using an inert gas
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/09Treatments involving charged particles
    • H05K2203/095Plasma, e.g. for treating a substrate to improve adhesion with a conductor or for cleaning holes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/11Treatments characterised by their effect, e.g. heating, cooling, roughening
    • H05K2203/111Preheating, e.g. before soldering
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3468Applying molten solder

Definitions

  • the invention relates to a method for soldering printed circuit boards and the like, in which the printed circuit boards are passed through a largely closed, tunnel-like continuous system in which the printed circuit boards are heated, soldered and cooled, at least until the solder is solidified.
  • the invention also relates to a corresponding continuous soldering system.
  • soldering process which in the case of printed circuit boards built up without solder depots is usually carried out in wave soldering systems, which are often also under protective gas or low pressure.
  • wave soldering systems liquid solder is transferred to the soldering point by one or more soldering waves touching the circuit boards from below, the soldering point must be exposed or open must otherwise be accessible for a solder wave (see, for example, DE-OS 37 44 917 or DE-OS 42 25 378).
  • a reflow soldering process and then a wave soldering process are usually carried out in order to solder a structural unit.
  • two corresponding soldering systems known per se, connected in series, namely a reflow soldering system and a wave soldering system, are usually used.
  • Further negative aspects in this connection also represent the space requirement, the maintenance effort and the machine utilization.
  • the applicant has set itself the task of specifying a soldering method and a soldering system which can carry out the two basic soldering processes mentioned in one process and which furthermore also allows the execution of each individual basic process.
  • This object is achieved in connection with a suitably designed continuous system in that - in advance - the soldering principle to be used is determined and defined for as many printed circuit boards as possible, the waves -, the reflow or a combined wave and reflow soldering the generally permitted possibilities include, and that, according to this definition, the heating and transport elements of the system are suitably set with respect to heating and forward movement of the printed circuit boards, and the associated solder bath of the system is set to the appropriate operating state and then the processing the printed circuit boards - or other comparable components - takes place.
  • solder transfer from the solder wave (s) to a circuit board can - in addition to switching off the solder wave - in principle also be prevented by changing the transport path of the circuit board. Ultimately, this is equivalent to switching off the solder wave.
  • a comparatively slow transport (approx. 1 m / min) is to be linked with a relatively high heating output of the respective heating devices, which usually goes beyond that available in conventional wave soldering systems, whereby the Solder wave generation remains out of operation; in the case of wave soldering, higher transport speeds and lower heating outputs have to be set in addition and the solder wave generation must also be activated.
  • the mixed operation essentially works with one with the pure one Reflow soldering comparable setting of heating and transport, but additionally the solder wave generation is in operation.
  • the various processes can be characterized, for example, on the basis of the temperature values of the printed circuit boards as they pass through a corresponding system.
  • Such temperature diagrams are shown as Figure 2 attached. It can be seen there that - depending on the basic setting - there is a different temperature profile, with R + M being a reflow soldering or a wave and reflow mixed operation, and W being a pure wave soldering process.
  • R + M being a reflow soldering or a wave and reflow mixed operation
  • W being a pure wave soldering process.
  • the use of the invention is particularly advantageous in the case of soldering which is carried out under protective gas, under low pressure or under plasma.
  • the systems to be used here represent expensive capital goods, so that the procedure according to the invention brings with it particular cost advantages.
  • a continuous soldering system which is basically constructed like a tunnel and largely sealed off from the environment by means of a housing, is particularly characterized in that heating elements (35) are arranged above the solder bath, which can be switched on and off and regulated independently, and at least on a section in the inlet tunnel to the soldering area below and / or above the transport device, also variably adjustable, closing and Switchable heating elements are arranged, and that finally the transport device is also variably adjustable, at least with respect to the transport speed.
  • Figure 1 a soldering system according to the invention, working under plasma
  • FIG. 2 a heating curve for the printed circuit boards when passing through a soldering system according to the invention measured on the upper side of the printed circuit board - curve W: wave soldering - curve R + M: reflow soldering and mixed operation.
  • FIG. 1 shows a continuous soldering system according to the invention, which works under low pressure and with plasma formation.
  • This system initially has an inlet lock 3, a main or system chamber 4 with an inlet tunnel 26, a soldering station 34 and an outlet tunnel 51, and an outlet lock 7, which is only partially visible.
  • a transport device 44 for example a circulating chain transport with holding fingers, is arranged in the system chamber 4, which is traversed in the longitudinal direction with an incline of approximately 3 to 10 °.
  • a solder bath 48 is connected in an airtight manner from below, a device 42 for forming a solder wave 41 being present therein.
  • a double solder wave would also be possible and advantageous in certain applications (eg when soldering under normal pressure and under protective gas).
  • a heating device 28 for example an electric one, inside the system tunnel and below the circuit board transport 44 Resistance heating conductor, provided.
  • a transmission antenna 21 for emitting electromagnetic waves for the plasma excitation of the process gas is arranged above the transport device for the printed circuit boards (for example a high-frequency transmitter with approximately 40 kHz and with at least approximately 500 watts and preferably up to 3000 watts of power).
  • a feed line 27 for process gas coming from a gas bottle 29 is placed in the example shown.
  • a suction line 52 is provided for "venting" the system chamber 4 in the outlet part 51 of the system. Due to this arrangement of gas supply and discharge, a gas flow from the chamber inlet to the chamber outlet is effected in the main chamber 4 of the system shown.
  • a further heating device 35 which has several modules (e.g. several infrared radiator units).
  • a temperature measuring device for the top of the printed circuit board is arranged just behind the solder wave 41 in the direction of transport.
  • the lock 3 which is upstream of the system chamber 4 and is gas-tight with its lock chamber 15, its lock doors 11 and 12, its means of transport 13 and its evacuation line 14, is to be listed in detail, as is the outlet lock 7 connected on the output side, which has exactly corresponding elements and which is therefore only partially shown.
  • the heating device 35 located above the transport 44 is generally completely switched off, while the solder wave generation 42 is in operation, as is the heating device 28 which in this case is used for a suitable preheating.
  • the transport speed for the printed circuit boards is high to set a specific value for wave soldering from 1.5 to 2.2 m / min, while for the rest conditions for plasma formation have to be established, as specified in DE-OS 42 25 378.
  • the printed circuit boards designated by 10 in the figure are then moved into the lock 3 in groups, the outer door 11 is closed and in the following the evacuation of the lock chamber 15 is initiated via the exhaust line 14, the first aim being a pressure level of approximately 0.1 to 1 mbar in the lock chamber and finally a pressure equalization with the soldering system chamber 4 and the atmosphere there being established, which is preferably on a Pressure level of 1 to 5 mbar.
  • the inner lock door 12 of the entry lock 3 opens, whereupon the circuit boards located in the lock are successively transferred to the circulating chain conveyor 44 in the main chamber 4.
  • This transport device further transports the printed circuit boards through the inlet area 26 in the main chamber, the bottom-side heating device 28 causing the printed circuit boards to heat up to a level of approximately 90 to 130 ° C. which is advantageous for the actual wave soldering process.
