TWI645693B - 測試系統 - Google Patents

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TWI645693B
TWI645693B TW107106860A TW107106860A TWI645693B TW I645693 B TWI645693 B TW I645693B TW 107106860 A TW107106860 A TW 107106860A TW 107106860 A TW107106860 A TW 107106860A TW I645693 B TWI645693 B TW I645693B
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李揚德
林郁璋
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和碩聯合科技股份有限公司
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Abstract

一種測試系統，包含頻譜分析儀、纜線數據機終端系統、第一分流器以及第二分流器。第一分流器將纜線數據機終端系統輸出之第一下行訊號分流為二第二下行訊號，並分別傳輸至待測裝置及頻譜分析儀，以使頻譜分析儀據取得所接收之第二下行訊號的參考接收功率，以與待測裝置所接收之第二下行訊號的實際接收功率比較。第二分流器將待測裝置輸出之第一上行訊號分流為二第二上行訊號，並分別傳輸至頻譜分析儀及纜線數據機終端系統，以使頻譜分析儀據取得所接收之第二上行訊號的實際傳輸功率，以與待測裝置輸出之第一上行訊號的參考傳輸功率比較。

Description

測試系統
本揭示文件係關於一種測試系統，尤指一種用於測試數據機的測試系統。
為使數據機的出產品質被嚴格把關，數據機在進行量產前都必須經過認證單位的認證，其中與硬體相關較重要的認證項目包含數據機之接收功率、傳輸功率、抗干擾能力及輸出訊號的測試。
習知數據機的認證項目之測試作法係根據不同的認證項目而有不同的測試架構，因此若測試人員要分別針對數據機之多個認證項目進行測試，則必須耗費時間及人力來建立多個測試架構；此外，由於同一個數據機一次僅能針對一個認證項目進行測試，而無法同時針對多個認證項目進行測試，因此若要針對多個認證項目進行測試，則亦相當耗費時間及人力；再者，由於數據機在不同測試架構進行測試時，數據機與其連接的儀器之間會有頻繁的「插拔」動作，進而降低儀器接頭之壽命。
本揭示文件之一實施例揭示一種測試系統，其用以測試一待測裝置的接收及傳輸功率。測試系統包含頻譜分析儀、纜線數據機終端系統(cable modem termination system,CMTS)、第一分流器以及第二分流器。纜線數據機終端系統用以輸出第一下行訊號。第一分流器耦接待測裝置、頻譜分析儀及纜線數據機終端系統，並用以將第一下行訊號分流為功率相同的二第二下行訊號，且將第二下行訊號分別傳輸至待測裝置及頻譜分析儀，藉以使頻譜分析儀所接收之第二下行訊號的參考接收功率，與待測裝置所接收之第二下行訊號的實際接收功率比較，而得到第一測試結果。第二分流器耦接待測裝置、頻譜分析儀及纜線數據機終端系統，並用以將待測裝置所輸出之第一上行訊號分流為功率相同的二第二上行訊號，且將第二上行訊號分別傳輸至頻譜分析儀及纜線數據機終端系統，藉以使頻譜分析儀所接收之第二上行訊號的實際傳輸功率，供與待測裝置所輸出之第一上行訊號的參考傳輸功率比較，而得到第二測試結果。
