TWI717687B - 儲存備份記憶體封裝保存觸發器 - Google Patents

儲存備份記憶體封裝保存觸發器 Download PDF

Info

Publication number
TWI717687B
TWI717687B TW108104090A TW108104090A TWI717687B TW I717687 B TWI717687 B TW I717687B TW 108104090 A TW108104090 A TW 108104090A TW 108104090 A TW108104090 A TW 108104090A TW I717687 B TWI717687 B TW I717687B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
memory package
interface
memory
volatile part
volatile
Prior art date
Application number
TW108104090A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201935252A (zh
Inventor
詹姆士 E 篤恩
南珊 A 艾克
Original Assignee
美商美光科技公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 美商美光科技公司 filed Critical 美商美光科技公司
Publication of TW201935252A publication Critical patent/TW201935252A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI717687B publication Critical patent/TWI717687B/zh

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/14Error detection or correction of the data by redundancy in operation
    • G06F11/1402Saving, restoring, recovering or retrying
    • G06F11/1415Saving, restoring, recovering or retrying at system level
    • G06F11/1441Resetting or repowering
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/38Information transfer, e.g. on bus
    • G06F13/42Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation
    • G06F13/4282Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation on a serial bus, e.g. I2C bus, SPI bus
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/14Error detection or correction of the data by redundancy in operation
    • G06F11/1402Saving, restoring, recovering or retrying
    • G06F11/1446Point-in-time backing up or restoration of persistent data
    • G06F11/1456Hardware arrangements for backup
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/14Handling requests for interconnection or transfer
    • G06F13/16Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus
    • G06F13/1605Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus based on arbitration
    • G06F13/1652Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus based on arbitration in a multiprocessor architecture
    • G06F13/1657Access to multiple memories
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/14Handling requests for interconnection or transfer
    • G06F13/16Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus
    • G06F13/1668Details of memory controller
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • G11C11/40615Internal triggering or timing of refresh, e.g. hidden refresh, self refresh, pseudo-SRAMs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4072Circuits for initialization, powering up or down, clearing memory or presetting
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C14/00Digital stores characterised by arrangements of cells having volatile and non-volatile storage properties for back-up when the power is down
    • G11C14/0009Digital stores characterised by arrangements of cells having volatile and non-volatile storage properties for back-up when the power is down in which the volatile element is a DRAM cell
    • G11C14/0018Digital stores characterised by arrangements of cells having volatile and non-volatile storage properties for back-up when the power is down in which the volatile element is a DRAM cell whereby the nonvolatile element is an EEPROM element, e.g. a floating gate or metal-nitride-oxide-silicon [MNOS] transistor
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/143Detection of memory cassette insertion or removal; Continuity checks of supply or ground lines; Detection of supply variations, interruptions or levels ; Switching between alternative supplies
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/148Details of power up or power down circuits, standby circuits or recovery circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/20Memory cell initialisation circuits, e.g. when powering up or down, memory clear, latent image memory
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/0703Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
    • G06F11/0766Error or fault reporting or storing
    • G06F11/0778Dumping, i.e. gathering error/state information after a fault for later diagnosis
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2213/00Indexing scheme relating to interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F2213/0016Inter-integrated circuit (I2C)

Abstract

本文中揭示用於一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之器件及技術。可經由一第一介面接收資料。將該資料儲存於記憶體封裝之一揮發性部分中。此處,該記憶體封裝包含經配置以將一主機連接至該記憶體封裝中之一控制器之一第二介面。可在該記憶體封裝處,經由該第一介面接收一重設信號。可回應於該重設信號而將經儲存於該記憶體封裝之該揮發性部分中之該資料保存至該記憶體封裝之一非揮發性部分。

