TWI635486B - Information recording medium, information regeneration method and information regeneration device - Google Patents

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TWI635486B
TWI635486B TW103100415A TW103100415A TWI635486B TW I635486 B TWI635486 B TW I635486B TW 103100415 A TW103100415 A TW 103100415A TW 103100415 A TW103100415 A TW 103100415A TW I635486 B TWI635486 B TW I635486B
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Abstract

本發明即便於SNR較低之情形時，亦可正確地再生以抖動記錄之資訊。
一種資訊記錄媒體，其呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌，且預先形成連續抖動之溝槽，並於溝槽中記錄資訊，且資訊按每特定數之抖動區間加以劃分，同步標記位於特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個抖動區間內，並確保同步標記與同步標記以外之資料之距離。

Description

資訊記錄媒體、資訊再生方法及資訊再生裝置
本揭示係關於一種例如適用於可記錄之光碟之資訊記錄媒體、資訊再生方法及資訊再生裝置。
先前，使用雷射光記錄資訊或再生記錄資訊之光碟已得以實用化。作為光碟之種類，有再生專用型、可錄式及覆寫型。於可錄式及覆寫型中，為了記錄資訊而必須預先記錄有表示光碟之位置之位址資訊。
作為記錄位址資訊之方法，已知有兩種方法。其中一種係將位址資訊作為預格式化訊坑(preformat pit)記錄之方式。另一種方式係根據位址資訊對相對於槽稱為抖動的形成槽之信號進行調變之方式。記錄預格式化訊坑存在使用戶資料之記錄用區域減少而使光碟之記錄容量減少之問題。抖動方式具有無此種問題之優點。再者，將槽稱為溝槽(groove)，將由溝槽形成之磁軌稱為溝槽磁軌。溝槽被定義為於製造光碟時被雷射光照射之部分，將夾於鄰接之溝槽間之區域稱為岸台(land)，將由岸台形成之磁軌稱為岸台磁軌。
於BD(Blu-ray Disc(註冊商標)，藍光光碟)格式中，將藉由抖動而記錄之位址稱為ADIP(Address In Pregroove，預刻槽位址)字元。於ADIP字元中以特定之順序配置有複數個被稱為ADIP單元之資料單位。於一個ADIP字元中儲存有位址資訊、輔助資料、參考區域、錯誤校正碼等。藉由一個ADIP單元而表現“0”或“1”之1位元或同步 資訊或參考單元或單調單元。1抖動例如係抖動基波(cos(2πft))之1週期。
於包含56抖動之1ADIP單元之前端配置有特定數之抖動之區間之同步標記。於ADIP單元之任一類型中均附加有同步標記。藉由檢測該同步標記而檢測1ADIP單元之前端。例如於專利文獻1中記載有BD格式之ADIP資料之構成及ADIP之解調方法。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2006-12348號公報
於檢測位址之情形時，因傾斜、失焦等干擾而導致信號成分劣化，從而導致位址檢測性能較大程度地劣化。於如先前般對正交運算積分檢測結果進行閾值檢測之情形時，因信號成分之劣化而導致位址檢測性能劣化。尤其是若無法正確地檢測同步標記，則即便對位址碼採用ECC(Error Correcting Code，錯誤校正碼)之結構，位址解碼本身亦變得困難。
因此，本揭示之目的在於提供一種例如適用於同步標記之檢測、且可防止檢測性能相對於信號劣化而劣化之資訊記錄媒體、資訊再生方法及資訊再生裝置。
為了解決上述課題，本揭示係一種資訊記錄媒體，其呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌，且預先形成連續抖動之溝槽，並於溝槽中記錄資訊，且資訊按每特定數之抖動區間加以劃分，同步標記位於特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個抖動區 間內，且確保同步標記與同步標記以外之資料之距離。
