TWI816101B - 觸控感應器 - Google Patents

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劉少傑
方欽雪
張雪龍
藍梅芳
方瑋嘉
張恩嘉
郭小萍
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大陸商宸美(廈門)光電有限公司
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Abstract

一種觸控感應器具有可視區及至少設置於可視區之一側的周邊區,其包括基板、觸控電極層及複數個周邊引線。觸控電極層設置於基板的表面上,且包括對應位於可視區的複數個觸控電極。周邊引線設置於基板的表面上,且對應位於周邊區,並電性連接觸控電極。周邊引線包括基質及摻雜於基質中的複數個金屬奈米線。周邊引線的線寬介於6μm至8μm之間,且任兩相鄰的周邊引線的線距介於6μm至8μm之間。

Description

觸控感應器
本揭露內容是有關於一種觸控感應器。
近年來,行動電話、筆記型電腦、衛星導航系統以及數位影音播放器等攜帶式電子產品廣泛地使用觸控面板做為使用者與電子產品之間的訊息溝通管道。
隨著市場上對窄邊框電子產品的需求逐漸提升,業者無不致力於減小觸控面板的邊框尺寸,以滿足使用者的需求。一般而言,觸控面板包括觸控電極及周邊線路,並且觸控電極以及周邊線路通常於周邊區域相互搭接以形成導電通路或迴路,使得觸控電極可透過周邊線路來與外部控制器進行信號的傳遞。觸控面板的邊框尺寸往往取決於周邊線路本身的線寬與線距、周邊線路與觸控電極之間的搭接面積等因素,並且這些因素也會影響信號傳遞的穩定性。因此,提供既能符合電性規格要求又能符合窄邊框尺寸設計的觸控面板是目前值得研究的方向。
根據本揭露一些實施方式,一種觸控感應器具有可視區及至少設置於可視區之一側的周邊區,且觸控感應器包括基板、觸控電極層以及複數個周邊引線。觸控電極層設置於基板的表面上,且包括對應位於可視區的複數個觸控電極。周邊引線設置於基板的表面上,且對應位於周邊區,並分別電性連接觸控電極。周邊引線包括基質及摻雜於基質中的複數個金屬奈米線。周邊引線的線寬介於6μm至8μm之間,且任兩相鄰的周邊引線的線距介於6μm至8μm之間。
在本揭露一些實施方式中,設置於可視區之側的周邊區的寬度對可視區的寬度的比值介於0.003至0.010之間。
在本揭露一些實施方式中,觸控電極層係包括基質及摻雜於基質中的金屬奈米線的金屬奈米線層。
在本揭露一些實施方式中,周邊引線包括疊層設置的第一導電層及第二導電層,其中第一導電層係包括基質及摻雜於基質中的金屬奈米線的金屬奈米線層。
在本揭露一些實施方式中,第一導電層位於第二導電層與基板之間,且接觸第二導電層的下表面。
在本揭露一些實施方式中,第一導電層與觸控電極層位於相同的水平面。
在本揭露一些實施方式中,第二導電層位於第一導電層與基板之間,且接觸第一導電層的下表面。
在本揭露一些實施方式中,第一導電層與觸控電極層位於相異的水平面,且觸控電極的其中一者與對應連接的周邊引線的第一導電層係由爬坡區段連接。
在本揭露一些實施方式中,第一導電層的側壁與第二導電層的側壁實質上切齊。
在本揭露一些實施方式中,觸控電極的其中一者與對應連接的周邊引線的第一導電層係一體成型,且兩者之間實質上不具有任何界面。
在本揭露一些實施方式中,觸控感應器更包括覆蓋周邊引線的膜層。
在本揭露一些實施方式中,膜層進一步填充於相鄰的周邊引線之間。
在本揭露一些實施方式中,周邊引線的第一導電層及第二導電層皆接觸膜層。
在本揭露一些實施方式中,第二導電層係由單一的金屬材料或合金所製成的單層結構,或者係由兩種以上的金屬材料或合金所製成的兩層或多層結構,或者係由金屬材料和金屬氧化物材料所製成的兩層或多層結構。
在本揭露一些實施方式中,周邊引線的金屬奈米線與基質的界面實質上具有披覆結構。
在本揭露一些實施方式中,相鄰的金屬奈米線之間填充有基質,且基質中不具有單獨存在的披覆結構。
在本揭露一些實施方式中,披覆結構完全包覆金屬奈米線與基質的界面,並在金屬奈米線與基質的界面形成均勻的披覆層。
在本揭露一些實施方式中,披覆結構係由單一的金屬材料或合金材料所製成的單層結構,或者係由兩種以上的金屬材料或合金所製成的兩層或多層結構。
根據本揭露上述實施方式,本揭露的觸控感應器的周邊引線設計包含金屬奈米線,並設計在特定數值範圍之間的線寬與線距,又提供具有特定數值範圍之線寬與線距的周邊引線可實施的多種結構態樣,如此可提供符合電性規格要求及窄邊框尺寸需求的多元應用性,進而滿足市場需求。附帶一提的是,觸控感應器的周邊引線在採用不同材料時,會因材料及所搭配的圖案化製程條件精度等限制而有不同的局限性,換言之,採用不同於金屬奈米線材料設計而成的周邊引線,其規格將無法一概而論。
以下將以圖式揭露本揭露之複數個實施方式,為明確地說明起見,許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而,應瞭解到,這些實務上的細節不應用以限制本揭露。也就是說,在本揭露部分實施方式中,這些實務上的細節是非必要的,因此不應用以限制本揭露。此外,為簡化圖式起見,一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。另外,為了便於讀者觀看,圖式中各元件的尺寸並非依實際比例繪示。
