TWI700527B - 光學量測裝置及其光學部件的安裝方法 - Google Patents

光學量測裝置及其光學部件的安裝方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI700527B
TWI700527B TW105141356A TW105141356A TWI700527B TW I700527 B TWI700527 B TW I700527B TW 105141356 A TW105141356 A TW 105141356A TW 105141356 A TW105141356 A TW 105141356A TW I700527 B TWI700527 B TW I700527B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
optical component
optical
housing
shaft
measurement device
Prior art date
Application number
TW105141356A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201821850A (zh
Inventor
鄭乃仁
林耀禎
Original Assignee
台灣超微光學股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 台灣超微光學股份有限公司 filed Critical 台灣超微光學股份有限公司
Priority to TW105141356A priority Critical patent/TWI700527B/zh
Publication of TW201821850A publication Critical patent/TW201821850A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI700527B publication Critical patent/TWI700527B/zh

Links

Images

Landscapes

  • Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)

Abstract

一種光學量測裝置,其包括殼體以及光學組件。殼體包括壁板,而壁板具有至少一開口。光學組件配置於殼體內,並包括一光學部件。壁板遮蓋光學部件,而開口暴露部分光學部件。如此,固化膠可從開口形成,並連接殼體與光學部件,以幫助固定光學部件於殼體上。此外,一種光學部件的安裝方法在此也提出。

