TWI632340B - 放大位移倍率之光學量測系統、放大位移倍率之光學量測裝置及其量測方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種放大位移倍率之光學量測裝置，其包含架座、移動抵靠件、多個靜態光學感測件及動態光學感測件，架座包含定位槽。移動抵靠件樞接於架座上且對應定位槽，待測物夾抵於移動抵靠件與定位槽之間。靜態光學感測件設於架座上。動態光學感測件設於移動抵靠件上，動態光學感測件與靜態光學感測件相隔光學感測間距。動態光學感測件受移動抵靠件連動而沿弧形軌跡位移，致使光學感測間距改變，且光學感測間距之改變程度大於徑長之改變程度。藉此，利用弧形位移的特殊結構使不同待測物之徑長差異得以放大，進而大幅提高量測的準確度。

Description

放大位移倍率之光學量測系統、放大 位移倍率之光學量測裝置及其量測方法

本發明是關於一種光學量測系統、光學量測裝置及其量測方法，特別是關於一種放大位移倍率之光學量測系統、放大位移倍率之光學量測裝置及其量測方法。

光學量測裝置以及光學量測系統已經廣泛地應用在各種外科手術中，如神經外科、脊椎神經外科，同時也用於胸腹部、組織活檢穿刺等微創手術。光學量測裝置以及光學量測系統能夠通過光學感測機制讓顯示裝置呈現實際空間的相對位置標記，通過對實際空間中手術器械的即時追蹤，以獲得手術器械在圖像空間的三維座標，進而輔助醫生進行精確地手術操作或量測。

目前市面上有一種習知的光學量測裝置，其利用等距量測之概念來量測手術器械或相關手術物件的長度規 格，此種結構雖然可以量測不同規格的手術器械或相關手術物件，但在量測微小距離差異的長度時，往往準確度不足，而且容易發生顯示裝置之畫面所顯示的物件位置與實際空間中的物件位置彼此間有誤差的現象。再者，目前手術器械的種類繁多，因手術用途不同而有不同的規格，而且不同廠家生產的手術器械規格也不一致，其差異主要體現在器械的徑長與軸長。由於目前還沒有一種通用的模塊或方法能夠對不同規格的手術器械進行快速方便地量測，因此量測時仍有許多不便之處。此外，傳統的光學量測裝置大多由金屬製成，其具有一定的重量與體積，進而造成醫療人員的操作負擔。

由此可知，目前市場上缺乏一種可準確量測、方便操作、輕量而且可以量測徑長與軸長的光學量測系統、光學量測裝置及其量測方法，故相關業者均在尋求其解決之道。

因此，本發明之目的在於提供一種放大位移倍率之光學量測系統、放大位移倍率之光學量測裝置及其量測方法，其利用弧形位移的移動抵靠件連動動態光學感測件，可以使不同待測物之徑長差異得以放大，進而大幅地提高量測的準確度，以解決傳統等距量測裝置量測微小距離差異之準確度不足的問題。

依據本發明的結構態樣之一實施方式提供一種放大位移倍率之光學量測裝置，其用以量測待測物之徑長。此 放大位移倍率之光學量測裝置包含一架座、一移動抵靠件、複數個靜態光學感測件以及一動態光學感測件，其中架座包含一定位槽。移動抵靠件樞接於架座上且對應定位槽，待測物夾抵於移動抵靠件與定位槽之間。再者，複數個靜態光學感測件設於架座上。而動態光學感測件則設於移動抵靠件上，且動態光學感測件與其中一個靜態光學感測件相隔一光學感測間距。此動態光學感測件受移動抵靠件連動而沿一弧形軌跡位移，致使光學感測間距改變，且光學感測間距之改變程度大於徑長之改變程度。

藉此，本發明的放大位移倍率之光學量測裝置的結構相當簡單，而且操作方便，因此非常適合於手術器械的量測需求。此外，放大位移倍率之光學量測裝置可利用醫療級塑料製造而成，比起傳統的金屬校正塊或金屬量測裝置輕量許多而且體積相對較小，可大幅降低醫療人員的操作負擔。