  • the high-frequency transmission antenna 21 which works in a suitable mode of operation with approximately 40 kHz and 1000 watts of power.
  • the process gas supplied via the feed line 27 is preferably made of a mixture containing oxygen and hydrogen
  • a plasma is formed from 20 to 80 vol.% Of a fluorinated hydrocarbon gas (CF - ⁇ F, ..) or SFß, optionally also containing an inert gas, whereby care is taken to ensure that the Piamas spread and act in almost the entire inner main chamber 4 .
  • the effects of the plasma consist in the fact that under its action an excellent flowable, good gap-permeable and fine wetting solder, in particular also from solder waves, is obtained and, on the other hand, the surfaces to be soldered that are still exposed before the solder application are favorable preparation (grease cleaning and activation by removing the oxides) for the soldering process itself.
  • a soldering process under plasma for example already under an air, nitrogen or noble gas plasma, but in particular under a plasma gas composed as described above - results in an extremely cheap and, above all, potentially flux-free soldering process.
  • soldering under plasma will be described in more detail.
  • a plasma is already formed in the feed tunnel 26 from the process gas introduced via the feed line 27 and flowing in the direction of the discharge 52, as a result of which the printed circuit boards are already under the influence of plasma on the feed path to the solder wave 41.
  • the circuit boards remain underneath this, even during solder transfer through the solder wave 41, and even in the outlet zone 51 there is still a plasma effect in the system shown. In this way, the above-mentioned advantageous effects for the solder and the joining partners result in a pronounced form.
  • the rejection process is to be carried out, which in the example shown consists in that a group of printed circuit boards which has arrived on the independent transport 50 located in the discharge tunnel 51 is transferred to the chamber 75 of the exit lock 7 with the slide 71 open and Immediately afterwards - after closing the gate valve 71 - the chamber 75 is flooded with air or, for example, nitrogen. After the complete pressure equalization with the surroundings has been established, the circuit board group in question is quickly conveyed out of the lock 7 and the lock chamber 75 is again vented quickly, so that the next removal process can be initiated after a short time.
  • the PCBs which are wave-soldered under plasma, do not require any subsequent cleaning, which means that there is no need for detergents that are harmful to the environment.
  • the manufacturing of the PCBs processed in this way is therefore largely completed after soldering, while the usual, final washing processes would still have to be connected to the other soldering methods mentioned above .
  • both the Heating device 28 and the ceiling heating device 35 are to be put into operation with the corresponding power, that the solder wave generation 42 is to be switched on and that the transport device is also to be set to a forward movement which meets the requirements of reflow soldering.
  • the requirements of reflow soldering for example the flux activation from the interior of solder deposits that can be achieved when entering the soldering area - limit the feed rate. As a rule, this is below 1.5 m / min, but it can be increased up to the speeds during wave soldering in the case of exclusively flux-free solder deposits.
  • the transport processes in mixed operation are to be carried out as in the case of pure wave soldering described above, but due to the lower transport speed and due to the operation of the heater 35, higher circuit board temperatures are achieved when passing through the inlet tunnel 26 than in the case of pure wave soldering (see FIG. 2 curve) R + M).
  • solder wave 41 top temperatures of the circuit boards of approx. 190 ° C have already been reached in this operating mode, which, however, as has been established, does not have any negative effects on the wave soldering process taking place on the underside of the circuit boards (on the contrary, rather than when climbing through the board) Solder through the printed circuit board, the solder remains particularly thin due to the "top heat" present).
  • the printed circuit boards to be processed enter the area of influence of the last module 35d of the heating device 35.
  • the peak or peak temperature of the circuit board is generated in this area. In the case of the usual lead / tin solders, this must be in the range from 200 to 220 ° C. to ensure that the existing solder deposits are sufficiently melted and liquefied. For this purpose, in particular the power setting of the heating module 35d has to be made accordingly.
  • both the solder applied by the solder waves and the solder of the solder deposits solidify after a short time and form particularly high-quality solder connections, in particular when the entire process is carried out under plasma. As already described above for wave soldering, the piasm generation is to be carried out.
  • the power setting of the heating module 35d is designed to be feedback. This can be done in such a way that a temperature sensor 36 is arranged shortly after the solder wave contact point and the actual temperature of the circuit board passing through is measured there, this actual temperature is compared in a corresponding, programmable logic control unit with a predetermined target value and starting therefrom then the fine adjustment of the heating power of the heating module 35d is determined and carried out, wherein - depending on whether the circuit board temperature was measured too low or too high - the heating power of the heating module 35d is suitably increased or decreased.
  • solder deposits that are also applied during the assembly are re-melted with either constant or feedback heating power.
  • the arrangement of the peak area exactly above the solder wave would also be suitable, for which purpose the heating devices would have to be placed and adjusted only slightly changed.
  • high-quality soldering results are achieved with a mixed operation as described, and again processes carried out under plasma are particularly advantageous. In the described processes, care must also be taken to ensure that existing components do not overheat, so the sensitive process component is of particular importance.
  • soldering process is required. With regard to the heating up and the transport speed of the printed circuit boards, this is essentially subject to the same conditions as the mixed operation, and settings which are comparable to the mixed operation are therefore to be made.
  • the operation of the solder wave is not necessary in this case.
  • the soldering result in turn corresponds to high quality requirements, especially in the case of a soldering process under plasma.
  • the invention in question is operated in such a way that it is first determined whether there are printed circuit boards to be processed in a special soldering (for example by a few test solderings), whereupon if the determination is positive, a soldering process is carried out in such a way that that the heating temperature of the printed circuit boards is brought to a value well before reaching the solder wave (s) or the temperature peak, which is only up to a maximum of 15% (preferably even almost the same or somewhat higher) below the temperature at the solder wave or in Heat peak is.
  • Said temperature setting of the structural units is brought about above all by suitable setting of the heating and transport devices in the respective soldering system.
  • the upstream temperature increase of the structural units required here is advantageously generated at least 5 seconds, but better already 10 to 15 seconds, before the actual heat peak of the respective soldering process. Longer preheating can also be advantageous.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Molten Solder (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Löten von Leiterplatten und dergleichen, bei dem die Leiterplatten oder sonstigen Bauteile durch eine weitgehend geschlossene, tunnelartige Durchlaufanlage gefahren werden, in der eine Erwärmung, die Verlötung und eine Abkühlung der Leiterplatten zumindest bis zur Lotverfestigung erfolgen. Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß vorab das anzuwendende Lötprinzip für eine oder - vorzugsweise - mehrere Leiterplatten bestimmt und festgelegt wird, wobei das Wellen-, das Reflow- und insbesondere ein kombiniertes Wellen- und Reflow-Löten oder ein Sonderlötverfahren zu den prinzipiellen Einstellmöglichkeiten gehören. Entsprechend der getroffenen Festlegung sind im weiteren insbesondere die Heiz- und Transportelemente der Anlage in bezug auf die Aufheizung und die Vorwärtsbewegung der Leiterplatten geeignet einzustellen sowie das zugehörige Lotbad in den entsprechenden Betriebszustand zu versetzen. Nach geeigneter Einstellung zumindest dieser Parameter kann dann die Bearbeitung der jeweiligen Leiterplatten durchgeführt werden.

