TWI830010B - 濾光器、其製造方法及光學模組 - Google Patents

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Abstract

本發明之濾光器10係以SCE方式測得之L*為20以上者,且對760 nm以上2000 nm以下之波長範圍內之至少一部分波長之光的直線透過率為60%以上,加熱收縮之溫度為85℃以上。

Description

濾光器、其製造方法及光學模組
本發明係關於一種濾光器、其製造方法及光學模組,例如係關於一種適宜用作紅外線之直進透過率較高且可見光之漫反射率較高之紅外線濾光器的濾光器、其製造方法及將此種濾光器配備於裝置所具有之紅外線受光部之前表面的光學模組。上述裝置例如為感測裝置或通信裝置。
利用紅外線之感測技術或通信技術正在開發並得到實用。由於接收紅外線之元件對可見光亦有感度,故而使用僅使紅外線選擇性地透過之紅外線透過濾光器。紅外線之定義視技術領域而異。於本說明書中,「紅外線」係指至少包含感測或通信所使用之波長760 nm以上2000 nm以下之範圍內之光(電磁波)。又,「可見光」係指400 nm以上且未達760 nm之範圍內之光。
先前之紅外線透過濾光器由於吸收可見光,故而大多呈黑色,因此,存在設計性較差之問題。
因此,例如專利文獻1中,揭示有一種紅外線受光發光部,其具有使紅外線透過且使可見光反射及透過之介電體多層膜、以及被加工成緞紋狀之表面。又,專利文獻2中,揭示有一種紅外線通信用光學物品,其透明基材之表面藉由表面粗糙化而形成有微細之凹凸形狀,利用該凹凸形狀所引起之瑞利散射,使可見光散射,從而呈白色,並且使紅外線之透過率為12%以上。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2006-165493號公報(日本專利第4122010號公報) [專利文獻2]日本專利特開2013-65052號公報(日本專利第5756962號公報) [專利文獻3]日本專利特開2010-058091號公報(日本專利第5274164號公報) [非專利文獻]
[非專利文獻1]M. Iwata et al. "Bio-Inspired Bright Structurally Colored Colloidal Amorphous Array Enhanced by Controlling Thickness and Black Background", Adv. Mater., 2017, 29, 1605050.
[發明所欲解決之問題]
關於專利文獻1所記載之紅外線受光發光部,被介電體多層膜反射之可見光獨自使外觀呈彩色,且顏色隨觀察角度而變化。又,介電體多層膜亦存在價格昂貴之問題。
關於如專利文獻1所記載之利用介電體多層膜之紅外線通信用膜,根據本發明者之研究可知,當紅外線相機隔著該膜拍攝手之動作時,手之輪廓會變得模糊,難以用於動作捕捉(motion capture)用途。認為其原因在於紅外線之直線透過率較低。
另一方面,例如,專利文獻3及非專利文獻1中,揭示有如下內容:具有非晶結構之微粒子分散體或膠體非晶集合體可呈現出角度依存性較小之鮮豔之結構色(例如藍色)。據專利文獻3中記載,具有非晶結構之微粒子分散體尤其適用於反射特定波長之光之用途(例如色材或紅外線反射膜等)。
本發明係為了解決上述問題而完成者,其目的在於提供一種能實現紅外線之直線透過率較高之紅外線透過濾光器,大致呈白色且熱穩定性優異之濾光器。 [解決問題之技術手段]
根據本發明之實施方式,提供以下之項目所示之解決方法。 [項目1] 一種濾光器,其係以SCE(specular reflectance excluded,排除鏡面反射)方式測得之L*為20以上者,且 對760 nm以上2000 nm以下之波長範圍內之至少一部分波長之光的直線透過率為60%以上, 加熱收縮之溫度為85℃以上。 [項目2] 一種濾光器,其係以SCE方式測得之L*為20以上者,且 對760 nm以上2000 nm以下之波長範圍內之至少一部分波長之光的直線透過率為60%以上, TMA(Thermal Mechanical Analysis,熱機械分析)之拉伸模式所引起之尺寸變化自室溫至300℃為止單調遞增。 [項目3] 如項目1或2所記載之濾光器,其中自室溫至300℃之尺寸變化為5%以下。 [項目4] 如項目1至3中任一項所記載之濾光器,其中表示自室溫至300℃之由TMA之拉伸模式所引起之尺寸變化的曲線圖大致為直線。 [項目5] 如項目1至4中任一項所記載之濾光器,其中對波長950 nm之光之直線透過率為60%以上。 [項目6] 如項目1至5中任一項所記載之濾光器,其中對波長1550 nm之光之直線透過率為60%以上。 [項目7] 如項目1至6中任一項所記載之濾光器,其中將標準光設為D65光源時所呈現之顏色於CIE1931色度圖上之x、y座標為0.25≦x≦0.40,0.25≦y≦0.40。 [項目8] 如項目1至7中任一項所記載之濾光器,其中上述濾光器之可見光之波長區域之透過率曲線中,具有直線透過率從長波長側向短波長側單調遞減之曲線部分,上述曲線部分隨著入射角增大而向長波長側移動。 [項目9] 如項目1至8中任一項所記載之濾光器,其中對於波長950 nm之光,入射角為60°時之直線透過率係入射角為0°時之直線透過率之80%以上。 [項目10] 如項目1至9中任一項所記載之濾光器,其進而具有由紅外線透過油墨形成之印刷層。 [項目11] 如項目1至10中任一項所記載之濾光器,其具有三維形狀。 [項目12] 如項目1至11中任一項所記載之濾光器,其包含基質、及分散於上述基質中之微粒子。 [項目13] 如項目12所記載之濾光器,其中上述微粒子包含平均粒徑處於80 nm以上300 nm以下之範圍內之單分散之第1微粒子。 [項目14] 如項目13所記載之濾光器,其中上述第1微粒子之平均粒徑為150 nm以上。 [項目15] 如項目12至14中任一項所記載之濾光器,其中相對於上述濾光器之面方向垂直之剖面中,上述微粒子之重心間距離的平均值為200 nm以上。 [項目16] 如項目12至15中任一項所記載之濾光器,其中相對於上述濾光器之面方向垂直之剖面中,上述微粒子之重心間距離之平均值的變異係數為10%以上。 [項目17] 如項目12至16中任一項所記載之濾光器,其中相對於上述濾光器之面方向垂直之剖面中,上述微粒子之重心間距離之平均值的變異係數為45%以下。 [項目18] 如項目12至17中任一項所記載之濾光器,其中上述基質包含具有交聯結構之樹脂。 [項目19] 如項目12至18中任一項所記載之濾光器,其中上述微粒子至少構成膠體非晶集合體。 [項目20] 如項目12至19中任一項所記載之濾光器,其中上述微粒子之體積分率為6%以上60%以下。 [項目21] 如項目12至20中任一項所記載之濾光器,其中將上述基質對波長546 nm之光之折射率設為nM ,將上述微粒子對波長546 nm之光之折射率設為nP 時,|nM -nP |為0.03以上0.6以下。 [項目22] 如項目12至21中任一項所記載之濾光器,其中上述基質係由樹脂形成,上述微粒子係由無機材料形成。 [項目23] 一種如項目22所記載之濾光器之製造方法,其包含以下步驟: 準備於硬化性樹脂中分散、混合有上述微粒子之硬化性樹脂組合物; 將上述硬化性樹脂組合物賦予至基材之表面;及 使賦予至上述表面之上述硬化性樹脂組合物所包含之上述硬化性樹脂硬化。 [項目24] 如項目23所記載之製造方法,其中上述賦予步驟係藉由塗佈法進行。 [項目25] 如項目23所記載之製造方法,其中上述賦予步驟係藉由浸塗法進行。 [項目26] 一種光學模組,其具有:具備紅外線受光部之裝置;及 如項目1至22中任一項所記載之濾光器,其配置於上述裝置之上述紅外線受光部之前表面。 [項目27] 如項目26所記載之光學模組,其中上述裝置為感測裝置、通信裝置、太陽電池、加熱器或饋電裝置。 [發明之效果]
根據本發明之實施方式,提供一種能實現紅外線之直線透過率較高之紅外線透過濾光器,大致呈白色且熱穩定性優異之濾光器、其製造方法及光學模組。
以下,參照圖式,說明本發明之實施方式之濾光器。本發明之實施方式之濾光器並不限於以下所例示者。
本發明之實施方式之濾光器係包含基質、及分散於基質中之微粒子者,且微粒子至少構成膠體非晶集合體,該濾光器對760 nm以上2000 nm以下之波長範圍內之至少一部分波長之光的直線透過率為60%以上。例如,可獲得對波長950 nm及1550 nm之光之直線透過率為60%以上之濾光器。濾光器之直線透過率為60%以上之光(近紅外線)之波長範圍例如較佳為810 nm以上1700 nm以下,進而較佳為840 nm以上1650 nm以下。此種濾光器例如適用於InGaAs(砷化銦鎵)感測器、InGaAs/GaAsSb(銻化砷鎵)感測器、CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor,互補金氧半導體)感測器、NMOS(N type metal oxide semiconductor,N型金氧半導體)感測器、CCD(Charge Coupled Device,電荷耦合裝置)感測器。此處,基質及微粒子均較佳為對於可見光而言透明(以下,簡稱為「透明」)。本發明之實施方式之濾光器可呈白色。
本發明之實施方式之濾光器包含膠體非晶集合體。膠體非晶集合體係指膠體粒子(粒徑1 nm~1 μm)之集合體,且集合體不具有長距秩序,不會引起布勒格反射。若膠體粒子以具有長距秩序之方式分佈,則成為所謂之膠體晶體(光子晶體之一種),會引起布勒格反射,故可作為對照物。即,本發明之實施方式之濾光器所具有之微粒子(膠體粒子)不會形成繞射光柵。
本發明之實施方式之濾光器所包含之微粒子包含平均粒徑為紅外線波長之十分之一以上的單分散之微粒子。即,對於波長760 nm以上2000 nm以下之範圍內之紅外線,微粒子之平均粒徑較佳為至少80 nm以上,較佳為150 nm以上,進而較佳為200 nm以上。微粒子之平均粒徑之上限例如為300 nm。亦可包含平均粒徑不同之2個以上之單分散之微粒子。各微粒子較佳為大致球形。再者,於本說明書中,微粒子(複數個)意指微粒子之集合體,單分散之微粒子係指變異係數(以百分率表示標準偏差/平均粒徑時之值)為20%以下、較佳為10%以下、更佳為1~5%者。本發明之實施方式之濾光器係藉由使用粒徑(粒子直徑,等體積球直徑)為波長之十分之一以上之粒子,而提高紅外線之直線透過率。其原理不同於專利文獻2中所記載之利用瑞利散射之光學物品。
此處,基於三維SEM(Scanning Electron Microscope,掃描電子顯微鏡)像求出平均粒徑。具體而言,使用FEI公司製造之型號Helios G4 UX作為聚焦離子束掃描式電子顯微鏡(以下,稱為「FIB-SEM」),獲取連續剖面SEM像,對連續圖像位置進行修正後,重建三維像。詳細而言,以50 nm間隔重複100次利用SEM獲取剖面反射電子像與FIB(加速電壓:30 kV)加工,重建三維像。使用解析軟體(Thermo Fisher Scientific公司製造之AVIZO)之Segmention功能,對所獲得之三維像進行二值化,擷取微粒子像。其次,為了識別各個微粒子,實施Separate object操作之後,算出各微粒子之體積。將各粒子假定為球,算出等體積球直徑,將微粒子之粒徑之平均值作為平均粒徑。
本發明之實施方式之濾光器係藉由調整微粒子及基質之折射率、微粒子之平均粒徑、體積分率、分佈(非週期性程度)及厚度中之任一項,而使對760 nm以上2000 nm以下之波長範圍內之至少一部分波長之光的直線透過率為60%以上。
本發明之實施方式之濾光器可呈白色。此處,白色係指將標準光設為D65光源時,CIE1931色度圖上之x、y座標分別處於0.25≦x≦0.40,0.25≦y≦0.40之範圍內。當然,越接近x=0.333,y=0.333,則白色度越高,較佳為0.28≦x≦0.37,0.28≦y≦0.37,進而較佳為0.30≦x≦0.35,0.30≦y≦0.35。又,CIE1976色空間上之以SCE方式測得之L*較佳為20以上,更佳為40以上,進而較佳為50以上,尤佳為60以上。只要L*為20以上,則可謂其大致為白色。L*之上限值例如為100。直線透過率之測定方法將於下文中在實驗例(包含實施例及比較例)中進行敍述。
圖1中示出了本發明之實施方式之濾光器10之模式性剖視圖。本發明之實施方式之濾光器10包含對於可見光而言透明之基質12、及分散於透明之基質12中之透明之微粒子14。微粒子14至少構成膠體非晶集合體。亦可包含不會擾亂微粒子14所構成之膠體非晶集合體之其他微粒子。
如圖1所模式性表示,濾光器10具有實質上平坦之表面。此處,實質上平坦之表面係指不具有會使可見光或紅外線散射(繞射)或漫反射之大小之凹凸構造之表面。又,濾光器10不包含膽固醇液晶(廣泛地包含高分子液晶、低分子液晶、其等之液晶混合物及於該等液晶材料中混合交聯劑使之交聯等從而固化而成且呈現膽固醇相者)。再者,濾光器10例如為膜狀,但並不限定於此。
