TWI827837B - 電力開關電路以及用於維持電力開關電路的工作效率的方法 - Google Patents

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Abstract

根據一種態樣,本文的實施例提供一種電力開關電路,包括:第一端子、第二端子、第三端子以及多個開關裝置,每個開關裝置具有:第一電晶體,其具有第一閘極、第一源極與第一汲極;第二電晶體,其具有第二閘極、第二源極、耦接至第一源極的第二汲極、以及耦接在第二汲極與第二源極之間的雙極本體二極體;以及單極二極體,配置為在一過渡週期期間防止施加在第一閘極與第一源極之間的一過渡電壓超過第一電晶體的退化臨界值,其中,多個開關裝置中的第一開關裝置耦接在第一端子與第三端子之間,並且多個開關裝置中的第二開關裝置耦接在第二端子與第三端子之間。

Description

電力開關電路以及用於維持電力開關電路的工作效率的方法
本發明的實施例大體上是關於電力轉換,並且更具體地,關於用於不斷電電源供應系統中的電力轉換的電力開關裝置。
使用電力裝置(例如不斷電電源供應系統)來提供調節的、不間斷的電力給敏感及/或關鍵負載(例如電腦系統與其他資料處理系統)是眾所皆知的。已知的不斷電電源供應系統包括線上式不斷電電源供應系統、離線式不斷電電源供應系統、線上互動式不斷電電源供應系統以及其他。線上式不斷電電源供應系統會在主交流電源中斷時提供調節的交流電源與備用交流電源。在主交流電源中斷時離線式不斷電電源供應系統通常不提供輸入交流電源的調節,但會提供備用交流電源。線上互動式不斷電電源供應系統與離線式不斷電電源供應系統相似,它們在停電時會切換到電池電力,但通常還包括一個多抽頭變壓器用於調節不斷電電源供應系統提供的輸出電壓。
本發明的至少一個態樣涉及一種電力開關電路,包括:第一端子、 第二端子、第三端子以及多個開關裝置,每個開關裝置具有第一電晶體與第二電晶體;所述第一電晶體具有第一閘極、第一源極與第一汲極;所述第二電晶體具有第二閘極、第二源極、耦接至所述第一源極的第二汲極,以及耦接在所述第二汲極與所述第二源極之間的雙極本體二極體;以及單極二極體,配置為在一過渡週期期間防止施加在所述第一閘極與所述第一源極之間的一過渡電壓超過所述第一電晶體的退化臨界值,其中,所述多個開關裝置中的第一開關裝置耦接在所述第一端子與所述第三端子之間,並且所述多個開關裝置中的第二開關裝置耦接在所述第二端子與所述第三端子之間。
根據一個實施例,所述多個開關裝置中的每個開關裝置的所述單極二極體具有耦接到所述第二源極的陽極以及耦接到所述第一汲極的陰極。在另一個實施例中,所述多個開關裝置中的每個開關裝置的所述單極二極體具有耦接至所述第一閘極的陽極以及耦接至所述第一源極的陰極。
根據另一個實施例,所述多個開關裝置中的每個開關裝置配置為使得所述第一閘極耦接到所述第二源極。在一個實施例中,每個開關裝置的所述第一電晶體是空乏型電晶體,以及每個開關裝置的所述第二電晶體是增強型電晶體。在另一個實施例中,每個開關裝置的所述第一電晶體是氮化鎵高電子遷移率電晶體,每個開關裝置的所述第二電晶體是一低壓場效電晶體。在一個實施例中,每個開關裝置的所述單極二極體是一蕭特基能障二極體。在另一實施例中,所述氮化鎵高電子遷移率電晶體與所述低壓場效電晶體包含在單個封裝中的至少一個基板上。在一個實施例中,每個開關裝置製造為使得所述蕭特基能障二極體在外部連接至包含所述氮化鎵高電子遷移率電晶體與所述低壓場效電晶體的所述封裝。在另一實施例中,每個開關裝置被製造為使得所述蕭特基能障二極體被包括在包含所述氮化鎵高電子遷移率電晶體與所述低壓場效電晶體的所述封裝中的所述至少一個基板上。
根據一個實施例,所述第三端子配置為耦接至交流電源,所述第一端子與所述第二端子配置為耦接至直流電匯流排,且所述電力開關電路配置為在一不斷電電源供應系統中用作電力轉換器。在另一實施例中,所述第一端子與所述第二端子配置為耦接至直流電匯流排,所述第三端子配置為耦接至一負載,以及所述電力開關電路配置為在一不斷電電源供應系統中用作電力變流器。在一個實施例中,所述第二端子耦接到接地連接。在另一實施例中,所述多個開關裝置中的第三開關裝置耦接在所述第一端子與所述第三端子之間,並且所述多個開關裝置中的第四開關裝置耦接在所述第二端子與所述第三端子之間。
