TWI743722B - 顯示裝置 - Google Patents

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Abstract

一種顯示裝置包含畫素陣列、至少一柔性基板以及至少一光學遮蔽層。柔性基板位在畫素陣列下方。光學遮蔽層位在柔性基板與畫素陣列之間。光學遮蔽層包含第一子層以及第二子層。第一子層位在第二子層與柔性基板之間，且第一子層的折射率不同於第二子層的折射率。

Description

顯示裝置
本揭露是有關於一種顯示裝置，尤其是有關於一種具可撓性的顯示裝置。
在具備可撓性的顯示裝置的製作過程中，需經由雷射光照射以弱化柔性基板與玻璃基板之間的黏著力，而將柔性基板與玻璃基板分離。然而，柔性基板中的缺陷可能使雷射光照射到畫素陣列，因而損壞畫素陣列。因此，如何提供一種可避免雷射光照射到畫素陣列的顯示裝置，仍是目前亟需研究的方向之一。
本揭露之一技術態樣為一種顯示裝置。
在一些實施例中，顯示裝置包含畫素陣列、至少一柔性基板以及至少一光學遮蔽層。柔性基板位在畫素陣列下方。光學遮蔽層位在柔性基板與畫素陣列之間。光學遮蔽層包含第一子層以及第二子層。第一子層位在第二子層與柔性基板之間，且第一子層的折射率不同於第二子層的折射率。
在一些實施例中，光學遮蔽層在柔性基板上的垂直投影與整個畫素陣列在柔性基板上的垂直投影重疊。
在一些實施例中，光學遮蔽層覆蓋整個柔性基板。
在一些實施例中，光學遮蔽層直接接觸柔性基板。
在一些實施例中，顯示裝置還包含阻水氣層，位在畫素陣列與光學遮蔽層之間，且光學遮蔽層覆蓋阻水氣層的整個下表面。
在一些實施例中，光學遮蔽層在柔性基板上的垂直投影與整個阻水氣層在柔性基板上的垂直投影重疊。
在一些實施例中，柔性基板的數量為二，顯示裝置還包含阻水氣層，位在畫素陣列與兩柔性基板其中一者之間，且兩柔性基板分別位在光學遮蔽層的相對兩側。
在一些實施例中，光學遮蔽層在另一柔性基板的垂直投影與位在阻水氣層與光學遮蔽層之間的整個柔性基板在另一柔性基板的垂直投影重疊。
在一些實施例中，光學遮蔽層在另一柔性基板的垂直投影與整個阻水氣層在另一柔性基板的垂直投影重疊。
在一些實施例中，光學遮蔽層包含複數個第一子層及複數個第二子層，且第一子層與第二子層交錯排列。
在上述實施例中，由於光學遮蔽層包含具有不同折射率的第一子層及第二子層，因而可具有高反射率。藉由設置具有高反射率的光學遮蔽層設置在畫素陣列與柔性基板之間，可避免利用雷射光分離柔性基板與玻璃基板時，因柔性基板的缺陷導致雷射光破壞畫素陣列。
以下將以圖式揭露本發明之複數個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而，應瞭解到，這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說，在本發明部分實施方式中，這些實務上的細節是非必要的。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。且為了清楚起見，圖式中之層和區域的厚度可能被誇大，並且在圖式的描述中相同的元件符號表示相同的元件。
第1圖為依據本揭露一實施例之顯示裝置100的剖面圖。顯示裝置100包含畫素陣列110、光學遮蔽層120以及柔性基板130。柔性基板130位在畫素陣列110及光學遮蔽層120的下方。光學遮蔽層120位在柔性基板130與畫素陣列110之間，也就是柔性基板130位在光學遮蔽層120背對畫素陣列110的一側。光學遮蔽層120包含第一子層122以及第二子層124。第一子層122位在第二子層124與柔性基板130之間，且第一子層122的折射率小於第二子層124的折射率。換句話說，折射率較小的層位在靠近柔性基板130的一側。
在本實施例中，柔性基板130的材料可為聚醯亞胺(Polyimide，PI) ，且顯示裝置100具有可撓性。柔性基板130的厚度例如為在約5微米至45微米的範圍中，但本揭露並不以此為限。