本揭示係一種資訊再生方法，其自資訊記錄媒體再生資訊，該資訊記錄媒體係呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌，且預先形成連續抖動之溝槽，並於溝槽中記錄有資訊；且資訊按每特定數之抖動區間加以劃分，且同步標記位於特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個抖動區間內，並與同步標記對應地保持複數個抖動區間之資料，求出經保持之資料與同步標記之圖案之距離，且藉由將距離與閾值進行比較而檢測同步標記。
本揭示係一種資訊再生裝置，其自資訊記錄媒體再生資訊，該資訊記錄媒體係呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌，且預先形成連續抖動之溝槽，並於溝槽中記錄有資訊；且資訊按每特定數之抖動區間加以劃分，且同步標記位於特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個抖動區間內；且該資訊再生裝置包括：保持部，其與同步標記對應地保持複數個抖動區間之資料；運算部，其求出經保持於保持部之資料與同步標記之圖案之距離；及比較部，其將距離與閾值進行比較；且藉由比較部之比較結果而檢測同步標記。
根據本揭示，即便為SN比(Signal Noise ratio，信噪比)較差之信號，亦可確實地檢測如位址之同步標記般的所期望之信號。
1‧‧‧輸入端子
2‧‧‧乘法器
3‧‧‧輸入端子
4‧‧‧積分器
5‧‧‧端子
6、7‧‧‧取樣及保持電路
8、9‧‧‧端子
10、11‧‧‧比較電路
12、13‧‧‧端子
21‧‧‧光碟
22‧‧‧轉軸馬達
23‧‧‧光學磁頭
24‧‧‧雷射驅動部
25‧‧‧記錄資料
26‧‧‧信號檢測部
27‧‧‧再生信號
28‧‧‧伺服錯誤信號
29‧‧‧抖動信號
30‧‧‧伺服電路
31‧‧‧A/D轉換器
32‧‧‧PLL
33‧‧‧解調電路
34‧‧‧同步標記檢測電路
35‧‧‧ADIP解碼器
S0‧‧‧抖動基波
S1‧‧‧調變抖動波形
S2‧‧‧調變抖動波形
S3‧‧‧波形
S4‧‧‧波形
ΣS3‧‧‧積分值
ΣS4‧‧‧積分值
圖1係用以說明BD格式之位址資料之略線圖。
圖2係用以說明BD格式之ADIP單元之略線圖。
圖3係用以說明BD格式之ADIP字元之資料結構之略線圖。
圖4係用以說明MSK調變波形之波形圖。
圖5係先前之解調電路之一例之方塊圖。
圖6A、B係用以說明STW調變方式之波形圖。
圖7A、B係用以說明STW調變方式之波形圖。
圖8係表示使用於本揭示之第1實施形態之說明之ADIP單元之種類的略線圖。
圖9係表示本揭示之第1實施形態之再生裝置之方塊圖。
圖10A、B係用以說明本揭示之第1實施形態之略線圖。
圖11係表示使用於本揭示之第2實施形態之說明之ADIP單元之種類的略線圖。
圖12A、B係用以說明本揭示之第2實施形態之略線圖。
以下所說明之實施形態係本揭示之較佳之具體例，附帶有技術上較佳之各種限定。然而，於以下之說明中，只要未特別記載限定本揭示之內容，則本揭示之範圍不限定於該等實施形態。
以下之說明係按下述順序進行。
<1. BD格式> <2.第1實施形態> <3.第2實施形態> <4.變化例> <1. BD格式>
本揭示可適用於依據BD(Blu-ray Disc(註冊商標))格式之位址資訊之格式。藉此，可利用作為已得以實用化之高密度光碟之BD之大部分技術。因此，於本揭示之說明之前，對BD格式中之位址資訊進 行說明。
如圖1所示，所寫入之主資料係以RUB(Recording Unit Block，記錄單元塊)為單位之序列(RUBn+0、RUBn+1、RUBn+2、RUBn+3、…)。RUB係記錄主資料(記錄再生資料)之單位，被設為特定長度例如64k位元組。每1RUB中分配有3個ADIP(Address In Pregroove)字元ADIP0、ADIP1、ADIP2。ADIP0、ADIP1、ADIP2具有相互相同之位址資訊。
進而，於一個ADIP字元中包含83(單元編號0-82)個ADIP單元。於一個ADIP字元中儲存有24位元之位址資訊、12位元之輔助資料、參考區域、錯誤校正碼等。該等資訊係使用83ADIP單元中之例如60ADIP單元進行表示。