Description

儲存備份記憶體封裝保存觸發器
本發明大體上係關於一種記憶體子系統,且更具體而言係關於一種用於一儲存備份記憶體器件之保存觸發器。
記憶體器件通常提供為電腦或其他電子器件中之內部半導體積體電路。存在諸多不同類型之記憶體,包含揮發性及非揮發性記憶體。記憶體器件儲存用於其他組件之資料。可由處理器或其他組件直接使用位元組可定址記憶體器件來儲存當前狀態資料以及不直接連接至一當前系統狀態之資料。區塊可定址器件(諸如硬碟機)係通常不能由系統組件直接用來儲存狀態資訊之儲存器件。通常,一記憶體器件用作一中間件,其中區塊定址資料在由系統使用之前載入至記憶體器件中。
揮發性記憶體需要電力來維持其資料,且包含隨機存取記憶體(RAM)、動態隨機存取記憶體(DRAM)或同步動態隨機存取記憶體(SDRAM)等。揮發性記憶體器件廣泛地部署於運算系統中。通常,不同於可在頁面、區塊等中定址之儲存器件,此等器件係位元組可定址且因此可直接自處理器存取。如同SRAM及DRAM之揮發性記憶體亦足夠快以滿足使用者對器件效能之預期。
雖然揮發性記憶體之電力相依性在諸多境況下不是問題,但存在其中資料(諸如系統狀態資料、未提交異動等)損耗可成問題之例項。在此等境況中,損耗揮發性記憶體之電力可意謂資料損壞或不能診斷一問題,因為當揮發性記憶體斷電時問題之證據會丟失。為了解決此等例項,已嘗試各種技術。例如,電池備份RAM使用一輔助獨立電源、一電池來維持揮發性記憶體內容以防主電源停止運作。歸因於有限儲存持續時間(例如,當電池不再提供電力而丟失內容時),電池備份RAM具有有限效率。
非揮發性雙列直插記憶體模組(NVDIMM)組合一風行揮發性記憶體封裝標準系列(DIMM)與非揮發性儲存器(諸如NAND快閃記憶體)以提供揮發性記憶體內容之斷電保持達延長時間段。聯合電子器件工程委員會(JEDEC)已頒布與DIMM相關之若干標準,包含雙倍資料速率(DDR)記憶體介面及使用DDR介面之NVDIMM。NVDIMM-N係一JEDEC標準系列,其中一DIMM除包含DRAM或SRAM揮發性記憶體以外亦包含快閃儲存器及一控制器。位元組可定址能量備份介面(BAEBI)之JEDEC標準245B.01 (JESD245B.05)使用一NVDIMM之一實例提供許多實施方案及互動細節。如本文中所使用,儲存備份記憶體封裝係指整合一非揮發性記憶體以保持揮發性記憶體資料之器件。
在一項實施例中,一種記憶體封裝包括:一揮發性部分,其用來儲存資料;一非揮發性部分;一第一介面,其用來:接收該資料;及接收一重設信號;一第二介面,其經配置以連接至一主機;及一處理器件,其用來回應於該重設信號而將儲存於該揮發性部分中之該資料保存至該非揮發性部分。
在另一實施例中,一種方法包括:經由一第一介面接收資料以儲存於一記憶體封裝之一揮發性部分中,該記憶體封裝包含經配置以將一主機連接至該記憶體封裝中之一處理器件之一第二介面;在該記憶體封裝處經由該第一介面接收一重設信號;及回應於該重設信號而將儲存於該記憶體封裝之該揮發性部分中之該資料保存至該記憶體封裝之一非揮發性部分。
在另一實施例中,至少一種機器可讀媒體包含指令,該等指令在由記憶體封裝之處理電路系統執行時致使該記憶體封裝執行包括以下各者之操作:經由一第一介面接收資料以儲存於該記憶體封裝之一揮發性部分中,該記憶體封裝包含經配置以將一主機連接至該記憶體封裝中之一處理器件之一第二介面;在該記憶體封裝處經由該第一介面接收一重設信號;及回應於該重設信號而將儲存於該記憶體封裝之該揮發性部分中之該資料保存至該記憶體封裝之一非揮發性部分。
優先權申請案
本申請案主張2018年2月8日申請之美國臨時申請案第62/627,988號及2018年8月21日申請之美國申請案第16/107,259號之優先權的權利,該等案之全部內容係以引用的方式併入本文中。
下文論述通常涉及符合NVDIMM-N標準系列之儲存備份記憶體封裝。然而,其他儲存備份記憶體封裝亦可受益於下文所描述之器件及技術。如上所述,NVDIMM-N器件將一NAND快閃記憶體器件定位於模組上。一控制器(例如,處理器件)亦包含於模組上。控制器通常係一特定應用積體電路(ASIC)、一場可程式化閘陣列(FPGA)或其他處理電路系統,其經配置或經程式化以管理模組之DRAM或SDRAM揮發性部分與快閃記憶體非揮發性部分(例如,備份DRAM或SDRAM記憶體之儲存器)之間的資料傳送。通常,控制器針對能量、空間(例如,晶粒大小)或程序(例如,使用較大特徵大小)效率而非針對運算速度最佳化。NVDIMM-N器件包含兩個介面,使一主機(例如,處理器)能夠將模組用於系統記憶體之一DDR版本4 (DDR4)記憶體介面及使主機能夠直接與控制器通信之一積體電路間(I2C、I2 C或IIC)匯流排。
I2C係一封包交換匯流排,其使用一雙線連接(例如,一條線用於時脈信號且一條線用於資料信號)。因此,I2C對一系統內之諸多離散積體電路提供一靈活且有效之加成。然而,在與DDR4記憶體介面相比時,I2C非常慢,其中I2C具有每秒100或400千位元(Kbit)之輸送量,且DDR4具有每秒1,600百萬位元至3,200百萬位元(Mbit)之間的輸送量之資料速率。主機透過I2C與控制器通信通常涉及讀取及寫入控制器之暫存器。例如,一主機可藉由經由I2C設定開始及結束位址暫存器且致動一保存暫存器來將一部分保存命令發出至控制器。
在NVDIMM保存功能性與I2C匯流排或其他主機至控制器介面之緩慢且可能高延時特性之匯合中出現問題。先前非儲存備份記憶體封裝實施一類似接腳介面(例如,DDR4之一288接腳JEDEC DIMM介面),其中保留(例如,未使用)一些接腳。較新儲存備份記憶體封裝使用一些此等經保留接腳來使快速且低延時之記憶體介面(例如,DDR)能夠調用儲存操作,諸如一保存。然而,較舊實體主機介面(例如,主機板中之記憶體插槽)通常不連接(例如,連線、啟用等)經保留接腳且因此不能使用記憶體介面實施儲存備份記憶體封裝之儲存備份功能性。儘管可使用主機至控制器介面,但例如自主機電力故障至主機失去發信號通知保存之一能力之有限時間致使較慢主機至控制器介面不可靠。若儲存備份記憶體封裝僅自主機觸發其自身之電力缺乏,則此有限時間亦引起問題,從而導致可能之資料損壞。此外,在其中不存在電力損耗之使用案例中,另外保持揮發性記憶體資料係有價值的(例如,在一暖再起動之後經由RAM狀態評估一軟體錯誤),此最後一種技術因為不存在電力損耗而不適用。
本發明之態樣涉及一儲存備份記憶體或記憶體子系統(例如,「記憶體器件」)中之一保存觸發器。一記憶體子系統之一實例係一儲存系統,諸如一固態硬碟(SSD)。在一些實施例中,記憶體子系統係一混合記憶體/儲存子系統。一般而言,一主機系統可利用包含一或多個記憶體組件之一記憶體子系統。主機系統可提供待儲存於記憶體子系統處之資料且可請求自記憶體子系統擷取之資料。
因此,為了解決在不支援儲存備份功能性接腳之主機硬體中使用記憶體介面之問題,儲存備份記憶體封裝可在可用接腳上使用不干擾記憶體功能之傳訊來觸發儲存備份功能。例如,假定一實體主機介面不具有至如JEDEC BAEBI標準系列中指定之儲存備份記憶體封裝之SAVE_n接腳之一連接。控制器可觸發對應於RESET_n接腳上之一信號之SAVE_n接腳信號關閉之操作。雖然每當發信號通知一重設時保存揮發性內容可能不干擾記憶體操作(因為仍執行重設),但其可導致儲存備份記憶體封裝之非揮發性部分上之過度耗損或不必要地消耗電力。因此,在一實例中,述詞(諸如將儲存備份記憶體封裝置於自再新模式,其中傳統上停用RESET_n暫存器)向控制器發信號通知使用RESET_n接腳之一預期重設操作與一保存操作之間的一明確區別。下文描述額外細節及實例。
圖1繪示根據一實施例之用來實施一保存觸發器之一NVDIMM 110之一實例。在一實例中,NVDIMM 110符合一JEDEC NVDIMM-N標準系列。NVDIMM 110包含一控制器125、一揮發性儲存部分130、一非揮發性儲存部分140、一第一介面(例如,一DDR介面)及一第二介面(例如,一I2C匯流排)。揮發性部分130包含一或多個DRAM或SRAM積體電路(IC)以儲存用於經由第一介面進行主機105之讀取或寫入操作之資料。非揮發性儲存部分140可以不需要電力來維持狀態之任何儲存技術實施。實例性非揮發性儲存技術可包含NAND快閃記憶體、NOR快閃記憶體、儲存類記憶體(例如,相變記憶體)、磁性儲存器及類似者。
如所繪示,第一介面在一舊型部分115與一新部分120之間分離。此等部分可表示實體上體現第一介面之接腳或其他離散實體連接。新部分120表示在不具有一用途之一記憶體介面中指定之接腳。然而,新部分接腳之此等接腳用來實施NVDIMM 110之儲存備份功能性。如上所述,主機105之諸多主機板或其他實體介面不具有至新部分120之連接。因此,主機105之此等實體介面不能使用第一介面之新部分120來使用儲存備份功能性,諸如將揮發性部分130內容保存至非揮發性部分140。
