TWI679434B - 漏電檢測裝置及漏電斷路器 - Google Patents
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Abstract
漏電檢測裝置具備有零相比流器(10)、箝位電路(20)、電壓轉換電路(30)、低通濾波器(40)、及漏電判定電路(50)。箝位電路(20)將零相比流器(10)的二次側端子(13,14)間的電壓(Vz)限制在箝位電壓以下。電壓轉換電路(30)與箝位電路(20)並聯連接,將零相比流器(10)的輸出電流(Iz)轉換為電壓(Vch)。漏電判定電路(50)根據從低通濾波器(40)輸出的電壓(Vin),判定電路(2)有無漏電。電壓轉換電路(30)具有將零相比流器(10)的輸出電流(Iz)變換為電壓(Vch)之電壓轉換元件(31)、與調整電壓轉換電路(30)的阻抗之阻抗調整元件(32)串聯之串聯電路。
Description
本發明係關於判定出電路發生了漏電之漏電檢測裝置及漏電斷路器。
以往,漏電斷路器係具備有:檢測出電路的零相電流之零相比流器、將零相比流器的二次側電流轉換為電壓之電壓轉換電路、將轉換得到的電壓的高頻成分去除之低通濾波器、以及根據低通濾波器輸出的電壓而判定電路是否漏電之漏電判定電路。
關於此種漏電斷路器,專利文獻1中揭示了:設置將零相比流器的二次側端子間的電壓限制在箝位電壓以下之箝位電路,以使得該電壓不會在由於雷電突波等而發生單次性的短期間的過電流之情況超過配置在零相比流器的二次側之電子零件的耐壓之技術。
(專利文獻1)日本特開2006-148990號公報
然而,上述的先前技術因為是將箝位電路與低通濾波器並聯連接,所以經由低通濾波器而輸入到漏電判定電路之電壓的最大值係由箝位電路的箝位電壓所規定。箝位電壓因為是由構成箝位電路之二極體的順向電壓加以規定的,所以無法將箝位電壓減小到為比二極體的順向電壓小之值。因此,就算是使用順向電壓低的肖特基勢壘二極體之情況,也很難使輸入到漏電判定電路之電壓的最大值為例如100〔mV〕。如上所述,上述的先前技術有:無法與箝位電壓相獨立地調整輸入到漏電判定電路之電壓的最大值,而難以使輸入到漏電判定電路之電壓的最大值減小之課題。
本發明係有鑑於上述課題而完成者,其目的在得到可與箝位電壓相獨立地調整輸入到漏電判定電路之電壓的最大值之漏電檢測裝置。
為了解決上述的課題,達成本發明的目的,本發明之漏電檢測裝置係具備有零相比流器、箝位電路、電壓轉換電路、低通濾波器、及漏電判定電路。零相比流器係檢測出流到電路之零相電流。箝位電路係將零相比流器的二次側端子間的電壓限制在箝位電壓以下。電壓轉換電路係與箝位電路並聯連接,將零相比流器的輸出電流轉換為電壓。低通濾波器係將電壓轉換電路所轉換得到的電
壓的高頻成分去除,輸出高頻成分經去除後的電壓。漏電判定電路係根據低通濾波器輸出的電壓,判定電路是否漏電。電壓轉換電路係具有將零相比流器的輸出電流轉換為電壓且將轉換得到的電壓輸出至低通濾波器之電壓轉換元件、與調整電壓轉換電路的阻抗之阻抗調整元件串聯之串聯電路。
根據本發明,會產生可與箝位電壓相獨立地調整輸入到漏電判定電路之電壓的最大值之效果。
1,1A‧‧‧漏電斷路器
2‧‧‧電路
3‧‧‧開閉部
31,32‧‧‧開閉接點
4,4A‧‧‧漏電檢測部
5‧‧‧跳脫裝置
61,62‧‧‧電源側連接端子
71,72‧‧‧負載側連接端子
81,82‧‧‧導體