Description

Verfahren und Vorrichtung für ein kombiniertes oder spezielles Wellen- und Reflow-Löten von Leiterplatten und dergleichen
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Löten von Leiterplatten und dergleichen, bei dem die Leiterplatten durch eine weitgehend geschlossene, tunnelartige Durch¬ laufanlage gefahren werden, in der eine Erwärmung, die Verlötung und eine Abkühlung der Leiterplatten zumindest bis zur Lotverfestigung erfolgen. Ebenso betrifft die Erfindung eine entsprechende Durchlauflötanlage.
Der Einsatz von elektronischen Baueinheiten, die in Form von Leiterplatten mit auf¬ steckbaren, aufklebbaren oder auf sonstige Art oberflächenmontierbaren Bauele¬ menten, die abschließend zu verlöten sind, gestaltet sind, erfährt einen ständigen Zuwachs. Zur Herstellung dieser Baueinheiten ist es bekannt, Bauelemente entweder zunächst ohne jede Lotbeigabe auf die Leiterplatten aufzuzusetzen oder bereits vorab oder beim Bestückungsvorgang selbst Lot in Form von Lotpaste, Lotpreforms oder sonstigen Lotdepots benachbart zu den zu verlötenen Flächen anzuordnen.
Auf diesen Bestückungsvorgang folgt der Lötvorgang, der im Falle der ohne Lotdepots aufgebauten Leiterplatten heute üblicherweise in Wellenlötanlagen durchgeführt wird, die häufig zudem unter Schutzgas oder Niederdruck stehen. In solchen Wellenlöt¬ anlagen wird flüssiges Lot durch eine oder mehrere, die Leiterplatten von unten berüh¬ rende Lotwellen auf die Lötstelle übertragen, die Lötstelle muß offenliegen oder auf sonstige Weise für eine Lotwelle zugänglich sein muß (siehe hierzu z.B. DE-OS 37 44 917 oder DE-OS 42 25 378).
Zum anderen ist bei den mit Lotpreforms oder anderen Lotdepots versehenen Bauteil- Leiterplatten-Kombinationen lediglich ein Wiedererschmelzen der jeweiligen, bereits an Ort und Stelle befindlichen Lotportionen durch eine entsprechende Erwärmung der Baueinheit zu bewirken. Dies erfolgt in sehr gängiger Weise in entsprechend ausgebil¬ deten, d.h. insbesondere beheizbaren Durchlaufanlagen mit geeigneten Tranportein¬ richtungen und oft mehreren Kammern (siehe hierzu beispielsweise DE-OS 40 16 366 oder wiederum DE-OS 42 25 378 oder Fachzeitschrift "ELEKTRONIK PRODUKTION & PRÜFTECHNIK - April 1989 - Seiten 37 bis 39).
Immer häufiger besteht heute die Situation, daß auch gemischte Bestückungen bei Leiterplatten auftreten, d.h., daß beispielsweise ein Teil der aufzulötenden Bauteile bereits mit einer zur Verlötung ausreichenden Menge Lot versehen und plaziert ist, während ein anderer Teil der Bauteile ohne jeden Lotvorrat lediglich in vorgesehene Öffnungen eingesteckt oder auch aufgeklebt ist.
In einem solchen Falle wird zur Verlötung einer Baueinheit in gängiger Weise zu¬ nächst ein Reflowlötprozeß und anschließend ein Wellenlötvorgang ausgeführt. Dazu kommen üblicherweise zwei entsprechende, an sich bekannte, hintereinander ge¬ schaltete Lötanlagen, nämlich eine Reflow-Lötanlage und eine Wellenlötanlage zum Einsatz. Dies bedeutet, daß in einer entsprechenden Fertigung zumindest zwei Lötanlagen vorhanden sein müssen, um alle gegebenenfalls anfallenden Lötaufgaben ausführen zu können, wobei dies ein nicht unbeträchliches Investitionserfordernis für derartige Fertigungen darstellt. Weitere negative Gesichtspunkte in diesem Zusam¬ menhang stellen auch der Platzbedarf, der Wartungsaufwand sowie die Maschi¬ nenauslastung dar.
Die Anmelderin hat sich vor diesem Hintergrund die Aufgabe gestellt, eine Lötweise und eine Lötanlage anzugeben, die in einem Ablauf die Ausführung beider, genannter Grundlötverfahren leisten kann und welche darüber hinaus auch die Ausführung eines jeden einzelnen Grundverfahrens zuläßt. Diese Aufgabe wird in Verbindung mit einer geeignet ausgestalteten Durchlaufanlage verfahrensmäßig dadurch gelöst, daß - vorab - das anzuwendende Lötprinzip für möglichst eine Mehrzahl von Leiterplatten bestimmt und festgelegt wird, wobei das Wellen -, das Refiow- oder ein kombiniertes Wellen-und Reflow-Löten zu den grund¬ sätzlich zugelassenen Möglichkeiten gehören, und daß gemäß dieser Festlegung die Heiz- und Transportelemente der Anlage in be¬ zug auf Aufheizung und Vorwärtsbewegung der Leiterplatten geeignet eingestellt wer¬ den sowie das zugehörige Lotbad der Anlage in entsprechenden Betriebszustand versetzt wird und dann die Bearbeitung der Leiterplatten - oder sonstiger, vergleich¬ barer Bauteile - erfolgt.
Dies bedeutet, daß zumindest drei Elemente einer Durchlauflötanlage, nämlich Hei¬ zung, Transport und Lotbad, geeignet vorhanden sein müssen, um die erfindungsge¬ mäßen (Löt-)Prozesse zu ermöglichen. Im einzelnen heißt dies, daß erfindungsgemäß eine an das jeweils auszuführende Lötprinzip angepaßte Transportgeschwindigkeit ausführbar sein muß, daß durch die Heizelemente eine jeweils geeignete Erwärmung der Leiterplatten herstellbar sein muß, insbesondere im Falle des Reflow-Lötprinzips ein Peakbereich hinsichtlich der Leiterplattentemperatur ausbildbar sein muß, und daß die Lotwellenerzeugung gegebenenfalls zusammen mit der Lotbadheizung zu- und abschaltbar sein muß. Der Lotübertrag von der Lotwelle(n) auf eine Leiterplatte kann - neben der Abschaltung der Lotwelle - prinzipiell auch durch eine Veränderung des Transportweges der Leiterplatte verhindert werden. Dies kommt letzlich einer Lot¬ wellenabschaltung gleich.
Auf der geschilderten Basis wird es also möglich, unterschiedliche Lötprinzipien in einem Ablauf und in einer Anlage zu vereinen. Je nach festzulegender Grundschaltung einer Anlage ergeben sich die verschiedenen Lötprozesse. Hierzu weitere Einzel¬ heiten:
Ist die Durchführung eines Reflow-Lötprozesses das Ziel, so ist ein vergleichsweise langsamer Transport (ca. 1 m/min) mit einer relativ hohen Heizleistung der jeweiligen Heizeinrichtungen, die im Regelfall über die in üblichen Wellenlötanlagen vorhandene hinausgeht, zu verknüpfen, wobei ferner die Lotwellenerzeugung außer Betrieb bleibt; im Falle des Wellenlötens sind verglichen dazu höhere Transportgeschwindigkeiten und geringere Heizleistungen einzustellen und außerdem ist die Lotwellenerzeugung zuzuschalten. Der Mischbetrieb arbeitet im wesentlichen mit einer mit dem reinen Reflowlöten vergleichbaren Einstellung von Heizung und Tranport, wobei jedoch zusätzlich die Lotwellenerzeugung in Betrieb ist.