前述實施方式之其他實施例如下：前述架座可包含一座體與一動態參考框架，其中座體具有一底端與一頂端，定位槽凹陷開設於座體，底端樞接移動抵靠件。而動態參考框架則連接頂端且具有複數個光球定位端，各靜態光學感測件分別定位於各光球定位端上。再者，前述定位槽可包含二個抵靠斜面，這二個抵靠斜面呈V形配置且彼此相交於一交界處。待測物與交界處相隔一間隙，定位槽具有一定位深度，此定位深度小於等於徑長與間隙之總和。另外，前述二個抵靠斜面彼此相交一角度，此角度大於等於80度且小於 等於100度。前述架座可包含一阻擋件，此阻擋件凸設座體且連接定位槽，阻擋件抵頂待測物之前端，藉以阻止待測物沿定位槽之延伸方向位移。此外，前述座體之底端可設有二凸耳，各凸耳包含一孔洞。移動抵靠件包含一軸桿、一樞接部以及一光球定位部，其中軸桿穿設於二孔洞。軸桿銜接於二凸耳與樞接部之間。光球定位部一體連接樞接部，動態光學感測件定位於光球定位部上。再者，前述座體可具有一扶持面，此扶持面呈弧狀且與定位槽相對，扶持面位於底端與頂端之間。

依據本發明的結構態樣之另一實施方式提供一種放大位移倍率之光學量測系統，其用以量測待測物之徑長與軸長。放大位移倍率之光學量測系統包含放大位移倍率之光學量測裝置、光學追蹤器以及軸向光學量測裝置，其中放大位移倍率之光學量測裝置包含一架座、一移動抵靠件、複數個靜態光學感測件以及一動態光學感測件。架座包含定位槽。移動抵靠件樞接於架座上且對應定位槽，待測物夾抵於移動抵靠件與定位槽之間。此外，複數個靜態光學感測件設於架座上，而動態光學感測件則設於移動抵靠件上。動態光學感測件與其中一個靜態光學感測件相隔一光學感測間距，動態光學感測件受移動抵靠件連動而沿一弧形軌跡位移，致使光學感測間距改變，且光學感測間距之改變程度大於徑長之改變程度。再者，光學追蹤器感應靜態光學感測件及動態光學感測件以辨識待測物之徑長。至於軸向光學量測裝置則包含一握持本體與一光學感測器，其中握持本體可拆卸地連 接待測物。光學感測器設於握持本體上，光學感測器受光學追蹤器感應以辨識待測物之軸長。

藉此，本發明的放大位移倍率之光學量測系統既可量測徑長，亦可量測軸長，對於醫療人員來說相當地便利。

前述實施方式之其他實施例如下：前述架座可包含一座體與一動態參考框架，其中座體具有一底端與一頂端，定位槽凹陷開設於座體，底端樞接移動抵靠件。動態參考框架連接頂端且具有複數個光球定位端，各靜態光學感測件分別定位於各光球定位端上。另外，前述定位槽可包含二個抵靠斜面，此二個抵靠斜面呈V形配置且彼此相交於一交界處。待測物與交界處相隔一間隙，定位槽具有一定位深度，定位深度小於等於徑長與間隙之總和。前述二個抵靠斜面彼此相交一角度，此角度大於等於80度且小於等於100度。再者，前述架座可包含一阻擋件，此阻擋件凸設座體且連接定位槽，阻擋件抵頂待測物之前端，藉以阻止待測物沿定位槽之延伸方向位移。此外，前述座體之底端可設有二個凸耳，各凸耳包含一孔洞。移動抵靠件包含一軸桿、一樞接部以及一光球定位部，其中軸桿穿設於二孔洞。軸桿銜接於二凸耳與樞接部之間。光球定位部則一體連接樞接部，動態光學感測件定位於光球定位部上。另外，前述座體可具有一扶持面，此扶持面呈弧狀且與定位槽相對，扶持面位於底端與頂端之間。

