CN117572120A - 用于下线流程测试的多通道装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种用于下线流程测试的多通道装置及系统。该用于下线流程测试的多通道装置包括多通道控制板;多通道控制板包括控制模块、检测端、选通模块以及多个第一测试点;控制模块和检测端均与选通模块连接,选通模块与每一第一测试点连接;控制模块用于控制选通模块将检测端与指定的第一测试点导通,以使检测端连接的检测设备对指定的第一测试点连接的待测试对像进行测试,可以提高检测设备对待测试对象检测和故障排查效率。另外,本方案用机器焊线代替外部手动接线,线路更可靠,可以减少电气故障率,有效降低维修成本。
Description
技术领域
本发明实施例涉及下线流程测试技术领域,尤其涉及一种用于下线流程测试的多通道装置及系统。
背景技术
传统模组的下线流程(End of Line,EOL)测试需要测量待测试对像内部所有单体的单体电压。传统下线流程测试方法为:使用程控万用表测量待测试对像内部所有单体的单体电压,由于万用表仅有一个测试通道,因此需要外加大量继电器来扩展测试通道,通过控制继电器的开通和闭合,实现多个通道间的自动切换。由于继电器数量众多,因此需要手动接大量的线,浪费人力物力,检测效率低。另外,一旦线路出现损坏,排查难度大。
发明内容
本发明实施例提供一种用于下线流程测试的多通道装置及系统,可以提高检测及故障排查效率。
第一方面,本发明实施例提供了一种用于下线流程测试的多通道装置,该用于下线流程测试的多通道装置包括多通道控制板;
所述多通道控制板包括控制模块、检测端、选通模块以及多个第一测试点;
所述控制模块和所述检测端均与所述选通模块连接,所述选通模块与每一所述第一测试点连接;
所述控制模块用于控制所述选通模块将所述检测端与指定的所述第一测试点导通,以使所述检测端连接的检测设备对指定的所述第一测试点连接的待测试对像进行测试。
可选地,所述检测端包括第一检测端和第二检测端;
所述选通模块包括多个第一导通控制单元和多个第二导通控制单元;
所述第一导通控制单元的控制端和所述第二导通控制单元的控制端均与所述控制模块连接;
所述第一检测端和每一所述第一导通控制单元的第一端连接,所述第二检测端和每一所述第二导通控制单元的第一端连接,所述第一导通控制单元的第二端和所述第二导通控制单元的第二端均与一所述第一测试点连接。
可选地,所述第一导通控制单元包括第一继电器,所述第二导通控制单元包括第二继电器;
所述第一继电器的控制端作为所述第一导通控制单元的控制端,所述第一继电器开关的第一端作为所述第一导通控制单元的第一端,所述第一继电器开关的第二端作为所述第一导通控制单元的第二端连接;
所述第二继电器的控制端作为所述第二导通控制单元的控制端,所述控制模块与所述第二继电器的控制端连接,所述第二继电器开关的第一端作为所述第二导通控制单元的第一端,所述第二继电器开关的第二端作为所述第二导通控制单元的第二端连接。
可选地,所述多通道控制板还包括电源接口,所述电源接口分别与所述控制模块和所述选通模块连接。
可选地,所述多通道控制板还包括通讯接口,所述通讯接口与所述控制模块连接;
所述控制模块用于通过所述通讯接口与通讯设备进行信息交互。
可选地,用于下线流程测试的多通道装置还包括设备保护板和排线;
所述设备保护板包括多个连接点、多个第二测试点以及多个保护模块;
每一所述第一测试点通过所述排线与一所述连接点连接,每一所述连接点通过一所述保护模块与一所述第二测试点连接。
可选地,所述保护模块包括可插拔式保险丝。
第二方面,本发明实施例还提供了一种用于下线流程测试系统,该用于下线流程测试系统包括检测设备、多个待测试对像以及本发明任意实施例所提供的用于下线流程测试的多通道装置;
所述检测设备通过所述用于下线流程测试的多通道装置与每一所述待测试对像连接。
可选地,所述检测设备包括万用表。
可选地,下线流程测试系统还包括通讯设备;
所述多通道控制板还包括通讯接口;所述通讯设备通过所述通讯接口与所述控制模块连接。
本发明实施例提供的用于下线流程测试的多通道装置,用机器焊线代替外部手动接线,线路更可靠,可以减少电气故障率,有效降低维修成本。多通道装置通过将控制模块、检测端、选通模块以及多个第一测试点进行集成,实现了板件集成化设计,降低了生产成本,易于批量化推广,减小了下线流程测试通道设置体积,提高了下线流程测试的空间利用率。另外,下线流程测试时使用多通道装置可以便于测试通道数量的扩展以及对测试通道的快速更换。另外,控制模块可以选通选通模块的测试通道,以使检测端和指定的第一测试点连接,进而使检测设备和指定的待测试对像连通,使检测设备对指定的待测试对像进行测试,可以提高检测设备对待测试对象检测和故障排查效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种用于下线流程测试的多通道装置结构示意图;
