TWI785165B - 光學顯示面板的連續檢查方法及連續檢查裝置、以及光學顯示面板的連續製造方法及連續製造系統 - Google Patents

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Abstract

提供即使比以往減少攝像部的台數也能夠以相同程度或更高的精度檢測瑕疵的光學顯示面板的連續檢查方法及其連續檢查裝置。 光學顯示面板的連續檢查方法包括:第一照射步驟,從與光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向上游側傾斜了第一角度的方向,對光學顯示面板的線檢查區域照射與該光學顯示面板的寬度方向平行的第一線狀光,前述寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向正交的方向;第二照射步驟,從與光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向下游側傾斜了第二角度的方向,對線檢查區域照射與前述光學顯示面板的寬度方向平行的第二線狀光;以及攝像步驟,以一個攝像部對被第一線狀光及第二線狀光照射的線檢查區域,以與光學顯示面板的寬度方向平行的線狀連續地進行拍攝。

Description

光學顯示面板的連續檢查方法及連續檢查裝置、以及光學顯示面板的連續製造方法及連續製造系統
發明領域
本發明涉及一種光學顯示面板的連續檢查方法及連續檢查裝置、以及光學顯示面板的連續製造方法及連續製造系統。
發明背景
專利文獻1的檢查方法公開了以下內容:自液晶顯示面板的一面垂直地照射與輸送裝置的寬度方向平行的線狀光,並在液晶顯示面板的另一面側藉由2個攝像部來拍攝被線狀光照射的區域,前述2個攝像部在液晶顯示面板的另一面側對稱地配置在相對於照射方向向面板輸送方向及與其相反的方向傾斜了預定角度的位置。
專利文獻1:日本特開2012-194509號公報
發明概要
在專利文獻1的檢查方法中,具備從2個不同的角度拍攝檢查區域的2個攝像部,並以2個攝像部中的一方檢測相對於照射方向不強烈地向輸送方向的下游側散射而強烈地 向上游側散射的異物,以2個攝像部中的另一方來檢測不強烈地向上游側散射而強烈地向下游側散射的異物。即,由於存在只能以輸送方向上游側的第一攝像部檢測的瑕疵(異物)和只能以輸送方向下游側的第二攝像部檢測的瑕疵(異物),因此需要配置2個攝像部。
然而,由於配置多個攝像部,設備成本上升。另外,對攝像部的光軸進行調整的時間也與台數成比例地變長。為了長時間保存拍攝得到的圖像資料所需要的儲存媒體的容量也與台數成比例地增大。
另外,在專利文獻1的檢查方法中,需要對由2個攝像部獲取到的2個圖像資料分別進行圖像處理,再將基於各個圖像資料所得到的瑕疵位置與座標加以匹配來製作單一的瑕疵資訊。
因而,本發明的目的在於提供一種即使比以往減少攝像部的台數也能夠以相同程度或更高的精度檢測瑕疵的光學顯示面板的連續檢查方法及其連續檢查裝置。
另外,其它的目的在於提供一種藉由一邊高速輸送光學顯示面板一邊高精度地以光學方式進行檢查而能夠高速地連續生產優質的光學顯示面板的光學顯示面板的連續製造系統及光學顯示面板的連續製造方法。
為了解決上述課題,重複研究的結果為完成了以下的本發明。
本發明是一種光學顯示面板的連續檢查方 法,在正在輸送光學顯示面板的狀態下連續地以光學方式對前述光學顯示面板進行檢查,前述光學顯示面板的兩面或單面設置有至少具有光學機能薄膜的光學薄膜,前述光學顯示面板的連續檢查方法包括以下步驟:第一照射步驟,使用照射與前述光學顯示面板的寬度方向平行的第一線狀光的第一照射部,從與該光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向(d1)上游側傾斜了第一角度(θ1)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的線檢查區域照射該第一線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向(d1)正交的方向(d2);第二照射步驟,使用照射與前述光學顯示面板的寬度方向平行的第二線狀光的第二照射部,從與該光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向(d1)下游側傾斜了第二角度(θ2)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的前述線檢查區域照射該第二線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向(d1)正交的方向(d2);以及攝像步驟,以一個攝像部從前述光學顯示面板的另一面對被前述第一線狀光及前述第二線狀光照射的前述線檢查區域,以與該光學顯示面板的寬度方向平行的線狀連續地進行拍攝。
在上述發明中,也可以為,在前述攝像步驟中,從前述光學顯示面板的另一面隔著狹縫部來拍攝前述線檢查區域,前述狹縫部劃定了與該線檢查區域對應的攝像區域。
在上述發明中,也可以為,前述攝像部配置在與前述光學顯示面板的另一面垂直的方向上。
在上述發明中,也可以為,在前述第一照射步驟及前述第二照射步驟中,前述第一角度(θ1)與前述第二角度(θ2)為相同的值,前述第一線狀光的照射方向與前述第二線狀光的照射方向對稱。
在上述發明中,在正在輸送單面設置有前述光學薄膜的光學顯示面板的狀態下連續地以光學方式對前述光學顯示面板進行檢查時,配置檢查用濾波器並進行拍攝,前述檢查用濾波器具有與前述光學薄膜所包含的光學機能薄膜的光軸對應的光軸,前述檢查用濾波器配置在前述第一照射部、前述第二照射部與前述一個攝像部之間,且設置成從光學顯示面板之與設置有前述光學薄膜的一面不同的另一面算起離開預定距離。
「預定距離」例如需要不接觸光學顯示面板的面的程度的距離,能夠考慮面板輸送部、照明部(例如第一照射部、第二照射部)、攝像部的配置關係來設定。
在光學機能薄膜具有偏光薄膜的情況下,檢查用濾波器具有偏光薄膜,並以彼此的吸收軸形成相互正交的配置關係的方式配置檢查用濾波器。
另外,檢查用濾波器可以固定地配置,也可以構成為能夠與光學顯示面板的輸送狀態相對應地可動。