依據本發明的方法態樣之一實施方式提供一種放大位移倍率之光學量測裝置的量測方法，其用以量測待測物之徑長。此量測方法包含一待測物裝設步驟與一徑向光學感測步驟，其中待測物裝設步驟係將待測物裝設於移動抵靠件與定位槽之間，使待測物緊密抵接移動抵靠件與定位槽。而徑向光學感測步驟係驅動一光學追蹤器感應靜態光學感測件及動態光學感測件以辨識待測物之徑長。

藉此，本發明之量測方法利用弧形位移的移動抵靠件連動動態光學感測件，可以使不同待測物之徑長的差異得以放大，進而能夠更精準地量測。

前述實施方式之實施例如下：前述放大位移倍率之光學量測裝置的量測方法可包含一軸向光學感測步驟，此軸向光學感測步驟係驅動光學追蹤器感應軸向光學量測裝置之光學感測器以辨識待測物之軸長。

100、100a‧‧‧放大位移倍率之光學量測裝置

110‧‧‧待測物

112‧‧‧前端

114‧‧‧尾端

200、200a‧‧‧架座

210‧‧‧定位槽

212‧‧‧抵靠斜面

214‧‧‧交界處

220‧‧‧座體

222‧‧‧頂端

224‧‧‧底端

226‧‧‧扶持面

228‧‧‧凸耳

2282‧‧‧孔洞

230‧‧‧動態參考框架

240‧‧‧阻擋件

300‧‧‧移動抵靠件

310‧‧‧軸桿

320‧‧‧樞接部

700‧‧‧光學追蹤器

800‧‧‧軸向光學量測裝置

810‧‧‧握持本體

820‧‧‧光學感測器

900‧‧‧顯示裝置

1000、1000a‧‧‧量測方法

S12、S22‧‧‧待測物裝設步驟

S14、S24‧‧‧徑向光學感測步驟

S26‧‧‧軸向光學感測步驟

PD‧‧‧定位深度

θ‧‧‧角度

D1‧‧‧第一徑長

L1‧‧‧第一間距值

D2‧‧‧第二徑長

L2‧‧‧第二間距值

322‧‧‧樞接端

330‧‧‧光球定位部

400‧‧‧靜態光學感測件

500‧‧‧動態光學感測件

600‧‧‧放大位移倍率之光學量測系統

第1圖係繪示本發明一實施例之放大位移倍率之光學量測裝置的立體示意圖。

第2圖係繪示第1圖之放大位移倍率之光學量測裝置的分解圖。

第3A圖係繪示第1圖之放大位移倍率之光學量測裝置量測一待測物的側視圖。

第3B圖係繪示第1圖之放大位移倍率之光學量測裝置量測另一待測物的側視圖。

第4圖係繪示本發明另一實施例之放大位移倍率之光學量測裝置的立體示意圖。

第5圖係繪示第4圖之放大位移倍率之光學量測裝置的分解圖。

第6圖係繪示本發明一實施例之放大位移倍率之光學量測系統的立體示意圖。

第7圖係繪示本發明一實施例的放大位移倍率之光學量測裝置的量測方法之流程示意圖。

第8圖係繪示本發明另一實施例的放大位移倍率之光學量測裝置的量測方法之流程示意圖。

以下將參照圖式說明本發明之複數個實施例。為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而，應瞭解到，這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說，在本發明部分實施例中，這些實務上的細節是非必要的。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之；並且重複之元件將可能使用相同的編號表示之。

請一併參閱第1、2、3A及3B圖，第1圖係繪示本發明一實施例之放大位移倍率之光學量測裝置100的立體示意圖。第2圖係繪示第1圖之放大位移倍率之光學量測 裝置100的分解圖。第3A圖係繪示第1圖之放大位移倍率之光學量測裝置100量測待測物110的側視圖。第3B圖係繪示第1圖之放大位移倍率之光學量測裝置100量測另一待測物110的側視圖。如圖所示，放大位移倍率之光學量測裝置100用以量測待測物110之徑長，且放大位移倍率之光學量測裝置100包含一個架座200、一個移動抵靠件300、三個靜態光學感測件400以及一個動態光學感測件500。

