TWI792386B - 影像檢測裝置、系統及影像檢測方法 - Google Patents
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Abstract
一種影像檢測裝置,適於供一檢測圖設置且適於檢測一鏡頭模組的影像品質,影像檢測裝置包括一支架組件及一承載治具。支架組件可活動地設置,且檢測圖適於設置在支架組件上。承載治具設置於支架組件旁,且適於承載鏡頭模組,當鏡頭模組設置在承載治具上時,鏡頭模組朝向設置於支架組件上的檢測圖。支架組件適於帶動檢測圖運動,以使檢測圖對位於設置在承載治具上的鏡頭模組。
Description
本發明是有關於一種檢測裝置、系統及影像檢測方法,且特別是有關於一種影像檢測裝置、系統及影像檢測方法。
對於鏡頭模組而言,影像品質檢測是必要測試項目。傳統的檢測方式是將測試圖固定在平板或牆面上,鏡頭模組則固定在可移動或旋轉的基座上。透過移動或轉動基座來使鏡頭模組的光軸對位於測試圖。
然而,當傳統的檢測方式應用於微型鏡頭模組時,鏡頭模組常受到訊號線材牽扯,使鏡頭模組的光軸對位偏移,導致檢測結果異常,而發生誤判的狀況,而需要人員重新安裝鏡頭於基座上,因此需要耗費人力及延長檢測時間。此外,當傳統的檢測方式應用於超廣角鏡頭模組時,除了光軸對位問題之外,還需製作大型或球型測試圖來測試廣角影像,特規設備的成本相當高。
本發明提供一種影像檢測裝置、系統與方法,其可在微型鏡頭模組的影像品質檢測過程中精準對位,進而有效地縮減人力成本及縮短檢測時間。
本發明的一種影像檢測裝置,適於供檢測圖設置且適於檢測鏡頭模組的影像品質,影像檢測裝置包括支架組件及承載治具。支架組件可活動地設置,且檢測圖適於設置在支架組件上。承載治具設置於支架組件旁,且適於承載鏡頭模組,當鏡頭模組設置在承載治具上時,鏡頭模組朝向設置於支架組件上的檢測圖。支架組件適於帶動檢測圖運動,以使檢測圖對位於設置在承載治具上的鏡頭模組。
本發明的一種影像檢測系統,適於供檢測圖設置且適於檢測鏡頭模組的影像品質,影像檢測系統包括支架組件、承載治具及控制模組。支架組件可活動地設置,且檢測圖適於設置在支架組件上。承載治具設置於支架組件旁,且適於承載鏡頭模組,當鏡頭模組設置在承載治具上時,鏡頭模組朝向設置於支架組件上的檢測圖且電性連接承載治具。控制模組電性連接於承載治具。承載治具上的鏡頭模組適於對支架組件上的檢測圖拍攝影像,控制模組適於接收到影像並判斷在影像中所顯示的檢測圖中心是否對位於影像的中心。反應於影像中所顯示的檢測圖中心未對位於影像的中心,控制模組控制支架組件運動,以使檢測圖對位於鏡頭模組。
本發明的一種影像檢測方法,包括透過鏡頭模組對檢測圖拍攝影像;判斷在影像中所顯示的檢測圖中心是否對位於影像的中心;反應於影像中所顯示的檢測圖中心未對位於影像的中心,依據影像來計算偏移量,並依據偏移量移動檢測圖的位置; 反應於影像中所顯示的檢測圖中心對位於影像的中心,對影像進行第一影像品質檢測程序。
基於上述,本發明的影像檢測裝置的支架組件可活動地設置,且檢測圖適於設置在支架組件上。支架組件可帶動檢測圖運動,以使檢測圖對位於設置在承載治具上的鏡頭模組。因此,支架組件可帶動檢測圖運動,來使檢測圖對位於鏡頭模組,降低鏡頭模組因被訊號線拉扯偏移而被誤判的機率。此外,習知測試廣角鏡頭模組時需要準備大型或球型的檢測圖,來檢測廣角影像在四角的解析度。由於本發明的影像檢測裝置的支架組件可帶動檢測圖運動,只需要將一般尺寸的檢測圖移到對應於廣角影像中的角落位置,即可測試到此位置的解析度,不需使用大尺寸的檢測圖,相當節省成本。
圖1是依照本發明的一實施例的一種影像檢測系統的示意圖。圖2A是圖1的影像檢測系統的其他視角的示意圖。圖2B是圖1的影像檢測系統的其他視角的示意圖。請參閱圖1至圖2B,本實施例的影像檢測系統100適於供一檢測圖10設置且適於檢測一鏡頭模組20(圖1)的影像品質。