本發明的另一態樣涉及一種用於維持電力開關電路中的開關裝置的工作效率的方法,所述開關裝置具有第一電晶體與第二電晶體以及單極二極體,所述第一電晶體具有第一閘極、第一源極與第一汲極,所述第二電晶體具有第二閘極、第二源極、耦接到所述第一源極的第二汲極、以及耦接在所述第二汲極與所述第二源極之間的雙極本體二極體,所述單極二極體具有耦接到所述第二源極的陽極與耦接到所述第一汲極的陰極,所述方法包括:在所述電力開關電路的過渡週期期間,在所述第二源極接收過渡電流;通過所述單極二極體轉移至少一部分所述過渡電流到所述第一汲極,使得施加在所述第一閘極與所述第一源極之間的過渡電壓不超過所述第一電晶體的退化臨界值;確定所述電力開關電路的所述過渡週期已經結束;以及回應於確定所述過渡週期已經結束而啟動所述第二電晶體,使得施加到所述第一汲極的工作電流通過所述第一電晶體與所述第二電晶體切換到所述第二源極。
根據一個實施例,通過所述單極二極體轉移所述過渡電流的步驟通過減小所述第二電晶體的所述雙極本體二極體的順向恢復電壓,防止所述過渡電壓超過所述第一電晶體的所述退化臨界值。在一個實施例中,所述第一電晶體是氮化鎵高電子遷移率電晶體,所述第二電晶體是低壓場效電晶體,且所述單 極二極體是蕭特基能障二極體。
本發明的至少一個態樣涉及一種用於維持電力開關電路中的開關裝置的工作效率的方法,該電力開關裝置具有第一電晶體與第二電晶體以及單極二極體,所述第一電晶體具有第一閘極、第一源極與第一汲極,所述第二電晶體具有第二閘極、第二源極、耦接至所述第一源極的第二汲極、以及耦接於所述第二汲極與所述第二源極之間的雙極本體二極體,所述單極二極體具有耦接至所述第一源極的陰極與耦接至所述第一閘極的陽極,所述方法包括:在所述電力開關電路的過渡週期期間,在所述第二源極接收過渡電流;通過所述單極二極體調節施加在所述第一閘極與所述第一源極之間的過渡電壓,使得所述過渡電壓不超過所述第一電晶體的退化臨界值;確定所述電力開關電路的所述過渡週期已經結束;以及回應於確定所述過渡週期已經結束而啟動所述第二電晶體,使得施加到所述第一汲極的工作電流通過所述第一電晶體與所述第二電晶體切換到所述第二源極。
根據一個實施例,通過所述單極二極體調節所述過渡電壓的步驟降低所述第二電晶體的所述雙極本體二極體的順向恢復電壓,以防止所述過渡電壓超過所述第一電晶體的所述退化臨界值。在一個實施例中,所述第一電晶體是氮化鎵高電子遷移率電晶體,所述第二電晶體是低壓場效電晶體,且所述單極二極體是蕭特基能障二極體。
100:不斷電電源供應系統
102:輸入
104:轉換器
106:直流匯流排
108:變流器
110:輸出
112:電池
114:控制器
200:疊接式氮化鎵裝置
202:氮化鎵高電子遷移率電晶體
206:閘極
208:源極
210:低壓場效電晶體
212:本體二極體
214:汲極
216:閘極
218:源極
220:陽極
222:陰極
300:半橋變流器
302:氮化鎵高電子遷移率電晶體
304:汲極
310:高側裝置
311:負載
312:低側裝置
319:洩漏路徑
320:氮化鎵高電子遷移率電晶體
328:低壓場效電晶體
330:本體二極體
336:源極
338:反向電壓
340:過渡電流
342:順向恢復電壓
344:順向電流
346:順向電壓
348:過渡週期
400:電力開關電路
402:第一開關裝置
404:第二開關裝置
406:正輸出
408:負輸出
410:輸入
412:輸出
414:正輸入
416:負輸入
450:電力開關電路
500:開關裝置
501:基板
502:氮化鎵高電子遷移率電晶體
504:汲極
506:閘極
508:源極
510:低壓場效電晶體
512:本體二極體
513:陽極
514:汲極
515:陰極
518:源極
520:蕭特基能障二極體
522:陽極
524:陰極
550:開關裝置
600:開關裝置
620:蕭特基能障二極體
622:陰極
624:陽極
下面參考附圖討論至少一個實施例的各個態樣,這些附圖並非一定按比例繪製。包括附圖以提供各個態樣與實施例的說明與進一步的理解,並且附圖被併入本說明書中且構成本說明書的一部分,但是不意圖作為對本發明的限制的定義。在附圖中,在各個附圖中說明的每個相同或幾乎相同的元件由相似 的元件符號表示。為了清楚起見,並非每個元件都可以標記在每個圖中。在附圖中:[圖1]是根據本發明一個實施例的不斷電電源供應系統的功能方塊圖。
[圖2]是傳統的疊接式氮化鎵電力開關裝置的示意圖。
[圖3A]是傳統的半橋變流器電路的示意圖; [圖3B]是說明與圖3A的半橋變流器電路相關的電壓與電流波形的圖。
[圖4A]是根據本發明的一個實施例的電力開關電路的功能方塊圖。
[圖4B]是根據本發明的一個實施例的電力開關電路的功能方塊圖。
[圖5A]是根據本發明的一個實施例的電力開關裝置的示意圖。
[圖5B]是根據本發明的一個實施例的電力開關裝置的示意圖。
[圖6]是根據本發明的一個實施例的電力開關裝置的示意圖。