本揭示文件之一實施例揭示一種測試系統，其用以測試一待測裝置的接收及傳輸功率。測試系統包含頻譜分析儀、纜線數據機終端系統、衰減器、放大器、第一分流器以及第二分流器。纜線數據機終端系統用以輸出第一下行訊號。衰減器耦接纜線數據機終端系統，用以衰減第一下行訊號的功率。放大器耦接衰減器，用以將功率經衰減的第一下行訊號的功率放大。第一分流器，耦接頻譜分析儀與放大器，並用以將經過衰減器及放大器的第一下行訊號分流為功率相同的二第 二下行訊號，且將第二下行訊號分別傳輸至待測裝置及頻譜分析儀，藉以使頻譜分析儀所接收之第二下行訊號的參考接收功率，與待測裝置所接收之第二下行訊號的實際接收功率比較，而得到第一測試結果。第二分流器耦接頻譜分析儀與衰減器，並用以將待測裝置所輸出第一上行訊號分流為功率相同的二第二上行訊號，且第二上行訊號分別傳輸至頻譜分析儀及衰減器，藉以使頻譜分析儀所接收之第二上行訊號的實際傳輸功率，與待測裝置所輸出之第一上行訊號的參考傳輸功率比較，而得到第二測試結果。
基於上述技術手段，應用本揭示文件所述之測試系統可對待測裝置的接收功率、傳輸功率及輸出訊號進行測試，讓測試人員僅需利用本揭示文件之測試系統即可針對多個認證項目進行測試，而無需耗費時間及人力針對不同的認證項目建立不同的測試架構，進而解決習知測試作法的「耗費時間及人力」與「降低儀器接頭之壽命」之缺失。
100‧‧‧測試系統
110‧‧‧頻譜分析儀
120‧‧‧纜線數據機終端系統
130‧‧‧功率調整器
140‧‧‧雜訊產生裝置
141‧‧‧第一雜訊產生器
142‧‧‧第二雜訊產生器
200‧‧‧測試系統
AMP‧‧‧放大器
ATT‧‧‧衰減器
CP‧‧‧耦合器
DP1‧‧‧第一雙工器
DP2‧‧‧第二雙工器
DP3‧‧‧第三雙工器
DP4‧‧‧第四雙工器
DS1‧‧‧第一下行訊號
DS2‧‧‧第二下行訊號
DUT‧‧‧待測裝置
FI1‧‧‧第一頻段輸入端
FI2‧‧‧第二頻段輸入端
FO1‧‧‧第一頻段輸出端
FO2‧‧‧第二頻段輸出端
FS1‧‧‧第一頻段訊號
FS2‧‧‧第二頻段訊號
IT‧‧‧輸入端
OS1‧‧‧第一輸出訊號
OS2‧‧‧第二輸出訊號
OT‧‧‧輸出端
SP1‧‧‧第一分流器
SP2‧‧‧第二分流器
SP3‧‧‧第三分流器
SP4‧‧‧第四分流器
SW‧‧‧切換開關
US1‧‧‧第一上行訊號
US2‧‧‧第二上行訊號
為讓本揭示內容之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：第1圖為根據本揭示文件之一實施例所示之測試系統及待測裝置的架構示意圖。
第2圖為根據本揭示文件之另一實施例所示之測試系統及待測裝置的架構示意圖。
第3A圖為根據第2圖所示之測試系統用於測試待測裝置之接收功率的示意圖。
第3B圖為根據第2圖所示之測試系統用於測試待測裝置之傳輸功率的示意圖。
第3C圖為根據第2圖所示之測試系統用於測試待測裝置之抗干擾能力的示意圖。
第3D圖為根據第2圖所示之測試系統用於測試待測裝置輸出之第一輸出訊號的示意圖。
第4A圖為第3D圖所示之第一輸出訊號的頻譜圖。
第4B圖為第3D圖所示之第一頻段訊號的頻譜圖。
第4C圖為第3D圖所示之第二頻段訊號的頻譜圖。
第4D圖為第3D圖所示之第二輸出訊號的頻譜圖。
下文係舉實施例配合所附圖式作詳細說明，以更好地理解本案的態樣，但所提供之實施例並非用以限制本案所涵蓋的範圍，而結構操作之描述非用以限制其執行之順序，任何由元件重新組合之結構，所產生具有均等功效的裝置，皆為本案所涵蓋的範圍。
請參照第1圖，其為根據本揭示文件之一實施例所示之測試系統100及待測裝置DUT的架構示意圖。
測試系統100包含頻譜分析儀110、纜線數據機終端系統(cable modem termination system,CMTS)120、第一分流器SP1及第二分流器SP2。
纜線數據機終端系統120的輸出端OT用以輸出第一下行訊號DS1。於一實施例中，第一下行訊號DS1的頻帶可為5-42(Mhz)。