光學遮蔽層120可以是根據分佈式布拉格反射器(distributed Bragg reflector，DBR)之原理而設計的。舉例來說，在本實施例中，第一子層122的材料為二氧化矽(Silicon Dioxide，SiO2)，折射率大約為1.45-1.6。第二子層124的材料為二氧化鈦(Titanium Dioxide，TiO2)，折射率大約為2.4-2.7。上述第一子層122與第二子層124之材料及折射率僅為示例，本揭露並不以此為限。光學遮蔽層120可藉由第一子層122與第二子層124之間折射率的高低差異，使光線由第一子層122與第二子層124之間的介面126的反射。介面126的反射率大小取決於第一子層122與第二子層124的折射率差異，並藉此提高整個光學遮蔽層120的反射率。如此一來，藉由設置具有高反射率的光學遮蔽層120在柔性基板130與畫素陣列110之間，可利用光學遮蔽層120反射來自柔性基板130所在之一側的光線而保護上方的畫素陣列110。
在一些實施例中，第一子層122與第二子層124的材料也可以分別是二氧化矽與五氧化二鈮(Niobium(V) Oxide，Nb2O5)，其中五氧化二鈮折射率大約為2.5-3。在一些實施例中，用於具有相對較低折射率之第一子層122的材料可包含用於製作低折射率的光學鍍膜介電材料，例如氟化鎂(Magnesium fluoride，MgF2)或是氟化鈣(Calciumfluoride，CaF2) ，但本揭露並不以此為限。用於具有相對較高的折射率之第二子層124的材料可包含適用於製作高折射率的光學鍍膜介電材料，例如硒化鋅(Zinc selenide，ZnSe)、氮化矽(Silicon Nitride， Si3N4)、五氧化二鉭(Tantalum pentoxide，Ta2O5) ，但本揭露並不以此為限。具體來說，只要第一子層122與第二子層124是透明且可使光線穿透之材料，且第一子層122具有小於第二子層124的折射率即可。包含上述介電材料的第一子層122與第二子層124可藉由濺鍍或蒸鍍方式形成。
在一些實施例中，第一子層122與第二子層124之材料可以是半導體材料，例如砷化鎵(Gallium Arsenide，GaAs)或是砷化鋁(Aluminum Arsenide，AlAs)，但本揭露並不以此為限，只要是透明且可使光線穿透之材料即可。包含半導體材料的第一子層122與第二子層124可藉由磊晶方式形成。
在本實施例中，畫素陣列110包含由閘極112、介電層114、通道層116、源極/汲極118等組成之主動元件，但本揭露並不以此為限，且於第1圖中以一個主動元件做為示例。
第2圖為第1圖之顯示裝置100於製作過程中的剖面圖。如第2圖所示，具體來說，在製作顯示裝置100時，先將柔性基板130形成在一玻璃基板200上。接著，在將畫素陣列110形成於柔性基板130上後，再利用雷射光L弱化柔性基板130與玻璃基板200之間的黏著力，而將柔性基板130與玻璃基板200分離。
如第2圖所示，在一些實施例中，柔性基板130可能具有缺陷，例如為氣泡或異物，此處以孔隙OP作為示例。當要將柔性基板130與玻璃基板200分離時，雷射光L可能會穿透孔隙OP而照射到畫素陣列110。因此，藉由具有高反射率的光學遮蔽層120，可避免雷射光L照射到畫素陣列110而損壞畫素陣列110，進而提高顯示裝置100的良率。
在本實施例中，雷射光L之波長為308奈米，但本揭露並不以此為限。在一些實施例中，光學遮蔽層120之第一子層122與第二子層124的厚度符合1/4光學波長厚度(optical wavelength thickness)之設計，也就是四分之一倍的雷射光L之波長除以折射率之數值。藉由這樣的設計，可形成針對特定波長形成具有高反射率之光學遮蔽層120。
此外，如第1圖所示，藉由將具有較低折射率的第一子層122設置在具有較高折射率的第二子層124與柔性基板130之間。當有孔隙OP存在於柔性基板130中時，孔隙OP中的空氣(折射率1.0)與第一子層122之折射率差異較大，因此也可具有反射雷射光L的效果。因此，在第1圖所示之實施例中，除了介面126可反射雷射光L外，第一子層122與孔隙OP中的空氣之間的介面也可反射雷射光L，以避免雷射光L照射到畫素陣列110而損壞畫素陣列110，進而提高顯示裝置100的良率。
