TWM566810U - Dual-use diamond detector - Google Patents

Abstract

一種兩用式鑽石檢測儀，其包含接觸式探頭，於接觸式探頭上設有觸發開關和探測端孔道，接觸式探頭內部設有至少一第一濾光元件、第二濾光元件和第三濾光元件，第二濾光元件設置於探測端孔道與第一濾光元件之間光路徑上的位置，第三濾光元件設置相對於第二濾光元件之光路徑上的位置；機台本體，於機台本體內部設有發光裝置和光譜儀裝置，機台本體上設有腔室，腔室一端接設有可開關的門體，以作為腔室的開啟或關閉；第一光纖，其一端穿設於機台本體內部並接設於發光裝置，第一光纖另一端穿設於接觸式探頭內部並設置相對於第一濾光元件之光路徑上的位置；第二光纖，其一端穿設於機台本體內部並接設於光譜儀裝置，第二光纖另一端穿設於接觸式探頭內部並設置相對於第三濾光元件之光路徑上的位置。俾可使本創作達到能分析裸石與鑲嵌好之鑽石(戒指與項鍊)，且能夠快速自動判別天然鑽石、合成鑽石以及仿鑽(非鑽石)，為一台使用簡單、分析快速、非破壞性且準確度高之儀器，予以達成功效。

Description

兩用式鑽石檢測儀

本創作係一種鑽石檢測儀，尤指一種兩用式鑽石檢測儀。

常見目前市面上除了天然鑽石之外，還有合成鑽石以及各種仿鑽，為了區分出天然鑽石，各家廠商、業者也發展出了許多鑑定儀器，這些機器、設備都是將樣品(需判定的鑽石)放在承載台或平台上，往往不適用於戒指或項鍊的檢測。是故，如何針對以上所論述之問題加以改進，即為本案申請人所欲解決之技術困難點所在。

有鑑於習用所述，因此本創作在於解決及改善習用所存在之問題與缺失為目的。

為了達成以上之目的，本創作提供一種兩用式鑽石檢測儀，其包含：一接觸式探頭，係於該接觸式探頭上設有一觸發開關和一探測端孔道，該探測端孔道上延伸設有一探測端，且該接觸式探頭內部設有至少一第一濾光元件、一第二濾光元件和一第三濾光元件，該第二濾光元件設置於該探測端孔道與第一濾光元件之間光路徑上的位置，且該第三濾光元件設置相對於該第二濾光元件之光路徑上的位置；一機台本體，係於該機台本體內部設有一發光裝置和一光譜儀裝置，且該機台本體上設有一腔 室，該腔室一端接設有一可開關的門體，以作為該腔室的開啟或關閉；一第一光纖，其一端穿設於該機台本體內部並接設於該發光裝置，且該第一光纖另一端穿設於該接觸式探頭內部並設置相對於該第一濾光元件之光路徑上的位置；一第二光纖，其一端穿設於該機台本體內部並接設於該光譜儀裝置，且該第二光纖另一端穿設於該接觸式探頭內部並設置相對於該第三濾光元件之光路徑上的位置。

其中該第一濾光元件為帶通濾光片，該第二濾光元件為截止濾光片，該第三濾光元件為反射鏡，又該發光裝置為雷射產生器。

因此，俾可使本創作達到能分析裸石與鑲嵌好之鑽石(戒指與項鍊)，且能夠快速自動判別天然鑽石、合成鑽石以及仿鑽(非鑽石)，為一台使用簡單、分析快速、非破壞性且準確度高之儀器，予以達成功效。