本文討論的方法與系統的示例在應用中不限於在以下描述中闡述或在附圖中說明的構造細節與元件的設置。所述方法與系統能夠在其他實施例中實施並且能夠以各種方式實踐或執行。本文提供的特定實施方式的示例僅出於說明性目的,並不旨在進行限制。特別地,結合任何一個或多個示例討論的動作、元件、元件與特徵不旨在被排除在任何其他示例中的類似角色之外。
同樣,本文所使用的措詞與術語是出於描述的目的,並且不應視為限制。對本文中以單數形式提及的系統與方法的示例、實施例、元件、元件或動作的任何引用也可以涵蓋包括多個的實施例,並且對本文中的任何實施例、元件、元件或動作的複數形式的任何引用也可以涵蓋僅包括單數的實施例。單數或複數形式的引用無意於限制當前公開的系統或方法、它們的元件、動作或元件。本文中“包括”,“包含”,“具有”,“包含”,“涉及”及其變異的使用意在涵蓋其後 列出的項目及其等同物以及其他項目。對“或”的引用可以解釋為包括性的,使得使用“或”描述的任何術語可以指示單個、一個以上以及所有所描述的術語中的任何一個。另外,在本文與通過引用併入本文的文件之間的術語用法不一致的情況下,在併入參考文獻中的術語用法是對本文的術語進行補充。對於不能相容的不一致之處,以本文中的術語的用法為準。
如上所述,電力裝置,例如不斷電電源供應系統(UPS),通常用來提供調節的、不間斷的電力給敏感及/或重要負載。傳統的線上式不斷電電源供應系統使用電力因數校正電路(PFC)對由電力公司提供的輸入交流電源進行整流,以提供直流電源到至少一條直流匯流排。當主電力可用時,直流匯流排上的整流的直流電源通常用於對電池充電。在沒有主電力的情況下,電池放電並且提供直流電給直流匯流排。變流器從直流匯流排上的直流電源產生提供給負載的交流輸出電壓。由於直流匯流排由主電力或電池供電,因此如果主電力發生故障並且電池已充足電,則不斷電電源供應系統的輸出電力不會中斷。典型的線上式不斷電電源供應系統還會以旁路模式運行,在這種模式下,具有基本保護的無調節的電力直接從交流電源通過旁路線提供給負載。
圖1是不斷電電源供應系統100的一個實施例的方塊圖,不斷電電源供應系統100將來自在輸入102處接收的輸入交流電源以及來自電池112的備用電源的調節的電力提供給輸出110。不斷電電源供應系統100包括轉換器104、直流匯流排106,變流器108以及用於控制轉換器與變流器的控制器114。轉換器104耦接到輸入102,變流器108耦接到輸出110,並且直流匯流排106耦接在轉換器104與變流器108之間。
輸入102配置為從交流電源接收具有輸入電壓電平的輸入交流電源。控制器114監視由輸入102接收的輸入交流電源,並且配置為基於由輸入102接收的輸入交流電源的狀態以不同的操作模式操作不斷電電源供應系統100。當 提供給輸入102的交流電源是在可接受的時(亦即,高於輸入電力臨界值),控制器114以線上操作模式操作不斷電電源供應系統100。
線上操作模式中,來自輸入102的交流電源可以提供給轉換器104。根據一個實施例,轉換器104是電力因數校正(PFC)轉換器104;然而,在其他實施例中,可以利用其他類型的轉換器。控制器114操作轉換器104以將交流電轉換為直流電,並將直流電提供給直流匯流排106。來自直流匯流排106的直流電提供給變流器108。控制器114操作變流器108以將直流電轉換為調節的交流電,並將調節後的交流電提供給耦接到輸出110的負載。
當提供給輸入端102的交流電源是不可接受的(亦即,低於輸入電力臨界值)時,控制器114以備用操作模式來操作不斷電電源供應系統100。在備用操作模式中,來自電池112的直流電源提供給直流匯流排106。變流器108從直流匯流排106接收直流電,並且控制器114操作變流器108以將來自直流匯流排106的直流電轉換成調節的交流電,並且將調節的交流電提供給輸出110。
如上所述,不斷電電源供應系統可以包括用於將交流電轉換為直流電、直流電轉換為交流電以及將直流電從一個直流電壓電平轉換為另一直流電壓電平的各種類型的電力轉換器。例如,傳統的不斷電電源供應系統通常包括兩個象限及/或四個象限轉換器,例如變流器、同步降壓轉換器、升壓轉換器等。已知這些各種電力轉換器包括利用開關裝置的電力開關電路,例如場效電晶體與絕緣閘極雙極性電晶體(IGBTs)。氮化鎵(Gallium Nitrate,GaN)是一種常見的寬頻隙材料,用於製造電力開關應用的場效電晶體(FET)。與矽場效電晶體或絕緣閘極雙極性電晶體相比,氮化鎵場效電晶體(GaN FET)可以提供非常高的開關速度,因此降低了開關損耗,實現了高頻電力轉換器設計。與其他開關裝置相比,即使在高溫下,氮化鎵場效電晶體也可以在高電壓下的經受低得多的導通電阻。