Description

光學量測裝置及其光學部件的安裝方法
本發明有關一種光學量測裝置及其光學部件的安裝方法,尤其是一種可對光學部件進行調整(adjustment)的安裝方法以及採用此安裝方法的光學量測裝置。
現有光學量測裝置,例如光譜儀(spectrometer),需要進行精密的組裝來製作,以使多個光學元件,例如透鏡(lens)、光柵(grating)、反射鏡(reflector)以及光感測器(photodetector),能處於適當的位置(position)與方位(orientation),讓光學量測裝置可以維持一定的準確度(accuracy)與精密度(precision)。
一般而言,在進行上述精密組裝的過程中,會啟動光學量測裝置,並調整這些光學元件的位置與方位來進行校正(calibration)。校正完畢後,這些光學元件會被固定,以使這些光學元件的佈置(arrangement)能保持不變。否則,一旦這些光學元件的配置因震動(vibration)而發生改變,將會容易造成準確度與精密度降低,導致光學量測裝置的量測結果失真。
本發明提供一種光學量測裝置,其殼體具有至少一能暴露部分光學部件的開口,其可供膠材(adhesive)塗佈,以幫助固定光學部件於殼體上。
本發明提供一種光學部件的安裝方法,應用於上述光學量測裝置。
本發明所提供的光學量測裝置,其包括一殼體以及一光學組件(optical assembly)。殼體包括壁板,而壁板具有至少一開口。光學組件配置於殼體內,並包括一光學部件。光學部件具有一背面。壁板遮蓋背面,而至少一開口暴露部分背面。光學部件可轉動地配置於殼體內,並且被限制沿著一轉軸(rotational axis)而相對壁板轉動。
本發明所提供的光學部件的安裝方法,其包括以下步驟。將一光學部件可轉動地配置於一殼體內,並限制光學部件沿著一轉軸而相對殼體轉動。接著,利用光學部件沿著轉軸而相對殼體的轉動來校正光學部件。在校正光學部件之後,在至少一開口中形成一連接光學部件與壁板的固化膠(cured adhesive)。
基於上述,由於開口暴露部分光學部件,因此固化膠可以從開口直接形成,並連接殼體與光學部件,以幫助固定光學部件於殼體上,讓光學部件與壁板之間難以產生相對運動,以幫助維持光學量測裝置的準確度與精密度。
為讓本發明的特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下。
圖1A是本發明一實施例的光學量測裝置的立體示意圖,而圖1B是圖1A中的光學量測裝置的俯視示意圖。請參閱圖1A與圖1B,光學量測裝置100包括殼體110與光學組件120,而光學組件120配置於殼體110內。殼體110可包括一塊蓋板(cover,未繪示),以使殼體110能包圍整個光學組件120,從而保護光學組件120以及減少外界光線對光學組件120的干擾。此外,殼體110(包含蓋板)的內表面可為黑色,或是塗有低反射率的膜層,以降低光線的反射,減少光學量測裝置100內部所產生的雜散光(stray light)。
為了清楚呈現本實施例光學量測裝置100的構造,圖1A與圖1B所繪示的是移除蓋板之後的光學量測裝置100。關於上述蓋板,其可以是硬板(rigid plate),例如金屬板或陶瓷板,並且可以用螺鎖(screwing)或膠黏(adhering)來組裝。所以,蓋板的主要構造簡單,縱使圖式沒有繪示出蓋板,本發明所屬技術領域中具有通常知識者仍然可以知道如何據以實施上述蓋板。
光學組件120包括多個光學部件。以圖1A與圖1B為例,光學組件120包括五個光學部件121、122、123、124與125。在本實施例中,光學部件121為光輸入部,並具有擋光片(baffle)121a與狹縫(slit,未繪示)。擋光片121a具有供光線穿透的孔洞(aperture),並配置於狹縫與光學部件122之間,而擋光片121a在孔洞周圍的部分能遮擋入射角過大的光線,以降低或消除雜散光。光學部件122為反射式準直鏡(reflective collimating mirror)。光學部件123包括光柵與固定此光柵的基座,其中光柵例如是平面光柵(planar grating)。光學部件124可用來作為聚焦鏡(focusing mirror),其中光學部件122與124能反射光線。光學部件125為光感測器,其可以是感光耦合元件(Charge-coupled Device,CCD)或互補式金屬氧化物半導體(Complementary Metal–Oxide–Semiconductor,CMOS)。
