TWM469488U - 測試機治具模組結構（一） - Google Patents

Description

測試機治具模組結構(一)

本創作係有關一種治具模組結構，特指一種能將機台之輸出入箱與測試模組的連接導通，藉由其套管層，而達成測試作業時不需使用連接線及安裝連接器，各種附加治具並可整合於機台其測試模組上共通使用之測試機治具模組結構(一)。

具有電路之電路板乃為當今任何電器或3C產品為了各種零組件安裝不可或缺之基板，一般之電路板其電路為了不同目的或節省電器或3C產品空間，其又分單面板、雙面板或多層板，當今為了測試電路板之電路是否有錯誤或瑕疵，一般都要與測試機其輸出入箱連接而作測試，又由於每一種電路板其電路之密度不同，其必須使用大量連接線，連接線大至上萬條或小至數百條，又習用品都無法共用使用，造成每一測試不同電路板之電路都要準備不同測試治具，每次測試又必須將輸出入箱其大量連接線與測試機之治具之牛角連接器其接點連接，除增加架設上之費用及時間，且容易造成連接線發生接錯，更造成測試之錯誤與風險，而連接線變更時，其需要插拔也容易造成連接器損壞，又連接線也會有一定使用時間更換，因此，整體維護成本相對較高，使得其在實用性上大打折扣，此乃為業者及消費者極欲突破之處，本創作人以此點為考量進行創作，終成一能將機台之輸出入箱與測試模組之套管連接，使用、安裝及維護上簡單容易，測試作業不需使用 連接線及安裝連接器，減少架設工時及成本，減少連接線造成之品質差異及插錯連接線錯誤之風險，而各種附加治具可以整合於機台其測試模組上共通使用並減低成本之測試機治具模組結構(一)。

為解決上述之現有技術不足之處，本創作主要目的在於提供一種測試機治具模組結構(一)，其能將機台之輸出入箱與測試模組之套管連接，使用、安裝及維護上簡單容易，以期克服現有技術中之難處。

本創作次要目的在於提供一種測試機治具模組結構(一)，其測試作業不需使用連接線及安裝連接器，減少架設工時及成本，減少連接線造成之品質差異及插錯連接線錯誤之風險。

本創作又一目的在於提供一種測試機治具模組結構(一)，其各種附加治具可以整合於機台其測試模組上共通使用，減低成本。

本創作所欲解決之問題，係由於具有電路之電路板，乃為當今任何電器或3C產品為了各種零組件安裝不可或缺之基板，一般之電路板其電路為了不同目的或節省電器或3C產品空間，其又分單面板、雙面板或多層板，當今為了測試電路板之電路是否有錯誤或瑕疵，一般都要與測試機其輸出入箱連接而作測試，又由於每一種電路板其電路之密度不同，其必須使用大量連接線，連接線大至上萬條或小至數百條，又習用品都無法共用使用，造成每一測試不同電路板之電路都要準備不同測試治具，每次測試又必須將輸出入箱其大量連接線與測試機之治具之牛角連接器其接點連接，除增加架設上之費用及時間，且容易造成連接線發生接錯，更造成測試之錯誤與風險，而連接線變更時，其需要插拔也容易造成連接器損壞，又連接線也 會有一定使用時間更換，因此，整體維護成本相對較高，使得其在實用性上大打折扣。

為達上述之目的，本創作係提供一種測試機治具模組結構(一)，尤指針對具有電路及測試點(PAD或孔)之電路板連接測試之用，其包括：一機台，係設有一台面且於其上方設有一升降裝置，而機台之上下方至少設有一輸出入箱(IO箱)；至少一測試模組，係設於機台其台面，其包含至少一套管層、至少一治具、至少一彈簧針；其中，該至少一套管層，係設於機台之台面，其內設有多數下穿孔，而該下穿孔內設有向下凸出之套管，該套管利用連接線與機台下方之輸出入箱(IO箱)連接；至少一治具，係設於套管層之上方，於其內設有多數之上穿孔，該上穿孔並設有向下凸出之外套管，而外套管係對應套設於套管層其套管內；至少一彈簧針，係設於治具之外套管，而該彈簧針上方設有頭部，且凸設於治具其外套管上方。

