TWI717285B - 光學取像透鏡組、成像裝置及電子裝置 - Google Patents

Abstract

一種光學取像透鏡組，由物側至像側依序包含：第一透鏡、第二透鏡、光圈、第三透鏡、第四透鏡及第五透鏡。其中，第一透鏡具有負屈折力，其像側面為凹面；第二透鏡具有負屈折力；第三透鏡具有正屈折力，其像側面為凸面；第四透鏡具有負屈折力，其物側面為凹面、像側面為凸面；以及第五透鏡具有正屈折力，其物側面為凸面。此光學取像透鏡組之透鏡總數為五片。當此光學取像透鏡組滿足特定條件時，可達成廣視角、小型化及高成像品質的要求。

Description

光學取像透鏡組、成像裝置及電子裝置

本發明係有關於一種光學取像透鏡組及成像裝置，特別是有關適用於3D深度感測器或車用攝影電子裝置之光學取像透鏡組，以及包含此光學取像透鏡組之成像裝置及電子裝置。

隨著半導體製程技術不斷地精進，使得影像感測元件的畫素可以達到更微小的尺寸，性能顯著地提升，因此，具備高成像品質的光學鏡頭已成為電子攝像裝置中不可或缺的一環。

而隨著電子攝像裝置的多元化發展，其應用範圍愈加地廣泛，例如先進駕駛輔助系統(ADAS)、行車記錄器、家用監控攝影設備、智慧型手機及人機互動裝置等，光學鏡頭的設計要求也更加地多樣化。傳統光學成像鏡頭所提供的拍照視角已逐漸不符合消費者之需求，而朝向廣視角化的發展。

然而傳統的光學成像鏡頭較不易在視角、光圈大小、成像品質、及鏡頭總長度之間取得平衡，故符合前述需求的光學成像鏡頭已成為此技術領域者努力的目標。

是以，為解決上述問題，本發明提供一種光學取像透鏡組，由物側至像側依序包含第一透鏡、第二透鏡、光圈、第三透鏡、第四透鏡及第五透鏡。其中，第一透鏡具有負屈折力，其像側面為凹面；第二透鏡，具有負屈折力；第三透鏡，具有正屈折力，其物側面為凸面，像側面為凸面；第四透鏡，具有負屈折力，其物側面為凹面，像側面為凸面；以及第五透鏡，具有正屈折力，其物側面為凸面；其中，此光學取像透鏡組之透鏡總數為五片；該第一透鏡之物側面至該光學取像透鏡組之成像面在光軸上之距離為TTL，最大像高為ImgH，係滿足以下關係式：5.48≦TTL/ImgH≦8.13。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第三透鏡的焦距為f3，其與整體光學取像透鏡組之有效焦距EFL之間，係滿足以下關係式：1.3<f3/EFL<3.4。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第二透鏡的色散係數為Vd2，第四透鏡的色散係數為Vd4，係滿足以下關係式：Vd2<40；及Vd4<40。

本發明另提供一種光學取像透鏡組，由物側至像側依序包含第一透鏡、第二透鏡、光圈、第三透鏡、第四透鏡及第五透鏡。其中，第一透鏡具有負屈折力，其像側面為凹面；第二透鏡，具有負屈折力；第三透鏡，具有正屈折力，其像側面為凸面；第四透鏡，具有負屈折力，其物側面為凹面，像側面為凸面；以及第五透鏡，具有正屈折力，其物側面為凸面；其中，此光學取像透鏡組之透鏡總數為五片；第三透鏡的焦距為f3，整體光學取像透鏡組之有效焦距為EFL；第二透鏡的色散係數為Vd2，第四透鏡的色散係數為Vd4；此光學取像透鏡組係滿足以下關係式：1.3<f3/EFL<3.4；Vd2<40；及Vd4<40。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第一透鏡的焦距為f1，其與光學取像透鏡組的有效焦距EFL之間，係滿足以下關係式：-5<f1/EFL<-2。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第一透鏡的焦距為f1，第二透鏡的焦距為f2，二者之間係滿足以下關係式：0.2<f1/f2<1.6。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第三透鏡的焦距f3與第五透鏡的焦距f5，二者之間係滿足以下關係式：0.3<f3/f5<1.2。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第三透鏡像側面之曲率半徑為R6，第四透鏡物側面之曲率半徑為R7，二者之間係滿足以下關係式：1.2<R6/R7<2.7。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第四透鏡像側面之曲率半徑為R8，第五透鏡物側面之曲率半徑為R9，二者之間係滿足以下關係式：-1.8<R9/R8<-0.8。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第一透鏡至第五透鏡在光軸上之厚度的總和為ΣCT，而第一透鏡物側面至第五透鏡像側面在光軸上之距離為Dr1r10，係滿足以下關係式：0.4<ΣCT/Dr1r10<0.8。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第三透鏡物側面的曲率半徑為R5、像側面的曲率半徑為R6，係滿足以下關係式：-1.5<

<0。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第一透鏡像側面至第二透鏡物側面在光軸上之距離為AT12，而第二透鏡像側面至第三透鏡物側面在光軸上之距離為AT23，係滿足以下關係式：0.4<AT23/AT12<2.8。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第四透鏡的物側面及像側面皆為非球面。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第五透鏡的物側面及像側面皆為非球面。

根據本發明之一實施例，所述光學取像透鏡組之第五透鏡在光軸上之厚度為CT5，其與整體光學取像透鏡組的有效焦距EFL間，係滿足以下關係式：0.9<CT5/EFL<3.6。

本發明又提供一種成像裝置，其包含如前述之光學取像透鏡組，及一影像感測元件，其中，影像感測元件係設置於光學取像透鏡組之成像面。

本發明進一步提供一種電子裝置，其包含前述之成像裝置及一近紅外線發射元件，其中，近紅外線發射元件用以發射近紅外線光束，使電子裝置得以在近紅外線光源下擷取影像。

10、20、30、40、50、60、70、80、90、100:光學取像透鏡組

11、21、31、41、51、61、71、81、91、101:第一透鏡

12、22、32、42、52、62、72、82、92、102:第二透鏡

13、23、33、43、53、63、73、83、93、103:第三透鏡

14、24、34、44、54、64、74、84、94、104:第四透鏡

15、25、35、45、55、65、75、85、95、105:第五透鏡

16、26、36、46、56、66、76、86、96、106:濾光元件

17、27、37、47、57、67、77、87、97、107:保護玻璃

18、28、38、48、58、68、78、88、98、108:成像面

11a、21a、31a、41a、51a、61a、71a、81a、91a、101a:第一透鏡之物側面

11b、21b、31b、41b、51b、61b、71b、81b、91b、101b:第一透鏡之像側面

12a、22a、32a、42a、52a、62a、72a、82a、92a、102a:第二透鏡之物側面

12b、22b、32b、42b、52b、62b、72b、82b、92b、102b:第二透鏡之像側面

13a、23a、33a、43a、53a、63a、73a、83a、93a、103a:第三透鏡之物側面

13b、23b、33b、43b、53b、63b、73b、83b、93b、103b:第三透鏡之像側面

14a、24a、34a、44a、54a、64a、74a、84a、94a、104a:第四透鏡之物側面

14b、24b、34b、44b、54b、64b、74b、84b、94b、104b:第四透鏡之像側面

15a、25a、35a、45a、55a、65a、75a、85a、95a、105a:第五透鏡之物側面

15b、25b、35b、45b、55b、65b、75b、85b、95b、105b:第五透鏡之像側面

16a、16b、26a、26b、36a、36b、46a、46b、56a、56b、66a、66b、76a、76b、86a、86b、96a、96b、106a、106b:濾光元件之二表面

17a、17b、27a、27b、37a、37b、47a、47b、57a、57b、67a、67b、77a、77b、87a、87b、97a、97b、107a、107b:保護玻璃之二表面