在圖1A與圖1B所示的實施例中,光學量測裝置100可為光譜儀,而光學組件120包括五個光學部件121至125,但在其他實施例中,光學量測裝置100可為干涉儀(interferometer)或單光儀(monochromator),而光學組件120所包括的光學部件的數量可為至少一個,其中光學組件120可包括分光鏡(beam splitter)、光纖(fiber)及/或餘弦校正器(cosine corrector)。因此,圖1A與圖1B所示的光學量測裝置100僅供舉例說明,本發明所揭露的光學量測裝置(例如光學量測裝置100)並不限定只能是光譜儀,也不限定光學組件(例如光學組件120)所包括的光學部件的數量與種類。
圖1C是圖1A中沿線1C-1C剖面所繪示的剖面示意圖。請參閱圖1A與圖1C,殼體110包括一塊壁板111,而壁板111具有至少一開口111h。以圖1A為例,壁板111具有兩個開口111h。壁板111遮蓋光學部件124,而這些開口111h皆暴露部分光學部件124。詳細而言,光學部件124與壁板111相鄰(adjacent to),且光學部件124具有背面242b,其中壁板111遮蓋背面242b,而這些開口111h暴露部分背面242b,如圖1C所示。
請參閱圖1C,光學量測裝置100還包括至少一固化膠130,其連接壁板111與背面242b。固化膠130可由膠材固化(cured)而成,其中此膠材可為賓漢流體(Bingham fluid),所以膠材在沒固化而變成固化膠130以前,膠材可以被塗佈(applied)在表面上。由於壁板111的開口111h暴露光學部件124的背面242b,因此膠材可以容易地從開口111h塗佈在背面242b與壁板111上,並能進入背面242b與壁板111之間的縫隙。等到膠材固化之後,會形成從開口111h延伸至背面242b的固化膠130,其能固定光學部件124於壁板111上,以使光學部件124與壁板111之間不會產生相對運動(relative motion)。如此,光學部件124能被固定在適當的位置與方位上,以幫助維持光學量測裝置100的準確度與精密度。
在圖1A所示的實施例中,各個開口111h的形狀為條狀,且這些條狀的開口111h的延伸方向與形狀實質上彼此相同。例如,各個開口111h可沿著垂直方向而延伸,如圖1A所示。不過,在其他實施例中,開口111h可沿著水平方向延伸,或是沿著不平行也不垂直水平方向的傾斜方向延伸,而壁板111所具有的開口111h的數量可以僅為一個或是兩個以上。此外,開口111h的形狀也可以是圓形、矩形或三角形等幾何形狀,且這些幾何形狀的開口111h可呈陣列排列。至少兩個開口111h的形狀可以明顯不同。例如,其中一個開口111h的形狀是矩形,另一個開口111h的形狀是三角形。
圖1D是圖1A中沿線1D-1D剖面所繪示的剖面示意圖。請參閱圖1A與圖1D,光學量測裝置100還可包括至少一擋塊140。擋塊140固定於開口111h中,並遮蓋背面242b,其中擋塊140的數量可以相同於開口111h的數量。以圖1A與圖1D為例,壁板111所具有的開口111h的數量為兩個,所以光學量測裝置100所包括的擋塊140的數量也為兩個。這些擋塊140能分別固定於這些開口111h中,以使壁板111能遮蓋整面背面242b,讓外界光線無法從開口111h進入殼體110內部。
如此,外界光線無法從任何一個開口111h進入殼體110內部,以降低會干擾光學部件125(光感測器)的雜散光。此外,擋塊140固定於開口111h的方法可以是膠黏、螺鎖或干涉配合(interference fit)。以膠黏為例,擋塊140可採用黑色膠材將壁板111固定於開口111h,而黑色膠材具有低反射率,並能吸收光線,從而能有效防止外界光線進入光學量測裝置100內部。
各個擋塊140可具有凸緣(flange)142,而開口111h可配合(fitting)凸緣142。具體而言,壁板111還具有外表面111a、內表面111b以及至少一凸塊111c。內表面111b相對於外表面111a,並面對光學部件124的背面242b。凸塊111c形成於開口111h中,並具有從開口111h側壁延伸的端面111e,而端面111e位於內表面111b與外表面111a之間,其中端面111e的形狀可以是環形。在這些擋塊140分別固定於這些開口111h之後,擋塊140能插設於開口111h內,並且可以埋入壁板111中,而凸緣142會抵靠凸塊111c的端面111e,如圖1D所示。
上述凸塊111c與凸緣142之間的抵靠能阻擋從凸緣142與開口111h之間縫隙進入的外界光線,以有效阻止外界光線進入光學量測裝置100的內部,進而更能減少外界光線對光學組件120的干擾。然而,須說明的是,在其他實施例中,即使沒有凸緣142,擋塊140也能阻止大部分外界光線進入光學量測裝置100的內部,所以擋塊140不限定一定要具有凸緣142。此外,在本實施例中,固定在開口111h內的擋塊140不會接觸光學部件124。如此,當擋塊140遭到碰撞時,擋塊140不會碰觸到光學部件124而改變光學部件124原來的位置與方位,進而減少對準確度與精密度所造成的不良影響。
