TWI817354B - 測試裝置以及測試待測裝置的方法 - Google Patents
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Abstract
一種測試裝置包含電源供應器以及測試端口。測試端口電性連接至電源供應器。測試端口的每一者包含接點以及電流鉗。接點配置以與待測裝置電性耦合。電流鉗連接在電源供應器與接點之間，並配置以允許具有預定電流值的限制電流流通至接點。
Description
本揭露是有關於一種測試裝置以及測試待測裝置的方法。
現有提供給待測裝置電源的途徑主要是透過將待測裝置互相並聯並且共同連接至電源供應器。因此，每一個待測裝置的電流數值將會被待測裝置的總數以及電源供應器的總電流數值所控制。一般來說，電源供應器的總電流數值是固定的，並且當待測裝置的總數不同時，電流將會隨之改變。如果電流數值未滿足待測裝置的操作需求，可能造成測量失誤的提升以及測量效率的下降。
有鑑於此，本揭露之一目的在於提出一種可有效解決上述問題的測試裝置以及其測試方法。
本揭露是有關於一種測試裝置包含電源供應器以及測試端口。測試端口電性連接至電源供應器。測試端口的每一者包含接點以及電流鉗。接點配置以與待測裝置電性耦合。電流鉗連接在電源供應器與接點之間，並配置以允許具有預定電流值的限制電流流通至接點。
在目前一些實施方式中，測試端口並聯連接。
在目前一些實施方式中，當等於或大於限制電流的電流自電源供應器通流至電流鉗時，電流鉗被配置以允許以限制電流流通至接點。
在目前一些實施方式中，測試端口的每一者進一步包含連接在電源供應器與電流鉗之間的開關。
在目前一些實施方式中，電流鉗及開關各別電性連接至遙控系統，並可被遙控系統各別控制。
在目前一些實施方式中，電源供應器被配置以提供恆定電流，並且分別流通過電流鉗的限制電流的總合等於或小於恆定電流。
本揭露是有關於一種測試待測裝置的方法，方法包含：分別電性耦合測試端口至待測裝置；提供恆定電流至測試端口；以及使得測試端口的每一者允許具有預定電流值的限制電流流通至待測裝置中之對應者。
在目前一些實施方式中，分別流通過測試端口的限制電流的總合等於或小於恆定電流。
在目前一些實施方式中，方法進一步包含：當待測裝置中的至少一者被判定為失敗時，電性斷路測試端口的對應之至少一者。
在目前一些實施方式中，分別流通過測試端口中的其他者的限制電流的總合小於恆定電流。
綜上所述，於本揭露前述的內容中，電流鉗可以達到維持產線操作效能並同時控制電流數值的目的，其原因在於測試端口的電流鉗自動地控制輸入至待測裝置的電流數值。因此，維持產線運作效率並同時控制電流數值的目的可以被達成。電流鉗可以控制每一個待測裝置的輸入電流，使得具有大於限制電流數值的電流數值的電流可以被避免輸入至待測裝置中。同時電流鉗可以預防造成測試異常或是在待測裝置操作期間因為不穩定電流影響到測量效率。電流鉗可以輸出等於限制電流數值的一個輸出電流，以保護待測裝置避免待測裝置的電路因為過大電流而產生過載。每一個測試端口的開關可以在對應的待測裝置以及電源供應器之間選擇性地形成通路或開路，使得產線的待測裝置可以被執行檢修。
應當被理解的是前述的概要性敘述以及下文的細節性敘述皆是根據一些示例說明，並且其目的在於為本揭露的所請求的內容提供進一步的解釋。
以下揭露內容提供用於實施所提供標的之不同特徵的許多不同實施例或實例。以下描述部件及佈置之特定實例以簡化本揭露。當然，此些僅為實例，且並不意欲為限制性的。舉例而言，在如下描述中第一特徵在第二特徵之上或在第二特徵上形成可包括其中第一特徵與第二特徵形成為直接接觸之實施例，且亦可包括其中額外特徵可在第一特徵與第二特徵之間形成而使得第一特徵與第二特徵可不直接接觸的實施例。另外，本揭露可在各種實例中重複元件符號及/或字母。此重複係出於簡化及清楚目的，且其自身並不表示所論述之各種實施例及/或配置之間的關係。