10a、20a、30a、40a、50a、60a、70a、80a、90a、100a:影像感測元件

1000:電子裝置

1010:成像裝置

I:光軸

〔圖1A〕為本發明第一實施例之光學取像透鏡組示意圖；〔圖1B〕由左至右依序為本發明第一實施例之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖；〔圖2A〕為本發明第二實施例之光學取像透鏡組示意圖；〔圖2B〕由左至右依序為本發明第二實施例之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖；〔圖3A〕為本發明第三實施例之光學取像透鏡組示意圖；〔圖3B〕由左至右依序為本發明第三實施例之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖；〔圖4A〕為本發明第四實施例之光學取像透鏡組示意圖； 〔圖4B〕由左至右依序為本發明第四實施例之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖；〔圖5A〕為本發明第五實施例之光學取像透鏡組示意圖；〔圖5B〕由左至右依序為本發明第五實施例之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖；〔圖6A〕為本發明第六實施例之光學取像透鏡組示意圖；〔圖6B〕由左至右依序為本發明第六實施例之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖；〔圖7A〕為本發明第七實施例之光學取像透鏡組示意圖；〔圖7B〕由左至右依序為本發明第七實施例之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖；〔圖8A〕為本發明第八實施例之光學取像透鏡組示意圖；〔圖8B〕由左至右依序為本發明第八實施例之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖；〔圖9A〕為本發明第九實施例之光學取像透鏡組示意圖；〔圖9B〕由左至右依序為本發明第九實施例之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖；〔圖10A〕為本發明第十實施例之光學取像透鏡組示意圖；〔圖10B〕由左至右依序為本發明第十實施例之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖；〔圖11〕為本發明第十二實施例之電子裝置之示意圖。

在以下實施例中，光學取像透鏡組之各透鏡可為玻璃或塑膠材質，而不以實施例所列舉之材質為限。當透鏡材質為玻璃時，透鏡表面可透過研磨方式或模造的方式進行加工；此外，由於玻璃材質本身耐溫度變化及高硬度特性，可以減輕環境變化對光學取像透鏡組的影響，進而延長光學取像透鏡組的使用壽命。當透鏡材質為塑膠時，則有利於減輕光學取像透鏡組的重量，及降低生產成本。

在本發明之實施例中，每一個透鏡皆包含朝向被攝物之一物側面，及朝向成像面之一像側面。每一個透鏡的表面形狀係依據所述表面靠近光軸區域(近軸處)的形狀加以定義，例如描述一個透鏡之物側面為凸面時，係表示該透鏡在靠近光軸區域的物側面為凸面，亦即，雖然在實施例中描述該透鏡表面為凸面，而該表面在遠離光軸區域(離軸處)可能是凸面或凹面。每一個透鏡近軸處的形狀係以該面之曲率半徑為正值或負值加以判斷，例如，若一個透鏡之物側面曲率半徑為正值時，則該物側面為凸面；反之，若其曲率半徑為負值，則該物側面為凹面。就一個透鏡之像側面而言，若其曲率半徑為正值，則該像側面為凹面；反之，若其曲率半徑為負值，則該像側面為凸面。

在本發明之實施例中，每一透鏡的物側面及像側面可以是球面或非球面表面。在透鏡上使用非球面表面有助於修正如球面像差等光學取像透鏡組的成像像差，減少光學透鏡元件的使用數量。然而，使用非球面透鏡會使整體光學取像透鏡組的成本提高。雖然在本發明之實施例中，有些光學透鏡的表面係使用球面表面，但仍可以視需要將其設計為非球面表面。

在本發明之實施例中，光學取像透鏡組之總長TTL(Total Track Length)定義為此光學取像透鏡組之第一透鏡的物側面至成像面在光軸上之距離。此光學取像透鏡組之成像高度稱為最大像高ImgH(Image Height)；當成像面上設置一影像感測元件時，最大像高ImgH代表影像感測元件的有效感測區域 對角線長度之一半。在以下實施例中，所有透鏡的曲率半徑、透鏡厚度、透鏡之間的距離、透鏡組總長TTL、最大像高ImgH和焦距(Focal Length)的單位皆以公厘(mm)加以表示。

本發明提供一種光學取像透鏡組，由物側至像側依序包含第一透鏡、第二透鏡、光圈、第三透鏡、第四透鏡及第五透鏡。其中，第一透鏡具有負屈折力，其像側面為凹面；第二透鏡具有負屈折力；第三透鏡具有正屈折力，其像側面為凸面；第四透鏡具有負屈折力，其物側面為凹面、像側面為凸面；第五透鏡具有正屈折力，其物側面為凸面；其中，所述光學取像透鏡組之透鏡總數為五片。

所述第一透鏡具有負屈折力，其像側面為凹面。其中，第一透鏡之物側面可以是凸面、平面或凹面。藉由設置具有負屈折力之第一透鏡，有助於擴大光學取像透鏡組的收光範圍，使不同角度的入射光線經由第一透鏡之物側面及像側面折射後，可以形成較為靠近光軸的光束。

所述第二透鏡具有負屈折力，當其物側面為凹面時，其像側面可以是凹面或凸面，而當其物側面為凸面時，其像側面為凹面。藉由在第一透鏡後方設置同樣具有負屈折力之第二透鏡，可以進一步調整光線行進的方向，縮小光線與光軸之間的夾角，進而降低成像像差。

所述第三透鏡具有正屈折力，係作為主要調整光路的元件，其像側面為凸面。其中，其物側面可以是凸面或平面。具有正屈折力之第三透鏡提供光學取像透鏡組所需之主要正屈折力，用以匯聚由第一透鏡及第二透鏡所形成之發散光束。此外，根據本發明之實施例，所述光圈係設置於具有負屈折力 之第二透鏡及具有正屈折力之第三透鏡之間，有助於降低場曲像差、像散像差及畸變像差。

所述第四透鏡具有負屈折力，其物側面為凹面、像側面為凸面。利用第四透鏡凹向物側的物側面搭配第三透鏡凸向像側之像側面，得以修正球面像差及色像差。較佳地，第四透鏡之物側面及像側面可設置為非球面，有利於進一步修正成像像差。

所述第五透鏡具有正屈折力，其物側面為凸面。其中，第五透鏡之像側面可以是凸面或凹面。藉由第四透鏡之像側面與第五透鏡之物側面二者凸面相對的配置方式，可以有效地修正場曲像差及畸變像差。較佳地，第五透鏡之物側面及像側面可設置為非球面，有利於進一步修正成像像差。

所述第一透鏡之物側面至光學取像透鏡組之成像面在光軸上之距離為TTL，在成像面上之最大像高為ImgH，係滿足以下關係式：5.48≦TTL/ImgH≦8.13 (1)。

所述光學取像透鏡組之第三透鏡之焦距為f3，其與光學取像透鏡組的有效焦距EFL之間，係滿足以下關係式：1.3<f3/EFL<3.4 (2)；藉由滿足關係式(2)的條件，有利於縮小光學取像透鏡組的體積，同時保有良好的光學性能。若f3/EFL低於關係式(2)的下限值，則光學取像透鏡組的有效焦距變長、或第三透鏡的屈折力過大，易造成像像高縮小；若f3/EFL高於關係式(2)的上限值，則易造成光學取像透鏡組的總長度增加，或者場曲像差較難以修正。

所述光學取像透鏡組之第二透鏡的色散係數為Vd2，第四透鏡的色散係數為Vd4，係滿足以下關係式： Vd2<40 (3)；及Vd4<40 (4)。

藉由滿足關係式(3)及(4)的條件，在具有負屈折力之第二透鏡及第四透鏡使用具有較低色散係數的材料，有利於修正光學取像透鏡組的色像差，提高成像品質。

所述光學取像透鏡組之第一透鏡的焦距為f1，其與該光學取像透鏡組的有效焦距EFL之間，係滿足以下關係式：-5<f1/EFL<-2 (5)；藉由滿足關係式(5)，所述第一透鏡可具有適當之負屈折力，有利於提高光學取像透鏡組的收光範圍。