應當理解,諸如「下」或「底部」和「上」或「頂部」的相對術語可在本文中用於描述一個元件與另一元件的關係,如圖式中所示。應當理解,相對術語旨在包括除了圖中所示的方位之外的裝置的不同方位。舉例而言,若一附圖中的裝置翻轉,則被描述為在其他元件的「下」側的元件將被定向在其他元件的「上」側。因此,示例性術語「下」可以包括「下」和「上」的取向,取決於附圖的特定取向。類似地,若一個附圖中的裝置翻轉,則被描述為在其它元件「下」或「下方」的元件將被定向為在其它元件「上方」。因此,示例性術語「下」或「下面」可以包括上方和下方的取向。
另外,關於本文中所使用的「約」、「大約」、「大致上」或「實質上」一般是指數值的誤差或範圍於百分之二十以內,較佳是於百分之十以內,更佳是於百分之五以內。文中若無明確說明,所提及的數值皆視為近似值,亦即具有如「約」、「大約」、「大致上」或「實質上」所表示的誤差或範圍。
本揭露提供一種觸控感應器,其周邊引線包含金屬奈米線,並設計在特定數值範圍之間的線寬與線距,使本揭露的觸控感應器可同時符合電性規格的要求以及窄邊框尺寸的設計,進而滿足市場需求。
第1A圖繪示根據本揭露一些實施方式之觸控感應器100的上視示意圖。本揭露的觸控感應器100包括基板110、觸控電極層120以及周邊線路層130。在一些實施方式中,觸控感應器100可具有可視區VA以及周邊區PA,且周邊區PA至少設置於可視區VA的一側。舉例而言,周邊區PA可以是設置於可視區VA的四周(即涵蓋右側、左側、上側及下側)的框型區域。舉另一例而言,周邊區PA亦可以是設置於可視區VA的左側及下側的L型區域。在第1A圖的實施方式中,周邊區PA是設置於可視區VA的相對兩側(例如右側與左側)。
基板110配置以承載觸控電極層120及周邊線路層130,且可例如是硬式透明基板或可撓式透明基板。在一些實施方式中,基板110的材料可包括但不限於聚氯乙烯、聚丙烯、聚苯乙烯、玻璃、壓克力、聚碳酸酯、環烯烴聚合物、環烯烴共聚物、聚對苯二甲酸乙二醇酯、聚萘二甲酸乙二醇酯、無色聚醯亞胺等透明材料或其組合。
觸控電極層120設置於基板110的表面,且可經圖案化製程而包括對應位於可視區VA的多個觸控電極122。在第1A圖的實施方式中,觸控電極層120是以配置在基板110單面的單層電極結構來舉例說明。在其他實施方式中,觸控電極層120亦可例如是採用雙面單層、單面雙層或架橋式單層電極結構的來配置。在一些實施方式中,觸控電極122可例如是採用非交錯式的方式排列。舉例而言,觸控電極122可以是沿第一方向D1延伸,並且沿第二方向D2間隔排列的長條型電極,其中第一方向D1與第二方向D2相互垂直。應瞭解到,觸控電極122的配置態樣並非本揭露的重點,且並不用以限制本揭露。
在一些實施方式中,觸控電極層120是包括基質及分佈於基質中的複數個金屬奈米線的金屬奈米線層。在一些實施方式中,基質可包括聚合物或其混合物,以賦予金屬奈米線特定的化學、機械及光學特性。舉例而言,基質可提供金屬奈米線與基板110之間良好的黏著性。再舉另一例而言,基質可提供金屬奈米線良好的機械強度。在一些實施方式中,基質可包括特定的聚合物,以使金屬奈米線具有額外的抗刮擦以及抗磨損的表面保護,從而提升觸控電極層120的表面強度。上述特定的聚合物可例如是聚丙烯酸酯、聚胺基甲酸酯、聚(矽-丙烯酸)、聚矽氧、聚矽烷、環氧樹脂或其組合。在一些實施方式中,基質更可包括交聯劑、聚合抑制劑、穩定劑(例如包括但不限於抗氧化劑或紫外光穩定劑)、界面活性劑或上述任意之組合,從而提升觸控電極層120的抗紫外線性能並延長其使用壽命。
應瞭解到,本文中所使用的「金屬奈米線」是一集合名詞,其是指包括多個金屬元素、金屬合金或金屬化合物(包括金屬氧化物)之金屬線的集合,且其中所含有之金屬奈米線的數量,並不影響本揭露所主張的保護範圍。在一些實施方式中,單一金屬奈米線的截面尺寸(例如截面的直徑)可小於500nm,較佳地可小於100nm,且更佳地可小於50nm。在一些實施方式中,金屬奈米線具有大的縱橫比(即長度:截面的直徑)。具體而言,金屬奈米線的縱橫比可介於10至100000之間。更詳細而言,金屬奈米線的縱橫比可大於10,較佳地可大於50,且更佳地可大於100。此外,其他用語例如絲(silk)、纖維(fiber)或管(tube)等同樣具有上述的截面尺寸及縱橫比,亦為本揭露所涵蓋之範疇。
周邊線路層130設置於基板110的表面且對應位於周邊區PA,並且可經圖案化製程而包括多條周邊引線132,其中周邊引線132包括基質以及分佈於基質中的複數個金屬奈米線。在一些實施方式中,每一條周邊引線132與每一個觸控電極122各自於可視區VA與周邊區PA之交界處相互接觸,以彼此電性連接而形成橫跨可視區VA及周邊區PA的電子傳遞路徑。在一些實施方式中,周邊線路層130可進一步與外部控制器連接,以進行觸控或其他訊號的傳遞。值得說明的是,基板110在周邊區PA主要是用來容置多條周邊引線132,其中每一條周邊引線132的線寬以及相鄰的兩條周邊引線132的線距對觸控感應器100的周邊區PA的尺寸(例如周邊區PA的寬度W1)具有顯著的影響,且周邊區PA的尺寸又可影響終端產品的邊框尺寸,故本揭露透過將位於周邊區PA之周邊引線132的線寬與線距依實際可實施的結構及製程而設計為落在特定數值範圍內,以使觸控感應器100同時符合電性規格的要求以及窄邊框尺寸的設計。
