CN207850321U - 一种测量仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种测量仪，其特征在于，包括相互平行的两支撑杆、套接于所述两支撑杆上的滑块、设于所述滑块上且与所述两支撑杆所在平面平行的码盘组件；所述码盘组件包括设在所述滑块上的主码盘及与所述主码盘相配合的游标码盘；所述两个支撑杆中的其中一个支撑杆为活动支撑杆，该活动支撑杆能够沿其轴线方向上与所述滑块发生相对滑动，所述活动支撑杆上设有的刻度标尺结构。本实用新型提供的测量仪通过设置相互平行的两支撑杆，以及设于所述滑块上且与所述两支撑杆所在平面平行的码盘组件，集水平度测量和平整度测量功能的一体设计，减少了测量工具和测量的操作步骤，提高了工作效率。

Description

一种测量仪

技术领域

本实用新型涉及精密测量领域，尤其涉及一种水平度和平整度的测量仪。

背景技术

TFT-LCD产业中，作业平台、导轨等机构对水平角度及平整度的要求极高，机构在频繁的使用过程中平整度及水平角度会发生变化，因此监测机构的水平度及平整度显得尤为重要。现有的水平角度及平整度确认方式如下：

1.激光水平测量仪确认水平角度，此类设备适合应用在较为宽广的空间，但不适合狭小的设备空间内使用，且不适用于平整度的测量；

2.气泡水平仪用于调整平面的水平角度及平整度，但是不能以准确的数据反应被测量机构的水平度及平整度；

3.常用的水平仪用于测量水平角度，对其平整度有较高的要求，如果测量平面不平整导致测量的水平角度数据与实际数据有较大偏差。

同时，现有常用的水平仪用于测量水平度及平整度局限性多：(1)测量范围小，机构的不平整会影响测量的水平角度数据，具有区域性限制；(2)测量的水平角度数据不精确，或者使用长度数据替代水平角度数据；(3)不能同时用于测量水平角度或者平整度。

实用新型内容

本实用新型的目的旨在提供一种测量仪，可完成液晶加工领域中水平度和平整度的同时测量。

为了实现上述目的，本实用新型提供以下技术方案：

一种测量仪，包括相互平行的两支撑杆、套接于两个支撑杆上的滑块、设于所述滑块上且与所述两个支撑杆所在平面平行的码盘组件；

所述码盘组件包括设在所述滑块上的主码盘及与所述主码盘相配合的游标码盘；

所述两支撑杆中的其中一个支撑杆为活动支撑杆，该活动支撑杆能够沿其轴线方向上与所述滑块发生相对滑动，所述活动支撑杆与所述滑块上设有的刻度标尺结构。

优选地，所述测量仪还包括用于调节所述活动支撑杆与所述滑块发生相对位移的调节件，所述调节件套设于所述活动支撑杆上。

优选地，所述刻度标尺结构为直线刻度标尺。

优选地，所述活动支撑杆归零时，所述两个支撑杆上与被测量表面接触的一端处于同一水平线。

优选地，所述主码盘与所述游标码盘的0刻度线重合时，所述重合的0刻度线平行于所述两个支撑杆。

优选地，所述码盘组件的测量精度为0.1°。

优选地，所述活动支撑杆为活动螺杆，所述刻度标尺结构的测量精度为0.1mm。

优选地，所述调节件为调节螺母，所述直线刻度标尺配合所述调节螺母的端面进行读数。

优选地，所述活动螺杆上的螺纹间距为0.4mm，所述调节螺母每调整90°，所述滑块在所述活动螺杆上移动0.1mm。

优选地，所述滑块上设有两个便于所述两个支撑杆分别套接的导轨。

相比现有技术，本实用新型的方案具有以下优点：

本实用新型提供的测量仪通过设置相互平行的两支撑杆，以及设于所述滑块上且与所述两支撑杆所在平面平行的码盘组件，集水平度测量和平整度测量功能的一体设计。测量时如果被测量平台不平整，所述游标码盘与所述主码盘发生相对偏移，读取其对应的角度游标码盘和角度码盘及示数，可精确得到作业平台的所述被测量表面的水平角度，即所述被测量平台的平整度；调整所述活动支撑杆，当所述码盘与所述主码盘的0刻度线重合时，读取的所述活动支撑杆的刻度数据即可得到所述两个支撑杆的水平高度偏差，所述被测量表面的水平度。通过所述测量仪的使用，减少了测量工具和测量的操作步骤，提高了工作效率。

