TWI790053B - 射頻開關 - Google Patents

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TWI790053B
TWI790053B TW110147335A TW110147335A TWI790053B TW I790053 B TWI790053 B TW I790053B TW 110147335 A TW110147335 A TW 110147335A TW 110147335 A TW110147335 A TW 110147335A TW I790053 B TWI790053 B TW I790053B
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謝珮娟
李宗翰
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Abstract

一種射頻開關,包含第一訊號端、第二訊號端、串聯開關電路、分流開關電路、電感、及參考電壓端。第一訊號端用以接收射頻訊號。串聯開關電路耦接於第一訊號端及第二訊號端,且包含串聯電晶體,耦接於分流開關電路。分流開關電路包含開關子電路、電晶體、及補償電容。電晶體耦接於開關子電路。補償電容並聯於電晶體。電感耦接於分流開關電路及參考電壓端。當射頻訊號於第一頻帶運作時,第一電晶體導通,以使分流開關電路及電感提供第一阻抗。當射頻訊號於第二頻帶運作時,第一電晶體截止,以使分流開關電路及電感提供第二阻抗。

Description

射頻開關
本發明關於射頻電路,特別是一種射頻電路中的射頻開關。
射頻(Radio Frequency,RF)開關能引導射頻訊號通過一或多條傳送路徑,且廣泛應用於電視、行動電話、無線通訊裝置無線網路(Wi-Fi)、藍芽及全球定位系統(global positioning system, GPS)。
然而,由於射頻開關透過磅線耦接至外部電路,當射頻訊號Srf運作於多頻帶時磅線的電感會產生變化而使射頻開關的訊號隔絕度下降,因此降低訊號品質。
本發明實施例提供一種射頻開關,其包含有第一訊號端、第二訊號端、串聯開關電路、分流開關電路、電感、及參考電壓端。第一訊號端用以接收射頻訊號。串聯開關電路耦接於第一訊號端及第二訊號端,且包含有串聯電晶體。分流開關電路耦接於串聯開關電路。分流開關電路包含有開關子電路、電晶體、及補償電容。電晶體耦接於開關子電路。補償電容並聯於電晶體。電感耦接於分流開關電路。參考電壓端耦接於電感。當射頻訊號於第一頻帶運作時,第一電晶體導通,以使分流開關電路及電感提供第一阻抗。當射頻訊號於第二頻帶運作時,第一電晶體截止,以使分流開關電路及電感提供第二阻抗。
第1圖係為本發明實施例中之一種射頻開關1之電路示意圖。射頻開關1係為單軸雙切(single-pole double-throw,SPDT)開關,可於兩訊號傳輸路徑中之一者傳送或接收射頻訊號Srf。射頻訊號Srf可運作於多頻帶,例如2GHz頻帶及5GHz頻帶。當射頻訊號Srf於兩訊號傳輸路徑中之一者傳送或接收時,兩訊號傳輸路徑中之另一者會被截止,及可針對不同頻帶提供實質上相同的訊號隔絕度(isolation)。
射頻開關1包含有訊號端RF1、訊號端RF2、串聯開關電路10、分流開關電路12、電感L1、及參考電壓端GND。訊號端RF1可耦接於天線,並可接收射頻訊號Srf。訊號端RF2可耦接於射頻電路,例如匹配電路、功率放大器、濾波器或其他電路。串聯開關電路10耦接於訊號端RF1及訊號端RF2,包含有電晶體Tsr1。電晶體Tsr1包含有第一端,耦接於訊號端RF1、第二端,耦接於訊號端RF2、及控制端,用以接收控制訊號S1藉以控制電晶體Tsr1。電晶體Tsr1可為N型金屬氧化物半導體場效電晶體(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor,MOSFET),控制訊號S1可為電壓訊號。分流開關電路12耦接於串聯開關電路10。電感L1係為磅線(bond wire),耦接於分流開關電路12及參考電壓端GND之間。參考電壓端GND可提供參考電壓,例如0V。