其它的發明是一種光學顯示面板的連續檢查裝置,在正在輸送光學顯示面板的狀態下連續地以光學 方式對前述光學顯示面板進行檢查,前述光學顯示面板的兩面或單面設置有至少具有光學機能薄膜的光學薄膜,前述光學顯示面板的連續檢查裝置具有:第一照射部,其從與前述光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向(d1)上游側傾斜了第一角度(θ1)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的線檢查區域照射與該光學顯示面板的寬度方向平行的第一線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向(d1)正交的方向(d2);第二照射部,其從與前述光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向(d1)下游側傾斜了第二角度(θ2)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的前述線檢查區域照射與該光學顯示面板的寬度方向平行的第二線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向(d1)正交的方向(d2);以及一個攝像部,其從前述光學顯示面板的另一面對被前述第一線狀光及前述第二線狀光照射的前述線檢查區域,以與該光學顯示面板的寬度方向平行的線狀連續地進行拍攝。
在上述發明中,也可以為,還具有狹縫部,前述狹縫部配置於前述光學顯示面板的另一面側,並且劃定了與前述線檢查區域對應的攝像區域。
也可以為,前述攝像部隔著前述狹縫部來進行拍攝。
在本發明中,「一個攝像部」可以是單眼的攝像部,也可以是複眼的攝像部。也可以與預定的線狀的 攝像區域(與薄膜寬度方向平行的固定區域)對應地,由呈線狀配置的線感測器攝像機(line sensor camera)、配置成一條直線(一列)的多個單眼攝像機構成。
在上述發明中,也可以為,前述攝像部配置在與前述光學顯示面板的另一面垂直的方向上。
在上述發明中,也可以為,前述第一照射部和前述第二照射部配置成前述第一角度(θ1)與前述第二角度(θ2)為相同的值,且前述第一線狀光的照射方向與前述第二線狀光的照射方向對稱。
在上述發明中,還具有檢查用濾波器,其是設置成在正在輸送單面設置有前述光學薄膜的光學顯示面板的狀態下連續地以光學方式對前述光學顯示面板進行檢查時,處在前述第一、第二照射部與前述一個攝像部之間,且在與光學顯示面板之設置有前述光學薄膜的一面不同的另一面之間設定有預定距離,並且與前述光學薄膜所包含的光學機能薄膜的光軸形成預定的配置關係。
「預定距離」例如需要不接觸光學顯示面板的面的程度的距離,能夠考慮面板輸送部、照明部(例如第一照射部、第二照射部)、攝像部的配置關係來設定。
在光學機能薄膜具有偏光薄膜的情況下,檢查用濾波器具有偏光薄膜,並以彼此的吸收軸形成相互正交的配置關係的方式配置檢查用濾波器。
另外,檢查用濾波器可以固定地配置,也可以構成為能夠與光學顯示面板的輸送狀態相對應地可動。
在按照明部、在照明部側設置有光學薄膜的光學顯示面板、攝像部的順序進行了配置的情況下,檢查用濾波器配置於光學顯示面板與攝像部之間。在光學顯示面板與攝像部之間配置有狹縫部的情況下,檢查用濾波器也可以配置於攝像部與狹縫部之間、或光學顯示面板與狹縫部之間。
在按照明部、在攝像部側設置有光學薄膜的光學顯示面板、攝像部的順序進行了配置的情況下,檢查用濾波器配置於照明部與光學顯示面板之間,構成為照明光通過檢查用濾波器後得到的光入射到檢查區域。
根據本發明,藉由僅進行2個照明處理和1個攝像處理的簡單結構,就能夠確保檢查能力並削減攝像部的台數。
另外,藉由對從單一的攝像部獲得的圖像資料進行處理,就能夠判定只能藉由輸送方向上游側的攝像部檢測出的瑕疵、和只能藉由其輸送方向下游側的攝像部檢測出的瑕疵。不需要如以往那樣對由2個攝像部獲取到的2個圖像資料分別進行圖像處理來製作單一的瑕疵資訊,從而能夠削減為此的作業、複雜性。
另外,在本發明中,配置於光學顯示面板的另一面側的前述狹縫部宜為以從光學顯示面板的另一面到狹縫部的距離(D1)小於從攝像部到狹縫部的距離(D2)(D1<D2)的方式配置狹縫部。
相比於將狹縫部配置在攝像部的附近,宜將狹縫部配置在光學顯示面板的附近(例如,D1為超過0mm至150mm 以內,宜為100mm以內,更宜為30mm以內)。
藉由將狹縫部配置在光學顯示面板的附近,能夠防止在光學顯示面板進入攝像部的攝像視場或離開攝像視場時由於來自光學顯示面板的邊緣部的雜散光(或反射光)的影響而無法進行檢查。另外,當將狹縫部配置在攝像部的附近時,攝像部的受光量本身會減少或被限制,因此不宜。
其它發明的光學顯示面板的連續製造方法包括以下步驟:製造步驟,將至少具有光學機能薄膜的第一光學薄膜貼合於光學單元的第一面,並且將至少具有光學機能薄膜的第二光學薄膜貼合於光學單元的第二面,來製造光學顯示面板;以及前述光學顯示面板的連續檢查方法中包含的步驟,其中,是以用於輸送前述光學單元及前述光學顯示面板的一系列的輸送裝置來進行前述製造步驟和前述連續檢查方法中包含的步驟。
其它發明的光學顯示面板的連續製造系統具備:製造裝置,其將至少具有光學機能薄膜的第一光學薄膜貼合於光學單元的第一面,並且將至少具有光學機能薄膜的第二光學薄膜貼合於光學單元的第二面,來製造光學顯示面板;以及前述光學顯示面板的連續檢查裝置,其中,前述製造裝置和前述連續檢查裝置被配置於用於輸送前述光學單元及前述光學顯示面板的一系列的輸送裝置中。
在上述發明的前述製造步驟及製造裝置中,也可以為,將從第一光學薄膜捲一邊放出第一長條離型薄膜及第一長條光學薄膜一邊切斷前述第一長條光學薄膜所得到的單片狀的第一光學薄膜貼附於被輸送的前述光學單元的前述第一面、或者將單片狀的第一光學薄膜貼附於前述光學單元的第一面,;以及/或者將從第二光學薄膜捲一邊放出第二長條離型薄膜及第二長條光學薄膜一邊切斷前述第二長條光學薄膜所得到的單片狀的第二光學薄膜以前述第一光學薄膜的光軸與前述第二光學薄膜的光軸形成預定之角度配置的方式貼附於被輸送的前述光學單元的前述第二面、或者將單片狀的第二光學薄膜以單片狀的第一光學薄膜的光軸與單片狀的第二光學薄膜的光軸形成預定之角度配置的方式貼附於前述光學單元的前述第二面。
根據前述結構,一邊輸送光學顯示面板一邊對該光學顯示面板照射以預定角度傾斜的2種線狀光(L1、L2),並以單一的攝像部對透過了該光學顯示面板的透射光(P)線狀地且連續地進行拍攝,藉此能夠高速地輸送光學顯示面板,並能夠以清晰的對比度對光學顯示面板的整個面拍攝混入到光學單元與光學薄膜之間的異物。即,由於能夠一邊高速輸送光學顯示面板一邊高精度地進行檢查,因此能夠高速地連續生產優質的光學顯示面板。
此外,在前述檢查中,不僅能夠高精度地檢測混入到光學單元與光學薄膜之間的異物(例如貼合氣泡、碎玻璃、線頭、塵垢、塵埃等),還能夠高精度地檢測髒污等。
前述第一、第二照射部照射第一、第二線狀光的照射方向分別從與光學顯示面板垂直算起傾斜了預定角度,因此能夠藉由單一的攝像部同時地檢測對於一方的線狀光的照射方向不強烈地向輸送方向的下游側散射而強烈地向上游側散射的異物、和不強烈地向上游側散射而強烈地向下游側散射的異物,因此能夠更高精度地對光學顯示面板進行檢查。