图2为本发明实施例提供的另一种用于下线流程测试的多通道装置结构示意图;
图3为本发明实施例提供的另一种用于下线流程测试的多通道装置结构示意图;
图4为本发明实施例提供的另一种用于下线流程测试的多通道装置结构示意图;
图5为本发明实施例提供的一种用于下线流程测试系统的结构示意图;
图6为本发明实施例提供的另一种用于下线流程测试系统的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是,本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
图1为本发明实施例提供的一种用于下线流程测试的多通道装置结构示意图,如图1所示,该用于下线流程测试的多通道装置包括多通道控制板100;多通道控制板100包括控制模块110、检测端120、选通模块130以及多个第一测试点140;控制模块110和检测端120均与选通模块130连接,选通模块130与每一第一测试点140连接;控制模块110用于控制选通模块130将检测端120与指定的第一测试点140导通,以使检测端120连接的检测设备对指定的第一测试点140连接的待测试对像进行测试。
其中,多通道控制板100包括多个测试通道,其可以将同一检测设备通过不同的测试通道与多个待测试对象连接,并且可以通过控制测试通道的导通状态,使检测设备对指定的待测试对象进行测试。
具体地,多通道控制板100包括的检测端120用于与检测设备连接;多通道控制板100包括的第一测试点140用于与待测试对像连接;选通模块130包括多个测试通道,用于将检测端120和指定的第一测试点140导通。控制模块110用于选通选通模块130的测试通道,以使检测端120和指定的第一测试点140连接,进而使检测设备和指定的待测试对像连通,使检测设备对指定的待测试对像进行测试。
本发明实施例提供的用于下线流程测试的多通道装置,用机器焊线代替外部手动接线,线路更可靠,可以减少电气故障率,有效降低维修成本。多通道装置通过将控制模块110、检测端120、选通模块130以及多个第一测试点140进行集成,实现了板件集成化设计,降低了生产成本,易于批量化推广,减小了下线流程测试通道设置体积,提高了下线流程测试的空间利用率。另外,下线流程测试时使用多通道装置可以便于测试通道数量的扩展以及对测试通道的快速更换。另外,控制模块110可以选通选通模块130的测试通道,以使检测端120和指定的第一测试点140连接,进而使检测设备和指定的待测试对像连通,使检测设备对指定的待测试对像进行测试,可以提高检测设备对待测试对象检测和故障排查效率。
图2为本发明实施例提供的另一种用于下线流程测试的多通道装置结构示意图,如图2所示,检测端120包括第一检测端A1和第二检测端A2;选通模块130包括多个第一导通控制单元131和多个第二导通控制单元132;
第一导通控制单元131的控制端和第二导通控制单元132的控制端均与控制模块110连接;第一检测端A1和每一第一导通控制单元131的第一端连接,第二检测端A2和每一第二导通控制单元132的第一端连接,第一导通控制单元131的第二端和第二导通控制单元132的第二端均与一第一测试点140连接。
其中,控制模块110需要同时控制连接同一指定测试点的第一导通控制单元131和第二导通控制单元132导通,从而使检测端120连接的检测设备对指定的第一测试点140连接的待测试对像进行测试。
具体地,第一导通控制单元131包括第一继电器,第二导通控制单元132包括第二继电器;
第一继电器的控制端作为第一导通控制单元131的控制端,第一继电器开关的第一端作为第一导通控制单元131的第一端,第一继电器开关的第二端作为第一导通控制单元131的第二端连接;
第二继电器的控制端作为第二导通控制单元132的控制端,控制模块110与第二继电器的控制端连接,第二继电器开关的第一端作为第二导通控制单元132的第一端,第二继电器开关的第二端作为第二导通控制单元132的第二端连接。
其中,控制模块110可以通过第一继电器的控制端控制继电器线圈的上电状态。示例性地,若第一继电器开关为常开开关,第一继电器线圈通电,第一继电器开关导通,使第一检测端A1和与通电的第一继电器对应连接的第一测试点140连通。若第一继电器开关为常开开关,第一继电器线圈断电,第一继电器开关关断,无法使第一检测端A1和与断电的第一继电器对应连接的第一测试点140连通。
