TWM326697U - Improved structure of probe module - Google Patents
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M326697 八、新型說明: 【新型所屬之技術領域】 . 本創作係隸屬一種加工機操作箱之創作,具體而言係指 ,一種具有可湘旋擺樞動,調整使用及收藏二種狀態之操作 箱定位結構改良。 1 【先前技術】 籲按’在晶圓未蝴前,對單鮮元之晶粒制試稱為『晶圓 私測』’即利用探針模組對晶圓施以電路測試,由於晶片的設計愈 趨於複雜,故晶圓檢測關係到晶圓生產良率高低,已經成為整個 製造過程中最關鍵的部份。而—般未切割之關,其外表面覆設 有一『薄塾層(pad)』,該薄塾層並上並形成一保護之『氧化膜』 ’同時並利用若干縱、橫分佈之切割道區隔出複數晶粒單元,當 • 晶圓置於測試平台上時,透過測試用之『探針卡』其『探針』刺 牙其外層之氧化膜’觸及該薄塾層而達到導制試之目的。 請參閱第-圖所示,一種『垂直探針卡』係申請案號9咖彻 號專利案所揭露之結構(以下簡稱習用案),該習用案之構成包括 主基貝(3 〇 〇)形成有導電模型,數探針(^ Q 〇)自該主 基質(3 0 〇)垂直地下垂,及一探針持體(2 〇 〇)設置於該 主基貝(3 〇 〇)之背侧上用以支撐該等探針(工〇⑹,其中該 探針持體(2 0 〇 )係設置平行於該主基質(3 〇 〇 ),且具有一 5 M326697 上導板(21〇)及—下導柘f 9 下沾(2 2 Q )’肋藉由通過個別貫通 1、2 21)以支撐該等探針(i 〇 〇),且下 (2 2 〇 )係由數個可分離地層積在起的基質(2 2 〇A、 2 2 OB、2 2 OC)所構成。 曾上述習用案該等探針(1_僅利用上導板(21〇)及 (2 2 Q)支持’當與晶圓接觸時,其_碰觸之 道係藉由該等探針(1 〇〇)之彈性變形減緩,而該等探針 ϋ ◦,)受壓吸㈣擊外力時,其最域形部位在其中段處之 ’咖(1 3 0 )’惟包括習用案在内的一般探針卡,其探針 ^1〇 0 )主要受壓變形之部位皆無適當構件輔助限制其變形幅 :’進而影_輪麵之雜。勸㈣案所揭露之 ^針(1 G G )轉,嶋折部(1 3 0 )版圓弧面積較 ,因此裝設於探針卡上時,飾有探針(1 0 0 )其彎折部 3 0 )触之纽、方向無法統—限定,不健響組裝之效 率’更無法贿物麵编帅,蝴用層面受 到限制,而有加以改良之必要。 “有鑑於此’本創作人乃針對前述習用創作問題深入探討,並 猎由多年從事_產業之研發聽造經驗,積極尋麵決之道, ㈣長期努力之研究與發展,終於柄_«本創作『探針模 組之結構改良』,以改善制創作之問題。 M326697 【新型内容】 /本創作之主要目的,係提供—種『探針模組之結構改良』,其 係d木針她上裝設之彈力針,其受壓而彈性變形時,並變形部 位能受到伽關,钱變形之偏料太以影響晶圓測試之精 確度與穩定性。 ,/本創作之另—目的’係、令裝設於探針模組上之所有探針,其 #受壓變形之部位能統一限定相同方向,使探針呈整齊排序,避免 產生空間上的衝突,而能增加設置之數量。 緣於達成上述之創作目的,本創作『探針额之結構改良』 •係由-模組本體、間隔板及若干彈力針組成。該模組本體係由一 上板、巾板及下板組成,主要係於财射心適處形成—貫穿之 容置部,用以供該間隔板容置,同時該上板及下板相對之内面中 心適處亦分咖設有—定位槽,並於各該定位槽内貫設有若干針 孔。該間隔板組設於該模組本體内時,其二端外板面係置於該上 板及下板之讀_,其外周面依設計需求成财若干間隔孔, 該等間隔孔恰可供該等彈力針穿設,進而令該等彈力針驗辨 模組本體内時,各該彈力針之彎折部係置於各該間隔孔内,同時 各該彈力針其二端之針_軸虹板及下板之觀向外穿出。 觀不僅缺昇該轉力較壓猶彡之穩紐,亦魏—限 有彈力針排序之方向,避免該等彈力針組裝固定時,因彎折部的 M326697 不定向偏擺而造成裝設作業的不便與空間上的佔用,藉此增加彈 力針設置之數量。 有關本創作所採用之技術、手段及其功效,茲舉一較佳實施 /例並配合_詳細於后,相信梢作上述之目的、構造及特 徵,當可由之得一深入而具體的瞭解。 