第二介面通常由主機105用來直接與控制器125通信以執行各種操作。控制器125經配置以在NVDIMM 110內實施此等操作。控制器125經實施為電子硬體,諸如一FPGA、ASIC、數位信號處理器(DSP)或其他處理電路系統,諸如此處所繪示之觸發器組件113之一實例。在一實例中,控制器對電子硬體執行指令(例如,韌體)以執行操作。此係圖5中所繪示之觸發器組件113之另一實例。BAEBI標準系列定義由順應性器件實施之數個操作。
當第二介面係一I2C匯流排時,典型通信涉及主機105經由第二介面設定控制器125中之暫存器。例如,主機105可設定一特定暫存器,使得彼暫存器中之一特定位元自零變成一。當此位元值變化對應於一命令之執行時,控制器125回應於位元修改而執行命令。若命令具有自變量,則主機105可設定對應於自變量之暫存器。在此情況中,控制器125經配置以核對此等自變量暫存器以擷取資料來完成命令。此通信範例在主機105與控制器125之間的第二介面通信中引入延時。因此,儘管第二介面可用來起始NVDIMM 110之若干儲存備份命令,但在主機電力故障期間第二介面可能不夠快以在此等命令期間防止資料損壞。
為了使用第一介面實施保存觸發器,控制器125經配置以使第一介面之舊型部分115能夠代替新部分120之一信號。因此,控制器125經配置以接收資料以經由第一介面儲存於揮發性部分130中,如在使用一記憶體封裝之一傳統記憶體操作中所發生般。此處,舊型部分115用於資料接收,因為新部分120不起作用。
控制器125經配置以經由第一介面之舊型部分115接收一重設(或其他)信號。在一實例中,在對應於如JEDEC標準中針對DDR4所定義之RESET_n之接腳處接收重設信號。在一實例中,對應於RESET_n之接腳係288根接腳之接腳94。儘管在此等實例中使用重設信號作為來自第一介面之新部分120之一專用保存信號之一替代物,但可使用其他信號。
控制器125經配置以回應於重設信號而將儲存於揮發性部分130中之資料保存至非揮發性部分140。RESET_n接腳提供一有用整合點,因為在將資料自揮發性部分130移動至非揮發性部分140之後可實行重設操作(例如,清除揮發性部分)。因此,NVDIMM 110之記憶體功能性看似按主機105預期般起作用,同時允許主機經由第二介面存取非揮發性部分140資料。
在一實例中,回應於在重設信號時啟用一自再新模式而執行將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之一非揮發性部分。對再新信號使用自再新模式述詞在區分經由第一介面之一替代「保存」命令與引起一傳統第一介面命令執行雙重任務時提供額外靈活性;其傳統操作外加儲存備份記憶體封裝之「保存」。在此境況中,當處於自再新模式時,由控制器125傳統上停用重設操作(例如,忽略RESET_n接腳值)。因此,當控制器125在RESET_n接腳上觀察到主機105傳訊(例如,將電壓自高變為低)時,控制器125明確地向主機105發信號通知正在調用保存命令。
在一實例中,控制器125經配置以僅當控制器125判定一專用保存信號無效(例如,在新部分120中)時回應於重設信號而執行資料保存(例如,自揮發性部分130至非揮發性部分140)。因此,控制器125在接受替代保存命令之前執行新部分120之一測試(例如,測試一保存接腳上之電壓是否為高)。當一主機105實體介面實施新部分120時,此測試可消除可能命令衝突或副作用。在一實例中,由對應於如JEDEC標準系列針對DDR4所定義之SAVE_n之一接腳傳達專用保存信號。在一實例中,對應於SAVE_n之接腳係288根接腳之接腳230。
NVDIMM 110可視情況包含與主機電力分離之一電源145。電源145可經併入至NVDIMM封裝中,或經連接至NVDIMM封裝(如所繪示)。在主機電源發生故障之情況下,電源145可提供電力以使控制器125能夠將資料自揮發性部分130移動至非揮發性部分140。
上文所描述之控制器125解決在不支援第一介面中之新部分120信號而不求助於有問題之第二介面之主機105實體介面中啟用儲存備份記憶體功能性。控制器125啟用舊型硬體(諸如可在如下文關於圖2所描述之諸多資料中心或其他使用案例中找到)獲得儲存備份記憶體之益處而無需昂貴升級。
圖2繪示根據一實施例之包含用於一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之一系統(例如,儲存備份記憶體210)之一環境200之一實例。環境200包含一主機器件205及儲存備份記憶體封裝210。主機器件205或儲存備份記憶體封裝210可包含於各種產品250中,諸如資料中心伺服器、個人電腦或物聯網(IoT)器件(例如,冰箱或其他設備、感測器、馬達或致動器、行動通信器件、汽車、無人機等)以支援產品250之處理、通信或控制。該系統可為儲存備份記憶體封裝210或儲存備份記憶體封裝210之一組件,諸如封裝上控制器225。該系統亦可包含主機器件205之一記憶體控制器220或一處理器215。
一或多個通信介面可用來在儲存備份記憶體封裝210與主機器件205之一或多個其他組件(諸如處理器215)之間傳送資料。在一實例中,DDR4係一實施通信介面。在一實例中,I2C係一實施通信介面。主機器件205可包含一主機系統、一電子器件、一記憶卡讀取器、或儲存備份記憶體封裝210外部之一或多個其他電子器件。在一些實例中,主機205可為具有參考圖5之機器500所論述之組件之一些部分或全部之一機器。
處理器215 (其可稱為主機)通常指導或協調主機器件205及所包含組件之活動。記憶體控制器220支援主機器件205之組件之記憶體活動,包含使用儲存備份記憶體封裝210。記憶體控制器220可對儲存備份記憶體封裝210提供資料定址及命令協調。此等活動可包含至(例如,寫入或擦除)或自(例如,讀取)儲存備份記憶體封裝210之揮發性部分之晶片、階層或庫之一或多者之資料傳送。記憶體控制器215可尤其包含電路系統或韌體,包含一或多個組件或積體電路。例如,記憶體控制器215可包含一或多個記憶體控制單元、電路或組件,其(等)經組態以跨儲存備份記憶體封裝210控制存取且提供主機205與儲存備份記憶體封裝210之間之一轉譯層。記憶體控制器215可包含一或多個輸入/輸出(I/O)電路、線路或介面以將資料傳送至儲存備份記憶體封裝210或自儲存備份記憶體封裝210傳送資料。
記憶體控制器215可尤其包含電路系統或韌體,諸如與各種記憶體管理功能(諸如本文中所描述之解片段化或保存觸發技術)相關聯之數個組件或積體電路(例如,觸發器組件113)。記憶體控制器215可將主機命令(例如,自一主機接收之命令)剖析或格式化成器件命令(例如,與一記憶體陣列之操作相關聯之命令等),或針對儲存備份記憶體封裝210或儲存備份記憶體封裝210之一或多個其他組件產生器件命令(例如,以完成各種記憶體管理功能)。
記憶體控制器215可尤其包含經組態以控制與將資料寫入至儲存備份記憶體封裝210之一或多個記憶體胞、自儲存備份記憶體封裝210之一或多個記憶體胞讀取資料或擦除儲存備份記憶體封裝210之一或多個記憶體胞相關聯之記憶體操作之電路系統或組件。例如,記憶體操作可基於自主機205接收或由記憶體控制器215在內部產生之主機命令(例如,結合解片段化、錯誤校正、再新等)。記憶體控制器215可包含程式碼或邏輯以使用一標準化協定(或來自一標準化協定之特徵) (諸如GDDR6)進行通信。
除一揮發性記憶體(例如,DRAM或SRAM)及一非揮發性部分(例如,快閃記憶體)之外,儲存備份記憶體封裝210亦可包含封裝上控制器225。儲存備份記憶體封裝210亦可包含一板上電源或外部電源230,諸如一電雙層電容器(例如,ELDC、超級電容器、超級電容、超電容器、超電容等)、電池等。電源230可獨立於其他主機電源,且當主機電力發生故障時使封裝上控制器225能夠將資料自儲存備份記憶體封裝210之揮發性部分傳送至儲存備份記憶體封裝210之非揮發性部分。封裝上控制器225亦可將資料自非揮發性部分移動至揮發性部分(例如,在主機電力恢復時)或直接提供對非揮發性部分之存取。例如,與標準系統記憶體器件相比,此最後一種能力可在一主機崩潰期間實現更大錯誤分析。
圖3繪示根據一實施例之用來實施一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之一實例性組件訊息傳送。所繪示之主機、記憶體介面(例如,DDR)及控制器組件類似於上文所描述者。在一實例中,記憶體介面係控制器之一介面。在此實例中,所繪示訊息流程區分控制器之記憶體介面部分與控制器之其他部分,諸如執行韌體以執行其他動作之部分。
圖4中所繪示之訊息流程在主機實體介面至記憶體介面不實施保存信號時,使用重設信號作為保存信號之一替代物。主機將資料寫入至記憶體介面以儲存於儲存備份記憶體封裝中(訊息305)。為了對此資料執行一保存,主機接著藉由發信號通知記憶體介面來將儲存備份記憶體器件置於一自再新模式(訊息310),其接著致使記憶體介面將命令中繼至控制器(訊息315)。
