TWI747311B - 採樣率校正方法、系統、設備及儲存媒介 - Google Patents

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Abstract

本發明提供了一種採樣率校正方法、系統、設備及儲存媒介，所述方法包括：統計一個校正週期內的採樣點數量，計算一個校正週期內的採樣時間；根據該校正週期開始時和結束時校正計時器的計時確定校正時間；根據所述採樣時間和校正時間確定該校正週期內的採樣偏差；根據所述採樣偏差的值對採樣資料進行校正。本發明無需修改或增加硬體電路，經過採樣率校正，改善了採樣時所產生的時間偏差，提高了採樣精度，經過實驗證明可以大大提升採樣率的準確性並且穩定無漂移，該方法可以適應於不同晶片的差異性，能夠在保證採樣資料的精度的同時也保證資料的準確性。

Description

採樣率校正方法、系統、設備及儲存媒介
本發明涉及採樣技術領域，尤其涉及一種採樣率校正方法、系統、設備及儲存媒介。
採樣率，指的是每秒從連續信號中提取並組成離散信號的採樣個數，用赫茲(Hz)來表示。通常採樣晶片是通過內置時鐘或者外接晶振來提供其採樣基準的，其都會受到器件差異性、溫度、時間老化等影響造成時間漂移。例如，對於心電儀設備，其中的心率採集晶片存在偏差，MCU(Microcontroller Unit，微控制單元)運行也存在偏差，導致同樣數量的採樣資料時長不一致，從而會因為計時不準確而影響資料獲取效果。
現有技術中的採樣率校正方式主要有兩種，一種方式是提供一種電路，通過時域差值的方式校正採樣率，具體地，該電路包括：第一電路回路，具有上/下計數器，配置其以接收輸入信號和回饋信號；以及加法器，配置其以接收來自上/下計數器的輸出信號，並且向上/下計數器輸出進位元輸出作為回饋信號；以及第二電路回路，配置其以傳輸來自加法器的和輸出到調製器，並且回饋來自調製器的輸 出信號到加法器的輸入。然而該種方式需要增加硬體電路來校正採樣率，比較繁瑣。
另一種方式是採用一種自動頻率校正方法，包括如下步驟：S1、對接收到的經過採樣的頻點為15.36MHZ，資料速率為61.44MHZ的數位信號進行下變頻抽取濾波，得到269.473K的GSM信號；S2、對GSM信號進行FCCH檢測獲取FCCH信號；S3、將FCCH資料擬合成直線的斜率並解調出輸出斜率；S4、將輸出斜率與理想斜率進行比較計算出斜率偏差值相應得到頻率偏差值；然後根據斜率偏差值通過查閱資料表得到同步控制電路的輸入資料並將輸入資料配置給同步控制電路；S5、同步控制電路根據輸入資料產生輸出電壓控制晶振時鐘脈衝CP實現頻率校正。該種方式先通過演算法計算出偏差，然後再控制電壓來控制晶振的時鐘進行校正，同樣也比較複雜，需要修改硬體電路。
針對現有技術中的問題，本發明的目的在於提供一種採樣率校正方法、系統、設備及儲存媒介，無需對硬體電路進行修改或增加，經過預測與校正，改善採樣時所產生的時間偏差，提高採樣精度。
本發明實施例提供一種採樣率校正方法，包括如下步驟：統計一個校正週期內的採樣點數量，計算一個校正週期內的採樣時間；根據該校正週期開始時和結束時校正計時器的計時確定校正時 間；根據所述採樣時間和校正時間確定該校正週期內的採樣偏差；根據所述採樣偏差的值對採樣資料進行校正。
可選地，所述計算一個校正週期內的採樣時間，包括如下步驟：根據當前採樣率計算採樣週期的時間長度；將一個校正週期內的採樣點數量乘以一個採樣週期的時間長度，得到一個校正週期內的採樣時間。
可選地，所述統計一個校正週期內的採樣點數量之前，還包括如下步驟：于量測開始時，採集歷史偏差率和極限偏差率；根據歷史偏差率和極限偏差率預測校正週期。
可選地，所述根據歷史偏差率和極限偏差率預測校正週期，包括如下步驟：根據如下公式計算極限校正週期：極限校正週期=採樣週期/極限偏差值；根據如下公式計算預測校正週期：預測校正週期=極限校正週期*(極限偏差率/歷史偏差率)。