〔本創作〕

1‧‧‧接觸式探頭

11‧‧‧觸發開關

12‧‧‧探測端孔道

121‧‧‧探測端

13‧‧‧第一濾光元件

14‧‧‧第二濾光元件

15‧‧‧第三濾光元件

2‧‧‧機台本體

21‧‧‧發光裝置

22‧‧‧光譜儀裝置

23‧‧‧腔室

24‧‧‧門體

3‧‧‧第一光纖

31‧‧‧端

32‧‧‧端

4‧‧‧第二光纖

41‧‧‧端

42‧‧‧端

200‧‧‧裸石之鑽石

300‧‧‧戒指

301‧‧‧鑽石

400‧‧‧項鍊

401‧‧‧鑽石

第一圖係本創作較佳實施例之兩用式鑽石檢測儀的結構示意圖。

第二圖係本創作較佳實施例之用於檢測分析裸石之鑽石的動作原理示意圖。

第三圖係本創作較佳實施例之用於檢測分析戒指上之鑽石的動作原理示意圖。

第四圖係本創作較佳實施例之用於檢測分析項鍊上之鑽石的動作原理示意圖。

第五圖係本創作較佳實施例之檢測分析判定流程圖。

為了使 貴審查委員能清楚了解本創作之內容，係以下列實施例搭配圖式及符號加以說明，敬請參閱之。

請參閱第一圖所示，本創作提供一種兩用式鑽石檢測儀，其包含：一接觸式探頭1、一機台本體2、一第一光纖3和一第二光纖4。

其中，係於該接觸式探頭1上設有一觸發開關11和一探測端孔道12，該探測端孔道12上延伸設有一探測端121，且該接觸式探頭1內部設有兩個第一濾光元件13、一第二濾光元件14和一第三濾光元件15。本實施例中，該兩第一濾光元件13可為帶通濾光片(band pass filter)或其它可讓特定光學特性的光線穿透的光學元件，該第二濾光元件14可為截止濾光片(edge filter)或其它可讓特定光學特性的光線穿透或使其反射的光學元件，該截止濾光片可為將波長大於截止波長之光波濾除的低通截止濾光片(low pass edge filter)或將波長小於截止波長之光波濾除的高通截止濾光片(high pass edge filter)，又該第三濾光元件15可為反射鏡(mirror)，該第二濾光元件14設置於該探測端孔道12與該兩第一濾光元件13之間光路徑上的位置，且該第三濾光元件15設置相對於該第二濾光元件14之光路徑上的位置。

此外，係於該機台本體2內部設有一發光裝置21和一光譜儀裝置22，該發光裝置21或光譜儀裝置22可外接一電腦，且該發光裝置21可為雷射產生器。且該機台本體2上設有一腔室23，該腔室23一端接設有一可開關的門體24，以作為該腔室23的開啟或關閉，且腔室23可作為樣品室予以置放待測樣品，該發光裝置21電性連接該觸發開關11，該觸發開關11則連接至電源。

該第一光纖3其一端31穿設於該機台本體2內部並接設於該 發光裝置21，且該第一光纖3另一端32穿設於該接觸式探頭1內部並設置相對於該兩第一濾光元件13之光路徑上的位置。又該第二光纖4其一端41穿設於該機台本體2內部並接設於該光譜儀裝置22，且該第二光纖4另一端42穿設於該接觸式探頭1內部並設置相對於該第三濾光元件15之光路徑上的位置。本實施例中，該第一光纖3和第二光纖4可採用為純光纖芯線或光纖纜線。

因此，請繼續參閱第二圖所示，其中當欲進行檢測判定待測樣品之裸石之鑽石200，檢測時，可手握接觸式探頭1並按下觸發開關11，予以啟動發光裝置21，該發光裝置21為雷射產生器時，予以產生雷射光源並經由第一光纖3傳遞且投射至該兩第一濾光元件13，該兩第一濾光元件13為帶通濾光片時，可以濾除特定範圍波長之外的光線，再投射至該第二濾光元件14，以擷取特定波長的光線，該光線再經由探測端孔道12及探測端121投射至外部，故檢測使用時，使用者只需按下觸發開關11與接觸式探頭1的可攜式，讓檢測變的可行與簡易。

故請再配合參閱第五圖所示，其中當探測端121接觸裸石之鑽石200並按下觸發開關11，即有光線投射至裸石之鑽石200上。因此，藉裸石之鑽石200受激發產生之光線投射至第二濾光元件14進一步擷取精確且特定波長的光線，再投射至第三濾光元件15，該第三濾光元件15為反射鏡時，藉以將光線反射並經由第二光纖4傳遞且投射至光譜儀裝置22，該光譜儀裝置22進而將光線(光子資訊)依波長順序轉換為電訊號，再傳輸到電腦並形成光譜圖(拉曼光譜分析或螢光光譜分析)。