10‧‧‧零相比流器
11‧‧‧環狀鐵心
12‧‧‧二次繞組
13,14‧‧‧二次側端子
20‧‧‧箝位電路
21,22‧‧‧二極體
30,30A‧‧‧電壓轉換電路
31‧‧‧電壓轉換元件
32,32A‧‧‧阻抗調整元件
40‧‧‧低通濾波器
50‧‧‧漏電判定電路
Iz‧‧‧輸出電流
Vch,Vin,Vz‧‧‧電壓
Vleak‧‧‧漏電判定閾值
T2‧‧‧期間
T1‧‧‧週期
Sleak‧‧‧漏電檢測訊號
Vclamp‧‧‧箝位電壓
第1圖係顯示本發明的實施形態1之漏電斷路器的構成例之圖。
第2圖係顯示實施形態1中的箝位電壓、漏電判定閾值、二次側端子間的電壓、及在電壓轉換電路轉換得到的電壓之關係的一例之圖。
第3圖係用來說明實施形態1中的漏電檢測部的動作之圖。
第4圖係顯示本發明的實施形態2之漏電斷路器的構成例之圖。
以下,根據圖式來詳細說明本發明的實施形態之漏電檢測裝置及漏電斷路器。不過,本發明並不受此實施形態所限定。
第1圖係顯示本發明的實施形態1之漏電斷路器的構成例之圖。如第1圖所示,實施形態1之漏電斷路器1係具備有:進行電路2的開閉之開閉部3;檢測出流到電路2的漏電電流之漏電檢測部4;以及在漏電檢測部4檢測到漏電之情況,控制開閉部3之跳脫裝置5。漏電檢測部4係漏電檢測裝置的一例。
開閉部3係具有進行電路2的開閉之開閉接點31,32。各開閉接點31,32都具有未圖示的固定接點及未圖示的可動接點。在開閉接點31,固定接點與可動接點相接觸,就使電源側連接端子61與負載側連接端子71透過導體81而電性連接。此外,在開閉接點32固定接點與可動接點相接觸,就使電源側連接端子62與負載側連接端子72透過導體82而電性連接。藉此,電流就會流到電路2而此時漏電斷路器1為導通(on)狀態。
另外,在各開閉接點31,32,固定接點與可動接點相分開而進行開閉接點31,32的關斷,就切斷電源側連接端子61,62與負載側連接端子71,72的電性連接。藉此,就截斷電路2的電流而此時漏電斷路器1為關斷(off)狀態。在第1圖所示的例子中,電路2係使R相、S相、及T相這三相之中未圖示的一相接地,但亦可為R相、S相、及T相都未接地之構成。在此情況,開閉部3係設有三個開閉接點。
漏電檢測部4係具備有零相比流器10、箝位電路20、電壓轉換電路30、低通濾波器40、及漏電判定電路50。
零相比流器10係檢測流到電路2的零相電流。該零相比流器10係具有:由導體81,82穿過或捲繞於其上之環狀鐵心11、以及捲繞於環狀鐵心11之二次繞組12。在二次繞組12的兩端部,設有二次側端子13,14,從該二次側端子13,14輸出表示零相比流器10所做的零相電流的檢測結果之電流Iz。以下,有時也將電流Iz記為輸出電流Iz。
箝位電路20係連接於零相比流器10的二次側端子13,14間,將二次側端子13,14間的電壓Vz設為箝位電壓Vclamp以下。在第1圖所示的例子中,箝位電路20係具有兩個反向並聯連接之二極體21,22。藉此,將二次側端子13,14間的電壓Vz抑制在二極體21,22的順向電壓以下。如此,箝位電路20係以二極體21,22的順向電壓作為箝位電壓Vclamp而動作。
電壓轉換電路30係具有將零相比流器10的輸出電流Iz轉換為電壓Vch之電壓轉換元件31、以及調整電壓轉換電路30的阻抗Z之阻抗調整元件32。電壓轉換元件31與阻抗調整元件32係串聯連接。電壓轉換元件31與阻抗調整元件32之串聯電路係與箝位電路20並聯連接。關於此電壓轉換電路30將在後面說明。
