TWI799025B - 自動測試介面卡連接埠的處理系統、控制設備與處理方法 - Google Patents
自動測試介面卡連接埠的處理系統、控制設備與處理方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI799025B TWI799025B TW110148296A TW110148296A TWI799025B TW I799025 B TWI799025 B TW I799025B TW 110148296 A TW110148296 A TW 110148296A TW 110148296 A TW110148296 A TW 110148296A TW I799025 B TWI799025 B TW I799025B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- interface
- port
- connection port
- target
- control device
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Communication Control (AREA)
- Numerical Control (AREA)
Abstract
一種自動測試介面卡連接埠的處理系統、控制設備與處理方法,其係包括主機板連接於待測設備與控制設備;驅動控制設備的機械臂,使機械臂的偵測端移至預設位置,偵測端具有攝像單元與多個介面接頭;偵測端位於預設位置,攝像單元拍攝初始位置影像;控制設備辨識初始位置影像的介面連接埠,並獲取介面連接埠的空間位置資訊;從介面連接埠選擇其中之一為目標連接埠與相應的目標接頭;控制設備驅動機械臂將目標接頭連接於目標連接埠;控制設備傳輸測試要求至主機板;主機板根據測試要求執行測試腳本,使目標連接埠輸出測試結果至控制設備。
Description
關於一種介面卡測試的處理系統、設備與方法,特別有關一種自動測試介面卡連接埠的處理系統、控制設備與處理方法。
隨著計算機的發展,介面卡也變成是計算機的重要設備。一般而言,介面卡大多提供多種的連接埠(port),以供連接至相應的外接設備。以顯示卡為例,顯示卡上一般會設置VGA連接埠或HDMI連接埠,用於連接至相應介面的顯示器。
對於產線而言,測試介面卡上的各項連接埠是一項繁雜的作業。測試人員需要逐一對連接埠進行測試與記錄輸出結果。特別是單一介面卡上具有多種不同種類的連接埠。測試人員需要同時準備相應數量的外接設備與運作環境。這對於產品測試的工作人員而言,無論是裝設環境與逐項檢測接口都是繁雜的工作。
有鑑於此,在一些實施例中自動測試介面卡連接埠的處理
系統透過電腦視覺與機器學習等機制進而控制機械臂選擇相應種類的介面接頭,藉以連接至目標連接埠並進行相應的測試。
在一些實施例中,自動測試介面卡連接埠的處理系統包括待測設備、主機板與控制設備。待測設備具有至少一介面連接埠與第二匯流排;主機板具有第一匯流排、第一處理器、第一通訊單元與第一儲存單元,第一處理器電性連接於第一匯流排、第一通訊單元與第一儲存單元,第一匯流排電性連接至第二匯流排,第一儲存單元儲存測試腳本;控制設備具有機械臂、第二處理器、第二通訊單元與第二儲存單元,機械臂具有偵測端、攝像單元與多個介面接頭,偵測端設置攝像單元與所述介面接頭,所述介面接頭至少為兩種以上不同型式,第二處理器電性連接於第二通訊單元、第二儲存單元、機械臂、攝像單元與所述介面接頭,第二儲存單元儲存連接埠識別模型,第二處理器執行連接埠識別模型,連接埠識別模型識別所述介面接頭的種類,第二處理器驅動機械臂使偵測端移至預設位置,攝像單元拍攝待測設備的初始位置影像,第二處理器辨識初始位置影像的至少一介面連接埠的種類,第二處理器獲取至少一介面連接埠的空間位置資訊,第二處理器選擇至少一介面連接埠其中之一為目標連接埠,第二處理器根據目標連接埠選擇相應的所述介面接頭其中之一為目標接頭,第二處理器根據目標連接埠的空間位置資訊驅動機械臂將目標接頭連接於目標連接埠,第二處理器驅動第二通訊單元傳輸測試要求至第一通訊單元;其中,第一處理器根據測試要求執行測試腳本,使目標連接埠輸出測試結果至控制設備。自動測試介面
卡連接埠的處理系統將電腦視覺結合機器學習用於識別介面卡的介面連接埠,且透過機械臂選擇相應種類的介面接頭,藉以實現自動連接、測試與插拔的動作處理。
在一些實施例中,初始位置影像包括待測設備的檔板影像,第二處理器根據檔板影像獲取相對距離資訊,第二處理器根據檔板影像的區域範圍識別至少一介面連接埠的區域位置,第二處理器根據相對距離資訊與區域位置獲取至少一介面連接埠的空間位置資訊。
在一些實施例中,主機板包括電源開關,第一處理器電性連接於電源開關,控制設備包括觸發單元,第二處理器電性連接於觸發單元,觸發單元更電性連接於電源開關,目標接頭連接至目標連接埠後,控制設備致能主機板開機,第一處理器接收測試要求並執行測試腳本。
在一些實施例中,所述的自動測試介面卡連接埠的控制設備包括機械臂、儲存單元與處理器。機械臂具有偵測端、攝像單元與多個介面接頭,偵測端設置攝像單元與所述介面接頭,所述介面接頭至少為兩種以上不同型式;儲存單元儲存有連接埠識別模型,連接埠識別模型辨識至少一介面連接埠的種類;處理器電性連接於機械臂、儲存單元、攝像單元與所述介面接頭,處理器執行連接埠識別模型,處理器驅動機械臂使偵測端移至預設位置,攝像單元拍攝初始位置影像,初始位置影像包括至少一介面連接埠之影像,處理器辨識初始位置影像的至少一介面連接埠的種類,處理器獲取至少一介面連接埠的空間位置資訊,