在發信號通知儲存備份記憶體封裝進入自再新模式之後,主機經由記憶體介面向儲存備份記憶體封裝發信號通知一重設(訊息320)。此繼而被傳達至控制器(訊息325)。此信號組合係由控制器以相同於可能已經解譯之保存信號的方式解譯,且控制器藉由將資料自儲存備份記憶體封裝之一揮發性部分移動至一非揮發性部分來執行保存(操作330)。
圖4繪示根據一實施例之用於一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之一方法400之一實例性流程圖。可在電子硬體中實施方法400之操作,諸如上文就圖1至圖2及下文就圖5所描述之電子硬體(例如,在電路系統中)。
在操作405,經由一第一介面接收欲儲存於一記憶體封裝之一揮發性部分中的資料。在一實例中,記憶體封裝包含經配置以將一主機(例如,主機105)連接至記憶體封裝中之一控制器(例如,控制器125)之一第二介面。在一實例中,記憶體封裝根據一JEDEC BAEBI標準系列操作。在一實例中,JEDEC BAEBI標準系列包含一JESD245B.01標準。在一實例中,第二介面係根據一I2C標準系列操作之一匯流排。在一實例中,第一介面係一DDR4 RAM介面。在一實例中,記憶體封裝符合一NVDIMM。在一實例中,NVDIMM係根據JEDEC之一NVDIMM-N類型。
在操作410,於記憶體封裝處,經由第一介面接收一重設信號。在一實例中,在對應於如JEDEC標準中針對DDR4所定義之RESET_n的接腳處,接收重設信號。
在操作415,回應於重設信號而將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之一非揮發性部分。在一實例中,回應於在重設信號時啟用記憶體封裝之一自再新模式而執行將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之一非揮發性部分。
在一實例中,當判定一專用保存信號無效時,將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之一非揮發性部分。在一實例中,對應於RESET_n之接腳係288根接腳之接腳94。在一實例中,由對應於如JEDEC標準系列中針對DDR4所定義之SAVE_n之一接腳傳達專用保存信號。在一實例中,對應於SAVE_n之接腳係288根接腳之接腳230。
圖5繪示可在其上執行本文中所論述之技術(例如,方法論)之任何一或多者之一實例性機器500之一方塊圖。在替代實施例中,機器500可操作為一獨立器件或可連接(例如,網路連結)至其他機器。在一網路連結部署中,機器500可作為伺服器-用戶端網路環境中之一伺服器機器、一用戶端機器或兩者而操作。在一實例中,機器500可充當一同級間(P2P) (或其他分散式)網路環境中之一同級機器。機器500可為一個人電腦(PC)、一平板電腦PC、一機上盒(STB)、一個人數位助理(PDA)、一行動電話、一網路設備、一IoT器件、汽車系統、或能夠(循序或以其他方式)執行指定待由彼機器採取之動作之指令之任何機器。此外,雖然僅繪示單個機器,但術語「機器」亦應被視為包含個別或聯合執行一(或多)個指令集以執行本文中所論述之方法論之任一或多者(諸如雲端運算、軟體即服務(SaaS)、其他電腦叢集組態)之機器之任何集合。
如本文中所描述,實例可包含邏輯、組件、器件、封裝或機構,或可由邏輯、組件、器件、封裝或機構操作。電路系統(例如,一電路集合、處理電路系統等)係在包含硬體(例如,簡單電路、閘、邏輯等)之有形實體中實施之一電路集合(例如,一組電路)。電路系統成員資格可隨著時間及基礎硬體可變性而靈活。電路系統包含在操作時可單獨或組合地執行特定任務之成員。在一實例中,電路系統之硬體可經恆定地設計以實行一特定操作(例如,硬接線)。在一實例中,電路系統之硬體可包含可變連接之實體組件(例如,執行單元、電晶體、簡單電路等),包含實體上經修改(例如,不變質量之粒子磁性、電、可移動放置等)以編碼該特定操作之指令之一電腦可讀媒體。在連接實體組件中,硬體構成之基礎電性質(例如)自絕緣體改變至導體或反之亦然。指令使參與硬體(例如,執行單元或一負載機構)能夠經由可變連接產生硬體中之電路系統之成員以在操作中實行特定任務之部分。因此,當器件操作時,電腦可讀媒體通信地耦合至電路系統之其他組件。在一實例中,實體組件之任一者可用於一個以上電路系統之一個以上成員中。例如,在操作下,執行單元可在一時間點用於一第一電路系統之一第一電路中且在一不同時間由第一電路系統中之一第二電路或由一第二電路系統中之一第三電路重用。
機器(例如,電腦系統) 500可包含一硬體處理器502 (例如,一CPU、一GPU、一硬體處理器核心或其等任何組合)、一主記憶體504及一靜態記憶體506,其等中之一些或全部可經由一互連(例如,匯流排) 508彼此通信。機器500可進一步包含一顯示單元510、一文數字輸入器件512 (例如,一鍵盤)及一使用者介面(UI)導覽器件514 (例如,一滑鼠)。在一實例中,顯示單元510、輸入器件512及UI導覽器件514可為一觸控螢幕顯示器。機器500可另外包含一信號產生器件518 (例如,一揚聲器)、一網路介面器件520及一或多個感測器516,諸如一全球定位系統(GPS)感測器、羅盤、加速度計或其他感測器。機器500可包含一輸出控制器528,諸如用以通信或控制一或多個周邊器件(例如,一印表機、讀卡器等)之一串列(例如,通用串列匯流排(USB))、並列、或其他有線或無線(例如,紅外線(IR)、近場通信(NFC)等)連接。
機器500可包含一或多個機器可讀媒體522,其上儲存體現本文中所描述之技術或功能之任一或多者或由本文中所描述之技術或功能之任一或多者利用之一或多組資料結構或指令524 (例如,軟體),諸如觸發器組件113。機器可讀媒體522可包含以下一或多者:主記憶體524、靜態記憶體506及大容量儲存器521。指令524可在由機器500執行期間完全或至少部分地駐留於主記憶體504、靜態記憶體506、大容量儲存器521或硬體處理器502內。在一實例中,硬體處理器502、主記憶體504、靜態記憶體506或大容量儲存器521之一者或任一組合可構成機器可讀媒體522。
雖然機器可讀媒體522被繪示為單個媒體,但術語「機器可讀媒體」可包含經組態以儲存一或多個指令524之單個媒體或多個媒體(例如,一集中式或分散式資料庫、或相關聯快取記憶體及伺服器)。
術語「機器可讀媒體」可包含能夠儲存、編碼或攜載藉由機器500執行且引起機器500執行本發明之技術之任一或多者之指令,或能夠儲存、編碼或攜載藉由此等指令使用或與此等指令相關聯之資料結構的任何媒體。非限制性機器可讀媒體實例可包含固態記憶體、光學及磁性媒體。在一實例中,一集結型(massed)機器可讀媒體包括具有含不變(例如,靜止)質量之複數個粒子之一機器可讀媒體。因此,集結型機器可讀媒體並非係暫時性傳播信號。集結型機器可讀媒體之特定實例可包含:非揮發性記憶體,諸如半導體記憶體器件(例如,EPROM、EEPROM)及快閃記憶體器件;磁碟,諸如內部硬碟及可抽換式磁碟;磁光碟;及CD-ROM及DVD-ROM磁碟。
指令524 (例如,軟體、程式、一作業系統(OS)等)或其他資料經儲存於大容量儲存器521上,可藉由記憶體504存取以供處理器502使用。記憶體504 (例如,DRAM)通常係快速但揮發性的,且因此不同於大容量儲存器521 (例如,一SSD)之一儲存類型,大容量儲存器521適於長期儲存(包含在一「關閉」狀態時)。由一使用者或機器500使用之指令524或資料通常載入於記憶體504中以供處理器502使用。當記憶體504已滿時,可分配來自大容量儲存器521之虛擬空間以補充記憶體504;然而,因為大容量儲存器521通常慢於記憶體504,且寫入速度通常係讀取速度的至少1/2,所以使用虛擬記憶體可大大地減少歸因於儲存器件延時之使用者體驗(相比於記憶體504,例如,DRAM)。此外,將大容量儲存器521用於虛擬記憶體可大大地減少大容量儲存器521之可用使用期限。
相比於虛擬記憶體,虛擬記憶體壓縮(例如,Linux® 內核特徵「ZRAM」)使用記憶體之部分作為經壓縮區塊儲存器以避免傳呼至大容量儲存器521。傳呼在經壓縮區塊中發生直至必須將此資料寫入至大容量儲存器521。虛擬記憶體壓縮增加記憶體504之可用大小,同時減少大容量儲存器521上之耗損。