在一些實施例中，光學遮蔽層120在柔性基板130上的垂直投影與整個畫素陣列110在柔性基板130上的垂直投影重疊。換句話說，光學遮蔽層120的範圍需大於等於整個畫素陣列110的範圍，以確保雷射光L不會破壞畫素陣列110。
在一些實施例中，光學遮蔽層120覆蓋整個柔性基板130。換句話說，光學遮蔽層120的寬度大於等於柔性基板130的寬度。如此一來，柔性基板130可能被雷射光L照射到的範圍中若是有缺陷產生，皆可確保上方的光學遮蔽層120可反射雷射光L，以避免破壞畫素陣列110。
在一些實施例中，光學遮蔽層120直接接觸柔性基板130。舉例來說，如同前述，第一子層122與第二子層124可藉由濺鍍介電材料或沉積半導體材料於柔性基板130而達成。如此一來，可將光學遮蔽層120與柔性基板130視為具有高反射率的基板。
第3圖為依據本揭露另一實施例之顯示裝置100a的剖面圖。顯示裝置100a與顯示裝置100大致相同，其差異在於顯示裝置100a還具有阻水氣層140以及另一柔性基板150。
阻水氣層140位在畫素陣列110與光學遮蔽層120之間。具體來說，阻水氣層140用以阻擋外界水氣進入畫素陣列110，而阻水氣層140並無法反射或阻擋雷射光L。換句話說，藉由將光學遮蔽層120設置在阻水氣層140背對畫素陣列110的一側，可同時保護阻水氣層140與畫素陣列110。在一些實施例中，光學遮蔽層120覆蓋阻水氣層140的整個下表面142。換句話說，光學遮蔽層120在柔性基板130上的垂直投影與整個阻水氣層140在柔性基板130上的垂直投影重疊。也就是說，光學遮蔽層120的範圍需大於或等於整個阻水氣層140的範圍。如此一來，可確保光學遮蔽層120可保護整個阻水氣層140，以避免雷射光L照射到畫素陣列110。
柔性基板150位在光學遮蔽層120背對柔性基板130之一側。柔性基板130與柔性基板150分別位在光學遮蔽層120的相對兩側。換句話說，柔性基板130、150與兩光學遮蔽層120交錯排列。光學遮蔽層120在柔性基板130的垂直投影與整個柔性基板150在柔性基板150的垂直投影重疊。光學遮蔽層120在柔性基板130的垂直投影與整個阻水氣層140在柔性基板130的垂直投影重疊。換句話說，光學遮蔽層120的範圍需大於等於整個柔性基板150的範圍以及整個阻水氣層140的範圍。如此一來，可確保光學遮蔽層120可保護整個柔性基板130以及整個阻水氣層140，以避免雷射光L照射到畫素陣列110而損壞畫素陣列110，進而提高顯示裝置100a的良率。
第4圖為依據本揭露又一實施例之顯示裝置100b的剖面圖。顯示裝置100b與第3圖之顯示裝置100a大致相同，其差異在於顯示裝置100b還具有另一位在柔性基板130與畫素陣列110之間的光學遮蔽層120。應理解到，在本實施例中也可具有第3圖之所示的阻水氣層140，例如位在畫素陣列110與光學遮蔽層120之間，且光學遮蔽層120覆蓋整個阻水氣層的下表面。如同前述，可將光學遮蔽層120與柔性基板130之組合視為具有高折射率的基板。具體來說，為了使顯示裝置100b具備可撓性，柔性基板130之厚度通常設計為在35微米至45微米。然而，當需要設計機械性質較高的顯示裝置時，僅需要重複堆疊由光學遮蔽層120與柔性基板130(或是柔性基板150)所組成之複合結構即可。如此一來，可在提高顯示裝置100b的整體機械性質的同時，也增強反射雷射光L的效果，且不會增加製程的複雜度。
第5圖為依據本揭露又一實施例之顯示裝置100c的剖面圖。顯示裝置100c與第1圖之顯示裝置100大致相同，其差異在於顯示裝置100c的光學遮蔽層120a具有多層第一子層122以及多層第二子層124，且第一子層122與第二子層124交錯排列。第一子層122的折射率小於第二子層124的折射率。換句話說，光學遮蔽層120a可視為是由四組顯示裝置100中的光學遮蔽層120堆疊而成之結構。具體來說，第一子層122與第二子層124之間的折射率差異越大則反射效果越好，且光學遮蔽層120a之層數越多反射效果越好。如同前述，具有折射率差異的兩層材料之間的介面可具有較佳的反射效果。因此，在第5圖所示之實施例中，雷射光L可經過共七個折射率差異大的介面126時以及柔性基板150的孔隙與第一子層122的介面時被多次反射，因而提升光學遮蔽層120a的反射效果。如此一來，可避免雷射光L照射到畫素陣列110而損壞畫素陣列110，進而提高顯示裝置100c的良率。上述的參數，例如折射率、厚度、雷射光波長、堆疊層數等，皆可根據實際需求而調整，本揭露並不以此為限。