處理器選擇至少一介面連接埠其中之一為目標連接埠,處理器根據目標連接埠選擇相應的所述介面接頭其中之一為目標接頭,處理器根據目標連接埠的空間位置資訊驅動機械臂將目標接頭連接於目標連接埠。
在一些實施例中,主機板根據測試要求執行測試腳本,使目標連接埠輸出測試結果至控制設備。
在一些實施例中,控制設備包括儲存單元,儲存單元儲存有連接埠識別模型,處理器執行儲存單元的連接埠識別模型,以辨識初始位置影像的至少一介面連接埠的種類。
在一些實施例中,所述的自動測試介面卡連接埠的處理方法包括主機板連接於待測設備與控制設備;驅動控制設備的機械臂,使機械臂的偵測端移至預設位置,偵測端具有攝像單元與多個介面接頭,所述介面接頭至少為兩種以上不同型式;偵測端位於預設位置時,攝像單元拍攝待測設備的初始位置影像,初始位置影像包括至少一介面連接埠之影像;控制設備辨識初始位置影像的至少一介面連接埠的種類;控制設備獲取至少一介面連接埠的空間位置資訊;從至少一介面連接埠選擇其中之一為目標連接埠;控制設備根據目標連接埠選擇相應的所述介面接頭其中之一為目標接頭;控制設備根據目標連接埠的空間位置資訊驅動機械臂將目標接頭連接於目標連接埠;控制設備傳輸測試要求至主機板;主機板根據測試要求執行測試腳本,使目標連接埠輸出測試結果至控制設備。
在一些實施例中,在控制設備獲取每一介面連接埠的空間
位置資訊的步驟包括控制設備辨識初始位置影像中的檔板影像;控制設備根據檔板影像獲取相對距離資訊;控制設備根據檔板影像的區域範圍識別至少一介面連接埠的區域位置;控制設備根據相對距離資訊與區域位置獲取至少一介面連接埠的空間位置資訊。
在一些實施例中,在驅動機械臂使受選的介面接頭連接於目標連接埠的步驟包括獲取攝像單元與每一介面接頭間隔偏移距離資訊;根據目標連接埠選擇相應的介面接頭與偏移距離資訊;控制設備根據偏移距離資訊與目標連接埠的空間位置資訊驅動機械臂將目標接頭連接至目標連接埠。
在一些實施例中,在致能主機板,令主機板向待測設備執行測試腳本的步驟包括控制設備向主機板發送一致能訊號,使主機板開機並執行測試腳本;控制設備向主機板發送測試要求;主機板根據測試要求從測試腳本中的多個測試模式中選擇其中之一為目標測試模式;主機板對目標連接埠執行目標測試模式,輸出測試結果。
所述的自動測試介面卡連接埠的處理系統、控制設備與處理方法係以電腦視覺與機器學習使得控制設備可以識別介面卡的連接埠的外觀、位置與種類。控制設備根據所拍攝的數位影像,識別介面卡中的各種介面連接埠,進而控制機械臂自動選擇相應種類的介面接頭。機械臂將所選的介面接頭連接至相應種類的介面連接埠,並進行介面卡與介面連接埠的輸出測試。
100:處理系統
110:待測設備
111:介面連接埠
112:第二匯流排
120:主機板
121:第一匯流排
122:第一處理器
123:第一通訊單元
124:第一儲存單元
125:作業系統
126:測試腳本
127:電源開關
130:控制設備
131:機械臂
132:第二處理器
133:第二通訊單元
134:第二儲存單元
135:觸發單元
136:偵測端
137:攝像單元
138:介面接頭
139:連接埠識別模型
141:致能訊號
211:目標連接埠
212:目標接頭
221:初始位置影像
311:初始位置
321:預設位置
410:測試要求
420:測試模式
430:輸出報表
610:背板影像
611:背板
w:上邊緣寬度
h:側邊緣高度
h1、h2、h3、h4、h5:偏移距離資訊
S210、S220、S230、S240、S250、S260、S270、S280、S290、S300:步驟
S510、S520、S530、S540:步驟
S710、S720、S730:步驟
[圖1]係為此一實施例的自動測試介面卡連接埠的處理系統架構示意圖。
[圖2]係為此一實施例的自動測試介面卡連接埠的處理流程示意圖。
[圖3]係為此一實施例的偵測端於初始位置與預設位置的移動示意圖。
[圖4A]係為此一實施例的選擇介面連接埠的示意圖。
[圖4B]係為此一實施例的連接目標連接埠的示意圖。
[圖4C]係為此一實施例的輸出報表的示意圖。
[圖5]係為此一實施例的獲取空間位置資訊的流程示意圖。
[圖6]係為此一實施例的背板影像的示意圖。
[圖7A]係為此一實施例的連接目標連接埠的處理流程示意圖。
[圖7B]係為此一實施例的攝像單元與各介面接頭的偏移距離的示意圖。
請參考圖1所示,其係為此一實施例的自動測試介面卡連接埠的處理系統架構示意圖。自動測試介面卡連接埠的處理系統100包括待測設備110、主機板120與控制設備130。待測設備110具有至少一介面連接埠111與第二匯流排112。待測設備110可以是但不限定為顯示卡、音效卡、網路卡或擴充卡等。第二匯流排112分別電性連接於主機板120與介面連接埠111之間。第二匯流排112用於傳輸待測設備110運
作時的電氣訊號或控制命令。
主機板120具有第一匯流排121、第一處理器122、第一通訊單元123、第一儲存單元124與電源開關127。第一處理器122電性連接於第一匯流排121、第一通訊單元123、第一儲存單元124與電源開關127。第一匯流排121電性連接於第二匯流排112。主機板120通過第一匯流排121向待測設備110傳輸電氣訊號或控制命令。第一通訊單元123可以實體線路或電纜等方式傳輸訊號,或者是無線通訊的方式傳輸訊號。