另外,從高精度地對光學顯示面板進行檢查的觀點出發,前述第一角度(θ1)從垂直算起為1°~60°,宜為5°~45°,更宜為10°~30°。另外,前述第二角度(θ2)相對於垂直為1°~60°,宜為5°~45°,更宜為10°~30°。
在本發明中,「光學薄膜捲」是將長條的離型薄膜與長條的光學薄膜(黏著劑層、光學機能薄膜以及表面保護薄膜)按前述順序積層並構成為捲狀。
「捲對面板方式」是針對從光學薄膜捲放出的離型薄膜及長條光學薄膜,留著離型薄膜而將黏著劑層、光學機能薄膜及表面保護薄膜沿寬度方向切斷(half-cut:半切),從切斷得到的單片狀的光學薄膜剝離長條的離型薄膜,並隔著露出的黏著劑層將單片狀的光學薄膜貼合於光學單元的方式。
另一方面,作為與捲對面板方式不同的光學薄膜的貼合方式,有「片材對面板方式」。「片材對面板方式」是讓預先形成為單片狀態的單片狀的光學薄膜隔著剝離單片狀的離型薄膜或長條的離型薄膜而露出的黏著劑層貼合於光學單元的方式。
「含有切縫之光學薄膜捲」是指將單片狀的光學薄膜(黏著劑層、光學機能薄膜及表面保護薄膜)積層在長條的離型薄膜上並構成為捲狀的捲。
4:液晶單元
4a:第一面;第1基板
4b:第二面;第2基板
10:第一長條光學薄膜積層體
11:第一長條偏光薄膜
12:第一離型薄膜
20:第二長條光學薄膜積層體
21:第二長條偏光薄膜
22:第二離型薄膜
31:第一切斷部
31a:第一吸附部
32:第一調整張力輥
33:第二切斷部
33a:第二吸附部
34:第二調整張力輥
41:第一剝離部
42:第二剝離部
51a:第一貼附輥
51b:第一驅動輥
52a:第二貼附輥
52b:第二驅動輥
61:第一捲取部
62:第二捲取部
70:輸送輥
100:連續製造裝置
101:第一離型薄膜輸送裝置
102:第一貼附部
103:第二離型薄膜輸送裝置
104:第二貼附部
111:第一單片狀偏光薄膜
211:第二單片狀偏光薄膜
300:連續檢查裝置
301:良/不良判定部
302:記憶體
303:圖像統計處理/圖像組合部
311:第一照射部
312:第二照射部
314:狹縫部
314a:攝像區域
316:攝像部
317:圖像處理部
321、322:檢查用濾波器
400:輸送裝置
d1:輸送方向
d2:寬度方向
E:線檢查區域
L1:第一線狀光
L2:第二線狀光
P:透射光
R1:第一光學薄膜捲
R2:第二光學薄膜捲
Y:液晶顯示面板
θ1:第一角度
θ2:第二角度
D1、D2:距離
S1~S11:步驟
圖1是表示光學顯示面板的連續製造系統的一例的概要圖。
圖2是表示在光學單元上積層光學薄膜的順序的一例的概要圖。
圖3是表示對異物進行檢查的態樣的概要圖。
圖4是表示檢查裝置的一例的概要圖。
圖5是表示檢查裝置的處理流程的一例的流程圖。
圖6是表示從檢查等待到檢查結束為止的光學顯示面板的輸送情形的一例的概要圖。
圖7A是表示其它實施形態的檢查裝置的一例的概要圖。
圖7B是表示其它實施形態的檢查裝置的一例的概要圖。
用以實施發明之形態
以下,參照圖1更具體地說明光學顯示面板的連續製造系統及連續製造方法,但是本發明並不限定於本實施形態的態樣。
(實施形態1)
將光學顯示面板設為液晶顯示面板、光學單元設為液晶單元、光學薄膜設為偏光薄膜來進行說明。
液晶顯示面板的連續製造系統具有連續製造裝置100。連續製造裝置100將從第一光學薄膜捲R1一邊放出第一長條離型薄膜12及第一長條偏光薄膜11一邊對第一長條偏光薄膜11進行切斷加工所得到的第一單片狀偏光薄膜111貼附在液晶單元4的第一面4a。或者,連續製造裝置100將從第二光學薄膜捲R2一邊分別放出第二長條離型薄膜22及第二長條偏光薄膜21一邊對第二長條偏光薄膜21進行切斷加工所得到的第二單片狀偏光薄膜211以第一單片狀偏光薄膜111的吸收軸與第二單片狀偏光薄膜211的吸收軸彼此正交的方式貼附在液晶單元4的第二面4b,從而製造液晶顯示面板Y。
液晶顯示面板的連續製造系統具有一邊輸送液晶顯示面板Y一邊以光學方式對液晶顯示面板Y進行檢查的連續檢查裝置300。液晶顯示面板的連續製造系統將連續製造裝置100和連續檢查裝置300配置於用於輸送液晶單元4及液晶顯示面板Y之一系列的輸送裝置400中。
(光學薄膜捲)
作為捲繞長條偏光薄膜而成的光學薄膜 捲,可列舉例如(1)將具有離型薄膜和形成於該離型薄膜上的包含黏著劑層的長條偏光薄膜之連續長條(web)形態的長條光學薄膜積層體捲成捲狀的光學薄膜捲。在該情況下,液晶顯示面板的連續製造系統為了從長條偏光薄膜形成單片狀的偏光薄膜(薄片),而具有(形成切入線的)切斷裝置,前述切斷裝置留著離型薄膜而以預定間隔在與離型薄膜的進給方向正交的方向上切斷(半切)長條偏光薄膜(包含黏著劑層)。
另外,作為光學薄膜捲,可列舉例如(2)將具有離型薄膜和單片狀的偏光薄膜(包含黏著劑層)之長條光學薄膜積層體捲成捲狀而成的光學薄膜捲(所謂的含有切縫之偏光薄膜捲),前述單片狀的偏光薄膜是在離型薄膜上隔著切入線在與離型薄膜的進給方向正交的方向上彼此相鄰。
圖1所示的第一光學薄膜捲R1是將第一長條光學薄膜積層體10捲成捲狀而成的,前述第一長條光學薄膜積層體10具有第一長條離型薄膜12、和隔著黏著劑層形成在第一長條離型薄膜12上的具有與進給方向(長邊方向)平行的吸收軸的第一長條偏光薄膜(包含前述黏著劑層)11。
第二光學薄膜捲R2是將第二長條光學薄膜積層體20捲成捲狀而成的,前述第二長條光學薄膜積層體20具有第二長條離型薄膜22、和隔著黏著劑層形成在第二長條離型薄膜22上的具有與進給方向(長邊方向)平行的吸收軸的第二長條偏光薄膜(包含前述黏著劑層)21。
第一、第二長條偏光薄膜11、21例如由偏光件(厚度為5~80μm左右)和形成於偏光件的單面或兩面上之偏光件保護薄膜(厚度一般為1~500μm左右)隔著接著劑而形成、或不用接著劑而形成(例如自黏式的偏光件保護薄膜)。
作為構成第一、第二長條偏光薄膜11、21的其它的薄膜,可列舉例如相位差薄膜(厚度一般為10~200μm)、視角補償薄膜、亮度增強薄膜、表面保護薄膜等。第一、第二長條偏光薄膜11、21的厚度可列舉例如10μm~500μm的範圍。
構成第一、第二長條偏光薄膜11、21的黏著劑層的黏著劑不特別地進行限制,可列舉例如丙烯酸系黏著劑、聚矽氧系黏著劑、聚氨酯系黏著劑等。黏著劑層的厚度宜為例如10~50μm的範圍。第一、第二離型薄膜12、22能夠使用例如塑膠薄膜(例如聚對苯二甲酸乙二醇酯系薄膜、聚烯烴系薄膜等)等以往公知的薄膜。另外,根據需要,也可以使用以聚矽氧系或長鏈烷基系、氟系或硫化鉬等適當的剝離劑進行了塗布處理後的薄膜等遵照以往的標準的適當的薄膜。
(液晶顯示面板)