射頻開關1可另包含有訊號端RF3、串聯開關電路14、分流開關電路16、及電感L2。訊號端RF3可耦接於射頻電路,例如匹配電路、功率放大器、濾波器或其他電路。串聯開關電路14耦接於訊號端RF1及訊號端RF3,包含有電晶體Tsr2。電晶體Tsr2包含有第一端,耦接於訊號端RF1、第二端,耦接於訊號端RF3、及控制端,用以接收控制訊號S2藉以控制電晶體Tsr2。電晶體Tsr2可為N型MOSFET,控制訊號S2可為電壓訊號。分流開關電路16耦接於串聯開關電路14。電感L2亦為磅線,耦接於分流開關電路14及參考電壓端GND之間。
當訊號端RF1至訊號端RF3之間之訊號傳輸路徑導通,且訊號端RF1至訊號端RF2之間之訊號傳輸路徑截止時,串聯開關電路14會導通,分流開關電路16會截止,串聯開關電路10會截止,且分流開關電路12會導通,以使大部分的射頻訊號Srf於訊號端RF1至訊號端RF3之間傳輸,及將洩漏至訊號端RF1至訊號端RF2之間的射頻訊號Srf經由分流開關電路12引導至參考電壓端GND,藉以達成訊號隔絕度。電感阻抗會隨訊號頻率變化,如公式(1)所示:
ZL=jωL 公式(1)
其中      ZL係為電感阻抗;
ω係為訊號頻率;及
L係為電感值。
依據公式(1),當射頻訊號Srf的頻率增加時,電感L1的阻抗會隨之增加。分流開關電路12可隨射頻訊號Srf的頻率改變其等效阻抗,以使分流開關電路12的等效阻抗及電感L1的阻抗之總和維持實質上恆定,藉以在寬頻多頻帶的運作環境下使射頻開關1之訊號隔絕度維持不變。
相似地,當訊號端RF1至訊號端RF2之間之訊號傳輸路徑導通,且訊號端RF1至訊號端RF3之間之訊號傳輸路徑截止時,分流開關電路16亦可隨射頻訊號Srf的頻率改變其等效阻抗,以使分流開關電路16的等效阻抗及電感L2的阻抗之總和維持實質上恆定,進而使射頻開關1之訊號隔絕度維持不變。
雖然第1圖顯示串聯開關路徑10及串聯開關路徑14僅分別包含1個電晶體Tsr1及1個電晶體Tsr2,在其他實施例中,串聯開關路徑10及串聯開關路徑14亦可分別包含N個電晶體Tsr1及M個電晶體Tsr2,N個電晶體Tsr1依序串接,及接收控制訊號S1以控制N個電晶體Tsr1,且M個電晶體Tsr2依序串接,及接收控制訊號S2以控制M個電晶體Tsr2,N,M為相同或不同之正整數。此外,雖然第1圖僅顯示單軸雙切開關,然而本發明亦可應用於其他種類的射頻開關的單軸多切(single-pole multiple-throw,SPMT)開關或多軸多切(multiple-pole multiple-throw,MPMT)開關。
第2圖係為分流開關電路12之電路示意圖。分流開關電路12包含有開關子電路20、電晶體T1、及補償電容C1。開關子電路20包含有第一端,耦接於串聯開關電路10、及第二端。電晶體T1包含有第一端,其耦接於開關子電路20之第二端、第二端,其耦接於電感L1、及控制端,用以接收控制電壓Sc1以控制電晶體T1。補償電容C1並聯於電晶體T1,且包含有第一端,其耦接於電晶體T1之第一端、及第二端,其耦接於電晶體T1之第二端。開關子電路20可包含有I個疊接的電晶體Tsh,I為正整數,例如I等於8。I個電晶體Tsh具有相同尺寸,皆由控制訊號Sc0控制。電晶體Tsh及T1可為N型MOSFET,控制訊號Sc0及Sc1可為電壓訊號。控制訊號Sc0及控制訊號Sc1可分開控制I個電晶體Tsh及電晶體T1,藉以使分流開關電路12在頻帶B1及頻帶B2提供不同的等效阻抗,如表1所示:
