TWM494846U - 元件外表面取像裝置及檢測機台 - Google Patents

Description

元件外表面取像裝置及檢測機台

本創作係關於一種元件外表面取像裝置，尤指一種可用於檢驗工件或緊固件等待測元件之外表面，可達到快速檢查並篩選符合標準的檢驗裝置。

諸如螺絲、螺帽、插銷或鉚釘等元件於工業上之應用範圍相當廣泛，舉凡機械、製造、電子、醫療或營建等各式產業均需大量採用所述元件。近年來，自動化生產線日漸興盛，加速了各式產業的產能，然而，在自動化生產線中，一旦上述元件存在瑕疵而導致生產流程中任一步驟無法進行，將直接造成整條生產線停擺，造成業者鉅額損失；甚或，終端客戶在使用上，會因為上述元件存在瑕疵，而導致無法彌補的損失，輕者機器設備運作停擺，重者危及人身生命安全。因此，自動化生產與精密科技的發展，使得業界對於所述元件的品質要求大幅提升。

為此，生產上述元件之廠商除了提升產品良率之外，也加強篩檢上述元件的瑕疵品，以確保交予客戶之產品瑕疵比例降到最低。以螺絲為例，傳統螺絲廠商主要仰賴人力進行產品檢驗，通常係透過肉眼辨識螺絲是否存在表面瑕疵。然而，肉眼辨識存在人為判斷 誤差的問題，其準確度早已不符合業界需求。況且，所述人力檢驗方式效率不彰，對於產量較大的廠商而言通常僅能對產品進行分批抽驗，無法確實對每一顆生產的螺絲進行檢驗，因此，產品瑕疵比例仍難以降低。

請參照第1圖，為一種習用取像裝置8，其具有一弧形凹面鏡81、一弧形凸面鏡82及一鏡頭83，該弧形凹面鏡81具有一容置空間811，可用以容納該弧形凸面鏡82，該鏡頭83對位於該弧形凸面鏡82之正上方，當一待測元件S通過該弧形凸面鏡82之正下方時，該待測元件S之外表面影像將反射至該弧形凹面鏡81上，再由該弧形凹面鏡81反射至該弧形凸面鏡82上，最後反射至該鏡頭83，使該鏡頭83拍攝取得該待測元件S之外表面影像。然而，該習用取像裝置8僅能用以檢測直徑為7mm至25mm、高度落於5mm至17.5mm之間的待測元件S，當該待測元件S之直徑或高度超出前述檢測條件時，該習用取像裝置8便無法對該等待測元件S取得完整影像，故該習用取像裝置8之檢測範圍的受限較多，在自動化篩選的流程中，亦會降低檢測效率。

請再參照第1圖中所示之箭頭，其係代表光線反射方向，該習用取像裝置8在取得該待測元件S的外表面影像時，必須利用二次反射，使該待測元件S將光線反射至該弧形凹面鏡81後，再由該弧形凹面鏡81反射至該弧形凸面鏡82，如此，光線反射次數至少二次，如此，將造成該鏡頭83所取得之影像解析度下降。

請參照第2至4圖，係中華民國專利公告第M370094號「物件外表面的取像裝置」專利案所揭示之另一種習用取像裝置9，用 於檢測一待測元件S之外表面，該待測元件S係經由一輸送帶96運送至該習用取像裝置9下方，該習用取像裝置9包含一光源91，將光線投射到該待測元件S；一第一反射單元92，位於該待測元件S之上方，並繞一中心軸線L而設置，該第一反射單元92包括至少一個界定出一第一光通空間921的第一反射鏡922，該第一反射鏡922具有一個朝向該第一光通空間的第一反射面923，該第一反射面923將該待測元件S反射而來的光線再度反射；一第二反射單元93，位於該第一反射單元92之上方，並繞該中心軸線L而設置，該第二反射單元93包括至少一個界定出一第二光通空間931的第二反射鏡932，該第二反射鏡932具有一個朝向該第二光通空間931的第二反射面933，該第二反射面933將該第一反射面923反射而來的光線再度反射；及一取像單元94，位於該第二反射單元93之上方，並擷取成像於該第二反射面933上的待測元件S之影像；其中，該光源91、該第一反射單元92、該第二反射單元93、該取像單元94皆設置於一支架95上，且該第一反射單元92、該第二反射單元93與該取像單元94係可活動地與該支架95結合。