傳統電力開關電路中常用的一種氮化鎵技術是增強型氮化鎵(e- GaN)。增強型氮化鎵場效電晶體(e-GaN FET)是常關裝置,與例如矽場效電晶體的替代開關裝置相比,可以提供例如更低導通電阻、更快開關速度、更低功耗以及更小的封裝等效益。但是,對於電力開關應用,增強型氮化鎵場效電晶體會顯示出侷限性,例如低可靠性、低閘極電壓邊限以及不足的散熱性能。
另一類氮化鎵技術是疊接式氮化鎵(Cascode GaN)。疊接式氮化鎵包括利用空乏型氮化鎵高電子遷移率電晶體(GaN HEMT)。氮化鎵高電子遷移率電晶體是常開裝置。在傳統的疊接式氮化鎵裝置中,常關型增強模式低壓矽場效電晶體以疊接式架構連接到氮化鎵高電子遷移率電晶體,使得氮化鎵高電子遷移率電晶體與低壓場效電晶體一起作用成常關型裝置。例如,圖2是說明傳統的疊接式氮化鎵裝置200的示意圖。如圖2所示,氮化鎵高電子遷移率電晶體202的源極208耦接到低壓場效電晶體210的汲極214。低壓場效電晶體210包括本體二極體212,本體二極體212具有耦接到源極218的陽極220以及耦接到汲極214的陰極222。低壓場效電晶體210的源極218也耦接到氮化鎵高電子遷移率電晶體202的閘極206。通過在低壓場效電晶體210的閘極216與源極218之間施加電壓來開啟與關閉疊接式氮化鎵裝置200。
疊接式氮化鎵技術可以解決增強型氮化鎵的許多侷限性,因為利用氮化鎵高電子遷移率電晶體與低壓場效電晶體以較低的成本改善可靠性。疊接式氮化鎵裝置還可以在10V時完全開啟,並且可以承受±20V的電壓,相較增強型氮化鎵裝置的1V邊限,提供高很多的閘極電壓邊限。此外,通常以標準電晶體輪廓(TO)封裝生產疊接式氮化鎵裝置,與增強型氮化鎵裝置的表面安裝裝置(SMD)封裝相比,標準電晶體輪廓封裝提供始於印刷電路板的額外間隙。電晶體輪廓封裝提供的始於印刷電路板表面的額外間隙改善熱性能。
然而,儘管具有上面討論的優點,傳統的疊接式氮化鎵裝置在電力開關應用中仍然經受低效率。疊接式氮化鎵裝置中包括的氮化鎵高電子遷移 率電晶體的閘極通常設計為+5V/-40V運作,具有20V的夾斷電壓。如果施加到氮化鎵高電子遷移率電晶體的閘極至源極電壓超過+5V,則電荷會注入氮化鎵高電子遷移率電晶體中,並且氮化鎵高電子遷移率電晶體的汲極至源極導通電阻(Rds(on))增加。當氮化鎵高電子遷移率電晶體的閘極至源極電壓在-20V以下的負偏壓下持續長時間週期時,注入的電荷才開始耗散。在某些情況下,需要將氮化鎵高電子遷移率電晶體保持在夾斷區域中數小時才能完全恢復。當在電力開關應用中使用時,傳統的疊接式氮化鎵裝置通常容易受到這種增加的Rds(on)效應的影響,導致降低裝置效率。
舉例來說,圖3A是典型的半橋變流器300的示意圖,半橋變流器300包括耦接至低側疊接式氮化鎵裝置(以下稱為低側裝置312)的高側疊接式氮化鎵裝置(以下稱為高側裝置310)。正輸入端子+VDC耦接至高側裝置310的氮化鎵高電子遷移率電晶體302的汲極304,並且負輸入端子-VDC的耦接至低側裝置312的低壓場效電晶體328的源極336。在高側裝置310與低側裝置312之間共用公共的負載311。
圖3B是說明在半橋變流器300的過渡週期(Ttr)348期間低壓場效電晶體328的本體二極體330的電流與電壓波形的圖。當高側裝置310導通時,低側裝置312關斷,並且來自正輸入端子+VDC的電流通過高側裝置310被切換到負載311。當高側裝置310導通時,反向電壓338被施加到低壓場效電晶體328的本體二極體330。然後,當高側裝置310截止時,過渡電流340傳輸到保持截止的低側裝置312。如圖3A所示,轉移到低側裝置312的過渡電流340開始以反方向跟隨通過低壓場效電晶體328的本體二極體330及氮化鎵高電子遷移率電晶體320的洩漏路徑319。
由於高側裝置310的關斷速度所造成的過渡電流340,低壓場效電晶體328的本體二極體330產生順向恢復電壓342。順向恢復電壓342的幅度取決 於過渡電流340、低壓場效電晶體328的本體二極體330的pn接面結構,以及由焊線、引線與觸點引起的任何電感。順向恢復電壓342導致整個低壓場效電晶體328的本體二極體330上的大壓降,因此將正閘極到源極電壓施加到氮化鎵高電子遷移率電晶體320。只要施加到氮化鎵高電子遷移率電晶體320的正閘極到源極電壓超過+5V,電荷注入氮化鎵高電子遷移率電晶體320中,導致氮化鎵高電子遷移率電晶體320的Rds(on)增加。
跟隨通過低壓場效電晶體328的本體二極體330的洩漏路徑319的過渡電流340穩定在正常的順向電流344,並且低壓場效電晶體328的本體二極體330開始以正常的順向電壓346運作。然而,氮化鎵高電子遷移率電晶體320的Rds(on)保持高於正常值,直到氮化鎵高電子遷移率電晶體320夾斷,使得允許注入的電荷消散為止。Rds(on)的增加降低了低側裝置312的效率,因此降低了半橋變流器300的效率。因此,傳統的疊接式氮化鎵裝置通常限於低電流、低速電力開關應用,以保持運作效率。