更進一步，本創作其機台之升降裝置下方更附設至少一測試模組並提供電路板兩面電路測試。

更進一步，本創作其測試模組之治具上方更設有附加治具，該附加治具於其上設有多數工具銷及治具針，並分別對應電路板之測試點(PAD或孔)及電路板其電路與彈簧針之頭部。

較佳者，本創作其附加治具係為專用治具(dedicated)或複合式治具或線針治具。

藉此模組，能將機台之輸出入箱與測試模組之套管連接，使用、安裝及維護上簡單容易，測試作業不需使用連接線及安裝連接器，減少架設工時及成本，減少連接線造成之品質差異及插錯連接線錯誤之風險，而各種附加治具可以整合於機台其測試模組上共通使用，減低成 本，符合進步、實用與使用者之所需，足見其增益之處。

100‧‧‧機台

101‧‧‧台面

102‧‧‧升降裝置

103‧‧‧輸出入箱(IO箱)

104‧‧‧連接線

1000‧‧‧測試模組

1‧‧‧套管層

11‧‧‧下穿孔

12‧‧‧套管

2‧‧‧治具

21‧‧‧上穿孔

22‧‧‧外套管

3‧‧‧彈簧針

31‧‧‧頭部

4‧‧‧附加治具

41‧‧‧工具銷

42‧‧‧治具針

5‧‧‧電路板

51‧‧‧孔

52‧‧‧電路

第一圖：為本創作之立體分解圖。

第二圖：為本創作之立體組合圖。

第三圖：為本創作之組合剖面圖。

第四圖：為本創作其附加治具為專用治具之實施例圖。

第五圖：為本創作其附加治具為複合式治具之實施例圖。

第六圖：為本創作其附加治具為線針治具之實施例圖。

為利 貴審查員瞭解本創作之創作特徵、內容與優點及其所能達成之功效，茲將本創作配合附圖，並以實施例之表達形式詳細說明如下，而於文中所使用之圖式，其主旨僅為示意及輔助說明書之用，未必為本創作實施後之真實比例與精準配置，故不應就所附之圖式的比例與配置關係侷限本創作於實際實施上的專利範圍，合先敘明。請參閱第一圖、第二圖、第三圖所示，係為本創作之立體分解圖、本創作之立體組合圖、本創作之組合剖面圖，本創作之測試機治具模組結構(一)尤指針對具有電路52及測試點(PAD或孔52)之電路板5連接測試之用，於一較佳之實施例中係包括有一機台100、至少一測試模組1000。

前述之一機台100，係設有一台面101且於其上方設有一升降裝置102，而機台100之上下方至少設有一輸出入箱(IO箱)103。

前述之至少一測試模組1000，係設於機台100其台面101，其包含至少一套管層1、至少一治具2、至少一彈簧針3、其中，該至少一套管層1，係設於機台100之台面101，其內設有多數下穿孔11，而該下穿孔11內設有向下凸出之套管12，該套管12利用連接線104與機台100 下方之輸出入箱(IO箱)103連接；更進一步，本創作其機台100之升降裝置102下方更附設至少一測試模組1000並提供電路板5兩面電路52測試；至少一治具2，係設於套管層1之上方，於其內設有多數之上穿孔21，該上穿孔21並設有向下凸出之外套管22，而外套管22係對應套設於套管層1其套管12內；至少一彈簧針3，係設於治具2之外套管22，而該彈簧針3上方設有頭部31，且凸設於治具2其外套管22上方。更進一步，本創作其治具上方更設有附加治具4，該附加治具4於其上設有多數工具銷41及治具針42，並分別對應電路板5之測試點(PAD或孔52)及電路板5其電路52與彈簧針3之頭部31，而本實施例該附加治具4為專用治具(dedicated)(如第四圖所示之本創作其附加治具為專用治具之實施例圖)或為複合式治具(如第五圖所示之本創作其附加治具為複合式治具之實施例圖)或為線針治具(如第六圖所示之本創作其附加治具為線針治具之實施例圖)。