液晶顯示面板Y是在液晶單元4的單面或兩面至少形成偏光薄膜而得到的,可根據需要組入驅動電路。液晶單元4能夠使用例如垂直配向(VA)型、面內切換(IPS)型等任意類型的液晶單元。液晶單元4是在相向配置 的一對基板(第1基板4a、第2基板4b)間密封有液晶層的結構。
(連續製造裝置)
連續製造裝置100具有第一離型薄膜輸送裝置101、第一貼附部102、第二離型薄膜輸送裝置103以及第二貼附部104。
第一離型薄膜輸送裝置101從第一光學薄膜捲R1一邊放出第一長條離型薄膜12及第一長條偏光薄膜11(第一長條光學薄膜積層體10)一邊向第一貼附部102輸送。
在本實施形態中,第一離型薄膜輸送裝置101具有第一切斷部31、第一調整張力輥(dancer roll)32、第一剝離部41、第一捲取部61。
第一切斷部31藉由第一吸附部31a從第一離型薄膜12側將第一長條光學薄膜積層體10事先固定,並留著第一長條離型薄膜而將第一長條偏光薄膜(包含黏著劑層)11在其寬度方向上切斷,在第一長條離型薄膜12上形成第一單片狀偏光薄膜111。
作為第一切斷部31,可列舉例如切割器、雷射裝置等。作為第一吸附部31a,例如可以是具有與真空泵連接的很多的孔並能夠利用負壓自孔中吸引空氣的吸附板。
第一調整張力輥32具有用於保持第一長條離型薄膜12的張力的功能。
第一剝離部41在其前端部使第一長條離型 薄膜12處於內側並反折,而從第一長條離型薄膜12剝離第一單片狀偏光薄膜111。被剝離的第一單片狀偏光薄膜111被供給至第一貼附部102。
在本實施形態中,作為第一剝離部41,是在其前端部使用了尖銳刀緣部,但是並不限定於此。
第一捲取部61用於捲取被剝離了第一單片狀偏光薄膜111的第一長條離型薄膜12。第一捲取部61也可以由自動旋轉輥構成。
第一貼附部102從由輸送裝置400輸送來的液晶單元4的上側(第一面4a)將由第一剝離部41剝離了第一長條離型薄膜12後的第一單片狀偏光薄膜111隔著黏著劑層進行貼附。
在本實施形態中,第一貼附部102由第一貼附輥51a、第一驅動輥51b構成。
用於在液晶單元4的另一面(第二面4b)貼附第二單片狀偏光薄膜211的各種裝置能夠使用上述所說明的各種構成要件、裝置等。
第二離型薄膜輸送裝置103從第二光學薄膜捲R2一邊放出第二長條離型薄膜22及第二長條偏光薄膜21(第二長條光學薄膜積層體20)一邊向第二貼附部104輸送。
在本實施形態中,第二離型薄膜輸送裝置103具有第二切斷部33、第二調整張力輥34、第二剝離部42、第二捲取部62。
第二離型薄膜輸送裝置103能夠由與第一離型薄膜輸 送裝置101同樣的裝置來構成,第二貼附部104能夠由與第一貼附部102同樣的裝置來構成。
例如,第二切斷部33及第二吸附部33a能夠由與第一切斷部31及第一吸附部31a同樣的裝置來構成。第二調整張力輥34能夠由與第一調整張力輥32同樣的裝置來構成。第二捲取部62能夠由與第一捲取部61同樣的裝置來構成。第二貼附輥52a及第二驅動輥52b能夠由與第一貼附輥51a及第一驅動輥51b同樣的機構來構成。
(照射部)
連續檢查裝置300具有第一照射部311,前述第一照射部311從與液晶顯示面板Y的一面(在圖3中為第一面4a)垂直算起向輸送方向上游側傾斜了第一角度θ1的方向,對正在輸送的液晶顯示面板Y的線檢查區域E(參照圖3)照射與液晶顯示面板Y的寬度方向d2(圖3的紙面垂直方向)平行的第一線狀光L1,前述液晶顯示面板Y的寬度方向d2為與液晶顯示面板Y的輸送方向d1正交的方向。
另外,連續檢查裝置300具有第二照射部312,前述第二照射部312從與液晶顯示面板Y的一面(在圖3中為第一面4a)垂直算起向輸送方向下游側傾斜了第二角度θ2的方向,對正在輸送的液晶顯示面板Y的線檢查區域E照射與液晶顯示面板Y的寬度方向平行的第二線狀光L2,前述液晶顯示面板Y的寬度方向為與液晶顯示面板Y的輸送方向d1正交的方向d2。
在本實施形態中,第一角度θ1與第二角度θ2為相同的值,被設定為17°。另外,在本實施形態中,將 第一照射部311與第二照射部312配置成第一線狀光L1的照射方向與第二線狀光L2的照射方向對稱。第一角度θ1和第二角度θ2不限定於17°,也可以為5°~30°,宜為10°~30°。
第一、第二照射部311、312只要是照射直進性的第一、第二線狀光L1、L2,則不特別地進行限制,可列舉例如鹵素燈、金屬鹵化物燈、LED線性照明等。此外,第一、第二線狀光L1、L2是沿輸送裝置400的寬度方向d2呈線狀延伸的光,第一、第二線狀光L1、L2的短邊方向(與輸送裝置400的輸送方向d1平行的方向)的寬度比液晶顯示面板Y的輸送方向長度短。另外,第一、第二照射部311、312也可以具備用於使第一、第二線狀光L1、L2的短邊方向的寬度縮窄的透鏡部。作為透鏡部,可列舉例如沿著第一、第二線狀光L1、L2的長邊方向形成的圓棒狀的透鏡。使第一、第二線狀光L1、L2的短邊方向的寬度縮窄來進行聚光,在以下方面是理想的:能夠向液晶顯示面板面照射強度高的光、能夠藉由小面積的圖像資料來抑制資料處理容量從而縮短運算處理時間(能夠更高速化)、能夠獲得高的檢查精度。此外,第一、第二照射部311、312與輸送裝置400的距離可根據液晶顯示面板Y的種類、尺寸、輸送速度等來適當地進行調整。
(攝像部)
連續檢查裝置300具有一個攝像部316,前述一個攝像部316從液晶顯示面板Y的另一面(在圖1中為第 二面4b)對被第一線狀光L1及第二線狀光L2照射的線檢查區域E,以與液晶顯示面板Y的寬度方向(與輸送方向d1正交的方向d2)平行的線狀連續地進行拍攝。一個攝像部316可列舉例如呈線狀排列的1個或1個以上的CCD攝像機、CMOS感測器攝像機、線感測器攝像機等光學攝像機。一個攝像部316是對與被2個線狀光照射的一個線狀即線檢查區域E對應的一個線狀區域進行拍攝的結構,在本實施形態中,是構成為將4個CCD攝像機配置成一條直線。
在本實施形態中,一個攝像部316配置在與液晶顯示面板Y的另一面(第二面4b)垂直的方向上。
另外,作為其它實施形態,一個攝像部316也可以配置成相對於液晶顯示面板Y的另一面(第二面4b)從垂直軸算起傾斜成第三角度。第三角度例示了從垂直軸算起例如超過0°且30°以下的角度。
連續檢查裝置300具有狹縫部314,前述狹縫部314配置於液晶顯示面板Y的另一面(第二面2b)側,並且劃定了與線檢查區域E對應的攝像區域314a。第一、第二照射部311、312、攝像部316以及狹縫部314各自的配置相對於輸送裝置400為固定,攝像部316對通過狹縫部314的攝像區域314a的透射光P(透射光像)進行拍攝。
將狹縫部314配置成從液晶顯示面板Y的另一面(第二面4b)到狹縫部314的距離D1小於從攝像部316到狹縫部314的距離D2(D1<D2)。
在本實施形態中,狹縫部314被配置在液晶顯示面板Y 的附近(例如,D1為10mm~50mm以內)。