Die verschiedenen Prozesse können beispielsweise anhand der Temperaturwerte der Leiterplatten beim Durchlauf durch eine entsprechende Anlage charakterisiert werden. Derartige Temperaturdiagramme sind anhängend als Figur 2 wiedergegeben. Man erkennt dort, daß sich - je nach Grundeinstellung - ein anderer Temperaturverlauf ergibt, wobei mit R+M ein Reflowlöten oder ein Wellen- und Reflow-Mischbetrieb Betrieb gekennzeichnet ist und mit W ein reiner Wellenlötvorgang vorliegt. Prinzipiell ist anzumerken, daß sich mit dem erfindungsgemäßen Verfahren selbst bei gemischt bestückten Leiterplatten eine nur einmalige Temperaturbelastung der Bauteile ergibt und nicht wie bisher eine zweimalige, wie sie bei der Nacheinanderausführung der beiden, erforderlichen Lötprozesse auftritt.
Besonders vorteilhaft ist die Anwendung der Erfindung im Falle von Lötungen, die unter Schutzgas, unter Niederdruck oder unter Plasma ausgeführt werden. Die hierbei einzu¬ setzenden Anlagen stellen teure Investitionsgüter dar, so daß das erfindungsgemäße Vorgehen hierbei besondere Kostenvorteile mit sich bringt.
Die weitreichensten Vorteile ergeben sich insbesondere mit dem Plasmalöten, d.h. bei einem Löten das im Niederdruck und unter dem Plasma eines zugeführten Proze߬ gases erfolgt, da hierbei flußmittelfrei gearbeitet werden kann und somit ansonsten nachfolgend auszuführende Reinigungsprozesse unterbleiben können.
Weitere, vorteilhafte Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Vorgehensweise sind in weiteren Unteransprüchen angegeben.
Eine Durchlauflötanlage gemäß der Erfindung, die grundsätzlich tunnelartig und mittels eines Gehäuses weitgehend gegen die Umgebung abgeschlossen aufgebaut ist, ist insbesondere dadurch gekennzeichnet, daß oberhalb des Lotbades Heizelemente (35) angeordnet sind, die eigenständig zu- und abschaltbar sowie regelbar sind, und daß zumindest auf einer Teilstrecke im Zulauftunnel zum Lötbereich unterhalb und/oder oberhalb der Transporteinrichtung ebenfalls variabel einstellbare, zu- und abschaltbare Heizelemente angeordnet sind, und daß schließlich die Transporteinrichtung zumindest in bezug auf die Transport¬ geschwindigkeit ebenfalls variabel einstellbar ist.
Die eben aufgeführten Grundmerkmale, nämlich Heizelemente oberhalb des Lotbades sowie unterhalb bzw. oberhalb der Transporteinrichtung im Zulaufbereich zur Lötstation und außerdem der variabel einstellbare Leiterplattentransportmechanismus sowie die zu- und abschaltbare Lotwelle sind die wesentlichen Charakteristika einer erfindungs¬ gemäßen Durchlauflötanlage.
Weitere, vorteilhafte Ausgestaltungen einer solchen Anlage sind in den entsprechen¬ den Unteransprüchen angegeben.
Anhand der anliegenden, schematischen Zeichnungen wird die Erfindung im folgenden beispielhaft näher erläutert. Es zeigen:
Figur 1 : eine erfindungsgemäße, unter Plasma arbeitende Lötanlage;
Figur 2: eine Aufheizkurve für die Leiterplatten beim Duchlauf durch eine erfindungs¬ gemäße Lötanlage gemessen an der Leiterplattenoberseite - Kurve W: Wellenlöten - Kurve R+M: Reflowlöten und Mischbetrieb.
Die Figur 1 zeigt eine erfindungsgemäße Durchlauflötanlage, die unter Niederdruck und mit Plasmabildung arbeitet. Diese Anlage weist zunächst eine Eintrittsschleuse 3, eine Haupt- oder Anlagenkammer 4 mit Zulauftunnel 26, Lötstation 34 und Auslauftunnel 51 sowie eine, nur in Teilen sichtbare, Austrittsschleuse 7 auf. Eine Transporteinrichtung 44, beispielsweise ein Umlaufkettentransport mit Haltefingern, ist in der Anlagenkammer 4 angeordnet, wobei diese in Längsrichtung mit einer Steigung von ca. 3 bis 10° durchquert wird.
Bezüglich der Längsausdehnung der Anlagenkammer 4 etwa in deren Mittelteil ist von unten ein Lotbad 48 luftdicht angeschlossen, wobei darin eine Einrichtung 42 zur Aus¬ bildung einer Lotwelle 41 vorhanden ist. Alternativ hierzu wäre auch eine doppelte Lotwelle in bestimmten Anwendungsfällen möglich und vorteilhaft (z.B. beim Löten unter Normaldruck und unter Schutzgas). Vor dem Lotbad 48 und praktisch auf der gesamten Länge des Zulauftunnels 26 ist innerhalb des.Anlagentunnels und unterhalb des Leiterplattentransports 44 eine Heizeinrichtung 28, beispielsweise ein elektrischer Widerstandsheizleiter, vorgesehen. Oberhalb der Transporteinrichtung für die Lei¬ terplatten ist im gleichen Anlagenbereich eine Sendeantenne 21 zur Abstrahlung elek¬ tromagnetischer Wellen für die Plasmaanregung des Prozeßgases angeordnet (z.B. ein Hochfrequenz-Sender mit ca. 40 kHz und mit zumindest etwa 500 Watt und vor¬ zugsweise bis zu 3000 Watt Leistung). Ebenfalls im Zulaufteil 26 der Anlagenkammer 4 ist im gezeigten Beispiel eine Zuleitung 27 für Prozeßgas kommend von einer Gasfla¬ sche 29 plaziert. In Wirkverbindung damit stehend ist eine Absaugleitung 52 zur "Ent¬ lüftung" der Anlagenkammer 4 im Auslaufteil 51 der Anlage vorgesehen. Aufgrund dieser Anordnung von Gaszu- und abfuhr wird in der Hauptkammer 4 der gezeigten Anlage eine Gasströmung vom Kammereintritt zum Kammeraustritt bewirkt.
Oberhalb des Lotbades 48 und der Transporteinrichtung 44 und auf einer Länge, die etwas über die Lotbadbreite hinausgeht, ist eine weitere, mehrere Module aufweisende Heizeinrichtung 35 vorgesehen (z.B. mehrere Infrarotstrahlereinheiten). Außerdem ist in Tranportrichtung kurz hinterhalb der Lotwelle 41 eine Temperaturmesseinrichtung für die Leiterplattenoberseite angeordnet.
Im übrigen ist die vor der Anlagenkammer 4 gasdicht, vorgeschaltete Schleuse 3 mit ihrer Schleusenkammer 15, ihren Schleusentüren 11 und 12, ihrem Beförderungmittel 13 und ihrer Evakuierungsleitung 14 im einzelnen aufzuführen, ebenso wie die aus- gangsseitig angeschlossene Austrittsschleuse 7, die exakt entspechende Elemente aufweist und die deshalb nur unvollständig gezeigt ist.
Der Funktionsablauf dieser Anlage ist nun wie folgt :
1. Wellenlöten:
Bei Leiterplatten mit Bauteilbestückung ohne Lotbeigabe ist lediglich ein Wellen¬ lötvorgang auszuführen. Im Modus "Wellenlöten" ist die oberhalb des Transports 44 gelegene Heizeinrichtung 35 im Regelfall völlig abgeschaltet, während die Lotwellener¬ zeugung 42 in Betrieb ist und ebenso die in diesem Falle einer geeigneten Vorerwär¬ mung dienende Heizeinrichtung 28. Die Transportgeschwindigkeit für die Leiterplatten ist auf einen für das Wellenlöten spezifischen Wert von 1 ,5, bis 2,2 m/min einzustellen, während im übrigen für die Plasmabildung etwa Bedingungen herzustellen sind, wie sie die DE-OS 42 25 378 angibt.
Im Betrieb werden dann die in der Figur mit 10 bezeichneten Leiterplatten gruppen¬ weise in die Schleuse 3 eingefahren, die Außentür 11 geschlossen und im folgenden die Evakuierung der Schleusenkammer 15 über die Abzugsleitung 14 eingeleitet, wobei zunächst in der Schleusenkammer ein Druckniveau von etwa 0,1 bis 1 mbar das Ziel ist und wobei schließlich ein Druckausgleich mit der Lötanlagenkammer 4 und der dortigen Atmosphäre hergestellt wird, welche sich vorzugsweise auf einem Druckniveau von 1 bis 5 mbar befindet.