在本實施例中,影像檢測系統100包括影像檢測裝置105及控制模組140。影像檢測裝置105包括支架組件110及承載治具120。支架組件110可活動地設置,且檢測圖10適於設置在支架組件110上。承載治具120設置於支架組件110旁,且適於承載鏡頭模組20。
具體地說,如圖2A與圖2B所示,支架組件110包括第一框架111、驅動於第一框架111的第一驅動模組114及第二驅動模組115。第一驅動模組114適於使第一框架111以第一軸線A1為轉動軸轉動,第二驅動模組115適於使第一框架111沿第一軸線A1移動。檢測圖10(圖1)適於設置在第一框架111。
在本實施例中,第一驅動模組114及第二驅動模組115設置在一基座118上,第一驅動模組114及第二驅動模組115連動一軸桿111a,軸桿111a連接於第一框架111。
第一驅動模組114及第二驅動模組115中的每一者例如是馬達與皮帶輪的組合,但第一驅動模組114及第二驅動模組115的種類不以此為限制。控制模組140(圖2A)電性連接於第一驅動模組114及第二驅動模組115,而適於指示第一驅動模組114及第二驅動模組115運作,以使第一框架111沿第一軸線A1移動或以第一軸線A1為轉動軸轉動。
在本實施例中,第一軸線A1適於調整成平行於鏡頭模組20的一光軸方向A4(標示於圖1)的狀態。特別是,第一軸線A1可被調整成對準於鏡頭模組20的光軸方向A4。如此,即便承載有檢測圖10的第一框架111往鏡頭模組20靠近或遠離,鏡頭模組20仍會對位於檢測圖10的檢測圖中心12,以利校準。
此外,支架組件110還包括第二框架112及驅動於第二框架112的第三驅動模組116。控制模組140(圖2A)電性連接於第三驅動模組116,第三驅動模組116適於使第二框架112以第二軸線A2為轉動軸轉動,且第二軸線A2正交於第一軸線A1。第三驅動模組116例如是馬達,但第三驅動模組116的種類不以此為限制。
在本實施例中,第一框架111可運動地設置於第二框架112。具體地說,第二框架112與基座118可為一體,軸桿111a可相對第二框架112沿第一軸線A1移動或以第一軸線A1為轉動軸轉動。因此,當第二框架112以第二軸線A2為轉動軸轉動時,帶動第一框架111進行沿第一軸線A1移動或以第一軸線A1為轉動軸轉動以外的運動。
支架組件110還包括第三框架113及驅動於第三框架113的第四驅動模組117。控制模組140(如圖2A)電性連接於第四驅動模組117,第四驅動模組117適於使第三框架113以第三軸線A3為轉動軸轉動,且第三軸線A3正交於第一軸線A1及第二軸線A2。第四驅動模組117例如是馬達,但第四驅動模組117的種類不以此為限制。
在本實施例中,第二框架112可轉動地設置於第三框架113。因此,當第三框架113以第三軸線A3為轉動軸轉動時,帶動第二框架112進行以第二軸線A2為轉動軸轉動以外的運動。
當支架組件110位於初始位置時,第一軸線A1例如是圖1中的Z軸(水平面上的前後方向),第二軸線A2例如是圖1中的Y軸(垂直方向),第一軸線A1例如是圖1中的X軸(水平面上的左右方向)。
因此,請回到圖1,檢測圖10可以透過支架組件110沿著第一軸線A1(圖2A)移動與以第一軸線A1(圖2A)為轉動軸轉動、以第二軸線A2為轉動軸轉動或/且以第三軸線A3為轉動軸轉動,支架組件110共提供四種自由度的運動,而使檢測圖10能夠移動到與鏡頭模組20的光軸垂直,且角度與距離正確的位置。
另外,在本實施例中,影像檢測系統100可視亮度需求,可選擇地包括一背光模組130(圖1),可拆卸地設置於支架組件110。檢測圖10適於設置在背光模組130上,且位在背光模組130與承載治具120之間。
此外,在本實施例中,影像檢測系統100可用來檢測鏡頭模組20所拍出的影像的解析度及鏡頭模組20上是否有灰塵。若要檢測鏡頭模組20上是否有灰塵,會需要移動鏡頭模組20,使鏡頭模組20去拍攝檢測圖10之外的白畫面,並檢查所拍攝出的影像是否有出現汙點。