值得一提的是,本實施例是利用擋塊140來遮蓋開口111h,以阻擋外界光線,但是在其他實施例中,也可利用膠帶或電路板等其他物體來遮蓋開口111h。或者,殼體110還可以包括從壁板111延伸的外牆(fence,未繪示),其中此外牆與壁板111圍繞成一塊可供其他元件(例如電路板)配置的容置區域,而此外牆也能阻擋外界光線,從而達到減少外界光線對光學組件120干擾的效果。因此,壁板111的開口111h不限定只能使用擋塊140來遮蓋。
光學部件124可以是包括至少兩個元件的組件(assembly)。以圖1D為例,光學部件124可包括承載件242與光學元件241,其中光學元件241固定於承載件242上。承載件242具有背面242b,並位於光學元件241與壁板111之間。此外,在本實施例中,光學元件241為聚焦鏡,其為一種反射鏡,但在其他實施例中,光學元件241的固定方式也可以應用於其他的光學元件,例如光柵或反射式準直鏡。
圖2A至圖2E是圖1D中的光學部件的安裝方法的示意圖。以上主要描述光學量測裝置100大體上的構造,接下來將配合圖2A至圖2D詳細說明光學部件124的細部構造以及安裝方法。
請參閱圖2A與圖2B,其中圖2B是圖1A中的光學量測裝置100的剖面立體示意圖,其詳細呈現光學量測裝置100的局部構造以及光學部件124,而圖2A為圖2B的爆炸示意圖。在光學部件124的安裝方法中,會將光學部件124可轉動地配置於殼體110內,並限制光學部件124沿著轉軸R1而相對壁板111轉動。也就是說,配置於殼體110內的光學部件124基本上只能沿著轉軸R1而相對壁板111轉動,不會與壁板111相對移動,也不會沿著其他轉軸而轉動。
須說明的是,在圖2B所示的實施例中,轉軸R1實質上是平行於水平面(horizontal level),但在其他實施例中,轉軸R1也可實質上垂直於水平面。所以,光學部件124可以上下轉動(如圖2B所示),或是左右轉動。此外,在其他實施例中,轉軸R1也可以不平行,也不垂直於水平面,以使光學部件124能沿著傾斜的轉軸R1而相對壁板111轉動。
光學量測裝置100還包括軸桿(shaft)150,而軸桿150能使光學部件124可轉動地配置於殼體110內,並能限制光學部件124基本上只沿著轉軸R1而相對壁板111轉動。詳細而言,在將光學部件124可轉動地配置於殼體110內的過程中,可將軸桿150可轉動地插設於殼體110內,以使軸桿150能沿著轉軸R1而相對於殼體110而轉動,其中轉軸R1為軸桿150的中心軸(central axis),所以軸桿150是沿著轉軸R1而自轉(spinning)。
殼體110具有可供軸桿150插設的貫孔112h,其中軸桿150可以與貫孔112h餘隙配合(clearance fit)。如此,軸桿150得以可轉動地插設於貫孔112h。此外,殼體110還可包括塊體(block)112,而軸桿150是插設於塊體112內。塊體112具有貫孔112h,並連接壁板111,而軸桿150從貫孔112h可轉動地插設於塊體112內。接著,連接軸桿150與光學部件124,以使軸桿150與光學部件124能沿著轉軸R1而相對壁板111作同步轉動。
連接軸桿150與光學部件124的方法可以是將軸桿150螺鎖於光學部件124中。詳細而言,軸桿150可為肩螺絲(shoulder screw),並具有螺紋151,而承載件242具有螺孔C11。在光學部件124配置於殼體110內,以及軸桿150插設於貫孔112h之後,軸桿150會對準(aligning to)並可螺鎖於螺孔C11。如此,軸桿150得以連接光學部件124的承載件242,以使光學部件124可轉動地配置於殼體110內,從而限制光學部件124沿著轉軸R1而相對殼體110轉動。此外,在其他實施例中,軸桿150也可採用其他手段來連接光學部件124,例如膠黏或干涉配合。所以,軸桿150與光學部件124之間的連接方法不限定只能用螺鎖。
另外,在將光學部件124可轉動地配置於殼體110內之前,可先固定光學元件241於承載件242上,完成光學部件124的組裝。承載件242包括板體P1,而光學元件241是固定於板體P1上。板體P1具有背面242b以及與背面242b相對的承載面242a,而光學元件241固定於承載面242a上,其中光學元件241可採用膠黏、螺鎖或干涉配合而固定於承載面242a上。此外,承載件242還可包括連接部C1。連接部C1連接板體P1與軸桿150,並具有螺孔C11。所以,軸桿150螺鎖於連接部C1。連接部C1可凸出於承載面242a,以使光學元件241能抵靠連接部C1,從而定位(positioning)光學元件241。