綜上所述，本揭露之顯示裝置藉由將具有高反射率的光學遮蔽層設置在畫素陣列與柔性基板之間，可避免利用雷射光分離柔性基板與玻璃基板時，因柔性基板的缺陷導致雷射光破壞畫素陣列。
雖然本揭露已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本揭露，任何熟習此技藝者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本揭露之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100,100a,100b,100c:顯示裝置 110:畫素陣列 112:閘極 114:介電層 116:通道層 118:源極/汲極 120,120a:光學遮蔽層 122:第一子層 124:第二子層 126:介面 130,150:柔性基板 140:阻水氣層 142:下表面 200:玻璃基板 L:雷射光 OP:孔隙
第1圖為依據本揭露一實施例之顯示裝置的剖面圖。 第2圖為第1圖之顯示裝置於製作過程中的剖面圖。 第3圖為依據本揭露另一實施例之顯示裝置的剖面圖。 第4圖為依據本揭露又一實施例之顯示裝置的剖面圖。 第5圖為依據本揭露又一實施例之顯示裝置的剖面圖。
100: 顯示裝置 110: 畫素陣列 112:閘極 114:介電層 116:通道層 118:源極/汲極 120: 光學遮蔽層 122: 第一子層 124: 第二子層 126:介面 130: 柔性基板

Claims (10)

  1. 一種顯示裝置，包括：一畫素陣列；至少一柔性基板，位在該畫素陣列下方；以及至少一光學遮蔽層，位在該柔性基板與該畫素陣列之間，該光學遮蔽層包含一第一子層以及一第二子層，其中該第一子層位在該第二子層與該柔性基板之間，且該第一子層的一折射率小於該第二子層的一折射率。
  2. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該光學遮蔽層在該柔性基板上的垂直投影與整個該畫素陣列在該柔性基板上的垂直投影重疊。
  3. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該光學遮蔽層覆蓋整個該柔性基板。
  4. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該光學遮蔽層直接接觸該柔性基板。
  5. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該顯示裝置還包含：一阻水氣層，位在該畫素陣列與該光學遮蔽層之間，且該光學遮蔽層覆蓋該阻水氣層的整個下表面。
  6. 如請求項5所述之顯示裝置，其中該光學遮蔽層在該柔性基板上的垂直投影與整個該阻水氣層在該柔性基板上的垂直投影重疊。
  7. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該柔性基板的數量為二，該顯示裝置還包含：一阻水氣層，位在該畫素陣列與該兩柔性基板其中一者之間，且該兩柔性基板分別位在該光學遮蔽層的相對兩側。
  8. 如請求項7所述之顯示裝置，其中該光學遮蔽層在另一該柔性基板的垂直投影與位在該阻水氣層與該光學遮蔽層之間的整個該柔性基板在另一該柔性基板的垂直投影重疊。
  9. 如請求項7所述之顯示裝置，其中該光學遮蔽層在另一該柔性基板的垂直投影與整個該阻水氣層在另一該柔性基板的垂直投影重疊。
  10. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該光學遮蔽層包含複數個第一子層及複數個第二子層，且該些第一子層與該些第二子層交錯排列。
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