架座200用以固定待測物110並供操作者扶持與抓握。詳細地說，架座200包含定位槽210、座體220以及動態參考框架230(Dynamic Reference Frame；DRF)。其中定位槽210包含二個抵靠斜面212，此二個抵靠斜面212呈V形配置且彼此相交於一交界處214。待測物110與交界處214相隔一間隙，定位槽210具有一定位深度PD，此定位深度PD小於等於徑長與間隙之總和。而本實施例之待測物110為圓柱形之骨釘，一般骨釘的徑長為4mm至8mm。此外，二個抵靠斜面212彼此相交一角度θ，角度θ大於等於80度且小於等於100度。本實施例之角度θ為90度，此種V形結構可以讓定位槽210置放圓形、弧形或矩形的待測物110而定位。再者，座體220具有頂端222、底端224以及扶持面226，定位槽210凹陷開設於座體220。頂端222連接動態參考框架230，而底端224則樞接移動抵靠件300。扶持面226呈弧狀且與定位槽210相對，且扶持面226位於頂端222與底端224之間。座體220之底端224設有二凸耳228，各凸耳228包含一孔洞2282，且凸耳228用 以樞接移動抵靠件300。另外，動態參考框架230具有三個光球定位端，且光球定位端係用以定位靜態光學感測件400。

移動抵靠件300樞接於架座200上且對應定位槽210，待測物110夾抵於移動抵靠件300與定位槽210之間。詳細地說，移動抵靠件300包含軸桿310、樞接部320以及光球定位部330，其中軸桿310穿設於二孔洞2282之間。軸桿310銜接於二個凸耳228與樞接部320的樞接端322之間，軸桿310貫穿樞接端322的穿孔。而光球定位部330則一體連接樞接部320，動態光學感測件500定位於光球定位部330上。此外，座體220的頂端222邊緣與移動抵靠件300相隔一開口間距，而移動抵靠件300的樞轉會直接影響開口間距的大小。

靜態光學感測件400設於架座200上，詳細地說，三個靜態光學感測件400分別定位於動態參考框架230的三個光球定位端上。本實施例的靜態光學感測件400為反光球，透過反光球的設置，可以讓光學追蹤器700即時辨識與追蹤。當然，靜態光學感測件400的數量可以改變以符合各種應用之需求，例如：四個靜態光學感測件400。

動態光學感測件500設於移動抵靠件300上，且動態光學感測件500與其中一個靜態光學感測件400相隔一光學感測間距。動態光學感測件500受移動抵靠件300連動而沿一弧形軌跡位移，致使光學感測間距改變。也就是說，動態光學感測件500的弧形軌跡是以軸桿310之位置為 圓心所畫出的局部圓弧。當動態光學感測件500跟著移動抵靠件300一起位移時，動態光學感測件500與每一個靜態光學感測件400的直線間隔距離均會隨著改變。此外，光學感測間距之改變程度大於待測物110的徑長改變程度，而且開口間距之改變程度亦大於待測物110的徑長改變程度。舉例來說，若待測物110具有第一徑長D1，則待測物110可透過架座200的定位槽210與移動抵靠件300夾抵而使開口間距等於第一間距值L1；若待測物110具有第二徑長D2，此第二徑長D2大於第一徑長D1，則待測物110可透過架座200的定位槽210與移動抵靠件300夾抵而使開口間距等於第二間距值L2。第二間距值L2大於第一間距值L1，且第二間距值L2減去第一間距值L1的剩餘值大於第二徑長D2減去第一徑長D1的剩餘值。上述即代表「放大位移倍率」。再者值得一提的是，移動抵靠件300與架座200之間具有一夾角，此夾角與開口間距為正相關。換句話說，若夾角越大，則開口間距越大；相反地，若夾角越小，則開口間距越小。藉此，本發明的放大位移倍率之光學量測裝置100利用弧形位移的移動抵靠件300連動動態光學感測件500，可以使不同待測物110之徑長的差異得以放大，進而能夠更精準地量測。此外，由於結構相當簡單，而且操作方便，因此非常適合於手術器械的量測需求。另外，放大位移倍率之光學量測裝置100可利用醫療級塑料製造而成，比起傳統的金屬校正塊或金屬量測裝置輕量許多且體積相對較小，可大幅降低醫療人員的操作負擔。