承載件242還可包括樞轉部C2。樞轉部C2連接板體P1,並且凸出於承載面242a。樞轉部C2位於連接部C1的對面,並且可為一根凸柱,如圖2A所示,而在光學元件241固定於承載件242上之後,光學元件241會位在樞轉部C2與連接部C1之間。殼體110更具有對準樞轉部C2的樞轉孔114h,而樞轉部C2能插入於樞轉孔114h中,並與樞轉孔114h餘隙配合,以使樞轉部C2能在樞轉孔114h內轉動。此外,樞轉孔114h、螺孔C11以及貫孔112h三者是共軸(coaxial),以使樞轉部C2、連接部C1以及軸桿150都能沿著同一條轉軸R1而相對壁板111轉動。
值得一提的是,在本實施例中,光學部件124包括光學元件241與承載件(holder)242,但在其他實施例中,光學部件124可以只包括光學元件241,而不包括其他元件,例如承載件242。舉例而言,光學元件241可以具有螺孔C11,以使軸桿150能直接與光學元件241螺鎖。因此,光學部件124不限定要像圖2A般包括光學元件241與承載件242。
當沿著轉軸R1而相對殼體110,自轉已連接光學部件124的軸桿150時,光學部件124會沿著轉軸R1而相對殼體110轉動。如此,可以利用軸桿150的自轉來調整光學部件124的方位。因此,在將光學部件124可轉動地配置於殼體110內之後,利用光學部件124沿著轉軸R1而相對殼體110的轉動來校正光學部件124,以進行光學部件124的安裝。此外,在本實施例中,光學部件124沿著轉軸R1而相對壁板111可轉動的角度A1可小於90度,例如角度A1可以是4度、5度、10度、30度、45度或60度,但其他實施例不限定角度A1一定要小於90度。
請參閱圖2C,在校正光學部件124的方法中,可根據經過光學部件124的檢測光線(measured ray)L1,監測至少一個光學參數,例如光強感度 (intensity sensitivity,單位例如是計數/秒,counts/second)、波長解析度(wavelength resolution)或波長準確度(wavelength accuracy)。也就是說,當校正光學部件124時,可以啟動光學量測裝置100,並且偵測從外部光源所提供的檢測光線L1。
在圖2C所示的實施例中,檢測光線L1會從光學部件121進入光學量測裝置100內部。接著,檢測光線L1會依序經過光學部件122(反射式準直鏡)與光學部件123(光柵)。在檢測光線L1入射於光學部件123之後,光學部件123會將檢測光線L1色散(dispersing),以使檢測光線L1分成多條具不同波長的檢測光線L2。接著,這些檢測光線L2皆入射於光學部件124(聚焦鏡),並且被光學部件124集中反射至光學部件125(光感測器),以使光學部件125接收並量測這些檢測光線L2,進而監測光學參數。此外,殼體110還可包括鋸齒狀的雜散光消除結構113,以消除來自光學部件124的雜散光。
在光學部件125量測這些檢測光線L2期間,可沿著轉軸R1而相對殼體110轉動光學部件124,以改變檢測光線L2對光學部件125的照射,進而調整光學參數。所以,可以利用光學部件124沿著轉軸R1而相對殼體110的轉動,將光學參數調整在合格範圍內,以完成光學部件124的校正。當光學參數處於合格範圍內時,固定光學部件124於殼體110內,其中固定光學部件124的手段有多種,例如螺鎖及/或膠黏,而本實施例是採用固定件與固化膠130來固定。
光學量測裝置100還可包括固定件,其用以固定軸桿150,以使軸桿150不相對壁板111轉動。固定件的實施態樣有多種,例如螺絲或插銷(bolt)。在本實施例中,光學量測裝置100所包括的固定件為固定栓(fixing bolt)160。當光學參數處於合格範圍內時,可先利用固定栓160來固定光學部件124。詳細而言,插設固定栓160於殼體110內,並使固定栓160壓迫軸桿150,其中固定栓160可碰觸軸桿150的肩部152(如圖2A所示)。如此,軸桿150會被固定栓160固定,同時也固定光學部件124。殼體110塊體112具有供固定栓160插設的固定孔112p。固定孔112p與貫孔112h連通,且固定孔112p的延伸方向不平行於貫孔112h的延伸方向,以使固定栓160能壓迫到軸桿150,從而固定光學部件124。此外,固定栓160可為螺絲,而固定孔112p可為螺孔,所以插設固定栓160的方法可將固定栓160螺鎖於殼體110內。