透明之微粒子14例如為氧化矽微粒子。作為氧化矽微粒子,例如可使用藉由Stober法合成之氧化矽微粒子。又,作為微粒子,可使用除氧化矽微粒子以外之無機微粒子,亦可使用樹脂微粒子。作為樹脂微粒子,例如較佳為包含聚苯乙烯及聚甲基丙烯酸甲酯中之至少1種之微粒子,進而較佳為包含經交聯之聚苯乙烯、經交聯之聚甲基丙烯酸甲酯或經交聯之苯乙烯-甲基丙烯酸甲酯共聚物之微粒子。再者,作為此種微粒子,例如可適當使用藉由乳化聚合而合成之聚苯乙烯微粒子或聚甲基丙烯酸甲酯微粒子。又,亦可使用內含空氣之中空氧化矽微粒子及中空樹脂微粒子。再者,由無機材料形成之微粒子具有耐熱性、耐光性優異之優點。微粒子相對於整體(包含基質及微粒子)之體積分率較佳為6%以上60%以下,更佳為20%以上50%以下,進而較佳為20%以上40%以下。透明之微粒子14亦可具有光學各向同性。
關於基質12,例如可例舉丙烯酸系樹脂(例如,聚甲基丙烯酸甲酯、聚丙烯酸甲酯)、聚碳酸酯、聚酯、聚二乙二醇雙烯丙基碳酸酯、聚胺基甲酸酯、環氧樹脂、聚醯亞胺,但並不限於其等。基質12較佳為使用硬化性樹脂(熱硬化性或光硬化性)形成,就量產性之觀點而言,較佳為使用光硬化性樹脂形成。作為光硬化性樹脂,可使用各種(甲基)丙烯酸酯。(甲基)丙烯酸酯較佳為包含2官能或3官能以上之(甲基)丙烯酸酯。又,基質12較佳為具有光學各向同性。若使用包含多官能單體之硬化性樹脂,則可獲得具有交聯結構之基質12,因此可提高耐熱性及耐光性。
以樹脂材料形成有基質12之濾光器10可為具有柔軟性之膜狀。濾光器10之厚度例如為10 μm以上10 mm以下。若濾光器10之厚度例如為10 μm以上1 mm以下,進而為10 μm以上500 μm以下,則可顯著地發揮柔軟性。
於使用表面具有親水性之氧化矽微粒子作為微粒子之情形時,例如較佳為藉由使親水性單體光硬化而形成。作為親水性單體,例如可例舉:聚乙二醇(甲基)丙烯酸酯、聚乙二醇二(甲基)丙烯酸酯、聚乙二醇三(甲基)丙烯酸酯、聚丙二醇(甲基)丙烯酸酯、聚丙二醇二(甲基)丙烯酸酯、聚丙二醇三(甲基)丙烯酸酯、(甲基)丙烯酸2-羥基乙酯、或(甲基)丙烯酸2-羥基丙酯、丙烯醯胺、亞甲基雙丙烯醯胺、乙氧化雙酚A二(甲基)丙烯酸酯,但並不限於其等。又,該等單體可單獨使用1種,或者亦可混合使用2種以上。當然,2種以上之單體可包含單官能單體與多官能單體,或者亦可包含2種以上之多官能單體。
該等單體可適當使用光聚合起始劑進行硬化反應。作為光聚合起始劑,例如可例舉:安息香醚、二苯甲酮、蒽醌、氧硫𠮿、縮酮、苯乙酮等羰基化合物,或二硫化物、二硫代胺基甲酸酯等硫化合物,過氧化苯甲醯等有機過氧化物、偶氮化合物、過渡金屬錯合物、聚矽烷化合物、色素增感劑等。關於添加量,相對於微粒子與單體之混合物100質量份,較佳為0.05質量份以上3質量份以下,進而較佳為0.05質量份以上1質量份以下。
將基質對可見光之折射率設為nM ,將微粒子對可見光之折射率設為nP 時,|nM -nP |(以下,有時簡稱為折射率差)較佳為0.01以上0.6以下,更佳為0.03以上0.11以下。若折射率差小於0.03,則散射強度變弱,而變得難以獲得所期望之光學特性。又,若折射率差超過0.11,則存在紅外線之直線透過率下降之情況。又,例如,於藉由使用氧化鋯微粒子(折射率2.13)與丙烯酸系樹脂,而使折射率差為0.6之情形時,可藉由減小厚度來調整紅外線之直線透過率。如此,紅外線之直線透過率例如亦可藉由控制濾光器之厚度與折射率差來進行調整。又,根據用途,亦可與吸收紅外線之濾光器重疊使用。再者,對可見光之折射率例如能以對546 nm之光之折射率為代表。此處,只要未作特別說明,折射率係指對546 nm之光之折射率。
本發明之實施方式之濾光器例如可藉由包含以下步驟之製造方法來製造,即:準備於硬化性樹脂中分散、混合有微粒子之硬化性樹脂組合物;將硬化性樹脂組合物賦予至基材之表面;以及使賦予至表面之硬化性樹脂組合物所包含之硬化性樹脂硬化。基材例如可為玻璃基板,亦可為例如PET(聚對苯二甲酸乙二酯)、TAC(三乙醯纖維素)、PI(聚醯亞胺)之類的樹脂膜,並不限於其等。將微粒子分散、混合於硬化性樹脂中之步驟可使用均質攪拌機、均化器(例如,超音波均化器、高壓均化器)等公知之分散、混合裝置進行。又,賦予步驟例如可利用塗佈法(例如,浸塗法、噴塗法、模嘴塗佈法)或印刷法等公知之各種方法進行。
以下,示出具體之實驗例(實施例及比較例),來說明本發明之實施方式之濾光器之構成與光學特性之特徵。將實施例及比較例之濾光器之構成及光學特性示於表1中。藉由將氧化矽微粒子與各種樹脂組合,添加絮凝劑,進而改變分散、混合方法,而製作表1所示之各種濾光器。
實施例1~13及比較例1~3之濾光器係使用表1所記載之丙烯酸系樹脂與氧化矽微粒子形成為膜。作為氧化矽微粒子,使用藉由Stober法合成之單分散氧化矽微粒子((平均粒徑110 nm,粒徑之CV(coefficient of variation,變異係數)值4.5%)、(平均粒徑181 nm,粒徑之CV值4.7%)、(平均粒徑221 nm,粒徑之CV值4.9%)及(平均粒徑296 nm,粒徑之CV值6.1%))。此處,作為氧化矽微粒子,使用富士化學股份有限公司製造之Hautform Sibol220。氧化矽微粒子之粒度分佈係使用日立高新技術股份有限公司製造之掃描電子顯微鏡SU3800來測定。
實施例1~13及比較例1~3之濾光器係藉由如下方法獲得,即,將氧化矽微粒子以特定之組成混合、分散至丙烯酸系單體A~E中,製備硬化性樹脂組合物,使用敷料器,以能獲得特定厚度之膜之方式塗佈於基材之表面,並進行硬化。相對於100質量份之丙烯酸系單體,調配0.2質量份之作為光聚合起始劑之Darocure1173,照射UV(Ultraviolet,紫外線)燈而進行光聚合,藉此使其硬化。根據單體之種類,形成折射率不同之樹脂(聚合物)。
丙烯酸系單體A~E如下所示。單體A及E為3官能丙烯酸酯,單體B及C為2官能丙烯酸酯,單體D為單官能丙烯酸酯。 A:季戊四醇三丙烯酸酯 B:乙氧化雙酚A二丙烯酸酯(m+n=10) C:乙氧化雙酚A二丙烯酸酯(m+n=3) D:甲氧基聚乙二醇#400甲基丙烯酸酯 E:三羥甲基丙烷EO改性三丙烯酸酯
再者,丙烯酸系單體B及C係以下述化學式(化1)表示。 [化1]