針對行動電子器件或行動儲存器最佳化之儲存器件傳統上包含MMC固態儲存器件(例如,微型安全數位(microSD™)卡等)。MMC器件包含具有一主機器件之數個平行介面(例如,一8位元平行介面),且通常為可自該主機器件卸除及分離之組件。相比而言,eMMC™器件經附接至一電路板且被視為主機器件之一組件,該組件具有匹敵基於串列ATA™ (串列AT (進階技術)附接,或SATA)之SSD器件之讀取速度。然而,對於行動器件效能之需求持續增加,諸如完全啟用虛擬或擴增實境器件,利用增加之網路速度及類似者。回應於此需求,儲存器件已自並列通信介面轉換至串列通信介面。通用快閃儲存(UFS)器件(包含控制器及韌體)使用具有專用讀取/寫入路徑之一低電壓差動傳訊(LVDS)串列介面與一主機器件通信,從而進一步提高更大讀取/寫入速度。
可進一步透過通信網路526,使用一傳輸媒體,經由利用數個傳送協定之任一者(例如,訊框中繼、網際網路協定(IP)、傳輸控制協定(TCP)、使用者資料塊協定(UDP)、超文字傳送協定(HTTP)等)的網路介面器件520來傳輸或接收指令524。例示性通信網路可包含一區域網路(LAN)、一廣域網路(WAN)、一封包資料網路(例如,網際網路)、行動電話網路(例如,蜂巢式網路)、簡易老式電話(POTS)網路,及無線資料網路(例如,電氣及電子工程師協會(IEEE) 802.11系列標準(稱為Wi-Fi® )、IEEE 802.16系列標準(稱為WiMax® )、IEEE 802.15.4系列標準)、同級間(P2P)網路,等等。在一實例中,網路介面器件520可包含一或多個實體插孔(例如,乙太網路、同軸或電話插孔)或一或多個天線,以連接至通信網路526。在一實例中,網路介面器件520可包含複數個天線,以使用單輸入多輸出(SIMO)、多輸入多輸出(MIMO)或多輸入單輸出(MISO)技術之至少一者來進行無線通信。術語「傳輸媒體」應被視為包含能夠儲存、編碼或攜載由機器500執行之指令的任何無形媒體,且包含促進此軟體之通信的數位或類比通信信號或其他無形媒體。
額外實例:
實例1係一種用於一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之記憶體封裝,記憶體封裝包括:一揮發性部分,其用來儲存資料;一非揮發性部分;一第一介面,其用來:接收資料;及接收一重設信號;一第二介面,其經配置以連接至一主機;及一處理器件,其用來回應於重設信號而將儲存於揮發性部分中之資料保存至非揮發性部分。
在實例2中,實例1之標的物包含,其中第二介面係根據一I2C標準系列操作之一匯流排。
在實例3中,實例1至2之標的物包含,其中第一介面係一版本4雙倍資料速率(DDR4)隨機存取記憶體(RAM)介面。
在實例4中,實例3之標的物包含,其中記憶體封裝符合一非揮發性雙列直插記憶體模組(NVDIMM)。
在實例5中,實例4之標的物包含,其中NVDIMM係根據一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列之一NVDIMM-N類型。
在實例6中,實例3至5之標的物包含,其中在對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之RESET_n之接腳處接收重設信號。
在實例7中,實例3至6之標的物包含,其中處理器件經配置以回應於一專用保存信號無效之一判定而將儲存於揮發性部分中之資料保存至非揮發性部分。
在實例8中,實例7之標的物包含,其中對應於RESET_n之接腳係288根接腳之接腳94。
在實例9中,實例7至8之標的物包含,其中由對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之SAVE_n之一接腳傳達專用保存信號。
在實例10中,實例9之標的物包含,其中對應於SAVE_n之接腳係288根接腳之接腳230。
在實例11中,實例3至10之標的物包含,其中處理器件經配置以回應於在重設信號時啟用記憶體封裝之一自再新模式而將儲存於揮發性部分中之資料保存至非揮發性部分。
在實例12中,實例1至11之標的物包含,其中記憶體封裝根據一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)位元組可定址能量備份介面(BAEBI)標準系列操作。
在實例13中,實例12之標的物包含,其中JEDEC BAEBI標準系列包含一JESD245B.01標準。
實例14係一種用於一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之方法,該方法包括:經由一第一介面接收資料以儲存於記憶體封裝之一揮發性部分中,記憶體封裝包含經配置以將一主機連接至記憶體封裝中之一處理器件之一第二介面;在記憶體封裝處經由第一介面接收一重設信號;及回應於重設信號而將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之非揮發性部分。
在實例15中,實例14之標的物包含,其中第二介面係根據一I2C標準系列操作之一匯流排。
在實例16中,實例14至15之標的物包含,其中第一介面係一版本4雙倍資料速率(DDR4)隨機存取記憶體(RAM)介面。
在實例17中,實例16之標的物包含,其中記憶體封裝符合一非揮發性雙列直插記憶體模組(NVDIMM)。
在實例18中,實例17之標的物包含,其中NVDIMM係根據一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列之一NVDIMM-N類型。
在實例19中,實例16至18之標的物包含,其中在對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之RESET_n之接腳處接收重設信號。
在實例20中,實例16至19之標的物包含,其中回應於一專用保存信號無效之一判定而執行將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之非揮發性部分。
在實例21中,實例20之標的物包含,其中對應於RESET_n之接腳係288根接腳之接腳94。
在實例22中,實例20至21之標的物包含,其中由對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之SAVE_n之一接腳傳達專用保存信號。
在實例23中,實例22之標的物包含,其中對應於SAVE_n之接腳係288根接腳之接腳230。
在實例24中,實例16至23之標的物包含,其中回應於在重設信號時啟用記憶體封裝之一自再新模式而執行將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之非揮發性部分。
在實例25中,實例14至24之標的物包含,其中記憶體封裝根據一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)位元組可定址能量備份介面(BAEBI)標準系列操作。
在實例26中,實例25之標的物包含,其中JEDEC BAEBI標準系列包含一JESD245B.01標準。
實例27係至少一種包含用於一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之指令之機器可讀媒體,該等指令在由記憶體封裝之處理電路系統執行時致使該記憶體封裝執行包括以下各者之操作:經由一第一介面接收資料以儲存於記憶體封裝之一揮發性部分中,記憶體封裝包含經配置以將一主機連接至記憶體封裝中之一處理器件之一第二介面;在記憶體封裝處經由第一介面接收一重設信號;及回應於重設信號而將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之非揮發性部分。
在實例28中,實例27之標的物包含,其中第二介面係根據一I2C標準系列操作之一匯流排。
在實例29中,實例27至28之標的物包含,其中第一介面係一版本4雙倍資料速率(DDR4)隨機存取記憶體(RAM)介面。
在實例30中,實例29之標的物包含,其中記憶體封裝符合一非揮發性雙列直插記憶體模組(NVDIMM)。
在實例31中,實例30之標的物包含,其中NVDIMM係根據一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列之一NVDIMM-N類型。
在實例32中,實例29至31之標的物包含,其中在對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之RESET_n之接腳處接收重設信號。
在實例33中,實例29至32之標的物包含,其中回應於一專用保存信號無效之一判定而將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之非揮發性部分。
在實例34中,實例33之標的物包含,其中對應於RESET_n之接腳係288根接腳之接腳94。
在實例35中,實例33至34之標的物包含,其中由對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之SAVE_n之一接腳傳達專用保存信號。