因此,在本實施例中,承載治具120可沿著兩軸線(圖1中X軸與Y軸)可移動地設置。具體地說,承載治具120包括滑軌121、沿著X軸滑設於滑軌121的第一滑柱122、沿著Y軸滑設於第一滑柱122的第二滑柱123、固定在第二滑柱123上的載具124及可拆卸地設置在載具124上的固定座125。鏡頭模組20設置於固定座125。
因此,固定座125上的鏡頭模組20可藉由滑軌121與第一滑柱122的配合,沿著X軸移動,且可藉由第一滑柱122與第二滑柱123的配合,沿著Y軸移動,以移動到檢測圖10以外的位置(例如是白屏幕)拍攝白畫面影像,來檢測鏡頭模組20上是否有灰塵(髒點測試)。
當然,若影像檢測系統100不需檢測鏡頭模組20上是否有灰塵,例如僅用來檢測鏡頭模組20所拍出的影像的解析度。承載治具120也可以是固定的。因此,在一實施例中,滑軌121、第一滑柱122及第二滑柱123也可以被省略。
另外,若鏡頭模組20固定於固定座125上的工序與時間大於固定座125固定於載具124上的工序與時間。操作者可準備多個固定座125,將待測的多個鏡頭模組20分別設置在這些固定座125上,先將一個裝有鏡頭模組20的固定座125設置於載具124,測試完成之後將固定座125移除於載具124,換下一個裝有鏡頭模組20的固定座125,以增加測試端的作業速度。
當然,支架組件110的形式不以上述為限制。圖2C是依照本發明的一實施例的一種影像檢測系統的示意圖。圖2D是圖2C的影像檢測系統的其他視角的示意圖。請參閱圖2C及圖2D,本實施例與前一實施例的主要差異在於支架組件110a、110不同。具體地說,在本實施例中,第三驅動模組116並非直接設置在第二軸線A2上,而是設置在遠離第二軸線A2處,且透過皮帶116a來使第二框架112a以第二軸線A2為轉動軸轉動。
此外,在本實施例中,如圖2C,第三框架113a以第三軸線A3為轉動軸可轉動地設置,且如圖2D,第三框架113a連接於基座118。因此,基座118可與第三框架113a一起以第三軸線A3為轉動軸轉動。因此,基座118上的第一驅動模組114、第二驅動模組115、連動於第一驅動模組114與第二驅動模組115的軸桿111a、連動於軸桿111a的第一框架111’也會隨著第三框架113a以第三軸線A3為轉動軸轉動。
換句話說,當第三框架113a以第三軸線A3為轉動軸轉動時,帶動第一框架111’進行沿第一軸線A1移動或以第一軸線A1為轉動軸轉動以外的運動(以第三軸線A3為轉動軸轉動)。
再者,由於第三框架113a在第三軸線A3為轉動軸以外的運動連動於第二框架112a,連帶地使第一框架111在第三軸線A3為轉動軸以外的運動連動於第三框架113。因此,當第二框架112以第二軸線A2為轉動軸轉動時,帶動第一框架111進行沿第一軸線A1移動或以第一軸線A1為轉動軸轉動以外的運動(以第二軸線A2為轉動軸轉動)。
此外,在本實施例中,第一框架111’與檢測圖10a的形狀也與圖1的第一框架111與檢測圖10的形狀不同。測試者可視需求調整。
圖3是圖1的影像檢測系統的承載治具的局部示意圖。請參閱圖3,承載治具120還包括電路組件126,鏡頭模組20透過訊號線127電連接電路組件126,且電路組件126電性連接於載具124(圖1)。固定座125夾固鏡頭模組20與訊號線127。
此外,如圖1所示,在本實施例中,控制模組140電性連接於承載治具120的載具124。當鏡頭模組20設置在承載治具120上時,鏡頭模組20朝向設置於支架組件110上的檢測圖10時,承載治具120上的鏡頭模組20適於對支架組件110上的檢測圖10拍攝影像,鏡頭模組20所拍攝的影像會透過訊號線127、電路組件126、載具124傳遞至控制模組140,以進行分析。
值得一提的是,在一般情況下,訊號線127具有一定的長度,其長度可能為60公分至400公分。然而,鏡頭模組20例如是微型鏡頭模組,相較於訊號線127,鏡頭模組20的尺寸及重量相對小。在本實施例中,鏡頭模組20固定於固定座125上,且將影像中所顯示的檢測圖中心12對位於影像的中心過程中,不移動鏡頭模組20,而是移動檢測圖10進行對位,可有效避免鏡頭模組20因為訊號線127的拉扯而產生位移,進而使控制模組140將鏡頭模組20所拍攝的影像判定為異常。