所述光學取像透鏡組之第一透鏡的焦距f1，與第二透鏡的焦距f2之間，係滿足以下關係式：0.2<f1/f2<1.6 (6)；藉由滿足關係式(6)的條件，可以將此光學取像透鏡組前端的負屈折力適當地分配至第一透鏡及第二透鏡，有利於控制第一透鏡、第二透鏡之屈折力大小及第一透鏡或第二透鏡與光圈在光軸上之間距，使其不至於過長或過短。

所述光學取像透鏡組之第三透鏡的焦距為f3，第五透鏡的焦距為f5，係滿足以下關係式：0.3<f3/f5<1.2 (7)；藉由滿足關係式(7)的條件，有利於將此光學取像透鏡組的正屈折力適當分配至第三透鏡和第五透鏡，可以有效地調整第三透鏡與第五透鏡 的有效光學半徑大小及厚度比例，且有助於控制光學取像透鏡組的體積，及修正成像像差。

所述光學取像透鏡組之第三透鏡像側面的曲率半徑為R6，第四透鏡物側面的曲率半徑為R7，係滿足以下關係式：1.2<R6/R7<2.7 (8)；藉由滿足關係式(8)的條件，可以使第四透鏡的物側面具有與第三透鏡像側面相近之形狀，有利於近距離接收第三透鏡出射的光線，並得以利用第四透鏡之負屈折力修正成像像差。

所述光學取像透鏡組之第四透鏡像側面的曲率半徑為R8，第五透鏡物側面的曲率半徑為R9，係滿足以下關係式：-1.8<R9/R8<-0.8 (9)；藉由滿足關係式(9)的條件，有利於修正光學取像透鏡組之場曲像差及畸變像差。

所述光學取像透鏡組之第一透鏡至第五透鏡在光軸上之厚度的總和為ΣCT，而第一透鏡物側面至第五透鏡像側面在光軸上之距離為Dr1r10，係滿足以下關係式：0.4<ΣCT/Dr1r10<0.8 (10)；藉由滿足關係式(10)的條件，可以控制第一透鏡至第五透鏡在光軸上之厚度總和與第一透鏡物側面至第五透鏡像側面在光軸上之距離，二者間維持一適當的比例，有利於光學取像透鏡組的小型化。

所述光學取像透鏡組之第三透鏡物側面之曲率半徑為R5、像側面之曲率半徑為R6，係滿足以下關係式：-1.5<(R5+R6)/(R6-R5)<0 (11)； 藉由滿足關係式(11)的條件，有利於修正光學取像透鏡組之球面像差。

所述光學取像透鏡組之第一透鏡像側面至第二透鏡物側面在光軸上之距離為AT12，第二透鏡像側面至第三透鏡物側面在光軸上之距離為AT23，係滿足以下關係式：0.4<AT23/AT12<2.8 (12)；藉由滿足關係式(12)的條件，可以控制具有負屈折力之第一透鏡、第二透鏡，及具有正屈折力之第三透鏡在光軸上之間距的比例，有利於降低場曲像差、球面像差及彗星像差。

所述光學取像透鏡組之第五透鏡在光軸上之厚度為CT5，其與光學取像透鏡組之有效焦距EFL間係滿足以下關係式：0.9<CT5/EFL<3.6 (13)；藉由滿足關係式(13)的條件，可以控制第五透鏡在光軸上之厚度，有利於在成像面上形成具有適當高度的成像，以及控制光學取像透鏡組的總長度。

第一實施例

參見圖1A及圖1B，圖1A為本發明第一實施例之光學取像透鏡組之示意圖。圖1B由左至右依序為本發明第一實施例之縱向球差圖(Longitudinal Spherical Aberration)、像散場曲像差圖(Astigmatism/Field Curvature)及畸變像差圖(Distortion)。

如圖1A所示，第一實施例之光學取像透鏡組10由物側至像側依序包含第一透鏡11、第二透鏡12、光圈ST、第三透鏡13、第四透鏡14及第五 透鏡15。此光學取像透鏡組10更可包含濾光元件16、保護玻璃17及成像面18。在成像面18上更可設置一影像感測元件10a，以構成一成像裝置(未另標號)。

第一透鏡11具有負屈折力，其物側面11a為凸面、像側面11b為凹面，且物側面11a及像側面11b皆為球面。第一透鏡11之材質為玻璃。

第二透鏡12具有負屈折力，其物側面12a為凹面、像側面12b為凹面，且物側面12a及像側面12b皆為非球面。更詳細地說，第二透鏡12之物側面12a在近軸處為凹面、離軸處為凸面，第二透鏡物側面12a具有至少二個反曲點。第二透鏡12之材質為塑膠。

第三透鏡13具有正屈折力，其物側面13a為凸面、像側面13b為凸面，且物側面13a及像側面13b皆為球面。第三透鏡13之材質為玻璃。

第四透鏡14具有負屈折力，其物側面14a為凹面、像側面14b為凸面，且物側面14a及像側面14b皆為非球面。更詳細地說，第四透鏡14之像側面14b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第四透鏡14之像側面14b具有至少二個反曲點。第四透鏡14之材質為塑膠。

第五透鏡15具有正屈折力，其物側面15a為凸面、像側面15b為凸面，且物側面15a及像側面15b皆為非球面。更詳細說，第五透鏡15之像側面15b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第五透鏡15之像側面15b具有至少二個反曲點。第五透鏡15之材質為塑膠。

濾光元件16設置於第五透鏡15與成像面18之間，用以濾除特定波長區段的光線。濾光元件16之二表面16a、16b皆為平面，其材質為玻璃。

保護玻璃17設置於影像感測元件10a之上，其二表面17a、17b皆為平面，其材質為玻璃。

影像感測元件10a例如是電荷耦合元件感測元件(Charge-Coupled Device(CCD)Image Sensor)或互補式金屬氧化半導體影像感測元件(CMOS Image Sensor)。

上述各個非球面之曲線方程式表示如下：

其中，X：非球面上距離光軸為Y的點與非球面於光軸上之切面間的距離；Y：非球面上的點與光軸間之垂直距離；R：透鏡於近光軸處的曲率半徑；K：錐面係數；以及Ai：第i階非球面係數。

請參見下方表一，其為本發明第一實施例之光學取像透鏡組10的詳細光學數據。其中，第一透鏡11之物側面11a標示為表面11a、像側面11b標示為表面11b，其他各透鏡表面則依此類推。表中距離欄位的數值代表該表面至下一表面在光軸I上的距離，例如第一透鏡11之物側面11a至像側面11b之距離為1.132mm，代表第一透鏡11之厚度為1.132mm。第一透鏡11之像側面11b至第二透鏡12之物側面12a之距離為2.803mm。其它可依此類推，以下不再重述。第一實施例中，光學取像透鏡組10之有效焦距為EFL，光圈值(F-number)為Fno，整體光學取像透鏡組10最大視角之一半為HFOV(Half Field of View)，其數值亦列於表一中。

請參見下方表二，其為本發明第一實施例之第二透鏡、第四透鏡及第五透鏡各表面的非球面係數。其中，K為非球面曲線方程式中的錐面係數，A₄至A₁₄則代表各表面第4階至第14階非球面係數。例如第二透鏡12之物側面12a之錐面係數K為-72.4。其它可依此類推，以下不再重述。此外，以下各實施例的表格係對應至各實施例之光學取像透鏡組，各表格的定義係與本實施例相同，故在以下實施例中不再加以贅述。