本實施例中，本創作藉分析樣品(裸石之鑽石200)光譜中的特徵峰(位置與強度)，藉以判定並區分天然鑽石、合成鑽石以及仿鑽。較佳 的，如第五圖所示，可優先收集光譜並建立資料庫以利進行電腦訊號處理之比對，加快檢測分析的速度，但不以此為限。

本創作進一步說明，當分析光譜圖中有429nm的波峰時，判定該待測樣品(裸石之鑽石200)是否為鑽石，但不區分是天然還是人造，反之則為其它特徵波峰的摩星石、剛玉及合成尖星石或其它仿鑽；當確定是鑽石樣品時則到下個階段，當分析光譜圖中有416nm的波峰時，則判定該裸石之鑽石200為天然鑽石，若無416nm的波峰時，且有737nm或883nm的波峰時，則判定該裸石之鑽石200為合成鑽石。

因此，請繼續參閱第二圖、第三圖和第四圖所示，其中讓使用者能針對各種尺寸之裸石之鑽石200或是已經鑲嵌好的鑽石(戒指300及鑽石301或項鍊400及鑽石401)進行分析。又為了避免光纖訊號產生干擾，因此將所有濾鏡與鏡組都置放在接觸式探頭1內部。在接觸式探頭1上方設置了一個觸發開關(trigger)11，當使用者按下，藉由本創作讓電腦即能開始進行分析及檢測。

故俾可使本創作達到能分析裸石與鑲嵌好之鑽石(戒指300與項鍊400)，且能夠快速自動判別天然鑽石、合成鑽石以及仿鑽(非鑽石)，為一台使用簡單、分析快速、非破壞性且準確度高之儀器，予以達成功效。

本創作進一步整理說明如下：

一、本創作可以針對裸石之鑽石200與已經鑲嵌好的鑽石(戒指300或項鍊400)進行分析及檢測。

二、本創作在室溫下就能運作，不需要冷卻待測樣品，就能有效且正確的區分天然鑽石、合成鑽石及仿鑽。

以上所論述者，僅為本創作較佳實施例而已，並非用以限定本創作實施之範圍；故在不脫離本創作之精神與範疇內所作之等效的形狀、構造或組合之變換，皆應涵蓋於本創作之申請專利範圍內。

Claims (5)

1. 一種兩用式鑽石檢測儀，其包含：一接觸式探頭，係於該接觸式探頭上設有一觸發開關和一探測端孔道，該探測端孔道上延伸設有一探測端，且該接觸式探頭內部設有至少一第一濾光元件、一第二濾光元件和一第三濾光元件，該第二濾光元件設置於該探測端孔道與第一濾光元件之間光路徑上的位置，且該第三濾光元件設置相對於該第二濾光元件之光路徑上的位置；一機台本體，係於該機台本體內部設有一發光裝置和一光譜儀裝置，且該機台本體上設有一腔室，該腔室一端接設有一可開關的門體，以作為該腔室的開啟或關閉；一第一光纖，其一端穿設於該機台本體內部並接設於該發光裝置，且該第一光纖另一端穿設於該接觸式探頭內部並設置相對於該第一濾光元件之光路徑上的位置；一第二光纖，其一端穿設於該機台本體內部並接設於該光譜儀裝置，且該第二光纖另一端穿設於該接觸式探頭內部並設置相對於該第三濾光元件之光路徑上的位置。
2. 如申請專利範圍第1項所述之兩用式鑽石檢測儀，其中該第一濾光元件為帶通濾光片。
3. 如申請專利範圍第1項所述之兩用式鑽石檢測儀，其中該第二濾光元件為截止濾光片。
4. 如申請專利範圍第1項所述之兩用式鑽石檢測儀，其中該第三濾光元件為反射鏡。
5. 如申請專利範圍第1項所述之兩用式鑽石檢測儀，其中該發光裝置為雷射產生器。