在本實施例中,控制模組140適於接收到鏡頭模組20所拍攝到的影像,並判斷在影像中所顯示的檢測圖中心12是否對位於影像的中心。
若檢測圖中心12對位於影像的中心,代表鏡頭模組20對位正確,則可進一步檢測影像的品質是否符合標準。若檢測圖中心12不對位於影像的中心,代表鏡頭模組20對位不正確,此時若直接進行檢測影像的品質是否符合標準會有誤判的狀況發生。
為避免上述狀況,反應於影像中所顯示的檢測圖中心12未對位於影像的中心,控制模組140控制支架組件110運動(可沿著第一軸線A1移動與以第一軸線A1為轉動軸轉動、以第二軸線A2為轉動軸轉動與以第三軸線A3為轉動軸轉動),以使檢測圖10對位於鏡頭模組20,以在檢測影像的品質之前,先確保鏡頭模組20對位正確。
圖4A是依照本發明的一實施例的一種影像檢測方法的示意圖。請參閱圖4A,本實施例的影像檢測方法200可應用於圖1的影像檢測系統100,但不以此為限制。影像檢測方法200包括下列步驟。首先,如步驟202,將鏡頭模組20安裝在固定座125上。接著,如步驟204,將固定座125安裝在載具124上。然後,如步驟210,透過鏡頭模組20對檢測圖10拍攝影像。此時,檢測圖10例如是位於標準測試位置P1。鏡頭模組20所拍攝的影像會傳遞至控制模組140(例如是電腦)。接著,步驟220,判斷在影像中所顯示的檢測圖中心12是否對位於影像的中心。
圖4B是影像中所顯示的檢測圖中心未對位於影像的中心的示意圖。請參閱圖4B,影像I1的中心O1與影像I1中所顯示的檢測圖中心12錯開,這代表鏡頭模組20對位不正確。
圖4C是影像中所顯示的檢測圖中心對位於影像的中心的示意圖。請參閱圖4C,影像I2的中心O2與影像I2中所顯示的檢測圖中心12重合,這代表鏡頭模組20對位正確。
在本實施例中,使鏡頭模組20對位的方式是如圖4A的步驟230所示,反應於影像中所顯示的檢測圖中心12未對位於影像的中心,依據影像I1來計算偏移量,並依據偏移量移動檢測圖10的位置。
也就是說,控制模組140會根據鏡頭模組20所拍攝到的影像I1,來計算影像I1的中心O1與影像I1中所顯示的檢測圖中心12之間的偏移量,並依據偏移量來指示支架組件110移動或轉動,以調整檢測圖10的位置。
接著,回到步驟210,透過鏡頭模組20對檢測圖10再度拍攝影像。然後到步驟220,判斷在影像中所顯示的檢測圖中心12是否對位於影像的中心。
若在影像中所顯示的檢測圖中心12還是沒有對位於影像的中心,就再度進行步驟230、步驟210、步驟220的迴圈,直到影像中所顯示的檢測圖中心12對位於影像的中心,以確保之後進行的影像品質檢測是基於鏡頭模組20對位正確之下的結果。
接著,進行步驟240,反應於影像I2中所顯示的檢測圖中心12對位於影像I2的中心O2,對影像I2進行第一影像品質檢測程序。若通過第一影像品質檢測程序,則判定鏡頭模組20為良品。若不通過第一影像品質檢測程序,則判定鏡頭模組20為不良品。最後,如步驟206,將檢測圖10移回標準測試位置P1,以利下一次的測試。
圖5A是依照本發明的另一實施例的一種影像檢測方法的示意圖。請參閱圖5A,本實施例的影像檢測方法200a是針對廣角的鏡頭模組20進行的檢測。廣角的鏡頭模組20所拍攝出的廣角影像,主要是要被檢測中心位置與四個角落的解析度是否符合標準。檢測中心位置的解析度主要運用與圖4A接近的方式(步驟202~步驟240)。此外,透過步驟250~步驟270來檢測廣角影像的各角落的解析度。
具體說明如下,本實施例的影像檢測方法200a包括下列步驟。首先,先檢測中心位置的解析度。如步驟202,將鏡頭模組20安裝在固定座125上。接著,如步驟204,將固定座125安裝在載具124上。然後,如步驟210a,透過鏡頭模組20對位於標準測試位置P1的檢測圖10拍攝影像。鏡頭模組20所拍攝的影像會傳遞至控制模組140(例如是電腦)。接著,步驟220,判斷在影像中所顯示的檢測圖中心12是否對位於影像的中心。