另外,作為其它實施形態,也能夠根據檢查時的液晶顯示面板Y的狀態,將第一、第二光照射部311、312配置在輸送裝置400的上側,將一個攝像部316及狹縫部314配置在輸送裝置400的下側。
在本實施形態中,在液晶單元4與第一單片狀偏光薄膜111或第二單片狀偏光薄膜211之間存在異物的情況下,如圖3所示,一個攝像部316能夠選擇性地拍攝在狹縫部314介於中間的狀態下通過攝像區域314a的因異物而散射的光。因此,一個攝像部316能夠以清晰的對比度拍攝異物。
(輸送裝置)
輸送裝置400是用於輸送液晶單元4、在液晶單元4的兩面貼附有第1、第2單片狀偏光薄膜111、211之液晶顯示面板Y的一系列的輸送裝置。前述輸送裝置400例如構成為具有輸送輥70、吸附板等。在本實施形態中,在輸送裝置400中具備旋繞機構和翻轉機構,前述旋繞機構用於使貼附有第1單片狀偏光薄膜111的液晶單元4水平旋轉90°,前述翻轉機構用於使貼附有第1單片狀偏光薄膜111的液晶單元4上下翻轉。另外,輸送裝置400在檢查裝置300進行檢查的期間內輸送液晶顯示面板Y。
(檢查流程)
在本實施形態中,基於使用攝像部316獲取到的圖像資料,來判定液晶顯示面板Y是良品還是不良 品。為此,檢查裝置300如圖4所示具有圖像處理部317、記憶體302、圖像統計處理/圖像組合部303、良/不良判定部301。參照圖4~6進行說明。
首先,控制部(未圖示)控制輸送裝置400,使液晶顯示面板Y暫時停止於檢查等待位置(參照圖6的(a))。
接著,控制部控制輸送裝置400及檢查裝置300,開始液晶顯示面板Y的輸送(步驟S1),並開始檢查裝置300的檢查(步驟S2)。
在此檢查中,從檢查開始起直到檢查結束為止,控制部控制輸送裝置400,沿輸送方向d1持續地輸送液晶顯示面板Y。另外,在此期間內,控制部控制檢查裝置300,來由第一、第二照射部311、312向液晶顯示面板Y照射第一、第二線狀光L1、L2,並由攝像部316以線狀拍攝第一、第二線狀光L1、L2照射至液晶顯示面板Y而通過狹縫部314之攝像區域314a的透射光P。
由攝像部316獲取到的線狀攝像資料被圖像處理部317進行圖像處理,進行了圖像處理後的線狀圖像資料被儲存到記憶體302(步驟S3、S4。圖6的(b)顯示檢查途中的狀態。)如圖5所示依次進行前述處理直到控制部(未圖示)控制輸送裝置400來將液晶顯示面板Y輸送到檢查結束位置為止(參照圖6的(c))。
接著,圖像統計處理/圖像組合部303從記憶體302讀出由圖像處理部317進行了圖像處理的線狀圖像 資料,進行圖像統計處理來作成液晶顯示面板Y的整體圖像資料(步驟5)。接著,整體圖像資料被儲存到記憶體302中(步驟6)。
接著,良/不良判定部301從記憶體302讀出整體圖像資料,基於整體圖像資料來判定液晶顯示面板Y的良/不良(步驟S7)。在此,在良/不良判定部301將液晶顯示面板Y判定為良品的情況下,判定為良品的判定結果會以與液晶顯示面板Y的識別資訊等相關聯的形式儲存到記憶體302中(步驟S9)。液晶顯示面板Y被輸送裝置400輸送到良品埠。
另一方面,在步驟S7中,在良/不良判定部301將液晶顯示面板Y判定為不良的情況下,判定為不良品的結果會以與液晶顯示面板Y的識別資訊等相關聯的形式儲存到記憶體302中(步驟S10)。液晶顯示面板Y被輸送裝置400輸送到不良品埠。
控制部(未圖示)可以構成為具有處理器和記憶體,顯示控制順序的程式被儲存到記憶體中,由處理器執行前述程式,控制部也可以是專用電路或韌體的結構。
圖像處理部、圖像統計處理/圖像組合部、良/不良判定部可以構成為具有處理器和記憶體,顯示處理順序的程式被儲存到記憶體中,由處理器執行前述程式,圖像處理部、圖像統計處理/圖像組合部、良/不良判定部也可以是由專用電路或韌體執行的結構。
(液晶顯示面板的連續檢查方法)
液晶顯示面板的連續檢查方法是在正在輸送液晶顯示面板的狀態下連續地以光學方式進行檢查,前述液晶顯示面板的兩面或單面設置有至少具有光學機能薄膜(例如偏光薄膜)的光學薄膜。液晶顯示面板的連續檢查方法能夠較佳地使用上述連續檢查裝置。
液晶顯示面板的連續檢查方法包括以下步驟:第一照射步驟,使用照射與液晶顯示面板的寬度方向平行的第一線狀光的第一照射部,從與該液晶顯示面板的一面垂直算起向輸送方向上游側傾斜了第一角度(θ1)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的線檢查區域照射該第一線狀光,前述液晶顯示面板的寬度方向為與該液晶顯示面板的輸送方向正交的方向;第二照射步驟,使用照射與液晶顯示面板的寬度方向平行的第二線狀光的第二照射部,從與該液晶顯示面板的一面垂直算起向輸送方向下游側傾斜了第二角度(θ2)的方向,對正在輸送的該液晶顯示面板的前述線檢查區域照射該第二線狀光,前述液晶顯示面板的寬度方向為與該液晶顯示面板的輸送方向正交的方向;以及攝像步驟,以一個攝像部從液晶顯示面板的另一面對被第一線狀光及第二線狀光照射的線檢查區域,且以與該液晶顯示面板的寬度方向平行的線狀連續地進行拍攝。
在攝像步驟中,也可以從液晶顯示面板的另一面隔著狹縫部來拍攝線檢查區域,前述狹縫部劃定了與該線檢查區域對應的攝像區域。
攝像部也可以配置在與液晶顯示面板的另一面垂直的方向上。
在第一照射步驟及第二照射步驟中,也可以為,第一角度(θ1)與第二角度(θ2)為相同的值,第一線狀光的照射方向與第二線狀光的照射方向對稱。
(液晶顯示面板的連續製造方法)
液晶顯示面板的連續製造方法包括以下步驟:製造步驟,將至少具有光學機能薄膜(例如偏光薄膜)的第一光學薄膜貼合於光學單元的第一面,並且將至少具有光學機能薄膜(例如偏光薄膜)的第二光學薄膜貼合於光學單元的第二面,來製造液晶顯示面板;以及液晶顯示面板的連續檢查方法中包含的步驟,其中,是以用於輸送液晶單元及液晶顯示面板的一系列的輸送裝置來進行製造步驟和上述連續檢查方法中包含的步驟。
(其它實施形態)
在本實施形態中,從液晶單元4的上側貼附第一單片狀偏光薄膜111,接著,使貼附有第1單片狀偏光薄膜111的液晶單元4翻轉(正面背面翻轉,並根據需要旋繞90°),從該液晶單元4的上側貼附第二單片狀偏光薄膜211。但是,也可以從液晶單元4的下側貼附第一單片狀偏光薄膜,使液晶單元4翻轉後,從液晶單元4的下側貼附第二單片狀偏光薄膜,也可以從液晶單元的上側貼附第一單片狀偏光薄膜,不使液晶單元翻轉,而從液晶單元的下側貼附第二單片狀偏光薄膜,還可以從液晶單元的下側貼附 第一單片狀偏光薄膜,不使液晶單元翻轉,而從液晶單元的上側貼附第二單片狀偏光薄膜。另外,也可以從液晶單元的上側及下側同時貼附第一單片狀偏光薄膜及第二單片狀偏光薄膜。
另外,在本實施形態中,例示了在光學單元的兩面貼附光學薄膜的結構,但是也可以在光學單元的單面貼上光學薄膜之後執行本發明的連續檢查。在圖7A、7B中例示在液晶單元的單面貼附偏光薄膜之後進行檢查的結構。
