TWM630874U - 時域型導波雷達物液位測量裝置 - Google Patents

Abstract

一種時域型導波雷達物液位測量裝置，包含一導波雷達物液位測量模組、一印刷電路板繞線延時結構及一探棒結構。該導波雷達物液位測量模組產生一導波雷達物液位測量訊號，並傳送該導波雷達物液位測量訊號至該印刷電路板繞線延時結構，接著該印刷電路板繞線延時結構傳送該導波雷達物液位測量訊號至該探棒結構以偵測物液位置，並將反射訊號依序照該探棒結構及該印刷電路板繞線延時結構的路徑，倒傳回該導波雷達物液位測量模組。

Description

時域型導波雷達物液位測量裝置

本創作係有關於一種物液位測量裝置，特別是一種時域型導波雷達物液位測量裝置。

相關技術之時域型導波雷達物液位測量裝置是依據時域反射原理（TDR）為基礎的雷達物液位測量裝置，其發出電磁脈衝以光速沿鋼纜或探棒傳播，當電磁脈衝遇到被測介質表面時，部分電磁脈衝會被反射形成回波，並沿著相反倒傳的路徑返回到脈衝發射裝置，而脈衝發射裝置與被測介質表面的距離係正比於電磁脈衝在脈衝發射裝置與被測介質表面之間的傳播時間，因此經計算脈衝發出的時間與接收到反射回波的時間差異，即可得到被測介質表面的物液位高度。

請參考圖6，其係為相關技術之時域型導波雷達物液位測量裝置20之方塊圖。相關技術之時域型導波雷達物液位測量裝置20包含一導波雷達物液位測量模組102及一探棒結構106；該導波雷達物液位測量模組102係電性連接至該探棒結構106。該導波雷達物液位測量模組102產生一導波雷達物液位測量訊號108，並傳送該導波雷達物液位測量訊號108至該探棒結構106，藉以測量被測介質表面（未示於圖6）的物液位高度。

相關技術之時域型導波雷達物液位測量裝置20會有測量上的盲距，也就是在該探棒結構106上靠近該導波雷達物液位測量模組102無法精準測量物液位高度的區域，其造成的原因是因為脈衝發出的時間與接收到反射回波的時間差異太短，即使使用最高速的運算能力電子元件亦無法即時計算，因而造成上端有一段無法解析的量測位置，稱為盲距。這個現象對於越短量程的環境越明顯，因為脈衝發出的時間與接收到反射回波的時間會越短。上述相關技術之時域型導波雷達物液位測量裝置20的盲距往往過大，限制了相關技術之時域型導波雷達物液位測量裝置20的使用範圍。

為解決上述問題，本創作之目的在於提供一種時域型導波雷達物液位測量裝置。

為達成本創作之上述目的，本創作之時域型導波雷達物液位測量裝置包含：一導波雷達物液位測量模組；一印刷電路板繞線延時結構，電性連接至該導波雷達物液位測量模組；及一探棒結構，電性連接至該導波雷達物液位測量模組及該印刷電路板繞線延時結構，其中，該導波雷達物液位測量模組產生一導波雷達物液位測量訊號，並傳送該導波雷達物液位測量訊號至該印刷電路板繞線延時結構，接著該印刷電路板繞線延時結構，傳送該導波雷達物液位測量訊號至該探棒結構以偵測物液位置，並將反射訊號依序照該探棒結構及該印刷電路板繞線延時結構的路徑，倒傳回該導波雷達物液位測量模組。

本創作之功效在於改善時域型導波雷達物液位測量裝置之盲距以增加時域型導波雷達物液位測量裝置之可用性。

為了能更進一步瞭解本創作為達成預定目的所採取之技術、手段及功效，請參閱以下有關本創作之詳細說明與附圖，相信本創作之目的、特徵與特點，當可由此得到深入且具體之瞭解，然而所附圖式僅提供參考與說明用，並非用來對本創作加以限制者。