然而，該習用取像裝置9在取得該待測元件S的外表面影像時，必須利用二次反射，使該待測元件S將光線反射至該第一反射單元92後，再由該第一反射單元92反射至該第二反射單元93，如此，光線反射次數至少二次，如此，將造成該取像單元94之解析度下降，據此，該習用取像裝置9仍有解析度下降的問題；再者，該習用取像裝置9亦無法適用於所有尺寸，該習用取像裝置9仍會因為待測元件S之尺寸不同而發生無法取像的限制。

有鑑於此，亟需提供一種進一步改良之元件外表面取像裝置，能夠應用於更多元尺寸的待測元件，據以檢驗該等待測元件之外表面瑕疵的裝置，確保廠商所生產之元件品質能夠符合業界日漸嚴苛的需求。

本創作之一目的係提供一種元件外表面取像裝置，藉由光學反射原理，在一次反射的條件下，能對更多元尺寸之待測元件進行360度外表面之檢測作業。

本創作之又一目的係提供一種元件外表面取像裝置，不需相對於該待測元件上下作動。

本創作之再一目的係提供一種元件外表面取像裝置，減少整體裝置之構件(例如：反射鏡)數量。

本創作之又一目的係提供一種包含前述之元件外表面取像裝置的檢測機台，對複數個待測元件進行自動化檢驗。

為達到前述創作目的，本創作所運用之技術手段及功效包含：一種元件外表面取像裝置，用以檢驗一待測元件之外表面，該元件外表面取像裝置包含：一取像模組，包含一調整座、一錐形反射鏡及一攝像單元，該錐形反射鏡及該攝像單元活動地結合於該調整座，該錐形反射鏡可將該待測元件之外表面成像，該攝像單元包含一攝影裝置，該攝影裝置連接一鏡頭，該鏡頭朝向該錐形反射鏡對焦；及一光源模組，用以提供光線至該待測元件之外表面。

本創作實施例之元件外表面取像裝置中，該錐形反射鏡 具有一反射面，該錐形反射鏡之兩端分別設有一第一開口與一第二開口，該反射面環繞形成一光通空間，該光通空間連通該第一開口與該第二開口；較佳地是，該錐形反射鏡之第一開口大於該第二開口。

本創作實施例之元件外表面取像裝置中，該錐形反射鏡具有一中心軸線，該反射面與該中心軸線之間具有一夾角，該夾角較佳為超過0度且45度以下的角度；更佳地是，該夾角15度至22.5度。

本創作實施例之元件外表面取像裝置中，該取像模組之調整座設有一第一軌道及一第二軌道，該第一軌道與一軸向方向平行，該第二軌道垂直於該軸向方向，且該第一軌道活動地設於該第二軌道上，該調整座上設有複數個支架，該複數個支架活動地結合於該第一軌道，該錐形反射鏡、該攝像單元及該光源模組分別活動地結合於該調整座之複數個支架。

本創作實施例之元件外表面取像裝置中，另包含一載台，該載台包含相互結合之一轉軸及一承載盤。

一種檢測機台，係用以檢驗數個待測元件之外表面，包含：一載台，具有一承置面，承置該待測元件，該載台將該待測元件輸送至一預定區域；一如前所述之元件外表面取像裝置；一送料裝置，將複數個待測元件置於該載台之承置面上；一運算裝置，將所述影像與資料庫之數據進行比對，得出一判定訊號；及一分料裝置，係依照該判定訊號，將該等待測元件分類成若干群組之裝置。

本創作實施例之檢測機台中，該取像模組之調整座設有一第一軌道及一第二軌道，該第一軌道與一軸向方向平行，該第二軌道垂直 於該軸向方向，且該第一軌道活動地設於該第二軌道上，該調整座上設有複數個支架，該複數個支架活動地結合於該第一軌道，該錐形反射鏡、該攝像單元及該光源模組分別活動地結合於該調整座之複數個支架。

本創作實施例之檢測機台中，該載台包含相互結合之一轉軸及一承載盤，該承載盤用以承置該待測元件，該轉軸之轉動可將該待測元件輸送至該預定區域。

本創作實施例之元件外表面取像裝置，藉由該錐形反射鏡設置於該待測元件與該攝像單元之間，於單一反射條件下，而可應用於多元尺寸的待測元件360度外表面的檢測，具有提升應用面及提昇影像品質之功效。

