TWI792264B - 用以將裝置介面之校準資料儲存於測試系統中之方法、裝置介面、測試系統及電腦程式 - Google Patents

Abstract

本文描述一種用以測試一個或多個受測裝置的測試系統，包含一個或多個通道模組及一裝置介面。其中，至少校準資料之第一部分的資訊儲存在與一個或多個通道模組相關聯之非依電性記憶體上，而至少校準資料之第二部分的資訊儲存在與裝置介面相關聯之非依電性記憶體上。本文亦描述對應方法及電腦程式。

Description

用以將裝置介面之校準資料儲存於測試系統中之方法、裝置介面、測試系統及電腦程式

依據本發明之實施例係有關於一種用以儲存測試系統中裝置介面用校準資料之方法。測試系統亦可稱為自動化測試設備。

依據本發明之進一步實施例係有關於包含一個或多個通道模組及一裝置介面的測試系統。

依據本發明之進一步實施例係有關於用於測試系統之裝置介面。

依據本發明之進一步實施例係有關於個別電腦程式。

依據本發明之實施例係有關於儲存用以使用測試系統的校準資料於不同部分。

在下文中，將提供對一些傳統解決方案之介紹。

自動化測試設備(ATE)係對習稱受測裝置(DUT)之裝置執行測試之任何器具，其使用自動化以快速地執行量測及評估測試結果。自動化測試設備可為簡單電腦控制數位多功能電表，或含有數十個複合測試裝備之複雜系統(真實或模擬之電子測試設備)，其有能力自動地測試及診斷在精密電子封裝部件或晶圓測試中之故障，該等部件或晶圓測試包括晶片上系統及積體電路。受測裝置係經由受測裝置介面或簡稱之裝置介面，連接至自動化測試設備。

結構測試使涵蓋多個個別結構(所謂之胞元)之系統性測試可行，此等結構在單晶片系統(SOC)中實行數位區塊之複合功能。結構測試包括多種測試方法，包括但不限於記憶體內建自測(BIST)、邏輯BIST(晶片上生成樣式)及掃描測試(外部提供樣式)。個別測試被結合成測試區塊：例如掃描測試係階層式地應用到多個區塊中(串列或並列)。

先進結構測試方法應用了外部提供測試資料(來自自動化測試設備[ATE]之刺激)及用於測試之晶片上裝置(DFT)的結合，將外部提供測試資料(所謂之種子)擴展成多個掃描鏈。測試結果被壓緊且壓縮成縮減數量的測試資料以提供給SOC之主要輸出-輸入介面(IO)。該資料稱為接收資料，且由ATE拿來與預期資料作比較。接收資料亦可被ATE掩蔽。

DFT有時亦稱為測試用設計或可測試性用設計，通常由將可測試性特徵添加至硬體產品設計或裝置(即DUT)中的積體電路設計技術組成。添加之特徵使對於DUT測試之開發及應用更容易。

以下提及之掃描測試係為前述結構測試之一般性陳述。

為了得到來自在裝置介面上之受測裝置的有效結果，該裝置介面需被校準，而使從訊號產生器(SG)至位於裝置介面上之受測裝置的個別傳輸路徑，不會對受測裝置之測試結果導致額外的不想要變化。也就是說為了改進測試結果，訊號之傳輸路徑必須被補償。

圖1顯示測試系統之先前技術細節，特別是傳輸路徑。其中，通道模組100包含訊號產生器(SG)110，該訊號產生器經由傳輸路徑，舉例來說纜線120，將訊號送至在DUT介面130上之受測裝置。

儘管圖1顯示測試系統，在此系統中一通道模組生成待送至受測裝置之訊號。同樣地，但並未被描繪，從受測裝置至通道模組上之訊號接收器的傳輸路徑可在測試系統中被補償，其中一通道模組接收來自受測裝置的資料。

圖2顯示裝置介面210、測試頭220及測試器主機230，其可在一種示範性配置中構成整個測試系統。在先前技術中，完整校準資料係儲存於例如測試器主機中。

然而，隨著新製程使得SOC之複雜度增加，對於有成本效益地擴大掃描測試，係具有挑戰的。

一個挑戰是需儲存在ATE上之測試資料的數量逐漸增加。另一挑戰是經SOCIO供給測試資料之測試時間逐漸增加。另外，晶片上複雜度增加，對於分配測試資料之至多個受測區塊以及建立所需時鐘信號，是有挑戰性的。