Nach erfolgtem Druckausgleich - beispielsweise durch Öffnen einer Verbindung zwi¬ schen Schleusenkammer 15 und Hauptkammer 4 - öffnet sich die innere Schleusentür 12 der Eintrittsschleuse 3, worauf die in der Schleuse befindlichen Leiterplatten nach¬ einander an den Umlaufkettentransport 44 in der Hauptkammer 4 übergeben werden. Diese Transporteinrichtung befördert die Leiterplatten im weiteren durch den Zulauf¬ bereich 26 in der Hauptkammer, wobei die bodenseitige Heizeinrichtung 28 ein Anwär¬ men der Leiterplatten auf ein für den eigentlichen Wellenlötvorgang vorteilhaftes Niveau von ca. 90 bis130 °C bewirkt. Im Bereich oberhalb der Transporteinrichtung 44 und ebenfalls im Zulaufbereich der Leiterplatten zu den Lotwellen befindet sich die Hochfrequenz-Sendeantenne 21 , die in einer geeigneten Betriebsweise etwa mit 40 kHz und 1000 Watt Leistung arbeitet. Mit dieser Sendeleistung wird aus dem über die Zuleitung 27 zugeführten Prozeßgas, das bevorzugt ein Sauerstoff und Wasserstoff enthaltendes Gemisch aus
0,5 bis 10 Vol.% Sauerstoff,
80 bis 20 Vol.% Wasserstoff und
20 bis 80 Vol.% eines fluorierten Kohlenwasserstoffgases (CF-^^F , ..) oder SFß ist, gegebenenfalls zusätzlich ein Inertgas enthält, ein Plasma gebildet, wobei auf eine Ausbreitung und Einwirkung des Piamas in nahezu der gesamten inneren Hauptkammer 4 geachtet wird. Die Effekte des Plasma bestehen darin, daß unter seiner Einwirkung ein ausgezeichnet fließfähi¬ ges, gut spaltgängiges und fein benetzendes Lot, insbesondere auch aus Lotwellen erhalten wird und andererseits auch die vor dem Lotauftrag noch freiliegenden, zu verlötenden Flächen eine günstige Vorbereitung (Fett-Abreinigung und Aktivierung durch Entfernung der Oxide) für den Lötvorgang selbst erfahren. Insgesamt ergibt sich mit einem Lötprozeß unter Plasma - beipielsweise bereits unter einem Luft-, Stickstoff- oder Edelgasplasma, insbesondere jedoch unter einem wie oben beschrieben zusammengesetzten Plasmagas - ein ausgesprochen günstiger und vor allem potentiell flußmittelfreier Lötprozeß.
Allerdings ist darauf hinzuweisen, daß im Hinblick auf die hier in Rede stehende Erfindung, nämlich unterschiedliche Lötprozesse in einem Ablauf und in einer Anlage zu vereinen, ebenso ein Niederdrucklötvorgang ohne Plasmaeinwirkung stattfinden kann, genauso wie auch die Ausführung einer Verlötung unter Schutzgas nach vorliegendem Ansatz prinzipiell vorteilhaft möglich ist.
Im vorliegenden Beipiel soll jedoch ein Löten unter Plasma näher beschrieben werden. Im gezeigten Fall wird bereits im Zulauftunnel 26 aus dem über die Zuleitung 27 einge¬ leiteten und in Richtung Abzug 52 strömenden Prozeßgas ein Plasma gebildet, wo¬ durch sich die Leiterplatten bereits auf der Zulaufstrecke zur Lotwelle 41 unter einer Plasmaeinwirkung befinden. Unter dieser verbleiben die Leiterplatten auch bei der Lotübertragung durch die Lotwelle 41 , und selbst in der Auslaufzone 51 ist in der ge¬ zeigten Anlage noch eine Plasmawirkung vorhanden. Auf diese Weise ergeben sich die obengenannten, vorteilhaften Effekte für das Lot und die Fügepartner in ausgepräg¬ ter Form. Im Auslauftunnel findet außerdem eine erste Abkühlung vom Temperaturni¬ veau des Wellenlötens statt, so daß die Leiterplatten mit bereits deutlich erniedrigter Temperatur bei der Austrittschleuse 7 eintreffen (siehe hierzu auch Temperaturkuve W in Figur 2 - dort ist die Temperatur an der Oberseite einer Platine abhängig von deren Position in der Anlage wiedergegeben).
Schließlich ist der Ausschleußprozeß auszuführen, der im gezeigten Beispiel darin besteht, daß eine Gruppe von Leiterplatten, die auf dem eigenständigen, im Aus¬ lauftunnel 51 befindlichen Transport 50 angekommen ist, bei geöffnetem Schieber 71 beschleunigt in die Kammer 75 der Austrittsschleuse 7 überführt wird und unmittelbar anschließend - nach Schließen der Schleusenschiebers 71 - die Flutung der Kammer 75 mit Luft oder beispielsweise auch Stickstoff erfolgt. Nach Herstellung des voll¬ ständigen Druckausgleichs mit der Umgebung wird die betreffende Leiterplattengruppe rasch aus der Schleuse 7 herausbefördert und eine erneute Entlüftung der Schleusen¬ kammer 75 zügig durchgeführt, so daß nach kurzer Zeit der nächste Ausschleusprozeß eingeleitet werden kann.
Die - wie beschrieben - unter Plasma wellengelöteten Leiterplatten bedürfen keiner Nachreinigung, womit der Einsatz umweltschädigender Waschmittel entfällt.Die Fertigung der so verarbeiteten Leiterplatten ist daher nach dem Löten weitgehend abgeschlossen, während bei den anderen, oben angeführten Lötverfahren die üblichen, abschließenden Waschprozesse noch anzuschließen wären.
2. Gemischtes Wellen- und Reflowlöten:
Sind Leiterplatten mit gemischter Bestückung zu verarbeiten, also Leiterplatten die sowohl Bauteile mit als auch ohne Lotbeigabe aufweisen, so ist erfindungsgemäß ein "Mischbetrieb" vorzusehen. Dies bedeutet, daß im gezeigten Beispielfall sowohl die Heizeinrichtung 28 als auch die Deckenheizeinrichtung 35 mit entsprechender Leistung in Betrieb zu nehmen sind, daß die Lotwellenerzeugung 42 einzuschalten ist und daß darüber hinaus die Transporteinrichtung auf eine Vorwärtsbewegung einzustellen ist, die den Anforderung des Reflowlötens gerecht wird. Die Erfordernisse des Reflow- lötens - beipielsweise die beim Zulauf zum Lötbereich zu erzielende Flußmittelaktivie¬ rung aus dem Innern von Lotdepots - begrenzen die Vorschubgeschwindigkeit. Diese liegt im Regelfall unterhalb von 1 ,5 m/min, sie kann jedoch bei ausschließlich flußmit¬ telfreien Lotdepots bis auf die Geschwindigkeiten beim Wellenlöten erhöht werden.