此外，應用本創作實施例之元件外表面取像裝置的外觀檢測機台，係可整合該送料裝置、該元件外表面取像裝置、該分料裝置及該運算裝置等，不僅可節省人力檢驗作業程序，還能於一自動化檢驗作業下，對一批待測元件完成一連貫檢驗作業，達到提高批次檢驗速率及檢驗準確率等功效。

1‧‧‧載台

11‧‧‧轉軸

12‧‧‧承載盤

121‧‧‧承置面

2‧‧‧取像模組

21‧‧‧調整座

211‧‧‧第一軌道

212‧‧‧第二軌道

213‧‧‧支架

213a‧‧‧第一支架

213b‧‧‧第二支架

213c‧‧‧第三支架

22‧‧‧錐型反射鏡

221‧‧‧反射面

222‧‧‧光通空間

223‧‧‧第一開口

224‧‧‧第二開口

23‧‧‧攝像單元

231‧‧‧攝影裝置

232‧‧‧鏡頭

3‧‧‧光源模組

4‧‧‧檢測機台

41‧‧‧送料裝置

42‧‧‧分料裝置

421‧‧‧第一分料道

422‧‧‧第二分料道

423‧‧‧二次檢驗道

8‧‧‧習用取像裝置

81‧‧‧弧形凹面鏡

811‧‧‧容置空間

82‧‧‧弧形凸面鏡

83‧‧‧鏡頭

9‧‧‧習用取像裝置

91‧‧‧光源

92‧‧‧第一反射單元

921‧‧‧第一光通空間

922‧‧‧第一反射鏡

923‧‧‧第一反射面

93‧‧‧第二反射單元

931‧‧‧第二光通空間

932‧‧‧第二反射鏡

933‧‧‧第二反射面

94‧‧‧取像單元

95‧‧‧支架

96‧‧‧運送帶

A‧‧‧預定區域

G‧‧‧間距

L‧‧‧中心軸線

P‧‧‧平面

S‧‧‧待測元件

X‧‧‧軸向方向

θ ‧‧‧角度

第1圖係一種習用取像裝置8之側視示意圖。

第2圖係一種習用取像裝置9之組合示意圖。

第3圖係一種習用取像裝置9之外觀示意圖。

第4圖係一種習用取像裝置9之側視示意圖。

第5圖係本創作較佳實施例之外觀示意圖。

第6圖係本創作較佳實施例之剖視示意圖。

第7圖係本創作較佳使用例之檢測機台之外觀示意圖。

第8圖係本創作較佳實施例所擷取一插銷360度外表面之影像。

為讓本創作之上述及其它目的、特徵及優點能更明顯易懂，下文特舉本創作之較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：請參照第5至7圖所示，係本創作較佳實施例之元件外表面取像裝置，包含一取像模組2及一光源模組3；本創作較佳實施例中，可另提供一載台1用以輸送一待測元件S至一預定區域A(如第7圖所示)，該載台1、該取像模組2及該光源模組3可以選擇共同設置於一平台P上。為便於說明該待測元件S與該取像模組2及該光源模組3之相對關係，後續以該載台1作為該待測元件S之運送機構，但不以此為限。

該載台1供承置並輸送一待測元件S至一預定區域A(如第6或7圖所示)，在本實施例中，該載台1包含相互結合之一轉軸11及一承載盤12。該轉軸11可以耦接一動力元件(圖未繪示)，以受該動力元件之驅動而旋轉，且該動力元件較佳驅動該轉軸11相對一軸向方向X樞轉，該軸向方向X較佳垂直於水平面。該承載盤12具有一承置面121可供承置該待測元件S；舉例而言，該承載盤12較佳可選擇由具透光性之材料所製成，例如玻璃、二氧化矽(SiO₂ ，俗稱石英)或聚甲基丙烯酸甲酯(Polymethylmethacrylate，縮寫為PMMA，俗稱壓克力)，使光線可經由該承載盤12之下方穿透。該承載盤12之中心係結合於該轉軸11，因 此可以隨著該轉軸11一併旋轉，使得該待測元件S隨著該承載盤12於垂直該軸向方向X之平面上移動，以輸送該待測元件S。惟，該載台1除了由所述轉軸11與承載盤12所構成外，亦可由其他習用輸送裝置(例如：輸送帶)取代，本創作並不以此為限。

