TWI647486B - 平行雷射光之產生裝置及應用此裝置之雷射光分光角度調整方法 - Google Patents
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Abstract
一種平行雷射光之產生裝置,包括有一雷射光源、一分光鏡、一反射鏡及一角度量測裝置。分光鏡設於雷射光束的路徑上,且可將雷射光束分成一與原光束同方向之第一分光束及一與原光束相差一角度之第二分光束;反射鏡具有呈垂直且可反射光線之一第一反射面及一第二反射面;角度量測裝置可設於對應第一分光束之位置而接收第一分光束,且可設於對應第二分光束之位置而接收第二分光束,其中此角度量測裝置所設置之位置更與反射鏡對應,且可朝反射鏡發射一準直光並被反射。此外,本發明更提供一種應用上述裝置之雷射光分光角度調整方法。
Description
本發明與產生平行光之裝置及方法有關,尤指一種將雷射光分成兩道相垂直的分光之裝置並藉以調整為平行光之調整方法。
按,一些機械產品在外在形狀上有平行度的要求,例如線性軌道,因此在產品製成後須以相互平行之光束進行檢測。習知產生平行光的裝置如第6圖所示,其具有一雷射光源71、兩個分光鏡72、73及一屏幕74,其中該分光鏡72、73係可在接收雷射光束後將其分為兩個分光束,其中一個分光束係與原光束同方向,另一個分光束則可隨該分光鏡72、73的設置角度而變化射出方向。藉由將兩個分光鏡72、73設置於屏幕74前之適當位置,並使雷射光束711射入分光鏡72而分出一第一分光束81及一第二分光束82,又該第二分光束82射入分光鏡73可分出一第三分光束83及一第四分光束84,則轉動分光鏡72可調整該第二分光束82的方向垂直於該第一分光束81,轉動分光鏡73可調整該第三分光束83的方向垂直於該第二分光束82,進而使該第一分光束81與該第三分光束83的方向理論上形成平行。接著,該第一分光束81與該第三分光束83可在該屏幕74上形成兩個光點P、Q,藉由量測兩光點P、Q之間的距離及兩分光鏡72、73之間的距離,若二者相等則可驗證該第一分光束81與該第三分光束83確實平行,據此即得兩道相平行之光束。
然而上述產生平行光的裝置及方法具有缺點。細言之,分光鏡所分出分光束之間的角度係以一量測儀器進行量測,惟儀器本身具有精度上的極限,且人員於每次操作上都會產生誤差,以致難以確保該第一分光束81與該第二分光束82之間以及該第二分光束82與該第三分光束83之間確實垂直,進而難以使該第一分光束81與該第三分光束83達到相互平行的結果。再者,在該第一分光束81與該第三分光束83為平行的驗證上,若兩光束之間的距離甚大,將難以準備足夠大的屏幕74供光點投射,因而使驗證過程難以執行。
有鑑於此,如何改進上述問題即為本發明所欲解決之首要課題。
本發明目的之一在於提供一種平行雷射光之產生裝置,其藉由分光鏡、反射鏡及角度量測裝置之位置的交互調整,使雷射光分為兩道相互垂直的分光,並透過反覆操作進而得到相互平行的光線。
本發明目的之二在於提供一種應用上述裝置之雷射光分光角度調整方法,其透過調整角度量測裝置使其與一分光束平行,並利用具有垂直反射面的反射鏡定出另一垂直的分光束,藉此提高兩分光束之垂直度的精確性。
本發明目的之三在於重複執行上述方法,可進而得到相互平行的雷射光束,且確保其平行度的精確性。