請一併參閱第2、4及5圖，第4圖係繪示本發明另一實施例之放大位移倍率之光學量測裝置100a的立體示意圖。第5圖係繪示第4圖之放大位移倍率之光學量測裝置100a的分解圖。如圖所示，放大位移倍率之光學量測裝置100a包含一個架座200a、一個移動抵靠件300、三個靜態光學感測件400以及一個動態光學感測件500。

在第4、5圖的實施例中，移動抵靠件300、靜態光學感測件400以及動態光學感測件500分別與第2圖中的移動抵靠件300、靜態光學感測件400以及動態光學感測件500相同，不再贅述。特別的是，第4、5圖實施例之放大位移倍率之光學量測裝置100a更包含架座200a，架座200a包含定位槽210、座體220、動態參考框架230以及阻擋件240，此架座200a與第2圖中架座200的差異在於多了一個阻擋件240。阻擋件240凸設於座體220且連接定位槽210，且阻擋件240封住定位槽210的一端出口。當待測物110放入定位槽210時，阻擋件240抵頂待測物110之前端112，藉以阻止待測物110沿定位槽210之延伸方向位移。本實施例之阻擋件240一體連接座體220，且待測物110為圓柱形之骨釘，因此阻擋件240可以抵頂骨釘的尖端而使待測物110定位，可避免待測物110量測時的前後滑移，進而增加操作的方便性與效率。

請一併參閱第4、5及6圖，第6圖係繪示本發明一實施例之放大位移倍率之光學量測系統600的立體示意圖。放大位移倍率之光學量測系統600用以量測待測物110 之徑長與軸長，且放大位移倍率之光學量測系統600包含放大位移倍率之光學量測裝置100a、光學追蹤器700、軸向光學量測裝置800以及顯示裝置900。

放大位移倍率之光學量測裝置100a與第5圖的放大位移倍率之光學量測裝置100a結構相同，不再贅述。光學追蹤器700感應放大位移倍率之光學量測裝置100a的三個靜態光學感測件400以及一個動態光學感測件500，以辨識待測物110之徑長。而軸向光學量測裝置800包含握持本體810與光學感測器820，其中握持本體810可拆卸地連接待測物110的尾端114。光學感測器820設於握持本體810上，光學感測器820包含四個光學感測件及一個動態參考框架，這四個光學感測件固定於動態參考框架上，而動態參考框架則連接於光學感測件與握持本體810之間。光學感測器820受光學追蹤器700感應，且光學感測器820結合放大位移倍率之光學量測裝置100a的靜態光學感測件400及動態光學感測件500可讓光學追蹤器700得知待測物110之前端112與尾端114的精確位置，故可辨識待測物110之軸長。至於顯示裝置900則訊號連接光學追蹤器700並顯示待測物110的徑長與軸長給操作者(即醫療人員)觀看。另外值得一提的是，在量測的過程中，操作者的一手須抓握軸向光學量測裝置800，另一手須扶持放大位移倍率之光學量測裝置100a的扶持面226、阻擋件240及移動抵靠件300，而且須同時將光學感測器820的光學感測件以及放大位移倍率之光學量測裝置100a的靜態光學感測件400及動態光學感測件500 朝向且對準光學追蹤器700，才能使光學追蹤器700準確地追蹤到待測物110並辨識出待測物110的正確軸長。藉此，本發明的放大位移倍率之光學量測系統600不但可量測徑長，還可量測軸長，對於醫療人員來說相當便利，可降低操作負擔。

請一併參閱第1、2、4、5及7圖，第7圖係繪示本發明一實施例的放大位移倍率之光學量測裝置100、100a的量測方法1000之流程示意圖。量測方法1000用以量測待測物110之徑長，量測方法1000包含待測物裝設步驟S12與徑向光學感測步驟S14。其中待測物裝設步驟S12係將待測物110裝設於移動抵靠件300與定位槽210之間，並施加外力於移動抵靠件300與定位槽210，使待測物110緊密抵接移動抵靠件300與定位槽210。此外，徑向光學感測步驟S14係驅動光學追蹤器700感應靜態光學感測件400及動態光學感測件500以辨識待測物110之徑長。藉此，本發明的量測方法1000透過簡單的結構搭配簡易的操作即可精準地量測出待測物110之徑長。再者，利用弧形位移的移動抵靠件300連動動態光學感測件500可以使不同待測物110之徑長的差異得以放大，進而能夠更精準地量測，亦即可大幅提高量測的準確度。

