TWI660155B - 比對式量規 - Google Patents

比對式量規 Download PDF

Info

Publication number
TWI660155B
TWI660155B TW107113976A TW107113976A TWI660155B TW I660155 B TWI660155 B TW I660155B TW 107113976 A TW107113976 A TW 107113976A TW 107113976 A TW107113976 A TW 107113976A TW I660155 B TWI660155 B TW I660155B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
seat
measuring rod
measuring
moving
base
Prior art date
Application number
TW107113976A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201945686A (zh
Inventor
何千忍
夏朝崐
Original Assignee
協鋒科技有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 協鋒科技有限公司 filed Critical 協鋒科技有限公司
Priority to TW107113976A priority Critical patent/TWI660155B/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI660155B publication Critical patent/TWI660155B/zh
Publication of TW201945686A publication Critical patent/TW201945686A/zh

Links

Landscapes

  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

本發明一種比對式量規,其包含有一座體、一移動裝置、一固定裝置、一微調裝置及一量測裝置,藉由該量測裝置之探測針可伸置於該固定裝置之固定座內並與限位件相對應,同時該量測裝置並受到該微調裝置的作動,以使在進行環形狀工件的內/外徑量測時,得先利用該移動裝置之第一測量棒抵掣於工件一邊的內壁/外壁上,再配合該固定裝置之第二測量棒抵掣於該工件另一邊的內壁/外壁上進行移動,使得該量測裝置之量錶準確顯示出該工件之內徑的測量值,以避免人為誤差,如此不但穩固、精確性,更增加測量使用的便利性。

