TWI835274B - 導電片以及具有該導電片之檢測裝置 - Google Patents

Abstract

本發明揭露一種導電片，該導電片設置於一彈性體上且用以提供一待測元件與一測試電路板之連接，其中，該導電片具有連結該待測元件之接腳的第一連接面以及連結該測試電路板之測試接點的第二連接面，且該第一連接面與該第二連接面之間有未交疊該導電片之輪廓的一直線導電路徑，另外，前述之導電片係設置於檢測裝置內，當該導電片受來自該待測元件之下壓力時，將以該第二連接面接觸該測試接點之處為支點產生轉動並持續接觸該測試電路板之測試接點，以進行電性測試。綜上，本發明之導電片設計適用於高頻元件之測試，且能減少導電片與檢測裝置之間的摩擦損耗。

Description

導電片以及具有該導電片之檢測裝置

本發明係有關於導電元件之技術，尤指一種導電片以及具有該導電片之檢測裝置。

目前市場上販售的探針產品，多數應用於頻寬小於40千兆赫茲(GHz)，經研究可知，探針外型結構會影響內部電流的表現，主要是電流反向能量抵銷的效應，致使訊號無法穩定的作傳輸。

具體而言，用於進行產品測試之檢測設備，通常透過導電探針(或稱導電片)來進行產品端與測試端的電性連結，此類導電探針其一端點連結產品端，另一端點連結測試端，進而讓兩者電路導通，通常此類導電探針周邊會設置至少一個彈性元件，以於測試過程中受到產品端之下壓力時提供緩衝，以及於完成測試且產品端移開後，讓導電探針透過彈性元件回復到原本位置；此外，為了滿足檢測設備之設計以及與產品端和測試端的連結，此類導電探針通常呈現不規則的形狀，若是應用於低頻上並無問題，但隨著現行電子產品高頻需求，若採用現行的導電探針進行測試，測試訊號的功率將 損失較大，也導致量測結果不準確，易言之，現行的導電探針並無法應用在高頻電子產品的測試上。

由此可見，現行之導電探針仍然有改進空間，因而如何提供一種適用高頻測試之導電元件，藉以滿足高頻的測試需求，同時在不影響測試需求下，也能與檢測設備相互配合，此將成為目前本技術領域人員急欲追求之目標。

為解決上述現有技術之問題，本發明一種導電片，係設置於一彈性體上且用以提供一待測元件與一測試電路板之連結，該導電片包括：一第一連接面，用於連結該待測元件之一接腳；一第二連接面，相對該第一連接面設置，用於連結該測試電路板之一測試接點；一斜背面，其兩端連接該第一連接面及該第二連接面；以及一安裝面，相對該斜背面設置且包含一彎曲段，該彎曲段用於容置該彈性體，其中，該第一連接面與該第二連接面之間具有未交疊到該斜背面及該安裝面之一直線導電路徑。

於一實施例中，該彎曲段係朝向該第二連接面。

於另一實施例中，該彎曲段與該斜背面之間具有一第一寬度距離，該第一寬度距離與該直線導電路徑之比值範圍為0.12~0.35。

於另一實施例中，該彎曲段與該斜背面之間具有一第一寬度距離，以及該彎曲段與該直線導電路徑之間具有一第二寬度距離，其中，該第二寬度距離與該第一寬度距離之比值範圍為0.5~0.7。

於上述實施例中，該第二寬度距離大於0.12公釐(mm)。

於另一實施例中，該斜背面與位於該第一連接面處之水平線兩者之間的夾角為40°~50°。

於一實施例中，該第一連接面投影至一水平面之範圍與該彎曲段投影至該水平面之範圍重疊。

本發明復揭露一種檢測裝置，用於提供一待測元件以及一測試電路板之電性連結，以供該待測元件進行測試，該檢測裝置包括：一底座，具有供該待測元件置放之一第一安裝空間以及與該第一安裝空間連通之複數個第二安裝空間；複數個彈性體，分別設置於各該複數個第二安裝空間內；以及複數個如前述之導電片，分別設置於各該複數個第二安裝空間內並抵靠相對應之該彈性體，使各該導電片透過該彈性體之限位而於一導通位置及一非導通位置之間轉換。