步驟230,反應於影像中所顯示的檢測圖中心12未對位於影像的中心,依據影像來計算偏移量,並依據偏移量移動檢測圖10的位置。步驟240,反應於影像中所顯示的檢測圖中心12對位於影像的中心,對影像進行第一影像品質檢測程序。
再來,檢測廣角影像的各角落的解析度。如步驟250,移動檢測圖10到至少一廣角測試位置。接著,步驟260,對位於至少一廣角測試位置的檢測圖10拍攝至少一廣角影像。
圖5B是在廣角影像中檢測圖中心錯位於廣角影像的中心的示意圖。請參閱圖5B,在廣角影像I3中,至少一廣角測試位置包括多個廣角測試位置P2~P5,標準測試位置P1位於中央,廣角測試位置P2~P5位於四角落。因此,標準測試位置P1位在這些廣角測試位置P2~P5之間。
控制模組140控制支架組件110運動,以移動檢測圖10到廣角測試位置(例如是P2),以供承載治具120上的鏡頭模組20對支架組件110上的檢測圖10拍攝廣角影像I3。由廣角影像I3可見,檢測圖中心12錯位於廣角影像I3的中心O3。接著,步驟270,對所拍攝的廣角影像I3進行第二影像品質檢測程序。
要說明的是,圖5C是習知測試廣角影像的示意圖。請參閱圖5C,若鏡頭20是一般鏡頭或是一般廣角鏡頭,檢測圖10的範圍大於一般鏡頭的視角Z1的範圍。因此,鏡頭20可用檢測圖10來進行測試。然而,若鏡頭20是超廣角鏡頭,檢測圖10的範圍小於超廣角鏡頭的視角Z2的範圍。因此,鏡頭20不能用檢測圖10來進行測試。如圖5C的虛線可見,第一框架111、背光模組130及檢測圖10需加大至虛線範圍,才足以超廣角的鏡頭20進行測試。換句話說,習知測試廣角影像時,需要有特製的設備,需要額外的成本。
圖5D是依據圖5A的影像檢測方法測試廣角影像的示意圖。請參閱圖5D,在本實施例中,由於支架組件110可運動,第一框架111可以轉動,而使檢測圖10轉動至能夠符合超廣角鏡頭的視角Z2的其中一側的範圍(如圖5D的右側),而可拍攝廣角影像來檢測廣角影像中右側的解析度是否符合標準。若要檢測廣角影像中另一側的解析度,則可再度將檢測圖10轉動至能夠符合超廣角鏡頭的視角Z2的另一側的範圍(如圖5D的左側),再拍攝廣角影像來檢測廣角影像中左側的解析度是否符合標準,以此類推。因此,在本實施例中,採用原有的設備即可測試廣角影像,不需針對廣角影像測試來準備特製的設備,大幅減少成本。
在本實施例中,廣角測試位置P2~P5以四角為例,所以控制模組140可控制支架組件110運動,以移動檢測圖10到其中一個廣角測試位置(P2~P5中的至少一者)。舉例而言,檢測圖10依序移動到廣角測試位置P2~P5(例如左上、左下、右上、右下)並逐一拍攝廣角影像,依據四個拍攝廣角影像進行第二影像品質檢測程序。
本發明不限於此,控制模組140可控制支架組件110運動,移動檢測圖10到廣角測試位置P2~P5的其中一者拍攝,並進行第二影像品質檢測程序,再重複此迴圈,直到全部的廣角測試位置所對應的廣角影像都進行第二影像品質檢測程序。
舉例而言,控制模組140控制支架組件110運動,以移動檢測圖10到廣角測試位置P2,拍攝對應的廣角影像,並對廣角影像中對應於廣角測試位置P2的部位進行第二影像品質檢測程序。
再來,控制模組140控制支架組件110運動,以移動檢測圖10到廣角測試位置P3,拍攝對應的廣角影像,並對廣角影像中對應於廣角測試位置P3的部位進行第二影像品質檢測程序。
控制模組140控制支架組件110運動,以移動檢測圖10到廣角測試位置P4,拍攝對應的廣角影像,並對廣角影像中對應於廣角測試位置P4的部位進行第二影像品質檢測程序。
控制模組140控制支架組件110運動,以移動檢測圖10到廣角測試位置P5,拍攝對應的廣角影像,並對廣角影像中對應於廣角測試位置P5的部位進行第二影像品質檢測程序。