Description

比對式量規
本發明是有關於一種測量工具設計,特別是一種比對式量規。
查,在進行環形狀之工件的內徑/外徑的尺寸量測時,對於尺寸小的工件皆是使用游標卡尺於製程停止時,進行該工件的內徑量測,以利判別所取的的量測數據是否精準,而前述該游標卡尺的使用進適合針對小型工件的使用,但對於環形狀之大型工件的內徑/外徑量測數據的擷取,更鑒於該游標卡尺的尺寸過小因素而無法有效進行量測,其僅能利用人工以簡略方式進行內徑/外徑量測,並針對量測取的數值進行計算,如此較不便外,更會有量測不準確;當然,亦有為獲取更精準的量測數值,便會先暫停作業,而將該大型工件卸下進行內徑/外徑的量測後,即視情況決定是否則需再進行加工的製程,藉此不但會有加工不便之情事外,同時量測所得的數值精密度更會有偏差缺失,同時更會造成後續加工校正不便,實需改進,有鑒於此,故有本案之研發。
因此,本發明之目的,是在提供一種比對式量規,其能避免人為誤差,且具穩固、精確性,更增加測量數值精準性與使用的便利性。
於是,本發明比對式量規,其用以針對工件之內徑/外徑進行量測用,該比對式量規包含有一具長條型態設置之座體,一設於該座體一側上之移動裝置,一相反該移動裝置且設於該座體另一側上之固定裝置,二分別設於該移動裝置與該固定裝置間且鄰近該固定裝置處之微調裝置與量測裝置;其中,該移動裝置具有移動座、卡掣件、調整件及第一測量棒,另,該固定裝置具有固定座、容置空間、挾持件、頂掣件、二彈性件及第二測量棒,同時該固定座上開設有一與外連通之穿孔,且該挾持件對應該穿孔處形成有一穿設該其一彈性件且伸置於該穿孔內之限位件,該固定座與該卡掣件上供該第二測量棒穿設之處開設有開孔,又,該微調裝置具有L型座及微調件;至於,該量測裝置具有量錶、探測針及校正件;是以,當完成大型環狀工件的製程後,而需針對其內徑/外徑之進行量測時,得先利用該移動裝置之第一測量棒抵掣於工件一邊的內壁/外壁上,再配合該固定裝置之第二測量棒抵掣於該工件另一邊的內壁/外壁上進行移動,藉由該第二測量棒抵掣環狀工件之內壁/外壁周緣移動所產生的作用力,而使第二測量棒於該開孔處形成微距的位移,以使該挾持件在微距位移中使該限位件抵頂於該探測針上,使得該量測裝置之量錶準確顯示出該工件之內徑/外徑的測量值,以避免人為誤差,如此不但大幅提升穩固、精確性,更增加測量使用的便利性。
圖1是本發明一較佳實施例之立體分解示意圖。
圖2A至圖2B是該較佳實施例之局部構件該調整件的調整作動示意圖。
圖3是該較佳實施例之該位移控制件變換方向示意圖。
圖4是本發明該較佳實施例之另一實施態樣示意圖。
圖5是圖4該較佳實施例之組合狀態示意圖。
圖6是圖4該較佳實施例之局部構件作動示意圖。
圖7是圖4該較佳實施例之局部構件剖面作動示意圖。
有關本發明之前述及其他技術內容、特點與功效,在以下配合參考圖式之較佳實施例的詳細說明中,將可清楚的明白。
參閱圖1,本發明比對式量規3之一較佳實施例,其包含有一具長條型態設置之座體31,一設於該座體31一側上之移動裝置32,一相反該移動裝置32且設於該座體31另一側上之固定裝置33,二分設於該移動裝置32與該固定裝置33間且鄰近該固定裝置33處之微調裝置34與量測裝置35;其中,該座體31上分別具有一頂面311與一底面312,以及一開設於該頂面311與該底面312上之軌道段313,而前述該座體31之尺寸的設計可呈不同規格尺寸,可針對客製化需求進行製作,以利因應不同測量需求,當然亦可依據客製需要並於該座體31相對該軌道段313處設計具有複數之尺規刻度314的設置,以提供選擇需具有該尺規刻度314或無該尺規刻度314設置進行使用,以下係以圖中為例說明。
該移動裝置32具有一設於該座體31內且凸伸於外並與該軌道段313相對應之移動座321,一設於該底面312上且與該移動座321連結之卡掣件322,一設於該頂面311上且與該移動座321相對並與該移動座連結之調整件323,以及一分別穿設於移動座321以及該卡掣件322之第一測量棒324;其中,該調整件323由一第一調整單元3231,以及一設於該第一調整單元3231上之第二調整單元3232組合而成,因此當作動該第一調整單元3231呈完全鬆放以及同步作動該第二調整單元3232適當鬆放,以使該移動座321不會受到該第一調整單元3231的緊迫作用,而帶動該卡掣件322於該座體31上往復的滑移作動,換言之,當同步作動該第一、第二調整單元3231、3232呈緊迫鎖合作用時,便可使該移動座321與該卡掣件322穩固定位於該座體31上,而適當作動該第一調整單元3231鎖緊且以不緊迫方式貼合於該座體31時,這時便可適當使該第二調整單元3232呈局部鬆放,如此得以微調該移動座321與該卡掣件322於該座體31上呈微距的移動調整,即如圖2A至圖2B所示且為調整作動時能具體呈現,在圖中僅以局部構件表示;至於,該第一測量棒324相對該卡掣件322之端部呈半圓形的測頭3241設置,且該移動座321、第一測量棒324及卡掣件322得以受到該調整件323的鎖合而穩固定位於該座體31上,亦或通過該調整件323的鬆放時可使該移動座321、第一測量棒324及卡掣件322同步於該軌道段313上滑移。