於上述檢測裝置中，於該非導通位置時，各該導電片其該第一連接面由對應之該第二安裝空間凸伸至該第一安裝空間以及該第二連接面接觸所對應之該待測元件之測試接點，於該導通位置時，各該導電片之該第一連接面受到該待測元件往該測試電路板方向之下壓力，使各該導電片之該第一連接面受該下壓力而沉入該第二安裝空間內，以令各該導電片以該第二連接面接觸該測試接點之處為支點產生轉動，且各該導電片之該第二連接面持續接觸該測試電路板之測試接點

本發明復揭露一種檢測裝置，用於提供一待測元件以及一測試電路板之電性連結，以供該待測元件進行測試，該檢測裝置包括：一底座，具有供該待測元件置放之一第一安裝空間以及與該第一安裝空間連通之複數個第二安裝空間；複數個彈性體，分別設置於各該複數個第二安裝空間內； 以及複數個如前述之導電片，分別設置於各該複數個第二安裝空間內並抵靠相對應之該彈性體，使各該導電片透過該彈性體之限位而於一導通位置及一非導通位置之間轉換，其中，該直線導電路徑與位於該第一連接面處之水平線兩者之間具有一夾角，使各該導電片呈現一傾斜角度，且各該導電片之該彎曲段於該安裝面上與該第一連接面之水平距離小於與該第二連接面之水平距離。

於上述檢測裝置中，於該非導通位置時，各該導電片其該第一連接面由對應之該第二安裝空間凸伸至該第一安裝空間以及該第二連接面接觸所對應之該待測元件之測試接點，於該導通位置時，各該導電片之該第一連接面受到該待測元件往該測試電路板方向之下壓力，使各該導電片之該第一連接面受該下壓力而沉入該第二安裝空間內，以令各該導電片以該第二連接面接觸該測試接點之處為支點產生轉動，且各該導電片之該第二連接面持續接觸該測試電路板之測試接點。

綜上，本發明之導電片以及具有該導電片之檢測裝置，能適用於高頻產品的測試，導電片用於連結待測元件及測試電路板的兩端形成有直線導電路徑，且該直線導電路徑與導電片的整體輪廓並無交疊到，亦即，導電片的各表面不會影響導電路徑的傳輸，使得該直線導電路徑為最短傳輸路徑，如此於電流傳輸過程，能減少電流反向能量的抵銷效應，可避免訊號受到干擾而無法被穩定傳輸；另外，本發明之導電片設置於一個彈性體上，透過與該彈性體之間的位置設計，讓導電片受到下壓力而有轉動情況時，減少與容設該導電片之檢測裝置其槽壁之間的摩擦情況，藉以避免槽壁受到損壞，易言之，本發明之導電片及檢測裝置能應用於高頻檢測上，針對現行高 頻元件之檢測能更準確，且導電片與彈性體之間的配置，也能延長導電片及檢測裝置之使用年限。

