TWM539049U - 六面檢查機 - Google Patents

六面檢查機 Download PDF

Info

Publication number
TWM539049U
TWM539049U TW105219389U TW105219389U TWM539049U TW M539049 U TWM539049 U TW M539049U TW 105219389 U TW105219389 U TW 105219389U TW 105219389 U TW105219389 U TW 105219389U TW M539049 U TWM539049 U TW M539049U
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
camera unit
disposed
imaging unit
bottom plate
unit
Prior art date
Application number
TW105219389U
Other languages
English (en)
Inventor
Yu-Fan Lin
Original Assignee
Jing Hung High Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jing Hung High Technology Co Ltd filed Critical Jing Hung High Technology Co Ltd
Priority to TW105219389U priority Critical patent/TWM539049U/zh
Publication of TWM539049U publication Critical patent/TWM539049U/zh

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

六面檢查機
本創作係一種六面檢查機,尤指一種具有以光學稜鏡作為反射功能的六面檢查機。
現有市面上提供的電子資訊產品,愈來愈多以輕薄短小為主要訴求,而這樣的需求進而使組成電子資訊產品的電子元件體積越來越小,而各式各樣體積越來越細小的電子元件互相組合,使電子元件需要更精準、更細微的平整表面,對於電子元件微型化的趨勢,在後端的檢測變得愈發困難,傳統的外觀檢測是使用人工,透過肉眼直接觀察或是透過顯微鏡或放大鏡觀察,這樣的檢驗因人工存在著許多不穩定的因素,造成電子元件檢測出錯、漏掉沒檢測到、檢測出來的品質不一致、檢測的效率低落,不能符合現代產業的要求,因此人工檢測勢必在工業化的進程中被機械檢測取代。
在目前產業用來檢測電子元件品質的機械多為六面檢查機,檢測者將電子元件放在一透明圓盤上,而該透明圓盤會帶著該電子元件旋轉經過六台具有感光耦合元件(Charge Coupled Device, CCD)攝像單元,該六台攝像單元圍繞該透明圓盤並分別固定在可以攝取到該電子元件的六個面影像的位置,該六台攝像單元因其固定的位置可以直接攝取到該電子元件的六個面的影像,該些影像資訊再經過電腦系統的比對檢測出合格與不合格的電子元件,之後透過一出料分類裝置做合格與不合格的電子元件的分類,能夠收集合格的電子元件用以出貨。
隨著電子元件越趨細小,檢測電子元件的六面檢查機也因空間限制,一部分攝像單元從各自固定的位置改由直立式攝像單元搭配一鏡子反射,該鏡子係以玻璃鍍銀可產生反射之效果並固定在該些直立式攝像單元攝像口的下方,以將影像反射進該些攝像單元內,六面檢查機的流程前段三台攝像單元維持固定位置,主要改由直立式攝像單元搭配鏡子反射的攝像單元為流程後段三台攝像單元,可配合鏡子反射取得待測電子元件的第四面、第五面及第六面,進而節省六面檢查機的機台空間。
然而,面對愈來愈微小的電子元件,檢測的精度愈來愈細,傳統的六面檢查機在攝像時,透過搭配鏡子反射的攝像單元攝取影像,這樣的方法在面對更細小的電子元件,會產生取得之影像的清晰度、精密度不夠的問題,且因該些攝取單元固定的位置,有些角度無法因應電子元件的細小化調整而無法拍攝到細微的電子元件的影像,因此,需要一個具有更精密且可以配合更細小電子元件調整角度的攝像單元的六面檢查機。