接續前述,該固定裝置33具有一固設於該頂面311與底面間且凸伸於該頂面311上之固定座331,一形成於該固定座331內之容置空間332,一設於該容置空間332內之挾持件333,一設於該底面312上且與該移動裝置32之卡掣件322相對平行之頂掣件334,二分別設於該挾持件333二側之彈性件335,以及一分別穿設於該固定座331、座體31及頂掣件334並與凸伸於外之該第一測量棒324相對應之第二測量棒336,同時該第二測量棒336並受到該挾持件333穩定挾持,而前述該固定座331之頂部形成有一位移控制件3311的設置,而該位移控制件3311相對供該第二測量棒336穿設位置處開設有一狹槽形之開孔3312,同時該固定座331相對該移動裝置32之一側開設有一與外連通之穿孔3313,且該位移控制件3311可視欲測量物件方式的不同,適當變換該位移控制件3311設於該固定座331上的方向設置,以適時提供該第二測量棒336可於該開孔3312處移動的間距(請參圖3所示),又,該挾持件333對應該穿孔3313處形成有一套設該其一彈性件335並伸置於該穿孔3313內之限位件3331,且該挾持件333的二側並同時受到該彈性件335的張力頂掣作用而定位於該容置空間332內,至於該頂掣件334上供該第二測量棒336穿設處相同該位移控制件3311開設有一狹槽形之開孔3341,且該等開孔3312、3341之內徑a1大於該第二測量棒336之直徑b1,以使該第二測量棒336抵掣於一物件上時(圖中未示),得以隨該物件之周緣輪廓適時於該等開孔3312、3341處形成形成微距的位移,再者,該第二測量棒336相對該頂掣件334之端部呈半圓形的測頭3361設置;至於,該微調裝置34具有一設於該頂面311上之L型座341,以及一設於該L型座341且相對應於該穿孔3313之微調件342;最後,該量測裝置35設於該固定裝置33一側且受到該微調裝置34作動,同時該量測裝置35具有一量錶351,以及二分別形該量錶351二端之探測針352與校正件353,而前述該探測針352係伸置於該穿孔3313內且與該限位件3331相對應,另該校正件353係受到該微調件342的頂掣,如此當該探測針352受到該限位件3331的抵頂而另一方面該校正件353又有效受到該微調件342的頂掣,此時僅該探測針352會因該限位件的抵頂而產生一內縮作動,這時該量錶351上便會顯示出該探測針352內縮後所形成之數值。
特別的是,在本實施例中,該卡掣件322之底部向外凸伸有二對應平行設置之卡掣塊3221,同時該固定裝置33與該卡掣件322相對平行之該頂掣件334的底部相同於該卡掣件322向外凸伸有二對應平行設置之頂掣塊3342,如此得以利用該卡掣塊3221與該頂掣塊3342的設置,可使該座體31呈有效平穩定位,再者,如圖4所示,為針對物件內徑進行更精準的數值擷取,在本實施例中更於該第二測量棒336凸伸於外之處設有一軸承c,有利於當第二測量棒336抵掣於物件之內壁上的時候,可藉由該軸承c與該彈性件335的配合使該第二測量棒336移動至該物件的中心位置。
參閱圖4至圖7,當進行大型環狀工件內徑的尺寸量測時,可先視所欲量測之精準內徑尺寸,來調整該移動裝置32與該固定裝置33間的對應間距,即先作動將該移動座321、第一測量棒324及卡掣件定位於該座體31上之該調整件323呈鬆放狀態,以使該移動座321、第一測量棒324及卡掣件322得以於該軌道段313進行移動,同時移動過程中更可利用設於該座體31上具有該尺規刻度314的設置,以使該移動座321帶動該第一測量棒324依據該尺規刻度314移動至所需對應位置定位,並確定該移動裝置32與該固定裝置33間的間距是在所需的範圍中,即再利用該調整件323的鎖合作動,以使該移動座321、第一測量棒324與卡掣件322適當於該座體31上呈微距移動,並在選定位置處穩固定位,同時鑒於該固定裝置33於另一側之該座體31上呈固定設置,因此在該固定裝置33的調整上可視欲進行量測數值的顯示方式,透過該微調裝置34來調整該量測裝置35對應該固定裝置33的設置,即藉由該微調件342穩定抵掣於該校正件353上,同時使該探測針352與該限位件3331形成輕觸設置,而該量錶351上可視欲顯示方式利用該校正件353調整呈歸零之增加數字形態,或顯示正確需擷取之該環狀工件之內徑正確數值的遞減數字形態來進行量測數值的顯示,如此一來便可進行該環狀工件(圖中未示)之內徑的量測作業,
