TWM317015U - Test probe - Google Patents

Description

M317015 八、新型說明： 【新型所屬之技術領域】 特別是指一種具有 本新型是有關於一種測試用探針 低阻抗的測試用探針。 【先前技術】 參閱圖1’傳統的測試用探針丨是可置換地設置於一測 試座100的一探針孔200中，用以雷磕拉/士 ，± 笔連接一待測接點3〇〇 及一收訊接點400。

該測試用探針1 該探針孔200的殼體 ，及一彈性元件14。 是以導電材料製成，並包括一穿設於 件11、一上接觸件12、一下接觸件13 該殼體件11具有-中空的底壁U1、—由該底壁⑴ 之外周緣向上延伸的圍繞壁112、一由該圍繞壁112之頂端 徑向向内延伸之中空的頂壁113’及一由該底冑⑴與圍繞 壁112及頂壁113所界定的穿孔114。 該上接觸件12是可上下移動地設置於該殼體件^的穿 孔114上半部，並具有—可移動地抵靠該頂壁⑴之底面的 抵靠部121、-由該抵靠部⑵向下延伸的連接部122，及 -由該抵靠部121向上延伸並穿過該頂壁113而可接觸 測接點300的接觸部123。 、 该下接觸件13是可上下移動地設置於該殼體件丨丨的穿 孔二14下半部，並具有一可移動地抵靠該底壁111之頂面的 抵罪p 13 1由该抵靠部13 1向上延伸的連接部i 32，及 由吞亥抵#部132向下延伸並穿過該底壁1U而可接觸該收 5 M317015 訊接點400的接觸部133。 該彈性元件14是可壓縮形變地設置於該殼體件u之穿 孔114内，且二端分別連接該上接觸件12的連接部122及 J下接觸件13的連接部132，並用於因應該待測接點3〇〇 及該收訊接點400的間距緩衝調變該上、下接觸件12、13 的距離。該彈性元件14是一壓縮彈簧。 參閱圖2,使用時，將該測試座1〇〇設置於該收訊接點 彻上方’且使該下接觸件13之接觸部133接觸該收訊接 點400，並使該待測接點3〇〇接觸該上接觸# 12之接觸部 123，依據该待測接點3〇〇及該收訊接點的間距，該上 、下接觸件12、13相應配合壓縮該彈性元件u，使該彈性 元件Η偏斜抵靠該殼體件u，岐得該上接觸件u的接 觸部123及該下接觸件13的接觸部133同時偏斜抵靠該殼 體件η ’而沿該待測接點300、該上接觸件12、該殼體件 U、該下接觸# 13及該收訊接點400形成電通路。 但是由於使用時，該上、下接觸件12、13及該彈性元 件14是抵靠著該殼體件11運動，僅依靠該上接觸件12的 接觸部123及該下接觸件13的接觸部133同時偏斜抿靠該 殼體件U形成電導通，彼此間實際接觸面積並不大，且較 多的接觸點相對會使訊號傳輸時的阻抗加大，

體測試’不僅訊號傳輸速度無法有效提升，另-方面I 4表面互相摩擦㈣落㈣粒，將沉積於該殼 ，影響訊息傳遞的正確性。 内 【新型内容】 M317015 因此，本新型之目的，是在提供一種測試用探針，可 有效降低阻抗並增加訊息傳遞的正確性。 於疋，本新型測試用探針是設置於一基板的探針孔中， 用以電連接一待測接點及一收訊接點，並包含有一第一接觸 件 弟一接觸件，及一彈性元件。

忒第一接觸件可上下移動地插設於該探針孔中，並具 有一用於接觸該待難點的第—頭部，及—由該第一頭部向 下延伸的第-桿身部，該第二接觸件可上下移動地插設於該 探針孔中，並包括-用於接觸該收訊接點的第二頭部，及一 由該第二頭部向下延伸並與該第—桿身部相抵靠在一起的第 桿身。卩，ό亥彈性元件是可壓縮形變地設置於探針孔中，且 兩端可以分別頂抵該第一頭部與該第二頭部。 本新型之功效在於藉由該第一接觸件之第一桿身部可 錢與該第二接觸件ϋ身部貼緊疊#在—起，增加 該第-、二接觸件之接觸面積，使訊息傳輸之阻抗^效 降低’使訊息傳輸速度加快並提升訊息傳遞的正確性。 【實施方式】 、特徵與優點，在以下 說明中，將可清楚的明 本新型之前述及其他技術内容 配合參考圖式之較佳實施例的詳細 白0 乡圖3、4，及5，為本新型測試用探針5之較佳 施例’該測_探針5是設置於—基板6的探針孔 用以電連接—待測接點及-收訊接點’該測試用探針5包 含一第—接觸件51、一第二接觸件52，及—彈性元件53。 M317015 、〜、有用於接觸該待測接點的第一頭部 511’及一由該第-頭部川向下延伸的第—桿身部51/。 W’該第-頭部511具有一與該第—桿身部512鄰接且突 出遠第一頭部511兩側的第-限位塊513。 > :亥：一接觸件52概呈扁平狀，同樣是可上下移動地插