請參閱圖2D,在固定栓160壓迫軸桿150之後,正常情況下,光學參數仍處於合格範圍內,即光學部件124的校正基本上已完成。此時,在開口111h中形成固化膠130,其連接光學部件124與殼體110。形成固化膠130的方法可包括以下步驟。首先,從開口111h塗佈膠材,其中膠材黏著光學部件124與壁板111。之後,固化此膠材以形成固化膠130,其中膠材可為熱固型樹脂或光固化樹脂(例如紫外光固化樹脂,UV-curing resin),所以固化膠材的方法可以是加熱或照光。在形成固化膠130之後,可將擋塊140插設並固定於開口111h中,以遮蓋光學部件124。
請參閱圖2E,其繪示光學量測裝置100在其擋塊140處的側視示意圖。在本實施例中,固化膠130可在背面242b上呈現對稱分布(symmetric distribution),例如鏡像對稱分布(reflective symmetric distribution)。以圖2E為例,背面242b具有中心線242c,其與轉軸R1平行,而固化膠130相對中心線242c而在背面242b呈鏡像對稱分布。具體而言,固定膠130可由多條均勻膠條(uniform adhesive bar)132所構成,且各條均勻膠條132的粗細均勻而具有實質上固定的外徑(constant outer diameter),其中這些均勻膠條132的質量更可實質上彼此相同。從圖2E來看,各條均勻膠條132基本上是以中心線242c作為對稱軸(symmetric axis)而鏡像對稱。此外,各條均勻膠條132的延伸方向不平行轉軸R1。
由於固化膠130相對中心線242c而在背面242b呈鏡像對稱分布,且中心線242c與轉軸R1平行,因此當固化膠130因溫度而發生體積變化時,這些均勻膠條132的體積變化量會彼此相近,甚至幾乎相等,以至於膨脹後的固化膠130不易產生讓光學部件124轉動的力矩(torque)。因此,當光學量測裝置100處於溫度變化較大的環境時,呈鏡像對稱分布的固化膠130能幫助維持光學部件124的位置與方位不變,從而降低雜散光的產生。
值得一提的是,以上光學部件124的校正工作可交由下游廠商來執行。詳細而言,在光學組件120剛配置於殼體110內之後,不具有固化膠130的光學量測裝置100可以出貨販售給下游廠商,而下游廠商會執行上述光學部件124的校正,並形成固化膠130與擋塊140,以完成安裝光學部件124的工作。因此,雖然本實施例的光學量測裝置100包括固化膠130與擋塊140,但在其他實施例中,光學量測裝置100也可以不包括固化膠130與擋塊140。
須說明的是,以上實施例所描述的安裝方法是以安裝光學部件124(聚焦鏡)為主,但是其他實施例的安裝方法也可以是安裝不同種類的光學部件,例如狹縫、光柵、反射式準直鏡以及分光鏡。因此,在此強調,本發明並不限制安裝方法只能用在安裝聚焦鏡(光學部件124)。也就是說,光學部件121、122、123以及125也可以選用圖2A至圖2D所揭露的安裝方法來安裝。
綜上所述,利用殼體所具有的開口來暴露部分光學部件,以使固化膠能從開口直接形成,並連接殼體與光學部件,以幫助固定光學部件於殼體上,讓光學部件與壁板之間難以產生相對運動。如此,即使光學量測裝置遭到碰撞,固化膠也能將光學部件保持在適當的位置與方位上,以幫助維持光學量測裝置的準確度與精密度。此外,供固化膠填入的開口是形成於殼體的壁板111,所以即使光學部件與壁板之間的存有相當狹窄的縫隙(gap),仍不會影響固化膠的形成。也就是說,以上實施例所揭露的開口設計能容許光學部件緊鄰(adjacent)於壁板,以在光學部件與壁板之間形成體積狹小的縫隙,從而有助於縮小光學量測裝置的整體體積。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧光學量測裝置110‧‧‧殼體111‧‧‧壁板111a‧‧‧外表面111b‧‧‧內表面111c‧‧‧凸塊111e‧‧‧端面111h‧‧‧開口112‧‧‧塊體112h‧‧‧貫孔112p‧‧‧固定孔113‧‧‧雜散光消除結構114h‧‧‧樞轉孔120‧‧‧光學組件121~125‧‧‧光學部件121a‧‧‧擋光片130‧‧‧固化膠132‧‧‧膠條140‧‧‧擋塊142‧‧‧凸緣150‧‧‧軸桿151‧‧‧螺紋152‧‧‧肩部160‧‧‧固定栓241‧‧‧光學元件242‧‧‧承載件242a‧‧‧承載面242b‧‧‧背面242c‧‧‧中心線A1‧‧‧角度C1‧‧‧連接部C2‧‧‧樞轉部C11‧‧‧螺孔L1、L2‧‧‧檢測光線P1‧‧‧板體R1‧‧‧轉軸
圖1A是本發明一實施例的光學量測裝置的立體示意圖。 圖1B是圖1A中的光學量測裝置的俯視示意圖。 圖1C是圖1A中沿線1C-1C剖面所繪示的剖面示意圖。 圖1D是圖1A中沿線1D-1D剖面所繪示的剖面示意圖。 圖2A至圖2E是圖1D中的光學部件的安裝方法的示意圖。
100‧‧‧光學量測裝置
110‧‧‧殼體
111‧‧‧壁板
111h‧‧‧開口
124‧‧‧光學部件
130‧‧‧固化膠
242b‧‧‧背面

