TWM566809U - Diamond powder strength measuring device - Google Patents

Abstract

一種鑽石粉強度量測裝置，其包含一機台本體，其內設有一發光裝置、一第一濾光元件、一第二濾光元件、一反射鏡、一第三濾光元件以及一光譜儀裝置；一光纖，一端與該機台本體相連接；一光纖探頭，連接於該光纖的另一端；一運算裝置，與該機台本體其光譜儀裝置電性連接。藉此，本創作即可實現自動化、非破壞性、分析快速且準確度高之鑽石粉強度檢測作業，而可大幅提升檢測效率與操作便利性，並可降低檢測之成本，進而可大幅提高本創作之實用性

Description

鑽石粉強度量測裝置

本創作係有關於一種鑽石粉強度量測設備。

按，鑽石粉在工業上有著廣泛的應用，舉例而言，其可被製作成拋光、研磨或切割等加工領域之相關用品或工具，像是研磨膏、精磨片、電鍍磨具、切削工具等等。由於鑽石粉中的雜質含量會影響其強度，而鑽石粉的強度則可能會影響或限制其用途及成本，因此，通常有必要對鑽石粉的強度進行檢測，已知的鑽石粉強度量測，通常是採用靜壓或衝擊韌性等物理量測之方式及相關的軟硬體設備，然而，這些方式需要消耗大量樣品，也較為費時且準確度較低，對使用者常造成不小的困擾。

因此，如何針對上述缺失加以改進，即為本案創作人欲解決之技術困難點所在。

有鑑於習知鑽石粉強度量測設備的上述問題，因此本創作之目的在於發展一種自動化、非破壞性、分析快速且準確度高之鑽石粉強度檢測儀器。

為達成以上之目的，本創作係提供一種鑽石粉強度量測裝置，包含：一機台本體，其內設有一發光裝置、一第一濾光元件、一第二 濾光元件、一反射鏡、一第三濾光元件以及一光譜儀裝置，該發光裝置、第一濾光元件以及第二濾光元件等三者係以一第一延伸方向依序排列設置，該反射鏡、第三濾光元件以及光譜儀裝置等三者則以一相反於該第一延伸方向的第二延伸方向依序排列設置，又該反射鏡也位於該第二濾光元件一側；一光纖，具有一第一端以及一相對的第二端，該第一端係與該機台本體相連接，且該第一端的位置與該第二濾光元件的位置相對應；一光纖探頭，係與該光纖的第二端相連接；一運算裝置，係與該機台本體的光譜儀裝置電性連接。

其中，該發光裝置能產生具有一第一波長的光訊號，且該第一波長為220nm、360nm、395nm、405nm、514nm、532nm或633nm。

進一步的，該第一濾光元件為帶通濾光片，用以使具有該第一波長的光訊號可以通過，同時並阻擋其他波長的光訊號。

進一步的，該第二濾光元件係用以使具有該第一波長的光訊號可以通過，同時並可反射其他波長的光訊號。

進一步的，該第三濾光元件為帶阻濾光片，用以阻擋具有該第一波長的光訊號，同時並使其他波長的光訊號通過。

藉此，本創作即可實現自動化、非破壞性、分析快速且準確度高之鑽石粉強度檢測作業，而可大幅提升檢測效率與操作便利性，並可降低檢測之(樣品消耗)成本，進而可大幅提高本創作之實用性。

1‧‧‧機台本體

11‧‧‧發光裝置

12‧‧‧第一濾光元件

13‧‧‧第二濾光元件

14‧‧‧反射鏡

15‧‧‧第三濾光元件

16‧‧‧光譜儀裝置

2‧‧‧光纖

21‧‧‧第一端

22‧‧‧第二端

3‧‧‧光纖探頭

4‧‧‧運算裝置

第一圖係本創作之一實施例的結構方塊示意圖。

第二圖係本創作之一實施例其發光裝置產生照射訊號的動作示意圖。

第三圖係本創作之一實施例其光譜儀裝置接收從樣品反射回來的樣品訊號之動作示意圖。

請參閱第一圖所示，係為本創作的鑽石粉強度量測裝置之一實施例的結構方塊示意圖，該鑽石粉強度量測裝置包含：一機台本體1，該機台本體1內設有一發光裝置11、一第一濾光元件12、一第二濾光元件13、一反射鏡14、一第三濾光元件15以及一光譜儀裝置16，其中，該發光裝置11、第一濾光元件12以及第二濾光元件13等三者係以一第一延伸方向依序排列設置，而該反射鏡14、第三濾光元件15以及光譜儀裝置16等三者則以一相反於該第一延伸方向的第二延伸方向依序排列設置，亦即，該第二延伸方向係平行於該第一延伸方向，又該反射鏡14也位於該第二濾光元件13一側。