1:導電片

101:第一連接面

102:第二連接面

103:斜背面

1031:凹槽

1032:凸塊

104:安裝面

1041:彎曲段

11:直線導電路徑

2:彈性體

3:待測元件

31:接腳

4:測試電路板

41:測試接點

5:底座

51:座體

511:第一安裝空間

512:第二安裝空間

513:內槽壁

811~843:曲線

90:水平線

91:直線

d、D:距離

F1:下壓力

F2:抵頂力

L:長度

L1~L3:距離

θ ₁-θ ₃:角度

請參閱有關本發明之詳細說明及其附圖，將可進一步瞭解本發明之技術內容及其目的功效。有關附圖為：

圖1為本發明之導電片的側視圖。

圖2為本發明之檢測裝置的示意圖。

圖3A和3B為導電片於導通狀態與非導通狀態的示意圖。

圖4A和4B為導電片其結構設計的示意圖。

圖5A-5D為導電片於一實施例中改變其斜背結構的示意圖。

圖6為說明圖5A-5D之不同結構下導電片的迴路損失(Return Loss)。

圖7A-7C為導電片於另一實施例中改變其傾斜角度的示意圖。

圖8為說明圖7A-7C之不同設計下導電片的迴路損失(Return Loss)。

圖9A-9B為導電片於另一實施例中改變其傳輸路長度的示意圖。

圖10為說明圖9A-9B之不同設計下導電片的迴路損失(Return Loss)。

圖11A-11B為導電片於另一實施例中改變彈性體設置位置的示意圖。

圖12為說明圖11A-11B之不同設計下導電片的迴路損失(Return Loss)。

圖13為導電片於檢測裝置之容設空間中轉動時的磨耗說明。

以下藉由特定的具體實施形態說明本發明之技術內容，熟悉此技藝之人士可由本說明書所揭示之內容輕易地瞭解本發明之優點與功效。然本發明亦可藉由其他不同的具體實施形態加以施行或應用。

圖1為本發明之導電片的側視圖。如圖所示，本發明之導電片1是設置於檢測裝置內，更具體來說，設置於檢測裝置內的一彈性體2上，用以提供一待測元件與一測試電路板之連結，以進行該待測元件之電性檢測，其中，該導電片1包含一第一連接面101、相對該第一連接面101之一第二連接面102、一斜背面103以及相對該斜背面103且包含一彎曲段1041之一安裝面104。

該第一連接面101用於連結該待測元件之一接腳31，該第二連接面102用於連結該測試電路板之一測試接點41，該彎曲段1041用於容置該彈性體2，使該導電片1於一導通位置及一非導通位置之間轉換，亦即，該彎曲段1041內容置該彈性體2，使該導電片1設置在該彈性體2上，具體來說，該彎曲段1041係朝向該第二連接面102，透過讓該彈性體2卡合於該彎曲段1041內以限位該導電片1，因為該彈性體2具有彈性空間，使得該導電片1於測試期間，在導通位置及非導通位置之間轉換。

具體來說，於該待測元件之接腳31連接至該第一連接面101而使該導電片1受到往該測試電路板方向之下壓力時，該導電片1會有下壓之作動，並且該導電片1以該第二連接面102接觸該測試接點41之處為支點產生轉動，且令該第二連接面102持續接觸該測試電路板之該測試接點41。易言之，當待測元件進行測試時，會讓該待測元件之接腳31接觸該第一連接面101而產生一個下壓力，該彈性體2受到該下壓力後產生形變，使得該導電片1以該第二連接面102接觸該測試接點41之處為支點產生些微轉動，進而讓該導電片1由非導通位置轉換至導通位置，於該導電片1轉動過程，該第二連接面102會持續接觸該測試電路板之該測試接點41。

於該導電片1中，該第一連接面101與該第二連接面102之間具有未交疊到該斜背面103及該安裝面104之一直線導電路徑11，該直線導電路徑11用於提供訊號傳輸且為該第一連接面101與該第二連接面102之間的最短直線路徑，本發明透過讓該直線導電路徑11不受導電片1之輪廓影響，亦即，該導電片1之各個表面皆與該直線導電路徑11無交錯或重疊，藉以避免訊號傳輸受到影響(需要繞道)而有訊號損耗之情況。

另外，該第一連接面101投影至一水平面之範圍與該彎曲段1041投影至該水平面之範圍重疊，易言之，該彎曲段1041位於該安裝面104上的位置，與該第一連接面101之水平距離小於與該第二連接面102之水平距離，當投影到水平面時，該彎曲段1041之投影會與該第一連接面101之投影有所重疊，但該彎曲段1041之投影與該第二連接面102之投影則無重疊，亦即該彎曲段1041較接近該第一連接面101，如此，導電片1裝設在檢 測裝置內時，能減少導電片1與檢測裝置之間的摩擦，關於摩擦說明，後面會再詳述。