另外，為了描述簡單，可在本文中使用諸如「在……下面」、「在……下方」、「下部」、「在……上方」、「上部」及其類似術語之空間相對術語，以描述如諸圖中所示的一個元件或特徵與另一（另外）元件或特徵的關係。除了諸圖中所描繪之定向以外，此些空間相對術語意欲涵蓋元件在使用中或操作中之不同定向。裝置可以其他方式定向（旋轉90度或以其他定向），且可同樣相應地解釋本文中所使用之空間相對描述詞。
本文中使用的「大約」、「約」、「近似」或者「實質上」一般表示落在給定值或範圍的百分之二十之中，或在百分之十之中，或在百分之五之中。本文中所給予的數字量值為近似值，表示使用的術語如「大約」、「約」、「近似」或者「實質上」在未明確說明時可以被推斷。
請參照第1圖。第1圖為根據本揭露之一些實施例繪示的測試裝置100之示意圖。如第1圖所示，測試裝置100包含電源供應器110以及測試端口120。測試端口120電性連接至電源供應器110。測試端口120的每一者包含接點122以及電流鉗124。接點122配置以與待測裝置200電性耦合。電流鉗124連接在電源供應器110與接點122之間，並配置以允許具有預定電流值的限制電流流通至接點122。測試裝置100可以與自動化生產設備（例如，產線）連接，但本揭露並不以此為限。
在第1圖所示的實施例中，待測裝置200的數目為4，但本揭露並不以此為限。具體來說，待測裝置200的數目可以為任意值，並且待測裝置200可以被可藉由電源供應器110所供電的其他裝置所取代。在本揭露的實施例中，測試端口120為並聯連接，但本揭露並不僅限於此。在待測裝置200與電源供應器110之間的不同的電性連接將會影響分配至每一個待測裝置200的電流。舉例來說，當待測裝置200以並聯的方式與電源供應器110連接時，藉由電源供應器110分配至每一個待測裝置200的電流數值為相等的。
在一些實施例中，測試裝置100可以在接點122以及待測裝置200之間提供至少一個電流鉗124，但本揭露並不以此為限。在一些實施例中，當等於或大於限制電流的電流自電源供應器110通流至電流鉗124時，電流鉗124被配置以允許以限制電流流通至接點122。具體來說，電流鉗124可以設定一個限制電流，並且當其被電性地連接在電源供應器110以及對應的至少一個待測裝置200之間時，通過電流鉗124的電流數值將根據限制電流的數值而被限制。電流鉗124的功用在於預防具有大於限制電流數值的電流值的電流被輸入進入待測裝置200中，從而避免待測裝置200在運作時因為不穩定的電流而造成量測失誤或對量測效率的影響。舉例來說，電流鉗124的限制電流數值可以為大約200 mA。在具有可過濾電流的電流鉗124的狀態下，當輸入電流大於或等於在約200 mA時，可以以等於約200mA的電流數值通過電流鉗124。當輸入電流少於約200 mA時，可以以輸入電流原本的電流數值通過電流鉗124。
在一些實施例中，測試端口120的每一者進一步包含連接在電源供應器110與電流鉗124之間的開關126，但本揭露並不以此為限。舉例來說，開關126也可以被放置在電路的其他位置或與電流鉗124合併。將開關126連接在電源供應器110以及電流鉗124之間的目的主要在於能在電源供應器110以及待測裝置200之間選擇性地形成通路或開路，使得產線中的待測裝置200可以執行維修。在一些實施例中，電源供應器110被配置以提供恆定電流，並且分別流通過電流鉗124的限制電流的總合等於或小於恆定電流，但本揭露並不以此為限。具體來說，由電源供應器110所提供的總電流必須為所有待測裝置200所需要的電流的總和，以確保待測裝置200可以以其最大效率運作。