將所獲得之膜之厚度設為d時,於剖面方向上之d/2位置利用切片機切斷,藉此切出與氧化矽微粒子之平均粒徑相同厚度之試樣片,而獲得TEM觀察用試樣。使用TEM(日立高新技術股份有限公司製造之HT7820)獲取包含200個以上之粒子之圖像的剖面TEM像,使用圖像處理軟體Image J,對剖面TEM像中之微粒子進行自動識別Delaunay圖解析,藉此求出鄰接微粒子之重心間距離之平均值(La)及標準偏差(Ld)。又,根據重心間距離之平均值(亦稱為「平均重心間距離」)與標準偏差,求出變異係數(距離之CV值)。此處,於求出重心間距離時,僅以粒徑為150 nm以上之粒子為對象,而不將粒徑未達150 nm之粒子作為對象。如下所述,該等值成為氧化矽微粒子是否構成膠體非晶集合體、及膠體非晶集合體中之氧化矽微粒子之分佈狀態的指標。La之下限值較佳為100 nm以上,進而較佳為150 nm以上,進而更佳為175 nm以上,尤佳為200 nm以上。La之上限值較佳為600 nm以下,進而較佳為500 nm以下。
本發明之實施方式之濾光器所具有之膠體非晶集合體可藉由微粒子14之平均重心間距離之變異係數來賦予特徵。於變異係數較小之情形時,表示長距秩序較大,呈現出因布勒格反射所產生之具有角度依存性之反射色。另一方面,於變異係數較大之情形時,顯現Mie散射之影響變大,光散射之波長依存性變小之趨勢。因此,於本發明之實施方式之濾光器中,微粒子14之平均重心間距離之變異係數較佳為10%以上45%以下,更佳為15%以上40%以下,進而較佳為20%以上40%以下,進而更佳為25%以上35%以下。
[表1]
   平均粒徑 [nm] 氧化矽微粒子分率 單體 聚合物折射率 膜厚[μm] 基材 La [nm] Ld [nm] CV值(Ld/La) L* (SCE) CIE色度座標 紅外線 直線透過率[%] 布勒格反射
體積% 質量% x y
760 nm 950 nm 1550 nm
實施例1 221 29 40 A 1.49 100 玻璃 302 84 27.8% 59 0.30 0.33 75 88 90
實施例2 296 29 40 A 1.49 100 玻璃 440 120 27.2% 70 0.30 0.31 45 64 89
實施例3 221 34 45 A 1.49 100 玻璃 - - - 60 0.31 0.32 83 90 90
實施例4 221 38 50 A 1.49 100 玻璃 - - - 68 0.30 0.33 86 91 90
實施例5 221 29 40 A 1.49 400 玻璃 - - - 81 0.31 0.33 64 85 85
實施例6 221 28 40 B 1.52 100 玻璃 304 95 31.2% 69 0.30 0.32 79 92 92
實施例7 221 28 40 B 1.52 100 PET - - - 70 0.31 0.33 79 90 91
實施例8 221 28 40 B 1.52 500 PET - - - 87 0.31 0.33 50 87 86
實施例9 221 6 10 A 1.49 100 玻璃 - - - 24 0.31 0.33 73 82 89
實施例10 221 29 40 C 1.54 100 玻璃 341 99 29.0% 73 0.30 0.33 40 75 89
實施例11 221 29 40 D 1.46 100 玻璃 - - - 13 0.28 0.29 86 88 86
實施例12 110/221 29 40 A 1.49 100 玻璃 - - - 55 0.26 0.29 70 80 85
實施例13 181 28 40 B 1.52 100 玻璃 - - - 63 0.28 0.32 87 91 92
比較例1 221 29 40 A 1.49 100 玻璃 341 168 49.3% 72 0.30 0.32 10 21 45
比較例2 221 29 40 E 1.48 100 玻璃 237 22 9.4% 49 0.33 0.31 90 92 92
比較例3 110 29 40 A 1.49 100 玻璃 154 45 29.4% 20 0.22 0.19 87 89 89
圖2中示出了實施例1之濾光器10A之剖面TEM像,圖3中示出了比較例1之濾光器20A之剖面TEM像。圖中之TEM像中之白色圓為氧化矽微粒子,黑色圓為氧化矽微粒子脫落後之痕跡。於圖像處理中,黑色圓亦當作氧化矽微粒子來處理。
已知,於圖2所示之濾光器10A之剖面中,氧化矽微粒子大致均勻地分散,與此相對,於圖3所示之濾光器20A之剖面中,一部分氧化矽微粒子凝聚。其原因在於,於製作比較例1之濾光器20A時,除了丙烯酸系單體A以外,還相對於丙烯酸系單體A添加了0.1質量%之作為絮凝劑之聚乙二醇。
繼而,圖4中示出了根據實施例1之濾光器10A之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖,圖5中示出了根據比較例1之濾光器20A之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。將根據其等所求出之平均重心間距離La(nm)、標準偏差Ld(nm)及變異係數(距離之CV值)示於表1中。以下,有時將距離之CV值簡稱為CV值。
已知,實施例1之濾光器10A中之氧化矽微粒子之分佈與比較例1之濾光器20A中之氧化矽微粒子之分佈相比均勻性較高。實施例1之濾光器10A之Ld為84 nm,CV值為27.8%,與此相對,比較例1之濾光器20A之Ld為168 nm,CV值呈較大之49.3%。
繼而,參照圖6~圖8,說明對實施例1之濾光器10A及比較例1之濾光器20A比較其等作為紅外線濾光器之性能所得之結果。圖6係使用動作捕捉裝置所獲取之相機圖像之例,且為在不使用濾光器的情況下獲取之相機圖像。圖7係經由實施例1之濾光器10A使用動作捕捉裝置所獲取之相機圖像之例,圖8係經由比較例1之濾光器20A使用動作捕捉裝置所獲取之相機圖像之例。
此處,作為動作捕捉裝置,使用Leap Motion Controller(註冊商標),獲取位於相隔約20 cm之位置之手的相機圖像。再者,該裝置使用波長850 nm之紅外線。將圖6、圖7及圖8進行比較可知,於使用實施例之濾光器10A之情形時(圖7),獲得與不使用濾光器之情形(圖6)相同程度之清晰之圖像,與此相對,於使用比較例之濾光器20A之情形時(圖9),無法獲得清晰之圖像,從而無法識別出手。
圖9中示出了實施例1之濾光器10A之光學影像,圖10中示出了比較例1之濾光器20A之光學影像。實施例1之濾光器10A及比較例1之濾光器20A製成約5 cm×約10 cm之膜,以覆蓋裝置之前表面之方式配置。根據圖9及圖10可知,上述兩種膜均呈白色。因此,實施例1之濾光器10A適宜用作紅外線透過濾光器,並且由於呈白色,故而具有較高之設計性。當然,亦可於實施例1之濾光器10A之表面藉由印刷等賦予顏色或花紋。本發明之實施方式之濾光器所具有之優點將於下文中詳細說明。