在本揭露當中，提供了許多特定的細節，以提供對本創作之具體實施例之徹底瞭解；然而，本領域技術人員應當知曉，在沒有一個或更多個該些特定的細節的情況下，依然能實踐本創作；在其他情況下，則未顯示或描述眾所周知的細節以避免模糊了本創作之主要技術特徵。茲有關本創作之技術內容及詳細說明，配合圖式說明如下：

請參考圖1，其係為本創作之時域型導波雷達物液位測量裝置10之方塊圖。本創作之一種時域型導波雷達物液位測量裝置10包含一導波雷達物液位測量模組102、一印刷電路板繞線延時結構104及一探棒結構106，而該印刷電路板繞線延時結構104係電性連接至該導波雷達物液位測量模組102及該探棒結構106。

該導波雷達物液位測量模組102產生一導波雷達物液位測量訊號108，並傳送該導波雷達物液位測量訊號108至該印刷電路板繞線延時結構104，接著該印刷電路板繞線延時結構104傳送該導波雷達物液位測量訊號108至該探棒結構106以偵測物液位置（未示於圖1），並將反射訊號（未示於圖1）依序照該探棒結構106及該印刷電路板繞線延時結構104的路徑，倒傳回該導波雷達物液位測量模組102。

相較於如圖6所示的相關技術之時域型導波雷達物液位測量裝置20，由於本創作之該時域型導波雷達物液位測量裝置10增加了該印刷電路板繞線延時結構104以增加該導波雷達物液位測量訊號108自該導波雷達物液位測量模組102出發後的行走路徑長度，因此能使盲距遠離被測介質表面，藉以改善盲距。

請參考圖2，其係為本創作之時域型導波雷達物液位測量裝置10之分解側視圖；並請同時參考圖3，其係為本創作之時域型導波雷達物液位測量裝置10之第一實施例組合側視圖；圖2及圖3所示之元件與圖1所示之元件相同者，為簡潔因素，故於此不再贅述，並請同時參考圖1。本創作之該時域型導波雷達物液位測量裝置10更包含一上端連接器110、一下端連接器112、一下端殼體118及一上端殼體120，而該探棒結構106包含一訊號傳輸導線114及一探棒本體116。其中，為了表達該訊號傳輸導線114可具有不同繞法，因此圖2並未標示出該訊號傳輸導線114，而圖3標示出該訊號傳輸導線114。

該導波雷達物液位測量模組102、該上端連接器110、該印刷電路板繞線延時結構104、該下端連接器112、該探棒結構106及該訊號傳輸導線114係彼此電性連接，該上端連接器110係設置於該印刷電路板繞線延時結構104上，該導波雷達物液位測量模組102係插接至該上端連接器110，該下端連接器112係設置於該印刷電路板繞線延時結構104上，該探棒結構106係插接至該下端連接器112，該訊號傳輸導線114係以一纏繞角度α（0~60度間）纏繞在該探棒本體116上，該訊號傳輸導線114可以是以習知的軟性電路板線路或隔離訊號導線製成，包覆在該探棒本體116上以延遲訊號時間，提高產品測量物液位解析度。該下端殼體118係組裝至該探棒結構106，該上端殼體120係組裝至該下端殼體118，該導波雷達物液位測量模組102、該印刷電路板繞線延時結構104、該上端連接器110及該下端連接器112係設置在該下端殼體118及該上端殼體120內。

該導波雷達物液位測量模組102通過該上端連接器110傳送該導波雷達物液位測量訊號108至該印刷電路板繞線延時結構104；該印刷電路板繞線延時結構104通過該上端連接器110接收該導波雷達物液位測量訊號108，然後該印刷電路板繞線延時結構104通過該下端連接器112傳送該導波雷達物液位測量訊號108至該訊號傳輸導線114。其中，該印刷電路板繞線延時結構104為多層印刷電路板、3D結構線路、薄膜式高密度線路、軟性電路板或SIC等等設計，而該導波雷達物液位測量訊號108係為電磁波訊號，頻率範圍大於1 GHz。