第一分流器SP1耦接於頻譜分析儀110與纜線數據機終端系統120的輸出端OT之間，並用以將第一下行訊號DS1分流為功率相同的二第二下行訊號DS2，且將第二下行訊號DS2分別傳輸至待測裝置DUT及頻譜分析儀110，藉以使頻譜分析儀110所接收之第二下行訊號DS2的參考接收功率，與待測裝置DUT所接收之第二下行訊號DS2的實際接收功率比較，而得到第一測試結果，其中第一測試結果為待測裝置DUT的接收功率之測試結果。
於一實施例中，待測裝置DUT可為數據機，但不以此為限。
第二分流器SP2耦接頻譜分析儀110以及纜線數據機終端系統120的輸入端IT，並用以將待測裝置DUT所輸出之第一上行訊號US1分流為功率相同的二第二上行訊號US2，且將第二上行訊號US2分別傳輸至頻譜分析儀110及纜線數據機終端系統120的輸入端IT，藉以使頻譜分析儀110所接收之第二上行訊號US2的實際傳輸功率，與待測裝置DUT所輸出之第一上行訊號US1的參考傳輸功率比較，而得到第二測試結果，其中第二測試結果為待測裝置DUT的傳輸功率之測試結果。於一實施例中，第一上行訊號DS1的頻帶可為54-1218(Mhz)。
藉此，測試系統100可藉由比較參考接收功率與 實際接收功率，以及比較參考傳輸功率與實際傳輸功率，使得待測裝置DUT的接收功率及傳輸功率之測試結果被產生。也就是說，在測試系統100的架構之下，可針對待測裝置DUT的接收功率及傳輸功率進行測試。
再請參照第2圖，其為根據本揭示文件之另一實施例所示之測試系統200及待測裝置DUT的架構示意圖。
第2圖所示之測試系統200與第1圖所示之測試系統100大致相同，例如第2圖之測試系統200的頻譜分析儀110、纜線數據機終端系統120、第一分流器SP1及第二分流器SP2，故不另贅述。
以下將說明第2圖所示之測試系統200相較於第1圖所示之測試系統100的差異之處。
於一實施例中，測試系統200更包含功率調整器130，耦接於纜線數據機終端系統120、第一分流器SP1與第二分流器SP2。
進一步地，功率調整器130更可包含衰減器ATT及第一放大器AMP，衰減器ATT耦接纜線數據機終端系統120，第一放大器AMP耦接於衰減器ATT與第一分流器SP1。
詳言之，衰減器ATT具有第一頻段輸出端FO1、第二頻段輸入端FI2、第一頻段輸入端FI1及第二頻段輸出端FO2，衰減器ATT的第二頻段輸入端FI2及第一頻段輸出端FO1分別耦接纜線數據機終端系統120的輸出端OT及輸入端IT，衰減器ATT的第一頻段輸入端FI1耦接第二分流器SP2，第一放大器AMP耦接於衰減器ATT的第二頻段輸出端FO2與 第一分流器SP1之間。
應注意的是，衰減器ATT的第一頻段輸出端FO1、第二頻段輸入端FI2、第一頻段輸入端FI1及第二頻段輸出端FO2之命名係為方便說明而使用，並非用來限制衰減器ATT各端點的方向性。舉例來說，衰減器ATT的第一頻段輸出端FO1也可作為輸入端，或者衰減器ATT的第二頻段輸入端FI2也可作為輸出端。
於一實施例中，測試系統200更包含雜訊產生裝置140及第三分流器SP3，其中第三分流器SP3耦接於待測裝置DUT、第一分流器SP1與雜訊產生裝置140。
進一步地，雜訊產生裝置140更可包含第一雜訊產生器141、第二雜訊產生器142及第四分流器SP4，其中第一雜訊產生器141及第二雜訊產生器142耦接第四分流器SP4，且第四分流器SP4耦接第三分流器SP3。
於一實施例中，測試系統200更包含第一雙工器DP1、第二放大器AMP及第二雙工器DP2。
第一雙工器DP1具有輸入端IT、第一頻段輸出端FOI及第二頻段輸出端FO2，其中第一雙工器DP1的輸入端IT透過耦合器CP耦接待測裝置DUT。
第二放大器AMP的一端耦接第一雙工器DP1的第二頻段輸出端FO2。