該取像模組2設於該載台1之周圍，以取得該待測元件S之外表面影像，並記錄該影像。在本實施例中，該取像模組2包含一調整座21、一錐形反射鏡22及一攝像單元23。該調整座21用以支撐該錐形反射鏡22、該攝像單元23及該光源模組3；舉例而言，該調整座21設有一第一軌道211及一第二軌道212，該第一軌道211較佳與該軸向方向X平行，該第二軌道212較佳垂直於該軸向方向X，且該第一軌道211活動地設於該第二軌道212上，該調整座21上設有複數個支架213，該複數個支架213活動地結合於該第一軌道212。舉例而言，本實施例中，該取像模組2設有三個支架213，分別為第一支架213a、第二支架213b及第三支架213c，該攝像單元23結合於該第一支架213a，該錐形反射鏡22結合於該第二支架213b，以及該光源模組3結合於該第三支架213c，藉此可分別調整該錐形反射鏡22、該攝像單元23與該待測元件S之相對位置，以及該光源模組3與該待測元件S之相對位置，如此，可更有彈性地調整該錐形反射鏡22、該攝像單元23與該待測元件S之間的距離，達到提昇操作便利性之功效；本創作之取像模組2的支架213數量或者支架213上所結合之構件(該錐形反射鏡22、該攝像單元23或該光源模組3)皆可依使用者需求調整，本創作並不以上述為限。

該錐形反射鏡22可將該待測元件S之外表面成像。更詳言之，該錐形反射鏡22活動地結合於該調整座21。請參照第6圖，該錐形反射 鏡22具有一反射面221，該錐形反射鏡22之兩端分別設有一第一開口223與一第二開口224，該反射面221環繞形成一光通空間222，該光通空間222連通該第一開口223與該第二開口224，該第一開口223可選擇大於該第二開口224。此外，該錐形反射鏡22之第二開口224與該待測元件S之間具有一間距G，如此，本創作較佳實施例之該攝像單元23不僅可取得一次反射的影像，達到提高影像清晰度之功效之外，該錐形反射鏡22與該待測元件S之間還可保有適當的工作距離，確保該錐形反射鏡22的設置不會影響到該待測元件S的運送，達到便於操作及提高檢測效率之功效。為更易於說明，假想該錐形反射鏡22具有一中心軸線L，該反射面221與該中心軸線L之間具有一夾角θ，該夾角θ較佳為超過0度且45度以下的角度，更佳地，該夾角θ為15度至22.5度，更詳言之，當該夾角θ小於15度時，則該反射面221所成形之影像太過模糊，當該夾角θ大於22.5度時，則該錐形反射鏡22與該待測元件S之間距G太小，該錐形反射鏡22容易碰撞到該待測元件S；當該夾角θ為15度至22.5度，則該錐形反射鏡22之反射面221對該待測元件S之外表面成像時，不需要將該錐形反射鏡22相對於該待測元件S上下移動，具有提高整體檢測效率及提高影像品質之功效。

該攝像單元23用以拍攝該錐形反射鏡22所呈現之影像。更詳言之，該攝像單元23包含一攝影裝置231，該攝影裝置231連接一鏡頭232，該鏡頭232係朝向該錐形反射鏡22之反射面221處對焦，而獲得該待測元件S之360度外表面影像；更詳言之，藉由該鏡頭232取得反射面221的影像，由該攝影裝置231轉換成數位資料傳至一主機(圖未繪示)，並將該數位資料與一資料庫之設定參數比對，以判斷該待測元件S是否屬於瑕疵品，關於上 述鏡頭、攝影裝置及資料庫均為本創作所屬領域中具有通常知識者均能輕易理解之習知技術，容不贅述。

該光源模組3用以提供光線至該預定區域A，使該待測元件S可獲得光線，確保該攝影裝置231所獲得之影像可足以清晰辨識其瑕疵。更詳言之，該光源模組3活動地結合於該調整座21，該光源模組3可以選擇自該待測元件S之上方、下方或側面投射至該待測元件S之表面，更佳地是，該光源模組3較佳係自該待測元件S之下方投射至該待測元件S之表面，可節省元件外表面取像裝置之整體體積，亦可確保該攝影裝置231所取得的影像可清晰呈現該待測元件S之表面。舉例而言，該光源模組3可以選擇為光源產生器(例如：發光二極體光源)、或以光源產生器搭配導光器(例如：光纖)組成；更詳言之，該光源模組3之光源可以選擇為環形光源，均勻地朝向該待測元件S投射光線，係本創作所屬領域中具有通常知識者所能輕易理解實施。