低通濾波器40係將電壓轉換電路30輸出的
電壓Vch的高頻成分去除。電壓Vch的高頻成分係為比漏電檢測部4所要檢測的漏電電流的頻率高之頻率成分。低通濾波器40的截止頻率,係設定為比漏電電流的頻率高之頻率以避免將漏電電流的頻率成分也去除掉。
漏電判定電路50係根據低通濾波器40輸出的電壓Vin,而判定電路2是否有漏電。具體而言,漏電判定電路50係按預先設定的週期T1進行低通濾波器40輸出的電壓Vin的瞬間值與漏電判定閾值Vleak之比較。漏電判定電路50係若電壓Vin的瞬間值在預先設定的期間T2持續超過漏電判定閾值Vleak,就判定為電路2發生了漏電,將有效準位(active level)的漏電檢測訊號Sleak輸出至跳脫裝置5。此外,周期T1係為例如1〔ms〕,期間T2係為例如3〔ms〕。
漏電判定電路50判定為電路2發生了漏電時,就輸出有效準位的漏電檢測訊號Sleak至跳脫裝置5。有效準位的漏電檢測訊號Sleak係為例如High準位的訊號。
跳脫裝置5在接收到從漏電檢測部4輸出的有效準位的漏電檢測訊號Sleak之情況,使在開閉部3為接觸狀態之固定接點與可動接點分開,使電路2關斷而使漏電斷路器1成為關斷狀態。開閉部3係具有使可動接點移動之未圖示的開閉機構,跳脫裝置5係可藉由作用於該開閉機構,而使在接觸狀態之固定接點與可動接點分開。
另外,若電壓Vin的瞬間值在漏電判定閾值
Vleak以上之狀態未持續達預先設定的期間T2以上,則漏電判定電路50判定為電路2未發生漏電,而不輸出有效準位的漏電檢測訊號Sleak至跳脫裝置5。在此情況,開閉部3的固定接點與可動接點維持接觸狀態不變,漏電斷路器1維持在導通狀態。
接著,針對電壓轉換電路30進行更詳細的說明。以下,為了便於說明會有將“由於雷電突波等而發生的單次性的短期間的過電流”簡稱為“雷電突波電流”的情形。電壓轉換電路30係如上述,除了具有將零相比流器10的輸出電流Iz轉換為電壓Vch之電壓轉換元件31之外,還具有調整電壓轉換電路30的阻抗Z之阻抗調整元件32。
電壓轉換電路30的阻抗Z越小,由於雷電突波電流而在二次側端子13,14間產生的電壓越小,會受到箝位電路20的箝制之比率就越小。受到箝位電路20的箝制之比率變小時,由於雷電突波電流而導致漏電斷路器1誤作動的可能性就會變高。
因此,漏電斷路器1利用阻抗調整元件32將電壓轉換電路30的阻抗Z調整成會使得由於雷電突波電流而在二次側端子13,14間產生的電壓受到箝位電路20的箝制。
在此,針對電壓轉換電路30的阻抗Z及箝位電路20的箝位電壓Vclamp進行具體的說明。電壓轉換電路30的電壓轉換元件31係為電阻值Rf之電阻,阻抗調
整元件32係為電阻值Radj之電阻。
在漏電檢測部4中沒有箝位電路20及阻抗調整元件32之情況,二次側端子13,14間的電壓Vz可表示成如下的式(1)。
Vz=Iz×Rf...(1)
另外,在漏電檢測部4中沒有箝位電路20但有阻抗調整元件32之情況,二次側端子13,14間的電壓Vz可表示成如下的式(2)。
Vz=Iz×(Rf+Radj)...(2)
零相比流器10的二次繞組12的阻抗與電壓轉換電路30的阻抗Z相比較,為可忽視之程度的小。因此,零相比流器10的輸出電流Iz的大小,係即使電壓轉換電路30的阻抗Z的大小改變也不會有實質的變化。