濾光器之光學特性可以如下方式進行評價。
如圖11所示,當入射光I0 入射至濾光器10時,入射光I0 之一部分透過濾光器10(透過光Ii ),一部分進行界面反射(界面反射光Ri ),另一部分被散射。散射光中,有向濾光器10之前方出射之前向散射光Sf 、及向後方出射之背向散射光Sb 。背向散射光Sb 使得濾光器10呈白色。入射光I0 之一部分被濾光器10吸收,但此處使用之樹脂及氧化矽微粒子對400 nm~2000 nm之光之吸收率較小。
圖12係表示濾光器之漫射透過率之測定方法之模式圖,圖13係表示濾光器之直線透過率之測定方法之模式圖。如圖12所示,漫射透過率係以如下方式求出:將試樣(濾光器10)配置於積分球32之開口部,作為透過光Ii 及前向散射光Sf 之合計強度相對於入射光I0 之強度的百分率而求出。又,直線透過率係將試樣(濾光器10)配置於與積分球32之開口部相隔20 cm之位置而進行測定,作為此時獲得之透過光Ii 之強度相對於入射光I0 之強度的百分率而求出。開口直徑為1.8 cm,以立體角計相當於0.025 sr。作為分光器,使用紫外-可見-近紅外分光光度計UH4150(Hitachi High-Tech Science股份有限公司製造)。表1中示出了對760 nm、950 nm及1550 nm之紅外線之直線透過率之值。又,將各試樣之直線透過率光譜示於圖14等中。根據直線透過率光譜中是否存在凹谷(dimple)(局部之透過率下降),可判斷有無布勒格反射。布勒格反射之有無亦示於表1中。
背向散射光Sb 之白色度係使用分光測色計CM-2600-D(KONICA MINOLTA JAPAN股份有限公司製造)來測定。求出SCE(排除鏡面反射)方式之L*值,並且求出CIE1931色度圖上之x、y座標值。L*值越大,則x、y值越接近0.33,白色度越高。該等值亦示於表1中。
圖14中示出了實施例1之濾光器10A之直線透過率光譜,圖15中示出了作為實施例1之濾光器10A之漫射透過率光譜與漫反射率光譜之差而求出之吸收率光譜。根據圖14可知,實施例1之濾光器10A具有較高之紅外線透過率。尤其是,對900 nm以上之波長之紅外線之透過率較高。再者,圖15之吸收率光譜中可觀察到之對1200 nm以上之紅外線之吸收僅為少許,這取決於樹脂(有機化合物)之特性吸收。
圖16中示出了比較例1之濾光器20A之直線透過率光譜。如將圖16與圖15進行比較可知,比較例1之濾光器20A之透過率較低。參照表1,對比實施例1與比較例1,表示白色度之L*、及CIE色度圖上之x、y座標之值於實施例1與比較例1中並無較大差異,但紅外線之直線透過率差異較大。認為受以下因素影響,即,CV值於比較例1中為49.3%,大於實施例1中之27.8%,即氧化矽微粒子凝聚。即,可知CV值能成為提高紅外線之直線透過率之指標。
繼而,參照圖17~圖19,說明實施例2之濾光器。圖17係表示實施例2之濾光器剖面TEM像之圖,圖18係根據實施例2之濾光器之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。圖19係實施例2之濾光器之直線透過率光譜。於實施例1中,使用平均粒徑為221 nm之氧化矽微粒子,與此相對,於實施例2中,使用平均粒徑為296 nm之氧化矽微粒子。實施例2之CV值與實施例1之CV值大致相同,但紅外線直線透過率則是實施例2較低。即,已知可藉由控制氧化矽微粒子之平均粒徑,來控制紅外線直線透過率。
此處,為了進行比較,參照圖35~圖37,說明比較例3之濾光器。圖35係表示比較例3之濾光器之剖面TEM像之圖,圖36係根據比較例3之濾光器之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。圖37係比較例3之濾光器之直線透過率光譜。於比較例3中,與實施例1及2不同之處在於使用平均粒徑為110 nm之氧化矽微粒子。根據圖37及表1之結果可知,比較例3之CV值與實施例1及實施例2之CV值大致相同,但比較例3之760 nm之紅外線直線透過率較高,為87%,進而,可見光之直線透過率亦較高。又,比較例3之白色度劣於實施例1及2。據此可知,可藉由控制氧化矽微粒子之平均粒徑,來控制紅外線直線透過率及白色度。根據實施例1、實施例2及比較例3之比較,認為較佳為包含平均粒徑為221 nm以上之氧化矽微粒子。
繼而,參照圖20,說明實施例3及4之濾光器。圖20係實施例3及4之濾光器之直線透過率光譜。實施例3及4之濾光器之氧化矽微粒子之體積分率分別為34%及38%,大於實施例1之29%。與實施例1之結果相比,950 nm及1550 nm時之紅外線直線透過率及CIE色度圖上之x、y座標差異不大,760 nm時之紅外線直線透過率及L*值略微提高。對比實施例3與實施例4之直線透過率光譜,若氧化矽微粒子之體積分率增大,則散射波長向短波長側移動,L*值略微提高。
此處,為了進行比較,參照圖25所示之實施例9之濾光器之直線透過率光譜。實施例9之濾光器之氧化矽微粒子之體積分率較低,為6%。與實施例1之結果相比,950 nm時之紅外線直線透過率略微下降,L*值大幅下降。認為其原因在於,氧化矽微粒子之體積分率減少會導致散射光之強度降低。
如此,可藉由控制氧化矽微粒子之體積分率,來控制紅外線直線透過率及L*值。
繼而,參照圖21說明實施例5之濾光器。圖21係實施例5之濾光器之直線透過率光譜。實施例1之濾光器之厚度為100 μm,與此相對,實施例5之濾光器之厚度為500 μm。將實施例5與實施例1進行比較,紅外線直線透過率之透過率降低,但白色度提高。藉由增大濾光器之厚度,亦可使可見光之透過率降低。
繼而,參照圖22說明實施例6之濾光器。圖22係實施例6之濾光器之直線透過率光譜。實施例6具有使用與實施例1~5不同之單體且折射率為1.52之聚合物作為基質。實施例1~5之基質之折射率為1.49,與氧化矽微粒子之折射率1.43相差0.06,與此相對,於實施例6中,折射率差較大,為0.09。與實施例1相比,760 nm、950 nm及1550 nm中任一者之紅外線直線透過率及L*值均有所提高。
繼而,參照圖23說明實施例7之濾光器。圖23係實施例7之濾光器之直線透過率光譜。實施例6之濾光器形成於玻璃基板上,與此相對,實施例7之濾光器則不同,其形成於PET膜上。對比圖23與圖22,並且比較表1之結果,認為基材之影響較小。
繼而,參照圖24說明實施例8之濾光器。圖24係實施例8之濾光器之直線透過率光譜。實施例7之濾光器之厚度為100 μm,與此相對,實施例8之濾光器之厚度為500 μm。將實施例8與實施例7進行比較,紅外線直線透過率之透過率下降,但L*提高。藉由增大濾光器之厚度,可亦使可見光之透過率下降。
