TWM450729U - 缺陷檢測裝置及缺陷檢測系統 - Google Patents

Description

缺陷檢測裝置及缺陷檢測系統

本創作是有關於一種檢測裝置，且特別是有關於一種用以檢測電路板的缺陷檢測裝置及缺陷檢測系統。

缺陷檢測係可以減少導致產品效能缺陷的一個必要過程。例如對於較為精細之印刷電路板或晶片載板(IC carrier)而言，在製造過程時可能會在其表面或是內部產生缺陷，例如是粘附在表面的異物粒子、表面裂痕或是元件本身有異色的現象等，這些缺陷皆有可能會影響到上面所擺置之元件的電路特性。因此，通常針對印刷電路板或晶片載板等電路板元件而言，產品出廠前都必須經過一道可視性缺陷的檢查，以人力或是相關辦法來標註每一批產品中有哪些元件為不良的狀態。

就目前的缺陷檢測方式而言，一般是藉由檢測人員利用顯微鏡以目視的方式逐一檢查每一電路板是否有異常的狀態，並且以黑筆或筆刀對具有缺陷的電路板進行註記的方式來進行。此一檢測方式有許多技術上的缺點，例如：各個電路板的缺陷類型與數量須靠人員自行記錄，當電路板個數多時有誤記的風險；人員檢測中要進行缺陷註記時，必須將視線移離顯微鏡，並且在註記完成後再重新從顯微鏡的可視區域中尋找下一個電路板，使得作業時間加長，並且亦容易有誤記的狀況；無法得知檢測人員是否有對所有的電路板進行檢驗；以及，人員若畫記錯誤即無法 救回等。目前雖有利用其他機械技術來進行上述檢驗，但這些機械技術皆需耗費大量經費，並且部分技術仍然會發生上述問題，僅能減少檢驗人力的耗費。

本創作提供一種缺陷檢測裝置及缺陷檢測系統，其可有效地提升電路板檢測作業的效率及準確性。

本創作提出一種缺陷檢測裝置，其適於檢測多個待檢電路板。所述缺陷檢測裝置包括檢測平台、觸控面板以及標記模組。檢測平台包括檢測工具。檢測工具用以檢視各該待檢電路板的外觀狀態。觸控面板配置於檢測平台，其中所述多個待檢電路板以陣列方式排列並配置於觸控面板上，且分別對應於觸控面板的多個觸控區域。標記模組配置於檢測平台。標記模組經控制而觸碰觸控面板，且使觸控面板輸出被觸碰的觸控區域之其一的座標資訊以記錄座標資訊對應的各個待檢電路板。

在本創作一實施例中，缺陷檢測裝置更包括電腦裝置。電腦裝置耦接觸控面板以接收座標資訊，依據座標資訊而記錄對應於被觸碰的觸控區域的待檢電路板為具有缺陷的待檢電路板。

在本創作一實施例中，所述多個待檢電路板具有一對應的索引識別碼，且缺陷檢測裝置更包括識別碼讀取裝置。識別碼讀取裝置耦接電腦裝置，用以讀取索引識別碼，並且將索引識別碼輸入至電腦裝置，其中電腦裝置彙整索引識別碼以及所記錄的資訊，並據以產生所述多個待檢電 路板的檢測資料。

在本創作一實施例中，檢測平台更包括承載底座以及支撐部。承載底座具有承載面。支撐部配置於承載面上的周圍區域，其中觸控面板配置於支撐部上。

在本創作一實施例中，觸控面板具有相對的第一表面與第二表面，第一表面朝向檢測工具，且第二表面為觸碰面。

在本創作一實施例中，標記模組包括觸控媒介以及致動單元。觸控媒介配置於承載底座上並朝向觸控面板的第二表面，並且對齊檢測工具。致動單元耦接觸控媒介，依據標記指令而驅動觸控媒介觸碰觸控面板。