可選地，所述根據所述採樣時間和校正時間確定該校正週期內的採樣偏差之後，還包括如下步驟：判斷所述採樣偏差的絕對值是否大於等於第一預設閾值，如果是，則重新調整校正週期。
可選地，所述重新調整校正週期，包括如下步驟：採用如下公式計算當前校正週期的偏差率：當前校正週期的偏差率=當前校正週期的偏差值/校正週期時長；採用如下公式重新計算調整後的校正週期：調整後的校正週期=1/(當前校正週期的採樣率*當前校正週期的偏差率)，單位為秒。
可選地，根據所述採樣偏差的值對採樣資料進行校正，包括如下步驟：如果所述採樣時間大於所述校正時間，且所述採樣時間與所述校正時間的差值大於等於第二預設閾值，則從採樣資料中去除一個採樣點的資料；如果所述採樣時間小於所述校正時間，且所述校正時間與所述採樣時間的差值大於等於第二預設閾值，則在採樣資料中增加一個採樣點的資料。
可選地，所述第二預設閾值為一個採樣週期。
可選地，所述從採樣資料中去除一個採樣點的資料，包括去除該採樣週期中最後採集的一個採樣點的資料。
本發明實施例還提供一種採樣率校正系統，用於實現所述的採樣率校正方法，所述系統包括：偏差統計模組，用於統計一個校正週期內的採樣點數量，計算一個校正週期內的採樣時間，根據該校正週期開始時和結束時校正計時器的計時確定校正時間，以及根據所述採樣時間和校正時間確定該校正週期內的採樣偏差；偏差校正模組，用於根據所述採樣偏差的值對採樣資料進行校正。
可選地，所述系統還包括：歷史記錄模組，用於記錄歷史偏差率；校正週期預測模組，用於在量測開始時，採集歷史偏差率和極限偏差率，並根據歷史偏差率和極限偏差率預測校正週期；校正週期調整模組，用於在採樣偏差的絕對值大於等於第一預設閾值時，重新調整校正週期。
本發明實施例還提供一種採樣率校正設備，包括：處理器；記憶體，其中儲存有所述處理器的可執行指令；其中，所述處理 器配置為經由執行所述可執行指令來執行所述的採樣率校正方法的步驟。
本發明實施例還提供一種電腦可讀儲存媒介，用於儲存程式，所述程式被執行時實現所述的採樣率校正方法的步驟。
應當理解的是，以上的一般描述和後文的細節描述僅是示例性和解釋性的，並不能限制本公開。
本發明所提供的採樣率校正方法、系統、設備及儲存媒介具有下列優點：本發明無需修改或增加硬體電路，經過採樣率校正，改善了採樣時所產生的時間偏差，提高了採樣精度，經過實驗證明可以大大提升採樣率的準確性並且穩定無漂移，該方法可以適應於不同晶片的差異性，能夠在保證採樣資料的精度的同時也保證資料的準確性。進一步地，本發明可以通過動態調整校正週期，優化校正操作對微控制單元的資源的消耗。
為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉實施例，並配合所附圖式詳細說明如下：
S100,S110,S120,S200,S300,S400,S410,S420,S430,S440,S450,S460:步驟
A:曲線
B,C,D,C’,D’:時間軸
M100:偏差統計模組
M200:偏差校正模組
M300:歷史紀錄模組
M400:校正週期預測模組
M500:校正週期調整模組
600:電子設備
610:處理單元
620:儲存單元
6201:RAM
6202:快速暫存
6203:ROM
6204:程式/實用工具
6205:程式模組
630:匯流排
640:顯示單元
650:I/O介面
660:網路介面卡
700:外部設備
800:程式產品
通過閱讀參照以下附圖對非限制性實施例所作的詳細描述，本發明的其它特徵、目的和優點將會變得更明顯。
第1圖是本發明一實施例的採樣率校正方法的流程圖；第2圖是本發明一具體實例的採樣率校正方法的流程圖；第3圖是本發明一實施例的採樣資料校正的流程圖； 第4圖和第5圖是本發明一實施例的去值法和插值法校正的示意圖；第6圖是本發明一實施例的採樣率校正系統的結構示意圖；第7圖是本發明一實施例的採樣率校正設備的結構示意圖；第8圖是本發明一實施例的電腦可讀儲存媒介的結構示意圖。