本創作的主要目的在於提供一種六面檢查機,藉以改善精密度不夠且無法因應電子元件細小化調整攝像角度的問題。
為達成前揭目的,本創作之六面檢查機包含: 一機台; 一檢查台,該檢查台設於該機台上包含一底板及一運輸裝置,該底板設於該機台上,該運輸裝置設於該底板之中央; 一攝像裝置,該攝像裝置設於該檢查台上並圍繞該運輸裝置,該攝像裝置包含一第一攝像單元、一第二攝像單元、一第三攝像單元、一第四攝像單元、一第五攝像單元及一第六攝像單元, 該第一攝像單元、該第二攝像單元、該第三攝像單元、該第四攝像單元、該第五攝像單元及該第六攝像單元皆設於該底板上並圍繞該運輸裝置,該第四攝像單元係包含一第一反射塊,該第五攝像單元係包含一第二反射塊,該第六攝像單元係包含一第三反射塊,該第一反射塊、該第二反射塊及該第三反射塊皆具有光學稜鏡。
上述之六面檢查機中,該第一攝像單元、該第二攝像單元、該第三攝像單元、該第四攝像單元、該第五攝像單元及該第六攝像單元皆包含一基架、一調整架及一攝像件,該些基架係可移動地設於該底板,該些調整架係可上下移動地設於該些基架,該些攝像件係固定於該些調整架上。
上述之六面檢查機中,該第四攝像單元、該第五攝像單元及該第六攝像單元皆包含一反射架及一光源盒,該反射架設於該對應的基架,該光源盒係可橫向移動地設於該反射架。
本創作六面檢查機係藉由光學稜鏡所組成的構件做反射,可提高反射影像的清晰度與精密度,可得到待測的電子元件更精密、更精細的側面,也可配合待測的電子元件調整所述基架前後移動、所述調整架上下移動、所述反射架上下移動、所述光源盒側向移動、該第一反射塊、該第二反射塊或該第三反射塊可轉動而調整角度,可因應電子元件細小化攝取不同角度的影像。
如圖1至圖3所示,係揭示本創作六面檢查機之較佳實施例,由圖式中可見,本創作六面檢查機包含一機台10、一檢查台20及一攝像裝置30。
該檢查台20設於該機台10上,該檢查台20包含一底板21及一運輸裝置22,該底板21設於該機台10上,該運輸裝置22係可旋轉地設於該底板21之中央,其中,該運輸裝置22係包含一旋轉盤221及一透明圓環222,該旋轉盤221係可旋轉地設於該機台10,該透明圓環222係固定地環設於該旋轉盤221外。
上述中,該檢查台20包含一入料裝置23及一出料裝置24,該入料裝置23設於該底板21並位於該運輸裝置22旁,該入料裝置23包含一支架231、一入料桶232、一滑板233、一振動器234及一入料軌235,該支架231設於該底板21上,該入料桶232設於該支架231上,該滑板233設於該支架231並位於入料桶232下方,該振動器234設於該底板21並位於該滑板233下方,該入料軌235連接該振動器234並該入料軌235的末端位於該運輸裝置22的該透明圓環222上,該出料裝置24設於該底板21並位於該運輸裝置22以及該入料裝置23旁邊,該出料裝置24包含一出料器241、至少一撥料件242及至少一出料盒243,該出料器241設於該底板21,所述撥料件242係可移動地設於該出料器241,並可受該出料器241控制移動所述撥料件242,所述出料盒243設於該底板21並對應所述撥料件242。
如圖2至圖4所示,該攝像裝置30設於該檢查台20上並圍繞該運輸裝置22,該攝像裝置30包含一第一攝像單元31、一第二攝像單元32、一第三攝像單元33、一第四攝像單元34、一第五攝像單元35及一第六攝像單元36, 該第一攝像單元31、該第二攝像單元32、該第三攝像單元33、該第四攝像單元34、該第五攝像單元35及該第六攝像單元36皆設於該底板21上並圍繞該運輸裝置22,該第四攝像單元34係包含一第一反射塊341,該第五攝像單元35係包含一第二反射塊351,該第六攝像單元36係包含一第三反射塊361,該第一反射塊341、該第二反射塊351及該第三反射塊361皆具有光學稜鏡。
