TWM653844U - 直尺校正裝置 - Google Patents

Abstract

本創作直尺校正裝置用以校正直尺，其包含一載台、二固定座間隔設置於該載台、一量測組件及一觀測件，量測組件包含一軌道及一量測器，軌道跨設於該二固定座，量測器設置於該軌道，並能沿該軌道線性移動，且該量測器能顯示其移動距離，該觀測件設置於該量測器且朝向該載台。將一直尺擺置於該載台，使所述直尺平行於該量測組件之軌道，並透過該觀測件觀測所述直尺上的刻度，比對該量測器顯示的數值，就能得知所述直尺之尺寸是否有誤差，因此確保所述直尺的尺寸精度能達到現場要求。

Description

直尺校正裝置

本創作係一種校正裝置，尤指用以校正直尺的直尺校正裝置。

在工廠的現場中，捲尺是很常用來進行簡易量測的檢測工具，當使用一段時間後，捲尺的前端可能會因磨耗而有長度減損，導致捲尺量測出的尺寸有誤之情形，因此需要藉由直尺上的刻度比對捲尺的刻度是否正確，以確保捲尺的長度無誤。

而為了進一步確保量測的尺寸正確，在使用直尺比對所述捲尺之前，也要先校驗直尺的刻度，確認直尺的尺寸精度符合要求，故現今係使用一基準尺以校驗直尺的尺寸。

然而，所述基準尺還需要送到外部進行校驗後才能使用，較為不便且費時，而現今並沒有能直接於現場校驗直尺刻度的裝置，故為了確保直尺的尺寸精度能達到現場要求，需要一種能夠校驗直尺之刻度尺寸的裝置。

本創作之主要目的在於提供一直尺校正裝置，希藉此提供能於現場直接校驗直尺刻度的裝置，以確保直尺的尺寸精度能達到現場要求，解決現今透過基準尺校驗較為不便且費時的問題。

為達成前揭目的，本創作直尺校正裝置包含： 一載台，其界定有一承載頂面，該承載頂面中界定有一擺置區； 二固定座，該二固定座間隔設置於該載台的承載頂面，該擺置區位於該二固定座之間； 一量測組件，其包含一軌道及一量測器，該軌道跨設於該二固定座並與該擺置區相鄰，且平行於該承載頂面，該量測器設置於該軌道，並能沿該軌道線性移動，且該量測器能顯示其移動距離；及 一觀測件，該觀測件設置於該量測器且朝向該載台之承載頂面。

本創作直尺校正裝置係用以校驗一直尺，將該直尺擺置於該載台之擺置區中，並使所述直尺平行於該量測組件之軌道，接著，工作人員移動該量測器，將該觀測件對齊所述直尺之起始刻度並將該量測器歸零後就可以進行校驗，透過該觀測件觀測所述直尺上的刻度以將該量測器移動至所述直尺上的第一個量測點，並讀取該量測器上顯示的數值，比對透過該觀測件觀測到的刻度，再將該量測器移動至下一個量測點，反覆進行觀測刻度、移動該量測器及讀取數值，若觀測之刻度與讀取的數值不符時，就代表所述直尺於所述量測點處與標準值有偏差，藉此能夠直接校驗所述直尺的刻度，以確保所述直尺的尺寸精度能達到現場要求。

請參閱圖1至圖4，為本創作直尺校正裝置之一種較佳實施例，其包含一載台10、二固定座20、一量測組件30及一觀測件40。

如圖1及圖2所示，該載台10界定有一承載頂面11，該承載頂面11中界定有一擺置區，該二固定座20間隔設置於該載台10的承載頂面11，該擺置區位於該二固定座20之間。

如圖1至圖4所示，該量測組件30包含一軌道31及一量測器32，該軌道31跨設於該二固定座20並與該擺置區相鄰，且平行於該承載頂面11，該量測器32設置於該軌道31，並能沿該軌道31線性移動，且該量測器32能顯示其移動距離，該觀測件40設置於該量測器32且朝向該載台10之承載頂面11。

其中，該量測組件30為一高度規，較佳地為電子高度規，該觀測件40為一測微顯微鏡。

如圖5及圖6所示，本創作直尺校正裝置係用以校驗一直尺60，工作人員將該直尺60擺置於該載台10之擺置區中，並位於該觀測件40能觀測到的位置，並使所述直尺60平行於該量測組件30之軌道31，在該觀測件40內劃設有刻紋，以便於觀測時對齊所述直尺60的刻度。