現在將參考附圖更全面地描述示例實施方式。然而，示例實施方式能夠以多種形式實施，且不應被理解為限於在此闡述的範例；相反，提供這些實施方式使得本公開將更加全面和完整，並將示例實施方式的構思全面地傳達給本領域的技術人員。所描述的特徵、結構或特性可以以任何合適的方式結合在一個或更多實施方式中。
此外，附圖僅為本公開的示意性圖解，並非一定是按比例繪製。圖中相同的附圖標記表示相同或類似的部分，因而將省略對它們的重複描述。附圖中所示的一些方框圖是功能實體，不一定必須與物理或邏輯上獨立的實體相對應。可以採用軟體形式來實現這些功能實體，或在一個或多個硬體模組或積體電路中實現這些功能實體，或在不同網路和/或處理器裝置和/或微控制器裝置中實現這些功能實體。
如第1圖所示，在本發明一實施例中，本發明提出了一種採樣率校正方法，包括如下步驟：S100：統計一個校正週期內的採樣點數量，計算一個校正週期內的採樣時間； S200：根據該校正週期開始時和結束時校正計時器的計時確定校正時間，所述校正計時器可以為微控制單元內部的RTC(即時時鐘)，也可以是微控制單元外接的時鐘；S300：根據所述採樣時間和校正時間確定該校正週期內的採樣偏差，具體地，採樣偏差=採樣時間-校正時間，由於採樣模組在採樣時，偏差也會存在波動，本發明根據當前校正週期中的累計偏差值及時修正偏差，並且在下一校正週期中重新對偏差值進行累計，避免偏差重複累計；S400：根據所述採樣偏差的值對採樣資料進行校正。
現有技術中的採樣資料處理的流程一般為：採樣模組根據採樣率採集資料，將採集的原始採樣資料發送給採樣處理器模組，採樣處理器模組接收到採樣處理模組後，進行採樣資料儲存。
而本發明在現有技術的基礎上，增加了採樣率校正方法，在基於微控制單元的採樣處理器模組接收到原始採樣資料之後，按照校正週期和採樣偏差對原始採樣資料進行校正，得到校正後採樣資料，然後再進行儲存。
具體地，本發明通過步驟S100~S300計算採樣偏差，並通過步驟S400對採樣資料進行校正，在計算採樣偏差時，可以採用採樣處理器模組自帶或外接的計時器作為校正計時器，作為計時參考，從而無需修改或增加硬體電路，經過採樣率校正，改善了採樣時所產生的時間偏差，提高了採樣精度，該方法可以適應於不同晶片的差異性，能夠在保證採樣資料的精度的同時也保證資料的準確性。
如第2圖所示，在該實施例中，所述步驟S100：計算一個校正週期內的採樣時間，包括如下步驟：S110：根據當前採樣率計算採樣週期的時間長度，採樣週期=1/採樣率，單位為s，例如，當前採樣率為500，則採樣週期為0.002s，即2ms；S120：將一個校正週期內的採樣點數量乘以一個採樣週期的時間長度，得到一個校正週期內的採樣時間，例如，一個校正週期內的採樣點數量為330個，採樣週期為2ms，一個校正週期內的採樣時間為330*2ms=660ms。
如果在當前校正週期開始前，校正計時器的計時為0，當前校正週期結束時，校正計時器的計時為652ms，則校正時間為652ms，則採樣時間和校正時間的差值為660ms-652ms=8ms。
在實際應用中，採樣偏差可能會發生變化，需要累計偏差來修正預測的校正週期，並將累計偏差進行記錄，以及根據累計偏差預測後續測量的校正週期。具體地，如第2圖所示，在該實施例中，所述步驟S100：統計一個校正週期內的採樣點數量之前，還包括預測校正週期，具體地，包括如下步驟：于量測開始時，採集歷史偏差率和極限偏差率，其中歷史偏差率指的是根據歷史記錄資料計算得到的同一採樣模組的歷史偏差率，例如，可以採用前一次量測時每個校正週期的偏差率的平均值，極限偏差率可以通過採樣模組的產品說明或者實驗資料得到，指的是在最差情況下採 樣模組的偏差率，偏差率的定義為一定時間t內的偏差值與該一定時間t的比值；根據歷史偏差率和極限偏差率預測校正週期。