在本創作一實施例中，觸控面板沿第一平面滑設於支撐部，且觸控媒介與檢測工具固設於承載底座並且沿第一軸向相互對齊，其中第一軸向正交於第一平面。

在本創作一實施例中，觸控面板固設於支撐部，觸控媒介與檢測工具滑設於承載底座並且沿第一軸向相互對齊，其中第一軸向正交於觸控面板的第一表面和第二表面。

在本創作一實施例中，缺陷檢測裝置更包括聲控模組。聲控模組用以辨識聲音指令而控制缺陷檢測裝置的操作。

在本創作一實施例中，待檢電路板為印刷電路板或晶片載板(IC carrier)。

在本創作一實施例中，檢測工具為顯微鏡。

本創作提出一種缺陷檢測系統，包括缺陷檢測裝置、 資料庫裝置以及電腦裝置。缺陷檢測裝置用以檢測多個待檢電路板，且缺陷檢測裝置包括檢測平台、觸控面板以及標記模組。檢測平台包括檢測工具。檢測工具用以檢視各該待檢電路板的外觀狀態。觸控面板配置於檢測平台，其中所述多個待檢電路板以陣列方式排列並配置於觸控面板上，且分別對應於觸控面板的多個觸控區域。標記模組配置於檢測平台。標記模組經控制而觸碰觸控面板，且使觸控面板輸出被觸碰的觸控區域之其一的座標資訊以記錄座標資訊對應的各個待檢電路板。資料庫裝置用以儲存所述多個待檢電路板的檢測資料。電腦裝置耦接缺陷檢測裝置與資料庫裝置，用以依據座標資訊而記錄對應於被觸碰的觸控區域的待檢電路板為具有缺陷的待檢電路板，其中電腦裝置彙整所述多個待檢電路板所對應的索引識別碼以及所記錄的資訊，並據以產生檢測資料上傳至資料庫裝置。

基於上述，本創作實施例提出一種缺陷檢測裝置及缺陷檢測系統，所述缺陷檢測裝置可藉由觸控面板的觸控感測機制來進行標記具有缺陷的待檢電路板的動作，進而可降低缺陷檢測裝置的成本以及減少使用者作業負擔以提高檢測的效率及準確性。

為讓本創作之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1為本創作一實施例之缺陷檢測系統的示意圖。請參照圖1，缺陷檢測系統100包括缺陷檢測裝置110、電腦 裝置120以及資料庫裝置130。在本實施例中，缺陷檢測裝置110可用以檢測多個待檢電路板b_11~b_mn是否具有缺陷，其中各個待檢電路板b_11~b_mn例如為印刷電路板(printed circuit board，PCB)或晶片載板(IC carrier)，並且各個待檢電路板b_11~b_mn可以陣列方式配置於一承載基板10上，以便於缺陷檢測裝置110逐一檢測，其中m、n值為正整數且可依據設計需求而自行更動。

更進一步地說，缺陷檢測裝置110包括檢測平台112、觸控面板114以及標記模組116。檢測平台112可用以放置承載基板10，並且提供使用者檢測待檢電路板b_11~b_mn缺陷的介面。觸控面板114配置於檢測平台112，並且其位置係與承載基板10相對應。換言之，以陣列方式排列的待檢電路板b_11~b_mn會分別對應於觸控面板114的觸控區域。標記模組116配置於檢測平台112。標記模組116可經控制而觸碰觸控面板114，藉以使觸控面板輸出被觸碰的觸控區域之其一的座標資訊。因此，當使用者判斷某一特定的待檢電路板b_11~b_mn為具有缺陷的電路板時，其可透過控制標記模組116觸碰觸控面板112上對應於具有缺陷的電路板的觸控區域的方式，而發送對應的座標資訊至電腦裝置120。

電腦裝置120耦接缺陷檢測裝置110與資料庫裝置130，其中電腦裝置120可依據自缺陷檢測裝置110所接收的座標資訊而記錄對應於此座標資訊的待檢電路板b_11~b_mn為具有缺陷的待檢電路板。因此，電腦裝置120 可根據各個電路板b_11~b_mn的檢測結果而彙整關聯於承載基板10上之各個電路板b_11~b_mn的檢測資料並上傳至資料庫裝置130中，其中檢測資料可包括使用者的資料、檢測日期以及電路板b_11~b_mn的檢測結果與缺陷類型等等的資訊。資料庫裝置130則可用以儲存電腦裝置120所上傳的檢測資料。

當使用者欲查詢關聯於承載基板10上的電路板b_11~b_mn的檢測資料時，使用者可透過電腦裝置120從資料庫裝置130中下載相關的資料，或者利用外部電子裝置(例如筆記型電腦、智慧型手機或平板電腦等等)以有線或無線的方式連接資料庫裝置130來下載相關的資料加以檢視。透過此一數位化的記錄方式，使用者不僅可有效地控管檢測資料，亦可提升管控的便利性。