因此,在電壓轉換電路30設有阻抗調整元件32,與沒有阻抗調整元件32之情況相比較,可使(Rf+Radj)/Rf倍的電壓在二次側端子13,14間產生。因而,可使由於雷電突波電流的成分而在零相比流器10的二次側產生的成分之中會受到箝位電路20的箝制之成分的比率增大。
電壓轉換電路30的阻抗Z可表示成如下的式(3),從電壓轉換電路30輸出至低通濾波器40之電壓Vch可表示成如下的式(4)。
Z=Rf+Radj...(3)
Vch=Rf/(Rf+Radj)×Vz...(4)
因此,適切地調整阻抗調整元件32的電阻值Radj、及電壓轉換元件31的電阻值Rf,可將電壓轉換電路30輸出的電壓Vch調整到比箝位電路20的箝位電壓Vclamp小之任意的值。例如,可藉由使輸出至低通濾波器40之電壓Vch在100〔mV〕以下而使輸入到漏電判定電路50之電壓Vin在100〔mV〕以下。如此,漏電檢測部4就可與箝位電壓Vclamp相獨立地調整輸入到漏電判定電路50之電壓Vin的最大值。
不過,電壓轉換電路30的阻抗Z若太大,漏電檢測部4所要檢測的最小值的漏電電流所會在二次側端子13,14間產生的電壓Vz就會變得比箝位電壓Vclamp大,漏電判定電路50會因而無法判定是否為漏電。因此,電壓轉換電路30的阻抗Z的上限值要滿足的條件為:必須使得漏電檢測部4所要檢測的最小值的漏電電流所會在二次側端子13,14間產生的電壓Vz為箝位電壓Vclamp以下的電壓。
在此,將由於漏電檢測部4所要檢測的最小值的漏電電流而產生的二次側端子13,14的輸出電流Iz的峰值記為Iz_trip,則箝位電壓Vclamp要滿足如下的式(5)。所謂的最小值的漏電電流,係指漏電檢測部4所要檢測的漏電的漏電電流的下限值,流到電路2之漏電電流在最小值的漏電電流以上時,就會藉由漏電檢測部4檢測出漏電。
Vclamp≧Iz_trip×(Rf+Radj)...(5)
另外,漏電判定電路50的漏電判定閾值Vleak要滿足如下的式(6)。
Vleak=Rf×Iz_trip...(6)
因此,阻抗調整元件32的電阻值Radj可表示成如下的式(7)。
Radj≦(Vclamp-Vleak)/Iz_trip...(7)
漏電判定電路50係根據電壓Vin的瞬間值是否在漏電判定閾值Vleak以上而判定是否漏電,所以並不管電壓Vin的瞬間值到底超出漏電判定閾值Vleak到什麼程度。因此,電阻值Radj的最大值Radjmax可表示成如下的式(8)。
Radjmax=(Vclamp-Vleak)/Iz_trip...(8)
在此,假設Vclamp=1〔V〕,Vleak=100〔mV〕,Iz_trip=200〔μA〕。在此情況,從以上的式(8)可算出Radjmax=4.5〔kΩ〕。另外,從以上的式(6)可算出Rf=0.5〔kΩ〕。
第2圖係顯示實施形態1中之箝位電壓、漏電判定閾值、二次側端子間的電壓、及在電壓轉換電路轉換得到的電壓之關係的一例之圖,顯示的是漏電判定電路50判定為漏電之最小值的漏電電流流到電路2的情況之例。
在第2圖所示的例子中,二次側端子13,14間的電壓Vz的峰值係與箝位電壓Vclamp相同。電壓轉換電路30輸出的電壓Vch的峰值係與漏電判定閾值Vleak
相同。另外,低通濾波器40的截止頻率係設定得比漏電電流的頻率高,所以從低通濾波器40輸出的電壓Vin的峰值係與電壓轉換電路30輸出的電壓Vch的峰值相同。
