TWM591457U - 用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成 - Google Patents
用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成 Download PDFInfo
- Publication number
- TWM591457U TWM591457U TW108212696U TW108212696U TWM591457U TW M591457 U TWM591457 U TW M591457U TW 108212696 U TW108212696 U TW 108212696U TW 108212696 U TW108212696 U TW 108212696U TW M591457 U TWM591457 U TW M591457U
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- wire diameter
- test piece
- diameter detection
- detection test
- solvent tank
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
本新型用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成,其主要針對金屬線材裁剪後之線徑檢測試片進行拋光研磨處理,有利於進行後續的金相檢驗,而該電解線徑檢測試片研磨總成包含有電力供應源、電解加工機、清洗器及風乾裝置,其中,該電解加工機上包括有一溶劑槽,一容置於該溶劑槽內之電解液,以及一設於該溶劑槽一側之電極拋光器;是以,藉由將線徑檢測試片浸入於該溶劑槽內之該電解液中,並由該電極拋光器通電導通方式,以使該線徑檢測試片表面上的氧化層得以在電解過程中快速拋光研磨去除,達到現場快速完成拋光研磨作業,以利於立即進行金相檢驗,避免過多往返等待時間造成該線徑檢測試片產生變化。
Description
本創作係有關於一種拋光研磨機設計,特別是指一種用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成。
查,螺絲業界為使加工之線材符合規範標準,因此在買進加工之金屬線材時,均會針對該金屬線材之組織金相予以檢驗,亦即預先裁剪成數截該等金屬線材以形成供檢測用之該線徑檢測試片以便進行檢驗,藉以用證該金屬線材符合要求,但鑒於該等金屬線材表面受到外在環境的影響,使得該等金屬線材表面均會形成一層氧化層,故為求該等金屬線材得以進行金相檢驗,必須將該等金屬線材之表面的氧化層予以去除,而現行去除方式是採用機械加工所為之拋光處理方式,以使包覆於該等線徑檢測試片上之氧化層得以去除;惟,習知該線徑檢測試片雖可有效透過機械加工來完成該金屬線材表面之拋光作業進行,不過現行該拋光作業必須送廠外加工,鑒於該線徑檢測試片上所形成之氧化層會有深淺不一的情事,因此雖經拋光加工處理,但可能還是無法作為檢驗金相所需的表面使用,致使處理過之該等線徑檢測試片亦必須再於廠內外來來回回的反覆運送與處理後,方能加工至符合所需之要求,故作業上較為耗時外,並且再加上多次反覆的運送處理過程中,該等線徑檢測試片亦會受到外部環境影響而再度形成氧化現象,多少會影響金相檢驗之精準度,實有待改進。
因此,本新型之目的是在提供一種用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成,其能針對待檢驗之線徑檢測試片表面予以快速進行拋光研磨處理,大大縮短作業時間以避免待檢驗之線徑檢測試片產生氧化,以提昇金相檢驗之精準度。
於是,本新型一種用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成,其主要針對金屬線材裁剪後之線徑檢測試片表面進行拋光研磨處理,而該電解拋光研磨總成包含有一電力供應源,一與該電力供應源連接之電解加工機, 