值得注意的是，在圖1實施例中，電腦裝置120雖係以一對一的方式來接收缺陷檢測裝置110所傳輸的座標資訊。但是，在其他實施例中，電腦裝置120亦可對應耦接於多台缺陷檢測裝置以同時或依序接收各台缺陷檢測裝置110所回傳的座標資訊，本創作不以此為限。

為了更進一步地說明本創作實施例，圖2為本創作另一實施例之缺陷檢測系統的示意圖。請參照圖2，缺陷檢測系統200包括缺陷檢測裝置210、電腦裝置220、資料庫裝置230、識別碼讀取裝置240以及聲控模組250。其中，電腦裝置220與資料庫裝置230與前述圖1實施例大致相同，故於相似或相同之處在此不多加贅述。

在缺陷檢測系統200中，識別碼讀取裝置240耦接電腦裝置220，其可讀取承載基板10上的索引識別碼ID，並且將索引識別碼ID輸入至電腦裝置220，使得電腦裝置220可彙整索引識別碼ID以及根據缺陷檢測裝置210的檢測結果所記錄的資訊而據以產生檢測資料D。其中，所述之索引識別碼ID例如為二維條碼(2D Barcode)，其可預先設置於每一承載基板上，以使電腦裝置220辨識不同承載基板上的待檢電路板。

此外，在缺陷檢測系統200中，聲控模組250可用以辨識聲音指令而控制缺陷檢測裝置210的操作。相較於一般必須透過手動控制的人機介面(例如滑鼠、鍵盤等)，使用者透過聲控模組250下達聲音指令的方式來操控缺陷檢測裝置210，可進一步地降低手動操作的錯誤率。

圖3為本創作一實施例之缺陷檢測裝置的剖面結構圖。其中，圖3所繪示的缺陷檢測裝置210係圖2的缺陷檢測裝置210沿著A至A’的軸向上的剖面結構。

請同時參照圖2與圖3，缺陷檢測裝置210包括檢測平台212、觸控面板214以及標記模組216。檢測平台212包括承載底座212a、支撐部216b以及檢測工具216c。支撐部216b配置於承載底座216a上。承載底座212a具有承載面LS。支撐部212b配置於承載面LS上的周圍區域，其中觸控面板214配置於支撐部212b上。檢測工具216c例如為顯微鏡，其可用以觀察各個待檢電路板b_11~b_mn的外觀狀態，並藉以判斷待檢電路板b_11~b_mn是否具有 如異色或受損等會影響其電路特性的缺陷。

觸控面板214具有相對的第一表面S1與第二表面。第一表面S1朝向檢測工具212C，且第二表面S2為觸碰面。其中，以陣列方式排列的待檢電路板b_11~b_mn配置於第一表面S1上，且分別對應於第二表面S2上的多個觸控區域。所述觸控面板214可根據設計需求而為電阻式或電容式的觸控面板，本創作不以此為限。

標記模組216包括觸控媒介216a以及致動單元216b。觸控媒介216a配置於承載底座216a上並朝向觸控面板214的第二表面S2，並且對齊檢測工具212c。致動單元216b耦接觸控媒介216a。致動單元216b可依據所接收的標記指令而驅動觸控媒介216a觸碰觸控面板214的第二表面S2，使得觸控面板214據以輸出對應的座標資訊C。其中，致動單元216b所接收的標記指令可由使用者透過外部的控制裝置(例如按鈕)來發送或透過電腦裝置220的人機介面(例如滑鼠、鍵盤)來發送。此外，使用者亦可透過發出聲音指令，並經由聲控模組250以聲控的方式令電腦裝置220來發送標記指令至致動單元216b。換言之，本創作並未限定下達標記指令的方式，藉由上述任一方式皆可對標記模組216的致動單元216b來下達標記指令。

詳細而言，為了令使用者可準確地標記所觀察到具有缺陷的電路板，因此在本實施例中，觸控媒介216a係以對齊檢測工具212c方式配置。換言之，當使用者透過檢測工具212c觀察待檢電路板b_11~b_mn時，使用者可視區域 的正中央位置即對應於觸控媒介216a的位置，藉以確保下達標記指令時，所標記的待檢電路板係為在可視區域中之正中間的電路板。