提供一種用於大電流、高速電力開關應用的更有效的、成本效益的且可靠的開關裝置。在至少一個實施例中,在擴展的高電流負載範圍內,提供給疊接式氮化鎵開關裝置的電流在高速電力開關應用中保持高工作效率。更具體地說,通過單極二極體轉移電流,使得疊接式氮化鎵開關裝置的氮化鎵高電子遷移率電晶體從不產生順向恢復電壓。
圖4A是根據本文描述的態樣的電力開關電路400的一個實施例的方塊圖。電力開關電路400可以用於例如類似於圖1所示的不斷電電源供應系統100的不斷電電源供應系統中的轉換器104。電力開關電路400包括耦接在輸入410與正輸出406之間的第一開關裝置402以及耦接在輸入410與負輸出408之間的第二開關裝置404。在一個實施例中,輸入410可以配置為從交流電源接收交流電,並且電力開關電路400可以運作為半橋轉換器,以將接收到的交流電轉換為 直流電,並將直流電提供給正輸出406與負輸出408。在其他實施例中,電力開關電路400可以包括第三與第四開關裝置,並且配置為用作全橋轉換器。在一些實施例中,負輸出408可以耦接到接地或中性連接。
圖4B是根據本文描述的態樣的電力開關電路450的一個實施例的方塊。舉例來說,可以在類似於圖1所示的不斷電電源供應系統100的不斷電電源供應系統的變流器108中使用電力開關電路450。電力開關電路450配置為使得第一開關裝置402耦接在正輸入414與輸出412之間,並且第二開關裝置404耦接在負輸入416與輸出412之間。在一個實施例中,正輸入414與負輸入416可以配置為從直流電源,例如直流匯流排或電池,接收直流電,並且電力開關電路450可以運作為半橋變流器以將接收到的直流電轉換成交流電,並提供交流電給輸出412。在其他實施例中,電力開關電路450可以包括第三與第四開關裝置,並且配置為用作全橋變流器。在一些實施例中,負輸入416可以耦接到接地或中性連接。
在另一實施例中,電力開關電路450可以配置為用作與圖3A所示的半橋變流器300相似的半橋變流器。例如,第一開關裝置402可以配置為用作高側裝置310,並且第二開關裝置404可以配置為用作低側裝置312。
圖5A是根據本文描述的態樣的開關裝置500的一個實施例的示意圖。開關裝置500可以用作例如圖4所示的電力開關電路400的第一開關裝置402或第二開關裝置404,或者用作電力開關電路中的任何其他開關裝置。
開關裝置500包括常開空乏型氮化鎵高電子遷移率電晶體502。氮化鎵高電子遷移率電晶體502的源極508耦接到常關增強模式低壓場效電晶體510的汲極514。氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510以疊接式結構耦接,使得氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510共同作用成常關裝置。低壓場效電晶體510包括本體二極體512,本體二極體512的陽極513耦接到源極518,以及陰極515耦接到汲極514。蕭特基能障二極體(SBD)520耦接 在氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510之間。SBD 520的陽極522耦接到低壓場效電晶體510的源極518以及氮化鎵高電子遷移率電晶體502的閘極506。蕭特基能障二極體520的陰極524耦接到氮化鎵高電子遷移率電晶體502的汲極504。在一實施例中,蕭特基能障二極體520是碳化矽(SiC)蕭特基能障二極體。然而,在其他實施例中,可以利用不同類型的蕭特基能障二極體或任何其他單極二極體。
在至少一個實施例中,開關裝置500可以在電力開關電路的過渡週期期間經受過渡電流,類似於以上關於圖3B所討論的過渡週期348與過渡電流340。低壓場效電晶體510的本體二極體512是具有pn接面的雙極型裝置,因此,當將過渡電流施加到低壓場效電晶體510的源極518時,過渡期間會產生順向恢復電壓。然而,蕭特基能障二極體520是不具有pn接面的單極裝置,因此在低壓場效電晶體510的本體二極體512產生順向恢復電壓之前變為順向偏壓。由於蕭特基能障二極體520的陽極522耦接到低壓場效電晶體510的源極518,大部分過渡電流通過蕭特基能障二極體520轉移,繞過低壓場效電晶體510與氮化鎵高電子遷移率電晶體502。通過蕭特基能障二極體520轉移電流,在過渡週期期間降低了低壓場效電晶體510的本體二極體512的順向恢復電壓。