π於技針孔7中，亦具有—用於接觸該收訊接點的第二 頭部52卜及一由該第二頭部521向下延伸並與該第一桿身 部犯相互抵靠在一起的第二桿身部522。其中，該第二頭 一 521具有-與㈣二桿身部⑵鄰接且突出該第二頭部 521兩側的第二限位塊523。 在此應特別注意的是，該第一、二接觸# 51、52之第 一、一頭部511、521其形狀並非僅限於圖式中所繪，舉凡 平頭式、大頭式或其他形式皆可，端視該待測接點與該收 訊接點的態樣而可有所改變。舉例來說當待測接點為概呈 圓形之金屬錫球，而該收訊接點為一金屬墊時，就相當適 合圖3中所繪製的形狀，實際實施時還可以有很多形狀變 化，當不能以此為限。同理，該第一、二桿身部512、522 亦同，由於實施時變化態樣繁多，只要該第一、二桿身部 512、522是相互靠抵在一起，即屬本新型之範疇，當不能 以圖式中所繪製之形狀來限制。 該彈性元件53是可壓縮形變地設置於探針孔7中，且 該彈性元件53之兩端可以分別頂抵該第一頭部5丨丨與該第 一頭部521。在本較佳實施例中，該彈性元件是一壓縮彈簧 M317015 ’但實際實施時該彈性元件5 3也可以是一片狀菁片。 值得一提的是，當該彈性元件53為壓縮彈簣時，是將 該第-、二桿身部512、522框圍在—起且㈣是頂抵於該 第-、二限位塊513、523之間。當該彈性元件53為片狀 簧片時’是設置於該第-、二桿身部512、522旁並頂抵於 該第一、二限位塊513、523之間。由於彈性元件53之態 樣繁多故於此不再多加緣圖示意列舉。

▼，，…入穴为―曰碌乐一；f早 身部5 1 2之一側彎折延#的笛4 ^ ¥狀伸的第一扣接部514，而該第二接觸 )52更具有-自該第二桿身部522之—侧彎折延伸的第二 口接部似，當該第-、二接觸件5卜52之第—、 #512、522相互抵靠在—起時，該第—、二扣接部514、 似^目配合將該第-、二桿身部512、5 以避免該第一、二接觸件q ^ 、 授隹^ 連通待測接點及收訊接點。脱離’導致測試訊號無法 吞亥第一接觸件5 1 有一縱向浮凸的第-定位塊515，^—w碩部511上更形成 形狀對應之第—定沖 越針孔7巾亦形成有 Μ 7 _ 限制該第-接觸件51於咳探 接觸…= 孔7中亦形成有形狀對應之第位塊仍，而該探針 接觸件52於該探針孔7 —位槽72’以限制該第二 本新型之測試用探針5、藉二方:偏移h 身部512可直接與該第二接觸 接觸件之第一桿 之第二捍身部522貼緊 M317015 疊靠在一起，以增加該第一、二接觸件51、52之接觸面積 ’同時相較習知減少了接觸接點，進而使的測試訊號傳輸 時之阻抗能有效降低，不單可使訊號傳輸速度加快更提升 了訊號傳遞的正確性。 歸納上述，本新型之測試用探針5具有兩長板狀之第 一、二桿身部512、522相互疊靠於該探針孔7中，並辅以 該第一、二扣接部514、524以及該第一、二定位塊515、 525的設計，限制了縱向及水平方向的偏移量，使得該測試 用探針5在該探針孔7中作上下運動時，得以盡量維持於 中心位置，確保該第一、二接觸件51、52能有穩固的接觸 而形成電導通，同時使測試訊號在傳輸時之阻抗能有效降 低，讓訊號傳輸速度加快更提升訊號傳遞的正確性，故確 實能達到本新型之目的。 ^惟以上所述者，僅為本新型之較佳實施例而已，當不 月b以此限疋本新型實施之範圍，即大凡依本新型申請專利 範圍及新型說明内容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍 屬本新型專利涵蓋之範圍内。 10 M317015 【圖式簡單說明】 圖1疋-剖視圖，說明一傳統的測試用探針設置於一 測試座的一探針孔，且尚去雷金 内禾電連接一待測接點及一收訊接 點時的狀態； 圖2是一剖視圖，說明圖j之傳統的測試用探針之二 端分別接觸該待測接點及該收訊接點時的狀態； 圖3是一剖視圖，說明本新型之測試用探針之較佳實 施例中，一第一接觸件之實施態樣； 圖4是一剖視圖，說明本新型之測試用探針之較佳實 施例中’一第二接觸件之實施態樣；； 圖5是一局部分解示意圖，說明本新型之測試用探針 設置於一探針孔内的實施態樣；及 圖6是一立體組合示意圖，說明本新型測試用探針之 第一接觸件與第二接觸件相互結合的態樣。 11 M317015 【主要元件符號說明】 5 *… 測試用探針 522 * . 第二桿身部 51*… 第 一接觸件 523 · * 第二限位塊 511 * · 第 一頭部 524 · * 第二扣接部 512 .. 第 一桿身部 525 * ‘ 第二定位塊 513… 第 一限位塊 53· · _ 彈性元件 514… 第 一扣接部 6 · · 基板 515 · · 第 一定位塊 7 · · •探針孔 52*… 第 二接觸件 71 . · •第一定位槽 521… 第二頭部 72· · •第一定位槽 12