在實例36中,實例35之標的物包含,其中對應於SAVE_n之接腳係288根接腳之230根接腳。
在實例37中,實例29至36之標的物包含,其中回應於在重設信號時啟用記憶體封裝之一自再新模式而執行將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之非揮發性部分。
在實例38中,實例27至37之標的物包含,其中記憶體封裝根據一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)位元組可定址能量備份介面(BAEBI)標準系列操作。
在實例39中,實例38之標的物包含,其中JEDEC BAEBI標準系列包含一JESD245B.01標準。
實例40係一種用於一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之系統,該系統包括:用於經由一第一介面接收資料以儲存於記憶體封裝之一揮發性部分中之構件,記憶體封裝包含經配置以將一主機連接至記憶體封裝中之一處理器件之一第二介面;用於在記憶體封裝處經由第一介面接收一重設信號之構件;及用於回應於重設信號而將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之非揮發性部分之構件。
在實例41中,實例40之標的物包含,其中第二介面係根據一I2C標準系列操作之一匯流排。
在實例42中,實例40至41之標的物包含,其中第一介面係一版本4雙倍資料速率(DDR4)隨機存取記憶體(RAM)介面。
在實例43中,實例42之標的物包含,其中記憶體封裝符合一非揮發性雙列直插記憶體模組(NVDIMM)。
在實例44中,實例43之標的物包含,其中NVDIMM係根據一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列之一NVDIMM-N類型。
在實例45中,實例42至44之標的物包含,其中在對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之RESET_n之接腳處接收重設信號。
在實例46中,實例42至45之標的物包含,其中回應於一專用保存信號無效之一判定而將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之非揮發性部分。
在實例47中,實例46之標的物包含,其中對應於RESET_n之接腳係288根接腳之接腳94。
在實例48中,實例46至47之標的物包含,其中由對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之SAVE_n之一接腳傳達專用保存信號。
在實例49中,實例48之標的物包含,其中對應於SAVE_n之接腳係288根接腳之接腳230。
在實例50中,實例42至49之標的物包含,其中回應於在重設信號時啟用記憶體封裝之一自再新模式而執行將儲存於記憶體封裝之揮發性部分中之資料保存至記憶體封裝之非揮發性部分。
在實例51中,實例40至50之標的物包含,其中記憶體封裝根據一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)位元組可定址能量備份介面(BAEBI)標準系列操作。
在實例52中,實例51之標的物包含,其中JEDEC BAEBI標準系列包含一JESD245B.01標準。
實例53係至少一種包含指令之機器可讀媒體,該等指令在由處理電路系統執行時致使處理電路系統執行操作以實施實例1至52中任一實例。
實例54係一種包括用來實施實例1至52中任一實例之構件之裝置。
實例55係一種用來實施實例1至52中任一實例之系統。
實例56係一種用來實施實例1至52中任一實例之方法。
上文實施方式包含對形成實施方式之一部分之隨附圖式的參考。圖式藉由圖解之方式展示可實踐本發明之特定實施例。此等實施例在本文中亦被稱為「實例」。此等實例可包含除所展示或所描述元件之外的元件。然而,本發明人亦預期其中僅提供彼等所展示或所描述元件的實例。此外,本發明人亦預期使用就一特定實例(或其之一或多個態樣)或就本文中所展示或所描述之其他實例(或其之一或多個態樣)所展示或所描述之彼等元件之任何組合或排列的實例(或其之一或多個態樣)。
在本文件中,於專利文件中常使用術語「一(a或an)」來包含一個或一個以上,其獨立於「至少一個」或「一或多個」之任何其他例項或使用。在本文件中,使用術語「或」係指一非排他性「或」,使得「A或B」包含「A但非B」、「B但非A」及「A及B」,除非另有指示。在隨附發明申請專利範圍中,術語「包含」及「其中(in which)」用作各自術語「包括」及「其中(wherein)」之普通英語等效形式。又,在以下發明申請專利範圍中,術語「包含」及「包括」係開放式的,亦即,在一請求項中除列於此一術語之後的彼等元件之外亦包含若干元件之一系統、器件、物件、或程序仍被視為在彼請求項的範疇內。此外,在以下發明申請專利範圍中,術語「第一」、「第二」及「第三」等僅用作標籤,並不旨在對其對象強加數字要求。
如本文中所使用,操作一記憶體胞包含自該記憶體胞讀取、寫入至該記憶體胞,或擦除該記憶體胞。將一記憶體胞置於一預期狀態中的操作在本文中被稱為「程式化」,且可包含寫入至該記憶體胞或自該記憶體胞擦除兩者(例如,該記憶體胞可經程式化至一經擦除狀態)。
將理解,當一元件被稱為在另一元件「上」、「經連接至」另一元件,或係與另一元件「耦合」時,其可係直接在該另一元件上、經連接至該另一元件,或係與該另一元件耦合,或可存在中介元件。相比而言,當一元件被稱為「直接在另一元件上」、「經直接連接至」另一元件,或「係直接與另一元件耦合」時,不存在中介元件或層。除非另有指示,否則若兩個元件在圖式中展示為用一線連接其等,則該兩個元件可係耦合或直接耦合。
上文描述旨在係闡釋性而非限制性。舉例而言,上文所述之實例(或其之一或多個態樣)可彼此組合使用。在檢視上文描述後,諸如一般技術者可使用其他實施例。主張瞭解其並非用於解釋或限制發明申請專利範圍之範疇或含義。再者,在上文實施方式中,各種特徵可集合在一起以簡化本發明。此不應被解譯為期望一未主張之揭示特徵係任何請求項之關鍵。實情係,本發明標的可能在於少於一特定揭示實施例之全部特徵。因此,下文發明申請專利範圍在此併入實施方式中,其中各請求項自身作為一單獨實施例,且預期此等實施例可以各種組合或排列彼此組合。應參考隨附發明申請專利範圍連同此等發申請專利範圍所授權之等效物之全範圍來判定實施例之範疇。
105‧‧‧主機 110‧‧‧非揮發性雙列直插記憶體模組(NVDIMM) 113‧‧‧觸發器組件 115‧‧‧舊型部分 120‧‧‧新部分 125‧‧‧控制器 126‧‧‧新部分 130‧‧‧揮發性儲存部分 140‧‧‧非揮發性儲存部分 145‧‧‧電源 200‧‧‧環境 205‧‧‧主機器件 210‧‧‧儲存備份記憶體封裝/儲存備份記憶體 215‧‧‧處理器 220‧‧‧記憶體控制器 225‧‧‧封裝上控制器 230‧‧‧電源 250‧‧‧產品 305‧‧‧訊息 310‧‧‧訊息 315‧‧‧訊息 320‧‧‧訊息 325‧‧‧訊息 330‧‧‧操作 400‧‧‧方法 405‧‧‧操作 410‧‧‧操作 415‧‧‧操作 500‧‧‧機器 502‧‧‧硬體處理器 504‧‧‧主記憶體 506‧‧‧靜態記憶體 508‧‧‧互連 510‧‧‧顯示單元 512‧‧‧文數字輸入器件 514‧‧‧使用者界面(UI)導覽器件 516‧‧‧感測器 518‧‧‧信號產生器件 520‧‧‧網路介面器件 521‧‧‧大容量儲存器 522‧‧‧機器可讀媒體 524‧‧‧資料結構或指令 526‧‧‧通信網路 528‧‧‧輸出控制器
在隨附圖式之圖中以實例且非限制之方式繪示本發明,其中類似元件符號指示類似元件。
圖1繪示根據本發明之一些實施方案之用來實施一保存觸發器之一NVDIMM之一實例。
圖2繪示根據本發明之一些實施方案之包含用於一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之一系統之一環境之一實例。
圖3繪示根據本發明之一些實施方案之用來實施一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之一實例性組件訊息傳送。
圖4繪示根據本發明之一些實施方案之用於一儲存備份記憶體封裝保存觸發器之一方法之一實例性流程圖。
圖5係繪示根據本發明之實施方案之一實例性電腦系統之一方塊圖,可在該電腦系統內執行一指令集以致使機器執行本文中所論述之方法論之任一或多者。
105‧‧‧主機
110‧‧‧非揮發性雙列直插記憶體模組(NVDIMM)
113‧‧‧觸發器組件
115‧‧‧舊型部分
120‧‧‧新部分
125‧‧‧控制器
130‧‧‧揮發性儲存部分
140‧‧‧非揮發性儲存部分
145‧‧‧電源