一旦過渡週期結束,就通過啟用低壓場效電晶體510導通氮化鎵高電子遷移率電晶體502,並且在氮化鎵高電子遷移率電晶體502與蕭特基能障二極體520之間共用電流。在一個實施例中,控制器,例如控制器114,可以用來確定過渡週期結束並且啟用低壓場效電晶體510。在氮化鎵高電子遷移率電晶體502導通的同時,蕭特基能障二極體520的壓降變得比氮化鎵高電子遷移率電晶體502高得多,導致大部分電流通過氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510切換。在過渡週期期間通過蕭特基能障二極體520轉移過渡電流,並且避免低壓場效電晶體510的本體二極體512的順向恢復電壓,開關裝置500能夠在 高速、大電流的電力開關應用中保持高水準的效率。
根據至少一個實施例,製造開關裝置500,使得蕭特基能障二極體520在外部連接到包含氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510的基板501。在一個實施例中,包含氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510的基板是疊接式GaN裝置。在另一個實施例中,如圖5B說明的,與開關電路500相似的開關裝置550,不同之處在於,製造開關裝置550使得蕭特基能障二極體520被包括在包含氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510的同樣基板501上。將蕭特基能障二極體520、氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510包含在同一基板501上,與焊線及引線相關聯的任何額外電壓降可以被最小化以進一步改善操作效率。在其他實施例中,可以在單個封裝或晶片中包括的多個基板上製造SBD 520、氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510。在一個實施例中,單個封裝是電晶體輪廓(TO)封裝。
在至少一個實施例中,在擴展的高電流負載範圍內,提供給疊接式GaN開關裝置的電流在高速電力開關應用中保持高工作效率。更具體地,管理電流使得順向恢復電壓不以降低疊接式GaN開關裝置的方式施加至疊接式GaN開關裝置的氮化鎵高電子遷移率電晶體。
圖6是根據本文描述的態樣的開關裝置600的另一實施例的示意圖。開關裝置600可以例如用作如圖4所示的電力開關電路400的第一開關裝置402或第二開關裝置404,或電力開關電路中的任何其他開關裝置。
開關裝置600包括常開空乏型氮化鎵高電子遷移率電晶體502。氮化鎵高電子遷移率電晶體502的源極508耦接到常關增強模式低壓場效電晶體510的汲極514。氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510以疊接式結構耦接,使得氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510共同作用成常關裝置。低壓場效電晶體510包括本體二極體512,本體二極體512的陽極513 耦接到源極518,以及陰極515耦接到汲極514。蕭特基能障二極體620耦接在氮化鎵高電子遷移率電晶體502兩端。蕭特基能障二極體620的陽極耦接到氮化鎵高電子遷移率電晶體502的閘極506與低壓場效電晶體510的源極518。蕭特基能障二極體620的陰極622耦接到氮化鎵高電子遷移率電晶體502的源極508。在一實施例中,蕭特基能障二極體620是矽(Si)蕭特基能障二極體;然而,在其他實施例中,可以利用不同類型的蕭特基能障二極體或任何其他單極二極體。
在至少一個實施例中,開關裝置600可以在電力開關電路的過渡週期期間經受過渡電流,類似於以上關於圖3B所討論的過渡週期348與過渡電流340。低壓場效電晶體510的本體二極體512是具有pn接面的雙極型裝置,因此,當將過渡電流施加到低壓場效電晶體510的源極518時,過渡週期期間會產生順向恢復電壓。然而,蕭特基能障二極體620是不具有pn接面的單極裝置,因此在低壓場效電晶體510的本體二極體512產生順向恢復電壓之前變為順向偏壓。由於蕭特基能障二極體620的陽極624耦接到氮化鎵高電子遷移率電晶體502的閘極506,並且蕭特基能障二極體620的陰極622耦接到氮化鎵高電子遷移率電晶體502的源極508,所以施加到氮化鎵高電子遷移率電晶體502的閘極到源極的電壓不能超過蕭特基能障二極體620的順向壓降。蕭特基能障二極體620的順向壓降通常小於1V,因此保護氮化鎵高電子遷移率電晶體502的閘極到源極電壓不會超過+5V,並且電荷不會被注入到氮化鎵高電子遷移率電晶體502中。
