M434304 五、新型說明： [新型所屬之技術領域】 _] 柄作提供-種用於老化測試裝置之泛用型導執結構 ，特別是有關一種用於老化測試裝置中可以有效減少粉 塵產生與老化測試板磨損的泛用型導軌結構。 【先前技術】 [_ 纟㈣電路製L巾，當完成_、職與封裝後 ，往往因應積體電路元件（或電子元件）的種類、作業環 境或是銷售的區域，而需要進行一老化測試，以獲知該 電子元件是在尚溫的環境下仍然可以正常的運作。 [0003] 參照第一A圖，其為-用以進行老化測試的習知老化 測試裝置10的示意圖。老化測試裝置1〇中有一或數個老 化測試爐12，而在老化測試爐12中則設置有數個兩兩成 對的導軌14，由於圖示角度的關係，第一a圖中僅展示出 一邊的導軌14。參照第一B圖，其為一老化測試爐12内部 之電子元件的放置狀況的正面示意圖。在老化測試爐12 中，待測電子元件18被放置於老化測試板16上進行老化 測試，老化測試板16則放置於一支撐板2〇(例如鋁板）上 ，用以支撐老化測試板16，避免老化測試板16因老化測 試所產生的高溫而軟化導致變形與破壞。在老化測試爐 12中的左右兩側裝置有成對的導轨14，老化測試板“的 兩側邊緣被置入導轨14，而可以在導軌14中自由前後移 動，以方便放入老化測試爐12以及由老化測試爐12取出 ，即插入老化測試爐12與由老化測試爐12拔出，並且在 進行老化測試時，依靠導軌14支撐於老化測試爐丨2中， 10120324产卓編號A0101 第3頁/共23頁 1012010281-0 [0004]M434304 而將老化測試板12以及其上的待測電子元件18與其下的 支撐板20固持於老化測試爐12中。 然而，由於重複地進行老化測試，往往需要不斷地取 放老化測試板16，而更換新的待測電子元件18進行老化 測試。由於不斷地取放老化測試板16，往往導致老化測 試板16與導轨14不斷地摩擦而產生磨損，而會產生一些 粉塵。這些粉塵會隨著老化測試爐12内循環送風的氣流 散佈於整個老化測試爐12内，而造成其内進行老化測試 的（待測）電子元件的表面髒污，甚至造成測試失敗。 [0005] 另外，此一形式的導軌14，由於在拔插老化測試板16 的時候，需要將老化測試板16的兩側邊緣對準導軌14， 而導致老化測試板16不易拔插。其次，更因為老化測試 板16與支撐板20的重量過重，而導致老化測試板16不易 搬運與拔插，甚至在拔插老化測試板16時候，容易因人 員的力氣不夠或疏忽，造成老化測試板16或支撐板20撞 擊導轨14，導致老化測試板16，甚至老化測試板16上的 電子元件或導軌14損壞，進而影響測試的效率或造成產 品（電子元件）的破壞。老化測試板16(包含其上的待測電 子元件）與支撐板20僅藉由老化測試板16的兩側邊緣與導 轨14接觸，而固持於老化測試爐12中，但是往往可能因 為老化測試板16與支稽板2 0的重量過重且受力的面積小 ，導致老化測試板16的邊緣因受力過大而破壞，甚至破 裂，導致老化測試板16與支撐板20落下，而造成老化測 試板16與其上的電子元件18損壞。 [0006] 10120324^^^^ 另外，由於電子元件的日新月異，其種類也愈來愈繁 A0101 第4頁/共23頁 1012010281-0 M434304 複，各種不同種類的電子元件之間的尺寸差異也愈來愈 大，而需要使用不同尺寸的老化測試板進行老化測試。 然而，這些老化測試爐内的導軌往往只能使用於某種或 是某一些尺寸的老化測試板，一旦進行老化測試的電子 元件種類不同或是尺寸差異過大，往往需要使用不同尺 寸的老化測試板。此時原本在老化測試爐中的導軌，由 於尺寸過大或過小而不適用，使得老化測試板無法插入 或固持於老化測試爐中，而需要更換另一種尺寸的導轉 。