TWM346007U - Probe card for solar energy detection machine - Google Patents
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Description
M346007 八、新型說明: 【新型所屬之技術領域】 本創作是關於一種探針卡,尤其是一種應用於太陽能 電池檢測機台用探針卡。 【先前技術】 隨石油價格不斷上漲,可將太陽能轉換為電能作為替 代旎源之太腸能電池日益受到重視,而太陽能電池的價袼 , 需視其光-電轉換效率而定。目前常見之太陽能電池1〇主 要以多晶矽製造而成,並且具有一個如圖1所示之受光面 14,以及相反於受光面的背面(圖未示),受光面上更形成 有例如在矽材料中摻入銀粉的匯流電極12以導出光電 流,此種不進行光-電轉換之匯流電極12區域寬度約2公 釐(mm) 〇 為能正確度量太陽能電池10的光_電轉換效率,目前 常用高強度的平行光垂直照射受測太陽能電池1〇的受光 | 面14,並同時以探針卡(pr〇be Card)上的探針導電接觸匯 流電極12,以導出並感測光照時太陽能電池1〇之電壓及 光電流。然而’目前習見的探針卡如圖2所示,是將多根 - 探針202固定在一片基板20上,並以焊接於探針202頂 部的導線9將探針信號導接回機台。當探針202恰正對匯 流電極12時,基板20的投影將恰位於匯流電極12旁, 遮蔽部分可收光並進行光電轉換之作用區域,而導線9則 更不時不規則地逸出基板20與探針202的投影之外。 雖然探針卡基板20的厚度不過2公釐,但對於例如 5 M346007 * 5吋見方的太陽能電池而言,兩片探針卡的基板20,一共 將遮蔽受光面14總寬度152公釐(156公釐減兩道匯流電 極4公釐)中的4公釐作用區域,亦即,即使忽略導線, 基板20仍將使量測結果產生2·6%的誤差。而且,由於太 陽能電池是以多晶矽製造而成,每片太陽能電池受基板遮 蔽區域的光-電轉換效率均不一致,全無重複性,使得基 板遮蔽受光面之作用區域所造成的量測誤差,無法藉由任 φ 何方式正確估計或進行補償。 可以預期,當太陽能電池產量及需求量逐漸平衡、市 場更成熟時,此種量測誤差將逐漸不可被接受,尤其當某 批產品的品質恰位於兩種不同價位的光-電轉換效率區域 分界附近時,對於量測準確度的要求將更趨強烈。 此外考里6忖見方之太陽能電池受測時,其光電流 可達8安培大小,因此限制探針卡上導線之線徑不能太 細,以免大量電流通過小面積而產生高溫;不幸地,導線 鲁 加粗又使得導線遮蔽太陽能電池受光面作用區域的問題 更嚴重;但線徑過細,將因大電流所生高溫,使探針卡壽 - 命加速減損,平添耗材成本。因此,如何設計出可避免增 -添量測誤差並經久耐用的探針卡,將成為檢測設備廠商不 可忽視的課題。 【新型内容】 因此,本創作之一目的在提供一種有效降低探針卡遮 蔽太陽能電池受光面作用區域而導致測試誤差之太陽能 電池檢測機台用探針卡。 6 M346007 —〜丨-!另欢分_ 性良好之太陽能電池檢測機台用探針卡 本創作之再一目的在提供一 針卡使用哥命之太陽能電池檢測 種擴大散熱面積 機台用探針卡。 、延長探 因此,本創作揭露一種太陽能電池檢測機台用探針 2其中該檢測機台係供檢測複數分別具有—個佈設有預 定寬度匯流電極並供光照的受光面、及—個相反於該受光 面之背面的太陽能電池,該探針卡包含:分別具有複數探 針之-組第-探針組、及—組第二探針組;及—片厚度對 應於該等匯流電極預定寬度,其中形成有一組固定該第— 探針組之該等探針的第一管道組、 一組固定該第二探針組 之該等探針的第二管道組、一個導接該第一探針組該等探 針的第一導電部、及一個導接該第二探針組該等探針的第 二導電部,並具有沿該厚度方向彼此相反之第一側面與第 一側面的基板。 由於所有探針均設置於基板中,基板所遮蔽太陽能電 池的位置恰對應於匯流電極,絲毫沒有額外遮蔽受光面作 用區域的問題,提升量測結果之準確度。更利用多根探針 分散電流,並由設置於基板之兩導電金屬層導接各探針, 不僅分散來自太陽能電池之光電流,也同時具備散熱效 果,使得探針卡使用壽命更長。 【實施方式】' 有關本創作之前述及其他技術内容、特點與功效,在 以下配合參考圖式之較佳實施例的詳細說明中,將可清楚 M346007 的呈現。 本案第一實施例之探針卡3如圖3所示,主要包含一 片基板30,其厚度與前述太陽能電池1〇之匯流電極12 寬度對應,基板30内則形成複數作為管道之穿孔31、32, 為同牯度篁測試光束照射時,太陽能電池1〇感應出之光 電流及電壓,本例中分別以四根探針33例釋為第一探針 _ 組,供度量太陽能電池受光照時之電壓,並以四根探針 • 34例釋為第二探針組’供度量太陽能電池10受光照測試 時之光電流。