第1B圖繪示第1A圖的觸控感應器100之區域R1的局部放大示意圖。請參閱第1A圖及第1B圖。如前文所述,本揭露的周邊引線132具有介於特定數值範圍之間的線寬W與線距D,以使觸控感應器100同時符合電性規格的要求及窄邊框尺寸的設計,進而滿足市場需求。具體而言,每一條周邊引線132的線寬W介於6μm至8μm之間,且任兩相鄰之周邊引線132的線距D介於6μm至8μm之間。上述線寬W與線距D的數值範圍具有其臨界性意義,詳細而言,當嘗試製作線寬W與線距D分別為小於6μm的周邊引線132時,所製成的周邊引線132會因線寬W太小而發生斷路的情形,且亦會因線距D太小而發生短路的情形,進而導致觸控感應器100無法符合電性規格的要求;當製作線寬W與線距D分別為大於8μm的周邊引線132時,所製成的周邊引線132會因線寬W與線距D太大而導致觸控感應器100較無法符合窄邊框尺寸的應用及設計。換句話說,將每一條周邊引線132的線寬W與線距D設置為介於6μm至8μm之間,可使觸控感應器100在符合電性規格的要求下同時滿足市場對窄邊框產品的需求。
在一些實施方式中,以位於可視區VA之一側的周邊區PA來舉例說明,基於周邊引線132的線寬W與線距D是介於上述特定數值範圍之間,觸控感應器100之周邊區PA的寬度W1對可視區VA的寬度W2的比值可介於0.003至0.010之間,以使由觸控感應器100製成的終端產品具有高的屏占比,並使所述終端產品符合窄邊框尺寸的設計。應瞭解到,此處的「寬度W1、W2」是指周邊區PA及可視區VA各自沿第一方向D1延伸的寬度,並且是指周邊區PA及可視區VA在同一個水平面(例如平行於圖面的水平面)上所具有的寬度。
在本揭露的觸控感應器100中,前述具有特定數值範圍之線寬W與線距D的周邊引線132具有多種可實施的結構態樣。具體而言,請參閱第2A圖至第2C圖,其分別繪示第1A圖的觸控感應器100在不同實施方式中沿線段A-A'截取的剖面示意圖。在以下敘述中,將針對周邊引線132的各種結構態樣及製程進行詳細的說明。
請同時參閱第1A圖及第2A圖。在第2A圖的實施方式中,周邊引線132包括疊層設置的第一導電層1320以及第二導電層1325,其中第一導電層1320位於第二導電層1325與基板110之間,且第一導電層1320接觸第二導電層1325。在一些實施方式中,第一導電層1320包括基質M以及摻雜於基質M中的複數個金屬奈米線S,也就是說,第一導電層1320是包括基質M及摻雜於基質M中之複數個金屬奈米線S的金屬奈米線層。此外,第一導電層1320中所含有的基質M以及金屬奈米線S與觸控電極層120中所含有的基質以及金屬奈米線實質上相同。換句話說,包含基質M與金屬奈米線S的金屬奈米線層於周邊區PA形成第一導電層1320,並於可視區VA形成觸控電極層120,其中第一導電層1320與和其對應連接之觸控電極層120的觸控電極122是一體成型的,且兩者之間實質上不具有任何界面。基於上述,觸控電極層120和周邊線路層130之間可藉由觸控電極122與周邊引線132的第一導電層1320的一體成型而直接形成電性連接的設計,也就是觸控電極122以及第一導電層1320同屬於單一層金屬奈米線層的不同部分,觸控感應器100不需額外設計搭接結構來進行周邊引線132與觸控電極122的電性接觸,如此可省去搭接結構在周邊區PA所佔用的區域面積。在一些實施方式中,第一導電層1320與觸控電極層120可位於相同的水平面(例如由第一方向D1與第二方向D2所構成的水平面)。
在一些實施方式中,第一導電層1320的側壁1321與第二導電層1325的側壁1326實質上切齊,且第一導電層1320的上表面1322接觸第二導電層1325的下表面1327。在一些實施方式中,第一導電層1320的上表面1322與第二導電層1325的下表面1327可具有共形的輪廓,亦即第二導電層1325的下表面1327可順著第一導電層1320之上表面1322的輪廓而起伏,且兩者是緊密地疊設。在一些實施方式中,第一導電層1320與第二導電層1325可具有相同或近似的圖案及尺寸(例如長度、寬度及高度)。舉例而言,第一導電層1320與第二導電層1325皆具有長條型的圖案,且兩者的寬度(例如線寬)相同或近似。換句話說,第一導電層1320於基板110的垂直投影可完全地重疊於第二導電層1325於基板110的垂直投影。應瞭解到,為清楚起見及方便說明,第2A圖中的第一導電層1320與第二導電層1325是繪示為具有長方形的剖面形狀。然而,第一導電層1320及第二導電層1325的形狀可依實際應用而有所變化,並不用以限制本揭露。
進一步地,由於第一導電層1320與觸控電極層120是透過整面地塗佈金屬奈米線層且經圖案化製程而分別形成於周邊區PA與可視區VA,因此為了確保第一導電層1320提供良好的導電性,並確保觸控電極層120提供良好的透光性,在一些實施方式中,金屬奈米線層對可見光(例如,波長介於400nm至700nm之間的光線)的光穿透率可大於約80%,且金屬奈米線層的表面電阻率可介於10歐姆/平方至1000歐姆/平方之間。在較佳的實施方式中,金屬奈米線層對可見光的光穿透率可大於約85%,且金屬奈米線層的表面電阻率可介於50歐姆/平方至500歐姆/平方之間。
在一些實施方式中,第二導電層1325可由導電性佳的金屬材料所製成。在一些實施方式中,第二導電層1325可以是由單一的金屬材料或合金所製成的單層導電結構,例如銅層或銀層;或者第二導電層1325可以是由兩種以上的金屬材料或合金所製成的兩層或多層導電結構,例如鉬/鋁/鉬層、銅/鎳層、鈦/鋁/鈦層或鉬/鋁層;又或者第二導電層1325可以是由金屬材料和金屬氧化物材料所製成的兩層或多層導電結構,例如氧化銦鋅/銀/氧化銦鋅層,且上述導電結構較佳是不透光的。在一些實施方式中,第二導電層1325的表面電阻率可介於0.05歐姆/平方至0.5歐姆/平方之間。