繼而,參照圖26~28說明實施例10之濾光器。圖26係實施例10之濾光器之直線透過率光譜,圖27係表示實施例10之濾光器之剖面TEM像之圖。圖28係根據實施例10之濾光器之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。實施例10具有折射率為1.54之聚合物作為基質,該基質與氧化矽微粒子之折射率相差0.11,較實施例6之折射率差更大。與實施例1、6相比,紅外線直線透過率下降,L*值提高。
繼而,參照圖29說明實施例11之濾光器。圖29係實施例11之濾光器之直線透過率光譜。實施例11具有折射率為1.46之聚合物作為基質。於實施例11中,折射率差較小,為0.03。對比實施例1可知,1550 nm時之紅外線直線透過率下降,可見光區域之透過率上升,白色度下降。
繼而,參照圖30說明實施例12之濾光器。圖30係實施例12之濾光器之直線透過率光譜。實施例12之濾光器中,包含平均粒徑為110 nm之微粒子及平均粒徑為221 nm之微粒子作為氧化矽微粒子。體積比(110 nm:221 nm)為1:1。與實施例1相比,紅外線直線透過率及白色度同時下降(參照表1)。認為是受以下因素影響,即混合有平均粒徑110 nm之氧化矽微粒子(參照比較例3、圖37)。
繼而,參照圖31說明實施例13之濾光器。圖31係實施例13之濾光器之直線透過率光譜。實施例13之濾光器與實施例6之濾光器之不同之處在於使用平均粒徑為181 nm之氧化矽微粒子。將圖31與圖22進行比較,實施例13中,直線透過率上升之波長與實施例6相比向短波長側移動。即,實施例13之濾光器之可見光區域中之直線透過率略高於實施例6,結果使得L*值及白色度略低於實施例6,但紅外線之直線透過率具有較高之值,得知適宜使用平均粒徑為181 nm之氧化矽微粒子。再者,就白色度之觀點而言,較佳為包含平均粒徑為200 nm以上之氧化矽微粒子,進而較佳為包含221 nm以上之氧化矽微粒子。
繼而,參照圖32~圖34說明比較例2之濾光器。圖32係表示比較例2之濾光器之剖面TEM像之圖。圖33係根據比較例2之濾光器之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。圖34係比較例2之濾光器之直線透過率光譜,示出了入射角為0°與入射角為60°時之結果。入射角0°係指濾光器之表面之法線方向。比較例2具有使用丙烯酸系單體E形成且折射率為1.48之基質。基質之折射率與實施例1僅相差0.01。再者,直線透過率之入射角依存性係使用紫外-可見-近紅外線分光光度計UH4150(Hitachi High-Tech Science公司製造)所附帶之自動角度可變系統,使入射光相對於試樣表面之角度(圖11中之濾光器10之角度)變化而進行測定。
根據圖32及圖33可知,比較例2之濾光器中之氧化矽微粒子之集合體具有長距秩序。結果,表1之CV值較小,為9.4%。又,圖34所示之直線透過率光譜之可見光區域中可見急遽之凹谷(局部之透過率下降)。該急遽之凹谷係由布勒格反射所引起,比較例2之濾光器中之氧化矽微粒子之集合體係具有長距秩序之膠體晶體或者具有接近膠體晶體之結構,而非膠體非晶集合體。又,可見光區域中之急遽之凹谷視入射角之不同而位移,因此比較例2之濾光器之外觀顏色會隨觀察角度而變化。因此認為,為了抑制可見光區域中之布勒格反射,CV值較佳為10%以上。又,根據上文所述之比較例1之結果,認為為了抑制氧化矽微粒子之凝聚,CV值較佳為49%以下。
實施例1~13之濾光器之直線透過率光譜中,未見急遽之凹谷,氧化矽微粒子構成膠體非晶集合體。又,示出了對760 nm以上2000 nm以下之波長範圍內之至少一部分波長之光的直線透過率為60%以上。進而,將標準光設為D65光源時,白色於CIE1931色度圖上之x、y座標處於0.25≦x≦0.40,0.25≦y≦0.40之範圍內。又,亦抑制了顏色隨觀察角度而變化。
根據上述內容可知,本發明之實施方式之濾光器可藉由調整微粒子及基質之折射率、微粒子之平均粒徑、體積分率、分佈(非週期性程度)及厚度,而獲得所期望之光學特性(例如,紅外線直線透過率及白色度),並且亦抑制了顏色隨觀察角度而變化。又,亦可重疊具有不同光學特性之濾光器而使用。又,根據用途,可與例如吸收紅外線之濾光器重疊使用。根據圖9可理解為,由於本發明之實施方式之濾光器呈白色,故例如即便與呈黑色或其他顏色之濾光器重疊使用,亦可提高設計性。
本發明之實施方式之濾光器於直線透過率光譜之入射角依存性方面亦具有特徵。
參照圖38~圖40,該等圖係表示實施例1之濾光器10A及比較例A之濾光器之直線透過率光譜之入射角依存性(入射角0°、15°、30°、45°、60°)之圖。比較例A之濾光器係由東海光學股份有限公司製造並販售之作為紅外線透過濾光器的White IR Window(https://www. tokaioptical. com/jp/product14/)。比較例A之濾光器相當於專利文獻2中所記載之光學物品,包含介電體多層膜與PET膜,且具有緞紋狀表面。比較例A之濾光器呈白色,厚度為120 μm。
圖38係表示實施例1之濾光器10A及比較例A之濾光器之直線透過率光譜之入射角依存性的圖。圖39及圖40係將各個曲線圖以最大透過率進行標準化所得之曲線圖,圖39係表示實施例1之濾光器10A之直線透過率光譜之入射角依存性的圖,圖40係表示比較例A之濾光器之直線透過率光譜之入射角依存性的圖。
根據圖38可知,實施例1之濾光器10A之直線透過率大於比較例A之濾光器。又,關於入射角增大所引起之紅外線直線透過率下降,實施例1之濾光器10A小於比較例A之濾光器。例如,關於950 nm之紅外線直線透過率,入射角0°時為88%,與此相對,入射角60°時為80%,其為入射角0°時之透過率之90%以上。與此相對,於比較例A中,關於對950 nm之紅外線之直線透過率,入射角0°時為30%,與此相對,入射角60°時為9%,其下降至入射角0°時之直線透過率之30%。如此,本發明之實施方式之濾光器之紅外線直線透過率的入射角依存性較小,例如對於950 nm之紅外線,入射角60°時之直線透過率為入射角0°時之直線透過率之80%以上,進而為85%以上,進而為90%以上。