第一實施例中，整體光學取像透鏡組10之透鏡組總長TTL為19.71mm，在成像面上之最大像高為ImgH為3.0mm，二者間之關係式為TTL/ImgH=6.57。

第一實施例中，第三透鏡13的焦距f3與整體光學取像透鏡組10之有效焦距EFL間之關係式為f3/EFL=2.08。

第一實施例中，第二透鏡12之色散係數Vd2為23.3，第四透鏡14之色散係數Vd4為21.5，滿足Vd2<40及Vd4<40。

第一實施例中，第一透鏡11的焦距f1與整體光學取像透鏡組10之有效焦距EFL間之關係式為f1/EFL=-2.95。。

第一實施例中，第一透鏡11的焦距f1與第二透鏡12的焦距f2之關係式為f1/f2=0.80。

第一實施例中，第三透鏡13的焦距f3與第五透鏡15的焦距f5之間的關係式為f3/f5=0.64。

第一實施例中，第三透鏡13像側面13b之曲率半徑R6與第四透鏡14物側面之曲率半徑R7，二者間之關係式為R6/R7=1.81。

第一實施例中，第四透鏡14之像側面14b的曲率半徑R8與第五透鏡15物側面15a的曲率半徑R9，二者間之關係式為R9/R8=-1.34。

第一實施例中，第一透鏡11至第五透鏡15在光軸上之厚度的總和ΣCT，與第一透鏡11物側面11a至第五透鏡15像側面15b在光軸上之距離Dr1r10，二者間之關係式為ΣCT/Dr1r10=0.62。

第一實施例中，第三透鏡13物側面13a的曲率半徑R5，與像側面13b的曲率半徑R6間之關係式為(R5+R6)/(R6-R5)=-0.51。

第一實施例中，第一透鏡11像側面11b至第二透鏡12物側面12a在光軸上之距離AT12，與第二透鏡12像側面12b至第三透鏡13物側面13a在光軸上之距離AT23，二者間之關係式為AT23/AT12=0.76。

第一實施例中，第五透鏡15在光軸上之厚度CT5與整體光學取像透鏡組10之有效焦距EFL間之關係式為CT5/EFL=2.18。

由上述關係式的數值可知，第一實施例之光學取像透鏡組10滿足關係式(1)至(13)的要求。

參見圖1B，圖中由左至右分別為光學取像透鏡組10之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖。由縱向球差圖可以看出，三種近紅外光930nm、940nm及950nm波長在不同高度的離軸光線皆可集中於成像點附近，其成像點偏差可以控制在±0.02mm以內。由像散場曲像差圖(波長940nm)可以看出，弧矢方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.05mm以內；子午方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.03mm以內；而畸變像差可以控制在3%以內。如圖1B所示，本實施例之光學取像透鏡組10已良好地修正了各項像差，符合光學系統的成像品質要求。

第二實施例

參見圖2A及圖2B，圖2A為本發明第二實施例之光學取像透鏡組20之示意圖。圖2B由左至右依序為本發明第二實施例之縱向球差圖(Longitudinal Spherical Aberration)、像散場曲像差圖(Astigmatism/Field Curvature)及畸變像差圖(Distortion)。

如圖2A所示，第二實施例之光學取像透鏡組20由物側至像側依序包含第一透鏡21、第二透鏡22、光圈ST、第三透鏡23、第四透鏡24及第五透鏡25。此光學取像透鏡組20更可包含濾光元件26、保護玻璃27及成像面28。在成像面28上更可設置一影像感測元件20a，以構成一成像裝置(未另標號)。

第一透鏡21具有負屈折力，其物側面21a為凸面、像側面21b為凹面，且其物側面21a及像側面21b皆為球面。第一透鏡21之材質為玻璃。

第二透鏡22具有負屈折力，其物側面22a為凹面、像側面22b為凹面，且其物側面22a及像側面22b皆為非球面。更詳細地說，第二透鏡22之物側面22a在近軸處為凹面、離軸處為凸面，第二透鏡物側面22a具有至少二個反曲點。第二透鏡22之材質為玻璃。

第三透鏡23具有正屈折力，其物側面23a為凸面、像側面23b為凸面，且其物側面23a及像側面23b皆為球面。第三透鏡23之材質為玻璃。

第四透鏡24具有負屈折力，其物側面24a為凹面、像側面24b為凸面，且其物側面24a及像側面24b皆為非球面。更詳細地說，第四透鏡24之像側面24b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第四透鏡24之像側面24b具有至少二個反曲點。第四透鏡24之材質為玻璃。

第五透鏡25具有正屈折力，其物側面25a為凸面、像側面25b為凹面，且其物側面25a及像側面25b皆為非球面。第五透鏡25之材質為玻璃。

濾光元件26設置於第五透鏡25與成像面28之間，用以濾除特定波長區段的光線。濾光元件26之二表面26a、26b皆為平面，其材質為玻璃。

保護玻璃27設置於影像感測元件20a之上，其二表面27a、27b皆為平面，其材質為玻璃。

影像感測元件(Image Sensor)20a例如是電荷耦合元件影像感測元件(Charge-Coupled Device(CCD)Image Sensor)或互補式金屬氧化半導體影像感測元件(CMOS Image Sensor)。

第二實施例之光學取像透鏡組20之詳細光學數據及透鏡表面之非球面係數分別列於表三及表四。在第二實施例中，非球面之曲線方程式表示如第一實施例的形式。

在第二實施例中，光學取像透鏡組20之各關係式的數值列於表五。由表五可知，第二實施例之光學取像透鏡組20滿足關係式(1)至(13)的要求。

參見圖2B，圖中由左至右分別為光學取像透鏡組20之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖。由縱向球差圖可以看出，三種近紅外光930nm、940nm及950nm波長在不同高度的離軸光線皆可集中於成像點附近，其成像點偏差可以控制在±0.01mm以內。由像散場曲像差圖(波長940nm)可以看出，弧矢方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.03mm以內；子午方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.03mm以內；而畸變像差可以控制在20%以內。如圖2B所示，本實施例之光學取像透鏡組20已良好地修正了各項像差，符合光學系統的成像品質要求。

第三實施例

參見圖3A及圖3B，圖3A為本發明第三實施例之光學取像透鏡組30之示意圖。圖3B由左至右依序為本發明第三實施例之縱向球差圖(Longitudinal Spherical Aberration)、像散場曲像差圖(Astigmatism/Field Curvature)及畸變像差圖(Distortion)。

如圖3A所示，第三實施例之光學取像透鏡組30由物側至像側依序包含第一透鏡31、第二透鏡32、光圈ST、第三透鏡33、第四透鏡34及第五透鏡35。此光學取像透鏡組30更可包含濾光元件36、保護玻璃37及成像面38。在成像面38上更可設置一影像感測元件30a，以構成一成像裝置(未另標號)。

第一透鏡31具有負屈折力，其物側面31a為凸面、像側面31b為凹面，且其物側面31a及像側面31b皆為球面。第一透鏡31之材質為玻璃。

第二透鏡32具有負屈折力，其物側面32a為凸面、像側面32b為凹面，且其物側面32a及像側面32b皆為非球面。第二透鏡32之材質為玻璃。

第三透鏡33具有正屈折力，其物側面33a為凸面、像側面33b為凸面，且其物側面33a及像側面33b皆為球面。第三透鏡33之材質為玻璃。

第四透鏡34具有負屈折力，其物側面34a為凹面、像側面34b為凸面，且其物側面34a及像側面34b皆為非球面。第四透鏡34之材質為玻璃。

第五透鏡35具有正屈折力，其物側面35a為凸面、像側面35b為凸面，且其物側面35a及像側面35b皆為非球面。更詳細說，第五透鏡35之像側面35b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第五透鏡35之像側面35b具有至少二個反曲點。第五透鏡35之材質為玻璃。