Im Grundsatz sind die Transportvorgänge im Mischbetrieb wie beim oben beschrie¬ benen, reinen Wellenlöten abzuwickeln, jedoch werden aufgrund der niedrigeren Transportgeschwindigkeit sowie aufgrund des Betriebs der Heizung 35 bereits beim Durchlaufen des Zulauftunnels 26 höhere Leiterplattentemperaturen als beim reinen Wellenlöten erzielt (siehe Figur 2 - Kurve R+M). Bei der Lotwelle 41 sind in diesem Betriebsmodus bereits Oberseitentemperaturen der Leiterplatten von ca. 190°C erreicht, was jedoch - wie festgestellt wurde - keine negativen Auswirkungen auf den an der Unterseite der Leiterplatten ablaufenden Wellenlötvorgang ergibt (eher im Gegenteil - denn auch beim Durchsteigen des Lots durch die Leiterplatte bleibt das Lot aufgrund der vorhandenen "Oberhitze" besonders dünnflüssig). Nach der Lotwelle 41 laufen die zu bearbeitenden Leiterplatten in der Einflußbereich des letzten Moduls 35d der Heizeinrichtung 35 ein. In diesem Bereich wird die Spitzen- oder Peaktemperatur der Leiterplatte erzeugt. Diese muß bei den üblichen Blei/Zinn-Loten im Bereich von 200 bis 220°C liegen, damit ein ausreichendes Aufschmelzen und Verflüssigen der vorhandenen Lotdepots sichergestellt ist. Hierzu ist insbesondere die Leistungseinstel¬ lung des Heizmoduls 35d entsprechend vorzunehmen. Nach Verlassen der Peakzone erstarrt sowohl das durch die Lotwellen aufgetragene Lot als auch das Lot der Lotde¬ pots nach kurzer Zeit und bildet insbesondere unter Ausführung des Gesamtprozesses unter Plasma besonders hochwertige Lötverbindungen. Die Piasmaerzeugung ist - wie bereits oben beim Wellenlöten geschildert - auszuführen.
In einer besonders vorteilhaften Variante der Erfindung wird die Leistungseinstellung des Heizmoduls 35d rückgekoppelt ausgestaltet. Dies kann in der Weise erfolgen, daß etwa kurz nach der Lotwellenberührungsstelle ein Temperatursensor 36 angeordnet wird und dort die Ist-Temperatur der jeweils durchlaufenden Leiterplatte gemessen wird, diese Ist-Temperatur wird in einer entsprechenden, speicherprogrammierbaren Steuereinheit mit einem vorgegebenen Sollwert verglichen und davon ausgehend dann die Feineinstellung Heizleistung des Heizmoduls 35d ermittelt und durchgeführt, wobei - je nach dem ob die Leiterplattentemperatur zu niedrig oder zu hoch gemessen wurde - die Heizleistung des Heizmoduls 35d geeignet erhöht oder erniedrigt wird.
Im gezeigten Beispiel wird also in einer etwas hinterhalb der Lotwelle vorgesehenen Peakzone das Wiedererschmelzen der bei der Bestückung mitaufgebrachten Lotdepots entweder mit gleichbleibender oder mit rückgekoppelter Heizleistung bewirkt. Ebenso geeignet wäre im übrigen auch die Anordnung des Peakbereichs genau über der Lotwelle, wozu die Heizeinrichtungen lediglich geringfügig verändert zu plazieren und einzustellen wären. In jedem Falle werden jedoch mit einem wie geschildert ausge¬ führten Mischbetrieb hochwertige Lötergebnisse erzielt, wobei wiederum vor allem unter Plasma ausgeführte Prozesse besonders vorteilhaft sind. Bei den geschilderten Abläufen ist ferner grundsätzlich darauf zu achten, daß keine Überhitzung von vorhandenen Bauteilen verursacht wird, bei empfindlichen Bauteilen kommt daher der rückgekoppelten Verfahrensvariante besondere Bedeutung zu.
3. Reflowlöten:
Sind Leiterplatten zu verarbeiten, die durchweg mit Lotdepots bzw. Lotpaste versehene Bauteile aufweisen, so ist ein reiner Reflowlötprozeß erforderlich. Dieser unterliegt hinsichtlich der Aufheizung und der Tranportgeschwindigkeit der Leiterplatten im wesentlichen den gleichen Bedingungen wie der Mischbetrieb, und es sind daher vergleichbare Einstellungen wie beim Mischbetrieb vorzunehmen. Der Betrieb der Lotwelle ist jedoch in diesem Falle nicht erforderlich. Das Lötergebnis entspricht wiederum hohen Qualitätsanforderungen, insbesondere im Falle eines Lötvorgangs unter Plasma.
Mit Transportgeschwindigkeiten die 1 bis 2,5 m/min betragen, Heizleistungen, die selbst voluminöse Leiterplatteneinheiten auf über 200°C bei den besagten Transport¬ geschwindigkeiten aufheizen können und eigenständig zu- und abschaltbaren Lot¬ welleneinrichtungen sind die wesentlichen Charakteristika einer erfindungsgemäßen Durchlauflötanlage genannt. Eine derartige Anlage erhöht die Flexibiltität einer Leiterplattenfertigung bei relativ niedrigen Investitionskosten, wobei jede übliche Löt¬ qualität und sogar hochwertigste Lötungen erzielbar sind. 4. Sonderverfahren:
In einer speziellen Ausgangslage bei der Leiterplattenfertigung/-verlötung, nämlich dann, wenn ein erhöhter Anteil an kondensierten Rückständen in den tragenden Leiter¬ platten vorhanden ist, ergibt sich beim Wellenlötprozeß der Effekt der "blowing holes". Das bedeutet, daß, wenn zur Auflötung eines Bauteils Lot eine Bohrung in der Leiter¬ platte durchfließen muß, aus dem Lot - nach seiner Durchquerung des Zuführlochs - zunächst ein Bläschen gebildet wird, welches im folgenden zerplatzt und damit uner¬ wünschte und teilweise funktionsbeeinträchtigende Lotablagerungen erzeugt. Die Bläschen werden dabei letztlich durch die, in den Leiterplatten und zugehörigen Boh¬ rungen abgelagerten, verdampfenden Medien verursacht, welche im Hitzepunkt des Lötprozesses besonders stark ausgetrieben werden, was schließlich zur Bläs¬ chenbildung mit dem Lot führt.
Zur Lösung dieses Problems wird die hier in Rede stehende Erfindung in der Weise betrieben, daß zunächst festgestellt wird, ob in einer Sonderverlötung zu bearbeitende Leiterplatten vorliegen (z.B. durch einige Testlötungen), worauf bei positiver Fest¬ stellung ein Lötvorgang in der Weise durchgeführt wird, daß die Aufheiztemperatur der Leiterplatten bereits deutlich vor Erreichen der Lotwelle(n) oder der Temperaturspitze auf eine Wert gebracht wird, der lediglich bis zu maximal 15 % (vorzugsweise sogar na¬ hezu gleich oder etwas höher) unterhalb der Temperatur bei der Lotwelle oder der im Hitzepeak liegt. Die besagte Temperatureinstellung der Baueinheiten wird dabei vor allem durch geeignete Einstellung der Heiz- und Transporteinrichtungen in der jeweili¬ gen Lötanlage bewirkt. Hierbei können jedoch - wegen ungeeigneter Ausgestaltung - mit bekannten Lötanlagen Probleme auftreten. Ferner wird die hier geforderte, vorge¬ lagerte Temperaturerhöhung der Baueinheiten mit Vorteil zumindest 5 Sekunden, besser jedoch bereits 10 bis15 Sekunden, vor dem eigentlichen Hitzepeak des jeweili¬ gen Lötprozesses erzeugt. Auch längere Vorerhitzungen können noch vorteilhaft sein.
Durch dieses Vorgehen wird bewirkt, daß die vorhandenen Kondensate und Ablage¬ rungen in den heute häufig mehrschichtig ausgebildeten Leiterplatten bereits geeignet frühzeitig vor der Lotaufbringung oder dem Lotfließen verdampft und expandiert werden, so daß beim Lotfließen selbst kein "Blaseffekt" mehr auftreten kann. Somit werden auch dadurch verursachte "blowing holes" verhindert. Zugehörige Tempera¬ turverläufe sind in Fig. 2 mit S und S' gekennzeichnet. Wie erkennbar - siehe S' - wird im Falle eines Welle-Reflow-Mischbetriebs die vorausgehenden Temperatureinstellung höher ausgelegt als bei reiner Wellenlötung. Ferner kann eine Umkehr der Gasströ¬ mungsrichtung im Vergleich zu Fig.1 - etwa durch Vertauschen von Abzug 52 mit Zulei¬ tung 27 - hier besonders vorteilhaft sein, da so Dämpfe eingangseitig entfernt werden.