本实用新型还设置了套设所述活动支撑杆的调节件，方便对所述活动支撑杆进行调节。所述活动支撑杆设为活动螺杆，利用所述活动螺杆的螺纹间距结合设于其上直线刻度标尺的读数，提高了水平度的测量精度。

同时，通过所述主码盘与所述游标码盘对应配合的盘面刻度，且通过两个盘面刻度的单个刻度相互的差值，可调节所述码盘组件的测量精度。

本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为本实用新型的所述测量仪的结构示意图；

图2为图1中所示的码盘组件的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能解释为对本实用新型的限制。

本实用新型提供一种测量仪，可用于精密测量领域，可适用于液晶显示的加工领域。所述测量仪包括滑块、两个支撑杆以及包括游标码盘与主码盘配合而成的码盘组件。其中，所述两个支撑杆相互平行，其中一个支撑杆为活动支撑杆，可直接调节所述活动支撑杆来实现其与所述滑块之间的相对位移。所述支撑杆可由沿其轴线方向上的至少两个固定部件固定其在该方向的位置，也可以是套设于至少一个所述支撑杆上的导轨固定对应所述支撑杆在其轴线方向的位置。所述支撑杆可以是螺杆、也可以是与所述滑块固定或相对滑动的其他杆状结构。在下面篇幅中，所述支撑杆以螺杆为例进行陈述。

如图1所示，所述测量仪包括滑块10，所述两个支撑杆分别为第一螺杆21和第二螺杆22，其中所述活动支撑杆为活动螺杆，所述第二螺杆22为活动螺杆。。通过直接转动所述活动螺杆21，调节所述活动螺杆21与所述滑块10之间的相对位移。

所述滑块10设置两相互平行的导轨(图未示)，所述导轨分别对应套设所述第一螺杆21和所述第二螺杆22，其与对应的螺杆轴线方向重叠。所述第二螺杆22可沿其轴线方向在所对应的导轨与所述滑块10相对移动。

所述第二螺杆22设有刻度标尺结构。所述刻度标尺结构为设置在所述第二螺杆22的直线刻度标尺。所述直线刻度标尺在所述滑块10端面的读数变化显示所述第二螺杆22相对于所述滑块10的相对位移。

本测量仪还包括调节件，所述调节件套设所述活动螺杆且能够通过其与所述活动螺杆的相对位移来调节所述活动螺杆与所述滑块的相对位移的调节件，更加便于对所述第二螺杆22进行调节。所述调节件可以是与螺杆套设可相对位移的调节螺母，也可以是与所述支撑杆形式套设且可相对位移的其他调节结构。在下面的篇幅中，所述调节件以调节螺母为例，进行陈述。

如图1所示，所述调节件为调节螺母23，其套设于所述第二螺杆22上，所述调节螺母23通过调节其与所述第二螺杆22发生相对位移来来调节所述第二螺杆22与所述滑块10的相对位移。所述第二螺杆22的直线刻度标尺位于所述调节螺母23的对应端面的读数变化结合所述第二螺杆22的螺纹间距可直接反映所述第二螺杆22与所述滑块10的相对位置。

所述第二螺杆22与所述调节螺母23的测量精度为0.1mm。具体地，所述第二螺杆22的螺纹间距为0.4mm,其刻度分四等分，所述调节螺母23和所述滑块10上对应所述第二螺杆22处设置刻度为四等分。若当所述调节螺母23调整90°，所述第二螺杆22沿其延伸方向位移了0.1mm。

如图2所示，所述码盘组件30包括位于同一平面上的所述主码盘32与所述游标码盘31，所述游标码盘31设于所述主码盘32内可相对偏转。两者之间径向连接处设有相互对应的刻度线，以显示其相互间的偏转角度，以显示作业平台的被测量表面的水平角度。所述主码盘32与所述游标码盘31所组成的码盘组件平行于所述两个螺杆20所在的平面。

在本实施例中，所述码盘组件的测量精度为0.1°。具体为所述游标码盘31的0刻度线两边刻度范围分别为9°,而所述主码盘32的0刻度线两边刻度范围分别为10°均分割为10等分，那么，所述游标码盘31的单位刻度为0.9°，所述述主码盘32的单位刻度为1°，两者之间的差值为0.1°，当两者发生偏转时，其偏转角度差值能精准到0.1°。