圖2為本發明之檢測裝置的示意圖。如圖所示，本發明之檢測裝置提供一待測元件3以及一測試電路板4之間的電性連結，以進行該待測元件3之訊號檢測，其中，該待測元件3具有複數個接腳31，該測試電路板4上具有複數個測試接點41。此外，該檢測裝置具有一底座5、複數個彈性體2以及對應該些彈性體2之複數個導電片1。

底座5具有座體51、由座體51內壁圍繞出之第一安裝空間511以及與該第一安裝空間511連通之複數個第二安裝空間512，該第一安裝空間511提供該待測元件3置放其中，該複數個第二安裝空間512則提供該複數個導電片1以及該複數個彈性體2設置。具體來說，於測試時，該待測元件3將放置該第一安裝空間511內，該待測元件3之複數個接腳31則朝向該複數個第二安裝空間512，該複數個第二安裝空間512彼此間隔排列並分別連通與該第一安裝空間511，舉例來說，可配合該待測元件3之複數個接腳31設計，令該第二安裝空間512環繞成一個正方形區域，以分別與該待測元件3之複數個接腳31相對應。

複數個彈性體2分別設置於各該第二安裝空間512內，具體來說，各該彈性體2位在相對應的該第二安裝空間512內，以供各該導電片1設置於所對應之各該彈性體2上。於一實施例中，該複數個彈性體2為絕緣材料所構成，具有可彈性變形之特性，當受到外力壓縮時能蓄積一恢復力，以於該外力消除時，讓變形的彈性體2能恢復到原本形狀，而絕緣特性則可讓導電片1進行訊號傳輸時，能降低外部的干擾。

複數個導電片1分別設置於各該第二安裝空間512內並抵靠相對應之各該彈性體2，使得各該導電片1能透過所對應之各該彈性體2之限位而於導通位置以及非導通位置之間轉換。須說明者，圖中圍繞成方形之導電片1為複數個，更具體來說，每一邊有複數個導電片1排列在一起，並分別設置於彈性體2上，而第二安裝空間512則對應導電片1的數量，亦即，第二安裝空間512、導電片1之數量為相對應，可依據設計需求調整，故不以圖中所示為限。

於運作時，各該導電片1於導通位置以及非導通位置之間轉換。於非導通位置時，各該導電片1其該第一連接面101由對應之該第二安裝空間512凸伸至該第一安裝空間511，該第二連接面102接觸所對應之該測試電路板4之測試接點41，於導通位置時，各該導電片1之該第一連接面101受到該待測元件3往該測試電路板4方向之下壓力，使得各該導電片1之該第一連接面101受該下壓力而沉入該第二安裝空間512內，以令各該導電片1以該第二連接面102接觸該測試接點41之處為支點產生轉動，此時，各該導電片1之該第二連接面102持續接觸該測試電路板4之測試接點41，以達到該待測元件3與該測試電路板4之間的訊號導通。

圖3A和3B為導電片於導通狀態與非導通狀態的示意圖，即導電片1設置於檢測裝置之座體51內之剖面圖。如圖3A所示，為導電片1處於非導通狀態，具體來說，導電片1與彈性體2都設置於第二安裝空間512內，該導電片1透過彎曲段1041卡置於該彈性體2上，其中，該導電片1之斜背面103與包含彎曲段1041之安裝面104相對應，而該導電片1之第一連接面101與第二連接面102相對應，此時，該導電片1之第二連接面 102連接測試電路板4之測試接點41，且導電片1之一處抵靠在座體51的內槽壁513上，如此除了彈性體2外，座體51的內槽壁513同時也給予導電片1限位效果。

如圖3B所示，當進行測試時，該導電片1之該第一連接面101與待測元件3之接腳31連結，此時，該導電片1受到來自待測元件3之下壓力而使彈性體2產生變形，此時，該導電片1因受到下壓力和彈性體2的彈性變形關係，呈現逆時鐘的些微轉動，然而基於該導電片1之一處抵靠在座體51的內槽壁513上，故無法大幅轉動，此時待測元件3與測試電路板4之間電性導通而能訊號傳遞，即導電片1處於導通狀態。特別的是，該導電片1之第一連接面101與第二連接面102之間的最短直線路徑提供訊號傳遞，此直線導電路徑並無受到斜背面103或包含彎曲段1041之安裝面104的影響，故降低訊號損耗之情況。