Claims

12
Patentansprüche 1a. Verfahren zum Löten von Leiterplatten und dergleichen, bei dem die Leiterplatten oder sonstigen Bauteile durch eine weitgehend geschlossene, tunnelartige Durchlaufanlage gefahren werden, in der eine Erwärmung, die Verlötung und eine Abkühlung der Leiterplatten zumindest bis zur Lotverfestigung erfolgen dadurch gekennzeichnet, daß vorab das anzuwendende Lötprinzip für eine oder - vorzugsweise - mehrere Leiterplatten bestimmt und festgelegt wird, wobei das Wellen-, das Refiow- und ein kombiniertes Wellen- und Reflowlöten zu den prinzipiellen Ein¬ stellmöglichkeiten gehören, und entsprechend der getroffenen Festlegung die Heiz- und Transporteinrichtungen der Anlage in bezug auf Aufheizung und Vorwärtsbewegung der Leiterplatten eingestellt werden sowie das zugehörige Lotbad der Anlage in den entsprechenden Betriebs¬ zustand versetzt wird und dann die Bearbeitung erfolgt.
1 b. Verfahren zum Löten von Leiterplatten und dergleichen, bei dem die Leiterplatten oder sonstigen Bauteile durch eine weitgehend geschlossene, tunnelartige Durchlaufanlage gefahren werden, in der eine Erwärmung, die Verlötung und eine Abkühlung der Leiterplatten zumindest bis zur Lotverfestigung erfolgen dadurch gekennzeichnet, daß zunächst festgestellt wird, ob eine Sonderverlötung der zu verarbeitenden Leiterplatten erforderlich ist, worauf bei positiver Feststellung ein Lötvorgang in der Weise durchgeführt wird, daß die Aufheiztemperatur der Leiter¬ platten bereits deutlich vor Erreichen der Lotwelle(n) oder dem Temperaturpeak eine Wert erreicht, der lediglich bis maximal 15 % unterhalb der Temperatur bei der Lotwelle oder im Hitzepeak liegt.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, daß das Löten unter einem Schutz- oder Prozeßgas durchgeführt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Löten unter Niederdruck durchgeführt wird.
4. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß das Löten unter Niederdruck und Plasmabildung durchgeführt wird.
5. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß gegebenenfalls mehrere unterschiedliche Leiterplattensorten vorab nach Gleichartigkeit sortiert werden und bei Beginn der Bearbeitung einer neuen Leiterplattengruppe die Einstellung der Durchlauflötanlage entsprechend geändert wird.
6. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß die Aufheiztemperatur der Leiterplatten an einer oder mehreren Stellen beim Durchlauf gemessen wird und ausgehend von diesem(n) Meßwert(en) die Ein¬ stellung eines oder gegebenenfalls mehrerer Heizelemente vorgenommen wird.
7. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 2 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß ein gleichzeitig Sauerstoff und Wasserstoff enthaltendes Prozeßgas mit deutlich überwiegendem Wasserstoffgehalt eingesetzt wird
8. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 2 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein Prozeßgasgemisch aus
0,5 bis 10 Vol. % Sauerstoff, 80 bis 20 Vol.% Wasserstoff und 20 bis 80 Vol.% eines fluorierten Kohlenwasserstoffgases oder SFß eingesetzt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Prozeßgas¬ gemisch zusätzlich ein Inert- oder Edelgas enthält.
10. Durchlauflötanlage mit einem im wesentlichen tunnelartig aufgebauten und gegen die Umgebung weitgehend abschließenden Gehäuse mit Zugangs- und Austrittseinrichtungen (3,7), mit einer im Bereich der Hauptkammer (4) angeordneten, getrennt schaltbaren Lötstation (34) mit Lotbad (48) und zugehörigen Einrichtungen (42) zur Lotwellenerzeugung sowie auf diese Lötstation zulaufende und davon weglaufende Tunnelbereiche (26,51) sowie mit einer den Anlagentunnel durch¬ querenden Transporteinrichtung (44), dadurch gekennzeichnet, daß oberhalb des Lotbades (48) über Transporteinrichtung (44) Heizelemente (35) angeordnet sind, die eigenständig zu- und abschaltbar sowie regelbar sind, und daß zumindest auf einer Teilstrecke im Zulauftunnel (26) zur Lötstation unterhalb und/oder oberhalb der Transporteinrichtung (44) ebenfalls variabel einstellbare, zu- und abschaltbare Heizelemente (28) angeordnet sind, und daß schließlich die Transporteinrichtung (44) in bezug auf die Transport¬ geschwindigkeit - und optionsweise auch hinsichtlich ihrer Anordnung gegenüber der Lotwelle - variabel einstellbar ist.
11. Anlage nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die, die Lötstation (34), den Zulauftunnel (26) und den Auslauftunnel (51) umfassende, Hauptkammer (4) gasdicht gegen die Umgebung abgeschlossen ist und mindestens eine Zu- und eine Ableitung (27,52) für ein Schutz- oder Prozeßgas aufweist.
12. Anlage nach Anspruch 10 oder 11 , dadurch gekennzeichnet, daß die Haupt¬ kammer mit Mitteln zur Erzeugung eines Niederdrucks im Bereich von 0,1 bis 100 mbar verbunden ist, insbesondere eine Absaugleitung (52) und eine damit in Verbindung stehende Absaugpumpe aufweist.
13. Anlage nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß in der Hauptkammer (4) Mittel (21) zur Erzeugung eines Plasmas aus Niederdruckgas vorhanden sind, z.B. eine Hochfrequenz-Sendeantenne.
14. Anlage nach einem oder mehreren der Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß in der Anlagenkammer bezüglich des Transportweges der Leiterplatten kurz vor und/oder kurz nach der oder den Lotwellen (41) Sensoren (36) zur Messung der Temperatur der Leiterplattenoberseite und/oder der -Unterseite angeordnet sind (ist), und diese Sensoren mit einer Anzeige- und/ oder Verarbeitungseinheit verbunden sind, die auf eine entsprechende Veränderung der Einstellung der Heiz- und/oder Transport-elemente hinweist oder die selbstständig auf die Heiz- und/oder Transportelemente rückwirkt.
PCT/EP1995/002450 1994-06-23 1995-06-23 Verfahren und vorrichtung für ein kombiniertes oder spezielles wellen- und reflow-löten von leiterplatten und dergleichen WO1996000136A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4421996A DE4421996A1 (de) 1994-06-23 1994-06-23 Verfahren und Vorrichtung zum kombinierten Wellen- und Reflow-Löten von Leiterplatten und dergleichen
DEP4421996.2 1994-06-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO1996000136A1 true WO1996000136A1 (de) 1996-01-04