第一儲存單元124儲存作業系統125與測試腳本126。第一處理器122執行作業系統125與測試腳本126。作業系統125用於提供主機板120與待測設備110的運行環境。測試腳本126用於向所選定的介面卡或介面連接埠111進行相應的測試。每一測試腳本126相應不同的介面卡,測試腳本126中記錄介面卡的各介面連接埠111的運作參數。以顯示卡為例,顯示卡若具有高畫質多媒體介面連接埠111(High Definition Multimedia Interface,簡稱HDMI)。測試腳本126則分別記錄HDMI連接埠的各種解析度(resolution)、顯示頻率(frequency)與色彩深度(color bit)等運作參數。前述的運作參數的集合統稱為測試模式420,測試模式420將於後文另述。主機板120的電源開關127接獲致能訊號141,使主機板120進入開機狀態(power on)或使主機板120進入關機狀態(power off)。
控制設備130具有機械臂131、第二處理器132、第二通訊
單元133、第二儲存單元134與觸發單元135。機械臂131具有偵測端136、攝像單元137與多個介面接頭138。偵測端136設置攝像單元137與所述介面接頭138。機械臂131可將偵測端136於不同軸向上移動,使攝像單元137與介面接頭138移動至所指定位置。攝像單元137用於拍攝待測設備110的數位影像。數位影像可以是靜態的圖像(image)或動態的影像(video)。
偵測端136中的介面接頭138包括至少有兩種以上不同的種類,介面接頭138也可各為不同形式。承接前文的顯示卡示例,介面接頭138可以是HDMI連接埠、DisplayPort連接埠、VGA連接埠(又為D-Sub連接埠)、DVI連接埠(Digital Visual Interface)或USB Type-C連接埠(Universal Serial Bus Type-C)。攝像單元137的拍攝範圍包含待測設備110的介面連接埠111。換言之,攝像單元137係與介面連接埠111為兩相對側面設置。
第二處理器132電性連接於第二通訊單元133、第二儲存單元134、機械臂131、攝像單元137、所述介面接頭138與觸發單元135。觸發單元135另電性連接於主機板120的電源開關127。觸發單元135傳輸致能訊號141至主機板120的電源開關127,以使主機板120進入開機狀態或關機狀態。第二通訊單元133連接於主機板120的第一通訊單元123,第二通訊單元133除了向第一通訊單元123傳輸測試或控制的訊號外,也接收來自於第一通訊單元123的回應訊息。第二儲存單元134儲存連接埠識別模型139與輸出報表430。連接埠識別模型139用於識別數位
影像中介面連接埠111的種類與空間位置。空間位置係為攝像單元137相對於介面連接埠111之間的水平與垂直距離的統稱。
第二處理器132根據連接埠識別模型139的識別結果,第二處理器132驅動機械臂131移動偵測端136至介面連接埠111。第二處理器132選擇相應的介面連接埠111的介面接頭138,並將驅動機械臂131將介面接頭138連接於介面連接埠111。第二處理器132通過已連接的介面連接埠111向相連的介面連接埠111獲取輸出訊號。為清楚說明整體的運作流程,請配合圖2所示,其係為一實施例的自動測試介面卡連接埠的處理流程示意圖。自動測試介面卡連接埠的處理方法包括以下步驟:步驟S210:主機板連接於待測設備與控制設備;步驟S220:驅動控制設備的機械臂,使機械臂的偵測端移至預設位置;步驟S230:偵測端位於預設位置時,攝像單元拍攝待測設備的初始位置影像,初始位置影像包括至少一介面連接埠之影像;步驟S240:控制設備辨識初始位置影像的至少一介面連接埠的種類;步驟S250:控制設備獲取至少一介面連接埠的空間位置資訊;步驟S260:從至少一介面連接埠選擇其中之一為目標連接埠;步驟S270:控制設備根據目標連接埠選擇相應的所述介面接頭其中之一為目標接頭;
步驟S280:控制設備根據目標連接埠的空間位置資訊驅動機械臂將目標接頭連接於目標連接埠;步驟S290:控制設備傳輸測試要求至主機板;以及步驟S300:主機板根據測試要求執行測試腳本,使目標連接埠輸出測試結果至控制設備。
首先,將主機板120架設於處理系統100所屬的待測區域。待測區域的位置與大小根據待測設備110而有所調整,或者待測區域配合控制設備130的機械臂131與攝像單元137所決定。接著,將待測設備110與控制設備130分別連接至主機板120。於此同時,待測設備110與主機板120是處於關機狀態。
在主機板120完成控制設備130與待測設備110的連接後,將控制設備130致能使其開機運作。控制設備130初始時,第二處理器132驅動機械臂131使偵測端136移至預設位置321。當攝像單元137位於預設位置321時,攝像單元137拍攝待測設備110的初始位置影像221。初始位置影像221包含待測設備110的至少一個介面連接埠111。對於不同種類的待測設備110,初始位置311與預設位置321可以是不同的位置。