此外，缺陷檢測裝置210可根據檢測工具212c與觸控面板214間的相對動作不同而具有不同的配置方式。

舉例來說，在一實施例中，觸控面板214可沿著第一平面(例如與承載面LS平行的平面)滑設於支撐部212b，其中承載基板10係固定於觸控面板214上，亦即承載基板10於觸控面板214滑動時不會產生與觸控面板214間相對位移，藉以確保觸控面板214所輸出之座標資訊的準確性。

觸控媒介216a與檢測工具212c則固設於承載底座212a並且沿著第一軸向d1相互對齊，其中第一軸向d1正交於第一平面，使得使用者觀測待檢電路板b_11~b_mn時不會因為觀測的角度差而誤判。換言之，在此實施例中，使用者同樣地可透過手動的方式，或者透過電腦裝置220自動控制地方式來移動觸控面板214，以將欲檢測的待檢電路板b_11~b_mn移至檢測工具212c的可視區域，藉以逐一地觀察並決定是否標記對應的待檢電路板b_11~b_mn。其中，為了觸控面板214移動的穩定性，支撐部212b可設置有用以穩定觸控面板214的移動機構，但本發明不以此為限。

在另一實施例中，觸控面板214可固設於支撐部212b，而觸控媒介216a與檢測工具212c則可沿著第一平面(例如與承載面LS平行的平面)滑設於承載底座212a 並且沿第一軸向d1相互對齊，其中第一軸向d1正交於第一平面。換言之，在此實施例中，使用者同樣地可透過手動的方式，或者透過電腦裝置220自動控制地方式來移動檢測工具212a，以將檢測工具212c的可視區域移至欲檢測的待檢電路板b_11~b_mn的位置上，藉以觀察並決定是否標記對應的待檢電路板b_11~b_mn，其中觸控媒介216a會伴隨著檢測工具212c而移動，以對齊檢測工具212c。

在又一實施例中，觸控面板214、檢測工具212c及觸控媒介216a可同時皆以滑設的方式配置，亦即使用者可依據需求而選擇以移動檢測工具212c與觸控面板214至少其一的方式來檢測待檢電路板b_11~b_mn，其中觸控媒介216a同樣地會伴隨著檢測工具212c而移動，以維持於第一軸向d1上來對齊檢測工具212c。

由此可知，本創作可藉由上述實施例中的任一配置方式來實現逐一檢測並標記待檢電路板的功能，而並不限定必須以檢測工具212c、觸控媒介216a以及觸控面板214之間的相對配置方式。

更進一步地說，在傳統的缺陷檢測裝置中，若是使用者透過顯微鏡的顯示區域觀察到待檢電路板具有缺陷時，使用者必須將視線移開顯微鏡並且直接觀視待檢電路板的位置來進行標記的動作(例如用筆刀劃記或者透過電腦裝置選取對應的待檢電路板的位置)。由於觀看視野的轉換，使用者會較容易產生標記錯誤的狀況。相較於傳統的缺陷檢測裝置，本實施例之缺陷檢測裝置210的使用者在進行 檢測時，其可在視線不需離開檢測工具212c的狀況下對所視之待檢電路板b_11~b_mn進行標記的動作，因此可大幅地降低使用者標記錯誤的機會。

此外，缺陷檢測系統200的控制機制及缺陷檢測裝置210的錯誤偵測回報等功能皆可透過軟體控制的方式來實現。例如，當檢測的過程中，觸控媒介216a同時觸碰到兩個觸控區域而使觸控面板發出對應的座標資訊時，電腦裝置220會根據所接收的座標資訊而回報此次標記為無效動作的提示訊息，以令使用者重新進行標記。又例如，當觸控媒介216a所觸碰的觸控區域未對應任何待檢電路板b_11~b_mn時，電腦裝置220可回報超出檢測範圍的提示訊息。

具體而言，當使用者欲對承載基板10上的待檢電路板b_11~b_mn進行檢測時，首先使用者可透過識別碼讀取裝置240來讀取承載基板10的索引識別碼ID，並且輸入至電腦裝置220中，此時電腦裝置可根據索引識別碼ID而讀取承載基板10上的各個待檢電路板b_11~b_mn的基本資料，例如待檢電路板b_11~b_mn的個數及其在承載基板10上的排列方式和排列間隔等。