此外，複雜SOC之品質及可靠度期望，要求在SOC部署於終端應用中時，例如部署於汽車或通訊基礎建設系統中時，進行結構測試。

傳統上，校準資料僅包括每一傳輸路徑之傳播延遲資訊。然而，在最近的高速介面中，傳輸路徑頻率可能遠超過5千兆赫茲(GHz)，為了補償傳輸路徑上之損耗，傳輸路徑之頻率特性資訊亦應包括在校準資訊中。

鑒於此情況，當以自動化測試設備測試受測裝置時，在要儲存之資料、處理速度及測試的品質及可靠度之間，希望有一種提供改進之折衷的概念方案。

本發明實現了校準資料改進儲存方式、縮減校準時間以及讓用於高速數位介面之測試可改進。

依據本發明之一實施例係一種用以儲存測試系統中裝置介面用校準資料之方法。如此之系統包含一個或多個通道模組及一裝置介面。

該方法包含將至少校準資料之第一部份的資訊儲存在與一個或多個通道模組相關聯之非依電性記憶體上，及將至少校準資料之第二部份的資訊儲存在與裝置介面相關聯之非依電性記憶體上。

已經發現有益的是，如果校準資料分成兩部分，而使可能彼此分開的通道模組及裝置介面等等各部分可個別校準，因此各部分具有自己的校準資料，該等校準資料可分開儲存。所以舉例來說，如果裝置介面被交換，由其裝配成之系統不用整體進行校準，而是可藉由出廠前之校準得知各部分之校準資料，且兩部分之校準資料可被結合。

在一較佳實施例中，該方法可進一步包含儲存至少校準資料之第三部分的資訊在與一附接件相關聯之非依電性記憶體上，該附接件位於一個或多個通道模組及裝置介面之間。

已發現有益的是，在測試系統中，附接件位於通道模組及裝置介面之間，該附接件連接裝置介面至測試系統的其餘部件，附接件被個別地校準。因此附接件替換時不需要重新校準測試系統。

在該方法的一較佳實施例中，校準資料之第一部分、第二部分及/或第三部分的個別資訊分別為相關聯之一個或多個通道模組、裝置介面及附接件的記憶體位址及識別碼，並且其中該方法進一步包含將校準資料以該記憶體位址儲存於儲存裝置中。

已發現有益的是，非依電性記憶體僅將一記憶體位址儲存作為校準資料之資訊，而實際校準資料係以此記憶體位址儲存於一儲存裝置中。從而針對個別部分之非依電性記憶體的大小即可縮減。

依據本發明之另外實施例，係一種包含一個或多個通道模組及一裝置介面之測試系統，其中至少校準資料之第一部分的資訊儲存在與該一個或多個通道模組相關聯之非依電性記憶體上，及至少校準資料之第二部分的資訊儲存在與該裝置介面相關聯之非依電性記憶體上。

依據本發明之另外實施例，係一種用於測試系統之裝置介面，該測試系統進一步包含一個或多個通道模組，其中至少校準資料之第一部分的資 訊係儲存在與該一個或多個通道模組相關聯之非依電性記憶體上，以及至少校準資料之第二部分的資訊係儲存在與該裝置介面相關聯之非依電性記憶體上。

在一較佳實施例中，在前述兩器具實施例中之測試系統可進一步包含位於該一個或多個通道模組及裝置介面之間的附接件，其中至少對應於附接件之校準資料之第三部分的資訊係儲存在與附接件相關聯之非依電性記憶體上。

在一較佳實施例中，在前述兩器具實施例中之測試系統中，校準資料之第一部分、第二部分及/或第三部分的個別資訊可分別為相關聯之一個或多個通道模組、裝置及附接件的一記憶體位址及一識別碼，且校準資料可於該記憶體位址儲存在一儲存裝置中。