如圖2所示，將合計56個抖動區間塊作為一個ADIP單元，並藉由該ADIP單元而表現“0”或“1”之1位元或同步資訊或參考單元或單調單元。1抖動例如係抖動基波(cos(2πft))之1週期。因此，1ADIP字元包含(83×56)個抖動區間。於圖2中表示有8種ADIP單元(單調單元、參考單元、4種同步單元以及分別表示資料之“0”及“1”之2種資料單元)。再者，由於空間上之制約，於圖2中表示有35個抖動區間塊。
如圖2所示，若對包含56抖動區間之ADIP單元標註0至55之抖動編號而加以區別，則例如抖動編號為0至2之區間等藉由MSK(Minimum Shift Keying，最小相移鍵控)被調變，參考單元及資料單元之抖動編號18至54藉由STW(Saw Tooth Wobble，鋸齒抖動)被調變。未經調變之單調抖動以特定頻率(cos(2πft))之抖動基波進行抖動。
ADIP字元具有如圖3所示之資料結構。圖3中之ADIP單元類型與圖2中之ADIP單元之種類相對應。於一個ADIP字元中包含60 位元之資料。
如圖4所示，MSK調變波形(適當稱為MSK標記)由前後被單調抖動包夾之3個抖動區間構成。即，各抖動區間表示為cos(1.5ωt)、-cos(ωt)、-cos(1.5wt)。由於將前後之抖動區間之頻率設為抖動基波之頻率之1.5倍，因此中心之抖動之波形相對於非MSK部分而言極性反轉。被作為配置於各ADIP單元之前端(第0-2抖動)、用以檢測ADIP單元之前端位置的同步標記使用。
進而，如圖2所示，於資料0之ADIP單元之自前端起第14~16抖動區間之位置配置MSK，於資料1之ADIP單元之自前端起第12~14抖動區間之位置配置MSK。如此，藉由MSK之位置而表示資料之0及1。
於資料0之ADIP單元中，將MSK設為0，並於自前端起第18~55抖動區間配置表示0之STW。於資料1之ADIP單元中，將MSK設為1，並於自前端起第18~55抖動區間配置表示1之STW。
STW方式係藉由對抖動基波(cos(2πft))加上或減去2次諧波(sin(2π2ft))而產生類似於鋸齒之調變波形者。2次諧波之振幅被設為抖動基波之1/4左右之較小者。由於藉由資料之“0”或“1”而選擇加法及減法中之一者，因此調變波形不同。參考單元及資料單元之抖動編號於18~54之區間內重複記錄。
如此使用2種方式之原因在於可彌補各方式之短處。於MSK方式中，由於藉由將ADIP單元之前端之3個抖動進行調變而記錄1位元，因此可用作決定再生時之資料之位置之基準。另一方面，STW方式中，以微小之波形變化，遍及廣範圍地重複記錄，並於再生時將再生信號進行積分而判別“0”或“1”。因此，難以將再生信號用作用以檢測資料之分隔部之資訊。然而，作為局部性記錄方式之MSK方式容易受碟片上之傷痕、污物等所引起之缺陷之影響。STW方式 由於持續更長時間進行記錄，因此具有不易受缺陷之影響之優點。
先前之解調電路設為圖5所示之構成。對輸入端子1供給已自碟片再生之抖動信號。藉由乘法器2乘以抖動信號及來自輸入端子3之載波信號。載波信號係與再生信號同步之信號，於MSK之解調時乘以相同頻率之載波，於STW之解調時乘以2倍之頻率之載波。
乘法器2之輸出信號被供給至積分器4。自端子5對積分器4輸入重設信號，並藉由重設信號而重設積分器4，使積分器4先前儲存之值恢復至初始值例如0。積分器4之輸出信號被供給至取樣及保持電路6及7。
分別自端子8、9對取樣及保持電路6、7供給取樣脈衝。取樣脈衝於MSK及STW之各區間內將抖動信號進行取樣及保持。取樣及保持電路6之輸出信號被供給至比較電路10及11。
自端子12對比較電路10供給基準位準，自端子13對比較電路11供給基準位準。基準位準係自取樣及保持電路6及7之各者輸出的抖動信號之中心之值。比較電路10及11於輸入信號相對於基準位準較大之情形時產生+1之值之輸出，相反，比較電路10及11於輸入信號相對於基準位準較小之情形時產生-1之值之輸出。自比較電路10獲得STW之解調輸出，自比較電路11獲得MSK之解調輸出。例如於如圖4所示之MSK標記之情形時，3個抖動區間中，於中央之抖動區間及其後之抖動區間獲得-1之檢測輸出。
參照圖6及圖7對STW方式之調變抖動信號更詳細地說明。於圖6及圖7中，橫軸表示時間軸，且圖示有抖動基波之1週期(即1抖動區間)，縱軸表示經歸一化之振幅。圖6A表示資料c(n)為“1”之情形時之波形，圖7A表示資料c(n)為“0”之情形時之波形。
於圖6A及圖7A中，虛線所示之波形為抖動基波S0(=cos(2πft))。於c(n)=“1”之情形時，形成藉由對抖動基波S0加上2 倍之頻率之sin信號而調變後之波形S1。即，S1=Acos(2πft)+asin(2π2ft)。設為A>a之關係，例如設為A=1、a=0.2。該調變抖動波形S1係以如下方式被調變後之波形：於時間方向上升(若以碟片之直徑方向而言，則為碟片之外側方向)與抖動基波S0相比較為緩和，下降(若以碟片之直徑方向而言，則為碟片之內側方向)與抖動基波S0相比較為陡峭。