其中，該直尺校正裝置包含有至少一限位塊50，該至少一限位塊50擺置於該載台10之承載頂面11，工作人員能使所述直尺60的邊緣抵靠該至少一限位塊50，也可以利用該至少一限位塊50壓住所述直尺60，以限制所述直尺60的位置，避免於進行校驗時不慎碰觸導致所述直尺60移動，提升校驗作業之便利性。

接著，如圖7所示，工作人員移動該量測器32，將該觀測件40中的刻紋對齊所述直尺60之起始刻度，並將該量測器32歸零後就可以進行校驗，透過該觀測件40觀測所述直尺60上的刻度以將該量測器32移動至所述直尺60上的第一個量測點，比對透過該觀測件40觀測到的刻度與該量測器32上顯示的數值，如圖8及圖9所示，再將該量測器32移動至下一個量測點，反覆進行觀測刻度、移動該量測器32及讀取數值。

如圖8及圖9所示，若觀測之刻度與讀取的數值不符時，例如當將該量測器32移動到所述直尺60的100毫米處，也就是透過該觀測件40觀測到的刻度為100毫米時，讀取該量測器32上顯示的數值，此時該量測器32上顯示的數值為99.99毫米，就代表所述直尺60於所述量測點處與標準值偏差0.01毫米，藉由所述直尺校正裝置能夠直接校驗所述直尺60的刻度，以確保所述直尺60的尺寸精度能達到現場要求。

此外，該量測組件30包含一微調部件33，該微調部件33包含一定位件331及一微調連接件332，該定位件331能移動地設置於該軌道31，並透過該微調連接件332連接該量測器32，操作該微調連接件332能使該量測器32靠近或遠離該定位件331。當該觀測件40中的刻紋已經很接近所述直尺60上的刻度時，透過操作該微調連接件332能夠使該量測器32慢慢接近該定位件331，就能夠對該量測器32的位置做細微的調整，藉此更容易使該觀測件40中的刻紋對齊所述直尺60上的刻度，提升使用便利性。

綜上所述，本創作直尺校正裝置用以校正所述直尺60，該量測器32會顯示其所移動的距離，使所述直尺60平行於該量測組件30之軌道31，並透過該觀測件40觀測所述直尺60上的刻度，比對該量測器32顯示的數值，就能得知所述直尺60之尺寸是否有誤差，因此確保所述直尺60的尺寸精度能達到現場要求。

10:載台 11:承載頂面 20:固定座 30:量測組件 31:軌道 32:量測器 33:微調部件 331:定位件 332:微調連接件 40:觀測件 50:限位塊 60:直尺

圖1：為本創作直尺校正裝置之一種較佳實施例之立體示意圖。 圖2：為本創作直尺校正裝置之另一立體示意圖。 圖3：為本創作直尺校正裝置之前視平面示意圖。 圖4：為本創作直尺校正裝置之俯視平面示意圖。 圖5：為本創作直尺校正裝置用以校驗直尺之前視平面示意圖。 圖6：為本創作直尺校正裝置用以校驗直尺之局部俯視平面示意圖。 圖7：為本創作直尺校正裝置用以校驗直尺之放大俯視平面示意圖。 圖8：為本創作直尺校正裝置用以校驗直尺之移動量測器之前視平面示意圖。 圖9：為本創作直尺校正裝置用以校驗直尺之移動量測器之局部俯視平面示意圖。

10:載台

11:承載頂面

20:固定座

30:量測組件

31:軌道

32:量測器

33:微調部件

40:觀測件

50:限位塊

Claims (6)

1. 一種直尺校正裝置，其包含： 一載台，其界定有一承載頂面，該承載頂面中界定有一擺置區； 二固定座，該二固定座間隔設置於該載台的承載頂面，該擺置區位於該二固定座之間； 一量測組件，其包含一軌道及一量測器，該軌道跨設於該二固定座並與該擺置區相鄰，且平行於該承載頂面，該量測器設置於該軌道，並能沿該軌道線性移動，且該量測器能顯示其移動距離；及 一觀測件，該觀測件設置於該量測器且朝向該載台之承載頂面。
2. 如請求項1所述之直尺校正裝置，其中該直尺校正裝置包含有至少一限位塊，該至少一限位塊擺置於該載台之承載頂面。
3. 如請求項1所述之直尺校正裝置，其中該量測組件為一高度規。
4. 如請求項1所述之直尺校正裝置，其中該觀測件為一測微顯微鏡。
5. 如請求項1所述之直尺校正裝置，其中該觀測件內劃設有刻紋。
6. 如請求項1至5中任一項所述之直尺校正裝置，其中該量測組件包含一微調部件，該微調部件包含一定位件及一微調連接件，該定位件能移動地設置於該軌道，並透過該微調連接件連接該量測器，操作該微調連接件能使該量測器靠近或遠離該定位件。