為達前述之目的,本發明提供一種平行雷射光之產生裝置,其包括有: 一雷射光源,其可發射一雷射光束; 一可轉動之分光鏡,其設於該雷射光束的路徑上,且可將該雷射光束分成一與原光束同方向之第一分光束及一與原光束相差一角度之第二分光束,其中該第二分光束與原光束相差之角度與原光束射入該分光鏡之角度有關; 一可轉動之反射鏡,其具有可反射光線之一第一反射面及一第二反射面,其中該第一反射面與該第二反射面呈垂直; 一角度量測裝置,其可設於對應該第一分光束之位置而接收該第一分光束,且可設於對應該第二分光束之位置而接收該第二分光束,其中該角度量測裝置所設置之位置更與該反射鏡對應;該角度量測裝置可發射一準直光,該準直光可被該反射鏡反射,該角度量測裝置可測得該準直光的反射光與該第一分光束或該第二分光束的相對角度。
更進一步地,本發明更提供一種應用前述裝置的雷射光分光角度調整方法,其包括有: 取一第一分光鏡設於該雷射光源所射出之雷射光束的路徑上,得到一與該雷射光束同方向之第一分光束及一與該第一分光束相差一角度之第二分光束; 將該角度量測裝置設於對應該第一分光束之位置並接收該第一分光束;調整該角度量測裝置,使其發出之準直光平行於該第一分光束; 將該反射鏡設於對應該角度量測裝置之位置並使該第一反射面反射該準直光; 轉動該反射鏡,使該準直光的反射光平行於該準直光後,固定該反射鏡; 將該角度量測裝置設於對應該反射鏡之第二反射面的位置並發出準直光;調整該角度量測裝置,使該準直光的反射光平行於該準直光; 轉動該第一分光鏡,使該第二分光束平行於該準直光,固定該第一分光鏡。
前述方法更包括有: 取一第二分光鏡設於該第二分光束的路徑上,得到一與該第二分光束同方向之第三分光束及一與該第三分光束相差一角度之第四分光束; 將該反射鏡設於對應該角度量測裝置之位置並使該第一反射面反射該角度量測裝置發出之準直光; 轉動該反射鏡,使該準直光的反射光平行於該準直光後,固定該反射鏡; 將該角度量測裝置設於對應該反射鏡之第二反射面的位置並發出準直光;調整該角度量測裝置,使該準直光的反射光平行於該準直光; 轉動該第二分光鏡,使該第四分光束平行於該準直光,固定該第二分光鏡。
而本發明之上述目的與優點,不難從下述所選用實施例之詳細說明與附圖中獲得深入了解。
請參閱第2圖至第5圖,所示者為本發明提供之平行雷射光之產生裝置,其包括有可發射雷射光束11之雷射光源1、可轉動之第一分光鏡2及第二分光鏡3、可轉動之反射鏡4及角度量測裝置5。各分光鏡2、3設於該雷射光束11的路徑上,且可透過折射及反射作用將該雷射光束11分成兩個分光束61、62,其中一個分光束61係與原光束11同方向,另一個分光束62則與原光束11相差一角度。分光束與原光束之間相差的角度與原光束射入分光鏡之角度有關,因此可轉動分光鏡以改變分光束的發射方向。
承上,該反射鏡4具有可反射光線之一第一反射面41及一第二反射面42,其中該第一反射面41與該第二反射面42係呈垂直。該反射鏡4可與各分光鏡2、3配對結合,且二者可獨立地轉動。該角度量測裝置5可設於對應各分光束之位置而接收該分光束,其中該角度量測裝置5所設置之位置更與該反射鏡4對應。該角度量測裝置5可朝該反射鏡4發射一準直光,其可被該反射鏡4反射,該角度量測裝置5可測得該準直光的反射光與該分光束的相對角度。
藉由上述結構,如第1圖所示,本發明提供一種雷射光分光角度調整方法,其包括有: 取一第一分光鏡設於雷射光束的路徑上,得到一第一分光束及一第二分光束; 將角度量測裝置設於對應第一分光束之位置並接收之;調整角度量測裝置,使其發出之準直光平行於第一分光束; 將反射鏡設於對應角度量測裝置之位置並以第一反射面反射該準直光; 轉動反射鏡,使該準直光的反射光平行於該準直光後,固定反射鏡; 將角度量測裝置設於對應反射鏡之第二反射面的位置並發出準直光;調整角度量測裝置,使其準直光的反射光平行於該準直光; 轉動第一分光鏡,使第二分光束平行於該準直光,固定第一分光鏡; 取一第二分光鏡設於第二分光束的路徑上,得到一第三分光束及一第四分光束; 將反射鏡設於對應角度量測裝置之位置,並使第一反射面反射角度量測裝置發出之準直光; 轉動反射鏡,使該準直光的反射光平行於該準直光後,固定反射鏡; 將角度量測裝置設於對應反射鏡之第二反射面的位置並發出準直光;調整角度量測裝置,使其準直光的反射光平行於該準直光; 轉動第二分光鏡,使第四分光束平行於該準直光,固定第二分光鏡。