在一些實施方式中,觸控感應器100更可包括膜層140,且膜層140整面地覆蓋周邊線路層130。更詳細而言,膜層140覆蓋每一條周邊引線132,並進一步填充於相鄰的周邊引線132之間,以電性絕緣相鄰的周邊引線132進而避免短路。在一些實施方式中,膜層140可例如包括絕緣材料。舉例而言,絕緣材料可以是非導電的樹脂或其他有機材料,例如包括但不限於聚丙烯酸酯、環氧樹脂、聚胺基甲酸酯、聚矽烷、聚矽氧、聚(矽-丙烯酸)、聚乙烯、聚丙烯、聚碳酸酯、聚乙烯醇縮丁醛、丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物、聚(3,4-伸乙二氧基噻吩)、聚(苯乙烯磺酸)或陶瓷材料。在一些實施方式中,膜層140中不存在前述金屬奈米線S(即金屬奈米線S的濃度為零),以良好地達到絕緣效果。在一些實施方式中,針對單一條周邊引線132而言,膜層140可包圍並接觸第一導電層1320的側壁1321以及第二導電層1325的側壁1326與上表面1328。在一些實施方式中,膜層140還可延伸至可視區VA以整面地覆蓋觸控電極層120的每一個觸控電極122,並進一步填充至相鄰的觸控電極122之間,以電性絕緣相鄰的觸控電極122進而避免短路。
在一些實施方式中,當將上述用以形成膜層140的絕緣材料塗佈於基板110上以覆蓋周邊引線132後,部分的絕緣材料可滲入至相鄰的周邊引線132之間的空間,而其中部分的絕緣材料又可進一步包覆部分地凸出於金屬奈米線層之金屬奈米線S的凸出部分,使得金屬奈米線S部分嵌入至固化後膜層140中。
應瞭解到,已敘述過的元件連接關係與功效將不再重複贅述,合先敘明。在以下敘述中,將簡單地說明第2A圖之觸控感應器100的製造方法。第2A圖之觸控感應器100的製造方法包括步驟S10至步驟S16,且步驟S10至步驟S16可為依序進行。
首先,提供基板110,並在步驟S10中,將含有金屬奈米線S的金屬奈米線層整面地(包含可視區VA及周邊區PA)塗佈並成型於基板110的表面。在一些實施方式中,金屬奈米線層可進一步包括基質M。在一些實施方式中,可將含有金屬奈米線S的分散液或漿料透過例如是網版印刷、噴頭塗佈或滾輪塗佈等製程形成於基板110的表面,並加以固化/乾燥,進而成型為設置於基板110上的金屬奈米線層。在一些實施方式中,可採用卷對卷(roll to roll)製程將分散液或漿料塗佈於連續供應之基板110的表面。在固化/乾燥步驟後,分散液或漿料中之溶劑等物質會揮發,而金屬奈米線S可以隨機的方式分佈於基板110的表面;或者較佳地,金屬奈米線S可固著於基板110的表面而不至脫落,進而形成金屬奈米線層。金屬奈米線層中的金屬奈米線S可彼此接觸以提供連續的電流路徑,進而形成一導電網路。換句話說,金屬奈米線S彼此在交叉位置處相互接觸,以形成傳遞電子的路徑。在一些實施方式中,可對基板110的表面進行前處理步驟,例如對基板110進行表面改質製程或於基板110的表面額外塗佈黏著層或樹脂層,以提升基板110與金屬奈米線層之間的附著力。
在一些實施方式中,分散液或漿料包括溶劑,進而使金屬奈米線S均勻地分散於其中。具體而言,溶劑例如是水、醇類、酮類、醚類、烴類、芳香類溶劑(苯、甲苯或二甲苯等)或上述任意之組合。在一些實施方式中,分散液更可包括添加劑、介面活性劑及/或黏合劑,以提升金屬奈米線S與溶劑之間的相容性以及金屬奈米線S於溶劑中的穩定性。具體而言,添加劑、介面活性劑及/或黏合劑可例如是羧甲基纖維素、羥乙基纖維素、羥丙甲纖維素、含氟界面活性劑、磺基琥珀酸酯磺酸酯、硫酸酯、磷酸酯、二磺酸鹽或其組合。
在一些實施方式中,可進一步對金屬奈米線S進行後處理,以提高金屬奈米線S在交叉點上的接觸特性(例如提高接觸面積),進而提升其導電度。此後處理可包括但不限於加熱、電漿、電暈放電、紫外線、臭氧或壓力等步驟。具體而言,在固化/乾燥以形成金屬奈米線層後,可使用一個或多個滾輪以施加壓力於金屬奈米線層上。在一些實施方式中,可同時對金屬奈米線S進行加熱及加壓步驟的後處理,以提高金屬奈米線S的導電度。在一些實施方式中,可將金屬奈米線S暴露於還原劑中進行後處理,例如由奈米銀線組成的金屬奈米線S較佳地可暴露於銀還原劑中進行後處理。在一些實施方式中,銀還原劑可包括例如是硼氫化鈉的硼氫化物、例如是二甲基胺基硼烷的硼氮化合物或例如是氫氣的氣體還原劑。在完成上述後處理步驟後,可加強金屬奈米線S在交叉點上的接觸強度或面積。
接著,在步驟S12中,將含有導電性佳之金屬的金屬材料層在周邊區PA來整面地成型於基板110,以覆蓋位於周邊區PA的金屬奈米線層。在完成此步驟後,基板110的可視區VA以及周邊區PA皆整面地設置有金屬奈米線層,其中位於周邊區PA的金屬奈米線層上更整面地設置有金屬材料層。
隨後,在步驟S14中,對金屬材料層以及金屬奈米線層進行圖案化步驟,以使位於可視區VA的金屬奈米線層以及位於周邊區PA的金屬材料層與金屬奈米線層分別被定義出各自的圖案,進而形成位於可視區VA的觸控電極層120以及位於周邊區PA的周邊線路層130。詳細而言,位於可視區VA的金屬奈米線層可被圖案化以形成多個觸控電極122,且位於周邊區PA的金屬奈米線層可被圖案化以形成多個第一導電層1320,而位於周邊區PA的金屬材料層可被圖案化以形成多個第二導電層1325,使得每一個第一導電層1320與其上方所對應的第二導電層1325共同地形成一整條周邊引線132。