在該實施例中，所述根據歷史偏差率和極限偏差率預測校正週期，包括如下步驟：根據如下公式計算極限校正週期：極限校正週期=採樣週期/極限偏差值；根據如下公式計算預測校正週期：預測校正週期=極限校正週期*(極限偏差率/歷史偏差率)。
例如，在一實例中，採樣率為每秒鐘500次採樣，採樣週期為2ms，極限偏差率為3%，根據前一次量測記錄的歷史資料所得到的歷史偏差率為0.3%。計算得到極限校正週期為2/0.03=66ms，而預測校正週期為66ms*(3%/0.3%)=660ms。則當前次量測第一個校正週期的時間長度即為660ms。在設備初次使用而沒有歷史偏差率時，採用極限校正週期作為預測校正週期。
在採用採樣率校正方法時，採樣偏差也會存在波動，根據當前校正週期內的偏差值，需要動態調整校正週期，及時校正採樣資料偏差。具體地，如第2圖所示，在該實施例中，所述步驟S300：根據所述採樣時間和校正時間確定該校正週期內的採樣偏差之後，還包括如下步驟：判斷所述採樣偏差的絕對值是否大於等於第一預設閾值，如果是，則重新調整校正週期。此處第一預設閾值為預設的一個容許偏差閾 值，具體數值可以根據需要設定，例如，設定第一預設閾值的數值為兩個採樣週期，即4ms。
而在上面的例子中，採樣時間為660ms，校正時間為652ms，差值為8ms>4ms，則需要重新調整校正週期。在其他的實施例中，如果採樣時間小於校正時間，且採樣偏差的絕對值大於等於第一預設閾值，也需要重新調整校正週期。如果採樣時間和校正時間的差值的絕對值小於第一預設閾值，則當前不對校正週期進行調整。
在該實施例中，所述重新調整校正週期，包括如下步驟：採用如下公式計算當前校正週期的偏差率：當前校正週期的偏差率=當前校正週期的偏差值/校正週期時長；採用如下公式重新計算調整後的校正週期：調整後的校正週期=1/(當前校正週期的採樣率*當前校正週期的偏差率)，單位為秒。例如，當前校正週期的採樣率為500，當前校正週期的偏差率為8ms/660ms，則計算得到的調整後的校正週期為1/(500*(8/660)=0.165s，即165ms。
因此，本發明的採樣率校正方法通過預測校正週期，並在每個校正週期校正採樣資料，改善採樣時所產生的時間偏差，提高採樣精度，同時通過動態調整校正週期，優化校正操作帶來的微控制單元資源開支。
如第3圖所示，在該實施例中，所述步驟S400：根據所述採樣偏差的值對採樣資料進行校正，包括如下步驟： S410：判斷所述採樣時間是否大於所述校正時間，如果是，則繼續步驟S420，否則繼續步驟S440；S420：判斷所述採樣時間與所述校正時間的差值是否大於等於第二預設閾值，如果是，則繼續步驟S430，否則繼續步驟S460；S430：即採樣時間大於校正時間，且採樣時間與校正時間的差值大於第二預設閾值，採用去值法校正採樣資料，即從採樣資料中去除一個採樣點的資料；S440：判斷所述校正時間與所述採樣時間的差值是否大於等於第二閾值，如果是，則繼續步驟S450，否則繼續步驟S460；S450：即採樣時間小於校正時間，且校正時間與採樣時間的差值大於第二預設閾值，採用插值法校正採樣資料，即在採樣資料中增加一個採樣點的資料；S460：不對所述採樣資料進行校正。
如第4圖和第5圖示出了採用去值法和插值法校正採樣資料的示意圖。第4圖和第5圖中，曲線A表示心電圖採樣資料波形，時間軸B表示校正時間。第4圖中，時間軸C表示採樣資料1，時間軸D表示採樣資料2，其中時間軸C中採樣過快，採用去值法將第11個採樣點去除，得到第5圖中的時間軸C’，第4圖中的時間軸D採樣過慢，採用插值法，新增第10個採樣點，得到第5圖中的時間軸D’。
此處，第二預設閾值的數值可以根據需要選擇，例如可以選擇為一個採樣週期的時間長度等。
在該實施例中，所述步驟S430中，從採樣資料中去除一個採樣點的資料，包括去除該採樣週期中最後採集的一個採樣點的資料，即優先保留在先採集的採樣資料，將最後採集的採樣資料去除。