圖4A和4B為導電片之結構設計的示意圖。如前所述，導電片1的外型結構會影響內部電流的表現，也就是，若傳輸路徑受到導電片1外型輪廓影響，將致傳輸路經需繞道傳輸，即導電片1的凹凸設計恐會有電流反向能量抵銷的情況，舉例來說，彈性體2因要防止掉落，故卡設彈性體2處之腰身恐會設計較細，此凹凸設計恐會讓該處角度較為銳利，即會有電流反向能量抵銷的效應，據此，阻抗隨頻率的變化會較劇烈，導致訊號無法穩定的作傳輸。故於本實施例中，將針對導電片1的結構設計進一步說明。

如圖4A所示，第一連接面101連結接腳31，第二連接面102連接測試接點41，第一連接面101與第二連接面102之間具有一直線導電路徑，其長度為L，而彈性體2位在安裝面104之彎曲段1041內，因彈性體 2之設置位置恐會導致斜背面103與安裝面104過窄而影響到該直線導電路徑，這裡定義該彎曲段1041與該斜背面103之間最短距離(或稱寬度)為D，其中，D/L的比值範圍可為0.12~0.35。

如圖4B所示，同樣地，第一連接面101和第二連接面102分別連結接腳31和測試接點41，第一連接面101與第二連接面102之間具有長度為L的直線導電路徑，這裡定義該彎曲段1041與該直線導電路徑之間的最小距離為d，較佳者，d要大於0.12公釐(mm)，如此可避免該彎曲段1041與該直線導電路徑之間太窄而影響傳輸。

另外，該彎曲段1041與該斜背面103之間最短距離為D，則d/D的比值範圍可為0.5~0.7，亦即，當導電片1之腰身太窄或太寬時都會影響到訊號傳輸。

圖5A-5D為導電片於一實施例中改變其斜背結構的示意圖。本實施例說明導電片其斜背面103可具有不同結構設計，如圖所示，圖5A為斜背面103具有一凹槽1031，圖5B為斜背面103具有兩個凹槽1031，圖5C為斜背面103具有一凸塊1032，而圖5D為斜背面103具有兩個凸塊1032。當斜背面103具有至少一凹槽1031或至少一凸塊1032的情況下，若至少一凹槽1031或至少一凸塊1032未影響到導電片在待測元件與測試電路板之間的直線導電路徑時，則該些凹槽1031或凸塊1032的設計是可行的，亦即，若導電片設置於檢測裝置中可能為了穩固或限位而其斜背面有些凸凹設計，在不交疊導電片用於訊號傳輸之直線導電路徑下，將不會影響訊號傳輸。

圖6為說明圖5A-5D之不同結構下導電片的迴路損失(Return Loss)，請一併參考圖5A-5D。本實施例係將圖5A-5D之不同結構的導電片進行迴路損失的測試，如前所述，本發明之導電片是應用於高頻測試，故於本實施例的模擬測試中，將量測圖5A-5D之導電片在頻率100千兆赫茲(GHz)過程中，其迴路損失不可大於-10分貝(dB)。如圖所示，曲線811為本發明之原始設計，即斜背面103無任何凹槽1031或凸塊1032，此時，在頻率100GHz的所有頻段中，導電片之迴路損失皆無大於-10db；另外，曲線812對應圖5A之導電片，曲線813對應圖5B之導電片，曲線814對應圖5C之導電片，曲線815對應圖5D之導電片，由圖中呈現可知，圖5A-5D的導電片，在頻率100GHz的所有頻段中，各別的迴路損失皆無大於-10db，由此可證，在導電片之凹槽1031或凸塊1032不交疊導電片用於訊號傳輸之直線導電路徑下，皆屬可行之設計。