Claims (26)

  1. 一種光學量測裝置,包括: 一殼體,包括一壁板,該壁板具有至少一開口;以及 一光學組件,配置於該殼體內,並包括一光學部件,該光學部件具有一背面,該壁板遮蓋該背面,而該至少一開口用以暴露部分該背面,其中該光學部件可轉動地配置於該殼體內,並且被限制沿著一轉軸而相對該壁板轉動。
  2. 如請求項第1項所述的光學量測裝置,還包括一連接該壁板與該背面的固化膠,其中該固化膠從該至少一開口延伸至該背面,並固定該光學部件於該壁板上。
  3. 如請求項第2項所述的光學量測裝置,其中該背面具有一與該轉軸平行的中心線,該固化膠相對該中心線而在該背面呈鏡像對稱分布。
  4. 如請求項第3項所述的光學量測裝置,其中該固定膠由多條均勻膠條所構成,各該均勻膠條的延伸方向不平行該轉軸。
  5. 如請求項第1項所述的光學量測裝置,還包括: 一軸桿,連接該光學部件,並可轉動地插設於該殼體內,以使該軸桿與該光學部件皆沿著該轉軸而相對該壁板轉動,其中該轉軸為該軸桿的一中心軸。
  6. 如請求項第5項所述的光學量測裝置,其中該光學部件包括: 一承載件,具有該背面,並連接該軸桿;以及 一光學元件,固定於該承載件上,其中該承載件位於該光學元件與該壁板之間。
  7. 如請求項第6項所述的光學量測裝置,其中該承載件包括: 一板體,具有該背面以及一相對該背面的承載面,其中該光學元件固定於該承載面上;以及 一連接部,連接該板體與該軸桿,並凸出於該承載面。
  8. 如請求項第6項所述的光學量測裝置,其中該光學元件為聚焦鏡、反射式準直鏡或光柵。
  9. 如請求項第5項所述的光學量測裝置,還包括一固定件,其用以固定該軸桿,以使該軸桿不相對該壁板轉動。
  10. 如請求項第9項所述的光學量測裝置,其中該固定件為一固定栓,而該殼體具有一貫孔以及一與該貫孔連通的固定孔,該固定孔的延伸方向不平行於該貫孔的延伸方向,其中該軸桿可轉動地插設於該貫孔,而該固定栓插設於該固定孔,並用於壓迫該軸桿。
  11. 如請求項第1項所述的光學量測裝置,還包括至少一擋塊,該至少一擋塊固定於該至少一開口中,並遮蓋該背面,以使外界光線無法從該至少一開口進入該殼體內部。
  12. 如請求項第11項所述的光學量測裝置,其中該壁板還具有一外表面、一相對該外表面的內表面以及至少一凸塊,該內表面面對該背面,而該至少一凸塊形成於該至少一開口中,並具有一從該至少一開口的側壁延伸的端面,該端面位於該內表面與該外表面之間,而該至少一擋塊具有一抵靠該端面的凸緣。
  13. 如請求項第11項所述的光學量測裝置,其中該擋塊不接觸該光學組件。
  14. 如請求項第1項所述的光學量測裝置,其中該至少一開口的形狀為條狀。
  15. 如請求項第1項所述的光學量測裝置,其中該光學部件沿著該轉軸而相對該壁板可轉動的角度小於90度。
  16. 一種光學部件的安裝方法,包括: 將一光學部件可轉動地配置於一殼體內,並限制該光學部件沿著一轉軸而相對該殼體轉動,其中該光學部件具有一背面,而該殼體包括一遮蓋該背面的壁板,該壁板具有至少一暴露部分該背面的開口; 利用該光學部件沿著該轉軸而相對該殼體的轉動來校正該光學部件;以及 在校正該光學部件之後,在該至少一開口中形成一連接該光學部件與該壁板的固化膠。
  17. 如請求項第16項所述的光學部件的安裝方法,其中形成該固化膠的方法包括: 從該至少一開口塗佈一膠材,其中該膠材黏著該光學部件與該壁板;以及 固化該膠材。
  18. 如請求項第16項所述的光學部件的安裝方法,其中將該光學部件可轉動地配置於該殼體內的方法包括: 將一軸桿可轉動地插設於該殼體內;以及 連接該軸桿與該光學部件,其中該轉軸為該軸桿的一中心軸,而沿著該轉軸而相對該殼體自轉該軸桿時,該光學部件沿著該轉軸而相對該殼體轉動。
  19. 如請求項第18項所述的光學部件的安裝方法,其中該軸桿具有螺紋,而連接該軸桿與該光學部件的方法包括將該軸桿螺鎖於該光學部件中。
  20. 如請求項第16項所述的光學部件的安裝方法,還包括: 將至少一擋塊固定於該至少一開口中,以遮蓋該光學部件,以使外界光線無法從該至少一開口進入該殼體內部。
  21. 如請求項第16項所述的光學部件的安裝方法,其中該光學部件包括一承載件與一光學元件,在將該光學部件可轉動地配置於該殼體內之前,固定該光學元件於該承載件上。
  22. 如請求項第16項所述的光學部件的安裝方法,其中校正該光學部件的方法包括: 根據經過該光學部件的一檢測光線,監測至少一光學參數; 沿著該轉軸而相對該殼體轉動該光學部件,以將該至少一光學參數調整在一合格範圍內;以及 當該至少一光學參數處於該合格範圍內時,固定該光學部件於該殼體內。
  23. 如請求項第22項所述的光學部件的安裝方法,其中固定該光學部件於該殼體內的方法包括: 在該至少一開口中形成一連接該光學部件與該殼體的固化膠。
  24. 如請求項第23項所述的光學部件的安裝方法,其中固定該光學部件於該殼體內的方法還包括: 在形成該固化膠以前,令一固定件固定該軸桿。
  25. 如請求項第24項所述的光學部件的安裝方法,其中該固定件固定該軸桿的方法包括: 插設一固定栓於該殼體內,並使該固定栓壓迫該軸桿,其中該固定栓的延伸方向不平行於該軸桿的延伸方向。
  26. 如請求項第25項所述的光學部件的安裝方法,其中插設該固定栓的方法包括將該固定栓螺鎖於該殼體內。
TW105141356A 2016-12-14 2016-12-14 光學量測裝置及其光學部件的安裝方法 TWI700527B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW105141356A TWI700527B (zh) 2016-12-14 2016-12-14 光學量測裝置及其光學部件的安裝方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW105141356A TWI700527B (zh) 2016-12-14 2016-12-14 光學量測裝置及其光學部件的安裝方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201821850A TW201821850A (zh) 2018-06-16
TWI700527B true TWI700527B (zh) 2020-08-01