觀察圖39所示之實施例1之濾光器10A之透過率曲線,直線透過率從可見光向紅外線單調遞增之曲線部分隨著入射角增大,會向長波長側移動(約50 nm)。該具特徵性之入射角依存性亦可見於圖41、圖42及圖43所示之實施例2、實施例6及比較例3之濾光器之直線透過率光譜之入射角依存性。即,認為直線透過率從可見光向紅外線單調遞增之曲線部分隨著入射角增大而向長波長側移動之具特徵性之入射角依存性起因於光學膜所包含之氧化矽微粒子構成膠體非晶集合體。與此相對,於圖40所示之比較例A之濾光器之透過率曲線中,直線透過率從可見光向紅外線單調遞增之曲線部分隨著入射角增大,會向短波長側移動(約100 nm)。即,呈完全相反之趨勢。
比較例A之濾光器中,由於直線透過率從可見光向紅外線單調遞增之曲線部分隨著入射角增大會向短波長側移動,故而存在對於斜入射光,原本欲遮斷之短波長側之光會透過(漏光)之擔憂。與此相對,於氧化矽微粒子構成膠體非晶集合體之濾光器中,隨著入射角之增大,對更短波長側之光之透過率會下降,因此不存在如比較例A之濾光器般產生漏光之擔憂。
又,於膠體非晶氧化矽微粒子構成膠體非晶集合體之濾光器中,隨著入射角之增大而對更短波長側之光之透過率會下降的原因在於,可見光(尤其是長波長側)之散射光之強度增大。因此,斜向觀察本發明之實施方式之濾光器時,由於漫反射光(背向散射光)之強度增大,故而能夠提高白亮度。
本發明之實施方式之濾光器如上所述能呈白色,因此藉由使用紅外線透過油墨,例如將文字、圖、照片印刷至濾光器之表面,可獲得色彩豐富且富於設計性之濾光器。即,本發明之實施方式之濾光器亦可具有包含基質與微粒子之濾光器層、及配置於濾光器層上且由紅外線透過油墨形成之印刷層。印刷層可直接形成於濾光器層之表面,亦可將於透明膜之表面形成有印刷層者配置於濾光器層上。作為紅外線透過油墨,只要根據用途或應透過之紅外線之波長,選擇公知之紅外線透過油墨即可。
又,關於本發明之實施方式之濾光器,由於斜向觀察時漫反射光之強度增大,因此白亮度上升,設計之美觀度(設計之視認性)提高。
實施方式之濾光器可為如例示之平面狀之膜,但並不限定於此,可取各種形態。實施方式之濾光器可具有三維形狀。例如,可為具有三維形狀之膜狀。具體而言,例如,亦可於具有三維形狀之物體之表面,使用塗佈法,形成濾光器。物體之表面可為球面之一部分或全部、任意形狀之曲面、多面體之表面之一部分或全部等任意形狀。但是,物體之表面較佳為不會引起光散射。
例如,如圖44A及圖44B所示,可獲得形成為半球面狀之濾光器。圖44A係表示形成為半球面狀之實施例之濾光器之光學圖像(可見光)的圖,圖44B係表示圖44A所示之半球面狀之實施例之濾光器之紅外線圖像的圖。圖44A及圖44B所示之圖像係使用KenkoTokina股份有限公司製造之全高畫質數位電影攝影機DVSA10FHDIR所拍攝者。圖44A係於白色LED照明下,以可見光模式拍攝到之圖像,圖44B係於暗室內,僅於上述相機之紅外線LED之光下拍攝到之圖像。
圖44A及圖44B所示之濾光器係藉由在半徑2 cm且厚度1 mm之丙烯酸系樹脂(PMMA)製之半球之表面,利用浸塗賦予與實施例6相同之材料而形成之厚度300 μm之濾光器。如圖44A所示,獲得半球面狀之白色濾光器。又,如圖44B所示,該濾光器使紅外線透過。
本發明之實施方式之濾光器並不限定於所例示之感測裝置(例如紅外線相機)或通信裝置,可被用於各種用途。例如,適宜用於太陽電池、使用紅外線之加熱器、使用紅外線之光饋電裝置。
根據濾光器之用途,求出耐熱性。因此,以下說明對耐熱性進行評價所得之結果。耐熱性係藉由測定TMA之拉伸模式下自室溫至300℃之尺寸變化而進行。TMA之測定條件等如下所述。 裝置:Discovery TMA450(TA Instrument公司製造) 樣品:寬度4 mm×長度約16 mm 測定模式:拉伸模式 測定負荷:2 gf 環境氣體:N2
實施例6之樣品係藉由將如上所述般製作之實施例6之濾光器之由丙烯酸系樹脂及氧化矽微粒子形成之膜從玻璃基板剝離而獲得。實施例6之樣品呈白色,厚度為120 μm。
圖45中示出了表示TMA之拉伸模式下自室溫至300℃之尺寸變化之曲線圖。
根據圖45可知,關於實施例6之膜,由TMA之拉伸模式所引起之尺寸變化自室溫(25℃)至約390℃為止單調遞增(狹義上之單調遞增)。又,表示尺寸變化之曲線圖中,自室溫至約350℃為止大致為直線。又,在約390℃下尺寸減小這之前之期間內,尺寸變化為約3.9%。
再者,關於尺寸變化是否單調遞增(狹義上之單調遞增)之評價,採取以平滑地變化之曲線(函數)表示尺寸變化之方式進行。
與此相對,比較例A中,於85℃下尺寸減小。其後,於到達300℃之前,尺寸急遽地增大。再者,尺寸減小對應於圖45所示之尺寸變化平滑地改變之曲線之一次微分為負數。
認為,實施例6之樣品之尺寸於到達高溫之前穩定係由於構成基質之樹脂具有交聯結構。
濾光器所要求之耐熱性因用途而異,根據本發明之實施方式,可獲得由TMA之拉伸模式所引起之尺寸變化自室溫至300℃為止單調遞增之濾光器。又,此時,自室溫至300℃之尺寸變化可為5%以下。進而,表示本發明之實施方式之濾光器之自室溫至300℃之由TMA之拉伸模式所引起之尺寸變化的曲線圖至到達390℃附近為止大致為直線,不伴隨塑性變形。
再者,關於如上所述之熱機械特性,只要膜之厚度大致為100 μm至500 μm之範圍,則可獲得相同之結果。 [產業上之可利用性]
本發明之實施方式之濾光器例如可用作感測技術或通信技術等所使用之紅外線透過濾光器。
10,10A,20A:濾光器 12:基質 14:微粒子 32:積分球 D:開口直徑 d:試樣與積分球間之距離 Ii :透過光 I0 :入射光 Ri :界面反射光 Sb :背向散射光 Sf :前向散射光
圖1係本發明之實施方式之濾光器10之模式性剖視圖。 圖2係表示實施例1之濾光器10A之剖面TEM(Transmission Electron Microscopy,穿透式電子顯微鏡)像之圖。 圖3係表示比較例1之濾光器20A之剖面TEM像之圖。 圖4係根據實施例1之濾光器10A之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。 圖5係根據比較例1之濾光器20A之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。 圖6係使用動作捕捉裝置所獲取之相機圖像之例。 圖7係經由實施例1之濾光器10A使用動作捕捉裝置所獲取之相機圖像之例。 圖8係經由比較例1之濾光器20A使用動作捕捉裝置所獲取之相機圖像之例。 圖9係表示實施例1之濾光器10A之光學影像之圖。 圖10係表示比較例1之濾光器20A之光學影像之圖。 圖11係用於說明本發明之實施方式之濾光器10之光學特性的模式圖。 圖12係表示濾光器之漫射透過率(diffuse transmittance)之測定方法之模式圖。 