如第6圖所示，本發明實施例還提供一種採樣率校正系統，用於實現所述的採樣率校正方法，所述系統包括：偏差統計模組M100，用於統計一個校正週期內的採樣點數量，計算一個校正週期內的採樣時間，根據該校正週期開始時和結束時校正計時器的計時確定校正時間，以及根據所述採樣時間和校正時間確定該校正週期內的採樣偏差；偏差校正模組M200，用於根據所述採樣偏差的值對採樣資料進行校正。
因此，本發明的採樣率校正系統通過偏差統計模組M100計算採樣偏差，並通過偏差校正模組M200對採樣資料進行校正，在計算採樣偏差時，可以採用採樣處理器模組自帶或外接的計時器作為校正計時器，作為計時參考，從而無需修改或增加硬體電路，經過採樣率校正，改善了採樣時所產生的時間偏差，提高了採樣精度，該方法可以適應於不同晶片的差異性，能夠在保證採樣資料的精度的同時也保證資料的準確性。
在該實施例中，所述採樣率校正系統還用於在每次量測開始時對校正週期進行預測，因此，所述系統還包括：歷史記錄模組M300，用於記錄歷史偏差率，例如記錄前一次量測時的各個校正週期的偏差率，然後計算平均值，作為歷史偏差率； 校正週期預測模組M400，用於在量測開始時，採集歷史偏差率和極限偏差率，並根據歷史偏差率和極限偏差率預測校正週期，具體地，可以採用上述採樣率校正方法的具體實施例中校正週期的預測方法來實現。
進一步地，所述採樣率校正系統還用於在每個校正週期之後判斷是否需要調整校正週期。具體地，所述系統還包括校正週期調整模組M500，用於在採樣偏差的絕對值大於等於第一預設閾值時，重新調整校正週期，重新調整方式可以採用上述採樣率校正方法的具體實施例中調整方法來實現。
因此，本發明的採樣率校正系統通過預測校正週期，並在每個校正週期校正採樣資料，改善採樣時所產生的時間偏差，提高採樣精度，同時通過動態調整校正週期，優化校正操作帶來的微控制單元資源開支。
本發明實施例還提供一種採樣率校正設備，包括處理器；記憶體，其中儲存有所述處理器的可執行指令；其中，所述處理器配置為經由執行所述可執行指令來執行所述的採樣率校正方法的步驟。
所屬技術領域的技術人員能夠理解，本發明的各個方面可以實現為系統、方法或程式產品。因此，本發明的各個方面可以具體實現為以下形式，即：完全的硬體實施方式、完全的軟體實施方式(包括固件、微代碼等)，或硬體和軟體方面結合的實施方式，這裡可以統稱為“電路”、“模組”或“平臺”。
下面參照第7圖來描述根據本發明的這種實施方式的電子設備600。第7圖顯示的電子設備600僅僅是一個示例，不應對本發明實施例的功能和使用範圍帶來任何限制。
如第7圖所示，電子設備600以通用計算設備的形式表現。電子設備600的元件可以包括但不限於：至少一個處理單元610、至少一個儲存單元620、連接不同平臺元件(包括儲存單元620和處理單元610)的匯流排630、顯示單元640等。
其中，所述儲存單元儲存有程式碼，所述程式碼可以被所述處理單元610執行，使得所述處理單元610執行本說明書上述電子處方流轉處理方法部分中描述的根據本發明各種示例性實施方式的步驟。例如，所述處理單元610可以執行如第1圖中所示的步驟。
所述儲存單元620可以包括易失性儲存單元形式的可讀介質，例如隨機存取儲存單元(RAM)6201和/或快取記憶體儲存單元6202，還可以進一步包括唯讀儲存單元(ROM)6203。
所述儲存單元620還可以包括具有一組(至少一個)程式模組6205的程式/實用工具6204，這樣的程式模組6205包括但不限於：作業系統、一個或者多個應用程式、其它程式模組以及程式資料，這些示例中的每一個或某種組合中可能包括網路環境的實現。
匯流排630可以為表示幾類匯流排結構中的一種或多種，包括儲存單元匯流排或者儲存單元控制器、週邊匯流排、圖形加速埠、處理單元或者使用多種匯流排結構中的任意匯流排結構的局域匯流排。