兩探針組之所有探針33、34分別組設於上 述穿孔31、32中,為說明起見,將容納第一探針組探針 33的穿孔31稱為第一管道組,而容納第二探針組探針μ 的穿孔32分為第二管道組。 為確保暴露於穿孔下方的長度相對應,每一根探針 33、34能同步接觸受測之匯流電極12,各探針%及Β 如圖4所示,分別例釋為具有一個套筒部35及一個穿置 • 於套筒部35内之測試端部36,且彼此以設置於套筒部35 内的彈性件居間緩衝,彈性件則以一根彈簧37為例,探 -針33及34再分別透過導線連接到測試機台,以檢測太陽 能電池的輸出,使得測試端部36受彈性件37之抵推而部 分凸出於套筒部35前方;套筒部35更形成有一個擋止部 350,以限制該等探針33及34設置於穿孔3丨及中的 深度。 本例中如圖5所示,基板3〇沿其厚度方向的兩側面 上分別形成有銅箔導電層31〇與32〇,第一探針組之探針 8 M346007 33在凸出穿孔31上方部分,藉由焊接部312導接至作為 第V電部的導電層310;第二探針組的探針則在凸 出穿孔32上方部分,同樣藉由例如焊接部奶導接至作 為第二導電部的銅箱導電層32〇。由此,兩組探針分別藉 由例如四根探針33、34分別將受測太陽能電池之電壓^ 電流傳導至整片的銅落導電層31〇與32〇,一方面分散光 電流的分佈密度,另方面增大散熱面積,使得大電流傳導 的阻抗與發熱問題獲得良好抒解,增長使用壽命。 並且,此種結構方式完全沒有凸出於基板3〇侧面的 遮光結構,而基板30的投影恰對應於原本不感光的匯流 電極部分,使測試的平行光可以完全照射至受測太陽能電 池受光面,正確測得太陽能電池的光-電轉換效率。 本案第二實施例之探針卡3,如圖6所示,本例中的第 一管道組是由不導電基板3〇,的第一側面向内形成的例如 四道平行凹陷槽道31,,相反的,第二侧面亦向内形成另 一組四道凹陷槽道32,,以分別供第一探針組的探針 及第二探針組的探針34,嵌置其中。 如圖7所示,當各探針33,與34,分別嵌置於凹陷槽道 31’與32’後,在基板30,外表面處以例如濺鍍方式,逐漸 在第一與第二表面上分別形成一表面銅鍍層31〇,與 320,一方面提供各探針33’與34,導接訊號及散熱之途 徑,另方面提供機械支撐,使得原本被挖入形成槽道31, 與32’的基板30,在厚度方向獲得兩側的機械支撐補強,彌 補、t構上的脆弱點,從而提升製造良率與使用壽命。 9 M346007 圖8所示為本㈣三實施例,探針卡3”之第—探針组 的探針33”及第二探針組的料34”,分別以前後交許之 平行排列方式設置於基板3G,,内,並以埋設於基板%,,内 的第一導電部3H),,導接至第—探針組,第二導電部32〇” 則導接至第二探針組,達成上述減少遮蔽之功效。 當然,如熟悉本技術領域者所能輕易理解,基板内供 設置探針之管道組並非侷限於穿孔,亦可如圖9本案第四
較佳實施例所示,在基板30”,内形成盲孔31,,,及32^作為 第一管道組與第二管道組,分別供第一探針組之探針Μ”, 及第二探針組之探# 34”,設置其中,仍可達成相同之效 果0 惟以上所述者,僅為本創作之較佳實施例而已,當不 能以此限定本創作實施之範圍,即大凡依本創作申請專利 範圍及創作說明書内容所作之簡單的等效變化與修飾,皆 應仍屬本創作專利涵蓋之範圍内。 【圖式簡單說明】 圖1是習知太陽能電池之立體示意圖; 圖2是習知太陽能電池之俯視示意圖,說明基板及導 線遮蔽受光面的情形; 圖3是本案第一實施例之立體示意圖; 圖4是本案第一實施例之局部放大爆炸示意圖; 圖5是本案第一實施例說明焊錫部與導電部之關係 立體示意圖; 圖6是本案第二實施例之立體示意圖; M346007 圖7疋本案第二貫施例說明以濺鑛方式,在基板兩侧 的表面形成鋼鍍層以提供導接訊號途徑 之立體示意圖; 圖8是本案第三實施例之俯視示意圖;及 圖9是本案第四實施例說明以盲孔方式作為管^ 組’供探針組設置之立體示意圖。 【主要元件符號說明】 3、3’、3”···探針卡 9…導線 12…匯流電極 10…太陽能電池 14…受光面 、30、30,、30”、30”,…基板 31、 31’”···第一管道組 32、 32’”···第二管道組 33、 33’、33”、33,,,…第一探針組 34、 34’、34”、34”,…第二探針組 35…套筒部 36…測試端部 37···彈性件 202…探針 310、310”···第一導電部 320、320”···第二導電部 312、322…焊接部 350···擔止部 31’、32’···凹陷槽道 310’…第一表面銅鍍層 320’…第二表面銅鍍層 11
Claims (1)