Claims (1)

1. M317015 九、申請專利範圍·· 1 ·種測试用探針，是設置於一基板的探針孔中，用以電 連接一待測接點及一收訊接點，並包含： 、 第接觸件’可上下移動地插設於該探針孔中， :,八有用於接觸該待測接點的第一頭部，及一由該第 一頭部向下延伸的第一桿身部； 、，一第二接觸件，可上下移動地插設於該探針孔中， 亚具有一用於接觸該收訊接點的第二頭部，及一由該第 一頁p向下延伸並與该第一桿身部相抵靠在一起的第二 桿身部；以及 一 一弹性元件，是可壓縮形變地設置於探針孔中，且 兩端可以分別頂抵該第一頭部與該第二頭部。 2·㈣巾請專利範圍第1項所述之測試用探針，其中，該 彈性元件是一壓縮彈簧。 3.依射請專利範圍第1項所述之測制探針，其中，談 彈性元件是一片狀簧片。 4·依據巾請專利範圍第2項所述之測試用探針，其中，該 第一頭部具有—與該第一桿身部鄰接的第-限位塊，: 该t一碩部具有—與該第二桿身部鄰接的第二限位塊， 該彈性元件是將♦女笛 _ »θ ή ^疋將°亥第·'、一私身部框圍在一起且兩端是 頂抵於该第一、二限位塊之間。 5 .依據申請專利範圍第 第一頭部具有一與該 該弟二頭部具有一與 3項所述之測試用探針 第一桿身部鄰接的第一 该第二桿身部鄰接的第 ’其中，該 限位塊，而 二限位塊， 13 M317015 該彈性元件之兩端是頂抵於該第一、二限位塊 6.依據中請專利範圍第4《曰。 ，該第-接觸件更具有一自該第_::::=:其中 伸的第-扣接部，該第二接觸件更具有一自心切延 敎一側f折延伸㈣二扣接部，當㈣桿身 之第-、二桿身部相互抵靠在一起時，—觸件 部可相配合將該第一、二桿身部扣接在一起。―、二扣接 7:據申：專利範圍第6項所述之測試用探針，其中，該 頭部上更形成有一縱向浮凸的第一 八 針孔中有形狀對應之定位槽，以限 二而該探 探針孔中的水平向偏移量。 帛-接觸件於該 8·，據中請專利範圍第6項所述之測試 ^ 第二頭部上更形成有一縱向浮凸的第二：、，其中’該 針孔中有形狀對應之定位槽，；；位塊’而該探 探針孔中的水平向偏移量。 】該第二接觸件於該 14