在一些實施方式中,可透過蝕刻的方式來進行觸控電極層120與周邊線路層130的圖案化,且觸控電極層120與周邊線路層130可於同一個蝕刻步驟或不同的蝕刻步驟中成型。單就周邊線路層130的圖案化而言, 在藉由蝕刻步驟所成型的每一條周邊引線132中,第一導電層1320的側壁1321與第二導電層1325的側壁1326可以是一共同蝕刻面,亦即第一導電層1320的側壁1321與第二導電層1325的側壁1326是於同一個蝕刻步驟中成型;或者,第二導電層1325的側壁1326以及第一導電層1320的側壁1321可分別於不同的蝕刻步驟中先後成型。
接著,在步驟S16中,將絕緣材料塗佈於基板110上以整面地覆蓋周邊線路層130以及觸控電極層120,並加以固化/乾燥,進而成型為設置於基板110之表面的膜層140。在一些實施方式中,絕緣材料可進一步滲入至相鄰的周邊引線132之間以及相鄰的觸控電極122之間以使固化/乾燥後所形成的膜層140電性絕緣相鄰的周邊引線132以及相鄰的觸控電極122。在一些實施方式中,滲入至相鄰的周邊引線132之間以及相鄰的觸控電極122之間的絕緣材料還可進一步包覆部分地凸出於金屬奈米線層的金屬奈米線S的凸出部分,使得金屬奈米線S部分嵌入至膜層140中。
在完成上述步驟S10至S16後,便可得到如第2A圖所示的觸控感應器100。藉由觸控電極122與周邊引線132的第一導電層1320的一體成型而直接形成電性連接的設計,觸控感應器100不需額外設計搭接結構來進行周邊引線132與觸控電極122的電性接觸,可省去搭接結構在周邊區PA所佔用的區域面積。如此再搭配每一條周邊引線132的線寬W介於6μm至8μm之間,且任兩相鄰之周邊引線132的線距D介於6μm至8μm之間的設計,整體可降低周邊區PA的寬度W1,進而實現觸控感應器100的窄邊框需求。
請同時參閱第1A圖及第2B圖。在第2B圖的實施方式中,周邊引線132同樣包括疊層設置的第一導電層1320以及第二導電層1325。應瞭解到,第2B圖的觸控感應器100與第2A圖的觸控感應器100具有大致上相同的元件配置與連接關係、材料以及功效,故下文中將僅針對兩者的不同處進行說明,其餘可參照前文中有關於第2A圖之觸控感應器100的相關描述。
第2B圖的實施方式與第2A圖的實施方式的至少一差異在於:在第2B圖的周邊引線132中,第二導電層1325是位於第一導電層1320與基板110之間,其中第一導電層1320的下表面1323接觸第二導電層1325的上表面1328,且第二導電層1325與觸控電極層120位於相同的水平面(例如由第一方向D1與第二方向D2所構成的水平面)。換句話說,在本實施方式中,第一導電層1320與觸控電極層120位於相異的水平面(例如第一導電層1320所在的水平面高於觸控電極層120所在的水平面),且第一導電層1320與和其對應連接的觸控電極122是透過一爬坡區段G彼此連接。在一些實施方式中,相互連接的第一導電層1320、爬坡區段G以及觸控電極122是一體成型,且三者之間實質上不具有任何界面。在一些實施方式中,第一導電層1320、爬坡區段G以及觸控電極122可例如是共形地成型於基板110上。在一些實施方式中,第二導電層1325的上表面1328與第一導電層1320的下表面1323可具有共形的輪廓,亦即第一導電層1320的下表面1323可順著第二導電層1325之上表面1328的輪廓而起伏,且兩者是緊密地疊設。
另一方面,針對單一條周邊引線132而言,膜層140是包圍並接觸第一導電層1320的側壁1321與上表面1322以及第二導電層1325的側壁1326。此外,當將以形成膜層140的絕緣材料塗佈於基板110上以覆蓋周邊引線132後,部分的絕緣材料可由第一導電層1320的側壁1321與上表面1322包覆部分地凸出於金屬奈米線層的金屬奈米線S的凸出部分,使得金屬奈米線S部分嵌入至固化後的膜層140中。
在以下敘述中,將簡單地說明第2B圖之觸控感應器100的製造方法。應瞭解到,第2B圖之觸控感應器100的製造方法與第2A圖之觸控感應器100的製造方法大致上相同,故下文中將僅針對兩者的不同處進行說明,其餘可參照前文中有關於第2A圖之觸控感應器100的製造方法的相關描述。
具體而言,在第2B圖之觸控感應器100的製造方法中,可將前述第2A圖之觸控感應器100的製造方法中的步驟S10及步驟S12的順序相互對調。詳細而言,在提供基板110後,可先在周邊區PA將金屬材料層整面地成型於基板110上,再將金屬奈米線層在可視區VA整面地成型於基板110上以及在周邊區PA整面地成型於金屬材料層上,使得金屬奈米線層於周邊區PA覆蓋金屬材料層。由於金屬材料層並未成型於可視區VA中,因此金屬材料層會於可視區VA與周邊區PA的交界處形成一段差區域,而金屬奈米線層可覆蓋該段差區域以於圖案化後成型為前述爬坡區段G。隨後,同樣可對金屬材料層以及金屬奈米線層進行圖案化步驟,以形成位於可視區VA的觸控電極層120以及位於周邊區PA的周邊線路層130,其中位於可視區VA的金屬奈米線層可被圖案化以形成多個觸控電極122,且位於周邊區PA的金屬奈米線層可被圖案化以形成多個第一導電層1320,而位於周邊區PA的金屬材料層可被圖案化以形成多個第二導電層1325,使得每一個第二導電層1325與其上方所對應的第一導電層1320共同形成一整條周邊引線132。接著,同樣地可將絕緣材料塗佈於基板110上以整面地成型為設置於基板110、觸控電極層120及周邊線路層130之表面的膜層140。