本創作其測試電路板5之電路52時，由於設於機台100其台面101之測試模組1000之套管層1，其所設之套管12，因業已藉由連接線104將其與機台100之輸出入箱(IO箱)103連接，因此，只須將欲對應電路板5其電路52之治具2下方之外套管22直接套設套管層1之套管12內即可，而具有工具銷41及治具針42之附加治具4，則分別對應於電路板5之測試點(PDA或孔51)及連接於電路板5其電路52上，而治具針42下方則可直接置於治具2其上方彈簧針3之頭部31，利用機台100之升降裝置102下降接觸電路板5之上方即可。

藉此模組，能將機台100之輸出入箱(IO箱)103與測試模組1000之套管12連接，使用、安裝及維護上簡單容易，測試作業不需使用連接線104及安裝連接器， 減少架設工時及成本，減少連接線104造成之品質差異及插錯連接線104錯誤之風險，而各種附加治具4可以整合於機台100其測試模組1000上共通使用，減低成本，符合進步、實用與使用者之所需，足見其增益之處。減碳的效果，提升握持力，符合進步、實用與使用者之所需，足見其增益之處。

綜觀上述可知，本創作在突破先前之技術結構下，確實已達到所欲增進之功效，且也非熟悉該項技藝者所易於思及，再者，本創作申請前未曾公開，其所具之進步性、實用性，顯已符合創作專利之申請要件，爰依法提出創作申請，懇請 貴局核准本件創作專利申請案，以勵創作，至感德便。

以上所述之實施例僅係為說明本創作之技術思想及特點，其目的在使熟習此項技藝之人士能夠瞭解本創作之內容並據以實施，當不能以之限定本創作之專利範圍，即大凡依本創作所揭示之精神所作之均等變化或修飾，仍應涵蓋在本創作之專利範圍內。

100‧‧‧機台

101‧‧‧台面

102‧‧‧升降裝置

103‧‧‧輸出入箱(IO箱)

104‧‧‧連接線

1000‧‧‧測試模組

1‧‧‧套管層

11‧‧‧下穿孔

12‧‧‧套管

2‧‧‧治具

21‧‧‧上穿孔

22‧‧‧外套管

3‧‧‧彈簧針

31‧‧‧頭部

4‧‧‧附加治具

41‧‧‧工具銷

42‧‧‧治具針

5‧‧‧電路板

51‧‧‧孔

52‧‧‧電路

Claims (4)

1. 一種測試機治具模組結構(一)，尤指針對具有電路及測試點(PAD或孔)之電路板連接測試之用，其包括：一機台，係設有一台面且於其上方設有一升降裝置，而機台之上下方至少設有一輸出入箱(IO箱)；至少一測試模組，係設於機台其台面，其包含至少一套管層、至少一治具、至少一彈簧針；其中，該至少一套管層，係設於機台之台面，其內設有多數下穿孔，而該下穿孔內設有向下凸出之套管，該套管利用連接線與機台下方之輸出入箱(IO箱)連接；至少一治具，係設於套管層之上方，於其內設有多數之上穿孔，該上穿孔並設有向下凸出之外套管，而外套管係對應套設於套管層其套管內；至少一彈簧針，係設於治具之外套管，而該彈簧針上方設有頭部，且凸設於治具其外套管上方。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試機治具模組結構(一)，其中，機台之升降裝置下方更附設至少一測試模組並提供電路板兩面電路測試。
3. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之測試機治具模組結構(一)，其中，測試模組之治具上方更設有附加治具，該附加治具於其上設有多數工具銷及治具針，並分別對應電路板之測試點(PAD或孔)及電路板其電路與彈簧針之頭部。
4. 如申請專利範圍第3項所述之測試機治具模組結構(一)，其中，附加治具係為專用治具(dedicated)或複合式治具或線針治具。