- M346007 九、申請專利範圍: 1.一種太陽能電池檢測機台用探針卡,其中該檢測機台係 供檢測至少一個分別具有一個佈設有預定寬度匯流電 極並供光照的受光面、及一個相反於該受光面之背面的 太陽能電池,該探針卡包含: 分別具有複數探針之一組第一探針組、及一組第二探針 組;及 • 片尽度對應於該太陽能電池匯流電極預定寬产,其中 形成有一組固定該第一探針組之該等探針的第一管 道組、一組固定該第二探針組之該等探針的第二管道 組、一個導接該第一探針組該等探針的第一導電部、 及一個導接該第二探針組該等探針的第二導電部,並 具有沿該厚度方向彼此相反之第一側面與第二侧面 的基板。 2.如申請專利範圍第丨項所述之探針卡,其中該第一導電 > 部與該第二導電部係分別形成於該基板該等第一及第 二侧面的兩導電金屬層。 如申π專利範圍弟1項所述之探針卡,其中該第一導電 - 部與該第二導電部係分別埋設於該基板内的兩層導電 金屬層。 4·如申請專利範圍第i、2《3項所述之探針卡,其中該 第一及第二管道組係複數彼此成對平行排列、並垂直該 厚度方向貫穿該基板之貫穿孔。 如申明專利範圍第1、2或3項所述之探針卡,其中該 12 M346007 第一及第二管道組係複數彼此成對平行排列、並分別由 該等第一及第二側面凹陷之槽道。 ⑼申請專利範圍第卜3項所述之探針卡,其中該 f探針分別具有-個供定位於該等第—管道組或第二 管道組之擋止部。 7.如申^專利範圍第卜2或3項所述之探針卡,其中該2 ,有—個料位於該等第—管道組或第二 且之套筒部、一個設置於該套筒部内之彈性件、及 固穿設於該套筒部並受該彈 該套筒部之測· ⑴生件抵推而部分凸出於13
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW97213967U TWM346007U (en) | 2008-08-05 | 2008-08-05 | Probe card for solar energy detection machine |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW97213967U TWM346007U (en) | 2008-08-05 | 2008-08-05 | Probe card for solar energy detection machine |
Publications (1)
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TWM346007U true TWM346007U (en) | 2008-12-01 |
Family
ID=44338464
Family Applications (1)
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TW97213967U TWM346007U (en) | 2008-08-05 | 2008-08-05 | Probe card for solar energy detection machine |
Country Status (1)
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TW (1) | TWM346007U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI425204B (zh) * | 2010-07-16 | 2014-02-01 | Chroma Ate Inc | Solar wafer inspection machine with the spacing adjustment system and the system with the machine |
-
2008
- 2008-08-05 TW TW97213967U patent/TWM346007U/zh not_active IP Right Cessation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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TWI425204B (zh) * | 2010-07-16 | 2014-02-01 | Chroma Ate Inc | Solar wafer inspection machine with the spacing adjustment system and the system with the machine |
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