請參考圖3所示,其係為一實施例的偵測端於初始位置與預設位置的移動示意圖。偵測端136分別位於初始位置311與預設位置321。圖3左側係為機械臂131的側視圖,機械臂131除了使偵測端136可以於圖3中的上下移動外,也可以往左右移動。實際上機械臂131可以
是三維移動外,機械臂131也可以控制偵測端136的旋轉,使介面接頭138呈現90度、180度或270度的轉向。在圖3中係以固定位置的介面接頭138為示例。實際上機械臂131除了移動偵測端136外,機械臂131更可以控制介面接頭138的伸縮。換言之,機械臂131除了控制偵測端136的位置,也同時控制介面接頭138的凸出或收納。
在獲取初始位置影像221後,第二處理器132執行連接埠識別模型139。連接埠識別模型139解析初始位置影像221中的各項介面連接埠111的外觀,並根據介面連接埠111的外觀進而識別介面連接埠111的種類。於此同時,連接埠識別模型139根據初始位置影像221進一步獲取各介面連接埠111的空間位置資訊。如前文所示,空間位置係為偵測端136與介面連接埠111的相對距離。空間位置資訊係為偵測端136與介面連接埠111在實體空間中的位置距離。
更進一步,空間位置資訊可以更記錄為攝像單元137與介面連接埠111的相對距離。連接埠識別模型139根據預設位置321與待測區域間的距離、初始位置影像221的各介面連接埠111的間隔距離進而計算空間位置資訊。除此之外,連接埠識別模型139也可以載入介面連接埠111的設置規範,用於確認各介面連接埠111之間的間隔距離。
接下來,第二處理器132獲取連接埠識別模型139的辨識結果。第二處理器132從至少一個介面連接埠111中選擇任一,受選的介面連接埠111稱為目標連接埠211。第二處理器132根據目標連接埠211的空間位置資訊驅動機械臂131將目標接頭212連接於目標連接埠211。請
參考圖4A與圖4B所示,其係分別為一實施例的選擇介面連接埠111與連接目標連接埠211的示意圖。圖4A中係為連接埠識別模型139的辨識結果,其係分別為HDMI連接埠、DisplayPort連接埠、VGA連接埠、DVI連接埠或USB Type-C連接埠。
第二處理器132選擇HDMI連接埠為目標連接埠211。第二處理器132同時根據目標連接埠211選出相應的介面接頭138為目標接頭212。因此相應的目標連接埠211的目標接頭212係為HDMI接頭。第二處理器132驅動機械臂131將偵測端136移動至目標連接埠211外側,第二處理器132驅動機械臂131將目標接頭212連接至目標連接埠211,如圖4B所示。
第二處理器132完成目標接頭212與目標連接埠211的連接後,第二處理器132驅動觸發單元135向主機板120的開關單元傳輸致能訊號141,使主機板120由關機狀態切換為開機狀態。第一處理器122根據第一儲存單元124的作業系統125進行開機。在完成作業系統125的開機後,主機板120等待控制設備130的相應命令。
第二處理器132向主機板120傳輸測試要求410。第一處理器122接獲測試要求410,第一處理器122執行第一儲存單元124中的測試腳本126。第一處理器122根據測試腳本126對目標連接埠211進行各項運作參數的測試。目標連接埠211在不同的測試模式420下輸出相應的輸出訊號。為能方便說明,主機板120根據測試要求410從測試腳本126中的依序選擇測試模式420為目標測試模式。
若以顯示卡為例,輸出訊號則是視訊訊號,並且視訊訊號對應於圖像畫面訊號、影像畫面訊號、解析度、顯示頻率或色彩深度等運作參數。主機板120根據測試腳本126逐次選擇目標測試模式,以便載入不同的運作參數並對目標連接埠211進行測試。此外,第一處理器122也會將作業系統125的版本或待測設備110的驅動程式的版本記錄至測試後的輸出結果中。
於此同時,控制設備130通過目標接頭212獲取目標連接埠211在目標測試模式的輸出結果。在完成當前的目標測試模式後,第一處理器122將當前目標測試模式標註為「已測試」。接著,從剩餘的測試腳本126中再獲取新的目標測試模式。第一處理器122根據新的目標測試模式再向目標連接埠211進行新一輪的測試。第一處理器122重複前述步驟,直至完成測試腳本126的所有測試模式420為止。對於單一的目標連接埠211而言,這樣才算是完成測試腳本126與所有的測試模式420。
在第一處理器122完成目標連接埠211的測試腳本126後,第一處理器122通過第一通訊單元123向控制設備130發送通知訊號。控制設備130接獲通知訊號後,重新選擇新的目標連接埠211。第二處理器132根據初始位置影像221從剩餘的介面連接埠111中選擇新的目標連接埠211。第二處理器132重複步驟S240~S300的動作,直至完成所有介面連接埠111的測試模式420為止。控制設備130根據每一個介面連接埠111的輸出結果產生一輸出報表430,如圖4C所示。
具有對應在一實施例中,控制設備130獲取空間位置資訊
的過程中,第二處理器132更可以利用初始位置影像221的其他資訊進一步得到空間位置資訊,請參考圖5所示,其係為一實施例的獲取空間位置資訊的流程示意圖。
步驟S510:控制設備辨識初始位置影像中的檔板影像;步驟S520:控制設備根據檔板影像獲取相對距離資訊;步驟S530:控制設備根據檔板影像的區域範圍識別至少一介面連接埠的區域位置;以及步驟S540:控制設備根據相對距離資訊與區域位置獲取至少一介面連接埠的空間位置資訊。