控制模組140可逐一檢測這些廣角影像在四角的影像品質,若鏡頭模組20通過第二影像品質檢測程序,則判定良品。若鏡頭模組20不通過第二影像品質檢測程序,則判定不良品。
在其他實施例中,若檢測圖10是上下方向較長,而囊括圖5B中的廣角測試位置P2與P3(或是P4與P5)的長型圖,在這樣的實施例中,廣角測試位置也可以是左右側的兩個位置。
也就是說,控制模組140控制支架組件110運動,以移動檢測圖10到左側的廣角測試位置,拍攝對應的廣角影像,並對廣角影像中對應於左側的廣角測試位置的部位(左上角與左下角)進行第二影像品質檢測程序。
再來,控制模組140控制支架組件110運動,以移動檢測圖10到右側的廣角測試位置,拍攝對應的廣角影像,並對廣角影像中對應於右側的廣角測試位置的部位(右上角與右下角)進行第二影像品質檢測程序。最後,如步驟206,將檢測圖10移回標準測試位置P1,以利下一次的測試。
本實施例的影像檢測方法是以檢測圖10主動對位的機制代替傳統以鏡頭模組20對位而檢測圖10靜止的方式。檢測圖10本身安裝於具有運動能力的支架組件110上,支架組件110可依照系統需求移動或旋轉。鏡頭模組20安置於承載治具120上,承載治具120可依據系統的其他需求增加可運動的功能,並依照系統指令運動。
應用於超廣角檢測時,無須特製大型或球型測試圖,只需移動或旋轉檢測圖10,搭配鏡頭模組20的位置調整,即可量測到廣角影像。若鏡頭模組20的光軸存在對位偏差的狀況時,可由鏡頭模組20所擷取的影像來判斷偏差量,以根據偏差量來移動或轉動檢測圖10來達成精確對位。應用於微型光學裝置時,鏡頭模組20無須移動,可避免訊號線127的應力牽扯,造成鏡頭模組20歪斜,影響檢測品質。
圖6是依照本發明的另一實施例的一種影像檢測方法的示意圖。請參閱圖6,本實施例的影像檢測方法200b可包括髒點測試的應用,影像檢測方法200b可包括前述的步驟202至步驟240,並在之後進行步驟280,將鏡頭模組20移動到拍攝畫面內不包含檢測圖10的位置,以拍攝白畫面影像。步驟282,對白畫面影像進行第三影像品質檢測程序。第三影像品質檢測程序例如是檢測白畫面影像上是否出現髒點,以檢測鏡頭模組20上是否有灰塵。在拍攝完白畫面影像之後,可在將鏡頭模組20移回原位。最後,如步驟206,將檢測圖10移回標準測試位置P1,以利下一次的測試。
綜上所述,本發明的影像檢測裝置的支架組件可活動地設置,且檢測圖適於設置在支架組件上。支架組件可帶動檢測圖運動,以使檢測圖對位於設置在承載治具上的鏡頭模組。因此,支架組件可帶動檢測圖運動,來使檢測圖對位於鏡頭模組,降低鏡頭模組因被訊號線拉扯偏移而被誤判的機率。此外,本發明的影像檢測裝置的支架組件可帶動檢測圖運動,只需要將一般尺寸的檢測圖移到對應於廣角影像中的角落位置,即可測試到此位置的解析度,不需使用大尺寸的檢測圖,相當節省成本。
A1:第一軸線
A2:第二軸線
A3:第三軸線
A4:光軸方向
I1、I2:影像
I3:廣角影像
O1、O2、O3:中心
P1:標準測試位置
P2~P5:廣角測試位置
X、Y、Z:座標
Z1、Z2:視角10、10a:檢測圖
12:檢測圖中心
20:鏡頭模組
100:影像檢測系統
105:影像檢測裝置
110、110a:支架組件
111、111’:第一框架
111a:軸桿
112、112a:第二框架
113a:第三框架
114:第一驅動模組
115:第二驅動模組
116:第三驅動模組
116a:皮帶
117:第四驅動模組
118:基座120:承載治具
121:滑軌
122:第一滑柱
123:第二滑柱
124:載具
125:固定座
126:電路組件
127:訊號線
130:背光模組
140:控制模組
200、200a、200b:影像檢測方法
202~282:步驟
圖1是依照本發明的一實施例的一種影像檢測系統的示意圖。
圖2A是圖1的影像檢測系統的其他視角的示意圖。
圖2B是圖1的影像檢測系統的其他視角的示意圖。