一清洗器及一風乾裝置;其中,該電解加工機上包括有一本體,一設於該本體上之溶劑槽,一容置於該溶劑槽內之電解液,以及一設於該溶劑槽一側之電極拋光器,而前述該溶劑槽上具有一可供該線徑檢測試片伸置於內之承置口,以及一開設於該承置口側邊可導引流出之電解液進入該溶劑槽內之導引口;另,該電極拋光器係與該電力供應源形成電性連接,而該電極拋光器具有一固設於該本體上且可調整高度之調整座,一設於該調整座上且相對該承置口之電極測頭,以及一設於該溶劑槽內相對該承置口處且恰可與該電極測探頭對應之電極導引件,以使該電力供應源產生之電力分別輸出至該電極測頭與該電極導引件上;因此,將裁剪之該線徑檢測試片進行拋光研磨處理作業時,將該線徑檢測試片伸置於該溶劑槽內並浸入到該電解液中,使伸置於該溶劑槽內之該線徑檢測試片之一端恰頂抵於該電極導引件上,並透過對應之該電極測頭頂掣位為該承置口處之該線徑檢測試片之另一端上,以使該電極測頭與該電極導引件產生導通,並透過該電解液為介質導引進而將該線徑檢測試片表面之氧化物予以快速拋光研磨去除,大大縮短該線徑檢測試片拋光去除之作業時間,且有效避免待檢驗之線徑檢測試片在拋光後的等待時間所可能產生氧化之缺失,有效提昇金相檢驗之精準度。
有關本新型之前述及其他技術內容、特點與功效,在以下配合參考圖式之較佳實施例的詳細說明中,將可清楚的明白。
參閱圖1,本新型之一較佳實施例,其主要針對金屬線材4裁剪為數段後之線徑檢測試片4進行拋光研磨處理,且可直接在實驗室進行該線徑檢測試片4檢測的前置作業之加工機構運用,該用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成3包含有一電力供應源31,一與該電力供應源31連接且接受該電力供應源31之電力啟動的電解加工機32、一清洗器33及一風乾裝置34(圖中以簡圖表示);其中,該電力供應源31係產生電力且連接至該電解加工機32上,而該電力供應源31包含有一機體310,以及分別設於該機體310內之電力源311與控制組312,而該控制組312與該電力源311連接且分別具有一電流調整器A及一電壓調整器B,且該電流調整器A與該電壓調整器B可調整該電力源311之電流、電壓向外輸出並與該電解加工機32連接,而前述該電流調整器A具有一與該電力源311連接以進行開啟與關閉之控制件A1,二分別與該控制件A1連接以針對該電力源311之電流的輸入與停止的啟動件A2及停止件A3,一可適當針對該電力源311之電流的強/弱切換的換選件A4,一與該換選件A4連接之電流表A5,以及一可針對該電流為自動/手動輸入之任意切換的切換件A6;另,該電壓調整器B為具有一控制該電力源311驅動之驅動開關B1,一調整該電力源311轉速之轉速開關B2,一可調整該電力源311之電壓輸出量之調整開關B3,一與該調整開關B3連接之電壓表B4,以及一可針對該電力源311的通電時間之指定的時間調整件B5,前述該調整開關B3可視該線徑檢測試片4種類的不同進行不同電壓量的輸出,並且更可通過該電壓表B4的輔助以將目前所設定之電壓量顯示出,以供操作者得以參考,同時更可對應不同金屬種類之該線徑檢測試片4,藉由該時間調整件B5來適當調整設定該電力源311的通電時間進行指定,使得設定時間一到,便會立即停止。
接續前述,該電解加工機32上包括有一本體320,一設於該本體320上之溶劑槽321,一容置於該溶劑槽321內之電解液322,以及一設於該溶劑槽321上之電極拋光器323:其中,該溶劑槽321上開設有一與該溶劑槽321之內部連通且可供該線徑檢測試片4伸置於內之承置口3211,以及一設於該承置口3211側邊與該溶劑槽321之內部連通之導引口3212,以使由該承置口3211伸置於該溶劑槽321內之該線徑檢測試片4得以與容置於內的電解液322接觸,而該導引口3212可導引流出於該承置口3211周圍之電解液322進入該溶劑槽321內部;另,該電解液322具有擴散與有效深入生成於該線徑檢測試片4表面上深淺不一的氧化層中,以提高導電效率;又,該電極拋光器323係得以接受該電力供應源31的驅動控制,而該電極拋光器323具有一固設於該本體320上且可調整高度之調整座3231,一設於該調整座3231上且相對該承置口3211之電極測頭3232,以及一設於該溶劑槽321內相對該承置口3211處且恰可與該電極測探頭3232對應之電極導引件3233,以使該電極測頭3232與該電極導引件3233產生導通,以對伸置於該溶劑槽321內之該線徑檢測試片4表面的氧化物予以拋光去除;至於,該清洗器33係設於該電解加工機32一側,其可針對經該電解加工機32所為電解拋光研磨後之該線徑檢測試片4進行清洗,而該清洗器33具有一可釋出水分之第一清洗單元331,以及一釋出含95%酒精之清洗液的第二清洗單元332所組成,而前述該第一清洗單元331釋出之水分可為純水,以針對該線徑檢測試片4表面進行清洗,同時該第二清洗單元332所釋出之95%酒精則可針為水分無法清洗處進行加強作用,同時殘留於上之95%酒精亦具有快速乾燥作用,最後該風乾裝置34可釋出一風力,通過該風力的吹送以加速清洗後之該線徑檢測試片4的乾燥,以利後續金相檢測之進行。