在第2B圖之觸控感應器100的製造方法中,藉由觸控電極122與周邊引線132的第一導電層1320的一體成型而直接形成電性連接的設計,觸控感應器100不需額外設計搭接結構來進行周邊引線132與觸控電極122的電性接觸,可省去搭接結構在周邊區PA所佔用的區域面積。如此再搭配每一條周邊引線132的線寬W介於6μm至8μm之間,且任兩相鄰之周邊引線132的線距D介於6μm至8μm之間的設計,整體可降低周邊區PA的寬度W1,進而實現觸控感應器100的窄邊框需求。
請同時參閱第1A圖及第2C圖。在第2C圖的實施方式中,每一條周邊引線132皆包括基質M及摻雜於基質M中的複數個金屬奈米線S,且每一根金屬奈米線S與基質M的界面實質上具有披覆結構150。換句話說,周邊線路層130的每一條周邊引線132至少是由改質後的金屬奈米線所構成(此處所指的「改質後的金屬奈米線」包括金屬奈米線S以及覆蓋於其表面的披覆結構150)。在一些實施方式中,披覆結構150可以是一鍍層,其可利用化學鍍/電解的方式來形成。由於用以進行化學鍍/電解的金屬大致上會沿著金屬奈米線S的型態來生長(析出),因此披覆結構150大致上會沿著金屬奈米線S的輪廓均勻地覆蓋金屬奈米線S。另一方面,由於基質M中沒有金屬奈米線S的位置便不會有金屬析出,因此基質M中不具有單獨存在的披覆結構150。整體而言,相鄰的金屬奈米線S之間填充有基質M,且金屬奈米線S與基質M之間間隔有披覆結構150,其中披覆結構150與其所覆蓋的金屬奈米線S可視為一整體,而該整體之間的空隙仍是由基質M所佔據。覆蓋有披覆結構150的金屬奈米線S(即改質後的金屬奈米線)的導電率高於未改質的奈米銀線S。基於上述,電子可較佳地經由相鄰且相互接觸之改質後的金屬奈米線而在周邊引線132中傳遞。如此一來,可降低觸控感應器100的面電阻率,進而提升觸控感應器100的導電度。
在一些實施方式中,披覆結構150可完全地包覆金屬奈米線S與基質M的界面,並在金屬奈米線S與基質M的界面形成均勻的一披覆層。在一些實施方式中,披覆結構150的披覆率可占金屬奈米線S之總表面積的約80%以上、90%至95%、90%至99%或90%至100%。應瞭解到,當披覆結構150的披覆率為100%時,代表金屬奈米線S的表面完全未裸露。在一些實施方式中,披覆結構150可以是包括導電材料的層狀結構、島狀突起結構、點狀突起結構或其組合。在一些實施方式中,前述導電材料可例如包括銀、金、鉑、鎳、銅、銥、銠、鈀、鋨、包括前述材料的合金或不包括前述材料的合金。在一些實施方式中,披覆結構150可為由單一導電材料所製成的單層結構,例如化學鍍銅層、電鍍銅層或化學鍍銅鎳合金層;或者披覆結構150亦可為由兩種以上的導電材料所製成的兩層或多層結構,例如先形成化學鍍銅層,接著再形成化學鍍銀層。
在一些實施方式中,周邊線路層130與觸控電極層120可位於相同的水平面(例如由第一方向D1與第二方向D2所構成的水平面)。在一些實施方式中,位於可視區VA的觸控電極層120可例如是由未改質的金屬奈米線S所構成,也就是說,觸控電極層120可包括基質M及摻雜於基質M中的複數個金屬奈米線S,且每一根金屬奈米線S與基質M的界面不具有披覆結構150。在另一些實施方式中,觸控電極層120可具有特殊的圖案設計,例如細線交織的網格圖案,則此時位於可視區VA的觸控電極層120可在不被可視的條件下而可以設計是由改質後的金屬奈米線所構成。在一些實施方式中,觸控感應器100更可包括膜層140,且膜層140整面地覆蓋周邊線路層130及觸控電極層120,並進一步填充於相鄰的周邊引線132之間及相鄰的觸控電極122之間,以電性絕緣相鄰的周邊引線132及相鄰的觸控電極122,進而避免短路。
應瞭解到,已敘述過的元件連接關係與功效將不再重複贅述,合先敘明。在以下敘述中,將簡單地說明第2C圖之觸控感應器100的製造方法。第2C圖之觸控感應器100的製造方法包括步驟S20至步驟S28,且步驟S20至步驟S28可為依序進行。
首先,提供基板110,並於步驟S20中,將含有金屬奈米線S的金屬奈米線層整面地(包含可視區VA及周邊區PA)塗佈並成型於基板110的表面。詳細說明可參照前述步驟S10,於此便不再贅述。
接著,在步驟S22中,控制金屬奈米線層中基質M的固化程度,使得金屬奈米線S內嵌於預固化或未完全固化狀態的基質M中。在一些實施方式中,可控制基質M的固化的條件(例如控制溫度及/或光固化參數),以使基質M呈現預固化或未完全固化狀態。在一些實施方式中,基質M的厚度可介於20奈米至10微米之間、50奈米至200奈米之間或30至100奈米之間,例如基質M的厚度可為約90奈米或約100奈米。應瞭解到,為簡潔地表達本實施方式的內容,第2C圖簡單地將金屬奈米線S與基質M繪製成一整體的結構層,但本揭露不以此為限,金屬奈米線S與基質M亦可能構成其他類型的結構層(例如上下疊置的結構)。