圖3所示之該訊號傳輸導線114的該纏繞角度α為30度，然而本創作不以此為限，例如可為0~60度之間；例如，請參考圖4及圖5，其分別為本創作之時域型導波雷達物液位測量裝置10之第二及第三實施例組合側視圖，圖4及圖5所示之元件與圖3所示之元件相同者，為簡潔因素，故於此不再贅述，其中，圖4所示之該訊號傳輸導線114的該纏繞角度α為45度，而圖5所示之該訊號傳輸導線114的該纏繞角度α為60度。由圖3、圖4及圖5的該訊號傳輸導線114的該纏繞角度α可知，如果該纏繞角度α越小，則該訊號傳輸導線114越長，因此導波雷達脈衝與回波的行走路徑長度就越長，而如果導波雷達脈衝與回波的行走路徑長度越長，在相同的取樣率時，則可提高時域型導波雷達物液位測量裝置之解析度。

請參考圖7，其係為本創作之前述之該訊號傳輸導線114之一導線長度122、該纏繞角度α與一液位高度124之關係圖，其中該導線長度122為電磁波發射或反射時在該訊號傳輸導線114之實際行走路徑；由圖7可知上述三者存在以下關係式：sinα=(液位高度124)/(導線長度122)；再者，圖7亦顯示一底部長度126，其係為前述之該探棒本體116的圓周長的N倍，其中N為大於1之數字。

請復參考圖2及圖3，本創作主要是增加了該印刷電路板繞線延時結構104以改善盲距，而本創作亦可以螺旋式的該訊號傳輸導線114以提高解析度。本創作之該印刷電路板繞線延時結構104可搭配纏繞在該探棒本體116上的具有該纏繞角度α的該訊號傳輸導線114，進一步使得當進行短量程測量時，可得到高解析度訊號品質，並且可縮短物液位量程上端的不可測量區域（亦即，盲距）。

請參考圖8，其係為習知技術與本創作之訊號波形比較圖，並請同時參考圖2及圖3。在圖8當中，由上而下第一個波形顯示習知技術之原始導波雷達脈衝與回波，其具有一行走長度L；由上而下第二個波形顯示本創作具有該印刷電路板繞線延時結構104之導波雷達脈衝與回波，其具有一電路板延遲區間128；由上而下第三個波形顯示本創作具有該印刷電路板繞線延時結構104與螺旋型之該訊號傳輸導線114之導波雷達脈衝與回波，其除了具有該電路板延遲區間128之外，還具有兩倍的該行走長度L，其中該纏繞角度α為30度。

本創作之功效在於改善時域型導波雷達物液位測量裝置之盲距以增加時域型導波雷達物液位測量裝置之可用性。再者，本創作可提高時域型導波雷達物液位測量裝置之解析度。本創作也可用電線轉換成為螺旋式光纖（陀螺儀的繞線方法），可具有電磁屏蔽的優點（只有光訊號在RF板上，可降低干擾）。本創作利用螺旋式電性傳導路徑，使得訊號處理的速度可以跟上，解決了時域型雷達上方盲距大與解析度不足的問題，並可解決訊號處理無法即時的問題。

然以上所述者，僅為本創作之較佳實施例，當不能限定本創作實施之範圍，即凡依本創作請求項所作之均等變化與修飾等，皆應仍屬本創作之專利涵蓋範圍意圖保護之範疇。本創作還可有其它多種實施例，在不背離本創作精神及其實質的情況下，熟悉本領域的技術人員當可根據本創作作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變形都應屬於本創作所附的請求項的保護範圍。綜上所述，當知本創作已具有產業利用性、新穎性與進步性，又本創作之構造亦未曾見於同類產品及公開使用，完全符合新型專利申請要件，爰依專利法提出申請。