如圖7A所示，於c(n)=“0”之情形時，形成藉由對抖動基波S0減去2倍之頻率之sin信號而調變後之波形S2。即，S2=Acos(2πft)-asin(2π2ft)。該調變抖動波形S2係以如下方式被調變後之波形：於時間方向上升(碟片之外側方向)與抖動基波S0相比較為陡峭，下降(碟片之內側方向)與抖動基波S0相比較為緩和。調變抖動波形S1及S2均係零交叉點與抖動基波為同一相位，從而可容易地提取解調側之時脈。
於圖6A及圖7A中，波形S3及S4之各者表示將解調側之處理(參照圖5)中所使用之頻率為抖動基波之2倍之頻率之sin信號(sin(2π2ft))乘以再生調變抖動信號而得者。即，藉由再生調變抖動波形S1×sin(2π2ft)而獲得波形S3，藉由再生調變抖動波形S2×sin(2π2ft)而獲得波形S4。
於解調側，如圖6B及圖7B分別所示般，藉由遍及1抖動區間地對波形S3及S4之各者進行積分(累計)而獲得積分值ΣS3及ΣS4。已經過1抖動區間之時點之積分值ΣS3成為正值v1。另一方面，已經過1抖動區間之時點之積分值ΣS4成為負值v0。將積分值與抖動信號之中心之基準位準進行比較，例如處理為v1=+1、v0=-1。
由於資料之1位元係以56抖動表示，因此若全部為+1，則獲得+56作為56抖動之積分結果，若全部為-1，則獲得-56作為56抖動之積分結果。對作為各抖動之積分值而求出之再生碼片序列(chip sequence)乘以與記錄時所使用者相同之碼序列，並對其結果進行56抖動積分，基於如此獲得之結果而判別資料之1位元(1/0)(0及1係指邏輯值)。
<2.第1實施形態> 「ADIP單元之構成」
本揭示之第1實施形態係對上述BD格式中之ADIP單元之構成如圖8所示般進行變更而進一步提高信號劣化時之檢測能力者。即，與BD格式一樣，ADIP字元由83個ADIP單元構成，各ADIP單元由56抖動構成。並且，於ADIP字元之各者中包含位址資訊、錯誤校正碼等。各ADIP字元包含(56×83)抖動區間。
如上所述，BD格式中之ADIP單元如圖2所示般存在8種。於本揭示之第1實施形態中，如圖8所示，規定12種ADIP單元之種類。進而，僅採用STW之調變方式。
以如下方式規定一個ADIP單元之56抖動區間。
抖動編號0~抖動編號7：同步標記
抖動編號12~抖動編號19：資料標記A
抖動編號22~抖動編號29：資料標記B
同步標記係於所有ADIP單元之間共用之資料。即，資料1之STW配置於(抖動編號0、1、4、5)，資料0之STW配置於(抖動編號2、3、6、7)。
單調單元係將同步標記以外作為無調變之抖動基波(單調)之資料。
參考單元STW+及STW-之各者除了具有同步標記以外，亦具有下述之資料構成。
參考單元STW+：針對抖動編號32~抖動編號51配置資料1之STW。
參考單元STW-：針對抖動編號32~抖動編號51配置資料0之STW。
同步單元0~同步單元3可藉由資料標記A及資料標記B之構成而區別。
資料0及資料1之各者除了由同步標記規定以外，亦如下述所示般由配置於資料標記A中之STW規定。
資料0：針對抖動編號12~抖動編號15配置資料1之STW，針對抖動編號16~抖動編號19配置資料0之STW。
資料1：針對抖動編號12~抖動編號15配置資料0之STW，針對抖動編號16~抖動編號19配置資料1之STW。
於如先前之BD格式般僅於溝槽中記錄資料之情形時，利用上述資料記錄位址資訊。進而，於對岸台亦進行記錄以提高記錄密度之情形時，為了可再生岸台位址，而規定有STW之相位不同之資料。即，作為資料0，規定抖動編號32~51為1之值之資料0(STW+)及抖動編號32~51為0之值之資料0(STW-)。關於資料1，亦規定抖動編號32~51為1之值之資料1(STW+)及抖動編號32~51為0之值之資料1(STW-)。再者，無論有無抖動編號32~51之區域之STW，資料標記A均被設為於資料0及資料1之各者中共用之STW之資料。
「碟片再生裝置」
關於本揭示之第1實施形態之光碟再生裝置，主要說明位址之再生。如圖9所示，對光碟21記錄資料，並自光碟21再生資料。