圖7A-7C為導電片於另一實施例中改變其傾斜角度的示意圖。如7A圖所示，為本發明原始設計之導電片，其導電片之斜背面103屬於平直面，平行該斜背面103之延長線為直線91，另外，於圖7A-7C中，在直線91維持不變下，各圖之斜背面103與位於導電片之第一連接面101處之水平線90兩者之間的夾角分別為θ₁-θ₃。具體來說，圖7A為本發明之原始設計，斜背面103與水平線90兩者之間的夾角為θ₁，圖7B和圖7C則是在如同圖7A的導電片，在上下兩連接面的接觸距離不變下，轉動導電片的角度，其中，圖7B在導電片作順時鐘旋轉下，斜背面103與水平線90兩者之間的夾角變大，即夾角為θ₂，圖7C在導電片作逆時鐘旋轉下，斜背面103與水平線90兩者之間的夾角變小，即夾角為θ₃。

圖8為說明圖7A-7C之不同設計下導電片的迴路損失。於本測試實驗中，圖7A-7C中θ₁-θ₃分別為48°、38.5°以及52.4°，經模擬測試後得到對應圖7A之曲線821、對應圖7B之曲線822以及對應圖7C之曲線823，如圖8所示，圖7A為本發明原始設計之導電片，在頻率100千兆赫茲(GHz)的所有頻段中，其迴路損失並無大於-10分貝(dB)，故直線91與水平線90兩者之間的夾角θ₁，屬於可行之角度；圖7B之導電片經模擬測試後，發現在頻率68GHz時，其迴路損失已大於-10分貝(dB)，故圖7B之導電片的角度38.5°並不適用於高頻測試上；圖7C之導電片經模擬測試後，發現在頻率34GHz時，其迴路損失已大於-10分貝(dB)，故圖7C之導電片的角度52.4°也不適用於高頻測試上。

關於本發明之導電片的可傾斜角度，經實驗證明後，得到夾角角度為48°時，為最佳角度，且本發明之導電片其傾斜角度可為40°~50°之間，皆適用於高頻測試上。

圖9A-9B為導電片於另一實施例中改變其傳輸路長度的示意圖。本實施例係說明導電片之傳輸路徑大小對於訊號傳導之影響，請先參考圖4A，本發明之設計中，原始設計之直線導電路徑的長度為L，長度L之範圍可為0.8公釐至1.4公釐，較佳者可為1.34公釐；接著，如圖9A所示，導電片之第一連接面101和第二連接面102之間的距離為L1，具體來說，此導電片的角度30°下，長度L1為1.18公釐，而圖9B所示之導電片則加長傳輸路徑之距離，其第一連接面101和第二連接面102之間的距離為L2，具體來說，此導電片的角度60°下，長度L2為1.87公釐。

圖10為說明圖9A-9B之不同設計下導電片的迴路損失(Return Loss)。經模擬測試後得到，本發明之原始設計的直線導電路徑L(如圖4A所示)，其模擬結果得到曲線831，另外，曲線832對應圖9B，而曲線833對應圖9A，其中，曲線831和曲線833在頻率100千兆赫茲(GHz)的所有頻段中，其迴路損失都無大於-10分貝(dB)，適用於高頻測試上，反之，曲線832在頻率40GHz左右時，其迴路損失已大於-10分貝(dB)，故不適用於高頻測試上，由此驗證，直線導電路徑的長度L之範圍落在0.8公釐至1.4公釐。

圖11A-11B為導電片於另一實施例中改變彈性體2設置位置的示意圖。本實施例係說明導電片之彈性體2設置位置對於訊號傳導之影響，請先參考圖4A，本發明之設計中，彈性體2設置位置是在安裝面104之彎曲段1041處，圖4A之彎曲段1041是在安裝面104靠近第一連接面101處；接著，如圖11A所示，導電片之彎曲段1041是位在第一連接面101和第二連接面102之間的中間處，而圖11B所示之導電片，其彎曲段1041是位在安裝面104靠近第二連接面102處。