本實施例中，前述該錐形反射鏡22、該攝像單元23或該光源模組3，較佳係可活動且可樞轉地與該調整座之支架213結合，以供使用者便於調整反射角度、光源投射路徑或影像投射路徑等，使該攝像單元23可取得清晰之反射影像。

請參照第7圖所示，本創作實施例之元件外表面取像裝置可用於檢測緊固件、醫療用品、電子元件或容器等物品的外表面檢驗，舉例而言，本創作實施例之元件外表面取像裝置實際使用於螺絲檢測時，可以裝設於一外觀檢測機台4上，該外觀檢測機台4另包含一送料裝置41(例如：震動盤)及一分料裝置42，經由該送料裝置41依 序將數個待測元件S置於該載台1之承置面121上，該載台1之轉軸11所耦接之動力元件較佳為伺服馬達(圖未繪示)，使該待測元件S經過該預定區域A之速度恒定，更佳地是，該伺服馬達配合一減速機，以確保該待測元件S之運送速度穩定；再者，該待測元件S到達該預定區域A之前，可另設置一偵測器(圖未繪示)，係可感測該待測元件S之移動位置，當偵測器偵測到待測元件S時，即可啟動該攝影裝置231取得該待測元件S之影像。

此時，該光源模組3朝向該預定區域A投射光線，當該待測元件S通過該預定區域A時，該待測元件S可將光線反射至該錐形反射鏡22，並於該錐形反射鏡22之反射面221上成像，該取像模組2之攝像單元23對該反射面221對焦，使該取像模組2之攝像單元23拍攝取得該待測元件S之360度外表面影像。

該攝像單元23拍攝取得該待測元件S之360度外表面之影像後，可以經由電腦或工作站等運算裝置(圖未繪示)，將所述影像與資料庫之數據進行比對，得出一判定訊號，依照該判定訊號，將該等待測元件分類成若干群組，舉例而言，判斷該待測元件S是否存在瑕疵。在本實施例當中，該待測元件S係為具有光滑表面之插銷，由該影像能夠有效檢驗該待測元件S之表面瑕疵，例如表面是否具有裂痕、缺口或刮傷等問題。

該外觀檢測機台4之分料裝置42可依據上述運算裝置之判定訊號，將該待測元件S分類成若干群組，舉例而言，該分料裝置42設有一第一分料道421(例如歸類為良品之通道)、一第二分料道422 (例如歸類為良品之通道)或二次檢驗道423(例如歸類為需要再次判定之待測元件)處，依照該判定訊號，可利用撥料件(圖未繪示)將該等待測元件S撥至適當位置，而完成該待測元件S之自動化判定作業，達到節省人力檢驗作業程序人力檢驗作業程序、提升篩檢速度及提高檢驗準確率等功效。

請參照第1表所示，為本創作較佳實施例與如第1圖所示之習用取像裝置8之檢測例列表，本檢驗例中，關於本創作較佳實施例之錐形反射鏡22，其第二開口224直徑選擇為30mm，夾角θ為18度。由本檢測例可知，本創作較佳實施例可檢驗之待測物件高度，可達到待測元件直徑的2.7倍以上，而習用取像裝置8僅可達到0.86倍左右，由此可知，本創作較佳實施例確實能夠應用於更多元尺寸的元件外表面檢測。

請參照第8圖，為前述檢測例中，本創作較佳實施例對具有光滑表面之插銷進行外表面取像之影像檔，經本創作較佳實施例進行外表面取像，如箭頭所指處可明顯辨別該插銷表面的文字，由此可知，本創作較佳實施例之元件外表面檢取像裝置，確實能夠有效地取得待測元件之360度外表面影像；若欲判斷待測元件是否存有表面瑕疵，亦可從影像中觀察 是否存有黑點，以判斷其是否為良品或不良品，將本創作應用在一檢測機台上，則可對複數個待測元件進行自動化篩檢，達到提高批次檢驗速率及檢驗準確率之功效。

綜上所述，本創作實施例之元件外表面取像裝置，藉由該錐形反射鏡設置於該待測元件與該攝像單元之間，於單一反射條件下，可應用於多元尺寸的待測元件之360度外表面的檢測，具有提升應用面及提昇影像品質等功效。

本創作實施例之元件外表面取像裝置之錐形反射鏡與該待測元件之間具有一間距，不需要上下作動即可進行待測元件360度外表面之檢測，具有提昇檢測效率之功效。

本創作實施例之元件外表面取像裝置係可經由該錐形反射鏡之反射面，於一次反射條件下，取得該待測元件之360度外表面的影像，如此，整體裝置的構件數量減少後，達到降低整體裝置之成本與簡化組裝步驟的功效。