【實施方式j 請參m二〜賴所示’本創作『探針模組之結構改良』,係 心模組讀⑴、若干彈力針(4〇)、一間隔板(5〇),以 下遵片(6 0、7 〇)等構件組成’1中. (2=1)係由—上板(1〇)、中板⑽及下板 置,其内面中心適訂板(3〇)係呈上下相對設 該定位槽(11^ 設有—定位槽(11、川,並於各 板(2〇)係於其中心適=二:孔(12、32)。而該中 該間隔板(5〇)成貝穿之容置部(2 1),用以供 、J 0)及上、下罐g彳 言亥耸〜力 片(6〇、70)容置。 力針U 〇) :、(2 ^設於該模組本體(1)内,各該彈 中未顯示)接觸之針有與?Β板(8 0)及晶圓(圖 變形之彎折部(42)。 而中&處卿成-受力時呈、彎曲 I板(5〇)係為對應該中板(20)其容置部(21) M326697 形狀之板塊,料周面成财可供該轉力針(4 Q )容置之若 干間&孔(51 )’各該間隔孔(5 1 )係呈長槽狀之開放構態, 可供各該彈力針(4 1 )#_( 4 2 )組設。又該等間隔孔 5 1 )成型於該間隔板(5 ◦)上時,其型之位置排列、數量 係視晶圓峨之需求*作對應之變化。 ^下。蒦片(6 0、7 0 )係設於該間隔板(5 0 )相對 之上下緣面處’用以護持該等容置於間隔孔($玉)内之彈力 針(4 0 )。 該上、下護板(6〇、7〇)對應該上板(10)及下板 (3 0 )之外板面恰可·組設於相對之定倾(上〗、3玉)户, 且其板面上並分別貫設有與該等間隔孔(5 m目對接之通2 (6 1、71),用以供各該彈力針(4〇)之針腳⑷)穿設。 =此’藉上述之構件組成,令各該彈力針(4⑸組裝於該 心針換組内時,其f折部(4 2 )係容置於各該間隔孔⑴) 内,而二端之針聊(41)則分別經由該通孔(6 i、7 i)及 ^孔(1 2、3 2 )向外穿出。獨能避免轉彈力針(4 〇 ) 文壓變形幅度過大,而提昇复稃 (4n)i^ 限定所有彈力針 〇)排序之方向,避靖彈力針(4〇)組裝固定時,因 H( 4 2 )的不定向偏細造録設倾的不便处間上的 佔用’翁觀增加彈力針(42)設置之數量。 M326697 另外’請再參閱第五圖所示,本創作探針模級在址成結構的 設計變化上,亦可於該上板(i Q )及下板(3 Q )相對之内面 中心適處分贴触—定位部(1 3、3 3 ),並於各該定位部 (13、3 3)内貫設有若干供該等彈力針(4 〇)其針腳 (4 1)穿設之針孔(12、32),而省略該上、下護片(㈤、 '7 0)之構件,組裝時,利用該定位部(丄3、3 3)與該間隔 板(5 0)接抵,達到穩固之組裝結構。 綜上所述,本創作在同類產品中實有其極佳之進步實用性, 同時遍查國内外關於此類結構之技術資料、文獻中亦未發現有相 同的構造存在在先,是以’本創作實已具倾型專利要件,妥依 法提出申請。 、j述實施例,僅用以舉例說明本創作,據以在不離本創作精 神之耗圍’熟f此項技藝者憑之而作之各觀形、修飾與應用, 均應包括於本創作之範疇者。 【圖式簡單說明】 第一圖··係習用創作之組合剖面圖。 第二圖··係本創作之立體分解圖。 第二圖··係本創作之組合剖面圖。 弟四圖:縣創伽频_合於pcB板之平面示意圖。 第五圖·係本創作另—實施麟構之組合剖面圖。 M326697 【主要元件符號說明】 模組本體:(1) 定位槽:(1 1) 定位部:(1 3 ) 容置部:(2 1 ) 定位槽:(3 1 ) 定位部:(3 3 ) 針腳:(4 1 ) 間隔板:(5 0 ) 上護片:(6 0 ) 下護板:(7 0 ) PCB 板:(8 0 ) 上板·( 1 0 ) 針孔:(1 2 ) 中板:(2 0) 下板:(3 0 ) 針孔:(3 2 ) 彈力針:(4 0) 彎折部:(4 2 ) 間隔孔:(5 1 ) 通孔:(6 1 ) 通孔:(7 1 ) 11
Claims (1)