所述滑块10的长度以及所述两个螺杆20之间的距离可根据所述被测量表面的长度设置，可不同的测量情况，提供所述测量仪的适用性。

所述测量仪工作原理：

测量时如果被测量平台不平整，所述游标码盘31与所述主码盘32发生相对偏移，读取其对应的角度游标码盘31和角度码盘及示数，可精确得到作业平台的所述被测量表面的水平角度，即所述被测量平台的平整度；调整所述调节螺母23，当所述码盘与所述主码盘32的0刻度线重合时，读取的所述第二螺杆22刻度数据即可得到其与所述第一螺杆21的水平高度偏差，所述被测量表面的水平度。

所述测量仪的工作过程：

第一步，使用前，先将所述第一螺杆21和所述第二螺杆22接触所述被测量表面的两个端面齐平，即该两端面在同一直线上。在本实施例中，使用前将所述调节螺母23调节到所述第二螺杆22的0刻度上，同时使所述主码盘32与游标码盘31的0刻度重合；

第二步，将所述测量仪放置在所述被测量表面上，将所述第一螺杆21和所述第二螺杆22齐平，即处于同一水平线上；

第三步，读取所述主码盘32及所述游标码盘31的刻度读数，可得到水平角度数据，即所述被测量表面的平整度；

第四步，调整所述调节螺母23，使所述主码盘32与所述游标码盘31的0刻度重合；

第五步，读取所述调节螺母23对应所述第二螺杆22的读数，为所述第一螺杆21和所述第二螺杆22的高度差，即所述被测量表面的水平度。

本实用新型所提供的测量仪将所述被测量表面的水平度测量和平整度测量复合到同一个工具中完成，简化了测量的工作以及测量的步骤，直接提高了工作效率。所述测量仪通过包含所述主码盘32和所述游标码盘31的码盘组件的偏移以及相应分刻度的设置，准确地提升了平整度测量的精度；同时所述第二螺杆22的螺纹间距结合其直线刻度尺在所述滑块对应端面的读数变化其在，甚至配合所述调节螺母23，得出所述第二螺杆22的直线刻度尺相对于所述调节螺母23对应端面的读数变化，方便准确地提升了水平度测量的精度。所述滑块10的长度以及所述第一螺杆21和所述第二螺杆22之间的距离的可变性，也提高所述测量仪的适用性。

以上所述仅是本实用新型的部分实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种测量仪，其特征在于，包括相互平行的两个支撑杆、套接于所述两个支撑杆上的滑块、设于所述滑块上且与所述两个支撑杆所在平面平行的码盘组件；

所述码盘组件包括设在所述滑块上的主码盘及与所述主码盘相配合的游标码盘；

所述两个支撑杆中的其中一个支撑杆为活动支撑杆，该活动支撑杆能够沿其轴线方向上与所述滑块发生相对滑动，所述活动支撑杆上设有刻度标尺结构。

2.根据权利要求1所述的测量仪，其特征在于，还包括用于调节所述活动支撑杆与所述滑块发生相对位移的调节件，所述调节件套设于所述活动支撑杆上。

3.根据权利要求2所述的测量仪，其特征在于，所述刻度标尺结构为直线刻度标尺。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的测量仪，其特征在于，所述活动支撑杆归零时，所述两个支撑杆上与被测量表面接触的一端处于同一水平线。

5.根据权利要求1所述的测量仪，其特征在于，所述主码盘与所述游标码盘的0刻度线重合时，所述重合的0刻度线平行于所述两个支撑杆。

6.根据权利要求1或5其中一项所述的测量仪，其特征在于，所述码盘组件的测量精度为0.1°。

7.根据权利要求3所述的测量仪，其特征在于，所述活动支撑杆为活动螺杆，所述刻度标尺结构的测量精度为0.1mm。

8.根据权利要求7所述的测量仪，其特征在于，所述调节件为调节螺母，所述直线刻度标尺配合所述调节螺母的端面进行读数。

9.根据权利要求8所述的测量仪，其特征在于，所述活动螺杆上的螺纹间距为0.4mm，所述调节螺母每调整90°，所述滑块在所述活动螺杆上移动0.1mm。

10.根据权利要求1所述的测量仪，其特征在于，所述滑块上设有两个便于所述两个支撑杆分别套接的导轨。