應用本創作實施例之元件外表面取像裝置的檢測機台，係可整合該送料裝置、該元件外表面取像裝置、該分料裝置及該運算裝置等，不僅可節省人力檢驗作業程序，還能於一自動化檢驗作業下，對一批待測元件完成一連貫檢驗作業，達到提高批次檢驗速率及檢驗準確率等功效。

雖然本創作已利用上述較佳實施例揭示，然其並非用以限定本創作，任何熟習此技藝者在不脫離本創作之精神和範圍之內，相對上述實施例進行各種更動與修改仍屬本創作所保護之技術範疇， 因此本創作之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

2‧‧‧取像模組

21‧‧‧調整座

211‧‧‧第一軌道

212‧‧‧第二軌道

213a‧‧‧第一支架

213b‧‧‧第二支架

213c‧‧‧第三支架

22‧‧‧錐型反射鏡

221‧‧‧反射面

222‧‧‧光通空間

223‧‧‧第一開口

224‧‧‧第二開口

23‧‧‧攝像單元

231‧‧‧攝影裝置

232‧‧‧鏡頭

3‧‧‧光源模組

Claims (10)

1. 一種元件外表面取像裝置，用以檢驗一待測元件之外表面，該元件外表面取像裝置包含：一取像模組，包含一調整座、一錐形反射鏡及一攝像單元，該錐形反射鏡及該攝像單元活動地結合於該調整座，該錐形反射鏡可將該待測元件之外表面成像，該攝像單元包含一攝影裝置，該攝影裝置連接一鏡頭，該鏡頭朝向該錐形反射鏡對焦；及一光源模組，用以提供光線至該待測元件之外表面。
2. 如申請專利範圍第1項所述之元件外表面取像裝置，其中，該錐形反射鏡具有一反射面，該錐形反射鏡之兩端分別設有一第一開口與一第二開口，該反射面環繞形成一光通空間，該光通空間連通該第一開口與該第二開口。
3. 如申請專利範圍第2項所述之元件外表面取像裝置，其中，該錐形反射鏡之第一開口大於該第二開口。
4. 如申請專利範圍第2項所述之元件外表面取像裝置，其中，該錐形反射鏡具有一中心軸線，該反射面與該中心軸線之間具有一夾角，該夾角為超過0度且45度以下的角度。
5. 如申請專利範圍第4項所述之元件外表面取像裝置，其中，該錐形反射鏡之夾角為15至22.5度。
6. 如申請專利範圍第1至5項之任一項所述之元件外表面取像裝置，其中，該取像模組之調整座設有一第一軌道及一第二軌道，該第一軌道與一軸向方向平行，該第二軌道垂直於該軸向方向，且該第一軌道活動地設於該第二軌道上，該調整座上設有複數個支架，該複數個支架活動地結合於該第一軌道，該錐形反射鏡、該攝像單元及該光源模 組分別活動地結合於該調整座之複數個支架。
7. 如申請專利範圍第1至5項之任一項所述之元件外表面取像裝置，其中，該元件外表面取像裝置另包含一載台，該載台包含相互結合之一轉軸及一承載盤。
8. 一種檢測機台，係用以檢驗數個待測元件之外表面，包含：一載台，具有一承置面，承置該待測元件，該載台將該待測元件輸送至一預定區域；一如申請專利範圍第1至5項任一項所述之元件外表面取像裝置；一送料裝置，將複數個待測元件置於該載台之承置面上；一運算裝置，將所述影像與資料庫之數據進行比對，得出一判定訊號；及一分料裝置，係依照該判定訊號，將該等待測元件分類成若干群組之裝置。
9. 如申請專利範圍第8項所述之檢測機台，其中，該取像模組之調整座設有一第一軌道及一第二軌道，該第一軌道與一軸向方向平行，該第二軌道垂直於該軸向方向，且該第一軌道活動地設於該第二軌道上，該調整座上設有複數個支架，該複數個支架活動地結合於該第一軌道，該錐形反射鏡、該攝像單元及該光源模組分別活動地結合於該調整座之複數個支架。
10. 如申請專利範圍第8項所述之檢測機台，其中，該載台包含相互結合之一轉軸及一承載盤，該承載盤用以承置該待測元件，該轉軸之轉動可將該待測元件輸送至該預定區域。