因此,在二次側端子13,14間的電壓Vz的峰值比箝位電壓Vclamp高之期間,從低通濾波器40輸出的電壓Vin的峰值會與漏電判定閾值Vleak相同。因而,二次側端子13,14間的電壓Vz的峰值比箝位電壓Vclamp高的期間若持續達期間T2以上,漏電判定電路50就會判定為電路2發生了漏電。
在有雷電突波施加於電路2之情況也一樣,二次側端子13,14間的電壓Vz的峰值會與箝位電壓Vclamp相同,電壓轉換電路30輸出的電壓Vch的峰值會與漏電判定閾值Vleak相同。電壓轉換電路30輸出的電壓Vch輸入至低通濾波器40。
由於低通濾波器40的截止頻率比雷電突波電流的頻率低,所以低通濾波器40會使因雷電突波電流而產生的電壓成分減低。因此,從低通濾波器40輸出的電壓Vin的峰值會比電壓轉換電路30輸出的電壓Vch的峰值低,所以漏電判定電路50不會判定成電路2發生了漏電。因而,漏電檢測部4可使由於雷電突波電流而產生的電壓成分與電壓Vin之比,亦即S/N比(Signal-to-Noise Ratio;信號雜訊比)提高。
第3圖係用來說明實施形態1之漏電檢測部的動作之圖,顯示的是雷電突波施加到已有漏電判定電路
50不會判定為漏電之大小的漏電電流流通之電路2時的例子。
如第3圖所示,在雷電突波電流施加到已有漏電電流流通的電路2之情況,會有雷電突波電流的成分疊加到漏電電流而成的電流流到電路2。此時,從零相比流器10輸出的是第3圖所示的波形之輸出電流Iz。
由於零相比流器10的輸出電流Iz而在電壓轉換電路30的兩端產生電壓,且超過箝位電路20的箝位電壓Vclamp之電壓受到箝位電路20的箝制。因此,二次側端子13,14間的電壓Vz會為第3圖所示之波形。
電壓轉換電路30將由於輸出電流Iz而產生之電壓轉換元件31的電壓,亦即電壓Vch輸出至低通濾波器40。低通濾波器40將電壓轉換電路30輸出的電壓Vch的高頻成分去除掉,所以第3圖所示波形之電壓Vin從低通濾波器40輸入至漏電判定電路50。
第3圖所示的例子中,從低通濾波器40輸出的電壓Vin係小於漏電判定閾值Vleak,所以漏電判定電路50並不判定為有漏電。如此,在有雷電突波電流施加於電路2之情況,漏電判定電路50並不判定為有漏電,並不會因電路2的雷電突波電流而誤動作。
如以上所述,實施形態1之漏電斷路器1的漏電檢測部4具備有零相比流器10、箝位電路20、電壓轉換電路30、低通濾波器40、及漏電判定電路50。零相比流器10檢測出流到電路2之零相電流。箝位電路20將零
相比流器10的二次側端子13,14間的電壓Vz限制在箝位電壓Vclamp以下。電壓轉換電路30與箝位電路20並聯連接,將零相比流器10的輸出電流Iz轉換為電壓Vch。低通濾波器40將電壓轉換電路30所轉換得到的電壓Vch的高頻成分去除掉,輸出從電壓Vch去除掉高頻成分後的電壓Vin。漏電判定電路50根據從低通濾波器40輸出的電壓Vin來判定電路2是否有漏電。電壓轉換電路30具有將零相比流器10的輸出電流Iz轉換為電壓Vch且將轉換得到的電壓Vch輸出至低通濾波器40之電壓轉換元件31、與調整電壓轉換電路30的阻抗之阻抗調整元件32串聯之串聯電路。