控制模块110可以通过第二继电器的控制端控制继电器线圈的上电状态。示例性地,若第二继电器开关为常开开关,第二继电器线圈通电,第二继电器开关导通,使第二检测端A2和与通电的第二继电器对应连接的第一测试点140连通。若第一继电器开关为常开开关,第一继电器线圈断电,第一继电器开关关断,无法使第二检测端A2和与断电的第二继电器对应连接的第一测试点140连通。
若第一继电器开关和第二继电器开关为常闭开关,则第一继电器和第二继电器通电,第一继电器开关和第二继电器开关会断开,使第一继电器和第二继电器对应连接的检测端120和第一测试点140断连。若第一继电器开关和第二继电器开关为常闭开关,第一继电器和第二继电器断电,第一继电器开关和第二继电器开关会导通,使第一继电器和第二继电器对应连接的检测端120和第一测试点140导通。
在上述实施例的基础上,可选地,图3为本发明实施例提供的另一种用于下线流程测试的多通道装置结构示意图,如图3所示,多通道控制板100还包括电源接口150,电源接口150分别与控制模块110和选通模块130连接。
其中,电源接口150与外部电源连接,外部电源可以通过电源接口150给控制模块110和选通模块130提供适宜电压的电能。
在上述实施例的基础上,可选地,继续参考图3,多通道控制板100还包括通讯接口160,通讯接口160与控制模块110连接;控制模块110用于通过通讯接口160与通讯设备进行信息交互。
其中,通讯接口160与外部通讯设备连接,通讯设备可以通过通讯端口与控制模块110进行信息交互。示例性地,通讯设备通过通讯端口给控制模块110下发控制指令,控制模块110根据控制指令控制选通模块130将检测端120与指定的第一测试点140导通,以使检测端120连接的检测设备对指定的第一测试点140连接的待测试对像进行测试。
在上述实施例的基础上,可选地,图4为本发明实施例提供的另一种用于下线流程测试的多通道装置结构示意图。如图4所示,用于下线流程测试的多通道装置还包括设备保护板200和排线300;设备保护板200包括多个连接点210、多个第二测试点220以及多个保护模块230;每一第一测试点140通过排线300与一连接点210连接,每一连接点210通过一保护模块230与一第二测试点220连接。
其中,排线300可以将多通道控制板100与设备保护板200连接,便于多通道控制板100与设备保护板200的快速连接,使二者之间的连接线路更加稳定。设备保护板200上的每一连接点210通过一保护模块230与一第二测试点220连接,每一第一测试点140通过排线300与一连接点210连接,由此排线300可以将每一第一测试点140与一第二测试点220连通。保护模块230可以限制从第一测试点140流入第二测试点220的电流大小,以防流入的电流过大烧损第二测试点220连接的待测试对像。
根据上述连接可知,每一第一测试点140与一第二测试点220对应连接,每一第二测试点220可以与一待测试对像连接,控制模块110控制选通模块130将检测端120与指定的第一测试点140导通,即可以实现检测端120与指定的第二测试点220导通,以使检测端120连接的检测设备对指定的第二测试点220连接的待测试对像进行测试。
可选地,保护模块230包括可插拔式保险丝。
其中,使用可插拔式保险丝方便在保险丝损坏时,对保险丝快速更换,以提高下线流程测试的效率。
图5为本发明实施例提供的一种用于下线流程测试系统的结构示意图,如图5所示,该用于下线流程测试系统包括检测设备01、多个待测试对像02以及本发明任意实施例提供的用于下线流程测试的多通道装置;
检测设备01通过用于下线流程测试的多通道装置与每一待测试对像连接。
具体地,检测设备01与多通道控制板100的检测端120连接,一个多通道控制板100的每一第一测试点140与一待测试对象02连接。
控制模块110控制选通模块130将检测端120与指定的第一测试点140导通,以使检测端120连接的检测设备01对指定的第一测试点140连接的待测试对像进行测试。
另外,用于下线流程测试系统本发明任意实施例提供的用于下线流程测试的多通道装置,因此具有用于下线流程测试的多通道装置的有益效果,此处不再赘述。
具体地,检测设备01包括万用表。
示例性地,检测端120包括第一检测端A1和第二检测端A2;万用表的正极测试端与第一检测端A1连接,万用表的负极测试端与第二检测端A2连接。当控制模块110控制选通模块130将第一检测端A1和第二检测端A2与指定的所述第一测试点140导通,可以使检测万用表对指定的第一测试点140连接的待测试对像进行测试。