使用時,可先將該移動裝置32之該卡掣件322定位於該環狀工件之一側的端面,這時若該端面上因製程過程中有形成不平整之處,可利用該卡掣塊3221的設計,有效平穩定位於該端面上,更於作動該卡掣件322定位的時候,該第一測量棒324之周緣亦也抵貼在該環狀工件之內周緣面上,而後便可該固定裝置33對應該環狀工件之另一側,以利用該頂掣件334之該頂掣塊3342定位於另一側該環狀工件的端面上,同時設於該第二測量棒336上之該軸承c之周緣亦也抵貼在該環狀工件另一側的內周緣面上,這時便利用該第二測量棒336之該軸承c抵貼該內周緣面上的設計,來適當時作動該固定裝置33固定處之該座體31,而該移動裝置32之該座體31則被至限制在定位處,使該固定裝置33處以該移動裝置處為軸心方式,帶動該固定裝置33處之該軸承c於抵貼之處的該周緣面上進行滑動,以透過該軸承c的滑動以及與該彈性件335的配合,使該第二測量棒336移動至該物件的中心位置,進而來針對經加工形成之該環狀工件的內徑進行尺寸的量測,因此鑒於該移動裝置32與該固定裝置33間的間距係依據所欲成型之該環狀工件的內徑所設定之尺寸,因此當該軸承c滑動的時候,若該第二測量棒336未受到該軸承c的滑動影響而使該挾持件333於於該容置空間332內形成微距位移,同時亦使與該限位件3331輕觸之該探測針352並未有受到壓掣作用,且相對設於該固定裝置33一側之該量錶351上同樣未有顯示出數字移動的變化,這也就表示出該環狀工件經加工後所成形之內徑的尺寸係為標準尺寸,如此該環狀工件便無需再進行該內徑的精修加工。
接續前述,反之,當該第二測量棒336在該軸承c抵貼該環狀工件的內周緣面的滑動過程中,受到有別於原先設定間距影響,進而使該挾持件333於該容置空間332內形成微距的位移,以使該挾持件333壓掣設於該限位件3331上之該彈性件335呈一壓縮形態,且同步帶動該限位件3331於該穿孔3313中產生位移進而抵壓於該探測針352上,即如圖5所示,使得該量錶351因該探測針352受到作動而產生數字顯示,這也就表示出該環狀工件經加工後所成形之內徑的尺寸尚未達到設定之標準,如此該環狀工件之內周緣面便還需要再進行精修加工,即便可針 對該量錶351上顯示的數值進行相對應的精修依據,同時完成後同樣可再利用該比對式量規3進行量測,進一步確認加工完成後該環狀工件的內徑係在所需的標準值內;當然,若是進行大型環狀工件(圖中未示)的外徑尺寸量測時,便可利用該第二測量棒336上無具該軸承c的設置(即如圖1所示),且針對提供該第二測量棒336於該固定座331上具有較佳的移動間距,此時可適當變換該位移控制件3311設於該固定座331上的方向設置,以利進行量測時,僅要將該第二測量棒336之該測頭3361抵掣於該大型環狀工件的外壁上進行上下搖擺,如此便可由該量測裝置35上清楚得知所擷取尺寸是否在標準值內;是以,利用該量測裝置35得以適時受到該微調裝置34作動,同時藉由該第二測量棒336上之該軸承c於滑移時可步使該挾持件333受到連動,使得該量測裝置35之該量錶351準確顯示出該環狀工件之內徑的測量值,以避免人為誤差,如此不但能有效大大提升測量時的穩固、精確性,更增加測量使用的便利性。
歸納前述,本發明比對式量規,藉由該量測裝置得以適時受到該微調裝置作動,以使在進行環形狀工件的內徑量測時,利用該第二測量棒之該軸承於環形狀工件的內壁滑移時可同步使該挾持件受到連動,亦或進行該環形狀工件的外徑量測時,利用該第二測量棒之該測頭於該環形狀工件的外壁呈上下搖擺,如此皆能使得該量測裝置之量錶準確顯示出該工件之內徑/外徑的測量值,以避免人為誤差,如此不但穩固、精確性,更增加測量使用的便利性,故確實能達到本發明之目的。
惟以上所述者,僅為說明本發明之較佳實施例而已,當不能以此限定本發明實施之範圍,即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾,皆應仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
(本發明)
3‧‧‧比對式量規
31‧‧‧座體
311‧‧‧頂面
312‧‧‧底面
313‧‧‧軌道段
314‧‧‧尺規刻度
32‧‧‧移動裝置
321‧‧‧移動座
322‧‧‧卡掣件
323‧‧‧調整件
324‧‧‧第一測量棒
3221‧‧‧卡掣塊
3231‧‧‧第一調整單元
3232‧‧‧第二調整單元
3241‧‧‧測頭
33‧‧‧固定裝置
331‧‧‧固定座
332‧‧‧容置空間
333‧‧‧挾持件
334‧‧‧頂掣件
335‧‧‧彈性件
336‧‧‧第二測量棒
3311‧‧‧位移控制件
3312‧‧‧開孔
3313‧‧‧穿孔
3331‧‧‧限位件
3341‧‧‧開孔
3342‧‧‧頂掣塊
3361‧‧‧測頭
34‧‧‧微調裝置
341‧‧‧L型座
342‧‧‧微調件
35‧‧‧量測裝置
351‧‧‧量錶
352‧‧‧探測針
353‧‧‧校正件
a1‧‧‧開孔內徑
b1‧‧‧第二測量棒直徑
c ‧‧‧軸承