光碟21藉由轉軸馬達22而旋轉。於對岸台及溝槽之兩者記錄資料之情形時，較理想為抖動之相位於鄰接磁軌間一致，因此光碟21以固定角速度旋轉。即，光碟21以CAV(Constant Angular Velocity，恆定角速度)方式或分區CAV(Zoned Constant Angular Velocity，分區恆定角速度)方式旋轉。對光學磁頭23供給來自雷射 驅動部24之驅動信號，自光學磁頭23對光碟21照射根據記錄資料25調變強度後之雷射束，從而於基於所再生之位址資訊而決定之光碟21之特定位置記錄資料。
對光碟21照射來自光學磁頭23之讀取雷射束，藉由光學磁頭23內之光偵測器檢測其反射光，並藉由信號檢測部26檢測再生信號。自信號檢測部26提取出再生信號27、聚焦錯誤信號、追蹤錯誤信號等伺服錯誤信號28及抖動信號29。抖動信號29係光檢測元件於磁軌方向上被分割成2部分之檢測器之輸出信號。例如將兩個檢測器之和之信號作為抖動信號29而提取。抖動信號29與抖動波形相對應。
錯誤信號28被供給至伺服電路30。藉由伺服電路30而以角速度固定之方式控制轉軸馬達22之旋轉，並控制光學磁頭23之聚焦及追蹤。
藉由信號檢測部26而檢測到之抖動信號29被供給至A/D(Analogue/Digital，類比/數位)轉換器31，並藉由A/D轉換器31而轉換為數位信號。A/D轉換器31之輸出信號被供給至數位PLL(Phase Locked Loop，鎖相迴路)32及解調電路33。自PLL32輸出與再生信號同步之時脈。將時脈作為再生時之處理之時序之基準。自PLL32對解調電路33供給時脈。
解調電路33將STW信號進行解調。經解調之STW信號被供給至同步標記檢測電路34。藉由同步標記檢測電路34而檢測各ADIP單元之前端之同步標記。同步標記之檢測信號及資料被供給至ADIP解碼器35。ADIP解碼器35將記錄於每個ADIP字元中之位址資料等進行解碼，並進行錯誤校正。
於解調電路33中，如上所述，將頻率為抖動基波之2倍之頻率之sin信號(sin(2π2ft))乘以再生之STW信號(抖動信號)。將乘法運算 結果於1抖動區間內積分。資料為1之情形時之STW信號之積分結果為+1，資料為0之情形時之STW信號之積分結果為-1，單調信號之積分結果為0。於同步標記檢測電路34中，計算再生之STW信號之連續之8個值之圖案與已知之同步標記之圖案之間的度量(metric)，於所求出之度量為特定值以下之情形時，將再生之該STW信號檢測為同步標記。再者，度量之用語係以歐幾裏得距離之意義加以使用。雖然歐幾裏得距離係兩個值之差之平方和之平方根，但由於進行平方根之運算處理之電路、軟體較為複雜，因此於本揭示中，係將差之平方和之平方距離用作度量。
於圖8所示之ADIP單元之資料結構中，同步標記表示為{+1、+1、-1、-1、+1、+1、-1、-1}。圖10A係模式性地表示對同步標記重疊有雜訊之狀況。進而，表示有雜訊之分散。先前之同步標記之檢測方法係以中心之0之值為基準而判別+1及-1者。即，將超過+0.5之值判定為+1，將小於-0.5之值判定為-1。
另一方面，於本揭示之第1實施形態中，同步標記之圖案相對於其他圖案至少相隔最小距離8。即，如下式所示，對度量進行運算，若為小於(8/2=4)之度量，則判定為同步標記。
Lsync=(y0-1)2+(y1-1)2+(y2-(-1))2+(y3-(-1))2+(y4-1)2+(y5-1)2+(y6-(-1))2+(y7-(-1))2<8/2=4
例如包含抖動基波之單調係表示為{0、0、0、0、0、0、0、0}。因此，單調與同步標記之平方距離為8。該平方距離最小。
先前之同步標記之檢測方法係藉由閾值0.5所對應之雜訊分散而判定同步標記。本揭示之第1實施形態係對度量進行運算，如圖10B所示，藉由(√8/2=√2)所對應之雜訊分散而判定同步標記。因此，與先前之檢測方法相比，√2/0.5=2√2=約9dB，相對於雜訊而言變強。進而，由於第1實施形態僅使用有STW之調變方式，因此具 有如下優點，即，不會產生如使用頻率變化之MSK之情形般難以鎖定PLL之問題。
如上所述，於檢測到同步標記之後，進行資料標記之檢測處理。同步標記存在與8抖動區間之所有圖案進行比較之可能性，但資料標記之檢測係於同步標記之檢測之後進行，因此獲知ADIP單元內之資料標記之抖動編號。即，於第1實施形態中，於抖動編號12~19及抖動編號22~29之各者中，進行資料標記A及資料標記B之檢測。於資料標記之檢測時，亦保證8作為資料標記間之最小平方距離。該情形時之閾值為(8/2=4)，各資料標記可藉由下式檢測。
Ldata0=(y0-1)2+(y1-1)2+(y2-1)2+(y3-1)2+(y4-(-1))2+(y5-(-1))2+(y6-(-1))2+(y7-(-1))2<8/2=4
Ldata1=(y0-(-1))2+(y1-(-1))2+(y2-(-1))2+(y3-(-1))2+(y4-1)2+(y5-1)2+(y6-1)2+(y7-1)2<8/2=4
於可檢測出上式之Ldata0時，判定為資料0，於無法檢測出Ldata0時，判定是否可檢測出上式之Ldata1，於可檢測出時，判定為資料1。於Ldata0及Ldata1均無法檢測出時，判定為抖動基波。
<3.第2實施形態> 「ADIP單元之構成」
本揭示之第2實施形態係將上述BD格式中之ADIP單元之構成如圖11所示般進行變更而進一步提高信號劣化時之檢測能力者。
即，與BD格式一樣，ADIP字元由83個ADIP單元構成，各ADIP單元由56抖動區間構成。並且，於各ADIP字元中包含位址資訊、錯誤校正碼等。各ADIP字元包含(56×83)抖動區間。
如上所述，BD格式中之ADIP單元如圖2所示般存在8種。於本揭示之第2實施形態中，與第1實施形態一樣，如圖11所示般規定12種ADIP單元之種類。進而，MSK調變方式與STW調變方式 混合存在。
以如下方式規定一個ADIP單元之56抖動區間。
抖動編號0~抖動編號5：使用MSK之同步標記
抖動編號12~抖動編號19：使用MSK之資料標記A
抖動編號22~抖動編號29：使用MSK之資料標記B
同步標記係於所有ADIP單元之間共用之資料。即，對6個抖動區間配置2個MSK標記。
單調單元係將同步標記以外作為無調變之抖動基波(單調)之資料。
參考單元STW+及STW-之各者除了具有同步標記以外，亦具有下述之資料構成。
參考單元STW+：針對抖動編號32~抖動編號51配置資料1之STW。
參考單元STW-：針對抖動編號32~抖動編號51配置資料0之STW。
同步單元0~同步單元3可藉由資料標記A及資料標記B之MSK之配置而加以區別。
資料0及資料1之各者除了由同步標記規定以外，亦如下述所示般由配置於資料標記A中之STW規定。
資料0：針對抖動編號12~抖動編號14配置MSK之標記。
資料1：針對抖動編號17~抖動編號19配置MSK之標記。
於如先前之BD格式般僅於溝槽中記錄資料之情形時，利用上述資料記錄位址資訊。進而，於對岸台亦進行記錄以提高記錄密度之情形時，為了可再生岸台位址，而規定有STW之相位不同之資料。即，作為資料0，規定抖動編號32~51為1之值之資料0(STW+)及抖動編號32~51為0之值之資料0(STW-)。關於資料1，亦規定抖動 編號32~51為1之值之資料1(STW+)及抖動編號32~51為0之值之資料1(STW-)。再者，無論有無抖動編號32~51之區域之STW，資料標記A及資料標記B均被設為包含於資料0及資料1之各者中共用之MSK標記之資料。
關於MSK之解調方法之一例，首先，對MSK標記分為2個週期地乘以抖動頻率之抖動基波，並對乘法運算結果進行積分。若將偶數週期與奇數週期之兩個結果歸一化則變為{+1、-1、-1}。於單調區域中始終產生+1以上之正值。由於MSK係+1/-1之2值檢測，因此如圖12A所示，閾值為1。
另一方面，於本揭示之第2實施形態中，同步標記之圖案相對於其他圖案至少相隔最小距離8。即，如下式所示，對度量進行運算，若為小於(22×4=16/2=8)之度量，則判定為同步標記。
Lsync=(y0-1)2+(y1-(-1))2+(y2-(-1))2+(y3-1)2+(y4-(-1))2+(y5-(-1))2<16/2=8
例如包含抖動基波之單調表示為{+1、+1、+1、+1、+1、+1}。單調與同步標記之平方距離為(1-1)2+(1-(-1))2+(1-(-1))2+(1-1)2+(1-(-1))2+(1-(-1))2=16。因此，不將單調判定為同步標記。該例為最短距離。
先前之同步標記檢測方法係藉由閾值1所對應之雜訊分散而判定同步標記。本揭示之第2實施形態係藉由對度量進行運算，如圖12B所示，藉由(√16/2=2)所對應之雜訊分散而判定同步標記。因此，與先前之檢測方法相比為6dB，相對於雜訊而言變強。
如上所述，於檢測到同步標記之後進行資料標記之檢測處理。同步標記存在與所有圖案進行比較之可能性，但資料標記之檢測係於同步標記之檢測之後進行，因此獲知ADIP單元內之資料標記之抖動編號。即，與第1實施形態一樣，於抖動編號12~19及抖動編號22 ~29之各者中進行資料標記A及資料標記B之檢測。rmw(>1)係抖動基波之積分值。於資料標記之檢測時，亦保證8作為資料標記間之最小平方距離。該情形時之閾值為8/2=4，各資料標記可藉由下式檢測。
Ldata0=(y0-1)2+(y1-(-1))2+(y2-(-1))2+(y5-rmw)2+(y6-rmw)2+(y7-rmw)2<8/2=4