濾光元件36設置於第五透鏡35與成像面38之間，用以濾除特定波長區段的光線。濾光元件36之二表面36a、36b皆為平面，其材質為玻璃。

保護玻璃37設置於影像感測元件30a之上，其二表面37a、37b皆為平面，其材質為玻璃。

影像感測元件(Image Sensor)30a例如是電荷耦合元件影像感測元件(Charge-Coupled Device(CCD)Image Sensor)或互補式金屬氧化半導體影像感測元件(CMOS Image Sensor)。

第三實施例之光學取像透鏡組30之詳細光學數據及透鏡表面之非球面係數分別列於表六及表七。在第三實施例中，非球面之曲線方程式表示如第一實施例的形式。

在第三實施例中，光學取像透鏡組30之各關係式的數值列於表八。由表八可知，第三實施例之光學取像透鏡組30滿足關係式(1)至(13)的要求。

參見圖3B，圖中由左至右分別為光學取像透鏡組30之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖。由縱向球差圖可以看出，三種近紅外光930nm、940nm及950nm波長在不同高度的離軸光線皆可集中於成像點附近，其成像點偏差可以控制在±0.02mm以內。由像散場曲像差圖(波長940nm)可以看出，弧矢方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.04mm以內；子午方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.03mm以內；而畸變像差可以控制在5%以內。如圖3B所示，本實施例之光學取像透鏡組30已良好地修正了各項像差，符合光學系統的成像品質要求。

第四實施例

參見圖4A及圖4B，圖4A為本發明第四實施例之光學取像透鏡組40之示意圖。圖4B由左至右依序為本發明第四實施例之縱向球差圖(Longitudinal Spherical Aberration)、像散場曲像差圖(Astigmatism/Field Curvature)及畸變像差圖(Distortion)。

如圖4A所示，第四實施例之光學取像透鏡組40由物側至像側依序包含第一透鏡41、第二透鏡42、光圈ST、第三透鏡43、第四透鏡44及第五透鏡45。此光學取像透鏡組40更可包含濾光元件46、保護玻璃47及成像面48。在成像面48上更可設置一影像感測元件40a，以構成一成像裝置(未另標號)。

第一透鏡41具有負屈折力，其物側面41a為凹面、像側面41b為凹面，且其物側面41a及像側面41b皆為球面。第一透鏡41之材質為玻璃。

第二透鏡42具有負屈折力，其物側面42a為凹面、像側面42b為凹面，且其物側面42a及像側面42b皆為非球面。更詳細地說，第二透鏡42之物側面42a在近軸處為凹面、離軸處為凸面，第二透鏡物側面42a具有至少二個反曲點。第二透鏡42之材質為塑膠。

第三透鏡43具有正屈折力，其物側面43a為凸面、像側面43b為凸面，且其物側面43a及像側面43b皆為球面。第三透鏡43之材質為玻璃。

第四透鏡44具有負屈折力，其物側面44a為凹面、像側面44b為凸面，且其物側面44a及像側面44b皆為非球面。更詳細地說，第四透鏡44之像側面44b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第四透鏡44之像側面44b具有至少二個反曲點。第四透鏡44之材質為塑膠。

第五透鏡45具有正屈折力，其物側面45a為凸面、像側面45b為凸面，且其物側面45a及像側面45b皆為非球面。更詳細說，第五透鏡45之像側面45b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第五透鏡45之像側面45b具有至少二個反曲點。第五透鏡45之材質為塑膠。

濾光元件46設置於第五透鏡45與成像面48之間，用以濾除特定波長區段的光線。濾光元件46之二表面46a、46b皆為平面，其材質為玻璃。

保護玻璃47設置於影像感測元件40a之上，其二表面47a、47b皆為平面，其材質為玻璃。

影像感測元件(Image Sensor)40a例如是電荷耦合元件影像感測元件(Charge-Coupled Device(CCD)Image Sensor)或互補式金屬氧化半導體影像感測元件(CMOS Image Sensor)。

第四實施例之光學取像透鏡組40之詳細光學數據及透鏡表面之非球面係數分別列於表九及表十。在第四實施例中，非球面之曲線方程式表示如第一實施例的形式。

在第四實施例中，光學取像透鏡組40之各關係式的數值列於表十一。由表十一可知，第四實施例之光學取像透鏡組40滿足關係式(1)至(13)的要求。

參見圖4B，圖中由左至右分別為光學取像透鏡組40之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖。由縱向球差圖可以看出，三種近紅外光930nm、940nm及950nm波長在不同高度的離軸光線皆可集中於成像點附近，其成像點偏差可以控制在±0.03mm以內。由像散場曲像差圖(波長940nm)可以看出，弧矢方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.01mm以內；子午方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.03mm以內；而畸變像差可以控制在25%以內。如圖4B所示，本實施例之光學取像透鏡組40已良好地修正了各項像差，符合光學系統的成像品質要求。

第五實施例

參見圖5A及圖5B，圖5A為本發明第五實施例之光學取像透鏡組50之示意圖。圖5B由左至右依序為本發明第五實施例之縱向球差圖(Longitudinal Spherical Aberration)、像散場曲像差圖(Astigmatism/Field Curvature)及畸變像差圖(Distortion)。

如圖5A所示，第五實施例之光學取像透鏡組50由物側至像側依序包含第一透鏡51、第二透鏡52、光圈ST、第三透鏡53、第四透鏡54及第五透鏡55。此光學取像透鏡組50更可包含濾光元件56、保護玻璃57及成像面58。在成像面58上更可設置一影像感測元件50a，以構成一成像裝置(未另標號)。

第一透鏡51具有負屈折力，其物側面51a為凸面、像側面51b為凹面，且其物側面51a及像側面51b皆為球面。第一透鏡51之材質為玻璃。

第二透鏡52具有負屈折力，其物側面52a為凹面、像側面52b為凹面，且其物側面52a及像側面52b皆為非球面。更詳細地說，第二透鏡52之物側面52a在近軸處為凹面、離軸處為凸面，第二透鏡物側面52a具有至少二個反曲點。第二透鏡52之材質為玻璃。

第三透鏡53具有正屈折力，其物側面53a為凸面、像側面53b為凸面，且其物側面53a及像側面53b皆為球面。第三透鏡53之材質為玻璃。

第四透鏡54具有負屈折力，其物側面54a為凹面、像側面54b為凸面，且其物側面54a及像側面54b皆為非球面。更詳細地說，第四透鏡54之像側面54b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第四透鏡54之像側面54b具有至少二個反曲點。第四透鏡54之材質為塑膠。

第五透鏡55具有正屈折力，其物側面55a為凸面、像側面55b為凸面，且其物側面55a及像側面55b皆為非球面。更詳細說，第五透鏡55之像側面55b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第五透鏡55之像側面55b具有至少二個反曲點。第五透鏡55之材質為塑膠。

濾光元件56設置於第五透鏡55與成像面58之間，用以濾除特定波長區段的光線。濾光元件56之二表面56a、56b皆為平面，其材質為玻璃。

保護玻璃57設置於影像感測元件50a之上，其二表面57a、57b皆為平面，其材質為玻璃。

影像感測元件(Image Sensor)50a例如是電荷耦合元件影像感測元件(Charge-Coupled Device(CCD)Image Sensor)或互補式金屬氧化半導體影像感測元件(CMOS Image Sensor)。

第五實施例之光學取像透鏡組50之詳細光學數據及透鏡表面之非球面係數分別列於表十二及表十三。在第五實施例中，非球面之曲線方程式表示如第一實施例的形式。

在第五實施例中，光學取像透鏡組50之各關係式的數值列於表十四。由表十四可知，第五實施例之光學取像透鏡組50滿足關係式(1)至(13)的要求。

參見圖5B，圖中由左至右分別為光學取像透鏡組50之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖。由縱向球差圖可以看出，三種近紅外光930nm、940nm及950nm波長在不同高度的離軸光線皆可集中於成像點附近，其成像點偏差可以控制在±0.02mm以內。由像散場曲像差圖(波長940nm)可以看出， 弧矢方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.04mm以內；子午方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.05mm以內；而畸變像差可以控制在10%以內。如圖5B所示，本實施例之光學取像透鏡組50已良好地修正了各項像差，符合光學系統的成像品質要求。