請一併參閱第5、6及8圖，第8圖係繪示本發明另一實施例的放大位移倍率之光學量測裝置100a的量測方法1000a之流程示意圖。量測方法1000a用以量測待測物110之徑長與軸長，其可應用於第6圖的放大位移倍率之光 學量測系統600，且量測方法1000a包含待測物裝設步驟S22、徑向光學感測步驟S24以及軸向光學感測步驟S26。其中待測物裝設步驟S22、徑向光學感測步驟S24與第7圖的待測物裝設步驟S12、徑向光學感測步驟S14相同，不再贅述。而軸向光學感測步驟S26係驅動光學追蹤器700感應軸向光學量測裝置800之光學感測器820，同時結合徑向光學感測步驟S24，以辨識出待測物110之軸長。藉此，本發明的量測方法1000a利用放大位移倍率之光學量測裝置100a搭配軸向光學量測裝置800之對應操作，讓醫療人員可以精確地量測徑長與軸長。此外，由於操作簡易且裝置輕量化，對於醫療人員而言可說是一大福音。

由上述實施方式可知，本發明具有下列優點：其一，放大位移倍率之光學量測裝置利用弧形位移的移動抵靠件連動動態光學感測件，可以使不同待測物之徑長的差異得以放大，進而能夠更精準地量測。其二，由於結構相當簡單，而且操作方便，因此非常適合於手術器械的量測需求。其三，放大位移倍率之光學量測系統不但可量測徑長，還可量測軸長，對於醫療人員來說相當地便利。其四，放大位移倍率之光學量測裝置可利用醫療級塑料製造而成，比起傳統的金屬校正塊或金屬量測裝置輕量許多而且體積相對較小，可大幅降低醫療人員的操作負擔。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神 和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

Claims (16)