圖12為說明圖11A-11B之不同設計下導電片的迴路損失(Return Loss)。經模擬測試後得到，本發明之原始設計中，彈性體2設置位置是在安裝面104靠近第一連接面101處，其模擬結果得到曲線841，另外，曲線842對應圖11A，而曲線843對應圖11B，其中，曲線841在頻率100千兆赫茲(GHz)的所有頻段中，其迴路損失都無大於-10分貝(dB)，適用於高頻測試上，反之，曲線842在頻率64GHz左右時，其迴路損失已大於-10分貝(dB)，而曲線843在頻率44GHz左右時，其迴路損失已大於-10分貝(dB)，都不適用於高頻測試上。

由上述模擬結果可知，彈性體2設置位置會對於訊號傳導產生影響，如圖11A和11B所示，因為彈性體2設置位置越靠近第二連接面102，使得彎曲段1041處的傳輸路經之寬度過窄，當然會影響到訊號傳輸的效能。綜上可知，於本發明設計中，因導電片靠近第一連接面101處的寬度較寬，而靠近第二連接面102處的寬度較窄，故彈性體2設置位置較佳者是靠近第一連接面101處，亦即，避免因彈性體2之設置而有傳輸路經之寬度過窄的情況即可。

圖13為導電片於檢測裝置之容設空間中轉動時的磨耗說明。如圖所示，進行測試時，導電片受到上方之待測元件的下壓力F1，此時彈性體2變形，除了該導電片下方連結測試電路板處受到部分的力外，因該導電片右側抵靠座體的內槽壁513，加上該導電片會有逆時鐘的轉動，故內槽壁513會受到來自該導電片的抵頂力F2，若抵頂力F2過大，將導致內槽壁513受損。故於本發明設計中，期望抵頂力F2不要過大，以彈性體2之中心(未變形下)作為彈性體支點，X1為F1延伸線到彈性體支點的長度(力臂)，L3為F2接觸導電片之一端與彈性體2未變形下之圓心兩者的距離(力臂)，X2則是L3投影到水平面的長度，整體力矩關係式為F1*X1=F2*L3，因為X1<X2且X2<L3，則推得X1<L3，故可得到F1>F2，換言之，本發明之設計，抵頂力F2小於下壓力F1，因而讓內槽壁513受力減輕，即內槽壁513受力較小，其磨耗小，如此可減少內槽壁513受損情況。

另外，圖13中的力矩關係式，也說明了彈性體2設置位置的重要，簡言之，當彈性體2越靠近內槽壁513(也就是測試電路板這一側)，則會有X1>L3的情況發生，此時將導致有F1<F2的可能性，如此，使得抵 頂力F2比一開始的下壓力F1大，並非良善設計，此亦符合本發明圖11A、11B和12所述內容。

綜上，本發明提出之導電片以及具有該導電片之檢測裝置，係能適用於高頻測試上，其中，導電片中用於連結待測元件及測試電路板的兩端形成有直線導電路徑，且該直線導電路徑與導電片的外型輪廓無交疊，故能避免該直線導電路徑的訊號傳輸受到影響；另外，本發明之導電片設置於一個彈性體上，透過與該彈性體之間的位置設計，當導電片受到下壓力而有轉動情況時，能減少檢測裝置其內槽壁受到導電片之摩擦，故可避免內槽壁受到損壞，綜前可知，本發明之導電片及檢測裝置能應用於高頻檢測上，對於現行高頻元件之檢測能更準確，且透過彈性體之位置設計，也能降低對導電片或檢測裝置之摩擦損耗。

上列詳細說明係針對本發明之一可行實施例之具體說明，惟該實施例並非用以限制本發明之專利範圍，凡未脫離本發明技藝精神所為之等效實施或變更，均應包含於本發明之專利範圍中。

1:導電片

101:第一連接面

102:第二連接面

103:斜背面

104:安裝面

1041:彎曲段

11:直線導電路徑

2:彈性體

31:接腳

41:測試接點

Claims (11)