因此,可與箝位電路20的箝位電壓Vclamp獨立而調整輸入至漏電判定電路50之電壓Vin。因而,即使在例如漏電判定電路50的漏電判定閾值Vleak比箝位電壓Vclamp低之情況,也可避免漏電判定電路50因為雷電突波電流等之單次性的過電流而誤動作。在例如箝位電路20的二極體21,22為一般的二極體之情況,箝位電壓Vclamp係在0.7~1〔V〕。另外,二極體21,22為肖特基勢壘二極體(Schottky barrier diode)的話,則箝位電壓Vclamp係為例如0.3〔V〕。因此,很難使箝位電壓Vclamp為100〔mV〕,在沒有阻抗調整元件32之情況,由於雷電突波電流而輸入至漏電判定電路50之電壓Vin會超過100〔mV〕。此時,漏電判定電路50的漏電判定閾值Vleak為100〔mV〕的話,漏電判定電路50就會誤將雷電突波電流
判定為漏電電流。另一方面,實施形態1之漏電斷路器1的漏電檢測部4因為具有阻抗調整元件32,所以即使未調整箝位電壓Vclamp的值,也可容易地配合漏電判定電路50的漏電判定閾值Vleak而進行輸入至漏電判定電路50之電壓Vin的最大值的調整。因此,漏電檢測部4即使是在漏電判定閾值Vleak為例如100〔mV〕的情況,也可防止誤檢測。
另外,阻抗調整元件32係包含電阻。因此,可與頻率無關地調整從電壓轉換電路30輸出的電壓Vch。因此,可不用考慮頻率而調整電壓轉換電路30。
又,漏電判定電路50係在從低通濾波器40輸出的電壓Vin的瞬間值在漏電判定閾值Vleak以上的狀態持續達預先設定的期間T2以上之情況,判定為電路2有漏電。因此,與例如在低通濾波器40輸出的電壓Vin超過正的閾值且超過負的閾值之情況判定電路2有漏電之方式相比較,可高速地檢測出電路2發生了漏電。
實施形態1係採用電阻來構成阻抗調整元件,實施形態2係在採用電感來構成阻抗調整元件之點與實施形態1不同。以下,將具有與實施形態1一樣的機能之構成元件都標以相同的符號而將其說明予以省略,只以與實施形態1之漏電斷路器1不同之點為中心進行說明。
第4圖係顯示本發明的實施形態2之漏電斷
路器的構成例之圖。如第4圖所示,實施形態2之漏電斷路器1A係具備有開閉部3、漏電檢測部4A、及跳脫裝置5。漏電檢測部4A係具備有零相比流器10、箝位電路20、電壓轉換電路30A、低通濾波器40、及漏電判定電路50。
電壓轉換電路30A係具有電壓轉換元件31及阻抗調整元件32A。電壓轉換元件31係為電阻值Rf之電阻,阻抗調整元件32A係為電感值L之電感。
電壓轉換電路30A的阻抗Z可表示成如下的式(10),電壓轉換電路30A輸出的電壓Vch可表示成如下的式(11)。
因此,藉由適切地調整阻抗調整元件32A的電感值L、及電壓轉換元件31的電阻值Rf,可將電壓轉換電路30A輸出的電壓Vch調整為比箝位電路20的箝位電壓Vclamp小之任意的值。例如,可將之設定為能夠讓輸入至漏電判定電路50之電壓Vin在100mV以下之小值。
另外,將由於漏電檢測部4A所要檢測的最小值的漏電電流而產生的二次側端子13,14的輸出電流Iz的峰值記為Iz_trip,則箝位電壓Vclamp要滿足如下的式(12)。
漏電判定電路50的漏電判定閾值Vleak要滿
足如下的式(13)。
Vleak≧Rf×Iz_trip...(13)
因此,阻抗調整元件32A的電感值L可表示成如下的式(14)。
漏電判定電路50因為是根據電壓Vin的瞬間值是否在漏電判定閾值Vleak以上來判定是否有漏電,所以並不將超過漏電判定閾值Vleak之電壓的值用於處理當中。因此,電感值L的最大值Lmax可表示成如下的式(15)。
在此,假設Vclamp=1〔V〕,Iz_trip=200〔μA〕,ω=2πf,f=50〔Hz〕,Rf=500〔Ω〕。在此情況,從上述式(15)可算出Lmax=15.8〔H〕。