如圖2、圖4及圖5所示,該第一攝像單元31、該第二攝像單元32、該第三攝像單元33、該第四攝像單元34、該第五攝像單元35及該第六攝像單元36皆包含一基架37、一調整架371及一攝像件372,該些基架37係可移動地設於該底板21,該些調整架371係可上下移動地設於該些基架37,該些攝像件372係固定於該些調整架371上,其中,該些攝像件372係可為電荷耦合元件所組成之構件。
如圖2、圖4及圖5所示,該第四攝像單元34、該第五攝像單元35及該第六攝像單元36皆包含一反射架38及一光源盒381,該反射架38設於對應的基架37,該光源盒381係可橫向移動地設於該反射架38。
如圖4至圖6所示,以調整該第四攝像單元34為例,可配合一待測物在該透明圓環222的位置,調整該第四攝像單元34的基架37靠近或遠離該透明圓環222,可配合欲取得之影像景深調整該第四攝像單元34的調整架371上下移動,將該調整架371上的攝像件372調整靠近或遠離該透明圓環222,可配合該待測物之高度調整該第四攝像單元34的反射架38靠近或遠離該透明圓環222,可配合該待測物的位置,調整該第四攝像單元34的光源盒381靠近或遠離該第四攝像單元34的基架37,或調整該第四攝像單元34的該第一反射塊341做90度的旋轉。
如圖7至圖9所示,為本創作六面檢查機之該第四攝像單元34、該第五攝像單元35及該第六攝像單元36之一較佳實施例,其中,如圖7所示之該第四攝像單元34,該第一反射塊341係較該第四攝像單元34的該光源盒381靠近該旋轉盤221,該第四攝像單元34的該攝像件372可攝取的影像,係透過該第一反射塊341的反射,使可攝取視角從該旋轉盤221看向該第四攝像單元34,如圖8所示之該第五攝像單元35,該第五攝像單元35的該光源盒381係較該第二反射塊351靠近該第四攝像單元34,該第五攝像單元35的該攝像件372可攝取的影像,係透過該第二反射塊351的反射,使可攝取視角從該第五攝像單元35看向該第四攝像單元34,如圖9所示之該第六攝像單元36,第六攝像單元36的該光源盒381係較該第三反射塊361靠近該出料裝置24,該第六攝像單元36的該攝像件372可攝取的影像,係透過該第三反射塊361的反射,使可攝取視角從該第六攝像單元36看向該出料裝置24。
如圖1所示,為本創作六面檢查機之一較佳實施例,使用者可透過該機台10上的一控制單元控制該六面檢查機,在操作之前先將標準的電子元件外觀影像輸入該六面檢查機的一檢測系統,如圖6所示,可開始操作該機台10上的該檢查台20,將複數個電子元件40放入該入料裝置23的該入料桶232,該些電子元件40會經過該入料桶232而滑至該滑板233,接著經由該滑板233的導引而滑進該振動器234,該振動器234係電性連接並受控於該控制單元,且透過該控制單元的控制,讓該振動器234振動並將該些電子元件40搖晃整齊,並呈現一排電子元件40的排列進入該入料軌235,該入料軌235的末端位於該運輸裝置22的該透明圓環222上,該些電子元件40依序排列地移動至該透明圓環222上,該運輸裝置22的該旋轉盤221係電性連接並受控於該控制單元控制產生逆時針旋轉,該旋轉盤221帶動該透明圓環222逆時針旋轉。
上述中,如圖2及圖3所示,該位於該透明圓環222上的電子元件40跟著該透明圓環222以該旋轉盤221為圓心做逆時針旋轉,該電子元件40首先經過該第一攝像單元31,該第一攝像單元31透過該攝像件372可攝取該電子元件40的頂面的影像,即攝取該電子元件40的第一面,該電子元件40持續以該旋轉盤221為圓心做逆時針旋轉,經過該第二攝像單元32時,該第二攝像單元32透過該攝像件372可攝取該電子元件40的底面的影像,即攝取該電子元件40的第二面,該電子元件40持續以該旋轉盤221為圓心做逆時針旋轉,經過該第三攝像單元33時,該第三攝像單元33透過該攝像件372可攝取該電子元件40的靠近該透明圓環222的側面的影像,即攝取該電子元件40的第三面。
上述中,如圖3及圖7所示,該電子元件40持續以該旋轉盤221為圓心做逆時針旋轉,會經過該第四攝像單元34,該第四攝像單元34透過該第一反射塊341使該攝像件372可攝取視角從該旋轉盤221看向該第四攝像單元34,該攝像件372可攝取該電子元件40的第四面的影像,該第四面即為靠近該旋轉盤221的側面。