隨後,在步驟S24中,對金屬奈米線層進行圖案化步驟,以使位於可視區VA及周邊區PA的金屬奈米線層被定義出各自的圖案,進而形成位於可視區VA及周邊區PA的多個導電結構。在一些實施方式中,位於可視區VA的導電結構可被圖案化以形成具有多個觸控電極122的觸控電極層120,而位於周邊區PA的導電結構可被圖案化以於後續的改質步驟後形成具有多條周邊引線132的周邊線路層130。在一些實施方式中,可透過蝕刻的方式來進行導電結構的圖案化。在一些實施方式中,可同時蝕刻位於可視區VA及周邊區PA的導電結構,並搭配蝕刻遮罩(例如光阻)以在同一道製程中一次性地在可視區VA及周邊區PA製作出具有圖案的導電結構。在一些實施方式中,當金屬奈米線層的金屬奈米線S為銀奈米線時,蝕刻液可選擇可用於蝕刻銀的成分,例如蝕刻液的主要成分可為H 3PO 4(比例為約55%至約70%)以及HNO 3(比例約5%至約15%),以在同一道製程中移除銀金屬材料。在另一些實施方式中,蝕刻液的主要成分可為氯化鐵/硝酸或為磷酸/雙氧水等。
接著,在步驟S26中,進行改質步驟,以於周邊區PA形成至少由複數個改質後的金屬奈米線所構成的周邊線路層130。改質步驟可採用光阻、可剝膠或類似的材料層覆蓋位於可視區VA的觸控電極層120,使得改質步驟僅針對位於周邊區PA的導電結構來進行。在一些實施方式中,可製備化學鍍銅溶液(例如包括銅離子溶液、螯合劑、鹼劑、還原劑緩衝劑及穩定劑等),並將位於周邊區PA的導電結構浸入化學鍍銅溶液中。化學鍍銅溶液可滲入至預固化或未完全固化的基質M中,並利用毛細現象與金屬奈米線S的表面接觸,同時利用金屬奈米線S作為催化點或成核點,以利於銅的析出,進而將化學鍍銅層沉積在金屬奈米線S上以形成披覆結構150。
在改質步驟期間,披覆結構150大致上會依照金屬奈米線S的型態進行生長,並隨著改質時間的增加而形成包覆金屬奈米線S的結構。由於銅是沿著金屬奈米線S的表面(即金屬奈米線S與基質M相對應的界面)生長,故經過施鍍後,所觀察到之銅的型態會相當類似於金屬奈米線S的型態(例如線狀結構),且銅會均勻地生長而形成尺寸(例如厚度)相近的外層結構。相對地,在基質M中沒有金屬奈米線S的位置則不會有銅的析出,也就是說,經過良好的控制,披覆結構150皆形成在金屬奈米線S與基質M的界面上,而基質M中不具有未接觸金屬奈米線S的表面而單獨存在的披覆結構150。在一些實施方式中,基質M與化學鍍/電解溶液可為相互搭配的材質,例如可選用不耐鹼性的聚合物製作基質M,而化學鍍溶液可選用鹼性溶液。因此在改質步驟中,除了利用前述基質M的預固化或未完全固化狀態,更可利用化學鍍溶液攻擊(類似蝕刻)預固化或未完全固化的基質M,以利於進行改質步驟。
在一些實施方式中,可控制披覆結構150的生長條件(例如化學鍍時間及/或化學鍍液成分濃度),使得披覆結構150不會過度地生長,而僅披覆於金屬奈米線S的表面。另外,預固化或未完全固化的基質M亦可起到限位及控制的作用,以將披覆結構150的生長反應限制在金屬奈米線S與基質M的界面處,使得披覆結構150得以受控而均勻地生長。如此一來,經由改質步驟所形成的披覆結構150便不會單獨地析出/成長於基質M中而未與金屬奈米線S接觸,且會形成於金屬奈米線S的表面與基質M之間。在一些實施方式中,在進行改質步驟後更可進行固化步驟,以使預固化或未完全固化的基質M達到完全固化的狀態。
隨後,在步驟S28中,將絕緣材料塗佈於基板110上以整面地覆蓋周邊線路層130以及觸控電極層120,並加以固化/乾燥,進而成型為設置於基板110、觸控電極層120及周邊線路層130之表面的膜層140。在一些實施方式中,絕緣材料可進一步滲入至相鄰的周邊引線132之間及相鄰的觸控電極122之間,以使固化後所形成的膜層140填充至相鄰的周邊引線132之間及相鄰的觸控電極122之間,以確保相鄰的周邊引線132及相鄰的觸控電極122彼此電性絕緣。
在完成上述步驟S20至S28後,便可得到如第2C圖所示的觸控感應器100。整體而言,位於周邊區PA的每一條周邊引線132可包括改質後的金屬奈米線,而位於可視區VA的每一個觸控電極122可包括改質後的金屬奈米線或未改質的金屬奈米線S。針對位於周邊區PA的周邊線路層130而言,其周邊引線132未改質前是與可視區VA的觸控電極122屬於一體成型而直接形成電性連接的設計,換言之,第2C圖的觸控感應器100也不需額外設計搭接結構來進行周邊引線132與觸控電極122的電性接觸,可省去搭接結構在周邊區PA所佔用的區域面積。如此再搭配每一條周邊引線132的線寬W介於6μm至8μm之間,且任兩相鄰之周邊引線132的線距D介於6μm至8μm之間的設計,整體可降低周邊區PA的寬度W1,進而實現觸控感應器100的窄邊框需求。
根據上述第2A圖至第2C圖的實施方式所揭露的內容,本揭露具有可實施的多種結構態樣,並且在以下敘述中,將透過光學顯微鏡(Optical Microscope)圖像來進一步驗證本揭露之周邊引線132可行的線寬W與線距D的設計。在以下實施例及比較例的光學顯微鏡圖像中,周邊引線132皆是例如以第2A圖所示的結構態樣來進行實作,並且周邊引線132的第二導電層1325的金屬材料是銅。此外,在量測線寬W時,是量測同一條周邊引線132在三處不同截點位置的寬度來加總後取平均值;同樣地,在量測線距D時,是量測兩相鄰的周邊引線132之間在三處不同截點位置的距離來加總後取平均值。