圖7A按照明部311、312、檢查用濾波器321、在攝像部側設置有偏光薄膜111的液晶顯示面板Y、狹縫部314、攝像部316的順序進行了配置。檢查用濾波器321可以被固定,也可以構成為僅在檢查時能夠移動。
圖7B按照明部311、312、在照明部側設置有偏光薄膜111的液晶顯示面板Y、狹縫部314、檢查用濾波器322、攝像部316的順序進行了配置。檢查用濾波器322可以被固定,也可以構成為僅在檢查時能夠移動。檢查用濾波器也可以配置於液晶顯示面板Y與狹縫部314之間。
圖7A的檢查裝置也可以配置於第一貼附部102的下游並執行檢查。圖7B的檢查裝置也可以配置於比90°旋繞上下翻轉元件靠近下游並執行檢查。
在圖7A、7B中,也可以將照明部配置於輸送裝置400的上側、將攝像部配置於輸送裝置400的下側。
另外,在本實施形態中,例示了在光學單元 的兩面以所謂的「捲對面板方式」貼附光學薄膜的結構,但是不限制於此,也可以在光學單元的兩面以「片材對面板方式」貼附光學薄膜,還可以對光學單元的一面以「捲對面板方式」、對另一面以「片材對面板方式」分別貼附光學薄膜。
另外,在本實施形態中,使用了光學薄膜捲,但是捲狀的光學薄膜的結構不限定於此,也可以使用所謂的「含有切縫之光學薄膜捲」。
另外,在本實施形態中,是以預定間隔切斷從光學薄膜捲放出的長條偏光薄膜,但是本發明不特別限制於前述結構。例如,也可以對從光學薄膜捲放出的長條偏光薄膜進行瑕疵檢查,基於該檢查的結果來以避開瑕疵的方式進行切斷(所謂的跳切(skip cut))。另外,也可以讀取對長條偏光薄膜預先附加的瑕疵資訊或在瑕疵位置處附加的標記,基於該瑕疵資訊或標記來以避開瑕疵的方式進行切斷。
另外,在本實施形態中,長條偏光薄膜具有與長邊方向平行的吸收軸,但是長條偏光薄膜的吸收軸方向不限定於此。例如,也可以為,第一長條偏光薄膜具有與其短邊方向(寬度方向)平行的吸收軸,第二長條偏光薄膜具有與其長邊方向平行的吸收軸。在此情況下,能夠適當地省略使貼附有第一偏光薄膜的液晶單元水平旋轉90°的旋繞機構。
另外,在本實施形態中,例示了液晶單元作 為光學單元,但是不限定於此,光學單元也可以是有機EL單元。
有機EL單元是在一對電極間夾持有電致發光層的結構。有機EL單元能夠使用例如頂部發光(top emission)方式、底部發光(bottom emission)方式、雙面發光(double emission)方式等任意類型的有機EL單元。有機EL顯示面板是在有機EL單元的單面或兩面貼合偏光薄膜而得到的,可根據需要組入驅動電路。
(實施例)
實施例使用了實施形態1(圖3~6)所涉及的裝置。比較例使用了在與液晶顯示面板的一面垂直的方向上配置光照射部、在與另一面垂直的方向上配置攝像部而成的檢查裝置。參考例使用了日本特願2011-60335(日本特開2012-194509)所涉及的裝置(圖4~6)。
在實施例中,將光照射部以第一角度θ1與第二角度θ2成為相同的值17°的方式進行配置,在與液晶顯示面板垂直的方向上配置攝像部。將狹縫部配置於距液晶顯示面板Y的另一面(第二面2b)20mm(距離D1)的位置處。
在參考例中,在與液晶顯示面板垂直的方向上配置光照射部,將攝像部以相對於線狀光的照射方向傾斜30°的方式進行配置。
一邊輸送200張(n=200)預先判明了瑕疵的液晶顯示面板一邊實施檢查。存在瑕疵之液晶顯示面板被漏掉的張數,實施例及參考例均為0張,但是在比較例中為15張。 基於該情形,可確定即使比以往減少攝像部,也能夠以相同程度或更高的精度檢測瑕疵。
4‧‧‧液晶單元
10‧‧‧第一長條光學薄膜積層體
11‧‧‧第一長條偏光薄膜
12‧‧‧第一離型薄膜
20‧‧‧第二長條光學薄膜積層體
21‧‧‧第二長條偏光薄膜
22‧‧‧第二離型薄膜
31‧‧‧第一切斷部
31a‧‧‧第一吸附部
32‧‧‧第一調整張力輥
33‧‧‧第二切斷部
33a‧‧‧第二吸附部
34‧‧‧第二調整張力輥
41‧‧‧第一剝離部
42‧‧‧第二剝離部
51a‧‧‧第一貼附輥
51b‧‧‧第一驅動輥
52a‧‧‧第二貼附輥
52b‧‧‧第二驅動輥
61‧‧‧第一捲取部
62‧‧‧第二捲取部
70‧‧‧輸送輥
100‧‧‧連續製造裝置
101‧‧‧第一離型薄膜輸送裝置
102‧‧‧第一貼附部
103‧‧‧第二離型薄膜輸送裝置
104‧‧‧第二貼附部
111‧‧‧第一單片狀偏光薄膜
211‧‧‧第二單片狀偏光薄膜
300‧‧‧連續檢查裝置
311‧‧‧第一照射部
312‧‧‧第二照射部
314‧‧‧狹縫部
316‧‧‧攝像部
400‧‧‧輸送裝置
d1‧‧‧輸送方向
d2‧‧‧寬度方向
R1‧‧‧第一光學薄膜捲
R2‧‧‧第二光學薄膜捲

Claims (14)

  1. 一種光學顯示面板的連續檢查方法,在正在輸送光學顯示面板的狀態下連續地以光學方式對前述光學顯示面板進行檢查,前述光學顯示面板的兩面設置有至少具有光學機能薄膜的光學薄膜,前述光學顯示面板的連續檢查方法包括以下步驟:第一照射步驟,使用照射與前述光學顯示面板的寬度方向平行的第一線狀光的第一照射部,從與該光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向上游側傾斜了第一角度(θ1)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的線檢查區域照射該第一線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向正交的方向;第二照射步驟,使用照射與前述光學顯示面板的寬度方向平行的第二線狀光的第二照射部,從與該光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向下游側傾斜了第二角度(θ2)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的前述線檢查區域照射該第二線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向正交的方向;以及攝像步驟,以一個攝像部從前述光學顯示面板的另一面對被前述第一線狀光及前述第二線狀光照射的前述線檢查區域,以與該光學顯示面板的寬度方向平行的線狀連續地進行拍攝,前述攝像步驟是從前述光學顯示面板的另一面隔著狹縫部來拍攝前述線檢查區域,前述狹縫部劃定了與該線檢查區域對應的攝像區域,前述狹縫部,比起前述攝像部的附近,是配置在前述光學顯示面板的附近,且配置成從前述光學顯示面板的另一面到前述狹縫部的距離(D1)為超過0mm至150mm以內。