第六實施例

參見圖6A及圖6B，圖6A為本發明第六實施例之光學取像透鏡組60之示意圖。圖6B由左至右依序為本發明第六實施例之縱向球差圖(Longitudinal Spherical Aberration)、像散場曲像差圖(Astigmatism/Field Curvature)及畸變像差圖(Distortion)。

如圖6A所示，第六實施例之光學取像透鏡組60由物側至像側依序包含第一透鏡61、第二透鏡62、光圈ST、第三透鏡63、第四透鏡64及第五透鏡65。此光學取像透鏡組60更可包含濾光元件66、保護玻璃67及成像面68。在成像面68上更可設置一影像感測元件60a，以構成一成像裝置(未另標號)。

第一透鏡61具有負屈折力，其物側面61a為凸面、像側面61b為凹面，且其物側面61a及像側面61b皆為球面。第一透鏡61之材質為玻璃。

第二透鏡62具有負屈折力，其物側面62a為凹面、像側面62b為凹面，且其物側面62a及像側面62b皆為非球面。更詳細地說，第二透鏡62之物側面62a在近軸處為凹面、離軸處為凸面，第二透鏡物側面62a具有至少二個反曲點。第二透鏡62之材質為玻璃。

第三透鏡63具有正屈折力，其物側面63a為凸面、像側面63b為凸面，且其物側面63a及像側面63b皆為球面。第三透鏡63之材質為玻璃。

第四透鏡64具有負屈折力，其物側面64a為凹面、像側面64b為凸面，且其物側面64a及像側面64b皆為非球面。更詳細地說，第四透鏡64之像側面64b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第四透鏡64之像側面64b具有至少二個反曲點。第四透鏡64之材質為塑膠。

第五透鏡65具有正屈折力，其物側面65a為凸面、像側面65b為凸面，且其物側面65a及像側面65b皆為非球面。更詳細說，第五透鏡65之像側面65b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第五透鏡65之像側面65b具有至少二個反曲點。第五透鏡65之材質為塑膠。

濾光元件66設置於第五透鏡65與成像面68之間，用以濾除特定波長區段的光線。濾光元件66之二表面66a、66b皆為平面，其材質為玻璃。

保護玻璃67設置於影像感測元件60a之上，其二表面67a、67b皆為平面，其材質為玻璃。

影像感測元件(Image Sensor)60a例如是電荷耦合元件影像感測元件(Charge-Coupled Device(CCD)Image Sensor)或互補式金屬氧化半導體影像感測元件(CMOS Image Sensor)。

第六實施例之光學取像透鏡組60之詳細光學數據及透鏡表面之非球面係數分別列於表十五及表十六。在第六實施例中，非球面之曲線方程式表示如第一實施例的形式。

在第六實施例中，光學取像透鏡組60之各關係式的數值列於表十七。由表十七可知，第六實施例之光學取像透鏡組60滿足關係式(1)至(13)的要求。

參見圖6B，圖中由左至右分別為光學取像透鏡組60之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖。由縱向球差圖可以看出，三種近紅外光930nm、940nm及950nm波長在不同高度的離軸光線皆可集中於成像點附近，其成像點偏差可以控制在±0.02mm以內。由像散場曲像差圖(波長940nm)可以看出，弧矢方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.02mm以內；子午方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.05mm以內；而畸變像差可以控制在10%以內。如圖6B所示，本實施例之光學取像透鏡組60已良好地修正了各項像差，符合光學系統的成像品質要求。

第七實施例

參見圖7A及圖7B，圖7A為本發明第七實施例之光學取像透鏡組70之示意圖。圖7B由左至右依序為本發明第七實施例之縱向球差圖 (Longitudinal Spherical Aberration)、像散場曲像差圖(Astigmatism/Field Curvature)及畸變像差圖(Distortion)。

如圖7A所示，第七實施例之光學取像透鏡組70由物側至像側依序包含第一透鏡71、第二透鏡72、光圈ST、第三透鏡73、第四透鏡74及第五透鏡75。此光學取像透鏡組70更可包含濾光元件76、保護玻璃77及成像面78。在成像面78上更可設置一影像感測元件70a，以構成一成像裝置(未另標號)。

第一透鏡71具有負屈折力，其物側面71a為凸面、像側面71b為凹面，且其物側面71a及像側面71b皆為球面。第一透鏡71之材質為玻璃。

第二透鏡72具有負屈折力，其物側面72a為凹面、像側面72b為凹面，且其物側面72a及像側面72b皆為非球面。更詳細地說，第二透鏡72之物側面72a在近軸處為凹面、離軸處為凸面，第二透鏡物側面72a具有至少二個反曲點。第二透鏡72之材質為玻璃。

第三透鏡73具有正屈折力，其物側面73a為凸面、像側面73b為凸面，且其物側面73a及像側面73b皆為球面。第三透鏡73之材質為玻璃。

第四透鏡74具有負屈折力，其物側面74a為凹面、像側面74b為凸面，且其物側面74a及像側面74b皆為非球面。更詳細地說，第四透鏡74之像側面74b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第四透鏡74之像側面74b具有至少二個反曲點。第四透鏡74之材質為塑膠。

第五透鏡75具有正屈折力，其物側面75a為凸面、像側面75b為凸面，且其物側面75a及像側面75b皆為非球面。更詳細說，第五透鏡75之 像側面75b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第五透鏡75之像側面75b具有至少二個反曲點。第五透鏡75之材質為塑膠。

濾光元件76設置於第五透鏡75與成像面78之間，用以濾除特定波長區段的光線。濾光元件76之二表面76a、76b皆為平面，其材質為玻璃。

保護玻璃77設置於影像感測元件70a之上，其二表面77a、77b皆為平面，其材質為玻璃。

影像感測元件(Image Sensor)70a例如是電荷耦合元件影像感測元件(Charge-Coupled Device(CCD)Image Sensor)或互補式金屬氧化半導體影像感測元件(CMOS Image Sensor)。

第七實施例之光學取像透鏡組70之詳細光學數據及透鏡表面之非球面係數分別列於表十八及表十九。在第七實施例中，非球面之曲線方程式表示如第一實施例的形式。

在第七實施例中，光學取像透鏡組70之各關係式的數值列於表二十。由表二十可知，第七實施例之光學取像透鏡組70滿足關係式(1)至(13)的要求。

參見圖7B，圖中由左至右分別為光學取像透鏡組70之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖。由縱向球差圖可以看出，三種近紅外光930nm、940nm及950nm波長在不同高度的離軸光線皆可集中於成像點附近，其成像點偏差可以控制在±0.02mm以內。由像散場曲像差圖(波長940nm)可以看出，弧矢方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.03mm以內；子午方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.03mm以內；而畸變像差可以控制在10%以內。如圖7B所示，本實施例之光學取像透鏡組70已良好地修正了各項像差，符合光學系統的成像品質要求。

第八實施例

參見圖8A及圖8B，圖8A為本發明第八實施例之光學取像透鏡組80之示意圖。圖8B由左至右依序為本發明第八實施例之縱向球差圖(Longitudinal Spherical Aberration)、像散場曲像差圖(Astigmatism/Field Curvature)及畸變像差圖(Distortion)。

如圖8A所示，第八實施例之光學取像透鏡組80由物側至像側依序包含第一透鏡81、第二透鏡82、光圈ST、第三透鏡83、第四透鏡84及第五透鏡85。此光學取像透鏡組80更可包含濾光元件86、保護玻璃87及成像面88。在成像面88上更可設置一影像感測元件80a，以構成一成像裝置(未另標號)。