圖13係表示濾光器之直線透過率(linear transmittance)之測定方法之模式圖。 圖14係實施例1之濾光器10A之直線透過率光譜。 圖15係表示作為實施例1之濾光器10A之漫射透過率光譜與漫反射率光譜之差而求出之吸收率光譜的圖。 圖16係比較例1之濾光器20A之直線透過率光譜。 圖17係表示實施例2之濾光器之剖面TEM像之圖。 圖18係根據實施例2之濾光器之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。 圖19係實施例2之濾光器之直線透過率光譜。 圖20係實施例3及4之濾光器之直線透過率光譜。 圖21係實施例5之濾光器之直線透過率光譜。 圖22係實施例6之濾光器之直線透過率光譜。 圖23係實施例7之濾光器之直線透過率光譜。 圖24係實施例8之濾光器之直線透過率光譜。 圖25係實施例9之濾光器之直線透過率光譜。 圖26係實施例10之濾光器之直線透過率光譜。 圖27係表示實施例10之濾光器之剖面TEM像之圖。 圖28係根據實施例10之濾光器之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。 圖29係實施例11之濾光器之直線透過率光譜。 圖30係實施例12之濾光器之直線透過率光譜。 圖31係實施例13之濾光器之直線透過率光譜。 圖32係表示比較例2之濾光器之剖面TEM像之圖。 圖33係根據比較例2之濾光器之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。 圖34係比較例2之濾光器之直線透過率光譜(入射角0°、60°)。 圖35係表示比較例3之濾光器之剖面TEM像之圖。 圖36係根據比較例3之濾光器之剖面TEM像求出之粒子之重心間距離的柱狀圖。 圖37係比較例3之濾光器之直線透過率光譜。 圖38係表示實施例1之濾光器10A及比較例A之濾光器之直線透過率光譜之入射角依存性的圖。 圖39係表示實施例1之濾光器10A之直線透過率光譜之入射角依存性的圖。 圖40係表示比較例A之濾光器之直線透過率光譜之入射角依存性的圖。 圖41係表示實施例2之濾光器之直線透過率光譜之入射角依存性的圖。 圖42係表示實施例6之濾光器之直線透過率光譜之入射角依存性的圖。 圖43係表示比較例3之濾光器之直線透過率光譜之入射角依存性的圖。 圖44A係示出了表示形成為半球面狀之實施例之濾光器之光學圖像(可見光)的圖。 圖44B係表示圖44A所示之半球面狀之實施例之濾光器之紅外線圖像的圖。 圖45係表示實施例6及比較例A之濾光器之樣品於TMA之拉伸模式下自室溫至300℃之尺寸變化的曲線圖。
10:濾光器
12:基質
14:微粒子

Claims (27)

  1. 一種濾光器,其係以SCE方式測得之L*為20以上者,且對760nm以上2000nm以下之波長範圍內之至少一部分波長之光的直線透過率為60%以上,加熱收縮之溫度為85℃以上。
  2. 一種濾光器,其係以SCE方式測得之L*為20以上者,且對760nm以上2000nm以下之波長範圍內之至少一部分波長之光的直線透過率為60%以上,TMA之拉伸模式所引起之尺寸變化自室溫至300℃為止單調遞增。
  3. 如請求項1或2之濾光器,其中自室溫至300℃之尺寸變化為5%以下。
  4. 如請求項1或2之濾光器,其中表示自室溫至300℃之由TMA之拉伸模式所引起之尺寸變化的曲線圖大致為直線。
  5. 如請求項1或2之濾光器,其對波長950nm之光之直線透過率為60%以上。
  6. 如請求項1或2之濾光器,其對波長1550nm之光之直線透過率為60%以上。
  7. 如請求項1或2之濾光器,其中將標準光設為D65光源時所呈現之顏色於CIE1931色度圖上之x、y座標為0.25≦x≦0.40,0.25≦y≦0.40。
  8. 如請求項1或2之濾光器,其中上述濾光器之可見光之波長區域之透過率曲線中,具有直線透過率從長波長側向短波長側單調遞減之曲線部分,上述曲線部分隨著入射角增大而向長波長側移動。
  9. 如請求項1或2之濾光器,其中對於波長為950nm之光,入射角為60°時之直線透過率係入射角為0°時之直線透過率之80%以上。
  10. 如請求項1或2之濾光器,其進而具有由紅外線透過油墨形成之印刷層。
  11. 如請求項1或2之濾光器,其具有三維形狀。
  12. 如請求項1或2之濾光器,其包含基質、及分散於上述基質中之微粒子。
  13. 如請求項12之濾光器,其中上述微粒子包含平均粒徑處於80nm以上300nm以下之範圍內之單分散之第1微粒子。
  14. 如請求項13之濾光器,其中上述第1微粒子之平均粒徑為150nm以 上。
  15. 如請求項12之濾光器,其中相對於上述濾光器之面方向垂直之剖面中,上述微粒子之重心間距離的平均值為200nm以上。
  16. 如請求項12之濾光器,其中相對於上述濾光器之面方向垂直之剖面中,上述微粒子之重心間距離之平均值的變異係數為10%以上。
  17. 如請求項12之濾光器,其中相對於上述濾光器之面方向垂直之剖面中,上述微粒子之重心間距離之平均值的變異係數為45%以下。
  18. 如請求項12之濾光器,其中上述基質包含具有交聯結構之樹脂。
  19. 如請求項12之濾光器,其中上述微粒子至少構成膠體非晶集合體。
  20. 如請求項12之濾光器,其中上述微粒子之體積分率為6%以上60%以下。
  21. 如請求項12之濾光器,其中將上述基質對波長546nm之光之折射率設為nM,將上述微粒子對波長546nm之光之折射率設為nP時,| nM-nP |為0.03以上0.6以下。
  22. 如請求項12之濾光器,其中上述基質係由樹脂形成,上述微粒子係 由無機材料形成。
  23. 一種如請求項22之濾光器之製造方法,其包含以下步驟:準備於硬化性樹脂中分散、混合有上述微粒子之硬化性樹脂組合物;將上述硬化性樹脂組合物賦予至基材之表面;及使賦予至上述表面之上述硬化性樹脂組合物所包含之上述硬化性樹脂硬化。
  24. 如請求項23之製造方法,其中上述賦予步驟係藉由塗佈法進行。
  25. 如請求項23之製造方法,其中上述賦予步驟係藉由浸塗法進行。
  26. 一種光學模組,其具有:具備紅外線受光部之裝置;及如請求項1至22中任一項之濾光器,其配置於上述裝置之上述紅外線受光部之前表面。
  27. 如請求項26之光學模組,其中上述裝置為感測裝置、通信裝置、太陽電池、加熱器或饋電裝置。
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