第二處理器132驅動機械臂131移動偵測端136至預設位置321,並拍攝初始位置影像221。在此實施例中,攝像單元137所拍攝的初始位置影像221除了包括介面連接埠111外,更包括待測設備110的背板611。為與初始位置影像221有所區別,以下將預設位置321所拍攝的影像另稱為背板影像610,請參考圖6所示。
連接埠識別模型139從解析背板影像610中解析背板611與攝像單元137的相對距離資訊。連接埠識別模型139可以根據背板影像610與實體背板611的面積進行比對,並得到背板影像610中各介面連接埠111的相對位置。一般而言,實體背板611的設置大小需符合設置規範。因此,連接埠識別模型139可以根據實體背板611與背板影像610的轉換比例進而獲取一相對距離資訊。
此外,背板影像610中也同時涵蓋各介面連接埠111。如前
文所述,連接埠識別模型139根據相對距離資訊與背板影像610進而計算各介面連接埠111位於背板611中的區域位置。舉例來說,連接埠識別模型139可以根據背板611的邊緣、介面連接埠111與相對距離資訊進一步得到,介面連接埠111的區域位置與大小,如圖6所示。圖6中,連接埠識別模型139以背板影像610的上邊緣寬度w與側邊緣高度h等資訊,用於定位各目標連接埠211的所在位置。由於背板611的上邊緣寬度w與側邊緣高度h均屬於標準數值,因此連接埠識別模型139可以從初始位置影像221中進一步獲取各介面連接埠111的位置。若目標連接埠211為HDMI連接埠,連接埠識別模型139根據HDMI連接埠的設置尺寸的定義。連接埠識別模型139根據前述的背板611邊緣與相對距離資訊,進而確認HDMI連接埠的區域位置與對應的空間位置資訊。
在一實施例中,第二處理器132在驅動目標接頭212連接目標連接埠211的步驟更包括,請同時參考圖7A所示,其係為一實施例的連接目標連接埠211的處理流程示意圖。
步驟S710:獲取攝像單元與每一介面接頭間隔偏移距離資訊;步驟S720:根據目標連接埠選擇相應的介面接頭與偏移距離資訊;以及步驟S730:控制設備根據偏移距離資訊與目標連接埠的空間位置資訊驅動機械臂將目標接頭連接至目標連接埠。
控制設備130獲取攝像單元137與每一介面接頭138之間的偏移距離資訊,請參考圖7B所示。在圖7B中係以攝像單元137的周圍分
別設置介面接頭138,但實際上可以根據應用場域的不同調整為相應設置位置。在此為配合圖3的偵測端136的攝像單元137與介面連接埠111,因此圖7B攝像單元137與介面接頭138係以由上至下排列。其中,介面接頭138分別為VGA連接埠、DVI連接埠、DisplayPort連接埠、HDMI連接埠與USB Type-C連接埠。攝像單元137與介面接頭138的偏移距離資訊分別為h1、h2、h3、h4與h5。
在此係以上邊緣至介面接頭138的中軸軸心,並根據介面接頭138的尺寸大小進行相應的修正,使修正結果為偏移距離資訊。第二處理器132將偏移距離資訊加入空間位置資訊,藉以修正機械臂131的移動量。當機械臂131移近目標連接埠211時,第二處理器132根據攝像單元137與目標接頭212的偏移距離資訊調整目標接頭212的位置,以使目標接頭212可以連接於目標連接埠211。接頭的偏移距離資訊調整目標接頭212的位置,以使目標接頭212可以連接於目標連接埠211。
所述的自動測試介面卡連接埠的處理系統100、控制設備130與處理方法係以電腦視覺與機器學習使得控制設備130可以識別介面卡的連接埠的外觀、位置與種類。控制設備130根據所拍攝的數位影像,識別介面卡中的各種介面連接埠111,進而控制機械臂131自動選擇相應種類的介面接頭138。機械臂131將所選的介面接頭138連接至相應種類的介面連接埠111,並進行介面卡與介面連接埠111的輸出測試。
100:處理系統
110:待測設備
111:介面連接埠
112:第二匯流排
120:主機板
121:第一匯流排
122:第一處理器
123:第一通訊單元
124:第一儲存單元
125:作業系統
126:測試腳本
127:電源開關
130:控制設備
131:機械臂
132:第二處理器
133:第二通訊單元
134:第二儲存單元
135:觸發單元
136:偵測端
137:攝像單元
138:介面接頭
139:連接埠識別模型
141:致能訊號
410:測試要求
430:輸出報表
Claims (17)
- 一種自動測試介面卡連接埠的處理系統,包括: 一待測設備,具有至少一介面連接埠與一第二匯流排; 一主機板,具有一第一匯流排、一第一處理器、一第一通訊單元與一第一儲存單元,該第一處理器電性連接於該第一匯流排、該第一通訊單元與該第一儲存單元,該第一匯流排電性連接至該第二匯流排,該第一儲存單元儲存一測試腳本;以及 一控制設備,具有一機械臂、一第二處理器、一第二通訊單元與一第二儲存單元,該機械臂具有一偵測端、一攝像單元與多個介面接頭,該偵測端設置該攝像單元與該些介面接頭,該些介面接頭至少為兩種以上不同型式,該第二處理器電性連接於該第二通訊單元、該第二儲存單元、該機械臂、該攝像單元與該些介面接頭,該第二儲存單元儲存一連接埠識別模型,該第二處理器執行該連接埠識別模型,該連接埠識別模型識別該些介面接頭的種類,該第二處理器驅動該機械臂使該偵測端移至一預設位置,該攝像單元拍攝該待測設備的一初始位置影像,該第二處理器辨識該初始位置影像的該至少一介面連接埠的種類,該第二處理器獲取該至少一介面連接埠的一空間位置資訊,該第二處理器選擇該至少一介面連接埠其中之一為一目標連接埠,該第二處理器根據該目標連接埠選擇相應的該些介面接頭其中之一為一目標接頭,該第二處理器根據該目標連接埠的該空間位置資訊驅動該機械臂將該目標接頭連接於該目標連接埠,該第二處理器驅動該第二通訊單元傳輸一測試要求至該第一通訊單元; 其中,該第一處理器根據該測試要求執行該測試腳本,使該目標連接埠輸出一測試結果至該控制設備。