第二雙工器DP2具有第一頻段輸入端FI1、第二頻段輸入端FI2及輸出端OT，其中第二雙工器DP2的第一頻段輸入端FI1耦接第一雙工器DP1的第一頻段輸出端FO1，第二雙 工器DP2的第二頻段輸入端FI2耦接第二放大器AMP的另一端，第二雙工器DP2的輸出端OT透過切換開關SW耦接頻譜分析儀110。
應注意的是，第一雙工器DP1的輸入端IT、第一頻段輸出端FO1及第二頻段輸出端FO2之命名與第二雙工器DP2的第一頻段輸入端FI1、第二頻段輸入端FI2及輸出端OT之命名皆係為方便說明而使用，並非用來限制第一雙工器DP1及第二雙工器DP2各端點的方向性，進一步說明如同前述衰減器ATT所述，故不另贅述。
於一實施例中，測試系統200更包含第三雙工器DP3及第四雙工器DP4。
第三雙工器DP3具有第一頻段輸入端FI1、第二頻段輸入端FI2及輸出端OT，其中第三雙工器DP3的第一頻段輸入端FI1耦接第二分流器SP2，第三雙工器DP3的第二頻段輸入端FI2耦接第一分流器SP1，第三雙工器DP3的輸出端OT透過切換開關SW耦接頻譜分析儀110。
第四雙工器DP4具有輸入端IT、第一頻段輸出端FO1及第二頻段輸出端FO2，其中第四雙工器DP4的輸入端IT耦接第三分流器SP3，第四雙工器DP4的第一頻段輸出端FO1耦接第二分流器SP2，第四雙工器DP4的第二頻段輸出端FO2耦接第一分流器SP1。
應注意的是，第三雙工器DP3的第一頻段輸入端FI1、第二頻段輸入端FI2及輸出端OT之命名與第四雙工器DP4的輸入端IT、第一頻段輸出端FO1及第二頻段輸出端FO2 之命名皆係為方便說明而使用，並非用來限制第三雙工器DP3及第四雙工器DP4各端點的方向性，進一步說明如同前述衰減器ATT所述，故不另贅述。
此外，第2圖所示之「L」及「H」分別表示「第一頻段」及「第二頻段」可通過之端點，「L」及「H」僅為示例，並非用於限制。
再請參照第3A圖，其為根據第2圖所示之測試系統200用於測試待測裝置DUT之接收功率的示意圖。
首先，纜線數據機終端系統120輸出第一下行訊號DS1，第一下行訊號DS1經過衰減器ATT及第一放大器AMP後傳輸至第一分流器SP1；接著，第一分流器SP1將經過衰減器ATT及第一放大器AMP的第一下行訊號DS1分流為功率相同的二第二下行訊號DS2。
第二下行訊號DS2的一者沿著虛線箭頭方向經過第三雙工器DP3及切換開關SW後傳輸至頻譜分析儀110，藉此頻譜分析儀110可據以取得相應於所接收之第二下行訊號DS2的參考接收功率。
第二下行訊號DS2的另一者沿著實線箭頭方向頭經過第四雙工器DP4、第三分流器SP3及耦合器CP後傳輸至待測裝置DUT，藉此待測裝置DUT可取得相應於所接收之第二下行訊號DS2的實際接收功率。
在對應待測裝置DUT的參考接收功率及實際接收功率被獲得之後，可再藉由分析主機(圖未示)來比較參考接收功率及實際接收功率之間的差異，進而產生第一測試結果。 舉例來說，當參考接收功率與實際接收功率之間相差3dB以上時，則表示待測裝置DUT的接收功率發生異常，因此第一測試結果為「接收功率發生異常」；反之，當參考接收功率與實際接收功率之間相差3dB以下時，則表示待測裝置DUT的接收功率仍屬於正常範圍內，因此第一測試結果為「接收功率正常」。
再請參照第3B圖，其為根據第2圖所示之測試系統200用於測試待測裝置DUT之傳輸功率的示意圖。
首先，待測裝置DUT輸出第一上行訊號US1，其中第一上行訊號US1的功率為待測裝置DUT理想上應傳輸的參考傳輸功率，且參考傳輸功率可自待測裝置DUT獲得。接著，第一上行訊號US1經過第三分流器SP3及第四雙工器DP4後傳輸至第二分流器SP2；並且，第二分流器SP2將第一上行訊號US1分流為功率相同的二第二上行訊號US2。
第二上行訊號US2的一者沿著實線箭頭方向經過衰減器ATT後，衰減器ATT將相應於所接收之第二上行訊號US2的功率衰減為0dB後傳輸至纜線數據機終端系統120，以符合相關規範。