  2. 一種光學顯示面板的連續檢查方法,在正在輸送光學顯示面板的狀態下連續地以光學方式對前述光學顯示面板進行檢 查,前述光學顯示面板的單面設置有至少具有光學機能薄膜的光學薄膜,前述光學顯示面板的連續檢查方法包括以下步驟:第一照射步驟,使用照射與前述光學顯示面板的寬度方向平行的第一線狀光的第一照射部,從與該光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向上游側傾斜了第一角度(θ1)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的線檢查區域照射該第一線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向正交的方向;第二照射步驟,使用照射與前述光學顯示面板的寬度方向平行的第二線狀光的第二照射部,從與該光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向下游側傾斜了第二角度(θ2)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的前述線檢查區域照射該第二線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向正交的方向;以及攝像步驟,以一個攝像部從前述光學顯示面板的另一面對被前述第一線狀光及前述第二線狀光照射的前述線檢查區域,以與該光學顯示面板的寬度方向平行的線狀連續地進行拍攝,前述攝像步驟是從前述光學顯示面板的另一面隔著狹縫部來拍攝前述線檢查區域,前述狹縫部劃定了與該線檢查區域對應的攝像區域,前述狹縫部,比起前述攝像部的附近,是配置在前述光學顯示面板的附近,且配置成從前述光學顯示面板的另一面到前述狹縫部的距離(D1)為超過0mm至150mm以內,前述光學薄膜所包含的光學機能薄膜以及檢查用濾波器為偏光薄膜,兩偏光薄膜彼此的吸收軸為相互正交的配置關係,將該檢查用濾波器配置在前述第一、第二照射部與前述一個攝像部之間,且配置成從與設置有前述光學薄膜的光學顯示面板之一面不同的另一面算起離開預定距離,並進行拍攝。
  3. 如請求項1或2之光學顯示面板的連續檢查方法,其中前述攝像部配置在與前述光學顯示面板的另一面垂直的方向上。
  4. 如請求項1或2之光學顯示面板的連續檢查方法,其中在前述第一照射步驟及前述第二照射步驟中,前述第一角度(θ1)與前述第二角度(θ2)為相同的值,前述第一線狀光的照射方向與前述第二線狀光的照射方向對稱。
  5. 如請求項1或2之光學顯示面板的連續檢查方法,其中前述狹縫部配置成從前述光學顯示面板的另一面到前述狹縫部的距離(D1)小於從前述攝像部到前述狹縫部的距離(D2)(D1<D2)。
  6. 一種光學顯示面板的連續檢查裝置,在正在輸送光學顯示面板的狀態下連續地以光學方式對前述光學顯示面板進行檢查,前述光學顯示面板的兩面設置有至少具有光學機能薄膜的光學薄膜,前述光學顯示面板的連續檢查裝置具有:第一照射部,其從與前述光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向上游側傾斜了第一角度(θ1)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的線檢查區域照射與該光學顯示面板的寬度方向平行的第一線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向正交的方向;第二照射部,其從與前述光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向下游側傾斜了第二角度(θ2)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的前述線檢查區域照射與該光學顯示面板的寬度方向平行的第二線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向正交的方向;一個攝像部,其從前述光學顯示面板的另一面對被前述第一線狀光及前述第二線狀光照射的前述線檢查區域,以與該光學顯示面板的 寬度方向平行的線狀連續地進行拍攝;以及狹縫部,配置於前述光學顯示面板的另一面側,並且劃定了與前述線檢查區域對應的攝像區域,前述攝像部隔著前述狹縫部來進行拍攝,前述狹縫部,比起前述攝像部的附近,是配置在前述光學顯示面板的附近,且配置成從前述光學顯示面板的另一面到前述狹縫部的距離(D1)為超過0mm至150mm以內。
  7. 一種光學顯示面板的連續檢查裝置,在正在輸送光學顯示面板的狀態下連續地以光學方式對前述光學顯示面板進行檢查,前述光學顯示面板的單面設置有至少具有光學機能薄膜的光學薄膜,前述光學顯示面板的連續檢查裝置具有:第一照射部,其從與前述光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向上游側傾斜了第一角度(θ1)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的線檢查區域照射與該光學顯示面板的寬度方向平行的第一線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向正交的方向;第二照射部,其從與前述光學顯示面板的一面垂直算起向輸送方向下游側傾斜了第二角度(θ2)的方向,對正在輸送的該光學顯示面板的前述線檢查區域照射與該光學顯示面板的寬度方向平行的第二線狀光,該光學顯示面板的寬度方向為與該光學顯示面板的輸送方向正交的方向;一個攝像部,其從前述光學顯示面板的另一面對被前述第一線狀光及前述第二線狀光照射的前述線檢查區域,以與該光學顯示面板的寬度方向平行的線狀連續地進行拍攝;狹縫部,前述狹縫部配置於前述光學顯示面板的另一面側,並且 劃定了與前述線檢查區域對應的攝像區域;以及檢查用濾波器,配置在前述第一、第二照射部與前述一個攝像部之間,且配置成從與設置有前述光學薄膜的光學顯示面板之一面不同的另一面算起離開預定距離,前述光學薄膜的光學機能薄膜以及檢查用濾波器為偏光薄膜,兩偏光薄膜彼此的吸收軸為相互正交的配置關係,前述攝像部隔著前述狹縫部來進行拍攝,前述狹縫部,比起攝像部的附近,是配置在前述光學顯示面板的附近,且配置成從前述光學顯示面板的另一面到前述狹縫部的距離(D1)為超過0mm至150mm以內。
  8. 如請求項6或7之光學顯示面板的連續檢查裝置,其中前述攝像部配置在與前述光學顯示面板的另一面垂直的方向上。
  9. 如請求項6或7之光學顯示面板的連續檢查裝置,其中,前述第一照射部和前述第二照射部配置成前述第一角度(θ1)與前述第二角度(θ2)為相同的值,且前述第一線狀光的照射方向與前述第二線狀光的照射方向對稱。
  10. 如請求項6或7之光學顯示面板的連續檢查裝置,其中前述狹縫部配置成從前述光學顯示面板的另一面到前述狹縫部的距離(D1)小於從前述攝像部到前述狹縫部的距離(D2)(D1<D2)。