- 如請求項1所述的自動測試介面卡連接埠的處理系統,其中該至少一介面連接埠包括USB type-c連接埠、HDMI連接埠、DisplayPort連接埠、VGA連接埠及DVI連接埠中至少其一。
- 如請求項1所述的自動測試介面卡連接埠的處理系統,其中該初始位置影像包括該待測設備的一檔板影像,該第二處理器根據該檔板影像獲取一相對距離資訊,該第二處理器根據該檔板影像的區域範圍識別該至少一介面連接埠的一區域位置,該第二處理器根據該相對距離資訊與該區域位置獲取該至少一介面連接埠的該空間位置資訊。
- 如請求項1所述的自動測試介面卡連接埠的處理系統,其中該攝像單元與每一該介面接頭間隔一偏移距離資訊。
- 如請求項4所述的自動測試介面卡連接埠的處理系統,其中該第二處理器根據該偏移距離資訊與該目標連接埠的該空間位置資訊驅動該機械臂將該目標接頭連接至該目標連接埠。
- 如請求項1所述的自動測試介面卡連接埠的處理系統,其中該主機板包括一電源開關,該第一處理器電性連接於該電源開關,該控制設備包括一觸發單元,該第二處理器電性連接於該觸發單元,該觸發單元更電性連接於該電源開關,該目標接頭連接至該目標連接埠後,該控制設備致能該主機板開機,該第一處理器接收該測試要求並執行該測試腳本。
- 一種自動測試介面卡連接埠的控制設備,包括: 一機械臂,具有一偵測端、一攝像單元與多個介面接頭,該偵測端設置該攝像單元與該些介面接頭,該些介面接頭至少為兩種以上不同型式; 一儲存單元,儲存有一連接埠識別模型,該連接埠識別模型辨識該至少一介面連接埠的種類;以及 一處理器,電性連接於該機械臂、該儲存單元、該攝像單元與該些介面接頭,該處理器執行該連接埠識別模型,該處理器驅動該機械臂使該偵測端移至一預設位置,該攝像單元拍攝一初始位置影像,該初始位置影像包括至少一介面連接埠之影像,該處理器辨識該初始位置影像的該至少一介面連接埠的種類,該處理器獲取該至少一介面連接埠的一空間位置資訊,該處理器選擇該至少一介面連接埠其中之一為一目標連接埠,該處理器根據該目標連接埠選擇相應的該些介面接頭其中之一為一目標接頭,該處理器根據該目標連接埠的該空間位置資訊驅動該機械臂將該目標接頭連接於該目標連接埠。
- 如請求項7所述的自動測試介面卡連接埠的控制設備,其更包括一通訊單元,該處理器電性連接於該通訊單元,該通訊單元傳輸一測試要求。
- 如請求項7所述的自動測試介面卡連接埠的控制設備,其中該攝像單元與每一該介面接頭間隔一偏移距離資訊。
- 如請求項9所述的自動測試介面卡連接埠的控制設備,其中該處理器根據該偏移距離資訊與該目標連接埠的該空間位置資訊驅動該機械臂將該目標接頭連接至該目標連接埠。
- 如請求項7所述的自動測試介面卡連接埠的控制設備,其中該控制設備包括一儲存單元,該儲存單元儲存有一連接埠識別模型,該處理器執行該儲存單元的該連接埠識別模型,以辨識該初始位置影像的該至少一介面連接埠的種類。
- 如請求項7所述的自動測試介面卡連接埠的控制設備,其中該初始位置影像包括一檔板影像,該處理器根據該檔板影像的區域範圍辨識該至少一介面連接埠的種類,該處理器獲取該至少一介面連接埠的該空間位置資訊。
- 一種自動測試介面卡連接埠的處理方法,包括: 一主機板連接於一待測設備與一控制設備; 驅動該控制設備的一機械臂,使該機械臂的一偵測端移至一預設位置,該偵測端具有一攝像單元與多個介面接頭,該些介面接頭至少為兩種以上不同型式; 該偵測端位於該預設位置時,該攝像單元拍攝該待測設備的一初始位置影像,該初始位置影像包括至少一介面連接埠之影像; 該控制設備辨識該初始位置影像的至少一介面連接埠的種類; 該控制設備獲取該至少一介面連接埠的一空間位置資訊; 從該至少一介面連接埠選擇其中之一為一目標連接埠; 該控制設備根據該目標連接埠選擇相應的該些介面接頭其中之一為一目標接頭; 該控制設備根據該目標連接埠的該空間位置資訊驅動該機械臂將該目標接頭連接於該目標連接埠; 該控制設備傳輸一測試要求至該主機板;以及 該主機板根據該測試要求執行一測試腳本,使該目標連接埠輸出一測試結果至該控制設備。
- 如請求項13所述的自動測試介面卡連接埠的處理方法,其中在該控制設備獲取該至少一介面連接埠的該空間位置資訊的步驟包括: 該控制設備辨識該初始位置影像中的一檔板影像; 該控制設備根據該檔板影像獲取一相對距離資訊; 該控制設備根據該檔板影像的區域範圍識別該至少一介面連接埠的一區域位置;以及 該控制設備根據該相對距離資訊與該區域位置獲取該至少一介面連接埠的該空間位置資訊。
- 如請求項13所述的自動測試介面卡連接埠的處理方法,其中在驅動該機械臂使受選的該介面接頭連接於該目標連接埠的步驟包括: 獲取該攝像單元與每一該介面接頭間隔一偏移距離資訊; 根據該目標連接埠選擇相應的該介面接頭與該偏移距離資訊;以及 該控制設備根據該偏移距離資訊與該目標連接埠的該空間位置資訊驅動該機械臂將該目標接頭連接至該目標連接埠。