圖2C是依照本發明的一實施例的一種影像檢測系統的示意圖。
圖2D是圖2C的影像檢測系統的其他視角的示意圖。
圖3是圖1的影像檢測系統的承載治具的局部示意圖。
圖4A是依照本發明的一實施例的一種影像檢測方法的示意圖。
圖4B是影像中所顯示的檢測圖中心未對位於影像的中心的示意圖。
圖4C是影像中所顯示的檢測圖中心對位於影像的中心的示意圖。
圖5A是依照本發明的另一實施例的一種影像檢測方法的示意圖。
圖5B是在廣角影像中檢測圖中心錯位於廣角影像的中心的示意圖。
圖5C是習知測試廣角影像的示意圖。
圖5D是依據圖5A的影像檢測方法測試廣角影像的示意圖。
圖6是依照本發明的另一實施例的一種影像檢測方法的示意圖。
A2:第二軸線
A3:第三軸線
A4:光軸方向
X、Y、Z:座標
10:檢測圖
20:鏡頭模組
100:影像檢測系統
105:影像檢測裝置
110:支架組件
111:第一框架
112:第二框架
113:第三框架
114:第一驅動模組
116:第三驅動模組
117:第四驅動模組
120:承載治具
121:滑軌
122:第一滑柱
123:第二滑柱
124:載具
125:固定座
130:背光模組
140:控制模組
Claims (18)
- 一種影像檢測裝置,適於供一檢測圖設置且適於檢測一鏡頭模組的影像品質,該影像檢測裝置包括:一支架組件,可活動地設置,且該檢測圖適於設置在該支架組件上;以及一承載治具,設置於該支架組件旁,且適於承載該鏡頭模組,當該鏡頭模組設置在該承載治具上時,該鏡頭模組朝向設置於該支架組件上的該檢測圖,其中該支架組件適於帶動該檢測圖運動,以使該檢測圖對位於設置在該承載治具上的該鏡頭模組,該支架組件包括一第一框架、驅動於該第一框架的一第一驅動模組及一第二驅動模組,該第一驅動模組適於使該第一框架以一第一軸線為轉動軸轉動,該第二驅動模組適於使該第一框架沿該第一軸線移動,且該第一軸線平行於該鏡頭模組的一光軸方向。
- 如請求項1所述的影像檢測裝置,其中該支架組件包括一第二框架及驅動於該第二框架的一第三驅動模組,該第三驅動模組適於使該第二框架以一第二軸線為轉動軸轉動,且該第二軸線正交於該第一軸線,其中該第一框架設置於該第二框架上。
- 如請求項2所述的影像檢測裝置,其中該支架組件包括一第三框架及驅動於該第三框架的一第四驅動模組,該第四驅動模組適於使該第三框架以一第三軸線為轉動軸轉動,且該第三 軸線正交於該第一軸線及該第二軸線,其中該第二框架設置於該第三框架上。
- 如請求項1所述的影像檢測裝置,其中該承載治具沿著一第二軸線與一第三軸線可移動地設置,且該第三軸線正交於該第一軸線及該第二軸線。
- 如請求項1所述的影像檢測裝置,其中該承載治具包括一電路組件以及一固定座,其中該鏡頭模組透過一訊號線電連接該電路組件,且該固定座夾固該鏡頭模組與該訊號線。
- 如請求項1所述的影像檢測裝置,更包括一背光模組,可拆卸地設置於該支架組件上,該檢測圖適於設置在該背光模組上,且位在該背光模組與該承載治具之間。
- 一種影像檢測方法,包括:透過一鏡頭模組對一檢測圖拍攝一影像;判斷在該影像中所顯示的一檢測圖中心是否對位於該影像的一中心;反應於該影像中所顯示的該檢測圖中心未對位於該影像的該中心,依據該影像來計算一偏移量,並依據該偏移量以一第一軸線為轉動軸轉動或沿該第一軸線移動該檢測圖的位置,且該第一軸線平行於該鏡頭模組的一光軸方向;反應於該影像中所顯示的該檢測圖中心對位於該影像的該中心,對該影像進行一第一影像品質檢測程序。
- 如請求項7所述的影像檢測方法,其中在該第一影像品質檢測程序中,該檢測圖位於一標準測試位置,更包括:移動該檢測圖到至少一廣角測試位置;對該檢測圖拍攝至少一廣角影像,其中於各該廣角影像中,該檢測圖中心錯位於該廣角影像的一中心;以及對該至少一廣角影像中的每一者進行一第二影像品質檢測程序。
- 如請求項8所述的影像檢測方法,其中該至少一廣角測試位置包括多個廣角測試位置,該標準測試位置在該些廣角測試位置之間。
- 如請求項7所述的影像檢測方法,更包括:將該鏡頭模組移動到拍攝畫面內不包含該檢測圖的位置,以拍攝一白畫面影像;以及對該白畫面影像進行一第三影像品質檢測程序。
- 一種影像檢測系統,適於供一檢測圖設置且適於檢測一鏡頭模組的影像品質,該影像檢測系統包括:一支架組件,可活動地設置,且該檢測圖適於設置在該支架組件上;一承載治具,設置於該支架組件旁,且適於承載該鏡頭模組,當該鏡頭模組設置在該承載治具上時,該鏡頭模組朝向設置於該支架組件上的該檢測圖且電性連接該承載治具;以及一控制模組,電性連接於該承載治具,其中 該承載治具上的該鏡頭模組適於對該支架組件上的該檢測圖拍攝一影像,該控制模組適於接收到該影像並判斷在該影像中所顯示的一檢測圖中心是否對位於該影像的一中心,反應於該影像中所顯示的該檢測圖中心未對位於該影像的該中心,該控制模組控制該支架組件以一第一軸線為轉動軸轉動或沿該第一軸線移動,且該第一軸線平行於該鏡頭模組的一光軸方向,以使該檢測圖對位於該鏡頭模組。
- 如請求項11所述的影像檢測系統,其中該控制模組控制該支架組件運動,以移動該檢測圖到至少一廣角測試位置,以供該承載治具上的該鏡頭模組對該支架組件上的該檢測圖拍攝至少一廣角影像。
- 如請求項11所述的影像檢測系統,其中該支架組件包括一第一框架、驅動於該第一框架的一第一驅動模組及一第二驅動模組,該控制模組電性連接於該第一驅動模組及該第二驅動模組,該第一驅動模組適於使該第一框架以該第一軸線為轉動軸轉動,該第二驅動模組適於使該第一框架沿該第一軸線移動。
- 如請求項13所述的影像檢測系統,其中該支架組件包括一第二框架及驅動於該第二框架的一第三驅動模組,該控制模組電性連接於該第三驅動模組,該第三驅動模組適於使該第二框架以一第二軸線為轉動軸轉動,且該第二軸線正交於該第一軸線,其中該第一框架設置於該第二框架上。
- 如請求項14所述的影像檢測系統,其中該支架組件包括一第三框架及驅動於該第三框架的一第四驅動模組,該控制模組電性連接於該第四驅動模組,該第四驅動模組適於使該第三框架以一第三軸線為轉動軸轉動,且該第三軸線正交於該第一軸線及該第二軸線,其中該第二框架設置於該第三框架上。
- 如請求項13所述的影像檢測系統,其中該承載治具沿著一第二軸線與一第三軸線可移動地設置,且該第三軸線正交於該第一軸線及該第二軸線。
- 如請求項11所述的影像檢測系統,其中該承載治具包括一電路組件以及一固定座,該鏡頭模組透過一訊號線電連接該電路組件,且該固定座夾固該鏡頭模組與該訊號線。
- 如請求項11所述的影像檢測系統,更包括一背光模組,可拆卸地設置於該支架組件,該檢測圖適於設置在該背光模組上,且位在該背光模組與該承載治具之間。
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US5726749A (en) * | 1996-09-20 | 1998-03-10 | Libbey-Owens-Ford Co. | Method and apparatus for inspection and evaluation of angular deviation and distortion defects for transparent sheets |
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CN104913721A (zh) * | 2015-06-17 | 2015-09-16 | 上海工程技术大学 | 一种工业视觉传感器检测的实验装置 |
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-
2021
- 2021-07-05 TW TW110124584A patent/TWI792386B/zh active
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