上述中,如圖3及圖8所示,該電子元件40持續以該旋轉盤221為圓心做逆時針旋轉,經過該第五攝像單元35,該第五攝像單元35透過該第二反射塊351使該攝像件372可攝取視角從該第五攝像單元35看向該第四攝像單元34,該攝像件372可攝取該電子元件40的第五面的影像,該第五面即為距離該第四攝像單元34較遠的側面。
上述中,如圖3及圖9所示,該電子元件40持續以該旋轉盤221為圓心做逆時針旋轉,經過該第六攝像單元36,該第六攝像單元36透過該第三反射塊361使該攝像件372可攝取視角從該第六攝像單元36看向該出料裝置24,該攝像件372可攝取該電子元件40的第六面的影像,該第六面即為距離該出料裝置24較遠的側面,完成了該電子元件40六面的影像攝取。
上述中,如圖3及圖6所示,以上完成六面攝取的影像會進入該檢測程序,透過該些攝取的影像來判別該電子元件40是否符合標準的電子元件外觀影像,判別完後的該電子元件40會進入該出料裝置24,該出料裝置24係電性連接並受控於該控制單元,且透過該控制單元的控制,該出料裝置24的出料器241調整所述撥料件242的位置,所述撥料件242會移動直到擋住該些電子元件40,該些電子元件40會因撞上所述撥料件242而撥入出料盒243,而該出料器241會根據判別結果調整所述撥料件242移動,讓該些電子元件40被撥入標示合格的出料盒243或標示不合格的出料盒243。
本創作六面檢查機係藉由將該第四攝像單元至該第六攝像單元的反射塊以光學稜鏡做反射,得到待測的電子元件側面,該第一反射塊至該第三反射塊皆採用光學稜鏡,可提高反射影像的清晰度與精密度,且該第四攝像單元至該第六攝像單元可配合待測的電子元件調整所述基架37前後移動、所述調整架371上下移動、所述反射架38上下移動、所述光源盒381側向移動、該第一反射塊341、該第二反射塊351或該第三反射塊361可轉動而調整角度,因應電子元件的細小化,攝取任何細小電子元件的角度。
10‧‧‧機台
20‧‧‧檢查台
21‧‧‧底板
22‧‧‧運輸裝置
221‧‧‧旋轉盤
222‧‧‧透明圓環
23‧‧‧入料裝置
231‧‧‧支架
232‧‧‧入料桶
233‧‧‧滑板
234‧‧‧振動器
235‧‧‧入料軌
24‧‧‧出料裝置
241‧‧‧出料器
242‧‧‧撥料件
243‧‧‧出料盒
30‧‧‧攝像裝置
31‧‧‧第一攝像單元
32‧‧‧第二攝像單元
33‧‧‧第三攝像單元
34‧‧‧第四攝像單元
341‧‧‧第一反射塊
35‧‧‧第五攝像單元
351‧‧‧第二反射塊
36‧‧‧第六攝像單元
361‧‧‧第三反射塊
37‧‧‧基架
371‧‧‧調整架
372‧‧‧攝像件
38‧‧‧反射架
381‧‧‧光源盒
40‧‧‧電子元件
圖1:本創作六面檢查機之一較佳實施例之立體示意圖。 圖2:本創作六面檢查機之一較佳實施例之局部結構立體示意圖。 圖3:本創作六面檢查機之一較佳實施例之局部結構俯視示意圖。 圖4:本創作六面檢查機之一較佳實施例之局部結構調整狀態側視示意圖。 圖5:本創作六面檢查機之一較佳實施例之局部結構側視部分剖面示意圖。 圖6:本創作六面檢查機之一較佳實施例之之操作狀態立體示意圖。 圖7:本創作六面檢查機之一較佳實施例之第四攝像單元之操作狀態立體示意圖。 圖8:本創作六面檢查機之一較佳實施例之第五攝像單元之操作狀態立體示意圖。 圖9:本創作六面檢查機之一較佳實施例之第六攝像單元之操作狀態立體示意圖。
10‧‧‧機台
20‧‧‧檢查台
21‧‧‧底板
22‧‧‧運輸裝置
221‧‧‧旋轉盤
222‧‧‧透明圓環
23‧‧‧入料裝置
231‧‧‧支架
232‧‧‧入料桶
233‧‧‧滑板
234‧‧‧振動器
235‧‧‧入料軌
24‧‧‧出料裝置
241‧‧‧出料器
242‧‧‧撥料件
243‧‧‧出料盒
30‧‧‧攝像裝置
31‧‧‧第一攝像單元
34‧‧‧第四攝像單元
341‧‧‧第一反射塊
35‧‧‧第五攝像單元
351‧‧‧第二反射塊
36‧‧‧第六攝像單元
361‧‧‧第三反射塊
37‧‧‧基架
371‧‧‧調整架
372‧‧‧攝像件
38‧‧‧反射架
381‧‧‧光源盒