因此，不但因為需要對不同尺寸的導軌進行備料，而 • 導致測試成本的增加，更因為需要停機更換導軌，導致 測試效率的降低。 [0007] 有鑑於上述問題，因此亟需要一種適用的各種不同種 類或尺寸的電子元件或老化測試板的導執，並且可以有 效減少因摩擦粉塵產生、減少老化測試板與導軌的磨損 、以及避免對電子元件、老化測試板、以及導軌造成破 壞與損傷，進而降低測試成本與增加測試效率。 • 【新型内容】 [0008] 本創作之一目的為提供一種用於老化測試裝置之泛用 型導執結構，其具有低摩擦係數、耐磨性佳、絕緣性佳 、以及易拔插等優點，並且可以適用於各種不同種類與 尺寸的電子元件與老化測試板，進而降低測試成本與增 加測試效率。 [0009] 根據本創作之一目的，本創作提供一種用於老化測試 裝置之泛用型導轨結構，特別是有關一種用於老化測試 裝置中可以有效減少粉塵產生與老化測試板磨損的泛用 10120324#單編號 A〇101 第5頁/共23頁 1012010281-0 M434304 型導軌結構。此導轨包含一主體；一上固定部’由主題上 端延伸而出，用以防止老化測試板與支樓板向上％動. 一下固定部，由主體下端延仲而出’用以支撑老化滴丨气 板與支撐板；以及一缺口，設置於上固定部最前蠕，用以 取放老化測試板與支撐板。主體、上固定部、以及下固 定部連結形成一c字形之凹槽’用以在老化測試裝置中 支撐與取放老化測試板與支撐板。 [0010] [0011]
因此，本創作對比先前技術之功效在於提供一種用_ 老化測試裝置之泛用型導軌結構’特別是有關一種用於 老化測試裝置中可以有效減少粉塵產生與老化測贫板磨 損的泛用型導轨結構。藉此，可以有效減少因摩擦於塵 產生、減少老化測試板與導執的磨損、以及避免對電子 元件、老化測試板、以及導軌造成破壞與損傷，進而 低測試成本與增加測試效率。 【實施方式】 本創作的一些實施例詳細描述如下。然而，^ …、 承了該詳 細描述外，本創作還可以廣泛地在其他的實施例施行 亦即，本創作的範圍不受已提出之實施例的限制而 本創作提出之申請專利範圍為準。其次，當本創作 u 施例圖示中的各元件或步驟以單一元件或步驟描述g實 時，不應以此作為有限定的認知，即如下之說明未s月 強調數目上的限制時本創作之精神與應用範圍可推及j 數個元件或結構並存的結構與方法上。再者，在本說2 書中，各元件之不同部分並沒有完全依照尺寸繪圖：= 些尺度與其他相關尺度相比或有被誇張或是簡化，以提 第6頁/共23頁 10120324#單编號 A〇101 1012010281-0 M434304 供更清楚的描述以增進對本創作的理解。而本創作所沿 用的現有技藝，在此僅做重點式的引用，以助本創作的 闡述。 [0012] 參照第二A圖、第二B圖以及第二C圖，第二A圖為本創 作一實施例之用於老化測裝置之泛用型導轨結構100的立 體示意圖，而第二B圖與第二C圖分別為不同尺寸的電子 元件使用泛用型導執結構100於老化測試裝置中進行老化 測試的正面示意圖。泛用型導執結構100包含一主體102 '一由主體102上端延伸而出上固定部104、一主體102 下端延伸而出的下固定部106、以及一設置於上固定部 104最前端的缺口 108。主體1Q2、上固定部104'以及下 固定部106連結形成一匚字形之凹槽119，而使得老化測 試板16與支撐板20可以在泛用型導轨結構100中前後自由 移動與滑動，而用以拔插老化測試板16，並且在進行老 化測試時，支撐與固持老化測試板16(包含其上的電子元 件18)與支撐板20進行老化測試。 • [0013] 下固定部106的寬度比上固定部104的寬度大，用以從 支撐板20底部而有效地支撐與固持支撐板20與其上的老 化測試板16，而非如同習知的導軌僅藉由支撐老化測試 板而支撐與固持老化測試板與支撐板進行老化測試，所 以不會因重量過重造成老化測試板破壞與破裂。