一旦過渡期結束,就通過啟用低壓場效電晶體510來導通氮化鎵高電子遷移率電晶體502,並且在低壓場效電晶體510與蕭特基能障二極體620之間共用電流。在一個實施例中,控制器,例如控制器114可以用來確定過渡週期結束並且啟用低壓場效電晶體510。當啟用低壓場效電晶體510時,蕭特基能障二極體620的壓降變得比低壓場效電晶體510高得多,導致大部分電流通過氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510進行切換。通過調節本體二極體 512的順向恢復電壓以及防止氮化鎵高電子遷移率電晶體502的閘極到源極電壓超過+5V,開關裝置600能夠在高速、高開關應用中保持高水準的效率。
根據至少一個實施例,製造開關裝置600,使得蕭特基能障二極體620在外部連接到包含氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510的基板501。在一個實施例中,包含氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510的基板501是疊接式氮化鎵裝置。在另一個實施例中,製造開關裝置500,使得蕭特基能障二極體520被包括在包含氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510的基板501上。通過包括蕭特基能障二極體620、氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510在同樣基板501上,與焊線及引線相關的任何額外的電壓降可以被最小化,以進一步改善操作效率。在其他實施例中,在單個封裝或晶片包括的多個基板上製造蕭特基能障二極體620、氮化鎵高電子遷移率電晶體502與低壓場效電晶體510。在一個實施例中,單個封裝是電晶體輪廓(TO)封裝。
如上所述,控制器114配置為監視與控制不斷電電源供應系統100的操作。使用存儲在相關聯的記憶體中的資料、控制器114可操作成執行一個或多個指令,這可以導致對一個或多個開關裝置的導通狀態的操縱。在一些示例中,控制器114可以包括一個或多個處理器或其他類型的控制器。控制器114可以在處理器上執行本文描述的功能的一部分,並且使用專用積體電路(ASIC)執行另一部分,所述專用積體電路(ASIC)調整為執行特定操作。根據本發明的示例可以使用硬體與軟體的許多特定組合來執行本文所述的操作,並且本發明不限於硬體與軟體元件的任何特定組合。
如上所述,本文提供了一種用於高電流、高速電力開關應用中的更有效的、成本效益的且可靠的開關裝置。開關裝置可以管理過渡電流,以防止施加到開關裝置的過渡電壓超過退化臨界值。通過防止施加的過渡電壓超過退 化臨界值,在擴展的大電流負載的範圍內開關裝置可以在高速電力開關應用中保持高操作效率。
因此,已經描述本發明至少一個實施例的幾個態樣,本領域技術人員將容易想到各種改變、修改與改進。這樣的改變、修改與改進旨在作為本公開的一部分,並且旨在落入本發明的精神與範圍內。因此,前面的描述與附圖僅作為示例。
300:半橋變流器
302:氮化鎵高電子遷移率電晶體
304:汲極
310:高側裝置
311:負載
312:低側裝置
319:洩漏路徑
320:氮化鎵高電子遷移率電晶體
328:低壓場效電晶體
330:本體二極體
336:源極

Claims (19)

  1. 一種電力開關電路,包括:第一端子;第二端子;第三端子;以及多個開關裝置,每個開關裝置具有:第一電晶體,其具有第一閘極、第一源極與第一汲極;第二電晶體,其具有第二閘極、第二源極、耦接至所述第一源極的第二汲極,以及耦接在所述第二汲極與所述第二源極之間的雙極本體二極體;以及單極二極體,配置為在一過渡週期期間防止施加在所述第一閘極與所述第一源極之間的一過渡電壓超過所述第一電晶體的退化臨界值,其中,所述多個開關裝置中的第一開關裝置耦接在所述第一端子與所述第三端子之間,並且所述多個開關裝置中的第二開關裝置耦接在所述第二端子與所述第三端子之間,且其中,所述多個開關裝置中的每個開關裝置配置為使得所述第一閘極耦接到所述第二源極。
  2. 如請求項1所述的電力開關電路,其中,所述多個開關裝置中的每個開關裝置的所述單極二極體具有耦接到所述第二源極的陽極以及耦接到所述第一汲極的陰極。
  3. 如請求項1所述的電力開關電路,其中,所述多個開關裝置中的每個開關裝置的所述單極二極體具有耦接至所述第一閘極的陽極以及耦接至所述第一源極的陰極。