表1
頻帶 Tsh T1 C1
B1 導通 導通
B2 導通 截止
頻帶B2不同於頻帶B1。頻帶B1的頻率可小於頻帶B2的頻率。例如,頻帶B1可為2GHz頻帶,頻帶B2可為5GHz頻帶。如表1,當射頻訊號Srf於頻帶B1運作時,開關子電路20的I個疊接的電晶體Tsh會導通,且電晶體T1導通,以跳過補償電容C1而使開關子電路20的第二端經由電晶體T1耦接至電感L1,進而使分流開關電路12及電感L1提供第一阻抗。在一些實施例中,當串聯開關電路14的電晶體Tsr2導通,且射頻訊號Srf於頻帶B1運作時,分流開關電路12提供對應於頻帶B1之隔離度的第一阻抗,如公式(2)表示:
ZB1=Ron+ jω1L      公式(2)
其中      ZB1係為第一阻抗;
Ron係為I個疊接的電晶體Tsh的等效導通電阻值;
ω1係為射頻訊號Srf於頻帶B1的頻率;及
L係為電感L1的電感值。
當射頻訊號Srf於頻帶B2運作時,開關子電路20的I個疊接的電晶體Tsh導通,且電晶體T1截止,以使開關子電路20的第二端經由補償電容C1耦接至電感L1,進而使分流開關電路12及電感L1提供第二阻抗。
第3圖係為於頻帶B2運作時,分流開關電路12及電感L1的等效電路圖,包含開關子電路20之等效導通電阻值Ron、補償電容C1之電容阻抗ZC及電感L1之電感阻抗ZL。等效導通電阻值Ron可為開關子電路20中的I個疊接的電晶體Tsh導通所產生,電感阻抗ZL可如公式(1)表示,電容阻抗ZC可如公式(3)表示:
ZC=-j/ωC     公式(3)
其中      ZC係為電容阻抗;
ω係為訊號頻率;及
C係為電容值。
如公式(3),於頻帶B2運作時,補償電容C1可提供阻抗負虛部,用以抵銷電感L1由於射頻訊號Srf的頻率增加而產生的阻抗正虛部。開關子電路20之等效導通電阻值Ron、補償電容C1之阻抗ZC及電感L1之阻抗ZL的總和等於第二阻抗。在一些實施例中,當串聯開關電路14的電晶體Tsr2導通,且射頻訊號Srf於頻帶B2運作時,分流開關電路12提供對應於頻帶B2之隔離度的第二阻抗。第二阻抗可如公式(4)表示:
ZB2=Ron+ jω2L-j/ω2C 公式(4)
其中      ZB2係為第二阻抗;
Ron係為I個疊接的電晶體Tsh的等效導通電阻值;
ω2係為射頻訊號Srf於頻帶B2的頻率;
L係為電感L1的電感值;及
C係為補償電容C1的電容值。
第二阻抗ZB2可等於第一阻抗ZB1。例如,若電感L1的電感值L為500pH,補償電容C1的電容值C為3.38pF,則依據公式(2)及公式(4),ZB1=Ron+j6.28(=Ron+j*2*π*2*10 9*500*10 -12),ZB2=Ron+j6.28(=Ron+j*2*π*5*10 9*500*10 -12-j/(2*π*5*10 9*3.38*10 -12)),第二阻抗ZB2等於第一阻抗ZB1。因此,分流開關電路12的等效阻抗及電感L1的阻抗ZL之總和維持實質上恆定,以使射頻開關1之訊號隔絕度維持不變。
分流開關電路16的電路設置及運作方式相似於第2圖的分流開關電路12,在此不再贅述。
第4圖係為另一種分流開關電路12之電路示意圖。第4圖及第2圖之分流開關電路12的差異在於開關子電路20、電晶體T1、及補償電容C1的電路設置。在第4圖中,電晶體T1的第一端及補償電容C1的第一端耦接於串聯開關電路10,開關子電路20的第一端耦接於電晶體T1的第二端及補償電容C1的第二端,且開關子電路20的第二端耦接於電感L1。第4圖之分流開關電路12的運作方式和第2圖之分流開關電路12相似,在此不再贅述。
第5圖係為另一種分流開關電路12之電路示意圖。第5圖之分流開關電路12包含有開關子電路501、電晶體T1、補償電容C1、及開關子電路502。開關子電路501包含第一端,耦接於串聯開關電路10、及第二端。電晶體T1的第一端及補償電容C1的第一端耦接於開關子電路501的第二端。開關子電路502包含第一端,耦接於電晶體T1的第二端及補償電容C1的第二端、及第二端,耦接於電感L1。開關子電路501及開關子電路502可各自包含有J個電晶體Tsh及K個電晶體Tsh,J、K為正整數,舉例來說,J及K的總和可等於I。J個電晶體Tsh及K個電晶體Tsh可由控制訊號Sc0控制。第5圖之分流開關電路12的運作方式和第2圖之分流開關電路12相似,在此不再贅述。
第6圖係為另一種分流開關電路12之電路示意圖。第6圖及第2圖之分流開關電路12的差異在於將第2圖之開關子電路20替代為第6圖之開關子電路60。開關子電路60包含有I個疊接電晶體Tsh及I個跨接電容Cx。每個跨接電容Cx耦接於I個疊接電晶體Tsh中之相應疊接電晶體Tsh的第一端及第二端。I個疊接電晶體Tsh具有相同尺寸,I個跨接電容Cx具有相同尺寸,藉以使每個跨接電容Cx的跨壓實質上相同,進而提供較佳的靜電放電(electrostatic discharge,ESD)特性。I個疊接電晶體由控制訊號Sc0控制,電晶體T1由控制訊號Sc1控制,控制訊號Sc0及控制訊號Sc1可分開控制I個電晶體Tsh及電晶體T1。第6圖之分流開關電路12的運作方式和第2圖之分流開關電路12相似,在此不再贅述。
第7圖係為另一種分流開關電路12之電路示意圖。第7圖及第6圖之分流開關電路12的差異在於第7圖之分流開關電路12另包含有電晶體T2及補償電容C2。電晶體T2包含有第一端,耦接於開關子電路60之第二端、第二端,耦接於電感L1、及控制端,用以接收控制訊號Sc2以控制電晶體T2。補償電容C2串聯於電晶體T2,且包含有第一端,耦接於電晶體T2之第二端、及第二端,耦接於電感L1。電晶體T2可為N型MOSFET,控制訊號Sc2可為電壓訊號。控制訊號Sc0、控制訊號Sc1及控制訊號Sc2可分開控制I個電晶體Tsh、電晶體T1及電晶體T2,藉以使第7圖的分流開關電路12在頻帶B1、頻帶B2及頻帶B3提供不同的等效阻抗,如表2所示:
表2
頻帶 Tsh T1 T2 C1 C2
B1 導通 導通 截止
B2 導通 截止 截止
B3 導通 截止 導通
頻帶B1、頻帶B2及頻帶B3可相異。頻帶B1可小於頻帶B2。補償電容C1的電容值及補償電容C2的電容值可相同或相異。在一些實施例中,頻帶B3可介於頻帶B1及頻帶B2之間,例如頻帶B1可為2GHz頻帶,頻帶B2可為5GHz頻帶,及頻帶B3可為3.8GHz頻帶。
當串聯開關電路14的電晶體Tsr2導通且射頻訊號Srf於頻帶B1運作時,開關子電路60及電晶體T1會導通,且電晶體T2會截止,以跳過補償電容C1及補償電容C2而使開關子電路60的第二端經由電晶體T1耦接至電感L1,進而使分流開關電路12及電感L1提供第一阻抗。第一阻抗對應於頻帶B1之隔離度。當串聯開關電路14的電晶體Tsr2導通且射頻訊號Srf於頻帶B2運作時,開關子電路60會導通,且電晶體T1及電晶體T2會截止,以跳過補償電容C2而使開關子電路60的第二端經由補償電容C1耦接至電感L1,進而使分流開關電路12及電感L1提供第二阻抗。第二阻抗對應於頻帶B2之隔離度。當串聯開關電路14的電晶體Tsr2導通且射頻訊號Srf於頻帶B3運作時,開關子電路60會導通,電晶體T1會截止,且電晶體T2會導通,以使開關子電路60的第二端經由並聯之補償電容C1及補償電容C2耦接至電感L1,進而使分流開關電路12及電感L1提供第三阻抗。第三阻抗對應於頻帶B3之隔離度。第一阻抗、第二阻抗及第三阻抗可相等。因此,第7圖中分流開關電路12的等效阻抗及電感L1的阻抗之總和維持實質上恆定,以使射頻開關1之訊號隔絕度在頻帶B1至B3維持不變,同時提供較佳的靜電放電特性。
第8圖係為另一種分流開關電路12之電路示意圖。第8圖及第6圖之分流開關電路12的差異在於第8圖之分流開關電路12另包含有電晶體T3及補償電容C3。電晶體T3包含有第一端,耦接於開關子電路60之第二端、第二端、及控制端,用以接收控制訊號Sc3以控制電晶體T3。電晶體T3可為N型MOSFET,控制訊號Sc3可為電壓訊號。補償電容C3並聯於電晶體T3,且包含有第一端,耦接於電晶體T3之第一端、及第二端,耦接於電晶體T3之第二端。電晶體T1之第一端耦接於電晶體T3的第二端,電晶體T1之第二端耦接於電感L1。
控制訊號Sc0、控制訊號Sc1及控制訊號Sc3可分開控制I個電晶體Tsh、電晶體T1及電晶體T3,藉以使第8圖的分流開關電路12在頻帶B1至B4提供不同的等效阻抗,如表3所示:
表3
頻帶 Tsh T1 T3 C1 C3
B1 導通 導通 導通
B2 導通 截止 截止
B3 導通 截止 導通
B4 導通 導通 截止
頻帶B1至B4可相異。當串聯開關電路14的電晶體Tsr2導通且射頻訊號Srf於頻帶B1運作時,開關子電路60、電晶體T1及電晶體T3會導通,以跳過補償電容C1及補償電容C3而使開關子電路60的第二端經由電晶體T1耦接至電感L1,進而使分流開關電路12及電感L1提供第一阻抗。第一阻抗對應於頻帶B1之隔離度。當串聯開關電路14的電晶體Tsr2導通且射頻訊號Srf於頻帶B2運作時,開關子電路60會導通,且電晶體T1及電晶體T3會截止,以使開關子電路60的第二端經由串聯之補償電容C1及補償電容C3耦接至電感L1,進而使分流開關電路12及電感L1提供第二阻抗。第二阻抗對應於頻帶B2之隔離度。當串聯開關電路14的電晶體Tsr2導通且射頻訊號Srf於頻帶B3運作時,開關子電路60及電晶體T3會導通,且電晶體T1會截止,以跳過補償電容C3而使開關子電路60的第二端經由補償電容C1耦接至電感L1,進而使分流開關電路12及電感L1提供第三阻抗。第三阻抗對應於頻帶B3之隔離度。當串聯開關電路14的電晶體Tsr2導通且射頻訊號Srf於頻帶B3運作時,開關子電路60及電晶體T1會導通,且電晶體T3會截止,以跳過補償電容C1而使開關子電路60的第二端經由補償電容C3耦接至電感L1,進而使分流開關電路12及電感L1提供第四阻抗。第四阻抗對應於頻帶B4之隔離度。第一阻抗、第二阻抗、第三阻抗及第四阻抗可相等。
因此,第8圖中分流開關電路12的等效阻抗及電感L1的阻抗之總和維持實質上恆定,以使射頻開關1之訊號隔絕度在頻帶B1至B4維持不變,同時提供較佳的靜電放電特性。
雖然第1至2,4至8圖中的實施例僅適用於2至4頻帶的射頻開關1,熟習此技藝者可依據本發明原則修改分流開關電路12,16而使射頻開關1適用於更多數量的頻帶。 以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。
1:射頻開關 10,14:串聯開關電路 12,16:分流開關電路 20,501,502,60:開關子電路 ZC,ZL:阻抗 C1至C3,Cx:電容 GND:參考電壓端 L1,L2:電感 RF1至RF3:訊號端 Ron:等效導通電阻值 Srf:射頻訊號 S1,S2,Sc0至Sc3:控制訊號 Tsr1,Tsr2,Tsh,T1至T3:電晶體
第1圖係為本發明實施例中之一種射頻開關之電路示意圖。 第2圖係為第1圖中之一種分流開關電路之電路示意圖。 第3圖係為於一種頻帶運作時第1圖中之分流開關電路及電感之等效電路圖。 第4圖係為第1圖中之另一種分流開關電路之電路示意圖。 第5圖係為第1圖中之另一種分流開關電路之電路示意圖。 第6圖係為第1圖中之另一種分流開關電路之電路示意圖。 第7圖係為第1圖中之另一種分流開關電路之電路示意圖。 第8圖係為第1圖中之另一種分流開關電路之電路示意圖。
10:串聯開關電路
12:分流開關電路
20:開關子電路
C1:電容
GND:參考電壓端
L1:電感
T1,Tsh:電晶體
Sc0,Sc1:控制訊號

Claims (20)

  1. 一種射頻開關,其包含有: 一第一訊號端,用以接收一射頻訊號; 一第二訊號端; 一第一串聯開關電路,耦接於該第一訊號端及該第二訊號端,包含有一第一串聯電晶體; 一分流開關電路,耦接於該第一串聯開關電路,其中該分流開關電路包含有: 一第一開關子電路; 一第一電晶體,耦接於該第一開關子電路;及 一第一補償電容,並聯於該第一電晶體; 一電感,耦接於該分流開關電路;及 一參考電壓端,耦接於該電感; 其中當該射頻訊號於一第一頻帶運作時,該第一電晶體導通,以使該分流開關電路及該電感提供一第一阻抗;及 當該射頻訊號於一第二頻帶運作時,該第一電晶體截止,以使該分流開關電路及該電感提供一第二阻抗。
  2. 如請求項1所述之射頻開關,其中該第一開關子電路耦接於該第一串聯開關電路。
  3. 如請求項1所述之射頻開關,其中該分流開關路徑另包含有一第二開關子電路,耦接於該第一電晶體、該第一補償電容及該電感。
  4. 如請求項1所述之射頻開關,其中該第一電晶體及該第一補償電容另耦接於該第一串聯開關電路。
  5. 如請求項1所述之射頻開關,其中該第一開關子電路包含有複數個疊接電晶體。
  6. 如請求項5所述之射頻開關,其中該複數個疊接電晶體具有一相同尺寸。
  7. 如請求項5所述之射頻開關,其中該複數個疊接電晶體由一第一控制訊號控制,該第一電晶體由一第二控制訊號控制。
  8. 如請求項1所述之射頻開關,另包含有 一第三訊號端;及 一第二串聯開關電路,耦接於該第一訊號端及該第三訊號端,包含有一第二串聯電晶體。
  9. 如請求項8所述之射頻開關,其中: 當該第二串聯電晶體導通且該射頻訊號於該第一頻帶運作時,該第一阻抗對應於該第一頻帶之隔離度;及 當該第二串聯電晶體導通且該射頻訊號於該第二頻帶運作時,該第二阻抗對應於該第二頻帶之隔離度,該第二頻帶不同於該第一頻帶。
  10. 如請求項9所述之射頻開關,其中該第二阻抗等於該第一開關子電路之一等效導通電阻值、該第一補償電容之一阻抗及該電感之一阻抗的一總和。
  11. 如請求項9所述之射頻開關,其中該第一頻帶的一頻率小於該第二頻帶的一頻率。
  12. 如請求項9所述之射頻開關,其中該第一頻帶為一2GHz頻帶,該第二頻帶為一5GHz頻帶。
  13. 如請求項1所述之射頻開關,其中該第一阻抗等於該第二阻抗。
  14. 如請求項1所述之射頻開關,其中該第一開關子電路包含有: 複數個疊接電晶體;及 複數個跨接電容,每個跨接電容耦接於該複數個疊接電晶體中之一相應疊接電晶體的一第一端及一第二端。
  15. 如請求項14所述之射頻開關,其中該複數個疊接電晶體具有一相同尺寸; 該複數個跨接電容具有一相同尺寸;及 該複數個疊接電晶體由一第一控制訊號控制,該第一電晶體由一第二控制訊號控制。
  16. 如請求項14所述之射頻開關,另包含有: 一第二電晶體,耦接於該第一開關子電路;及 一第二補償電容,串聯於該第二電晶體。
  17. 如請求項16所述之射頻開關,其中: 當該第二串聯電晶體導通,且該分流開關電路提供對應於該第一頻帶之隔離度時,該第一開關子電路及該第一電晶體導通,且該第二電晶體截止以使該分流開關電路及該電感提供該第一阻抗;及 當該第二串聯電晶體導通,且該分流開關電路提供對應於該第二頻帶之隔離度時,該第一開關子電路導通,該第一電晶體截止,及該第二電晶體截止,以使該分流開關電路及該電感提供該第二阻抗。
  18. 如請求項17所述之射頻開關,其中: 當該第二串聯電晶體導通,且該分流開關電路提供對應於一第三頻帶之隔離度時,該第一開關子電路導通,該第一電晶體截止,該第二電晶體導通以使該分流開關電路及該電感提供一第三阻抗。
  19. 如請求項17所述之射頻開關,其中該第一阻抗、該第二阻抗及該第三阻抗相等,且該第一頻帶、該第二頻帶及該第三頻帶相異。
  20. 如請求項1所述之射頻開關,其中該電感係為磅線(bond wire)。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140055210A1 (en) * 2012-08-22 2014-02-27 Motorola Mobility Llc Tunable notch filtering in multi-transmit applications
US20180145707A1 (en) * 2016-11-18 2018-05-24 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Radio frequency switch apparatus having improved noise suppression characteristics
CN109756216A (zh) * 2017-11-07 2019-05-14 Qorvo美国公司 射频开关支路电路
US20200182924A1 (en) * 2018-12-05 2020-06-11 Psemi Corporation System and Method for Testing Radio Frequency Switches

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4534405B2 (ja) * 2001-09-25 2010-09-01 株式会社村田製作所 高周波スイッチ回路およびそれを用いた電子装置
JP2005303940A (ja) * 2004-04-16 2005-10-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd アンテナスイッチ回路、ならびにそれを用いた複合高周波部品および移動体通信機器

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140055210A1 (en) * 2012-08-22 2014-02-27 Motorola Mobility Llc Tunable notch filtering in multi-transmit applications
US20180145707A1 (en) * 2016-11-18 2018-05-24 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Radio frequency switch apparatus having improved noise suppression characteristics
CN109756216A (zh) * 2017-11-07 2019-05-14 Qorvo美国公司 射频开关支路电路
US20200182924A1 (en) * 2018-12-05 2020-06-11 Psemi Corporation System and Method for Testing Radio Frequency Switches

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