- 如請求項13所述的自動測試介面卡連接埠的處理方法,其中在該主機板根據該測試要求執行該測試腳本的步驟包括: 該控制設備向該主機板發送一致能訊號,使該主機板開機並執行該測試腳本; 該控制設備向該主機板發送一測試要求; 該主機板根據該測試要求從該測試腳本中的多個測試模式中選擇其中之一為一目標測試模式;以及 該主機板對該目標連接埠執行該目標測試模式,輸出該測試結果。
- 如請求項13所述的自動測試介面卡連接埠的處理方法,其中在從該些介面連接埠選擇其中之一為該目標連接埠,該控制設備選擇相應該目標連接埠的該介面接頭的步驟包括: 重複選取其他該些介面連接埠為新的該目標連接埠,直至獲取每一該介面連接埠的該測試結果為止。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW110148296A TWI799025B (zh) | 2021-12-22 | 2021-12-22 | 自動測試介面卡連接埠的處理系統、控制設備與處理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW110148296A TWI799025B (zh) | 2021-12-22 | 2021-12-22 | 自動測試介面卡連接埠的處理系統、控制設備與處理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI799025B true TWI799025B (zh) | 2023-04-11 |
TW202326312A TW202326312A (zh) | 2023-07-01 |
Family
ID=86948745
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW110148296A TWI799025B (zh) | 2021-12-22 | 2021-12-22 | 自動測試介面卡連接埠的處理系統、控制設備與處理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI799025B (zh) |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI457578B (zh) * | 2012-11-02 | 2014-10-21 | Wistron Corp | 電路板自動測試裝置及方法 |
CN105261278A (zh) * | 2014-07-17 | 2016-01-20 | 宁波舜宇光电信息有限公司 | 一种摄像头模组演示工装系统及其通信和检测方法 |
US20170269157A1 (en) * | 2014-12-22 | 2017-09-21 | Intel Corporation | Reconfigurable test access port with finite state machine control |
CN107544019A (zh) * | 2017-08-22 | 2018-01-05 | 北京小米移动软件有限公司 | 芯片测试装置和芯片测试方法 |
CN108958211A (zh) * | 2018-05-15 | 2018-12-07 | 深圳市桑格尔科技股份有限公司 | 一种产线自动化测试方法 |
CN209417192U (zh) * | 2018-09-03 | 2019-09-20 | 深圳市度信科技有限公司 | 摄像头模组测试设备 |
JP6675679B2 (ja) * | 2015-09-02 | 2020-04-01 | 株式会社クオルテック | 測定システムおよび測定方法 |
US20200150158A1 (en) * | 2018-11-10 | 2020-05-14 | Setra Systems, Inc. | Measurement device and method of its operation |
CN111323693A (zh) * | 2020-03-18 | 2020-06-23 | Oppo广东移动通信有限公司 | 一种测试电路、主板及终端设备 |
-
2021
- 2021-12-22 TW TW110148296A patent/TWI799025B/zh active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI457578B (zh) * | 2012-11-02 | 2014-10-21 | Wistron Corp | 電路板自動測試裝置及方法 |
CN105261278A (zh) * | 2014-07-17 | 2016-01-20 | 宁波舜宇光电信息有限公司 | 一种摄像头模组演示工装系统及其通信和检测方法 |
US20170269157A1 (en) * | 2014-12-22 | 2017-09-21 | Intel Corporation | Reconfigurable test access port with finite state machine control |
JP6675679B2 (ja) * | 2015-09-02 | 2020-04-01 | 株式会社クオルテック | 測定システムおよび測定方法 |