Claims (6)

  1. 一種比對式量規,其針對工件之內徑/外徑進行量測之用,該比對式量規包含有: 一座體,其為一長條型態設置,而該座體具有一頂面及一底面,以及一開設於該頂面與該底面上之軌道段; 一移動裝置,其設於該座體之一側上,該移動裝置具有一設於該座體內且凸伸於外並與該軌道段相對應之移動座,一設於該底面上且與該移動座連結之卡掣件,一設於該頂面上且與該移動座相對並與該移動座連結之調整件,以及一分別穿設於該移動座以及該卡掣件之第一測量棒,而前述該移動座、該測量棒及該卡掣件得以受到該調整件的鎖合而穩固定位於該座體上,或通過該調整件的鬆放時可使該移動座、該第一測量棒及該卡掣件於該軌道段上滑移; 一固定裝置,其相反於該移動裝置並設於該座體之另一側上,該固定裝置具有一固設於該頂面與該底面間且凸伸於該頂面上之固定座,一形成於該固定座內之容置空間,一設於該容置空間內之挾持件,一設於該底面上且與該卡掣件相對平行之頂掣件,二分別設於該挾持件二側之彈性件,以及一分別穿設於固定座、座體及頂掣件並與凸伸於外之該第一測量棒相對應之第二測量棒,同時該第二測量棒並受到該挾持件的穩定夾持,而前述該固定座相對該移動裝置之一側開設有一與外連通之穿孔,同時該挾持件對應該穿孔處形成有一穿設該其一彈性件且伸置於該穿孔內之限位件,且該固定座與該卡掣件上供該第二測量棒穿設之處開設有一狹槽型之開孔; 一微調裝置,其設於該固定裝置與該移動裝置間,而該微調裝置具有一設於該頂面上之L型座,以及一設於該L型座上之微調件;及一量測裝置,其設於該固定裝置一側且受到該微調裝置作動,該量測裝置具有一量錶,以及二分別形成於該量錶二端之探測針與校正件,而前述該探測針係伸置於該穿孔內且與該限位件相對應,另該校正件係受到該微調件的頂掣。
  2. 根據申請專利範圍第1項所述之比對式量規,其中,該卡掣件之底部向外凸伸至少有一卡掣塊的設置,另,該頂掣件之底部相對該卡掣件同樣向外凸伸至少有一頂掣塊的設置。
  3. 根據申請專利範圍第1項所述之比對式量規,其中,該第二測量棒之直徑小於開設於該固定座與該卡掣件上之開孔的內徑。
  4. 根據申請專利範圍第1項所述之比對式量規,其中,該調整件由一第一調整單元,以及一設於該第一調整單元上之第二調整單元組合而成。
  5. 根據申請專利範圍第1項所述之比對式量規,其中,該第二測量棒上另設有一軸承。
  6. 根據申請專利範圍第1項所述之比對式量規,其中,該固定座之頂部形成有一位移控制件的設置,以使該開孔開設於該位移控制件上。
TW107113976A 2018-04-25 2018-04-25 比對式量規 TWI660155B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW107113976A TWI660155B (zh) 2018-04-25 2018-04-25 比對式量規