Family

ID=6521331

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/EP1995/002450 WO1996000136A1 (de) 1994-06-23 1995-06-23 Verfahren und vorrichtung für ein kombiniertes oder spezielles wellen- und reflow-löten von leiterplatten und dergleichen

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE4421996A1 (de)
WO (1) WO1996000136A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19602312A1 (de) * 1995-12-06 1997-06-12 Wolf Werner Otto Verfahren zur Verbindung von Gegenständen mit metallischen Werkstoffen und Vorrichtung hierzu

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE501805T1 (de) 2006-05-23 2011-04-15 Linde Ag Vorrichtung und verfahren zum wellenlöten

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1985003248A1 (en) * 1984-01-18 1985-08-01 Vitronics Corporation Multi-zone thermal process system utilizing nonfocused infrared panel emitters
JPH01233063A (ja) * 1988-03-14 1989-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd はんだ付け装置
DE4016366A1 (de) * 1990-05-21 1991-11-28 Siemens Nixdorf Inf Syst Verfahren und einrichtung zum reflow-loeten von elektronik-bauteilen auf eine leiterplatte
DE4126597A1 (de) * 1991-08-10 1993-02-11 Heraeus Quarzglas Verfahren und vorrichtung zur waermebehandlung von werkstuecken mit elektrischen und elektronischen bauteilen
WO1993019575A1 (de) * 1992-03-20 1993-09-30 Linde Aktiengesellschaft Verfahren zum verlöten von leiterplatten unter niederdruck

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1985003248A1 (en) * 1984-01-18 1985-08-01 Vitronics Corporation Multi-zone thermal process system utilizing nonfocused infrared panel emitters
JPH01233063A (ja) * 1988-03-14 1989-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd はんだ付け装置
DE4016366A1 (de) * 1990-05-21 1991-11-28 Siemens Nixdorf Inf Syst Verfahren und einrichtung zum reflow-loeten von elektronik-bauteilen auf eine leiterplatte
DE4126597A1 (de) * 1991-08-10 1993-02-11 Heraeus Quarzglas Verfahren und vorrichtung zur waermebehandlung von werkstuecken mit elektrischen und elektronischen bauteilen
WO1993019575A1 (de) * 1992-03-20 1993-09-30 Linde Aktiengesellschaft Verfahren zum verlöten von leiterplatten unter niederdruck

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 13, no. 560 (M - 906)<3908> 13 December 1989 (1989-12-13) *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19602312A1 (de) * 1995-12-06 1997-06-12 Wolf Werner Otto Verfahren zur Verbindung von Gegenständen mit metallischen Werkstoffen und Vorrichtung hierzu
DE19602312C2 (de) * 1995-12-06 2000-02-17 Stf Innovative Produkte Gmbh Verfahren zur Verbindung von Gegenständen mit metallischen Werkstoffen und Vorrichtung hierzu

Also Published As

Publication number Publication date
DE4421996A1 (de) 1996-01-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0251257B1 (de) Verfahren u. Anordnung zum Reflow-Löten und Reflow-Entlöten von Leiterplatten
EP0427020B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Verarbeitung von zu verlötenden Fügepartnern
DE69710383T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Wellenlöten oder Wellenverzinnen
DE69208994T2 (de) Verfahren und Vorrichtung für das Löten in nicht-oxydierender Atmosphäre
DE102010015841B4 (de) Reflow-Lötverfahren
WO1993019575A1 (de) Verfahren zum verlöten von leiterplatten unter niederdruck
DE102007005345B4 (de) Verfahren zum Reflow-Löten sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
WO2007137547A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur temperaturbehandlung, insbesondere lotverbindung
DE102014106631A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Herstellen von Lötverbindungen
DE102019213511A1 (de) Reflow-Lötanlage zum kombinierten Konvektionslöten und Kondensationslöten
DE102021129122B4 (de) Lötanlage, insbesondere Reflowlötanlage mit Abdeckhaube und schaltbarem Absaugkanal
EP3463733A1 (de) Fertigungslinie zum löten
DE3843191C1 (en) Device for soldering
WO1996000136A1 (de) Verfahren und vorrichtung für ein kombiniertes oder spezielles wellen- und reflow-löten von leiterplatten und dergleichen
EP0492095B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Verarbeitung von elektronischen Flachbaugruppen, insbesondere mit Bauelementen bestückten Leiterplatten
DE3936955C1 (en) Plasma treating conductor plates for electronic elements - with process gas e.g. oxygen, hydrogen, fluoro-(chloro)-hydrocarbon, etc. before soldering
EP1972405B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Vorbehandlung von elektronischen Bauelementen vor dem Löten
WO1996037330A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum wellen- und/oder dampfphasenlöten elektronischer baugruppen
DE19826520C1 (de) Verfahren zum Steuern der Wärmeübertragung auf ein Werkstück beim Dampfphasenlöten
DE69603666T2 (de) Verfahren zum Trockenfluxen von metallischen Fläschen vor dem Löten mit einer Atmosphäre die Wasserdampf enthält
DE19602312C2 (de) Verfahren zur Verbindung von Gegenständen mit metallischen Werkstoffen und Vorrichtung hierzu
DE4217643C2 (de) Vorrichtung zum Löten, insbesondere Reflow-Ofen
DE102006025184A1 (de) Vorrichtung zum Löten in der Dampfphase
DE19632335C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur mechanischen Beseitigung von Lotkugeln auf der Obfläche von Leiterplatten
EP0734303A1 (de) Vorrichtung zur wärmeübertragung in einer konventionswärmeanlage, insbesondere in einer konvektionslötanlage

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): CA CN JP KR US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE CH DE DK ES FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
122 Ep: pct application non-entry in european phase
NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: CA

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP

Ref document number: 96502803

Format of ref document f/p: F

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP

Ref document number: 96502803

Format of ref document f/p: F

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP

Ref document number: 96502803

Format of ref document f/p: F

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP

Ref document number: 1996502803

Format of ref document f/p: F

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP

Ref document number: 1996502803

Format of ref document f/p: F