上固定 部104位於主體100的上端用以防止在進行老化測試時， 因老化測試裝置運轉所造成老化測試板與支撐板向上跳 動，而將其固持於泛用型導軌結構100上，並免誕動造成 老化測試板的破壞或是老化測試板16由泛用型導軌結構 10120324^^^^* A〇101 S 7 I / ^· 23 I 1012010281-0 M434304 100上脫落，並且進一步防止因老化測試板16與支撐板2〇 因與導轨碰撞而產生粉塵。再者，由於上固定部丨〇4的寬 度不大，而不會與老化測試板16上的電路（圖中未示）與 電子元件18接觸，所以不會對其造成破壞或毀損。 [0014] 藉由泛用型導轨結構100的上固定部1〇4與下固定部 106可以提供任何種類的與尺寸的電子元件18或老化測試 板16—有效的固定與支撐，而將其穩定地固持於老化測 試爐中進行老化測試《藉此，使得泛用型導執結構1〇〇為 一種可以適用於不同種類與尺寸的電子元件18或老化測 試板16的泛用型導轨結構。舉例來說，如第二β圖所示， 當老化測試板16或電子元样18的尺寸較小時，支樓板2〇 的邊緣部份完全與泛用型導軌結構1〇〇(或下固定部1〇6) 接觸，而由泛用型導轨結構1〇〇(或下固定部1〇6)所支撐 並提供給老化測試板16(包含其上的電子元件18)與支撐 板20—有效的支撐，所以不會如習知導執僅支撐老化測 試板而造成老化測試板破損，而上固定部104則藉由與老 化測試板16邊緣接觸而將老化測試板16(包含其上的電子 彳 元件18)與支撐板20固定於泛用型導軌結構1〇〇(或下固 定部106)上，使其不會在進行老化測試時，因老化測試 裝置運轉所造成老化測試板與支撐板向上跳動。如第二c 圖所示，當老化測試板16或電子元件18的尺寸較大小時 ，支撐板20的邊緣部份僅有一部份與泛用型導執結構 100(或下固疋部106)接觸，但是藉由此一部份的接觸’ 泛用型導執結構1〇〇(或下固定部106)仍然足以提供給老 化測試板16(包含其上的電子元件18)與支撐板2〇一有效 的支撐，所以同樣不會如習知導轨僅支撐老化測試板而 10120324^單編號A01〇l 第8頁/共23頁 1012010281-0 M434304 [0015]
[0016] 造成老化測試板破損，而上固定部104同樣藉由與老化測 試板16邊緣接觸而將老化測試板16(包含其上的電子元件 18)與支撐板20固定於泛用型導轨結構100(或下固定部 106)上，使其不會因老化測試裝置運轉造成老化測試板 與支撐板向上跳動。 上固定部104最前端的缺口 108，使得線上人員在插拔 老化測試板16與支撐板20時，無需仔細對準泛用型導轨 結構100之凹槽119，可先導入泛用型導軌結構100前端 的上方之缺口 108，插入與拔出老化測試板16與支撐板20 ，以利老化測試板16與支撐板20的取放與插拔，並且避 免老化測試板16與支撐板20在插拔時與泛用型導執結構 100碰撞，而避免因為碰撞導致電子元件18、老化測試板 16、支撐板20、以及泛用型導執結構100損傷，以及減少 與避免因碰撞所產生的粉塵。再者，缺口 108的邊緣皆為 一斜面，可以有效的導引老化測試板16與支撐板20插入 泛用型導轨結構100中，避免其相互碰撞導致損傷，以及 減少與避免因碰撞所產生的粉塵。 參照第二D圖，其為第二A圖所示之泛用型導軌結構 100沿AA切線切割的剖面結構圖。泛用型導轨結構100通 常為一可以耐高溫且在高溫下不會變形的金屬材質，例 如鋁或其他在高溫下不會變形的金屬，所以其具有較高 的硬度，但是在長期且頻繁地插拔老化測試板16與支撐 板20的狀況下，仍然會造成泛用型導軌結構100的磨損， 進而產生粉塵污染老化測試爐内部與電子元件18。