第二上行訊號US2的另一者沿著虛線箭頭方向經過第三雙工器DP3及切換開關SW後傳輸至頻譜分析儀110，藉此頻譜分析儀110可據以取得相應於所接收之第二上行訊號US2的實際接收功率。
在對應待測裝置DUT的參考傳輸功率及實際傳輸功率被獲得之後，可再藉由分析主機來比較參考傳輸功率及實際傳輸功率之間的差異，進而產生第二測試結果。舉例來 說，當參考接收功率與實際接收功率之間相差2dB以上時，則表示待測裝置DUT的傳輸功率發生異常，因此第二測試結果為「傳輸功率發生異常」；反之，當參考傳輸功率與實際傳輸功率之間相差2dB以下時，則表示待測裝置DUT的傳輸功率仍屬於正常範圍內，因此第二測試結果為「傳輸功率正常」。
再請參照第3C圖，其為根據第2圖所示之測試系統200用於測試待測裝置DUT之抗干擾能力的示意圖。
首先，纜線數據機終端系統120輸出第一下行訊號DS1，第一下行訊號DS1經過衰減器ATT及放大器AMP後傳輸至第一分流器SP1；接著，第一分流器SP1將經過衰減器ATT及放大器AMP的第一下行訊號DS1分流為功率相同的二第二下行訊號DS2。
第二下行訊號DS2的一者沿著實線箭頭方向經過第四雙工器DP4而被傳輸至第三分流器SP3。
第一雜訊產生器141產生第一雜訊訊號NS1，且第二雜訊產生器142產生第二雜訊訊號NS2。接著，第四分流器SP4將第一雜訊訊號NS1及第二雜訊訊號NS2合併成雜訊訊號NS，並將雜訊訊號NS傳輸至第三分流器SP3。在一些實施例中，第一雜訊產生器141及/或第二雜訊產生器142可例如為隨機雜訊產生器、數位雜訊產生器、多項式產生器、高斯數位雜訊產生器或其他可應用於本揭示文件之測試系統的雜訊產生器。
第三分流器SP3將相應於所接收之第二下行訊號DS2及雜訊訊號NS合併後經過耦合器CP而傳輸至待測裝置 DUT。
在待測裝置DUT接收到第二下行訊號DS2及雜訊訊號NS後，可藉由分析主機來分析待測裝置DUT接收到第二下行訊號的情況，進而產生第三測試結果。具體來說，當待測裝置DUT被雜訊訊號NS影響而不能夠正確地接收到第二下行訊號DS2，使得待測裝置DUT無法與纜線數據機終端系統120連線，或者待測裝置DUT可與纜線數據機終端系統120連線但無法正確地交換封包，則表示待測裝置DUT的抗干擾能力不佳，因此第三測試結果為「抗干擾能力不佳」；反之，當待測裝置DUT不被雜訊訊號NS影響而能夠正確地接收到第二下行訊號DS2，使得待測裝置DUT可與纜線數據機終端系統120連線且能夠正確地交換封包，則表示待測裝置DUT的抗干擾能力佳，因此第三測試結果為「抗干擾能力佳」。
再請參照第3D圖，並一併參照第4A圖至第4D圖。第3D圖為根據第2圖所示之測試系統200用於測試待測裝置DUT輸出之第一輸出訊號OS1的示意圖。第4A圖至第4D圖分別為第3D圖所示之第一輸出訊號OS1、第一頻段訊號FS1、第二頻段訊號FS2及第二輸出訊號OS2的頻譜圖。
首先，待測裝置DUT輸出第一輸出訊號OS1，其中第一輸出訊號OS1具有第一頻段F1及第二頻段F2，如第4A圖所示。第一雙工器DP1接收第一輸出訊號OS1，並將第一輸出訊號OS1依據第一頻段F1及第二頻段F2而對應輸出第一頻段訊號FS1及第二頻段訊號FS2，其中第一頻段訊號FS1僅具有第一頻段F1，第二頻段訊號FS2僅具有第二頻段F2，如第4B 圖及第4C圖所示。
接著，第一頻段訊號FS1傳輸至第二雙工器DP2，以及第二頻段訊號FS2經過第二放大器AMP後傳輸至第二雙工器DP2。應注意的是，第二放大器AMP之目的在於可以將第二頻段訊號FS2的功率放大，以避免第二頻段訊號FS2的功率過小而無法被測量到。
第二雙工器DP2合併第一頻段訊號FS1及功率經放大的第二頻段訊號FS2以產生第二輸出訊號OS2，如第4D圖所示，接著第二輸出訊號OS2經過切換開關SW後傳輸至頻譜分析儀110。