1. 一種導電片，係設置於一彈性體上且用以提供一待測元件與一測試電路板之連結，該導電片包括：一第一連接面，用於連結該待測元件之一接腳；一第二連接面，相對該第一連接面設置，用於連結該測試電路板之一測試接點；一斜背面，其兩端連接該第一連接面及該第二連接面；以及一安裝面，相對該斜背面設置且包含一彎曲段，該彎曲段用於容置該彈性體，其中，該第一連接面與該第二連接面之間具有未交疊到該斜背面及該安裝面之一直線導電路徑。
2. 如請求項1所述之導電片，其中，該彎曲段係朝向該第二連接面。
3. 如請求項1所述之導電片，其中，該彎曲段與該斜背面之間具有一第一寬度距離，該第一寬度距離與該直線導電路徑之比值範圍為0.12~0.35。
4. 如請求項1所述之導電片，其中，該彎曲段與該斜背面之間具有一第一寬度距離，以及該彎曲段與該直線導電路徑之間具有一第二寬度距離，其中，該第二寬度距離與該第一寬度距離之比值範圍為0.5~0.7。
5. 如請求項4所述之導電片，其中，該第二寬度距離大於0.12公釐(mm)。
6. 如請求項1所述之導電片，其中，該斜背面與位於該第一連接面處之水平線兩者之間的夾角為40°~50°。
7. 如請求項1所述之導電片，其中，該第一連接面投影至一水平面之範圍與該彎曲段投影至該水平面之範圍重疊。
8. 一種檢測裝置，用於提供一待測元件以及一測試電路板之電性連結，以供該待測元件進行測試，該檢測裝置包括：一底座，具有供該待測元件置放之一第一安裝空間以及與該第一安裝空間連通之複數個第二安裝空間；複數個彈性體，分別設置於各該複數個第二安裝空間內；以及複數個如請求項1至7任一項所述之導電片，分別設置於各該複數個第二安裝空間內並抵靠相對應之該彈性體，使各該導電片透過該彈性體之限位而於一導通位置及一非導通位置之間轉換。
9. 如請求項8所述之檢測裝置，其中，於該非導通位置時，各該導電片其該第一連接面由對應之該第二安裝空間凸伸至該第一安裝空間以及該第二連接面接觸所對應之該測試電路板之測試接點，於該導通位置時，各該導電片之該第一連接面受到該待測元件往該測試電路板方向之下壓力，使各該導電片之該第一連接面因該下壓力而沉入該第二安裝空間內，以令各該導電片以該第二連接面接觸該測試接點之處為支點產生轉動，且各該導電片之該第二連接面持續接觸該測試電路板之測試接點。
10. 一種檢測裝置，用於提供一待測元件以及一測試電路板之電性連結，以進行該待測元件之測試，該檢測裝置包括：一底座，具有供該待測元件置放之一第一安裝空間以及與該第一安裝空 間連通之複數個第二安裝空間；複數個彈性體，分別設置於各該複數個第二安裝空間內；以及複數個如請求項1至7任一項所述之導電片，分別設置於各該複數個第二安裝空間內並抵靠相對應之該彈性體，使各該導電片透過該彈性體之限位而於一導通位置及一非導通位置之間轉換，其中，該直線導電路徑與位於該第一連接面處之水平線兩者之間具有一夾角，使各該導電片呈現一傾斜角度，且各該導電片之該彎曲段於該安裝面上與該第一連接面之水平距離小於與該第二連接面之水平距離。
11. 如請求項10所述之檢測裝置，其中，於該非導通位置時，各該導電片其該第一連接面由對應之該第二安裝空間凸伸至該第一安裝空間以及該第二連接面接觸所對應之該測試電路板之測試接點，於該導通位置時，各該導電片之該第一連接面受到該待測元件往該測試電路板方向之下壓力，使各該導電片之該第一連接面受該下壓力而沉入該第二安裝空間內，以令各該導電片以該第二連接面接觸該測試接點之處為支點產生轉動，且各該導電片之該第二連接面持續接觸該測試電路板之測試接點。

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