參閱圖2至圖3,首先,為有效精確檢測出欲進行加工之金屬線材4的金相是否一致,即針對該金屬線材4整體之前、中、後段處所裁剪數段中各擷取一段為線徑檢測試片4,同時再將該電解液322放入該溶劑槽321內後,便可將該線徑檢測試片4由該承置口3211伸置於該溶劑槽321內,以使該線徑檢測試片4完全沉浸於該電解液322中,這時伸入於該溶劑槽321內之該線徑檢測試片4的一端便會頂抵於該電極導引件3233上,而另一端便會呈部分凸顯於該承置口3211處,再調整該調整座3231的高度,使該電極測頭3232以輕觸頂掣在該承置口3211處之該線徑檢測試片4上,而後作動該控制件A1開啟以與該電力源311連接,且操作該切換件A6切換至自動位置處(當然若要自行控制通電時間,亦可操作該切換件A6切換至手動位置處,且自行依據所需通電時間自行手控方式來作動該啟動件A2與停止件A3來控制,以下係以該切換件A6切換至自動位置處為例說明),並依據該線徑檢測試片4的種類與線徑不同來作動該時間調整件B5,以對該電力源311的通電時間進行設定,即如目前所進行的該線徑檢測試片4只需設定啟動10秒後便停止,同時作動該換選件A4以將輸入之電流切換至強的位置處,同時作動該轉速開關B2以調整欲控制該電力源311的驅動轉速,這時該電力源311便會依據所控制調整之作動轉速進行驅動,且並針對該線徑檢測試片4的種類與線徑先行作動該調整開關B3來進行一步調整適當的電壓輸出量,再透過該電流表A5與該電壓表B4的配合顯示,以確實有效掌握目前的電流狀態,以及目前的電壓輸出狀態,如此便可作動該啟動件A2來進行電解加工拋光作業。
接續前述,此時該電力源311便會將經由前述該電流調整器A、電壓調整器B之調整後所產生之電力連經至該電極測頭3232與該電極導引件3233上產生導通,以對輕觸之該線徑檢測試片4處產生電壓的釋放,並透過該電解液322為介質導引的配合使該線徑檢測試片4表面之氧化物經由電解作用予以快速拋光研磨去除,同時該溶劑槽321內之該電解液322便會於電解的作動中形成不斷的波動,且會適當由該承置口3211處流出,以使凸伸於該承置口3211外之部分該線徑檢測試片4,同樣到該電解液322的導引而產生電解效果,這時流出於該承置口3211外之該電解液322便可經由該導引口3212導引回入至該溶劑槽321內,而該電力源311便會在指定時間到後就立即停止通電動作,此時再作動該換選件A4將輸入之電流切換至弱位置處,並進一步依據該線徑檢測試片4的種類與線徑不同來對該電力源311的通電時間進行調整設定,即如目前所進行的該線徑檢測試片4只需設定啟動2秒後便停止,如此便可使生成該線徑檢測試片4表面上的氧化層現象,於通電的過程中拋光研磨去除形成平整,完成後便可將該線徑檢測試片4取出,並移至該清洗器33處先經該第一清洗單元331所釋出的水分將該線徑檢測試片4上的該電解液322予以清洗去除後,再由該第二清洗單元332噴灑釋出具有95%酒精於上的清洗液,藉以針對水分無法清洗處達到加強清洗作用,以確保該線徑檢測試片4上不會有該電解液322的殘留,而後透過該風乾裝置34對應該線徑檢測試片4產生風力,利用風力的吹送可使該線徑檢測試片4上整體完全呈乾燥化,如此便可直接馬上進行該線徑檢測試片4的金相檢驗作業;是以,透過特殊調配之該電解液322為介質導引來與該電極拋光器323產生之電極相配合,有利提高導電效應以快速達到電解拋光的研磨效率,不但操作簡便且快速,且無需多道程序便能以一貫化的省時作業程序,在該線徑檢測試片4完成拋光研磨程序後的當下,便可直接進行金相檢測的進行,以免除運送廠內外加工後會因反覆運送過程中再度受外部環境影響與耗時等因素,而造成後續檢驗精準度會有誤差情事產生,同時更可針對不同該線徑檢測試片4的種類進行適當電流、電壓與通電時間的設定,使該線徑檢測試片4拋光研磨的效果大大有效提升,對於後續所進行的金相檢驗進行更有絕佳的助益。