Ldata1=(y0-rmw)2+(y1-rmw)2+(y2-rmw)2+(y5-1)2+(y 6-(-1))2+(y7-(-1))2<8/2=4
於可檢測出上式之Ldata0時，判定為資料0，於無法檢測出Ldata0時，判定是否可檢測出上式之Ldata1，於可檢測出時，判定為資料1。於Ldata0及Ldata1均無法檢測出時，判定為抖動基波。
<4.變化例>
以上，對本揭示之實施形態進行了具體說明，但並不限定於上述各實施形態，可進行基於本揭示之技術思想之各種變化。例如，於上述實施形態中列舉之構成、方法、步驟、形狀、材料及數值等僅為示例，亦可視需要使用不同於其之構成、方法、步驟、形狀、材料及數值等。例如作為同步標記，並不限於使用連續之8個抖動編號之構成，可進行使用其他數之抖動編號，或者使抖動基波介於同步標記間等各種變化。於將MSK標記用作同步標記之情形時，亦可使用不同數之MSK標記。
再者，本揭示亦可採取如下構成。
(1)
一種資訊記錄媒體，其呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌，且預先形成連續抖動之溝槽，並於上述溝槽中記錄資訊，上述資訊按每特定數之抖動區間加以劃分，同步標記位於上述特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個抖 動區間內，且確保上述同步標記與上述同步標記以外之資料之距離。
(2)
如(1)之資訊記錄媒體，其中於上述特定數之抖動區間內包含表示數位資料之資料標記，且確保上述資料標記與上述資料標記以外之資料之距離。
(3)
如(1)或(2)中任一項之資訊記錄媒體，其中上述距離係資料之差之平方和。
(4)
如(1)、(2)或(3)中任一項之資訊記錄媒體，其中於上述距離小於閾值之情形時，檢測為上述同步標記。
(5)
如(1)、(2)、(3)或(4)中任一項之資訊記錄媒體，其中上述同步標記為包含複數個抖動區間之STW調變方式之調變信號。
(6)
如(5)之資訊記錄媒體，其中於上述特定數之抖動區間內包含表示數位資料之資料標記，確保上述資料標記與資料標記以外之資料之距離，且上述資料標記為包含複數個抖動區間之STW調變方式之調變信號。
(7)
如(1)、(2)、(3)或(4)中任一項之資訊記錄媒體，其中上述同步標記為包含複數個抖動區間之MSK調變方式之調變信號。
(8)
如(7)之資訊記錄媒體，其中於上述特定數之抖動區間內包含表 示數位資料之資料標記，確保上述資料標記與資料標記以外之資料之距離，且上述資料標記為包含複數個抖動區間之MSK調變方式之調變信號。
(9)
如(1)、(2)、(3)、(4)、(5)或(7)中任一項之資訊記錄媒體，其設為於上述溝槽及鄰接於上述溝槽之岸台中記錄資訊。
(10)
一種資訊再生方法，其自資訊記錄媒體再生上述資訊，該資訊記錄媒體係呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌，且預先形成連續抖動之溝槽，並於上述溝槽中記錄有資訊；且上述資訊按每特定數之抖動區間加以劃分，並且同步標記位於上述特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個上述抖動區間內，與上述同步標記對應地保持複數個上述抖動區間之資料，求出經保持之資料與上述同步標記之圖案之距離，並藉由將上述距離與閾值進行比較而檢測上述同步標記。
(11)
一種資訊再生裝置，其自資訊記錄媒體再生上述資訊，該資訊記錄媒體係呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌，且預先形成連續抖動之溝槽，並於上述溝槽中記錄有資訊；且上述資訊按每特定數之抖動區間加以劃分，並且同步標記位於上述特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個上述抖動區間內；且該資訊再生裝置包括：保持部，其與上述同步標記對應地保持複數個上述抖動區間之資料；運算部，其求出被保持於上述保持部之資料與上述同步標記之 圖案之距離；及比較部，其將上述距離與閾值進行比較；且藉由上述比較部之比較結果而檢測上述同步標記。

Claims (10)