在頻譜分析儀110接收到第二輸出訊號OS2後，可藉由分析主機分析第二輸出訊號OS2的第一頻段F1及第二頻段F2之波形是否出現異常，進而產生第四測試結果。
舉例來說，如第4D圖所示，當第二輸出訊號OS2的第一頻段F1之波形產生裙擺(未繪示)時，或者當第二輸出訊號OS2的第二頻段F2產生諧波(未繪示)時，則表示當待測裝置DUT輸出第一輸出訊號OS1時，第一輸出訊號OS1將會影響到週遭其他電器裝置的運作，因此第四測試結果為「第一輸出訊號OS1異常」；反之，當第二輸出訊號OS2的第一頻段F1之波形未產生裙襬且第二頻段F2無諧波時，則表示當待測裝置DUT輸出第一輸出訊號OS1時，第一輸出訊號OS1不會影響到週遭其他電器裝置的運作，因此第四測試結果為「第一輸出訊號OS1正常」。
此外，第2圖及第3A圖至第3D圖所示之切換開關 SW可用於依據不同的認證項目而進行切換，舉例來說，當在測試待測裝置DUT的接收功率、傳輸功率或抗干擾能力時，切換開關SW僅允許頻譜分析儀110與第三雙工器DP3之間訊號的傳輸；或者，當在測試待測裝置DUT的輸出訊號時，切換開關SW僅允許頻譜分析儀110與第二雙工器DP2之間訊號的傳輸。
綜上所述，本揭示文件之測試系統可藉由將頻譜分析儀、纜線數據機終端系統、第一分流器、第二分流器、雜訊產生裝置、第三分流器、第一雙工器、放大器及第二雙工器等元件而可對待測裝置的接收功率、傳輸功率、抗干擾能力及輸出訊號進行測試，讓測試人員僅需利用本揭示文件之測試系統即可針對多個認證項目進行測試，而無需耗費時間及人力針對不同的認證項目建立不同的測試架構，進而解決習知測試作法的「耗費時間及人力」與「降低儀器接頭之壽命」之缺失。
雖然本案已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本案，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本案之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本案之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

Claims (10)

  1. 一種測試系統，用以測試一待測裝置的接收及傳輸功率，該測試系統包含：一頻譜分析儀；一纜線數據機終端系統(cable modem termination system,CMTS)，用以輸出一第一下行訊號；一第一分流器，耦接該待測裝置、該頻譜分析儀及該纜線數據機終端系統，並用以將該第一下行訊號分流為功率相同的二第二下行訊號，且將該些第二下行訊號分別傳輸至該待測裝置及該頻譜分析儀，藉以使該頻譜分析儀所接收之該第二下行訊號的一參考接收功率，與該待測裝置所接收之該第二下行訊號的一實際接收功率比較，而得到一第一測試結果；以及一第二分流器，耦接該待測裝置、該頻譜分析儀及該纜線數據機終端系統，並用以將該待測裝置所輸出之一第一上行訊號分流為功率相同的二第二上行訊號，且將該些第二上行訊號分別傳輸至該頻譜分析儀及該纜線數據機終端系統，藉以使該頻譜分析儀所接收之該第二上行訊號的一實際傳輸功率，供與該待測裝置所輸出之該第一上行訊號的一參考傳輸功率比較，而得到一第二測試結果。
  2. 如請求項1所述之測試系統，更包含：一功率調整器，耦接該纜線數據機終端系統與該第二分流器，並用以調整自該第二分流器輸出之該第二上行訊號之功率。
  3. 如請求項1所述之測試系統，更包含：一雜訊產生裝置，用以產生一雜訊訊號；以及一第三分流器，耦接該待測裝置與該第一分流器，並用以接收該雜訊訊號，且將該第一分流器所輸出的該第二下行訊號與該雜訊訊號合併並傳輸至該待測裝置，以根據該待測裝置接收到的該第二下行訊號的情況而得到一第三測試結果。