Claims (21)

  1. 一種記憶體封裝,該記憶體封裝包括:一揮發性部分,經配置以儲存資料;一非揮發性部分;一第一介面,包括一隨機存取記憶體(RAM)介面,該第一介面經配置以:接收該資料;及在如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中所定義之一接腳處接收一重設信號;一第二介面,其經配置以連接至一主機;及一處理器件,其經配置以回應於該重設信號而將經儲存於該揮發性部分中之該資料保存至該非揮發性部分。
  2. 如請求項1之記憶體封裝,其中該第二介面包括根據一積體電路間(I2C)標準系列操作之一匯流排(bus)。
  3. 如請求項1之記憶體封裝,其中該第一介面包括一版本4雙倍資料速率(DDR4)隨機存取記憶體(RAM)介面。
  4. 如請求項3之記憶體封裝,其中該接腳對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之RESET_n。
  5. 如請求項1之記憶體封裝,其中該處理器件經配置以回應於一專用保存信號(dedicated save signal)無效(inoperative)之一判定而將經儲存於該揮發性部分中之該資料保存至該非揮發性部分。
  6. 如請求項5之記憶體封裝,其中由對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對版本4雙倍資料速率(DDR4)所定義之SAVE_n之一第二接腳來傳達該專用保存信號。
  7. 如請求項1之記憶體封裝,其中該處理器件經配置以回應於在該重設信號之一時間處所啟用之該記憶體封裝之一自再新模式而將經儲存於該揮發性部分中之該資料保存至該非揮發性部分。
  8. 一種用於儲存備份記憶體封裝保存觸發器之方法,該方法包括:經由一第一介面接收資料以儲存於一記憶體封裝之一揮發性部分中,該第一介面包括一隨機存取記憶體(RAM)介面,該記憶體封裝包含經配置以將一主機連接至該記憶體封裝中之一處理器件之一第二介面;在該第一介面之一接腳處接收一重設信號,該接腳定義於一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中;及回應於該重設信號而將經儲存於該記憶體封裝之該揮發性部分中之該資料保存至該記憶體封裝之一非揮發性部分。
  9. 如請求項8之方法,其中該第二介面包括根據一積體電路間(I2C)標準系列操作之一匯流排。
  10. 如請求項8之方法,其中該第一介面包括一版本4雙倍資料速率(DDR4)隨機存取記憶體(RAM)介面。
  11. 如請求項10之方法,其中該接腳對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之RESET_n。
  12. 如請求項8之方法,其中回應於一專用保存信號無效之一判定而執行將經儲存於該記憶體封裝之該揮發性部分中之該資料保存至該記憶體封裝之該非揮發性部分。
  13. 如請求項12之方法,其中由對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對版本4雙倍資料速率(DDR4)所定義之SAVE_n之一第二接腳來傳達該專用保存信號。
  14. 如請求項8之方法,其中回應於在該重設信號之一時間處所啟用之該記憶體封裝之一自再新模式而將經儲存於該記憶體封裝之該揮發性部分中之該資料保存至該記憶體封裝之該非揮發性部分。
  15. 至少一種包含指令之機器可讀媒體,該等指令在由一記憶體封裝之處理電路系統執行時,致使該記憶體封裝執行包括以下各者之操作:經由一第一介面接收資料以儲存於該記憶體封裝之一揮發性部分中,該第一介面包括一隨機存取記憶體(RAM)介面,該記憶體封裝包含經 配置以將一主機連接至該記憶體封裝中之一處理器件之一第二介面;在該第一介面之一接腳處接收一重設信號,該接腳定義於一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中;及回應於該重設信號而將儲存於該記憶經體封裝之該揮發性部分中之該資料保存至該記憶體封裝之一非揮發性部分。
  16. 如請求項15之至少一種機器可讀媒體,其中該第二介面包括根據一I2C標準系列操作之一匯流排。
  17. 如請求項15之至少一種機器可讀媒體,其中該第一介面包括一版本4雙倍資料速率(DDR4)隨機存取記憶體(RAM)介面。
  18. 如請求項17之至少一種機器可讀媒體,其中該接腳對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對DDR4所定義之RESET_n。
  19. 如請求項15之至少一種機器可讀媒體,其中回應於一專用保存信號無效之一判定而執行將經儲存於該記憶體封裝之該揮發性部分中之該資料保存至該記憶體封裝之該非揮發性部分。
  20. 如請求項19之至少一種機器可讀媒體,其中由對應於如一聯合電子器件工程委員會(JEDEC)標準系列中針對版本4雙倍資料速率(DDR4)所定義之SAVE_n之一第二接腳來傳達該專用保存信號。
  21. 如請求項15之至少一種機器可讀媒體,其中回應於在該重設信號之一時間處所啟用之該記憶體封裝之一自再新模式而將經儲存於該記憶體封裝之該揮發性部分中之該資料保存至該記憶體封裝之該非揮發性部分。
TW108104090A 2018-02-08 2019-02-01 儲存備份記憶體封裝保存觸發器 TWI717687B (zh)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201862627988P 2018-02-08 2018-02-08
US62/627,988 2018-02-08
US16/107,259 2018-08-21
US16/107,259 US10642695B2 (en) 2018-02-08 2018-08-21 Storage backed memory package save trigger