Family

ID=63258265

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105141356A TWI700527B (zh) 2016-12-14 2016-12-14 光學量測裝置及其光學部件的安裝方法

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI700527B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113218867A (zh) * 2021-05-17 2021-08-06 燕山大学 赤潮藻类识别装置的固定基架

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0022825B1 (en) * 1979-01-04 1984-03-21 United Technologies Corporation Method of treating a workpiece by directing a beam of radiation on to it
US7556196B2 (en) * 2005-07-22 2009-07-07 Teng Kuang Lee Optical reading head of scanning apparatus
CN101650515A (zh) * 2008-08-15 2010-02-17 佛山普立华科技有限公司 反射镜调整装置
CN101806992A (zh) * 2009-02-16 2010-08-18 精工爱普生株式会社 光学装置和投影机
JP2013003303A (ja) * 2011-06-15 2013-01-07 Shimadzu Corp 光度計
CN204143041U (zh) * 2014-09-29 2015-02-04 深圳市绎立锐光科技开发有限公司 一种反射镜调节装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0022825B1 (en) * 1979-01-04 1984-03-21 United Technologies Corporation Method of treating a workpiece by directing a beam of radiation on to it
US7556196B2 (en) * 2005-07-22 2009-07-07 Teng Kuang Lee Optical reading head of scanning apparatus
CN101650515A (zh) * 2008-08-15 2010-02-17 佛山普立华科技有限公司 反射镜调整装置
CN101806992A (zh) * 2009-02-16 2010-08-18 精工爱普生株式会社 光学装置和投影机
JP5347550B2 (ja) * 2009-02-16 2013-11-20 セイコーエプソン株式会社 光学装置及びプロジェクター
JP2013003303A (ja) * 2011-06-15 2013-01-07 Shimadzu Corp 光度計
CN204143041U (zh) * 2014-09-29 2015-02-04 深圳市绎立锐光科技开发有限公司 一种反射镜调节装置

Also Published As

Publication number Publication date
TW201821850A (zh) 2018-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6008163B2 (ja) サーボモータ
JP2004354176A (ja) 光検出器及びそれを用いた分光器
JP6518234B2 (ja) ビーム形成要素を有する光角検出器
JP5873775B2 (ja) 回折格子ホルダ、回折格子評価装置、および測定装置
EP3351984B1 (en) Mirror holding mechanism
TWI700527B (zh) 光學量測裝置及其光學部件的安裝方法
KR101558912B1 (ko) 카메라 조절 방법
CN107589622B (zh) 零级衍射可调的激光投影装置
CN108225558B (zh) 光学量测装置及其光学部件的安装方法
JP2018044865A (ja) 光学機器のキャリブレーション法
JP2007263587A (ja) 吸光度測定用プローブ及び吸光度測定装置
KR840002359B1 (ko) 적외선 필름 두께 측정기
JP6325619B2 (ja) 光波距離計
CN111007482B (zh) 激光雷达装置
CN113514153A (zh) 一种有效提高光谱仪探测精度的方法及装置
JP7240321B2 (ja) 光学系の組立て方法および光学アセンブリでのリターダンスによる歪みを最小にする方法
KR101236350B1 (ko) 푸리에 변환 적외선 분광 간섭계용 광선분할기 조립체
JP6315722B2 (ja) 光波距離計
JP3886620B2 (ja) 投射装置
TWM567357U (zh) 拉曼光譜儀探頭
EP3351979B1 (en) Reflecting mirror and mirror holding mechanism
JPS6378021A (ja) 光学式ロ−タリ−エンコ−ダ
JP6198399B2 (ja) 光波距離計
JPS63220107A (ja) セクタ−ミラ−
JP3315805B2 (ja) 像面測定装置