接著，使用者可將承載基板10放置於觸控面板214的第一表面S1上，使得缺陷檢測裝置210可根據承載基板10的位置進行定位，藉以校正觸控面板214與電腦裝置220，使得觸控面板214的各個觸控區域可準確地對應至各個待檢電路板b_11~b_mn，並且確認電腦裝置所接收的座 標資訊符合實際的待檢電路板b_11~b_mn的位置。舉例來說，所述之進行定位的方式可藉由將承載基板10放置在預設的檢測區域內，並且操作標記模組216觸碰觸控面板214對應於承載基板10的四個角落的方式來定位承載基板10及其上之各個待檢電路板b_11~b_mn的位置。然而，此一定位方式僅為示例，本創作不僅限於此。

在觸控面板214與電腦裝置220的校正完成之後，使用者可透過檢測工具212c來逐一地檢測待檢電路板b_11~b_mn是否具有缺陷，並且當檢測到具有缺陷的待檢電路板b_11~b_mn時，下達標記指令以使觸控面板214回傳對應的座標資訊C至電腦裝置220進行記錄。

在各個待檢電路板b_11~b_mn皆檢測完成後，電腦裝置220可根據所記錄的座標資訊C及索引識別碼ID而產生對應於承載基板10上的各個待檢電路板b_11~b_mn的檢測資料D，並且將檢測資料D上傳至資料庫裝置230。

綜上所述，本創作實施例提出一種缺陷檢測裝置及缺陷檢測系統，所述缺陷檢測裝置可藉由觸控面板的觸控感測機制來進行標記具有缺陷的待檢電路板的動作，進而可降低缺陷檢測裝置的成本以及減少使用者作業負擔以提高檢測的效率及準確性。此外，所述缺陷檢測系統可透過數位化方式來彙整檢測資料，以便於有效地管控缺陷資訊，進而有利於缺陷分析及良率提升。

雖然本創作已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本創作，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離 本創作之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本創作之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧承載基板

100、200‧‧‧缺陷檢測系統

110、210‧‧‧缺陷檢測裝置

112、212‧‧‧檢測平台

114、214‧‧‧觸控面板

116、216‧‧‧標記模組

120、220‧‧‧電腦裝置

130、230‧‧‧資料庫裝置

212a‧‧‧承載底座

212b‧‧‧支撐部

212c‧‧‧檢測工具

216a‧‧‧觸控媒介

216b‧‧‧致動單元

240‧‧‧識別碼讀取裝置

250‧‧‧聲控模組

b_11~b_mn‧‧‧待檢電路板

d1‧‧‧第一軸向

C‧‧‧座標資訊

D‧‧‧檢測資料

ID‧‧‧索引識別碼

LS‧‧‧承載面

S1‧‧‧第一表面

S2‧‧‧第二表面

圖1為本創作一實施例之缺陷檢測系統的示意圖。

圖2為本創作另一實施例之缺陷檢測系統的示意圖。

圖3為本創作一實施例之缺陷檢測裝置的剖面結構圖。

10‧‧‧承載基板

100‧‧‧缺陷檢測系統

110‧‧‧缺陷檢測裝置

112‧‧‧檢測平台

114‧‧‧觸控面板

116‧‧‧標記模組

120‧‧‧電腦裝置

130‧‧‧資料庫裝置

b_11~b_mn‧‧‧待檢電路板

Claims (17)