請參照第2圖。第2圖為根據第1圖中繪示的測試裝置100之另一個示意圖。下文將會以第1圖以及第2途中所繪示的特定的多個實施例進行說明。如第1圖所示，電源供應器110被連接至四個待測裝置200。假設每個待測裝置200所接收到的輸入電流值皆大約為200 mA，並且電源供應器110輸出的總電流大約為800 mA。再如第2圖所示，兩個測試端口120的開關126被關閉以形成開路，並且其他兩個測試端口120在此時仍舊與電源供應器110電性地連接。若沒有電流鉗124居中分別與待測裝置200以及接點122連接，電源供應器110約為800 mA的總電流將會因為並聯電路的特性被等分至兩個待測裝置200。換句話說，兩個待測裝置200的每一者將個別地接收到約400 mA的電流。然而，大約400 mA的電流大於待測裝置200的額定輸入電流，並且將會造成待測裝置200過載。一般來說，每一個待測裝置200的輸入電流可以藉由改變電源供應器110所提供的總電流數值而被間接地調整。然而，電流數值必須被人工計算之後才可被調整，其將會減少產線的運作效率。測試端口120的電流鉗124可以控制待測裝置200的輸入電流數值。電流鉗124可以在控制地流數值的同時達到維持產線運作效率的目的。如第2圖所示，多個電流鉗124分別與待測裝置200連接。如此一來，伴隨著電流鉗124的限制電流作用，每個待測裝置200的輸入電流值可以在不調整電源供應器110的總電流值的狀態下被維持。
請參照第3圖。第3圖為根據本揭露之一個實施例繪示的測試多個待測裝置200的方法M1之流程圖。如第3圖所示，方法M1包含：分別電性耦合測試端口至待測裝置（步驟S101）；提供恆定電流至測試端口（步驟S102）；以及使得測試端口的每一者允許具有預定電流值的限制電流流通至待測裝置中之對應者（步驟S103）。在一些實施例中，分別流通過測試端口120的限制電流的總合等於或小於恆定電流，但本揭露並不以此為限。藉由電源供應器110提供的總電流可以被調整後的電流總和所決定，並且總電流也可以根據維持產線的最大產能的需求依照產線而被調整。在一些實施例中，方法M1進一步包含：當待測裝置200中的至少一者被判定為失敗時，電性斷路測試端口120的對應之至少一者。具體來說，產線包含多個待測裝置200以進行同步測試操作。當任意待測裝置200在測試過程中被判定滿足關閉條件時，其將在當前測試過程結束後被關閉。
根據前述說明，在一些實施例中，測試端口120可以具有不同的電性連接方式。舉例來說，如第1圖所繪示的實施例測試端口120電性地並聯連接至電源供應器110。接著電流自電源供應器110流通並且傳遞至每一個測試端口120。測試端口120的電流鉗124可以預先設定一個預定電流數值。當電流通過每一個測試端口120時，電流鉗124可以根據預定電流數值限制流通進入測試端口120的輸入電流數值。舉例來說，在一些實施例中，每一個測試端口120可以具有可以設定預定電流數值的電流鉗124，並且輸入電流可以被電流鉗124所限制。電流鉗124的特定電流限制細節將在下文被討論。
在一些實施例中，分別流通過測試端口120中的其他者的限制電流的總合小於恆定電流。具體來說，本揭露所提供的測試多個待測裝置200的方法M1藉由比較預定電流數值以及輸入電流以判定是否允許輸入電流通過，但本揭露並不以此為限。其他合適的電流限制方法也可以被使用。舉例來說，其中另外一個限制電流的方法為根據特定比例將電流分配給每個待測裝置200。設置的預定電流數值可以根據電源供應器110被調整。舉例來說，當輸入電流的數值等於或大於預定電流數值時，輸入電流可以通過電流鉗124。另一方面，若輸入電流小於預定電流數值，可以以輸入電流原本的電流數值通過。為了維持產線的表現，電源供應器110所提供的總電流數值必須參照每一個電流鉗124的預定電流數值而被設定。因此，在一些實施例中，分別流通過測試端口120中的其他者的限制電流的總合小於恆定電流，但本揭露並不以此為限。