上述方法的實施過程如第2圖至第5圖所示。首先參照第2圖,該第一分光鏡2將該雷射光束11分為第一分光束61及第二分光束62,其中該第一分光束61之方向與該雷射光束11同向,而該第二分光束62之方向與該第一分光束61相差一角度。將該角度量測裝置5設於對應第一分光束61之位置(同時亦與該反射鏡4對應),使其能接收該第一分光束61,而該角度量測裝置5發出一準直光51,藉由比較該準直光51與該第一分光束61,並調整該角度量測裝置5的位置,則可令該準直光51平行於該第一分光束61。此時,該準直光51射向該反射鏡4,接著轉動該反射鏡4,使其第一反射面41反射該準直光51,且更進一步地使該準直光51以完全相反的方向反射回到該角度量測裝置5,亦即反射光52平行於該準直光51,隨後固定該反射鏡4的方位。
如第3圖所示,接著將該角度量測裝置5移動至與該反射鏡4之第二反射面42對應的位置,並對該第二反射面42發出準直光53。運用與前述相同的方法,該第二反射面42會反射該準直光53,則藉由調整該角度量測裝置5的位置,可使反射光54與該準直光53平行。據此,由於該第一反射面41係與該第二反射面42垂直,至此該準直光53則垂直於該第一分光束61。接著,轉動該第一分光鏡2,藉以改變該第二分光束62的方向至平行於該準直光53,則得該第二分光束62與該第一分光束61垂直的結果。
如第4圖所示,將該第二分光鏡3及該反射鏡4設於該第二分光束62之路徑上,則該第二分光鏡3將分出一第三分光束63及一第四分光束64,其中該第三分光束63係與該第二分光束62同向,而該第四分光束64則與該第三分光束63相差一角度。令該角度量測裝置5發出之準直光53射向該反射鏡4之第一反射面41,此時藉由轉動該反射鏡4,使該準直光53的反射光54以完全相反的方向反射回到該角度量測裝置5,亦即反射光54平行於該準直光53,隨後固定該反射鏡4的方位。
如第5圖所示,接著將該角度量測裝置5移動至與該反射鏡4之第二反射面42對應的位置,並對該第二反射面42發出準直光55。運用與前述相同的方法,該第二反射面42會反射該準直光55,則藉由調整該角度量測裝置5的位置,可使反射光56與該準直光55平行。據此,由於該第一反射面41係與該第二反射面42垂直,至此該準直光55則垂直於該第三分光束63。接著,轉動該第二分光鏡3,藉以改變該第四分光束64的方向至平行於該準直光55,則得該第四分光束64與該第三分光束63垂直的結果。
本方法操作至此,可得到該第二分光束62垂直該第一分光束61、該第三分光束63與該第二分光束62同向、該第四分光束64垂直該第三分光束63之分布情形,據此可產生該第一分光束61與該第四分光束64相平行之結果。
本方法之優點在於不需使用屏幕供光束投射形成光點以執行驗平行度的檢測,可簡化平行光的產生步驟及結構。此外,該反射鏡4之兩反射面41、42為已知固定垂直的狀態,因而沒有產生誤差的可能性,藉此與各分光鏡2、3及該角度量測裝置5協同搭配之下,可依序調製出精確地彼此垂直的分光束,進而得到高精度的平行光束。
惟,以上實施例之揭示僅用以說明本發明,並非用以限制本發明,故舉凡等效元件之置換仍應隸屬本發明之範疇。