其中，在本發明的一個實施例中，該發光裝置11可為雷射光源，用以產生具有一第一波長的雷射光，舉例而言，該第一波長具體可以是220nm(奈米)、360nm、395nm、405nm、514nm、532nm或633nm，惟實際上該第一波長並不以上述所列舉者為限，該第一濾光元件12可為帶通濾光片(band pass filter)，用以使具有該第一波長的雷射光可以通過，同時並阻擋其他波長的雷射光，該第二濾光元件13則用以使具有該第一波長的雷射光可以通過，同時並可反射其他波長的雷射光，該第三濾光元件15可為帶阻濾光片(band reject filter，又稱陷波濾光片)，用以阻擋具有該第一波長的雷射光，同時並使其他波長的雷射光可以通過，此外，該反射鏡14與光譜 儀裝置16的細部結構與動作原理均屬本領域的通常知識且非本案發明點所在，於此不再贅述。

一光纖2，該光纖2具有一第一端21以及一相對的第二端22，該第一端21係與該機台本體1相連接，且該第一端21的位置係與該第二濾光元件13的位置相對應。

一光纖探頭3，該光纖探頭3與該光纖2的第二端22相連接。

一運算裝置4，該運算裝置4與該機台本體1的光譜儀裝置16電性連接，該運算裝置4具體可為電腦。

以下說明本創作的工作原理：請參閱第二圖所示，一開始，該機台本體1的發光裝置11(如雷射光源)可發出一光源訊號，該光源訊號經過該第一濾光元件12的濾波後即成為僅保留該第一波長之測試訊號，接下來，該測試訊號即可依序通過該第二濾光元件13並由光纖2傳輸至該光纖探頭3，藉此，從而使該測試訊號由光纖探頭3射出並照射待測的樣品(即鑽石粉，圖未示)，接下來，請再參閱第三圖所示，照射到該樣品的測試訊號會反射而產生一樣品訊號，該樣品訊號可再由光纖2回傳至該第二濾光元件13，經由該第二濾光元件13及反射鏡14的反射後，再通過該第三濾光元件15而進入該光譜儀裝置16，該光譜儀裝置16進而將樣品訊號(光子資訊)依波長順序轉換為電訊號，再將電訊號傳輸到該運算裝置4以形成光譜圖，該運算裝置4即可透過分析由樣品訊號所產生之光譜圖中，鑽石的拉曼峰強度與雜質的螢光峰強度以及兩者的比例，進一步計算出鑽石粉(樣品)的強度資訊，從而使本創作可實現自動化量測鑽石粉強度之目的。

藉由上述結構，本創作即可實現自動化、非破壞性、分析快 速且準確度高之鑽石粉強度檢測作業，而可大幅提升檢測效率與操作便利性，並可降低檢測之(樣品消耗)成本，進而可大幅提高本創作之實用性。

以上所論述者，僅為本創作較佳實施例而已，並非用以限定本創作實施之範圍；故在不脫離本創作之精神與範疇內所作之等效的形狀、構造或組合之變換，皆應涵蓋於本創作之申請專利範圍內。

Claims (5)

1. 一種鑽石粉強度量測裝置，包含：一機台本體，其內設有一發光裝置、一第一濾光元件、一第二濾光元件、一反射鏡、一第三濾光元件以及一光譜儀裝置，該發光裝置、第一濾光元件以及第二濾光元件等三者係以一第一延伸方向依序排列設置，該反射鏡、第三濾光元件以及光譜儀裝置等三者則以一相反於該第一延伸方向的第二延伸方向依序排列設置，又該反射鏡也位於該第二濾光元件一側；一光纖，具有一第一端以及一相對的第二端，該第一端係與該機台本體相連接，且該第一端的位置與該第二濾光元件的位置相對應；一光纖探頭，係與該光纖的第二端相連接；一運算裝置，係與該機台本體的光譜儀裝置電性連接。
2. 如申請專利範圍第1項所述之鑽石粉強度量測裝置，其中該發光裝置能產生具有一第一波長的光訊號，且該第一波長為220nm、360nm、395nm、405nm、514nm、532nm或633nm。
3. 如申請專利範圍第2項所述之鑽石粉強度量測裝置，其中該第一濾光元件為帶通濾光片，用以使具有該第一波長的光訊號可以通過，同時並阻擋其他波長的光訊號。
4. 如申請專利範圍第3項所述之鑽石粉強度量測裝置，其中該第二濾光元件係用以使具有該第一波長的光訊號可以通過，同時並可反射其他波長的光訊號。
5. 如申請專利範圍第4項所述之鑽石粉強度量測裝置，其中該第三濾光元件為帶阻濾光片，用以阻擋具有該第一波長的光訊號，同時並使其他波長的光訊號通過。