第一透鏡81具有負屈折力，其物側面81a為平面、像側面81b為凹面，且像側面81b為球面。第一透鏡81之材質為玻璃。

第二透鏡82具有負屈折力，其物側面82a為凹面、像側面82b為凹面，且其物側面82a及像側面82b皆為非球面。更詳細地說，第二透鏡82之物側面82a在近軸處為凹面、離軸處為凸面，第二透鏡物側面82a具有至少二個反曲點。第二透鏡82之材質為塑膠。

第三透鏡83具有正屈折力，其物側面83a為凸面、像側面83b為凸面，且其物側面83a及像側面83b皆為球面。第三透鏡83之材質為玻璃。

第四透鏡84具有負屈折力，其物側面84a為凹面、像側面84b為凸面，且其物側面84a及像側面84b皆為非球面。更詳細地說，第四透鏡84之像側面84b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第四透鏡84之像側面84b具有至少二個反曲點。第四透鏡84之材質為塑膠。

第五透鏡85具有正屈折力，其物側面85a為凸面、像側面85b為凸面，且其物側面85a及像側面85b皆為非球面。更詳細說，第五透鏡85之像側面85b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第五透鏡85之像側面85b具有至少二個反曲點。第五透鏡85之材質為塑膠。

濾光元件86設置於第五透鏡85與成像面88之間，用以濾除特定波長區段的光線。濾光元件86之二表面86a、86b皆為平面，其材質為玻璃。

保護玻璃87設置於影像感測元件80a之上，其二表面87a、87b皆為平面，其材質為玻璃。

影像感測元件(Image Sensor)80a例如是電荷耦合元件影像感測元件(Charge-Coupled Device(CCD)Image Sensor)或互補式金屬氧化半導體影像感測元件(CMOS Image Sensor)。

第八實施例之光學取像透鏡組80之詳細光學數據及透鏡表面之非球面係數分別列於表二十一及表二十二。在第八實施例中，非球面之曲線方程式表示如第一實施例的形式。

在第八實施例中，光學取像透鏡組80之各關係式的數值列於表二十三。由表二十三可知，第八實施例之光學取像透鏡組80滿足關係式(1)至(13)的要求。

參見圖8B，圖中由左至右分別為光學取像透鏡組80之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖。由縱向球差圖可以看出，三種近紅外光930nm、940nm及950nm波長在不同高度的離軸光線皆可集中於成像點附近，其成像點偏差可以控制在±0.01mm以內。由像散場曲像差圖(波長940nm)可以看出，弧矢方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.04mm以內；子午方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.03mm以內；而畸變像差可以控 制在10%以內。如圖8B所示，本實施例之光學取像透鏡組80已良好地修正了各項像差，符合光學系統的成像品質要求。

第九實施例

參見圖9A及圖9B，圖9A為本發明第九實施例之光學取像透鏡組90之示意圖。圖9B由左至右依序為本發明第九實施例之縱向球差圖(Longitudinal Spherical Aberration)、像散場曲像差圖(Astigmatism/Field Curvature)及畸變像差圖(Distortion)。

如圖9A所示，第九實施例之光學取像透鏡組90由物側至像側依序包含第一透鏡91、第二透鏡92、光圈ST、第三透鏡93、第四透鏡94及第五透鏡95。此光學取像透鏡組90更可包含濾光元件96、保護玻璃97及成像面98。在成像面98上更可設置一影像感測元件90a，以構成一成像裝置(未另標號)。

第一透鏡91具有負屈折力，其物側面91a為凸面、像側面91b為凹面，且其物側面91a及像側面91b皆為球面。第一透鏡91之材質為玻璃。

第二透鏡92具有負屈折力，其物側面92a為凹面、像側面92b為凸面，且其物側面92a及像側面92b皆為非球面。更詳細地說，第二透鏡92之物側面92a在近軸處為凹面、離軸處為凸面；第二透鏡92之像側面92b在近軸處為凸面、離軸處為凹面；第二透鏡物側面92a及像側面92b各具有至少二個反曲點。第二透鏡92之材質為玻璃。

第三透鏡93具有正屈折力，其物側面93a為凸面、像側面93b為凸面，且其物側面93a及像側面93b皆為球面。第三透鏡93之材質為玻璃。

第四透鏡94具有負屈折力，其物側面94a為凹面、像側面94b為凸面，且其物側面94a及像側面94b皆為非球面。第四透鏡94之材質為玻璃。

第五透鏡95具有正屈折力，其物側面95a為凸面、像側面95b為凸面，且其物側面95a及像側面95b皆為非球面。更詳細說，第五透鏡95之像側面95b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第五透鏡95之像側面95b具有至少二個反曲點。第五透鏡95之材質為玻璃。

濾光元件96設置於第五透鏡95與成像面98之間，用以濾除特定波長區段的光線。濾光元件96之二表面96a、96b皆為平面，其材質為玻璃。

保護玻璃97設置於影像感測元件90a之上，其二表面97a、97b皆為平面，其材質為玻璃。

影像感測元件(Image Sensor)90a例如是電荷耦合元件影像感測元件(Charge-Coupled Device(CCD)Image Sensor)或互補式金屬氧化半導體影像感測元件(CMOS Image Sensor)。

第九實施例之光學取像透鏡組90之詳細光學數據及透鏡表面之非球面係數分別列於表二十四及表二十五。在第九實施例中，非球面之曲線方程式表示如第一實施例的形式。

在第九實施例中，光學取像透鏡組90之各關係式的數值列於表二十六。由表二十六可知，第九實施例之光學取像透鏡組90滿足關係式(1)至(13)的要求。

參見圖9B，圖中由左至右分別為光學取像透鏡組90之縱向球差圖、像散場曲像差圖及畸變像差圖。由縱向球差圖可以看出，三種近紅外光930nm、940nm及950nm波長在不同高度的離軸光線皆可集中於成像點附近，其成像點偏差可以控制在±0.01mm以內。由像散場曲像差圖(波長940nm)可以看出，弧矢方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.03mm以內；子午方向的像差在整個視場範圍內的焦距變化量在±0.02mm以內；而畸變像差可以控制在2%以內。如圖9B所示，本實施例之光學取像透鏡組90已良好地修正了各項像差，符合光學系統的成像品質要求。

第十實施例

參見圖10A及圖10B，圖10A為本發明第十實施例之光學取像透鏡組100之示意圖。圖10B由左至右依序為本發明第十實施例之縱向球差圖(Longitudinal Spherical Aberration)、像散場曲像差圖(Astigmatism/Field Curvature)及畸變像差圖(Distortion)。

如圖10A所示，第十實施例之光學取像透鏡組100由物側至像側依序包含第一透鏡101、第二透鏡102、光圈ST、第三透鏡103、第四透鏡104及第五透鏡105。此光學取像透鏡組100更可包含濾光元件106、保護玻璃107 及成像面108。在成像面108上更可設置一影像感測元件100a，以構成一成像裝置(未另標號)。

第一透鏡101具有負屈折力，其物側面101a為凸面、像側面101b為凹面，且其物側面101a及像側面101b皆為球面。第一透鏡101之材質為玻璃。

第二透鏡102具有負屈折力，其物側面102a為凹面、像側面102b為凹面，且其物側面102a及像側面102b皆為非球面。更詳細地說，第二透鏡102之物側面102a在近軸處為凹面、離軸處為凸面，第二透鏡物側面102a具有至少二個反曲點。第二透鏡102之材質為塑膠。

第三透鏡103具有正屈折力，其物側面103a為平面、像側面103b為凸面，且像側面103b為球面。第三透鏡103之材質為玻璃。

第四透鏡104具有負屈折力，其物側面104a為凹面、像側面104b為凸面，且其物側面104a及像側面104b皆為非球面。第四透鏡104之材質為塑膠。

第五透鏡105具有正屈折力，其物側面105a為凸面、像側面105b為凸面，且其物側面105a及像側面105b皆為非球面。更詳細說，第五透鏡105之像側面105b在近軸處為凸面、離軸處為凹面，第五透鏡105之像側面105b具有至少二個反曲點。第五透鏡105之材質為塑膠。