Claims (7)

  1. 一種六面檢查機,其包含: 一機台; 一檢查台,該檢查台設於該機台上並包含一底板及一運輸裝置,該底板設於該機台上,該運輸裝置係可旋轉地設於該底板之中央; 一攝像裝置,該攝像裝置設於該檢查台上並圍繞該運輸裝置,該攝像裝置包含一第一攝像單元、一第二攝像單元、一第三攝像單元、一第四攝像單元、一第五攝像單元及一第六攝像單元, 該第一攝像單元、該第二攝像單元、該第三攝像單元、該第四攝像單元、該第五攝像單元及該第六攝像單元皆設於該底板上並圍繞該運輸裝置,該第四攝像單元係包含一第一反射塊,該第五攝像單元係包含一第二反射塊,該第六攝像單元係包含一第三反射塊,該第一反射塊、該第二反射塊及該第三反射塊皆具有光學稜鏡。
  2. 如請求項1所述之六面檢查機,其中,該第一攝像單元、該第二攝像單元、該第三攝像單元、該第四攝像單元、該第五攝像單元及該第六攝像單元皆包含一基架、一調整架及一攝像件,該些基架係可移動地設於該底板,該些調整架係可上下移動地設於該些基架,該些攝像件係固定於該些調整架上。
  3. 如請求項2所述之六面檢查機,其中,該些攝像件係可為電荷耦合元件所組成之構件。
  4. 如請求項2所述之六面檢查機,其中,該第四攝像單元、該第五攝像單元及該第六攝像單元皆包含一反射架及一光源盒,該反射架設於該對應的基架,該光源盒係可橫向移動地設於該反射架。
  5. 如請求項3所述之六面檢查機,其中,該第四攝像單元、該第五攝像單元及該第六攝像單元皆包含一反射架及一光源盒,該反射架設於該對應的基架,該光源盒係可橫向移動地設於該反射架。
  6. 如請求項1至5中任一項所述之六面檢查機,其中,該運輸裝置係包含一旋轉盤及一透明圓環,該旋轉盤係可旋轉地設於該機台,該透明圓環係固定地環設於該旋轉盤外。
  7. 如請求項6所述之六面檢查機,其中,該檢查台包含一入料裝置及一出料裝置,該入料裝置設於該底板並位於該運輸裝置旁,該入料裝置包含一支架、一入料桶、一滑板、一振動器及一入料軌,該支架設於該底板上,該入料桶設於該支架上,該滑板設於該支架並位於入料桶下方,該振動器設於該底板並位於該滑板下方,該入料軌連接該振動器並該入料軌的末端位於該運輸裝置的該透明圓環上,該出料裝置設於該底板並位於該運輸裝置以及該入料裝置旁邊,該出料裝置包含一出料器、至少一撥料件及至少一出料盒,該出料器設於該底板,所述撥料件係可移動地設於該出料器並可受該出料器控制移動所述撥料件,所述出料盒設於該底板並對應所述撥料件。
TW105219389U 2016-12-21 2016-12-21 六面檢查機 TWM539049U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW105219389U TWM539049U (zh) 2016-12-21 2016-12-21 六面檢查機