雷電突波電流的頻率因為是比漏電電流的頻率高之頻率,所以可將上述式(15)中的「ω」設定為比漏電電流的頻率高之頻率。在例如雷電突波電流的頻率為已知的情況,可使上述式(15)中的「ω」為雷電突波電流的頻率。在例如雷電突波電流的頻率為100〔kHz〕之情況,使上述式(15)中的ω=100〔kHz〕,可算出Lmax=7.9〔mH〕。因此,可在例如輸出電流Iz的高頻成分的頻域且為比低通濾波器40的截止頻率低的頻域將輸入至漏電判定電路50之電壓Vin予以限制。
實施形態2之漏電斷路器1A的漏電檢測部
4A中,阻抗調整元件32A係包含電感。因此,與有漏電電流流到電路2的情況之阻抗調整元件32A的阻抗相比較,有雷電突波電流流到電路2的情況之阻抗調整元件32A的阻抗較大。因此,可在有雷電突波電流流到電路2之情況使輸入至漏電判定電路50之電壓Vin大幅小於漏電判定閾值Vleak,能夠以良好精度地抑制漏電判定電路50做出誤判定。
又,可將電容器元件並聯或串聯連接至實施形態1、2中之阻抗調整元件32、32A。藉此,可在有雷電突波電流之類的高頻率的電流流到電路2之情況,使輸入至漏電判定電路50之電壓Vin比有漏電電流流到電路2之情況小。又,實施形態1中之電壓轉換元件31係以電阻構成,但電壓轉換元件31亦可利用由電阻與電感串聯連接成的元件而構成。又,上述的阻抗調整元件32,32A之調整為一個例子,阻抗調整元件32,32A之調整並不限定於上述的例子。
以上的實施形態所揭示的構成,表示的是本發明的內容的一例,本發明不限於此,還可與別的公知的技術組合,以及可在未脫離本發明的要旨之範圍內進行構成的一部分之省略、變更。漏電檢測部4,4A可利用於漏電斷路器1,1A以外的機器或裝置。例如,漏電檢測部4,4A可利用於漏電監視裝置、漏電繼電器(relay)、其他的計測器等。
Claims (5)
- 一種漏電檢測裝置,具備有:零相比流器,檢測出流到電路的零相電流;箝位電路,將前述零相比流器的二次側端子間的電壓限制在箝位電壓以下;電壓轉換電路,與前述箝位電路並聯連接,將前述零相比流器的輸出電流轉換為電壓;低通濾波器,將前述電壓轉換電路所轉換得到的前述電壓的高頻成分去除,輸出前述高頻成分經去除後的電壓;以及漏電判定電路,根據從前述低通濾波器輸出的電壓,判定前述電路是否漏電;前述電壓轉換電路係具有:串聯電路,將前述零相比流器的輸出電流轉換為前述電壓且將轉換得到的前述電壓輸出至前述低通濾波器之電壓轉換元件、與調整前述電壓轉換電路的阻抗之阻抗調整元件串聯之電路;前述電壓轉換電路的阻抗係調整為所要檢測的最小值的漏電電流在前述二次側端子間產生的電壓在箝位電壓以下。
- 如申請專利範圍第1項所述之漏電檢測裝置,其中,前述阻抗調整元件係包含電阻。
- 如申請專利範圍第1項所述之漏電檢測裝置,其中,前述阻抗調整元件係包含電感。
- 如申請專利範圍第1至3項中任一項所述之漏電檢測裝置,其中,前述漏電判定電路係在前述低通濾波器輸出的前述電壓的瞬間值在閾值以上之狀態持續達預先設定的期間以上之情況,判定前述電路有漏電。
- 一種漏電斷路器,具備有:申請專利範圍第1至3項中任一項所述的漏電檢測裝置;開閉部,進行前述電路的開閉;以及跳脫裝置,在前述漏電判定電路判定前述電路有漏電之情況,使前述開閉部將前述電路關斷。
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