濾光元件106設置於第五透鏡105與成像面108之間，用以濾除特定波長區段的光線。濾光元件106之二表面106a、106b皆為平面，其材質為玻璃。

保護玻璃107設置於影像感測元件100a之上，其二表面107a、107b皆為平面，其材質為玻璃。

影像感測元件(Image Sensor)100a例如是電荷耦合元件影像感測元件(Charge-Coupled Device(CCD)Image Sensor)或互補式金屬氧化半導體影像感測元件(CMOS Image Sensor)。

第十實施例之光學取像透鏡組100之詳細光學數據及透鏡表面之非球面係數分別列於表二十七及表二十八。在第十實施例中，非球面之曲線方程式表示如第一實施例的形式。

在第十實施例中，光學取像透鏡組100之各關係式的數值列於表二十九。由表二十九可知，第十實施例之光學取像透鏡組100滿足關係式(1)至(13)的要求。

第十一實施例

本發明第十一實施例為一成像裝置，此成像裝置包含如前述第一至第十實施例之光學取像透鏡組，以及一影像感測元件；其中，影像感測元件例如是設置於光學取像透鏡組之成像面。影像感測元件例如是電荷耦合元件 (Charge-Coupled Device，CCD)或互補式金屬氧化半導體(Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS)影像感測元件等。此成像裝置例如是3D深度感測鏡頭、車用鏡頭模組、監控攝影機之相機模組，或可攜式電子產品之相機模組等。

第十二實施例

請參照圖十一，圖中係繪示本發明第十二實施例之電子裝置1000的示意圖。如圖所示，電子裝置1000包含一成像裝置1010及一近紅外線發射元件1020。成像裝置1010例如是前述第十一實施例之成像裝置，可以由本發明之光學取像透鏡組及一影像感測元件所構成。近紅外線發射元件1020例如是一近紅外線燈，用以發射波長940nm之近紅外線光束。藉此，使用者可利用電子裝置1000在紅外線光源下進行影像擷取之工作。此電子裝置1000例如是3D深度感測裝置、駕駛監控裝置或安全監視攝影機等。

雖然本發明使用前述數個實施例加以說明，然而該些實施例並非用以限制本發明之範圍。對本發明所屬技術領域具有通常知識者而言，在不脫離本發明之精神與範圍內，仍可以參照本發明所揭露的實施例內容進行形式上和細節上的多種變化。是故，此處需明白的是，本發明係以下列申請專利範圍所界定者為準，任何在申請專利範圍內或其等效的範圍內所作的各種變化，仍應落入本發明之申請專利範圍之內。

10:光學取像透鏡組

11:第一透鏡

12:第二透鏡

13:第三透鏡

14:第四透鏡

15:第五透鏡

16:濾光元件

17:保護玻璃

18:成像面

11a:第一透鏡之物側面

11b:第一透鏡之像側面

12a:第二透鏡之物側面

12b:第二透鏡之像側面

13a:第三透鏡之物側面

13b:第三透鏡之像側面

14a:第四透鏡之物側面

14b:第四透鏡之像側面

15a:第五透鏡之物側面

15b:第五透鏡之像側面

16a、16b:濾光元件之二表面

17a、17b:保護玻璃之二表面

10a:影像感測元件

I:光軸

ST:光圈

Claims (18)

1. 一種光學取像透鏡組，由物側至像側依序包含：一第一透鏡，具有負屈折力，其像側面為凹面；一第二透鏡，具有負屈折力；一光圈；一第三透鏡，具有正屈折力，其物側面為凸面、像側面為凸面；一第四透鏡，具有負屈折力，其物側面為凹面、像側面為凸面；以及一第五透鏡，具有正屈折力，其物側面為凸面；其中，該光學取像透鏡組之透鏡總數為五片；該第一透鏡之物側面至該光學取像透鏡組之成像面在光軸上之距離為TTL，最大像高為ImgH，係滿足以下關係式：5.48≦TTL/ImgH≦8.13。
2. 如申請專利範圍第1項之光學取像透鏡組，其中，該第三透鏡之焦距為f3，該光學取像透鏡組之有效焦距為EFL，係滿足以下關係式：1.3<f3/EFL<3.4。
3. 如申請專利範圍第1項之光學取像透鏡組，其中，該第二透鏡之色散係數為Vd2，該第四透鏡之色散係數為Vd4，係滿足以下關係式：Vd2<40；及Vd4<40。
4. 一種光學取像透鏡組，由物側至像側依序包含：一第一透鏡，具有負屈折力，其像側面為凹面；一第二透鏡，具有負屈折力；一光圈；一第三透鏡，具有正屈折力，其像側面為凸面； 一第四透鏡，具有負屈折力，其物側面為凹面、像側面為凸面；以及一第五透鏡，具有正屈折力，其物側面為凸面；其中，該光學取像透鏡組之透鏡總數為五片；該第三透鏡之焦距為f3，該光學取像透鏡組之有效焦距為EFL；該第二透鏡之色散係數為Vd2，該第四透鏡之色散係數為Vd4，係滿足以下關係式：1.3<f3/EFL<3.4；Vd2<40；及Vd4<40。
5. 如申請專利範圍第4項之光學取像透鏡組，其中，該光學取像透鏡組之有效焦距為EFL，最大像高為ImgH，係滿足以下關係式：0.5<EFL/ImgH<1.2。
6. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該第一透鏡之焦距為f1，其與該光學取像透鏡組的有效焦距EFL之間，係滿足以下關係式：-5<f1/EFL<-2。
7. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該第一透鏡之焦距為f1，該第二透鏡之焦距為f2，係滿足以下關係式：0.2<f1/f2<1.6。
8. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該光學取像透鏡組係滿足以下關係式：0.3<f3/f5<1.2；其中，f3為該第三透鏡之焦距，f5為該第五透鏡之焦距。
9. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該第三透鏡像側面之曲率半徑為R6，該第四透鏡物側面之曲率半徑為R7，係滿足以下關係式：1.2<R6/R7<2.7。
10. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該第四透鏡像側面之曲率半徑為R8，該第五透鏡物側面之曲率半徑為R9，係滿足以下關係式：-1.8<R9/R8<-0.8。
11. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該第一透鏡至該第五透鏡在光軸上之厚度的總和為ΣCT，而該第一透鏡物側面至該第五透鏡像側面在光軸上之距離為Dr1r10，係滿足以下關係式：0.4<ΣCT/Dr1r10<0.8。
12. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該第三透鏡物側面之曲率半徑為R5、像側面之曲率半徑為R6，係滿足以下關係式：-1.5<

    

    <0。
13. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該第一透鏡像側面至該第二透鏡物側面在光軸上之距離為AT12，該第二透鏡像側面至該第三透鏡物側面在光軸上之距離為AT23，係滿足以下關係式：0.4<AT23/AT12<2.8。
14. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該第四透鏡之物側面及像側面皆為非球面。
15. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該第五透鏡之物側面及像側面皆為非球面。
16. 如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，其中，該第五透鏡在光軸上之厚度為CT5，其與該光學取像透鏡組之有效焦距EFL間係滿足以下關係式：0.9<CT5/EFL<3.6。
17. 一種成像裝置，其包含如申請專利範圍第1項或第4項之光學取像透鏡組，及一影像感測元件，其中，該影像感測元件設置於該光學取像透鏡組之成像面。
18. 一種電子裝置，其包含如申請專利範圍第17項之成像裝置及一近紅外線發射元件，其中，該近紅外線發射元件用以發射近紅外線光，使該電子裝置得以在近紅外線光源下擷取影像。

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