第3A圖及第3B圖繪示本揭露一些實施例之周邊引線132的光學顯微鏡圖。請先參閱第3A圖,其任一周邊引線132具有約8μm的線寬W,而兩相鄰的周邊引線132之間的線距D也約為8μm。由第3A圖所示的光學顯微鏡圖像可以看出,當將周邊引線132的線寬W與線距D製作為約8μm時,周邊引線132可均勻且良好地成型,且未發生短路或斷路的情形,在8μm線寬W與線距D的設計範圍內,所製成的觸控感應器100更容易符合窄邊框產品尺寸的需求,且在設計上更有彈性。請接著參閱第3B圖,其任一周邊引線132具有約6μm的線寬W,而兩相鄰的周邊引線132之間的線距D也約為6μm。由第3B圖所示的光學顯微鏡圖像可以看出,當將周邊引線132的線寬W與線距D進一步減小至約6μm時,周邊引線132仍可均勻且良好地成型,且未發生短路或斷路的情形。
第3C圖及第3D圖繪示一些比較例之周邊引線132的光學顯微鏡圖。請參閱第3C圖及第3D圖,此兩圖的比較例是嘗試設定以周邊引線132約為5μm的線寬W且兩相鄰的周邊引線132之間的線距D約為5μm的線距D來進行實作。由第3C圖可以看出,周邊引線132不僅出現線路過蝕現象而無法均勻且良好地成型,且還會發生斷路的情形;而由第3D圖可以看出周邊引線132也出現線路過蝕現象,同時還存在蝕刻不淨而導致兩相鄰的周邊引線132之間出現短路的情形。基於上述,若欲使觸控感應器符合電性規格的要求,周邊引線132的線寬W與線距D的下限值為約6μm。
綜上所述,本揭露的觸控感應器的周邊引線設計包含金屬奈米線,並設計在特定數值範圍之間的線寬以及線距,又提供具有特定數值範圍之線寬與線距的周邊引線可實施的多種結構態樣,如此可提供符合電性規格要求以及窄邊框尺寸需求的多元應用性,進而滿足市場需求。附帶一提的是,觸控感應器的周邊引線在採用不同材料時,會因材料及所搭配的圖案化製程條件精度等限制等而有不同的局限性,換言之,採用不同於金屬奈米線材料設計而成的周邊引線,其規格將無法一概而論。
雖然本揭露已以實施方式揭露如上,然其並非用以限定本揭露,任何熟習此技藝者,在不脫離本揭露之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾,因此本揭露之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100:觸控感應器 110:基板 120:觸控電極層 122:觸控電極 130:周邊線路層 132:周邊引線 1320:第一導電層 1321:側壁 1322:上表面 1323:下表面 1325:第二導電層 1326:側壁 1327:下表面 1328:上表面 140:膜層 150:披覆結構 S:金屬奈米線 M:基質 G:爬坡區段 VA:可視區 PA:周邊區 W1,W2:寬度 W:線寬 D:線距 D1:第一方向 D2:第二方向 A-A':線段 R1:區域
為讓本揭露之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂,所附圖式之說明如下: 第1A圖繪示根據本揭露一些實施方式之觸控感應器的上視示意圖; 第1B圖繪示第1A圖的觸控感應器之區域R1的局部放大示意圖; 第2A圖至第2C圖繪示第1A圖的觸控感應器在不同實施方式中沿線段A-A'截取的剖面示意圖; 第3A圖及第3B圖繪示本揭露一些實施例之周邊引線的光學顯微鏡圖;以及 第3C圖及第3D圖繪示一些比較例之周邊引線的光學顯微鏡圖。
國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
110:基板
120:觸控電極層
122:觸控電極
130:周邊線路層
132:周邊引線
VA:可視區
PA:周邊區
W:線寬
D:線距
D1:第一方向
D2:第二方向
R1:區域

Claims (10)

  1. 一種觸控感應器,具有一可視區及至少設置於該可視區之一側的一周邊區,該觸控感應器包括:一基板;一觸控電極層,設置於該基板的一表面上,且包括對應位於該可視區的複數個觸控電極;以及複數個周邊引線,設置於該基板的該表面上,且對應位於該周邊區,每一該些周邊引線由一第一導電層及一第二導電層疊設而成,該第一導電層位於該第二導電層與該基板之間,且該第一導電層電性連接該些觸控電極的對應一者,其中該第一導電層係包括一基質及摻雜於該基質中的複數個金屬奈米線的一金屬奈米線層,且該第二導電層係一金屬層,每一該些周邊引線的線寬介於6μm至8μm之間,任兩相鄰的該些周邊引線的線距介於6μm至8μm之間,且設置於該可視區之該側的該周邊區的寬度對該可視區的寬度的比值介於0.003至0.010之間。
  2. 如請求項1所述的觸控感應器,其中該觸控電極層係包括該基質及摻雜於該基質中的該些金屬奈米線的該金屬奈米線層。
  3. 如請求項1所述的觸控感應器,其中該第一導電層接觸該第二導電層的下表面。
  4. 如請求項3所述的觸控感應器,其中該第一導電層與該觸控電極層位於相同的水平面。
  5. 如請求項1所述的觸控感應器,其中該第一導電層的側壁與該第二導電層的側壁實質上切齊。
  6. 如請求項1所述的觸控感應器,其中該第一導電層與該些觸控電極的對應該者係一體成型,且兩者之間實質上不具有任何界面。
  7. 如請求項1所述的觸控感應器,更包括:一膜層,覆蓋該些周邊引線。
  8. 如請求項7所述的觸控感應器,其中該膜層進一步填充於相鄰的該些周邊引線之間。
  9. 如請求項8所述的觸控感應器,其中每一該些周邊引線的該第一導電層及該第二導電層皆接觸該膜層。
  10. 如請求項1所述的觸控感應器,其中該第二導電層係由單一的金屬材料或合金所製成的單層結構,或者係由兩種以上的金屬材料或合金所製成的兩層或多層結構。
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