具體來說，電性斷連可以藉由遙控被達成。遙控可以藉由結合前述所提到的開關126以及電流鉗124與一個遙控系統被組成。當在其中一個待測裝置200中有問題被發現時，遙控系統可以將電性連接的有問題的待測裝置200以及電源供應器110斷連，以預防有問題的待測裝置200持續地運作。舉例來說，當在測試過程中，每一個待測裝置200可以被獨立地測試以判斷其測試結果是否滿足關閉條件。當滿足關閉條件時，有問題的待測裝置200將會藉由遙控系統控制開關126使其與電源供應器110斷連，這樣可以為待測物件節省測試時間。
前文概述了若干實施例之特徵，使得熟習此項技術者可較佳地理解本揭露之態樣。熟習此項技術者應瞭解，他們可容易地使用本揭露作為設計或修改用於實現相同目的及/或達成本文中所介紹之實施例之相同優勢的其他製程及結構的基礎。熟習此項技術者亦應認識到，此些等效構造不脫離本揭露之精神及範疇，且他們可在不脫離本揭露之精神及範疇的情況下於本文作出各種改變、代替及替換。
100:測試裝置
110:電源供應器
120:測試端口
122:接點
124:電流鉗
126:開關
200:待測裝置
M1:方法
S101,S102,S103:步驟
當結合隨附諸圖閱讀時，得以自以下詳細描述最佳地理解本揭露之態樣。應注意，根據行業上之標準實務，各種特徵未按比例繪製。事實上，為了論述清楚，可任意地增大或減小各種特徵之尺寸。
第1圖為根據本揭露之一些實施例繪示的測試裝置之示意圖。
第2圖為根據第1圖中繪示的測試裝置之另一個示意圖。
第3圖為根據本揭露之一些實施例繪示的測試多個待測裝置的方法之流程圖。
國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記)
無
國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記)
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126:開關
200:待測裝置
Claims (10)
- 一種測試裝置，包含：一電源供應器；以及複數個測試端口，電性連接至該電源供應器，該些測試端口的每一者包含：一接點，配置以與一待測裝置電性耦合；以及一電流鉗，連接在該電源供應器與該接點之間，並配置以允許具有一預定電流值的一限制電流流通至該接點。
- 如請求項1所述之測試裝置，其中該些測試端口並聯連接。
- 如請求項1所述之測試裝置，其中當等於或大於該限制電流的一電流自該電源供應器通流至該電流鉗時，該電流鉗被配置以允許以該限制電流流通至該接點。
- 如請求項1所述之測試裝置，其中該些測試端口的每一者進一步包含連接在該電源供應器與該電流鉗之間的一開關。
- 如請求項4所述之測試裝置，其中該些電流鉗及該些開關各別電性連接至一遙控系統，並可被該遙控系統各別控制。
- 如請求項1所述之測試裝置，其中該電源供應器被配置以提供一恆定電流，並且分別流通過該些電流鉗的該些限制電流的一總合等於或小於該恆定電流。
- 一種測試待測裝置的方法，該方法包含：分別電性耦合複數個測試端口至複數個待測裝置；提供具有一第一電流值的一恆定電流至該些測試端口，該些測試端口均分具有該第一電流值的該恆定電流，使得該些測試端口的每一者接收具有一第二電流值的一恆定電流；以及使得該些測試端口的每一者允許具有一預定電流值的一限制電流流通至該些待測裝置中之一對應者。
- 如請求項7所述之測試待測裝置的方法，其中分別流通過該些測試端口的該些限制電流的一總合等於或小於該恆定電流。
- 如請求項7所述之測試待測裝置的方法，其中該使得該些測試端口的每一者允許具有該預定電流值的該限制電流流通至該些待測裝置中之該對應者的步驟包含：使得該些測試端口的每一者判斷該第二電流值是否大於該預定電流值。
- 如請求項9所述之測試待測裝置的方法，其中該使得該些測試端口的每一者允許具有該預定電流值的該限制電流流通至該些待測裝置中之該對應者的步驟更包含：當該第二電流值大於該預定電流值時，使得該些測試端口的每一者允許具有該預定電流值的該限制電流通過。
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