图6为本发明实施例提供的另一种用于下线流程测试系统的结构示意图,如图6所示,用于下线流程测试系统还包括通讯设备03;多通道控制板100还包括通讯接口160;通讯设备03通过通讯接口160与控制模块110连接。
其中,通选设备可以通过所述通讯接口160与控制模块110进行信息交互。例如,通讯设备03通过通讯端口给控制模块110下发控制指令,控制模块110根据控制指令控制选通模块130将检测端正极测试与指定的第一测试点140导通,以使检测端正极测试连接的检测设备01对指定的第一测试点140连接的待测试对像进行测试。
另外,通讯设备03包括上位机。
应该理解,可以使用上面所示的各种形式的流程,重新排序、增加或删除步骤。例如,本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行,只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果,本文在此不进行限制。
上述具体实施方式,并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是,根据设计要求和其他因素,可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明保护范围之内。
Claims (10)
1.一种用于下线流程测试的多通道装置,其特征在于,包括多通道控制板;
所述多通道控制板包括控制模块、检测端、选通模块以及多个第一测试点;
所述控制模块和所述检测端均与所述选通模块连接,所述选通模块与每一所述第一测试点连接;
所述控制模块用于控制所述选通模块将所述检测端与指定的所述第一测试点导通,以使所述检测端连接的检测设备对指定的所述第一测试点连接的待测试对像进行测试。
2.根据权利要求1所述的用于下线流程测试的多通道装置,其特征在于,所述检测端包括第一检测端和第二检测端;
所述选通模块包括多个第一导通控制单元和多个第二导通控制单元;
所述第一导通控制单元的控制端和所述第二导通控制单元的控制端均与所述控制模块连接;
所述第一检测端和每一所述第一导通控制单元的第一端连接,所述第二检测端和每一所述第二导通控制单元的第一端连接,所述第一导通控制单元的第二端和所述第二导通控制单元的第二端均与一所述第一测试点连接。
3.根据权利要求2所述的用于下线流程测试的多通道装置,其特征在于,所述第一导通控制单元包括第一继电器,所述第二导通控制单元包括第二继电器;
所述第一继电器的控制端作为所述第一导通控制单元的控制端,所述第一继电器开关的第一端作为所述第一导通控制单元的第一端,所述第一继电器开关的第二端作为所述第一导通控制单元的第二端连接;
所述第二继电器的控制端作为所述第二导通控制单元的控制端,所述控制模块与所述第二继电器的控制端连接,所述第二继电器开关的第一端作为所述第二导通控制单元的第一端,所述第二继电器开关的第二端作为所述第二导通控制单元的第二端连接。
4.根据权利要求1所述的用于下线流程测试的多通道装置,其特征在于,所述多通道控制板还包括电源接口,所述电源接口分别与所述控制模块和所述选通模块连接。
5.根据权利要求1所述的用于下线流程测试的多通道装置,其特征在于,所述多通道控制板还包括通讯接口,所述通讯接口与所述控制模块连接;
所述控制模块用于通过所述通讯接口与通讯设备进行信息交互。
6.根据权利要求1所述的用于下线流程测试的多通道装置,其特征在于,还包括设备保护板和排线;
所述设备保护板包括多个连接点、多个第二测试点以及多个保护模块;
每一所述第一测试点通过所述排线与一所述连接点连接,每一所述连接点通过一所述保护模块与一所述第二测试点连接。
7.根据权利要求6所述的用于下线流程测试的多通道装置,其特征在于,所述保护模块包括可插拔式保险丝。
8.一种用于下线流程测试系统,其特征在于,包括检测设备、多个待测试对像以及权利要求1-7任一项所述的用于下线流程测试的多通道装置;
所述检测设备通过所述用于下线流程测试的多通道装置与每一所述待测试对像连接。
9.根据权利要求8所述的用于下线流程测试系统,其特征在于,所述检测设备包括万用表。
10.根据权利要求8所述的用于下线流程测试系统,其特征在于,还包括通讯设备;
所述多通道控制板还包括通讯接口;所述通讯设备通过所述通讯接口与所述控制模块连接。
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