歸納前述,本新型該用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成,藉由透過特殊調配之該電解液為介質導引來與電極拋光器323產生的電極相配合,有利提高導電效應以快速達到電解拋光的研磨效率,快速達到針對生成於線徑檢測試片表面上的氧化層進行拋光的去除與研磨的平整,大大利用電解加工的快速省時優勢來縮短以往由機械加工所形成耗時不便所會產生的缺失,當然同時更可針對不同金屬線材的種類不同以適當控制該電力源之電流、電壓與通電時間的設定,不但操作簡便且快速,且無需多道程序便能快速達到該線徑檢測試片之表面的拋光與研磨,有利馬上直接進行該線徑檢測試片的金相檢測,以免除廠內外加工後之運送往返的時間差而造成後續檢驗會有誤差情事產生,使該線徑檢測試片拋光研磨的效果大大有效提升,對於後續所進行的金相檢驗進行更有絕佳的助益。
惟以上所述者,僅為說明本新型之較佳實施例而已,當不能以此限定本新型實施之範圍,即大凡依本新型申請專利範圍及新型說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾,皆應仍屬本新型專利涵蓋之範圍內。
(本新型)
3:用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成
31:電力供應源
32:電解加工機
33:清洗器
34:風乾裝置
311:電力源
312:控制組
310:機體
321:溶劑槽
322:電解液
323:電極拋光器
320:本體
331:第一清洗單元
332:第二清洗單元
A:電流調整器
A1:控制件
A2:啟動件
A3:停止件
A4:換選件
A5:電流表
A6:切換件
B:電壓調整器
B1:驅動開關
B2:轉速開關
B3:調整開關
B4:電壓表
B5:時間調整件
3211:承置口
3212:導引口
3231:調整座
3232:電極測頭
3233:電極導引件
4:金屬線材(線徑檢測試片)
圖1是本新型之一較佳實施例之示意圖。
圖2是該較佳實施例之動作示意圖。
圖3是該較佳實施例之控制作動方塊圖。
3:用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成
31:電力供應源
32:電解加工機
33:清洗器
34:風乾裝置
311:電力源
312:控制組
310:機體
321:溶劑槽
322:電解液
323:電極拋光器
320:本體
331:第一清洗單元
332:第二清洗單元
A:電流調整器
A1:控制件
A2:啟動件
A3:停止件
A4:換選件
A5:電流表
A6:切換件
B:電壓調整器
B1:驅動開關
B2:轉速開關
B3:調整開關
B4:電壓表
B5:時間調整件
3211:承置口
3212:導引口
3231:調整座
3232:電極測頭
3233:電極導引件
4:金屬線材(線徑檢測試片)
Claims (4)
- 一種用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成,其針對金屬材質之線材取樣,且該金屬線材分成數段之線徑檢測試片,以待電解拋光研磨總成加工,而該電解拋光研磨總成加工包含有一電力供應源,一與該電力供應源連接且受該電力供應源啟動之電解加工機,一清洗器,以及一風乾裝置;其中,該電解加工機上包括有一本體,一設於該本體上之溶劑槽,一容置於該溶劑槽內之電解液,以及一設於該溶劑槽上之電極拋光器,而前述該溶劑槽上開設有一可供該線徑檢測試片伸置於內之承置口,以及一開設於該承置口側邊可導引流出之電解液進入該溶劑槽內之導引口,以使容置於該溶劑槽內之電解液得以與該線徑檢測試片接觸;又,該電極拋光器係係與該電力供應源形成電性連接,而該電極拋光器具有一固設於該本體上且可調整高度之調整座,一設於該調整座上且相對該承置口之電極測頭,以及一設於該溶劑槽內相對該承置口處且恰可與該電極測探頭對應之電極導引件,以使該電極測頭與該電極導引件產生導通,進而將該線徑檢測試片表面之氧化物予以拋光去除;另,該清洗器可針對經該電解加工機所為電解拋光研磨後之該線徑檢測試片進行清洗;又,該風乾裝置可釋出一風力,透過該風力的吹送以加速清洗後之該線徑檢測試片予以乾燥,以利後續金相檢測之進行。
- 根據申請專利範圍第1項所述用於線徑檢試片之電解拋光研磨總成,其中,該清洗器具有一可釋出水分之第一清洗單元,以及一可釋出含95%酒精之清洗液的第二清洗單元。
- 根據申請專利範圍第1項所述用於線徑檢試片之電解拋光研磨總成,其中,該電力供應源包含有一機體,以及分別設於機體內之電力源與控制組,而前述該控制組與該電力源連接且分別具有一電流調整器及一電壓調整器,而該電壓調整器與該電流調整器可調整該電力源之電流、電壓向外輸出且與該電解加工機連接。