- M326697 九、申請專利範園: 1 · 一種探針模組之結顧良,其構成包含—模組本體,該模組 本體内緣適射倾設轩彈力針,且令各卿力針二端之 針腳穿出賴組本體,㈣段處之彎折部職於該模組本體 内,其特徵在於: “該模組本體内另可供組設—間隔板,該間隔板上成型有 若干間隔孔,該糾恰可健等彈力針穿設,係令該等 彈力針裝組於該模組本體㈣’各該彈力針之彎折部容置於 各該間隔孔内’藉此不僅能提昇該等彈力針受壓變形之穩定 性,亦能統一限定所有彈力針排序之方向者。 2 ·依據申請專利範圍第工項所述之探針模組之結構改良,其中 該模組本體箱—上板、巾板及下她成,社板及下板相 對之内面k猶分咖設有—定_,並於各該定位槽内 貫設有若干供該等彈力針其針腳穿設之針孔,而該中板對應 該定位槽之中心適處,則形成—貫穿之容置部,用以供該間 隔板容置,且該間隔板相對之上、下緣面另可設置一上、下 護板,該上、下護板於組糾,其_該上板及下板外板面 恰可組設於姆之粒槽處,域上、下馳其板面上分別 貫設有與該等間隔孔相對接之通孔,用以供各該彈力針之針 腳穿設。 12 M326697 3 .依射請專利範圍第i項所述之探針模組之結構&良,其卡 該模組本體係由-上板、巾板及下她成,該上板及下板相 對之内面巾心適處㈣凸設有—定位部,並於各該定位部内 貫設有若干供該轉力針其針腳穿設之針孔,而該中板對應 該定位槽之中心適處,卿成—貫穿之容置部,用以供該間 隔板容置’並_該上板及下板之定位部與該間隔板接抵, 達到穩固之組裝結構。 4 ·依據申請專利範圍第w所述之探針模組之結構改良,其中 成型於該間隔板上之該間隔孔,係可呈長槽狀之開放構態, 且其型之位置排列、數量係視晶片測試之需求而作對應之變 化。 13
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW96213606U TWM326697U (en) | 2007-08-16 | 2007-08-16 | Improved structure of probe module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW96213606U TWM326697U (en) | 2007-08-16 | 2007-08-16 | Improved structure of probe module |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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TWM326697U true TWM326697U (en) | 2008-02-01 |
Family
ID=39540131
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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TW96213606U TWM326697U (en) | 2007-08-16 | 2007-08-16 | Improved structure of probe module |
Country Status (1)
Country | Link |
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TW (1) | TWM326697U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI567846B (zh) * | 2015-08-19 | 2017-01-21 | 創意電子股份有限公司 | 測試單元與使用其的測試裝置 |
-
2007
- 2007-08-16 TW TW96213606U patent/TWM326697U/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
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TWI567846B (zh) * | 2015-08-19 | 2017-01-21 | 創意電子股份有限公司 | 測試單元與使用其的測試裝置 |
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