10:時域型導波雷達物液位測量裝置 20:相關技術之時域型導波雷達物液位測量裝置 102:導波雷達物液位測量模組 104:印刷電路板繞線延時結構 106:探棒結構 108:導波雷達物液位測量訊號 110:上端連接器 112:下端連接器 114:訊號傳輸導線 116:探棒本體 118:下端殼體 120:上端殼體 122:導線長度 124:液位高度 126:底部長度 128:電路板延遲區間 α:纏繞角度 L:行走長度

圖1為本創作之時域型導波雷達物液位測量裝置之方塊圖。

圖2為本創作之時域型導波雷達物液位測量裝置之分解側視圖。

圖3為本創作之時域型導波雷達物液位測量裝置之第一實施例組合側視圖。

圖4為本創作之時域型導波雷達物液位測量裝置之第二實施例組合側視圖。

圖5為本創作之時域型導波雷達物液位測量裝置之第三實施例組合側視圖。

圖6為相關技術之時域型導波雷達物液位測量裝置之方塊圖。

圖7為本創作之訊號傳輸導線之導線長度、纏繞角度與液位高度之關係圖。

圖8為習知技術與本創作之訊號波形比較圖。

10:時域型導波雷達物液位測量裝置

102:導波雷達物液位測量模組

104:印刷電路板繞線延時結構

106:探棒結構

108:導波雷達物液位測量訊號

Claims (6)

1. 一種時域型導波雷達物液位測量裝置，包含： 一導波雷達物液位測量模組； 一印刷電路板繞線延時結構，電性連接至該導波雷達物液位測量模組；及 一探棒結構，電性連接至該導波雷達物液位測量模組及該印刷電路板繞線延時結構， 其中，該導波雷達物液位測量模組產生一導波雷達物液位測量訊號，並傳送該導波雷達物液位測量訊號至該印刷電路板繞線延時結構，接著該印刷電路板繞線延時結構傳送該導波雷達物液位測量訊號至該探棒結構以偵測物液位置，並將反射訊號依序照該探棒結構及該印刷電路板繞線延時結構的路徑，倒傳回該導波雷達物液位測量模組。
2. 如請求項1所述之時域型導波雷達物液位測量裝置，其中，該印刷電路板繞線延時結構係為一多層印刷電路板、一3D結構線路或一薄膜式高密度線路。
3. 如請求項1所述之時域型導波雷達物液位測量裝置，其中，該導波雷達物液位測量訊號係為一電磁波訊號，頻率範圍大於1 GHz。
4. 如請求項1所述之時域型導波雷達物液位測量裝置，更包含： 一上端連接器，電性連接至該導波雷達物液位測量模組、該印刷電路板繞線延時結構及該探棒結構， 其中，該上端連接器係設置於該印刷電路板繞線延時結構上，該導波雷達物液位測量模組係插接至該上端連接器； 其中，該導波雷達物液位測量模組通過該上端連接器傳送該導波雷達物液位測量訊號至該印刷電路板繞線延時結構，該印刷電路板繞線延時結構通過該上端連接器接收該導波雷達物液位測量訊號。
5. 如請求項4所述之時域型導波雷達物液位測量裝置，更包含： 一下端連接器，電性連接至該導波雷達物液位測量模組、該印刷電路板繞線延時結構、該探棒結構及該上端連接器， 其中，該下端連接器係設置於該印刷電路板繞線延時結構上，該探棒結構係插接至該下端連接器。
6. 如請求項5所述之時域型導波雷達物液位測量裝置，其中，該探棒結構包含： 一訊號傳輸導線，電性連接至該導波雷達物液位測量模組、該印刷電路板繞線延時結構、該上端連接器及該下端連接器， 其中，該印刷電路板繞線延時結構通過該下端連接器傳送該導波雷達物液位測量訊號至該訊號傳輸導線； 其中，該訊號傳輸導線係以一纏繞角度0~60度間纏繞在該探棒本體上。

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