1. 一種缺陷檢測裝置，適於檢測多個待檢電路板，該缺陷檢測裝置包括：一檢測平台，包括一檢測工具，該檢測工具用以檢視各該待檢電路板的外觀狀態；一觸控面板，配置於該檢測平台，其中該些待檢電路板以陣列方式排列並配置於該觸控面板上，且分別對應於該觸控面板的多個觸控區域；以及一標記模組，配置於該檢測平台，該標記模組經控制而觸碰該觸控面板，且使該觸控面板輸出被觸碰的觸控區域之其一的一座標資訊以記錄該座標資訊對應的各該待檢電路板。
2. 如申請專利範圍第1項所述之缺陷檢測裝置，更包括：一電腦裝置，耦接該觸控面板以接收該座標資訊，依據該座標資訊而記錄對應於被觸碰的觸控區域的待檢電路板為具有缺陷的待檢電路板。
3. 如申請專利範圍第2項所述之缺陷檢測裝置，其中該些待檢電路板具有一對應的索引識別碼，且該缺陷檢測裝置更包括：一識別碼讀取裝置，耦接該電腦裝置，用以讀取該索引識別碼，並且將該索引識別碼輸入至該電腦裝置，其中該電腦裝置彙整該些待檢電路板所對應的該索引識別碼以及所記錄的資訊，並據以產生該些待檢電路板的檢測資料。
4. 如申請專利範圍第1項所述之缺陷檢測裝置，其中該檢測平台更包括：一承載底座，具有一承載面；以及一支撐部，配置於該承載面上的一周圍區域，其中該觸控面板配置於該支撐部上。
5. 如申請專利範圍第4項所述之缺陷檢測裝置，其中該觸控面板具有相對的一第一表面與一第二表面，該第一表面朝向該檢測工具，且該第二表面為觸碰面。
6. 如申請專利範圍第5項所述之缺陷檢測裝置，其中該標記模組包括：一觸控媒介，配置於該承載底座上並朝向該觸控面板的該第二表面，並且對齊該檢測工具；以及一致動單元，耦接該觸控媒介，依據一標記指令而驅動該觸控媒介觸碰該觸控面板。
7. 如申請專利範圍第6項所述之缺陷檢測裝置，其中該觸控面板沿一第一平面滑設於該支撐部，且該觸控媒介與該檢測工具固設於該承載底座並且沿一第一軸向相互對齊，其中該第一軸向正交於該第一平面。
8. 如申請專利範圍第6項所述之缺陷檢測裝置，其中該觸控面板固設於該支撐部，該觸控媒介與該檢測工具沿一第一平面滑設於該承載底座並且沿一第一軸向相互對齊，其中該第一軸向正交於該第一平面。
9. 如申請專利範圍第1項所述之缺陷檢測裝置，更包括： 一聲控模組，用以辨識一聲音指令而控制該缺陷檢測裝置的操作。
10. 一種缺陷檢測系統，包括：一缺陷檢測裝置，用以檢測多個待檢電路板，該缺陷檢測裝置包括：一檢測平台，包括一檢測工具，該檢測工具用以檢視各該待檢電路板的外觀狀態；一觸控面板，配置於該檢測平台，其中該些待檢電路板以陣列方式排列並配置於該觸控面板上，且分別對應於該觸控面板的多個觸控區域；以及一標記模組，配置於該檢測平台，該標記模組經控制而觸碰該觸控面板，且使該觸控面板輸出被觸碰的觸控區域之其一的一座標資訊以記錄該座標資訊對應的各該待檢電路板；一資料庫裝置，用以儲存該些待檢電路板的一檢測資料；以及一電腦裝置，耦接該缺陷檢測裝置與該資料庫裝置，用以依據該座標資訊而記錄對應於被觸碰的觸控區域的待檢電路板為具有缺陷的待檢電路板，其中該電腦裝置彙整該些待檢電路板所對應的一索引識別碼以及所記錄的資訊，並據以產生該檢測資料上傳至該資料庫裝置。
11. 如申請專利範圍第10項所述之缺陷檢測系統，更包括：一識別碼讀取裝置，耦接該電腦裝置，用以讀取該索 引識別碼，並且將該索引識別碼輸入至該電腦裝置。
12. 如申請專利範圍第10項所述之缺陷檢測系統，其中該檢測平台更包括：一承載底座，具有一承載面；以及一支撐部，配置於該承載面上的一周圍區域，其中該觸控面板配置於該支撐部上。
13. 如申請專利範圍第12項所述之缺陷檢測系統，其中該觸控面板具有相對的一第一表面與一第二表面，該第一表面朝向該檢測工具，且該第二表面為觸碰面。
14. 如申請專利範圍第13項所述之缺陷檢測系統，其中該標記模組包括：一觸控媒介，配置於該承載底座上並朝向該觸控面板的該第二表面，並且對齊該檢測工具；以及一致動單元，耦接該觸控媒介，依據一標記指令而驅動該觸控媒介觸碰該觸控面板。
15. 如申請專利範圍第14項所述之缺陷檢測系統，其中該觸控面板沿一第一平面滑設於該支撐部，且該觸控媒介與該檢測工具固設於該承載底座並且沿一第一軸向相互對齊，其中該第一軸向正交於該第一平面。
16. 如申請專利範圍第14項所述之缺陷檢測系統，其中該觸控面板固設於該支撐部，該觸控媒介與該檢測工具沿一第一平面滑設於該承載底座並且沿一第一軸向相互對齊，其中該第一軸向正交於該第一平面。
17. 如申請專利範圍第10項所述之缺陷檢測系統，更 包括：一聲控模組，用以辨識一聲音指令而控制該缺陷檢測裝置的操作。