  4. 如請求項1所述的電力開關電路,其中,每個開關裝置的所述第 一電晶體是空乏型電晶體,以及每個開關裝置的所述第二電晶體是增強型電晶體。
  5. 如請求項4所述的電力開關電路,其中,每個開關裝置的所述第一電晶體是氮化鎵高電子遷移率電晶體(GaN HEMT),每個開關裝置的所述第二電晶體是一低壓場效電晶體(FET)。
  6. 如請求項5所述的電力開關電路,其中每個開關裝置的所述單極二極體是一蕭特基能障二極體(Schottky Barrier diode)。
  7. 如請求項6所述的電力開關電路,其中,所述氮化鎵高電子遷移率電晶體與所述低壓場效電晶體包含在單個封裝中的至少一個基板上。
  8. 如請求項7所述的電力開關電路,其中,每個開關裝置製造為使得所述蕭特基能障二極體在外部連接至包含所述氮化鎵高電子遷移率電晶體與所述低壓場效電晶體的所述封裝。
  9. 如請求項7所述的電力開關電路,其中,每個開關裝置被製造為使得所述蕭特基能障二極體被包括在包含所述氮化鎵高電子遷移率電晶體與所述低壓場效電晶體的所述封裝中的所述至少一個基板上。
  10. 如請求項1所述的電力開關電路,其中,所述第三端子配置為耦接至交流電源,所述第一端子與所述第二端子配置為耦接至直流電匯流排,且所述電力開關電路配置為在一不斷電電源供應系統(UPS)中用作電力轉換器。
  11. 如請求項1所述的電力開關電路,其中,所述第一端子與所述第二端子配置為耦接至直流電匯流排,所述第三端子配置為耦接至一負載,且所述電力開關電路配置為在一不斷電電源供應系統中用作電力變流器。
  12. 如請求項1所述的電力開關電路,其中,所述第二端子耦接到接地連接。
  13. 如請求項1所述的電力開關電路,其中,所述多個開關裝置中 的第三開關裝置耦接在所述第一端子與所述第三端子之間,並且所述多個開關裝置中的第四開關裝置耦接在所述第二端子與所述第三端子之間。
  14. 一種用於維持電力開關電路中的開關裝置的工作效率的方法,所述開關裝置具有第一電晶體與第二電晶體以及單極二極體,所述第一電晶體具有第一閘極、第一源極與第一汲極,所述第二電晶體具有第二閘極、耦接到所述第一閘極的第二源極、耦接到所述第一源極的第二汲極、以及耦接在所述第二汲極與所述第二源極之間的雙極本體二極體,所述單極二極體具有耦接到所述第二源極的陽極與耦接到所述第一汲極的陰極,其中所述方法包括:在所述電力開關電路的過渡週期期間,在所述第二源極接收過渡電流;通過所述單極二極體轉移至少一部分所述過渡電流到所述第一汲極,使得施加在所述第一閘極與所述第一源極之間的過渡電壓不超過所述第一電晶體的退化臨界值;確定所述電力開關電路的所述過渡週期已經結束;以及回應於確定所述過渡週期已經結束而啟動所述第二電晶體,使得施加到所述第一汲極的工作電流通過所述第一電晶體與所述第二電晶體切換到所述第二源極。
  15. 如請求項14所述的方法,其中,通過所述單極二極體轉移所述過渡電流的步驟通過減小所述第二電晶體的所述雙極本體二極體的順向恢復電壓,防止所述過渡電壓超過所述第一電晶體的所述退化臨界值。
  16. 如請求項14所述的方法,其中,所述第一電晶體是氮化鎵高電子遷移率電晶體,所述第二電晶體是低壓場效電晶體,且所述單極二極體是蕭特基能障二極體。
  17. 一種用於維持電力開關電路中的開關裝置的工作效率的方法,該電力開關裝置具有第一電晶體與第二電晶體以及單極二極體,所述第一電晶 體具有第一閘極、第一源極與第一汲極,所述第二電晶體具有第二閘極、耦接到所述第一閘極的第二源極、耦接至所述第一源極的第二汲極、以及耦接於所述第二汲極與所述第二源極之間的雙極本體二極體,所述單極二極體具有耦接至所述第一源極的陰極與耦接至所述第一閘極的陽極,其中所述方法包括:在所述電力開關電路的過渡週期期間,在所述第二源極接收過渡電流;通過所述單極二極體調節施加在所述第一閘極與所述第一源極之間的過渡電壓,使得所述過渡電壓不超過所述第一電晶體的退化臨界值;確定所述電力開關電路的所述過渡週期已經結束;以及回應於確定所述過渡週期已經結束而啟動所述第二電晶體,使得施加到所述第一汲極的工作電流通過所述第一電晶體與所述第二電晶體切換到所述第二源極。
  18. 如請求項17所述的方法,其中,通過所述單極二極體調節所述過渡電壓的步驟降低所述第二電晶體的所述雙極本體二極體的順向恢復電壓,以防止所述過渡電壓超過所述第一電晶體的所述退化臨界值。
  19. 如請求項17所述的方法,其中,所述第一電晶體是氮化鎵高電子遷移率電晶體,所述第二電晶體是低壓場效電晶體,且所述單極二極體是蕭特基能障二極體。
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