  1. 一種資訊記錄媒體，其呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌；且預先形成連續抖動之溝槽，並於上述溝槽中記錄資訊；上述資訊按每特定數之抖動區間加以劃分；同步標記位於上述特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個抖動區間內；確保上述同步標記與上述同步標記以外之資料之距離；且上述距離係資料之差之平方和。
  2. 如請求項1之資訊記錄媒體，其中於上述特定數之抖動區間內包含表示數位資料之資料標記；且確保上述資料標記與上述資料標記以外之資料之距離。
  3. 一種資訊記錄媒體，其呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌；且預先形成連續抖動之溝槽，並於上述溝槽中記錄資訊；上述資訊按每特定數之抖動區間加以劃分；同步標記位於上述特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個抖動區間內；確保上述同步標記與上述同步標記以外之資料之距離；且於上述距離小於閾值之情形時，檢測為上述同步標記。
  4. 一種資訊記錄媒體，其呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌；且預先形成連續抖動之溝槽，並於上述溝槽中記錄資訊；上述資訊按每特定數之抖動區間加以劃分；同步標記位於上述特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個抖動區間內；確保上述同步標記與上述同步標記以外之資料之距離；且上述同步標記為包含複數個抖動區間之STW調變方式之調變 信號。
  5. 如請求項4之資訊記錄媒體，其中於上述特定數之抖動區間內包含表示數位資料之資料標記；確保上述資料標記與資料標記以外之資料之距離；且上述資料標記為包含複數個抖動區間之STW調變方式之調變信號。
  6. 一種資訊記錄媒體，其呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌；且預先形成連續抖動之溝槽，並於上述溝槽中記錄資訊；上述資訊按每特定數之抖動區間加以劃分；同步標記位於上述特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個抖動區間內；確保上述同步標記與上述同步標記以外之資料之距離；且上述同步標記為包含複數個抖動區間之MSK調變方式之調變信號。
  7. 如請求項6之資訊記錄媒體，其中於上述特定數之抖動區間內包含表示數位資料之資料標記；確保上述資料標記與資料標記以外之資料之距離；且上述資料標記為包含複數個抖動區間之MSK調變方式之調變信號。
  8. 一種資訊記錄媒體，其呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌；且預先形成連續抖動之溝槽，並於上述溝槽中記錄資訊；上述資訊按每特定數之抖動區間加以劃分；同步標記位於上述特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個抖動區間內；確保上述同步標記與上述同步標記以外之資料之距離；且上述資訊記錄媒體設為於上述溝槽及鄰接於上述溝槽之岸台 (LAND)記錄資訊。
  9. 一種資訊再生方法，其自資訊記錄媒體再生資訊，該資訊記錄媒體係呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌，且預先形成連續抖動之溝槽，並於上述溝槽中記錄有上述資訊；且上述資訊按每特定數之抖動區間加以劃分，且同步標記位於上述特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個上述抖動區間內；與上述同步標記對應地保持複數個上述抖動區間之資料；求出經保持之資料與上述同步標記之圖案之距離；藉由將上述距離與閾值進行比較而檢測上述同步標記。
  10. 一種資訊再生裝置，其自資訊記錄媒體再生資訊，該資訊記錄媒體係呈同心圓狀或螺旋狀形成資訊磁軌，且預先形成連續抖動之溝槽，並於上述溝槽中記錄有上述資訊；且上述資訊按每特定數之抖動區間加以劃分，且同步標記位於上述特定數之抖動區間之分隔部附近的複數個上述抖動區間內；且該資訊再生裝置包括：保持部，其與上述同步標記對應地保持複數個上述抖動區間之資料；運算部，其求出經保持於上述保持部之資料與上述同步標記之圖案之距離；及比較部，其將上述距離與閾值進行比較；且藉由上述比較部之比較結果而檢測上述同步標記。
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