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW105219389U TWM539049U (zh) 2016-12-21 2016-12-21 六面檢查機

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TWM539049U true TWM539049U (zh) 2017-04-01

Family

ID=59254800

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105219389U TWM539049U (zh) 2016-12-21 2016-12-21 六面檢查機

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWM539049U (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109283190A (zh) * 2018-11-01 2019-01-29 昆山市泽荀自动化科技有限公司 电子元器件检测设备
CN110006914A (zh) * 2019-05-09 2019-07-12 苏州誉阵自动化科技有限公司 贴片电感检测装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109283190A (zh) * 2018-11-01 2019-01-29 昆山市泽荀自动化科技有限公司 电子元器件检测设备
CN109283190B (zh) * 2018-11-01 2024-02-23 昆山市泽荀自动化科技有限公司 电子元器件检测设备
CN110006914A (zh) * 2019-05-09 2019-07-12 苏州誉阵自动化科技有限公司 贴片电感检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101067647B1 (ko) 정밀나사용 헤드 측면부의 크랙검사장치
CN109765242A (zh) 一种高检测效率高分辨率的光滑表面质量测量装置及方法
JPWO2007141857A1 (ja) 外観検査装置
JP5109633B2 (ja) 測定方法及び検査方法並びに測定装置及び検査装置
KR102246301B1 (ko) 외관 검사 장치
KR20150122634A (ko) 매트릭스 검사 타겟
US20170336316A1 (en) Device for characterizing a sample
TWM539049U (zh) 六面檢查機
WO2015174114A1 (ja) 基板検査装置
JP2005172608A (ja) 外観検査装置
JP2012083125A (ja) 端面検査装置
JP2018032005A (ja) オートフォーカスシステム、方法及び画像検査装置
KR100804415B1 (ko) 곡물용 색채 선별기
JP2012122753A (ja) レンズシートの欠陥検査装置、欠陥検査方法及び製造装置
KR102008224B1 (ko) 곡면 검사가 가능한 검사시스템
CN201629797U (zh) 一种宽光谱数码照相机
US10054535B2 (en) Method and device for determining the orientation of pigment particles over an extended region of an optically effect layer
TWM494301U (zh) 元件外表面檢驗裝置
CN212093282U (zh) 组装元件检测机
TWI532985B (zh) 光學特性測量裝置及方法
TWI529387B (zh) Optical detection device
KR102281289B1 (ko) 본딩된 반도체 다이들을 검사하기 위한 방법 및 장치
TWI808312B (zh) 組裝元件檢測機
CN106705840A (zh) 一种瓶胚尺寸快速测量装置
TW201641928A (zh) 物件檢測系統

Legal Events

Date Code Title Description
MM4K Annulment or lapse of a utility model due to non-payment of fees