CN107544019A (zh) * | 2017-08-22 | 2018-01-05 | 北京小米移动软件有限公司 | 芯片测试装置和芯片测试方法 |
CN108958211A (zh) * | 2018-05-15 | 2018-12-07 | 深圳市桑格尔科技股份有限公司 | 一种产线自动化测试方法 |
CN209417192U (zh) * | 2018-09-03 | 2019-09-20 | 深圳市度信科技有限公司 | 摄像头模组测试设备 |
US20200150158A1 (en) * | 2018-11-10 | 2020-05-14 | Setra Systems, Inc. | Measurement device and method of its operation |
CN111323693A (zh) * | 2020-03-18 | 2020-06-23 | Oppo广东移动通信有限公司 | 一种测试电路、主板及终端设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202326312A (zh) | 2023-07-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8886513B2 (en) | Embedded bus emulation | |
US20150279037A1 (en) | System and Method of Video Wall Setup and Adjustment Using Automated Image Analysis | |
CN108172153B (zh) | 一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备 | |
CN108109567B (zh) | 一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备 | |
WO2018196734A1 (zh) | 测试数据处理装置、测试数据处理方法和测试设备 | |
CN101373589A (zh) | 在显示装置中使用的显示控制方法和显示装置 | |
US20170200432A1 (en) | Driver and operation method thereof | |
US8487833B2 (en) | Sensor driven automatic display configuration system and method | |
US20190295509A1 (en) | Image resolution auto-identifying system and method | |
US20210176157A1 (en) | Automatic test system and device thereof | |
KR20180104441A (ko) | 디스플레이 검사장비용 디스플레이포트 인터페이스 모듈 | |
TWI799025B (zh) | 自動測試介面卡連接埠的處理系統、控制設備與處理方法 | |
CN102110473B (zh) | 显示设备的edid数据烧写和校验方法及系统 | |
US8604718B2 (en) | Auto-addressing method for a tiled lighting system | |
JP2009116535A (ja) | 自動テストシステム及び自動テスト方法並びにプログラム | |
TWI588738B (zh) | 用於視訊顯示器陣列的顯示系統 | |
CN116414629A (zh) | 自动测试接口卡连接端的处理系统、控制设备与处理方法 | |
CN114546740A (zh) | 触摸屏测试方法、装置、系统及存储介质 | |
CN103974059A (zh) | 自动检测视频输出装置的开放式易插拔接口的方法及治具 | |
CN108196911B (zh) | 一种对图像显示扩展盒进行参数配置的方法及装置 | |
US11741632B2 (en) | System, information processing method, method of manufacturing product, and recording medium with images of object that moves relative to cameras being captured at predetermined intervals and having different image capture times | |
US11528473B2 (en) | Automatic test method | |
US20210063476A1 (en) | Socket testing method and system | |
US6577301B1 (en) | Method and apparatus for rewriting functions and fonts of a monitor | |
TWI565953B (zh) | Display signal test fixture and test method |