- 根據申請專利範圍第3項所述用於線徑檢試片之電解拋光研磨總成,其中,該電流調整器具有一與該電力源連接以進行開啟與關閉之控制件,二分別與該控制件連接以針對該電力源之電流的輸入與停止的啟動件及停止件,一可適當針對輸入電流強/弱切換之換選件,一與該換選件連接之電流表,以及一可針對電流為自動/手動輸入之任意切換的切換件;另,該電壓調整器為具有一控制該電力源驅動之驅動開關,一調整該電力源轉速之轉速開關,一可調整該電力源之電壓輸出量之調整開關,一與該調整開關連接之電壓表,以及一可針對該電力源的通電時間之指定的時間調整件。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW108212696U TWM591457U (zh) | 2019-09-25 | 2019-09-25 | 用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW108212696U TWM591457U (zh) | 2019-09-25 | 2019-09-25 | 用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWM591457U true TWM591457U (zh) | 2020-03-01 |
Family
ID=70767889
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW108212696U TWM591457U (zh) | 2019-09-25 | 2019-09-25 | 用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWM591457U (zh) |
-
2019
- 2019-09-25 TW TW108212696U patent/TWM591457U/zh unknown
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2012068234A (ja) | 電気泳動装置、および電気泳動装置の制御方法 | |
JP3780226B2 (ja) | 電気泳動装置、及び電気泳動方法 | |
JP2012127943A (ja) | 重金属イオン測定方法及び重金属イオン測定装置 | |
TWM591457U (zh) | 用於線徑檢測試片之電解拋光研磨總成 | |
CN211013753U (zh) | 用于线径检测试片的电解抛光研磨总成 | |
JP5668128B2 (ja) | 洗浄用容器および臨床検査用分析装置 | |
JP4422658B2 (ja) | 液体分注装置 | |
CN111040942B (zh) | 基因测序装置和基因测序方法 | |
JP2012032350A (ja) | 分析装置 | |
JPS63196859A (ja) | 全自動溶出試験装置 | |
TH16896B (th) | ชุดประกอบสำหรับขัดด้วยอิเล็กโทรไลติก | |
CN208026631U (zh) | 一种便携式铀定量分析仪 | |
KR101993948B1 (ko) | 다종의 바이오 마커를 측정할 수 있는 프로브 및 이를 적용한 플랫폼 | |
KR100274221B1 (ko) | 웨이퍼 칩 검사용 탐침 가공방법 | |
JP3707496B2 (ja) | コイル傷検査装置、およびその方法 | |
JP2013178168A (ja) | 自動分析装置 | |
CN110398500A (zh) | 评价晶片清洗效率的方法及实验装置 | |
CN205384336U (zh) | 一种控制盒电性能测试装置 | |
JPH0827297B2 (ja) | プローブカード用プローブの洗浄液及びそれを用いた洗浄装置 | |
JPS621256Y2 (zh) | ||
JPH05322950A (ja) | 碍子汚損検出装置 | |
CN217465673U (zh) | 一种硅抛光片加工用表面检测装置 | |
JP3181688B2 (ja) | 電気泳動用検体塗布先の洗浄装置 | |
CN220552825U (zh) | 一种具有自动清洗排液功能的电位滴定仪 | |
JPH0875756A (ja) | ノズル洗浄装置およびそれを備えた分析機器 |