因此 ，本創作可以在泛用型導軌結構100的表面101(包含整個 10120324^^^^ A0101 第9頁/共23頁 1012010281-0 M434304 主體102的表面、整個上固定部ι〇4的表面、以及整個下 固定部106的表面）包覆一層硬質氧化層11〇。硬質氧化層 110可以利用硬陽極處理在表面1〇1上形成一氧化膜層， 例如氧化鋁膜層，由於硬質氧化層n〇具有高硬度、耐磨 性佳、向電阻（絕緣性佳）、以及时腐餘等特性，使得泛 用型導轨結構100不但不易因與老化測試板16及支撐板20 碰撞而產生粉塵，更可以提供泛用型導執結構100一良好 的保護，並確保泛用型導軌結構100不會因本身為導電性 材質而影響測試。 [0017] 再者，在硬質氧化層110的表面上可以包覆一軟質耐 磨層112，例如鐵氟龍或其他低摩擦係數且耐高溫的材質 ，藉由軟質耐磨層112的低摩擦係數此一特性，而減少泛 用型導轨結構100與老化測試板16及支撐板20之間的摩擦 ’進而減少泛用型導軌結構100與老化測試板16以及支撐 板20之間摩擦產生粉塵的機率。 [0018] 參照第二A圖與第三B圖，兩者分別為本創作之另一實 施例之用於老化測裝置之泛用型導軌結構的剖面圖，其 同時顯示該泛用型導軌結構用於不同尺寸的老化測試板 的狀況，但是其僅顯示老化測試板與一邊的導執接觸的 狀況。參照第三Λ圖與第三B圖，在本創作另一實施例的 泛用型導轨結構100中’可以將上固定部104的内側表面 104a製作成一斜面，使得其與任何尺寸的老化測試板16 皆僅以老化測試板16的邊線接觸，而將泛用型導軌結構 100(或上固定部1〇4)與老化測試板16由原先的以面接觸 改變為以線接觸，進而減少泛用型導轨結構1〇〇(或上固 10120324#單编號 A〇101 第10頁/共23頁 1012010281-0 M434304 定部1 04 )與老化測試板1 6的接觸面積以及減少兩者之間 的接觸與摩擦，因此，將有效的減少因摩擦所產生的粉 塵。其次，下固定部106的内側表面106a也可以製作成一 斜面，使得在使用任何尺寸的老化測試板16進行測試時 ，皆僅以支撐板20的邊線與下固定部106接觸，老化測試 板16下方的支撐板20與將泛用型導軌結構1〇〇(或下固定 部106)由原先的以面接觸改變為以線接觸，進而減少泛 用型導轨結構100(或下固定部106)與支撐板20的接觸面 積以及減少兩者之間的接觸與摩擦，因此.，將有效的減 少因摩擦所產生的粉塵。 [0019] 另外，為了能更進一步減少泛用型導執結構1〇〇與老 化測試板16及支樓板20之間的摩擦，特別是泛用型導執 結構1 〇 〇的主體的内側表面與老化測試板丨_ 6及支標板2 〇之 間的摩擦’除了將上固定部1 〇4的内.側表面1 〇4a與下固定 部106的内側表面106a製作成斜面之外，可以在主體的内 側表面設置或貼附一軟質耐磨層114a(如第四A圖與第四β 圖所示），例如鐵氟龍或其他低摩擦係數且耐高溫的材質 ，減少主體的内側表面與老化測試板16及支撐板2〇之間 的摩擦，進而有效的減少因摩擦所產生的粉塵。 [0020] 甚至，為了更進一步減少泛用型導軌結構1〇〇與老化 測試板1 6及支撐板2 0之間的摩擦，特別是上固定部1 〇 4的 内側表面104a與老化測試板16及支撐板20之間的摩擦， 以及下固定部1 06的内側表面1 〇6a與老化測試板16及支 樓板20之間的摩擦，在本創作的另一實施例中（如第五a 圖所示）’除了將上固定部104的内側表面i〇4a與下固定 1012010281-0 10120324^單編號A〇1〇l 第11頁/共23頁 M434304 部106的内側表面i〇6a製作成斜面，以及在主體的内側表 面設置或貼附一軟質财磨層114a之外，也在上固定部1〇4 的内侧表面1 04a與下固定部1 06的内側表面1 〇6a上分別 設置或貼附一軟質耐磨層114b與114c，以減少上固定部 104的内側表面i〇4a與老化測試板16及支撐板20之間的 摩擦’以及減少下固定部1 〇 6的内侧表面1 〇 6 a與老化測試 板16及支撐板20之間的摩擦，進而有效的減少因摩擦所 產生的粉塵。 [0021] 參照第五B圖與第五C圖，兩者分別為本創作之另一實 施例之用於老化測裝置之泛用型導軌結構的剖面圖，其 同時顯示該泛用型導轨結構用於不同尺寸的老化測試板 的狀況。在第五B圖與第五C圖所示的實施例中，泛用型 導軌結構1 0 0為了能進一步減少其與老化測試板丨6及支撐 板20之間的接觸面積和摩擦，除了將上固定部1〇4的内側 表面104a與下固定部1〇6的内側表面i〇6a製作成斜面， 以及在主體的内侧表面、上固定部1 〇4的内側表面1 〇、 以及下固定部1 〇 6的内側表面1 〇6a上分別設置或貼附一軟 質耐磨層114d、114b與114c之外，更將主體的内側上表 面的軟質耐磨層114d的内側表面，即與老化測試板16及 支#板20接觸的表面，製作成一斜面。因此，使得軟質 耐磨層114d使得在使用任何尺寸的老化測試板1 6進行測 試時’皆僅以老化測試板16的邊線與主體的内側表面（或 軟質耐磨層114d)接觸，而不再與老化測試板16的其他部 份接觸，並將老化測試板16與將泛用型導軌結構1〇〇(或 主體内側的軟質耐磨層114 d )由原先的以面接觸改變為以 線接觸，進而減少泛用型導軌結構1〇〇(或主體内側的軟 10120324*^單编號A0101 第12頁/共23頁 1012010281-0 M434304 質耐磨層114d)與支撐板20及老化測試板16的接觸面積 以及減少彼此之間的接觸與摩擦，因此，將有效的減少 因摩擦所產生的粉塵。 [0022] 有鑑於此，本創作提供一種用於老化測試裝置之泛用 型導執結構，其具有低摩擦係數、耐磨性佳、絕緣性佳 、以及易拔插等優點，並且可以適用於各種不同種類與 尺寸的電子元件與老化測試板，進而降低測試成本與增 加測試效率。 【圖式簡單說明】 [0023] 第一A圖為一習知的老化測試裝置的示意圖。 第一 B圖為老化測試裝置内進行老化測試的電子元件的放 置狀況的正面示意圖。 第二A圖為一本創作之一實施例之用於老化測裝置之泛用 型導軌結構的立體示意圖。 第二B圖與第二C圖為不同尺寸的電子元件使用本創作之 泛用型導軌結構於老化測試裝置的進行老化測試的正面 示意圖。 第二D圖為一本創作之一實施例之用於老化測裝置之泛用 型導軌結構沿AA切線的剖面圖。 第三A圖與第三B圖為本創作之另一實施例之用於老化測 裝置之泛用型導轨結構的剖面圖。 第四A圖與第四B圖為本創作之又一實施例之甩於老化測 裝置之泛用型導轨結構的剖面圖。 第五A圖至第五C圖為本創作之又一實施例之用於老化測 裝置之泛用型導軌結構的剖面圖。 1012032#單编號 A0101 第13頁/共23頁 1012010281-0 M434304 【主要元件符號說明】 [0024] 10老化測試裝置 12老化測試爐 14導執 16老化測試板 18電子元件 20支撐板 100泛用型導轨結構 101導轨表面 102主體 104上固定部 104a上固定部的内側表面 106下固定部 106a下固定部的内側表面 108 缺口 119凹槽 110硬質氧化層 112軟質耐磨層 114a、114b、114c、114d 軟質耐磨層 AA剖面切線 10120324^^^^ A〇101 第14頁/共23頁 1012010281-0