綜上所述,可使熟知本項技藝者明瞭本發明確可達成前述目的,實已符合專利法之規定,爰依法提出申請。
雷射光源1 雷射光束11 第一分光鏡2 第二分光鏡3 反射鏡4 第一反射面41 第二反射面42 角度量測裝置5 準直光51、53、55 反射光52、54、56 第一分光束61 第二分光束62 第三分光束63 第四分光束64 雷射光源71 雷射光束711 分光鏡72、73 屏幕74 第一分光束81 第二分光束82 第三分光束83 第四分光束84 光點P、Q
第1圖為本發明之方法的流程圖; 第2圖至第5圖為本發明之方法的操作過程示意圖; 第6圖為習知裝置產生平行光之示意圖。
Claims (3)
- 一種平行雷射光之產生裝置,其包括有: 一雷射光源,其可發射一雷射光束; 一可轉動之分光鏡,其設於該雷射光束的路徑上,且可將該雷射光束分成一與原光束同方向之第一分光束及一與原光束相差一角度之第二分光束,其中該第二分光束與原光束相差之角度與原光束射入該分光鏡之角度有關; 一可轉動之反射鏡,其具有可反射光線之一第一反射面及一第二反射面,其中該第一反射面與該第二反射面呈垂直; 一角度量測裝置,其可設於對應該第一分光束之位置而接收該第一分光束,且可設於對應該第二分光束之位置而接收該第二分光束,其中該角度量測裝置所設置之位置更與該反射鏡對應;該角度量測裝置可朝該反射鏡發射一準直光,其可被該反射鏡反射;該角度量測裝置可測得該準直光的反射光與該第一分光束或該第二分光束的相對角度。
- 一種應用如請求項1所述之裝置的雷射光分光角度調整方法,其包括有: 取一第一分光鏡設於該雷射光源所射出之雷射光束的路徑上,得到一與該雷射光束同方向之第一分光束及一與該第一分光束相差一角度之第二分光束; 將該角度量測裝置設於對應該第一分光束之位置並接收該第一分光束;調整該角度量測裝置,使其發出之準直光平行於該第一分光束; 將該反射鏡設於對應該角度量測裝置之位置並使該第一反射面反射該準直光; 轉動該反射鏡,使該準直光的反射光平行於該準直光後,固定該反射鏡; 將該角度量測裝置設於對應該反射鏡之第二反射面的位置並發出準直光;調整該角度量測裝置,使該準直光的反射光平行於該準直光; 轉動該第一分光鏡,使該第二分光束平行於該準直光,固定該第一分光鏡。
- 如請求項2所述之雷射光分光角度調整方法,其中,更包括有: 取一第二分光鏡設於該第二分光束的路徑上,得到一與該第二分光束同方向之第三分光束及一與該第三分光束相差一角度之第四分光束; 將該反射鏡設於對應該角度量測裝置之位置並使該第一反射面反射該角度量測裝置發出之準直光; 轉動該反射鏡,使該準直光的反射光平行於該準直光後,固定該反射鏡; 將該角度量測裝置設於對應該反射鏡之第二反射面的位置並發出準直光;調整該角度量測裝置,使該準直光的反射光平行於該準直光; 轉動該第二分光鏡,使該第四分光束平行於該準直光,固定該第二分光鏡。
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WO2011013172A1 (ja) * | 2009-07-30 | 2011-02-03 | 株式会社 東芝 | 角度制御方法 |
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TWI411761B (zh) * | 2010-12-29 | 2013-10-11 | Metal Ind Res & Dev Ct | Combined angle measurement system |
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