  11. 一種光學顯示面板的連續製造方法,包括以下步驟:製造步驟,將至少具有光學機能薄膜的第一光學薄膜貼合於光學單元的第一面,以及/或者將至少具有光學機能薄膜的第二光學薄膜貼合於光學單元的第二面,來製造光學顯示面板;以及如請求項1或2之光學顯示面板的連續檢查方法中包含的步驟,其中,是以用於輸送前述光學單元及前述光學顯示面板的一系列 的輸送裝置來進行前述製造步驟和前述連續檢查方法中包含的步驟。
  12. 如請求項11之光學顯示面板的連續製造方法,其中,在前述製造步驟中,前述將至少具有光學機能薄膜的第一光學薄膜貼合於光學單元的第一面之動作為:將從第一光學薄膜捲一邊放出第一長條光學薄膜一邊留著長條的第一離型薄膜來切斷前述第一長條光學薄膜所得到的單片狀的第一光學薄膜,貼附於被輸送的前述光學單元的前述第一面、或者將單片狀的第一光學薄膜貼附於前述光學單元的第一面;以及/或者前述將至少具有光學機能薄膜的第二光學薄膜貼合於光學單元的第二面之動作為:將從第二光學薄膜捲一邊放出第二長條光學薄膜一邊留著長條的第二離型薄膜來切斷前述第二長條光學薄膜所得到的單片狀的第二光學薄膜,以前述第一光學薄膜的光軸與前述第二光學薄膜的光軸形成預定之角度配置的方式貼附於被輸送的前述光學單元的前述第二面、或者將單片狀的第二光學薄膜以前述第一光學薄膜的光軸與前述第二光學薄膜的光軸形成預定之角度配置的方式貼附於前述光學單元的前述第二面。
  13. 一種光學顯示面板的連續製造系統,具備:製造裝置,其將至少具有光學機能薄膜的第一光學薄膜貼合於光學單元的第一面,以及/或者將至少具有光學機能薄膜的第二光學薄膜貼合於光學單元的第二面,來製造光學顯示面板;以及如請求項6或7之光學顯示面板的連續檢查裝置,其中,前述製造裝置和前述連續檢查裝置被配置於用於輸送前述 光學單元及光學顯示面板的一系列的輸送裝置中。
  14. 如請求項13之光學顯示面板的連續製造系統,其中,在前述製造裝置中,前述將至少具有光學機能薄膜的第一光學薄膜貼合於光學單元的第一面之動作為:將從第一光學薄膜捲一邊放出第一長條光學薄膜一邊留著長條的第一離型薄膜來切斷前述第一長條光學薄膜所得到的單片狀的第一光學薄膜,貼附於被輸送的前述光學單元的前述第一面、或者將單片狀的第一光學薄膜貼附於前述光學單元的第一面;以及/或者前述將至少具有光學機能薄膜的第二光學薄膜貼合於光學單元的第二面之動作為:將從第二光學薄膜捲一邊放出第二長條光學薄膜一邊留著長條的第二離型薄膜來切斷前述第二長條光學薄膜所得到的單片狀的第二光學薄膜,以前述第一光學薄膜的光軸與前述第二光學薄膜的光軸形成預定之角度配置的方式貼附於被輸送的前述光學單元的前述第二面、或者將單片狀的第二光學薄膜以前述第一光學薄膜的光軸與前述第二光學薄膜的光軸形成預定之角度配置的方式貼附於前述光學單元的前述第二面。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7030914B1 (ja) * 2020-08-27 2022-03-07 花王株式会社 シート状部材の製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004170495A (ja) * 2002-11-18 2004-06-17 Micronics Japan Co Ltd 表示用基板の検査方法及び装置
JP2013246059A (ja) * 2012-05-25 2013-12-09 Sharp Corp 欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP2016121981A (ja) * 2014-12-24 2016-07-07 日東電工株式会社 透過式欠陥検査装置及び欠陥検査方法
TW201734460A (zh) * 2014-06-27 2017-10-01 應用材料股份有限公司 線性檢查系統

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001349839A (ja) 2000-06-07 2001-12-21 Sumitomo Chem Co Ltd 偏光フィルムの欠陥検査方法
JP4228778B2 (ja) * 2003-05-21 2009-02-25 ウシオ電機株式会社 パターン検査装置
KR100922616B1 (ko) * 2007-10-24 2009-10-21 주식회사 아바코 필름 검사장치
JP2009282385A (ja) 2008-05-23 2009-12-03 Nitto Denko Corp 光学表示装置の製造方法
JP2010101692A (ja) 2008-10-22 2010-05-06 Kyodo Printing Co Ltd シート状物品の検査方法及びその検査装置
KR101300132B1 (ko) * 2011-01-31 2013-08-26 삼성코닝정밀소재 주식회사 평판 유리 이물질 검사 장치 및 검사 방법
JP4921597B1 (ja) 2011-03-18 2012-04-25 日東電工株式会社 液晶表示パネルの連続製造システムおよび液晶表示パネルの連続製造方法、並びに、検査装置および検査方法
KR101324015B1 (ko) * 2011-08-18 2013-10-31 바슬러 비전 테크놀로지스 에이지 유리기판 표면 불량 검사 장치 및 검사 방법
JP6156820B2 (ja) * 2013-08-22 2017-07-05 住友化学株式会社 欠陥検査装置、光学部材の製造システム及び光学表示デバイスの生産システム
TWI628429B (zh) 2016-12-27 2018-07-01 住華科技股份有限公司 缺陷檢測系統及方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004170495A (ja) * 2002-11-18 2004-06-17 Micronics Japan Co Ltd 表示用基板の検査方法及び装置
JP2013246059A (ja) * 2012-05-25 2013-12-09 Sharp Corp 欠陥検査装置および欠陥検査方法
TW201734460A (zh) * 2014-06-27 2017-10-01 應用材料股份有限公司 線性檢查系統
JP2016121981A (ja) * 2014-12-24 2016-07-07 日東電工株式会社 透過式欠陥検査装置及び欠陥検査方法

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