對前述兩器具實施例，適用針對方法實施例的相同考量。

下列特徵適用於前述所有實施例。

在一較佳實施例中，校準資料之第一部分可為對應於該一個或多個通道模組之資料。校準資料之第二部分可為對應於裝置介面之資料。校準資料之第三部分可為對應於附接件之資料。

已經發現有益的是，如果各通道模組及/或裝置介面及/或附接件個別校準，替換時便不需要重新校準。

在一較佳實施例中，裝置介面可為高速數位介面。

已經發現有益的是，如前面所陳述，本發明對於傳輸路徑頻率遠超過5千兆赫茲之高速介面特別有用。

在一較佳實施例中，校準資料可含有用以從該一個或多個通道模組傳輸訊號至裝置之組件之頻率特性的資訊。

已經發現有益的是，頻率特性包括在校準資料中，而使耗損可被補償。

在一較佳實施例中，校準資料可包含至少兩個濾波器，該等濾波器描述頻率特性。

已經發現有益的是，頻率特性以濾波器之形式包括在校準資料中。

在一較佳實施例中，校準資料之第一部分可為第一濾波器，及校準資料之第二部分可為第二濾波器。校準資料之第三部分可為第三濾波器。

已經發現有益的是，此等濾波器可彼此不同，使得能夠更有效地儲存頻率特性。

在一較佳實施例中，濾波器可為補償濾波器。

已經發現有用的是，濾波器為補償濾波器，從而能夠更容易把頻率特性包括在校準資料中。

在一較佳實施例中，校準資料可包含描述頻率特性之傳輸函數。

已經發現對校準資料儲存之效率有益的是，將頻率特性描述成傳輸函數。

在一較佳實施例中，校準資料可包含數位濾波器之分接頭係數、傅立葉級數及/或雙埠網路模型中之一者或多者。

已經發現對校準資料之儲存有益的是，校準資料包含數位濾波器之分接頭係數、傅立葉級數及/或雙埠網路模型。

在一較佳實施例中，各校準資料可藉由時域之卷積、頻域之乘積及/或雙埠網路之級聯雙埠網路來統合。

已經發現對校準資料之儲存效率有益的是，校準資料舉例來說，藉由時域之卷積、頻域之乘積及/或雙埠網路之級聯雙埠網路，予以統合。

在一較佳實施例中，與該一個或多個通道模組相關聯之非依電性記憶體可在個別通道模組上。與裝置介面相關聯之非依電性記憶體可在裝置介面上。及/或與附接件相關聯之非依電性記憶體可在附接件上。

已經發現有益的是，儲存一部件(即通道模組、裝置介面及/或附接件)之校準資料的非依電性記憶體，位於個別部件上。

在一較佳實施例中，任一資訊可採加密形式儲存。

已經發現有益的是，所儲存之資訊係加密儲存。從而可增加安全性。

在一較佳實施例中，該一個或多個通道模組可包含訊號產生器或訊號接收器。

已經發現有益的是，用於測試系統所執行測試的訊號產生器及/訊號接受器位於通道模組上。從而測試即可進一步最佳化。

在一較佳實施例中，裝置可為用以校準測試系統之校準模組。

已經發現有益的是，特殊校準模組(或校準裝置)可用於在裝置介面上。以如此之安排，可便利通道模組及裝置介面之校準。

所有實施例係基於與用以儲存校準資料之前述方法相同的考慮。然而，應注意，所有實施例可輔以本文描述之任何特徵、功能及細節，特別是前述之特徵。再者，每一實施例可輔以本文描述之諸項特徵、功能及細節，單獨地及組合地均可。

依據本發明之另一實施例為一種運行在電腦上時用以執行本文所述之方法的電腦程式。

110:訊號產生器(SG)

120:纜線

130:DUT介面

210:裝置介面

220:測試頭

230:測試器主機

300:資訊結構；校準資料

500,700:校準資料

310:第一部分

320:第二部分

330:第三部分

400,600,800:測試系統

100,410:通道模組

420:裝置介面；受測裝置介面

430,440,450:非依電性記憶體

460:訊號產生器；產生器

465:訊號接收器；接收器

470:附接件

900:方法

910、920、930、940:步驟

接著將參照附圖描述依據本發明之諸實施例，其中：圖1顯示依據先前技術之一自動化測試設備的示意圖；圖2顯示依據先前技術之一自動化測試設備的示意圖；圖3顯示依據本發明之一實施例之資訊結構的方塊示意圖；圖4顯示依據本發明之一實施例之自動化測試設備的方塊示意圖； 圖5顯示依據本發明之另一實施例之資訊結構的方塊示意圖；圖6顯示依據本發明之另一實施例之自動化測試設備的方塊示意圖；圖7顯示依據本發明之另一實施例之資訊結構的方塊示意圖；圖8顯示依據本發明之另一實施例之自動化測試設備的方塊示意圖；以及圖9顯示依據本發明之一實施例之方法的流程圖。

在圖式中，相似之參照符號代表相似之元件及特徵。

大體來說，依據本發明之實施例的自動化測試設備，或測試系統400、600及800，係用以測試一個或多個受測裝置(DUT)，該等受測裝置經由裝置介面420連接至測試系統。

該等受測裝置，例如藉由提供測試資料給受測裝置，且以各種方式從受測裝置接收測試結果，而接受測試。測試受測裝置需要在測試系統及受測裝置間作雙向之資料傳輸。這些傳輸中之一些資料係經由裝置介面來傳輸。

該資料可提供測試資料、測試訊號、測試程式給受測裝置，而且該資料可為測試系統接收之資料，或其經處理版本，亦即提供給受測裝置之資料係以該資料為基礎的資料。或者，該資料亦可表示來自受測裝置且是受測裝置在測試後送回測試系統之預期訊號或預期結果。該資料亦可為預期資料或需要在測試系統中處理，使得該預期資料係以測試系統所接收資料為基礎的資料。