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW107113976A TWI660155B (zh) 2018-04-25 2018-04-25 比對式量規

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI660155B true TWI660155B (zh) 2019-05-21
TW201945686A TW201945686A (zh) 2019-12-01

Family

ID=67348197

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107113976A TWI660155B (zh) 2018-04-25 2018-04-25 比對式量規

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI660155B (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4947555A (en) * 1989-02-10 1990-08-14 Allen Gauge & Tool Company Hand held pitch diameter gauge
US5167077A (en) * 1991-04-26 1992-12-01 Howard Etchell Linear measuring device
CN103673805A (zh) * 2013-12-20 2014-03-26 苏州蓝王机床工具科技有限公司 双向检测千分尺
KR101415912B1 (ko) * 2013-04-30 2014-07-14 주식회사 부경 내외경 측정장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4947555A (en) * 1989-02-10 1990-08-14 Allen Gauge & Tool Company Hand held pitch diameter gauge
US5167077A (en) * 1991-04-26 1992-12-01 Howard Etchell Linear measuring device
KR101415912B1 (ko) * 2013-04-30 2014-07-14 주식회사 부경 내외경 측정장치
CN103673805A (zh) * 2013-12-20 2014-03-26 苏州蓝王机床工具科技有限公司 双向检测千分尺

Also Published As

Publication number Publication date
TW201945686A (zh) 2019-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7735237B1 (en) Versatile caliper mounting and measurement accessory
JP2008185358A (ja) 平坦度測定具
JP6552940B2 (ja) 治具及びゲージ検査機
US20080184583A1 (en) Micrometer-based measuring system and method of using same
TWI660155B (zh) 比對式量規
JPH01227903A (ja) ダイヤルシリンダゲージ
US6868618B2 (en) Gauge and method
US2663942A (en) Instrument for measuring inside dimensions
CN107179040B (zh) 直径测量装置及测量设备
CN215338115U (zh) 面差测量工具和测量装置
CN209181685U (zh) 竖向测量水平读数游标式厚度测量器
US2617199A (en) Gauge
JP2018077203A (ja) 内角度測定具
CN109141187B (zh) 小孔径测量工具
CN210242614U (zh) 一种内槽球面尺寸检测装置
US2893128A (en) Adjustable setting master for dial bore gages
CN210603106U (zh) 一种测量圆孔内径的测量仪
US2010144A (en) Spherometer
CN208780093U (zh) 一种外球笼内腔中心距快速测量装置
JP2000155001A (ja) ノギス
US1539356A (en) Caliper
JP3285553B2 (ja) めねじ有効径測定器
US20080229604A1 (en) Digital thickness gauge for both exterior dimension and tube or hollow wall thickness
CN218955735U (zh) 用于抛光垫的平整度测量装置
US211975A (en) Improvement in micrometer-screw gages

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees