TWM420698U - Improved top pin structure for test fixture of circuit board - Google Patents
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五、新型說明: 【新型所屬之技術領域】 本創作係關於一種電路板測試治具之頂針結構改良, 尤指可利用抵靠部增加頂針之接觸面積,以提升測試時之 準確度,而達到測試良率較佳之功效者。 【先前技術】 按,一般習用之電路板測試治具結構(如第1、2及第 3圖所示),其主要包括:一底座6、一萬用密度板模組7、 一針板8及頂針9所構成;該底座6上係設有複數可供插 接各測試儀器插頭之測試插槽62,各測試插槽62係連接有 導線61,而該針板8則係依待測電路板5之電路上待測試 之點而設有複數貫穿頂、底二側之探針81 ;該萬用密度板 模組7則包括有第一密度板7卜第二密度板72及第三密度 板73,且該第一、二及第三密度板71、72、73上係設有多 數相連通之孔洞711、721、731,且於第二密度板72之各 孔洞721内分別容納有頂針9之抵靠部9卜彈簧92及接觸 部93,而該彈簧92係設於抵靠部91與接觸部93之間,並 使各導線61分別與各接觸部93連接,而各抵靠部91係以 第三密度板73上之孔洞731加以抵靠限位,其中該第三密 度板73上之孔洞731小於第二密度板72上之孔洞721;如 此,可使該待測電路板5經由探針81、彈簧92、導線61 及測試插槽62而與外部之測試儀器形成電連接。 但是由於各頂針9於設置時,係以係以第三密度板73 M420698 上之小孔洞731加以抵靠限位,而使得各抵靠部91與探針 81受到第三密度板7 3上所設小孔洞7 31之限制而無法增加 其接觸之面積,導致測試時之準確度較差,而造成測試良 率降低。 因此,如何創作出一種電路板測試治具之頂針結構改 良,以使其可達到測試良率較佳之功效,將是本創作所欲 積極揭露之處。 【新型内容】 有鑑於上述習知電路板測試治具之頂針結構改良之缺 憾,創作人有感其未臻於完善,遂竭其心智悉心研究克服, 憑其從事該項產業多年之累積經驗,進而研發出一種電路 板測試治具之頂針結構改良,以期可達到測試良率較佳的 目的。 本創作之主要目的在提供一種電路板測試治具之頂針 結構改良,其藉著抵靠部增加頂針之接觸面積,致使可提 升測試時之準確度,進而達到測試良率較佳的目的。 為達上述目的,本創作之電路板測試治具之頂針結構 改良,該頂針係包含:一抵靠部;一設於頂針之一端之結 合部,其包含有一設於抵靠部端面之柱體、一設於柱體一 端之止擋件、及一設於止擋件一面上之延伸段;一頂端與 延伸段套接之彈性元件;以及一設於彈性元件底端之接觸 部。 於本創作之一實施例中,更進一步包含有下列結構: 4 M420698 « 一底座; 一密度板模組,係設於底座一側,其包含有相互層疊 之第一密度板、第二密度板及第三密度板,可將多數頂針 設於第二及第三密度板中’讓各頂針之抵靠部係活動設於 第三密度板中,而結合部、彈性元件及接觸部係設於第二 密度板中; 一限位板,係設於第二及第三密度板之間,可使限位 板往一側移動而配合結合部將各頂針加以限位;以及 一針板模組,係設於密度板模組上,其包含有一設於 第三密度板上之板體、分別連接各接觸部且延伸出第一密 度板之導線、及分別與頂針抵接且設於板體上之探針。 於本創作之一實施例中,該底座上係設有多數插槽, 各插槽係分別與導線連接,而該第一密度板上係設有多數 供各導線延伸出之通孔。 於本創作之一實施例中,該第二及第三密度板上係設 有多數相對應之通孔’而各頂針之結合部、彈性元件及接 觸部係分別設於第二密度板之各通孔中,且各頂針之抵靠 部係活動設於第三密度板之各通孔中。 於本創作之一實施例中,該限位板上係設有多數配合 柱體而供頂針活動限位之穿孔。 藉此,本創作之一種電路板測試治具之頂針結構改 良’可利用抵靠部增加頂針之接觸面積,以提升測試時之 準確度,而達到測試良率較佳之功效。 5 實施方式】 為充分瞭解本創作之目的、特徵及功效,茲盆
肩_ 胃由下;i^}C /、體之實施例,並配合所附之圖式,對本創作做^ 明,說明如後: 砰細說 請參閱『第4、5、6、7及第8圖』,係分別為本 交佳具體實施例之分解圖、本創作較佳具體實施例之立 圖、本創作較佳具體實施例之剖面圖、本創作第6圖B ^ 分之局部放大圖及本創作限位板之另一實施方式剖面。 如圖所示:本創作之電路板測試治具之頂針結構改良。 至少包含有一底座1、一密度板模組2、—限位板3以、 針板模組4所構成。 — 上述所提之底座1上係設有多數插槽U。 該密度板模組2係設於底座一側,其包含有相互屉 之第一密度板21、第二密度板22及第三密度板23,層 疊 第-、第二及第三密度板2卜22、23上係設有多 之通孔 211、221、231。 而該 對應
J 該限位板3係設於第二及第三密度板22、幻之門 該限位板3上係設有多數穿孔31。 曰 該針板模組4係設於密度板模組2上,其包人有 於第二密度板23上之板體41、分別設於第二及第二户° 22、23中且由限位板3加以限位之頂針々、分別連二 針42底面且延伸出第一密度板21並與各插#ιι連接之琴 線43及分別與各頂針42抵接且設於板體41上之探針44 其中各頂針42係包含有一抵靠部421、一設於頂針42 —福 M420698 之結合部422、一頂端與結合部422抵靠之彈性元件423、 以及一抵靠於彈性元件423底端之接觸部424,而各結合部 422係包括一 6史於抵靠部421端面之柱體4221、一設於柱 體4221 —端之止擋件4222、及一設於止撞件4222 —面上 之延伸段4223,而各彈性元件423之頂端係與延伸段4223 套接,該接觸部424之頂端係與彈性元件423之底端套接, 而接觸部424底端係與導線43連接,且各彈性元件423係 刀別s又於弟·一在、度板22之各通孔221中,使各導線43分 • 別延伸出第一岔度板21之各通孔211,各頂針42係分別設 於第二密度板23之各通孔231中且由限位板3之穿孔31 加以限位,而該限位板3係可往一侧移動使其穿孔與各 頂針42 —端結合部422之柱體4221進行限位。 當本創作於組裝時,係將各頂針42分別設於第三密度 板23之各通孔231中’而使其結合部422穿過限位板3之 穿孔31,且使該結合部422之延伸段4223與彈性元件423 # 頂端套接,之後再將限位板3往左側移動(如第7圖所示), 另於實際使用時亦可將限位板3往右侧移動(如第8圖所 不)’如此,可使穿孔31與通孔231形成錯位,而讓限位 板3之穿孔31 —侧往柱體4221抵靠,並配合止擋件4222 使頂針42限位於限位板3上; 而使用時係可將該待測電路板5固定於針板模組4之 板體41上,使待測電路板5上之待測試點與各探針44接 觸,並使訊號配合各頂針42之抵靠部421經由各彈性元件 423及導線43傳輸至插槽11所連接之測試儀器上(圖未示) 7 M420698 形成一測試迴路;而由於本創作之各頂針42係以限位板3 加以限位,且各頂針42之抵靠部421與探針44之間係具 有較大之接觸面積,因此,可提升待測電路板5測試時之 準確度,進而達到測試良率較佳之效果。 如上所述,本創作完全符合專利三要件:新穎性、進 步性和產業上之可利用性。以新穎性和進步性而言,本創 作係藉著抵靠部增加頂針與探針間之接觸面積,致使可提 升測試時之準確度,進而達到測試良率較佳的效用;就產 業上之可利用性而言,利用本創作所衍生之產品,當可充 分滿足目前市場之需求。 本創作在上文中已以較佳實施例揭露,然熟習本項技 術者應理解之是,該實施例僅用於描繪本創作,而不應解 讀為限制本創作之範圍。應注意之是,舉凡與該實施例等 效之變化與置換,均應設為涵蓋於本創作之範疇内。因此, 本創作之保護範圍當以下文之申請專利範圍所界定者為 準。 【圖式簡單說明】 第1圖為習用之分解圖。 第2圖為習用之剖視圖。 第3圖為第2圖A部分之局部放大圖。 第4圖為本創作較佳具體實施例之分解圖。 第5圖為本創作較佳具體實施例之立體圖。 第6圖為本創作較佳具體實施例之剖面圖。 8 M420698 f 7圖為本創作苐6圖β部分之局部放大圖。 弟8圖為本創作限位板之另-實施方式剖面圖 【主要元件符號說明】 (習用部分) 5 待測電路板 6 底座 61 • 62 導線 測試插槽 7 萬用密度板模組 71 第一密度板 711、721、731 孔洞 72 第二密度板 73 第三密度板 8 針板 • 81 探針 9 頂針 91 抵罪部 92 彈簧 93 接觸部 (本創作部分) 1 底座 11 2 插槽 密度板模組 2 M420698 21 第一密度板 211 、 221 、 231 通孔 22 第二密度板 23 第三密度板 3 限位板 31 穿孔 4 針板模組 41 板體 42 頂針 421 抵罪部 422 結合部 4221 柱體 4222 止擋件 4223 延伸段 423 彈性元件 424 接觸部. 43 導線 44 探針 5 待測電路板
Claims (1)
- M420698 六、申請專利範圍: 該頂針係包含有: 1.種電路板測試治具之頂針結構改良, 一抵靠部; #純=部’係設於頂針之1,該結合部係包含有一 〇又;_罪邻端面之柱體、一設於柱體一端t 設於止擋件一面上之延伸段;體,止擋件、及 —彈性元件,其頂端健延伸段套接;以及 一接觸部’係設於彈性元件之底端。 2.如申睛翻範圍第1項所述之電路板職治具之頂針結構 改良’其中’更進—步包含有下列結構: 一底座; 密度板模組,係設於底座一侧,其包含有相互層疊 ;、毯度板、第二密度板及第三密度板,可將多數頂針 设於=二及第三密度板中,讓各頂針之抵靠部係活動設於 第三密度板中,而結合部、彈性元件及接觸部係設於第二 达、度板中; 限位板’係設於第二及第三密度板之間,可使限位 板在一側移動而配合結合部將各頂針加以限位;以及 一針板模組,係設於密度板模組上,其包含有一設於 您度板上之板體、分別連接各接觸部且延伸出第一密 度板之導線、及分別與頂針抵接且設於板體上之探針。 如申清專利範圍第2項所述之電路板測試治具之頂針結構 改良,其中,該底座上係設有多數插槽,各插槽係分別與 導線連接,而該第一密度板上係設有多數供各導線延伸出 11 M420698 之通孔。 4. 如申請專利範圍第2項所述之電路板測試治具之頂針結構 改良,其中,該第二及第三密度板上係設有多數相對應之 通孔,而各頂針之結合部、彈性元件及接觸部係分別設於 第二密度板之各通孔中,且各頂針之抵靠部係活動設於第 三密度板之各通孔中。 5. 如申請專利範圍第2項所述之電路板測試治具之頂針結構 改良,其中,該限位板上係設有多數配合柱體而供頂針活 動限位之穿孔。 12
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW100215044U TWM420698U (en) | 2011-08-12 | 2011-08-12 | Improved top pin structure for test fixture of circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
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TW100215044U TWM420698U (en) | 2011-08-12 | 2011-08-12 | Improved top pin structure for test fixture of circuit board |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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TWM420698U true TWM420698U (en) | 2012-01-11 |
Family
ID=46452768
Family Applications (1)
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TW100215044U TWM420698U (en) | 2011-08-12 | 2011-08-12 | Improved top pin structure for test fixture of circuit board |
Country Status (1)
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TW (1) | TWM420698U (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI484201B (zh) * | 2013-07-09 | 2015-05-11 | Rato Technology Corp | Circuit board test device of the MDF module |
TWI790065B (zh) * | 2021-12-27 | 2023-01-11 | 冠銓科技實業股份有限公司 | 應用高頻量測之測試針座結構改良 |
-
2011
- 2011-08-12 TW TW100215044U patent/TWM420698U/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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TWI484201B (zh) * | 2013-07-09 | 2015-05-11 | Rato Technology Corp | Circuit board test device of the MDF module |
TWI790065B (zh) * | 2021-12-27 | 2023-01-11 | 冠銓科技實業股份有限公司 | 應用高頻量測之測試針座結構改良 |
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