1. 一種放大位移倍率之光學量測裝置，用以量測一待測物之一徑長，該放大位移倍率之光學量測裝置包含：一架座，包含一定位槽；一移動抵靠件，樞接於該架座上且對應該定位槽，該待測物夾抵於該移動抵靠件與該定位槽之間；複數靜態光學感測件，設於該架座上；以及一動態光學感測件，設於該移動抵靠件上，該動態光學感測件與其中一該靜態光學感測件相隔一光學感測間距，該動態光學感測件受該移動抵靠件連動而沿一弧形軌跡位移，致使該光學感測間距改變，該光學感測間距之改變程度大於該徑長之改變程度。
2. 如申請專利範圍第1項所述之放大位移倍率之光學量測裝置，其中該架座更包含：一座體，具有一底端與一頂端，該定位槽凹陷開設於該座體，該底端樞接該移動抵靠件；及一動態參考框架，連接該頂端且具有複數光球定位端，各該靜態光學感測件分別定位於各該光球定位端上。
3. 如申請專利範圍第1項所述之放大位移倍率之光學量測裝置，其中，該定位槽包含二抵靠斜面，該二抵靠斜面呈V形配置且彼此相交於一交界處，該待測物與該交界處相隔一間隙， 該定位槽具有一定位深度，該定位深度小於等於該徑長與該間隙之總和。
4. 如申請專利範圍第3項所述之放大位移倍率之光學量測裝置，其中，該二抵靠斜面彼此相交一角度，該角度大於等於80度且小於等於100度。
5. 如申請專利範圍第2項所述之放大位移倍率之光學量測裝置，其中該架座更包含：一阻擋件，凸設該座體且連接該定位槽，該阻擋件抵頂該待測物之一前端，藉以阻止該待測物沿該定位槽之延伸方向位移。
6. 如申請專利範圍第2項所述之放大位移倍率之光學量測裝置，其中，該座體之該底端設有二凸耳，各該凸耳包含一孔洞；及該移動抵靠件包含：一軸桿，穿設於二該孔洞；一樞接部，該軸桿銜接於該二凸耳與該樞接部之間；及一光球定位部，一體連接該樞接部，該動態光學感測件定位於該光球定位部上。
7. 如申請專利範圍第2項所述之放大位移倍率之光學量測裝置，其中該座體具有一扶持面，該扶持面呈弧狀且與該定位槽相對，該扶持面位於該底端與該頂端之間。
8. 一種放大位移倍率之光學量測系統，用以量測一待測物之一徑長與一軸長，該放大位移倍率之光學量測系統包含：一放大位移倍率之光學量測裝置，包含：一架座，包含一定位槽；一移動抵靠件，樞接於該架座上且對應該定位槽，該待測物夾抵於該移動抵靠件與該定位槽之間；複數靜態光學感測件，設於該架座上；及一動態光學感測件，設於該移動抵靠件上，該動態光學感測件與其中一該靜態光學感測件相隔一光學感測間距，該動態光學感測件受該移動抵靠件連動而沿一弧形軌跡位移，致使該光學感測間距改變，該光學感測間距之改變程度大於該徑長之改變程度；一光學追蹤器，感應該些靜態光學感測件及該動態光學感測件以辨識該待測物之該徑長；以及一軸向光學量測裝置，包含：一握持本體，可拆卸地連接該待測物；及一光學感測器，設於該握持本體上，該光學感測器受該光學追蹤器感應以辨識該待測物之該軸長。
9. 如申請專利範圍第8項所述之放大位移倍率之光學量測系統，其中該架座更包含：一座體，具有一底端與一頂端，該定位槽凹陷開設於該座體，該底端樞接該移動抵靠件；及一動態參考框架，連接該頂端且具有複數光球定位端，各該靜態光學感測件分別定位於各該光球定位端上。
10. 如申請專利範圍第8項所述之放大位移倍率之光學量測系統，其中，該定位槽包含二抵靠斜面，該二抵靠斜面呈V形配置且彼此相交於一交界處，該待測物與該交界處相隔一間隙，該定位槽具有一定位深度，該定位深度小於等於該徑長與該間隙之總和。
11. 如申請專利範圍第10項所述之放大位移倍率之光學量測系統，其中，該二抵靠斜面彼此相交一角度，該角度大於等於80度且小於等於100度。
12. 如申請專利範圍第9項所述之放大位移倍率之光學量測系統，其中該架座更包含：一阻擋件，凸設該座體且連接該定位槽，該阻擋件抵頂該待測物之一前端，藉以阻止該待測物沿該定位槽之延伸方向位移。
13. 如申請專利範圍第9項所述之放大位移倍率之光學量測系統，其中，該座體之該底端設有二凸耳，各該凸耳包含一孔洞；及該移動抵靠件包含：一軸桿，穿設於二該孔洞；一樞接部，該軸桿銜接於該二凸耳與該樞接部之間；及一光球定位部，一體連接該樞接部，該動態光學感測件定位於該光球定位部上。
14. 如申請專利範圍第9項所述之放大位移倍率之光學量測系統，其中該座體具有一扶持面，該扶持面呈弧狀且與該定位槽相對，該扶持面位於該底端與該頂端之間。
15. 一種應用於申請專利範圍第1項所述之放大位移倍率之光學量測裝置的量測方法，用以量測該待測物之該徑長，該量測方法包含：一待測物裝設步驟，係將該待測物裝設於該移動抵靠件與該定位槽之間，使該待測物緊密抵接該移動抵靠件與該定位槽；以及一徑向光學感測步驟，係驅動一光學追蹤器感應該些靜態光學感測件及該動態光學感測件以辨識該待測物之該徑長。
16. 如申請專利範圍第15項所述之放大位移倍率之光學量測裝置的量測方法，更包含：一軸向光學感測步驟，係驅動該光學追蹤器感應一軸向光學量測裝置之一光學感測器以辨識該待測物之一軸長。