電子設備600也可以與一個或多個外部設備700(例如鍵盤、指向設備、藍牙設備等)通信，還可與一個或者多個使得使用者能與該電子設備600交互的設備通信，和/或與使得該電子設備600能與一個或多個其它計算設備進行通信的任何設備(例如路由器、數據機等等)通信。這種通信可以通過輸入/輸出(I/O)介面650進行。並且，電子設備600還可以通過網路介面卡660與一個或者多個網路(例如局域網(LAN)，廣域網路(WAN)和/或公共網路，例如網際網路)通信。網路介面卡660可以通過匯流排630與電子設備600的其它模組通信。應當明白，儘管圖中未示出，可以結合電子設備600使用其它硬體和/或軟體模組，包括但不限於：微代碼、裝置驅動程式、冗餘處理單元、外部磁片驅動陣列、RAID系統、磁帶驅動器以及資料備份儲存平臺等。
本發明實施例還提供一種電腦可讀儲存媒介，用於儲存程式，所述程式被執行時實現所述的採樣率校正方法的步驟。在一些可能的實施方式中，本發明的各個方面還可以實現為一種程式產品的形式，其包括程式碼，當所述程式產品在終端設備上運行時，所述程式碼用於使所述終端設備執行本說明書上述電子處方流轉處理方法部分中描述的根據本發明各種示例性實施方式的步驟。
參考第8圖所示，描述了根據本發明的實施方式的用於實現上述方法的程式產品800，其可以採用可擕式緊湊盤唯讀記憶體(CD-ROM)並包括程式碼，並可以在終端設備，例如個人電腦上運行。然而，本發明的程式產品不限於此，在本檔中，可讀儲存媒介可以是任何包含或儲存程 式的有形介質，該程式可以被指令執行系統、裝置或者器件使用或者與其結合使用。
所述程式產品可以採用一個或多個可讀介質的任意組合。可讀介質可以是可讀信號介質或者可讀儲存媒介。可讀儲存媒介例如可以為但不限於電、磁、光、電磁、紅外線、或半導體的系統、裝置或器件，或者任意以上的組合。可讀儲存媒介的更具體的例子(非窮舉的列表)包括：具有一個或多個導線的電連接、可擕式盤、硬碟、隨機存取記憶體(RAM)、唯讀記憶體(ROM)、可擦式可程式設計唯讀記憶體(EPROM或快閃記憶體)、光纖、可擕式緊湊盤唯讀記憶體(CD-ROM)、光記憶體件、磁記憶體件、或者上述的任意合適的組合。
所述電腦可讀儲存媒介可以包括在基帶中或者作為載波一部分傳播的資料信號，其中承載了可讀程式碼。這種傳播的資料信號可以採用多種形式，包括但不限於電磁信號、光信號或上述的任意合適的組合。可讀儲存媒介還可以是可讀儲存媒介以外的任何可讀介質，該可讀介質可以發送、傳播或者傳輸用於由指令執行系統、裝置或者器件使用或者與其結合使用的程式。可讀儲存媒介上包含的程式碼可以用任何適當的介質傳輸，包括但不限於無線、有線、光纜、RF等等，或者上述的任意合適的組合。
可以以一種或多種程式設計語言的任意組合來編寫用於執行本發明操作的程式碼，所述程式設計語言包括物件導向的程式設計語言一諸如Java、C++等，還包括常規的過程式程式設計語言一諸如“C”語言或類似的程式設計語言。程式碼可以完全地在使用者計算設備上執行、部 分地在使用者設備上執行、作為一個獨立的套裝軟體執行、部分在使用者計算設備上部分在遠端計算設備上執行、或者完全在遠端計算設備或伺服器上執行。在涉及遠端計算設備的情形中，遠端計算設備可以通過任意種類的網路，包括局域網(LAN)或廣域網路(WAN)，連接到使用者計算設備，或者，可以連接到外部計算設備(例如利用網際網路服務提供者來通過網際網路連接)。
本發明所提供的採樣率校正方法、系統、設備及儲存媒介具有下列優點：本發明無需修改或增加硬體電路，經過採樣率校正，改善了採樣時所產生的時間偏差，提高了採樣精度，經過實驗證明可以大大提升採樣率的準確性並且穩定無漂移，該方法可以適應於不同晶片的差異性，能夠在保證採樣資料的精度的同時也保證資料的準確性。進一步地，本發明可以通過動態調整校正週期，優化校正操作對微控制單元的資源的消耗。
以上內容是結合具體的優選實施方式對本發明所作的進一步詳細說明，不能認定本發明的具體實施只局限於這些說明。對於本發明所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬於本發明的保護範圍。