  4. 如請求項3所述之測試系統，其中該雜訊產生裝置包含：一第一雜訊產生器，用以產生一第一雜訊訊號；一第二雜訊產生器，用以產生一第二雜訊訊號；以及一第四分流器，耦接該第一雜訊產生器及該第二雜訊產器，並用以將該第一雜訊訊號及該第二雜訊訊號合併成該雜訊訊號。
  5. 如請求項3所述之測試系統，更包含：一第一雙工器，用以接收自該待測裝置輸出的一第一輸出訊號，其中該第一輸出訊號包含一第一頻段訊號及一第二頻段訊號，該第一雙工器分別輸出該第一頻段訊號及該第二頻段訊號；一放大器，耦接該第一雙工器，並用以放大該第二頻段訊號的功率；以及一第二雙工器，耦接該頻譜分析儀，並用以合併該第一頻段訊號及功率經放大的該第二頻段訊號以產生一第二輸出訊號至該頻譜分析儀，以得到一第四測試結果。
  6. 如請求項1所述之測試系統，更包含：一第三雙工器，耦接該第一分流器及該第二分流器，並用以將來自該第一分流器的該第二下行訊號傳輸至該頻譜分析儀，以及將來自該第二分流器的該第二上行訊號傳輸至該頻譜分析儀；以及一第四雙工器，耦接該第一分流器及該第二分流器，並用以將來自該第一分流器的該第二下行訊號傳輸至該待測裝置，以及將該待測裝置所輸出之該上行訊號傳輸至該第二分流器。
  7. 一種測試系統，用以測試一待測裝置的接收及傳輸功率，該測試系統包含：一頻譜分析儀；一纜線數據機終端系統(cable modem termination system,CMTS)，用以輸出一第一下行訊號；一衰減器，耦接該纜線數據機終端系統，用以衰減該第一下行訊號的功率；一放大器，耦接該衰減器，用以將功率經衰減的該第一下行訊號的功率放大；一第一分流器，耦接該頻譜分析儀與該放大器，並用以將經過該衰減器及該放大器的該第一下行訊號分流為功率相同的二第二下行訊號，且將該些第二下行訊號分別傳輸至該待測裝置及該頻譜分析儀，藉以使該頻譜分析儀所接收之該第二下行訊號的一參考接收功率，與該待測裝置所接收之該第二下行訊號的一實際接收功率比較，而得到一第一測試結果；以及一第二分流器，耦接該頻譜分析儀與該衰減器，並用以將該待測裝置所輸出一第一上行訊號分流為功率相同的二第二上行訊號，且該些第二上行訊號分別傳輸至該頻譜分析儀及該衰減器，藉以使該頻譜分析儀所接收之該第二上行訊號的一實際傳輸功率，與該待測裝置所輸出之該第一上行訊號的一參考傳輸功率比較，而得到一第二測試結果。
  8. 如請求項7所述之測試系統，更包含：一雜訊產生裝置，用以產生一雜訊訊號；以及一第三分流器，耦接該待測裝置與該第一分流器，並用以接收該雜訊訊號，且將該第一分流器所輸出的該第二下行訊號與該雜訊訊號合併並傳輸至該待測裝置，以根據該待測裝置接收到相應的該第二下行訊號的情況而得到一第三測試結果。
  9. 如請求項8所述之測試系統，更包含：一第一雙工器，用以接收自該待測裝置輸出的一第一輸出訊號，其中該第一輸出訊號包含一第一頻段訊號及一第二頻段訊號，該第一雙工器分別輸出該第一頻段訊號及該第二頻段訊號；一放大器，耦接該第一雙工器，並用以放大該第二頻段訊號的功率；以及一第二雙工器，耦接該頻譜分析儀，並用以合併該第一頻段訊號及功率經放大的該第二頻段訊號以產生一第二輸出訊號至該頻譜分析儀，以得到一第四測試結果。
  10. 如請求項7所述之測試系統，更包含：一第三雙工器，耦接該第一分流器及該第二分流器，並用以將來自該第一分流器的該第二下行訊號傳輸至該頻譜分析儀，以及將來自該第二分流器的該第二上行訊號傳輸至該頻譜分析儀；以及一第四雙工器，耦接該第一分流器及該第二分流器，並用以將來自該第一分流器的該第二下行訊號傳輸至該待測裝置，以及將該待測裝置所輸出之該上行訊號傳輸至該第二分流器。
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