前述實施例之任何組合亦為可能的，因為提供給一個或多個受測裝置之資料可為前文詳述選項之組合。

圖3顯示依據本發明之一實施例之資訊結構300的方塊示意圖。其表示校準資料之資訊。在圖3中，資訊由兩部分組成，亦即第一部分310及第二部分320。

圖4顯示依據本發明之一實施例之自動化測試設備或測試系統400 的方塊示意圖。測試系統400包含一個或多個通道模組410及一裝置介面420。裝置介面420作用係連接至一裝置，其即為受測裝置，該受測裝置由測試系統400來測試。或者，裝置介面可用以連接為了校準目的之校準模組(圖中未顯示)。

雖然只有一通道模組描繪在圖中，但該測試系統可包含多重通道模組410。熟於此技者可輕易將本發明調適用於其他通道模組。

校準資料300之第一部分310係儲存在非依電性記憶體430上。如稍後將討論之內容，非依電性記憶體可位於不同部分上。在圖4中，其位於裝置介面上。其亦可位於通道模組410中之一者或多者上，以及稍後介紹之附接件470上(如果附接件存在的話)。非依電性記憶體430係與一個或多個通道模組410相關聯。另外，校準資料300之第二部分320係儲存於與受測裝置介面420相關聯之非依電性記憶體430上。

校準資料之第一部分310可為對應於該一個或多個通道模組之資料。這意味該第一部分係描述有關個別通道模組之校準資訊。校準資料之第二部分320可為對應於受測裝置介面420之資料。這意味該第二部分係描述有關裝置介面之校準資訊。

受測裝置介面420可為用於具有高速能力之受測裝置的高速數位介面。

校準資料可進一步含有用以從一個或多個通道模組410傳輸訊號至受測裝置之組件的頻率特性之資訊。明確地，本發明同樣可運用於其他方向，即用於從受測裝置傳輸至通道模組410的訊號。在第一種情況中，通道模組可包含訊號產生器460，如圖4和圖6中可見，以及在第二種情況中，通道模組410可包含訊號接收器465，如圖8中可見。儘管個別圖式顯示本發明諸實施例之不同安排，通道模組410可在特徵的任一組合(即任一實施例)中包含訊號產生器460及/或訊號接收器465。

校準資料可包含至少兩個濾波器，此等濾波器描述頻率特性，其中舉例來說，校準資料之第一部分310係第一濾波器，以及校準資料之第二部分320係第二濾波器。不過，如果適用，第一部分及第二部分可為相同之濾波器。

作為一實例，第一濾波器僅含有涉及通道模組之資訊，而第二濾波器僅含有關於裝置介面之資訊。在運送給客戶之前，必需資訊(即校準資料)可在製造上述通道模組及裝置介面(即測試系統)的工廠裡量測。

各組件舉例來說，可藉由諸如網路分析器或示波器之設備來量測，以及將獲得之頻率回應傳遞至適當的參數並且儲存至對應非依電性記憶體中。這意味校準資料原始係屬於各組件之個別資料。

作為一種可能性，濾波器可為所謂的補償濾波器。校準資料可進一步包含傳輸函數，其描述測試系統400之個別部件的頻率特性。作為進一步實例，校準資料可含有數位濾波器之分接頭係數、傅立葉級數及/或雙埠網路模型。所有這些被用來描述測試系統400之個別部件的校準資訊。

校準資料，或其一些部分，亦可被統合。舉例來說，如此之統合可基於時域之卷積、頻域之乘積及/或雙埠網路之級聯雙埠網路。

總結來說，如圖3所示，校準資料300被分成兩個部分。舉例來說，校準資料之第一部分310可為例如對應於通道模組410之一補償濾波器。其亦可包括圖4、6及8中所示之纜線。舉例來說，校準資料之第二部分320可為例如對應於裝置介面420之一補償濾波器。

大體來說，校準資料之部分(即例如濾波器)係為如稍後所顯示地構成從訊號產生器460至受測裝置、或從受測裝置至訊號接收器465之訊號路徑的組件之頻率特性的描述。

該頻率特性可能被儲存為傳輸函數之形式而非補償濾波器之形式，因為兩者為數學上等效之資訊但是可互換。

該資訊可能有數位濾波器之分接頭係數、傅立葉級數及/或一雙埠網路模型的形式。

該等資料部分(舉例來說濾波器)之各者可藉由以下手段來統合：如果濾波器以時域來描述即藉由卷積來統合，如果濾波器以頻域來描述即藉由乘積來統合，或如果濾波器被描述為雙埠網路即藉由級聯雙埠網路來統合。

舉例來說，校準資料之第二部分320(舉例來說濾波器)的資訊，係儲存於如圖4所示之在裝置介面上的非依電性記憶體430中。

圖6顯示依據本發明之另一實施例之自動化測試設備的方塊示意圖。如前所指出，在圖6中可見多個非依電性記憶體(430、440、450)。與測試系統400所述相同者，大致亦適用於測試系統600。在圖6中由此表明測試系統600之各部件(即通道模組410、裝置介面420及附接件470)可分別包含其自己的非依電性記憶體430、440、及450。從而個別校準資料可儲存於其所屬測試系統的實際部件上。

對應之圖5顯示依據本發明之另一實施例之資訊結構的方塊示意圖。

如圖5所示，校準資料可分成兩個以上部分。舉例來說，校準資料可被分成對應於裝置介面420、附接件470及通道模組410的三個部分。

在這實施例中，顯示了與該一個或多個通道模組410相關聯之非依電性記憶體440可位於個別通道模組上。與受測裝置介面420相關聯之非依電性記憶體430可位於該裝置介面上。

測試系統600可進一步包含附接件470，其可位在該一個或多個通道模組410及裝置介面420之間。然後，校準資料可含有對應於附接件之校準資料的第三部分330。這第三部分330即可儲存於與附接件相關聯之非依電性記憶體430、440、450上。再者，此非依電性記憶體可設在附接件470自身上，但亦 可在一個或多個通道模組410上，或在裝置介面420上。

圖7顯示依據本發明之另一實施例之資訊結構的方塊示意圖，而圖8顯示依據本發明之另一實施例之一自動化測試設備的方塊示意圖。

在這實施例中，示出在測試系統800中，該一個或多個通道模組410可不僅包含如圖4及圖6所示之訊號產生器460，而且包含一訊號接收器465。如之前所陳述，這些構件(即產生器460及接收器465)之組合在本發明之各個實施例中亦屬可行。

因此，本發明亦適用於接收器訊號路徑，其中一個或多個通道模組410包含有訊號接收器465。

另外，裝置可為用以校準測試系統400、600及800之校準模組(圖中未顯示)。因此，本發明亦適用於受測裝置被校準測試系統本身的校準模組替換的情況。

另外注意到的是，亦對於所有實施例，校準資料之第一部分310、第二部分320及/或第三部分330的個別資訊亦可僅涉及相關聯裝置之一記憶體位址及一識別碼。再次地，相關聯裝置係為一個或多個通道模組410、裝置介面420或附接件470。

然後校準資料可用該記憶體位址儲存於一儲存裝置中。此儲存裝置可位於測試器主機中，或在任一其他可存取的記憶體位置中。藉由已知技術中之一者，可經由有線連接或無線連接來存取此記憶體位置。

記憶體位址描述了校準資料之實際位置。由於因此僅有位址被儲存於個別的非依電性記憶體(430、440、及450之一)中，儲存大小即可縮減。

位址儲存在非依電性記憶體(430、440、及450之一)中之記憶體，可為測試系統或測試器主機的一部份，或連接至測試系統或測試器主機。如果該記憶體連接至測試系統或測試器主機，該連接可藉由有線或無線資料連接來 實現。

也就是說，非依電性記憶體(430、440、及450之一)可能僅具有一識別資訊(ID)，且該資訊部分(例如濾波器資訊)可能經由網路儲存於諸如外部伺服器的其他儲存空間中。

一實施例直接地且單獨地涉及如前述之裝置介面420，其係測試系統之一個別部分，其從而可含有自身之校準資料。然而要注意的是，裝置介面420亦可由此處所描述之重要重點跟態樣來修改。這些亦既可個別使用、或組合使用，並且可個別或組合地引入本案所述之裝置介面420中。

圖9顯示依據本發明之一實施例之方法的流程圖。

方法900係用以如前述於測試系統400、600、800中儲存裝置介面之校準資料之方法。該方法包含于步驟910將至少該校準資料之第一部份的資訊儲存在與該一個或多個通道模組相關聯之非依電性記憶體上，以及于步驟920將至少該校準資料之第二部份的資訊儲存在與該裝置介面相關聯之非依電性記憶體上。

方法900進一步非必要之選擇性步驟在圖9中以虛線標示。

如果測試系統400、600、800包含有附接件470，方法900可進一步包含于步驟930將至少對應於附接件之該校準資料之第三部分的資訊儲存在與附接件相關聯之非依電性記憶體上。

此外，與所有可能的實施例一樣，儲存之資訊可被加密。

此外，在校準資料之第一部分、第二部分及/或第三部分的個別資訊分別為相關聯之一個或多個通道模組、裝置介面及附接件的記憶體位址及識別碼的情況下，方法900可進一步包含于步驟940將校準資料以該記憶體位址儲存於儲存裝置中。

該方法係基於與前述之測試系統相同的考慮。然而，應注意該方 法可補充以本案描述之諸特徵、功能及細節中任一者，亦可補充以關於該測試系統之諸特徵、功能及細節中任一者。再者，該方法可單獨地及組合地補充以該測試系統之諸特徵、功能及細節。

依據本發明之一實施例創建用以于運行在電腦上時，執行本案所述方法的電腦程式。

配合本發明，校準資料(即濾波器資訊)可包括在其組件自身中。這特徵改善了校準資料可攜性。另外，總資料(即濾波器之資料)可用相對小之計算成本來生成。且最後，當組件被更換時，測試系統或其組件中之任一者皆不需重新校準。

結論：總而言之，本案所述之實施例可選擇性地補充以此文所描述之任何重要重點跟態樣。然而，應注意，此處所描述之重要重點跟態樣可個別使用，或組合使用，並且可個別或組合地引入本案所述之任何實施例中。

替代實施型態：雖然一些態樣已在器具之情境下描述，顯然這些態樣亦表達了對應方法之描述，其中區塊或裝置對應於方法步驟或方法步驟之特徵。類似地，在方法步驟之情境下描述的態樣亦表達出對應器具之對應區塊或項目或特徵的描述。一些或全部的方法步驟可由(或使用)像是例如微處理機、可程式電腦或電子電路之硬體器具來執行。在一些實施例中，最重要方法步驟中之一或多者或可由如此之器具來執行。

取決於某些實行需求，本發明之實施例可用硬體或軟體實施。可使用儲存有可電子式讀取之控制訊號的數位儲存媒體，例如軟碟片、DVD、Blu-Ray、CD、ROM、PROM、EPROM、EEPROM或快閃記憶體，來執行實施，該等控制訊號與可程式電腦系統協作(或能與可程式電腦系統協作)以執行個別方法。因此，該數位儲存媒體可為電腦可讀型。

一些依據本發行之實施例包含具有可電子式讀取的控制訊號之資 料載體，該等控制訊號能與可程式電腦協作以執行本案所述方法中之一者。

大體來說，本發明之實施例可作為具有程式碼之電腦程式產品來實行，該程式碼在該電腦程式產品在電腦上運行時，能操作用以執行該等方法中之一者。該程式碼例如可儲存在機器可讀載體上。

其他實施例包含儲存於機器可讀載體上用以執行本案所述方法中之一者的電腦程式。

也就是說，因此，本發明方法之一實施例係為具有程式碼的電腦程式，該程式碼于該電腦程式運行在電腦上時用以執行本案所述方法之一。

本發明方法之一另外實施例因此係為資料載體(或數位儲存媒體，或電腦可讀媒體)，其包含有紀錄在其上之用以執行本案所述方法之一的電腦程式。該資料載體、數位儲存媒體或記錄媒體通常係有形及/或非暫時性。

本發明方法之一進一步實施例因此係為表現用以執行本案所述方法之一的該電腦程式之資料串流或訊號序列。該資料串流或訊號序列例如可組配為經由資料通訊連接，例如經由網際網路來傳遞。

又一實施例包含組配來或調適來執行本案所述方法之一的一處理裝置，例如電腦或可規劃邏輯裝置。

再一實施例包含安裝有用以執行本案所述方法之一的該電腦程式之電腦。

依據本發明之一進一步實施例，包含組配來傳送(例如電子式或光學式)用以執行本案所述方法之一之電腦程式至接收器的一器具或系統。舉例來說，該接收器可為電腦、可攜裝置、記憶裝置或類似裝置。該器具或系統例如可包含用以傳送電腦程式至接收器的檔案伺服器。

在一些實施例中，可規劃邏輯裝置(例如可現場規劃閘陣列)可用來執行本案所述方法之一些功能或全部功能。在一些實施例中，為了執行本案 所述方法中之一者，可現場規劃閘陣列可與微處理機合作。大致來說，該等方法較佳地係由任何硬體器具來執行。

本案所述之器具可使用硬體器具、或電腦、或硬體器具及電腦之組合來實現。

本案所述之器具、或本案所述器具之任何組件，可至少部分地以硬體及/或軟體來實現。

本案所述之方法可使用硬體器具、或電腦、或硬體器具及電腦之組合來執行。

本案所述之方法、或本案所述器具之任何組件，可至少部分地以硬體及/或軟體來執行。

前述實施例僅是本發明之原理的闡述範例。可理解的是，本案所述之配置及細節有多種修改及變動將可由熟於此技者明顯看出。因此，本發明僅欲由後附申請專利範圍之範疇來限制，而非由本文透過諸實施例之描述及解說所呈現之具體細節予以限制。

400:測試系統

410:通道模組

420:裝置介面

430:非依電性記憶體

460:訊號產生器

Claims (57)

1. 一種用以儲存測試系統中裝置介面用之校準資料之方法，該系統包含一個或多個通道模組及一裝置介面，該方法包含：將至少該校準資料之一第一部份的資訊儲存在與該一個或多個通道模組相關聯之一非依電性記憶體上，以及將至少該校準資料之一第二部份的資訊儲存在與該裝置介面相關聯之一非依電性記憶體上。
2. 如請求項1之方法，其中該校準資料之該第一部分係對應於該一個或多個通道模組之資料。
3. 如請求項1至2中任一項之方法，其中該校準資料之該第二部分係對應於該裝置介面之資料。
4. 如請求項1至2中任一項之方法，其中該裝置介面為一高速數位介面。
5. 如請求項1至2中任一項之方法，其中該校準資料含有用以從該一個或多個通道模組傳輸訊號至該裝置介面之組件之頻率特性的資訊。
6. 如請求項1至2中任一項之方法，其中該校準資料包含至少兩個濾波器，該等濾波器描述該等頻率特性。
7. 如請求項6之方法，其中該校準資料之該第一部分係一第一濾波器，及該校準資料之該第二部分係一第二濾波器。
8. 如請求項6之方法，其中該等濾波器為補償濾波器。
9. 如請求項1至2中任一項之方法，其中該校準資料包含傳輸函數，該等傳輸函數描述該等頻率特性。
10. 如請求項1至2中任一項之方法，其中該校準資料包含下列項目中之一或多者： 數位濾波器之分接頭係數，傅立葉級數，及/或一雙埠網路模型。
11. 如請求項1至2中任一項之方法，其中該校準資料之該第一部分及該第二部分之各者係藉由下列項目予以統合：若該校準資料是以一時域方式描述，則藉由卷積來進行統合，若該校準資料是以一頻域方式描述，則藉由乘積來進行統合，及/或若該校準資料被描述為雙埠網路，則藉由級聯雙埠網路來進行統合。
12. 如請求項1至2中任一項之方法，其中與該一個或多個通道模組相關聯之該非依電性記憶體係在個別的該通道模組上。
13. 如請求項1至2中任一項之方法，其中與該裝置介面相關聯之該非依電性記憶體係在該裝置介面上。
14. 如請求項1至2中任一項之方法，其進一步包含：將至少對應於附接件之該校準資料之一第三部分的資訊儲存在與該附接件相關聯之一非依電性記憶體上，該附接件位於該一個或多個通道模組及該裝置介面之間。
15. 如請求項14之方法，其中與該附接件相關聯之該非依電性記憶體係在該附接件上。
16. 如請求項1至2中任一項之方法，其中儲存任何資訊係儲存加密過之該資訊。
17. 如請求項1至2中任一項之方法，其中該一個或多個通道模組包含一訊號產生器或一訊號接收器。
18. 如請求項1至2中任一項之方法，其中該裝置介面係用以校準該測試系統之一校準模組。
19. 如請求項14之方法，其中該校準資料之該第一部分、該第二部分及/或該第三部分之個別的該資訊係分別為相關聯之該一個或多個通道模組、裝置介面及附接件的一記憶體位址及一識別碼，以及其中該方法進一步包含將該校準資料以該記憶體位址儲存於一儲存裝置中。
20. 一種用於處理裝置之電腦程式，其包含用以於該程式在該處理裝置上運行時，執行請求項1至19中任一項之方法之步驟的多個軟體代碼部分。
21. 如請求項20之電腦程式，其中該電腦程式之該等軟體代碼部分係儲存於一電腦可讀媒體，且其中該程式係可直接載入至該處理裝置之一內部記憶體中。
22. 一種測試系統，包含一個或多個通道模組及一裝置介面，其中：至少校準資料之一第一部分的資訊係儲存在與該一個或多個通道模組相關聯之一非依電性記憶體上，及至少該校準資料之一第二部分的資訊係儲存在與該裝置介面相關聯之一非依電性記憶體上。
23. 如請求項22之測試系統，其中該校準資料之該第一部分係對應於該一個或多個通道模組之資料。
24. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中該校準資料之該第二部分係對應於該裝置介面之資料。
25. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中該裝置介面為一高速數位介面。
26. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中該校準資料含有用以從該一個或多個通道模組傳輸訊號至該裝置介面之組件之頻率特性的資 訊。
27. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中該校準資料包含至少兩個濾波器，該等濾波器描述該等頻率特性。
28. 如請求項27之測試系統，其中該校準資料之該第一部分係一第一濾波器，及該校準資料之該第二部分係一第二濾波器。
29. 如請求項27項之測試系統，其中該等濾波器為補償濾波器。
30. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中該校準資料包含傳輸函數，該等傳輸函數描述該等頻率特性。
31. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中該校準資料包含下列項目中之一或多者：數位濾波器之分接頭係數，傅立葉級數，及/或一雙埠網路模型。
32. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中該校準資料之該第一部分及該第二部分之各者係藉由下列項目予以統合：若該校準資料是以一時域方式描述，則藉由卷積來進行統合，若該校準資料是以一頻域方式描述，則藉由乘積來進行統合，及/或若該校準資料被描述為雙埠網路，則藉由級聯雙埠網路來進行統合。
33. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中與該一個或多個通道模組相關聯之該非依電性記憶體係在個別的該通道模組上。
34. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中與該裝置介面相關聯之該非依電性記憶體係在該裝置介面上。
35. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其進一步包含一附接件，位於該一個或多個通道模組及該裝置介面之間，其中： 至少對應於該附接件之該校準資料之一第三部分的資訊係儲存在與該附接件相關聯之一非依電性記憶體上。
36. 如請求項35之測試系統，其中與該附接件相關聯之該非依電性記憶體係在該附接件上。
37. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中任一資訊係加密儲存。
38. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中該一個或多個通道模組包含一訊號產生器或一訊號接收器。
39. 如請求項22至23中任一項之測試系統，其中該裝置介面係用以校準該測試系統之一校準模組。
40. 如請求項35之測試系統，其中該校準資料之該第一部分、該第二部分及/或該第三部分之個別的該資訊分別為相關聯之該一個或多個通道模組、裝置介面及附接件的一記憶體位址及一識別碼，以及其中該校準資料係以該記憶體位址儲存於一儲存裝置中。
41. 一種用於測試系統之裝置介面，該測試系統進一步包含一個或多個通道模組，其中：校準資料包含一第一部份及一第二部份，且至少該校準資料之該第二部分的資訊係儲存在與該裝置介面相關聯之一非依電性記憶體上。
42. 如請求項41之裝置介面，其中該校準資料之該第一部分係對應於該一個或多個通道模組之資料。
43. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，其中該校準資料之該第二部分係對應於該裝置介面之資料。
44. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，其中該裝置介面為一高速數位介面。
45. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，其中該校準資料含有用以從該一個或多個通道模組傳輸訊號至該裝置介面之組件之頻率特性的資訊。
46. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，其中該校準資料包含至少兩個濾波器，該等濾波器描述該等頻率特性。
47. 如請求項46之裝置介面，其中該校準資料之該第一部分係一第一濾波器，及該校準資料之該第二部分係一第二濾波器。
48. 如請求項46之裝置介面，其中該等濾波器為補償濾波器。
49. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，其中該校準資料包含傳輸函數，該等傳輸函數描述該等頻率特性。
50. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，其中該校準資料包含下列項目中之一或多者：數位濾波器之分接頭係數，傅立葉級數，及/或一雙埠網路模型。
51. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，其中該校準資料之該第一部分及該第二部分之各者係藉下列項目予以統合：若該校準資料是以一時域方式描述，則藉由卷積來進行統合，若該校準資料是以一頻域方式描述，則藉由乘積來進行統合，及/或若該校準資料被描述為雙埠網路，則藉由級聯雙埠網路來進行統合。
52. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，其中與該裝置介面相關聯之該非依電性記憶體係在該裝置介面上。
53. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，該測試系統進一步包含一附接件，位於該一個或多個通道模組及該裝置介面之間，其中： 至少與附接件呈對應之該校準資料之一第三部分的資訊係儲存在與該附接件相關聯之一非依電性記憶體上。
54. 如請求項53之裝置介面，其中與該附接件相關聯之該非依電性記憶體係在該附接件上。
55. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，其中任何資訊係加密儲存。
56. 如請求項41至42中任一項之裝置介面，其中該裝置介面係用以校準該測試系統之一校準模組。
57. 如請求項53之裝置介面，其中該校準資料之該第一部分、該第二部分及/或該第三部分之個別的該資訊分別為相關聯之該一個或多個通道模組、裝置介面及附接件的一記憶體位址及一識別碼，以及其中該校準資料係以該記憶體位址儲存於一儲存裝置中。

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