綜上所述，雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
S100,S200,S300,S400:步驟

Claims (12)

  1. 一種採樣率校正方法，包括：統計一個校正週期內的採樣點數量，計算一個校正週期內的採樣時間；根據該校正週期開始時和結束時校正計時器的計時確定校正時間；根據所述採樣時間和校正時間確定該校正週期內的採樣偏差；以及根據所述採樣偏差的值對採樣資料進行校正，包括：如果所述採樣時間大於所述校正時間，且所述採樣時間與所述校正時間的差值大於等於第二預設閾值，則從採樣資料中去除一個採樣點的資料；以及如果所述採樣時間小於所述校正時間，且所述校正時間與所述採樣時間的差值大於等於第二預設閾值，則在採樣資料中增加一個採樣點的資料。
  2. 如請求項1所述之採樣率校正方法，所述計算一個校正週期內的採樣時間，包括：根據當前採樣率計算採樣週期的時間長度；以及將一個校正週期內的採樣點數量乘以一個採樣週期的時間長度，得到一個校正週期內的採樣時間。
  3. 如請求項1所述之採樣率校正方法，所述統計一個校正週期內的採樣點數量之前，還包括： 于量測開始時，採集歷史偏差率和極限偏差率；以及根據歷史偏差率和極限偏差率預測校正週期。
  4. 如請求項3所述之採樣率校正方法，所述根據歷史偏差率和極限偏差率預測校正週期，包括：根據如下公式計算極限校正週期：極限校正週期=採樣週期/極限偏差值；以及根據如下公式計算預測校正週期：預測校正週期=極限校正週期*(極限偏差率/歷史偏差率)。
  5. 如請求項3所述之採樣率校正方法，所述根據所述採樣時間和校正時間確定該校正週期內的採樣偏差之後，還包括：判斷所述採樣偏差的絕對值是否大於等於第一預設閾值，如果是，則重新調整校正週期。
  6. 如請求項5所述之採樣率校正方法，所述重新調整校正週期，包括：採用如下公式計算當前校正週期的偏差率：當前校正週期的偏差率=當前校正週期的偏差值/校正週期時長；以及採用如下公式重新計算調整後的校正週期：調整後的校正週期=1/(當前校正週期的採樣率*當前校正週期的偏差率)，單位為秒。
  7. 如請求項1所述之採樣率校正方法，所述第二預設閾值為一個採樣週期。
  8. 如請求項1所述之採樣率校正方法，所述從採樣資料中去除一個採樣點的資料，包括去除該採樣週期中最後採集的一個採樣點的資料。
  9. 一種採樣率校正系統，用於實現請求項1至8中任一項所述的採樣率校正方法，所述系統包括：偏差統計模組，用於統計一個校正週期內的採樣點數量，計算一個校正週期內的採樣時間，根據該校正週期開始時和結束時校正計時器的計時確定校正時間，以及根據所述採樣時間和校正時間確定該校正週期內的採樣偏差；以及偏差校正模組，用於根據所述採樣偏差的值對採樣資料進行校正，其中如果所述採樣時間大於所述校正時間，且所述採樣時間與所述校正時間的差值大於等於第二預設閾值，則該偏差校正模組從採樣資料中去除一個採樣點的資料；如果所述採樣時間小於所述校正時間，且所述校正時間與所述採樣時間的差值大於等於第二預設閾值，則該偏差校正模組在採樣資料中增加一個採樣點的資料。
  10. 如請求項9所述之採樣率校正系統，所述系統還包括：歷史記錄模組，用於記錄歷史偏差率； 校正週期預測模組，用於在量測開始時，採集歷史偏差率和極限偏差率，並根據歷史偏差率和極限偏差率預測校正週期；校正週期調整模組，用於在採樣偏差的絕對值大於等於第一預設閾值時，重新調整校正週期。
  11. 一種採樣率校正設備，包括：處理器；以及記憶體，其中儲存有所述處理器的可執行指令；其中，所述處理器配置為經由執行所述可執行指令來執行請求項1至8中任一項所述的採樣率校正方法的步驟。
  12. 一種電腦可讀儲存媒介，用於儲存程式，所述程式被執行時實現請求項1至8中任一項所述的採樣率校正方法的步驟。
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