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201935252A TW201935252A (zh) 2019-09-01
TWI717687B true TWI717687B (zh) 2021-02-01

Family

ID=67476798

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW108104090A TWI717687B (zh) 2018-02-08 2019-02-01 儲存備份記憶體封裝保存觸發器

Country Status (5)

Country Link
US (3) US10642695B2 (zh)
EP (1) EP3750159B1 (zh)
CN (1) CN111801735B (zh)
TW (1) TWI717687B (zh)
WO (1) WO2019156853A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10642695B2 (en) 2018-02-08 2020-05-05 Micron Technology, Inc. Storage backed memory package save trigger

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100146256A1 (en) * 2000-01-06 2010-06-10 Super Talent Electronics Inc. Mixed-Mode ROM/RAM Booting Using an Integrated Flash Controller with NAND-Flash, RAM, and SD Interfaces
US8285979B2 (en) * 2008-10-15 2012-10-09 Icera Inc. Boot algorithm
TWI457756B (zh) * 2011-01-25 2014-10-21 Sony Corp 記憶體系統及其操作方法
US20150248935A1 (en) * 2009-02-11 2015-09-03 HGST Netherlands B.V. Apparatus, systems, and methods for operating flash backed dram module
US20160188414A1 (en) * 2014-12-24 2016-06-30 Intel Corporation Fault tolerant automatic dual in-line memory module refresh
US20180018182A1 (en) * 2016-07-13 2018-01-18 Buffalo Memory Co., Ltd. Storage device, information processing system, method of activating storage device and program
US20180018119A1 (en) * 2015-09-09 2018-01-18 Toshiba Memory Corporation Memory system and controller

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8904098B2 (en) 2007-06-01 2014-12-02 Netlist, Inc. Redundant backup using non-volatile memory
US8009499B2 (en) 2008-06-16 2011-08-30 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Providing a capacitor-based power supply to enable backup copying of data from volatile storage to persistent storage
US8325554B2 (en) * 2008-07-10 2012-12-04 Sanmina-Sci Corporation Battery-less cache memory module with integrated backup
JP2010020586A (ja) 2008-07-11 2010-01-28 Nec Electronics Corp データ処理装置
US9047178B2 (en) * 2010-12-13 2015-06-02 SanDisk Technologies, Inc. Auto-commit memory synchronization
US20130336047A1 (en) * 2012-04-24 2013-12-19 Being Advanced Memory Corporation Cell Refresh in Phase Change Memory
US9286203B2 (en) * 2013-01-07 2016-03-15 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Control logic design to support USB cache offload
US9727462B2 (en) * 2013-01-30 2017-08-08 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Runtime backup of data in a memory module
US9366718B2 (en) * 2013-09-12 2016-06-14 Cisco Technology Inc. Detection of disassembly of multi-die chip assemblies
WO2016105345A1 (en) * 2014-12-22 2016-06-30 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Status for generated data image
US9817610B1 (en) 2015-12-08 2017-11-14 Inphi Corporation Hybrid memory systems for autonomous non-volatile memory save and restore operations
US10007579B2 (en) * 2016-03-11 2018-06-26 Microsoft Technology Licensing, Llc Memory backup management in computing systems
US10642695B2 (en) 2018-02-08 2020-05-05 Micron Technology, Inc. Storage backed memory package save trigger

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100146256A1 (en) * 2000-01-06 2010-06-10 Super Talent Electronics Inc. Mixed-Mode ROM/RAM Booting Using an Integrated Flash Controller with NAND-Flash, RAM, and SD Interfaces
US8285979B2 (en) * 2008-10-15 2012-10-09 Icera Inc. Boot algorithm
US20150248935A1 (en) * 2009-02-11 2015-09-03 HGST Netherlands B.V. Apparatus, systems, and methods for operating flash backed dram module
TWI457756B (zh) * 2011-01-25 2014-10-21 Sony Corp 記憶體系統及其操作方法
US20160188414A1 (en) * 2014-12-24 2016-06-30 Intel Corporation Fault tolerant automatic dual in-line memory module refresh
US20180018119A1 (en) * 2015-09-09 2018-01-18 Toshiba Memory Corporation Memory system and controller
US20180018182A1 (en) * 2016-07-13 2018-01-18 Buffalo Memory Co., Ltd. Storage device, information processing system, method of activating storage device and program

Also Published As

Publication number Publication date
EP3750159A1 (en) 2020-12-16
US20210349783A1 (en) 2021-11-11
CN111801735B (zh) 2021-11-05
EP3750159B1 (en) 2023-09-06
US10642695B2 (en) 2020-05-05
EP3750159A4 (en) 2021-11-03
US11579979B2 (en) 2023-02-14
CN111801735A (zh) 2020-10-20
TW201935252A (zh) 2019-09-01
US20190243713A1 (en) 2019-08-08
US20200241963A1 (en) 2020-07-30
WO2019156853A1 (en) 2019-08-15
US11074131B2 (en) 2021-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI715926B (zh) 在一儲存備份記憶體封裝中之韌體更新
JP7235226B2 (ja) 記憶デバイスにおけるシステムタイムスタンプを用いたバックグラウンドデータ・リフレッシュ
TWI704489B (zh) 儲存備份記憶體封裝中之狀態管理
US9361250B2 (en) Memory module and method for exchanging data in memory module
KR20210100758A (ko) 메모리 데이터에 기초하여 비교 정보를 결정하기 위한 장치, 시스템 및 방법
US10599206B2 (en) Techniques to change a mode of operation for a memory device
CN116189728A (zh) 在存储器插槽中支持多个存储器类型
US9436563B2 (en) Memory system for mirroring data
US20160062690A1 (en) Data storage device, data processing system including the same, and operating method thereof
US9575887B2 (en) Memory device, information-processing device and information-processing method
US20130159604A1 (en) Memory storage device and memory controller and data writing method thereof
US10467020B2 (en) Memory device, and information-processing device
TWI717687B (zh) 儲存備份記憶體封裝保存觸發器
CN107301872B (zh) 半导体存储器装置的操作方法