TWI629865B - 適應性電壓調節器 - Google Patents

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Abstract

一種電壓調節器電路包含：一比較器，其經組態以具有耦合至該電壓調節器電路之一輸出電壓之一第一輸入、耦合至一參考電壓之一第二輸入及一輸出訊號；一第一電晶體；一第二電晶體，該第一電晶體之一汲極連接至該第二電晶體之一汲極；一電感器，其連接至該第一電晶體之該汲極及該第二電晶體之該汲極；一電容器及一電阻器，其並聯連接於輸出節點與該第二電晶體之一源極之間；一峰值電流偵測器單元，其經組態以偵測該電感器中之峰值電流；一零交點偵測器單元，其經組態以偵測該電感器中之一零交點電流；及一控制單元，其經組態以接收包含至少一輸入電壓及一時脈訊號之複數個輸入訊號。

Description

適應性電壓調節器
本發明實施例係有關電壓調節器及電壓調節方法。
一電壓調節器經設計以維持一恆定電壓位準。一電壓調節器可係一簡單「前饋」設計或可包含負回饋控制環路。一電壓調節器可使用一機電機構或電子組件，且取決於設計，電壓調節器可用於調節一或多個AC或DC電壓。在諸如電腦電源供應器之裝置中發現電子電壓調節器，在該等裝置中，電子電壓調節器使處理器及其他元件所使用之DC電壓保持穩定。在汽車發電機及中心電廠發電機設施中，電壓調節器控制該設施之輸出。在一電力分配系統中，電壓調節器可安裝於一變電站處或沿分配線安裝，使得所有客戶不管自該線汲取多少電力皆接收穩定電壓。 隨著關於物聯網(IoT)、隨身裝置及其他行動技術之近期發展，針對電壓調節器出現了新考量因素。此等新考量因素包含最小硬體、低成本、緊湊設計、高效能及高效率。作為一實例，內置於眼鏡、手錶、運動追蹤器及甚至衣服中之無線感測器有希望徹底改變連接性且形成IoT之一關鍵部分。此等無線感測器係針對緊湊電壓調節器之具挑戰性應用，此乃因通常在此類實施方案中，電壓調節器處置寬輸入及輸出範圍。 用於IoT及其他緊湊裝置之電壓調節器力求在長時間週期內維持最大效率。然而，在一段時間之後，此等裝置中之電池往往劣化，從而使效率降級。對於非適應性電壓調節器，此偏差導致一顯著能量浪費且減小裝置壽命。
根據某些實施例，揭露一電壓調節器電路。電壓調節器電路包含一比較器。比較器經組態以具有耦合至電壓調節器電路之一輸出電壓VOUT 之一第一輸入V-、耦合至一參考電壓VREF 之一第二輸入V+及一輸出訊號。該電壓調節器電路亦包含一第一電晶體及一第二電晶體，該第一電晶體之一汲極連接至該第二電晶體之一汲極。該電壓調節器電路進一步包含：一電感器，其經由節點連接至第一電晶體之汲極及第二電晶體之汲極；一電容器及一電阻器，其並聯連接於電感器與第二電晶體之一源極之間；一峰值電流偵測器單元，其經組態以偵測電感器中之峰值電流；及一零交點偵測器單元，其經組態以偵測電感器中之零交點電流。控制單元經組態以接收包含至少一輸入電壓及一時脈訊號之複數個輸入訊號。 在某些實施例中，控制單元經組態以藉由以下操作而適應性地控制電壓調節器電路：基於電壓調節器電路之輸出節點上之一電壓及控制單元之輸入電壓而判定一工作比；基於該工作比而計算針對第一電晶體之一接通持續時間之一時脈循環次數；及對該接通持續時間之該時脈循環次數進行計數以輸出表示該接通持續時間之一訊號。 根據其他實施例，揭露一控制單元。控制單元包含：一類比轉數位轉換器，其經組態以接收電壓調節器電路之輸出電壓VOUT 及輸入電壓，且輸出一工作比；一數位邏輯，其經組態以基於該工作比而計算針對第一電晶體之一接通持續時間之一時脈循環次數；一計數器，其經組態以對該接通持續時間之該時脈循環次數進行計數以產生該接通持續時間；及一空載時間單元，其經組態以防止第一電晶體與第二電晶體被同時接通。 根據其他實施例，揭露一控制方法。該控制方法包含以下步驟：在一電壓調節器電路之一輸出節點處量測一輸出電壓；然後在一比較器處比較該電壓調節器電路之輸出電壓VOUT 與一參考電壓；然後偵測該電壓調節器電路之該輸出電壓VOUT 等於或小於該參考電壓之一狀況；然後在一類比轉數位轉換器處將一工作比d計算為該電壓調節器電路之該輸出電壓VOUT 與一輸入電壓VIN 之一比率；然後在一數位邏輯處依據該工作比而計算一第一電晶體之一接通持續時間THS ；然後將該第一電晶體接通達一持續時間THS 。
以下揭露提供用於實施標的物之不同構件之諸多不同實施例或實例。以下闡述組件及配置之特定實例以簡化本揭露。當然，此等特定實例僅為實例且並非意欲為限制性的。舉例而言，以下說明中之在一第二構件上方或在一第二構件上形成一第一構件可包含其中第一構件與第二構件以直接接觸方式形成之實施例，且亦可包含其中可在第一構件與第二構件之間形成額外構件使得第一構件與第二構件可不直接接觸之實施例。另外，本揭露可在各種實例中重複參考編號及/或字母。此重複係出於簡化及清晰目的且本質上並不指定所論述之各種實施例及/或組態之間的一關係。 此外，為便於說明，本文中可使用空間相對術語(諸如，「下面」、「下方」、「下部」、「上方」、「上部」及諸如此類)來闡述一個元件或構件與另一(其他)元件或構件之關係，如各圖中所圖解說明。除各圖中所繪示之定向之外，該等空間相對術語亦意欲囊括裝置在使用或操作中之不同定向。設備可以其他方式定向(旋轉90°或處於其他定向)，且同樣可據此解釋本文中所使用之空間相對描述符。 圖1係圖解說明根據某些實施例之一適應性電壓調節器1000之一示意圖。電壓調節器1000包含一比較器1002、一適應性控制單元1004、一零交點偵測器(ZCD) 1006、一低側驅動器1008、一高側驅動器1010、一峰值電流偵測器(PCD) 1012、一低側NMOS電晶體1014、一高側PMOS電晶體1016、一電感器1018、一電容器1020及一負載電阻器1022。在某些實施例中，高側驅動器1010及低側驅動器1008各自包含具有增加之增益之一串反向器。連接1014、1016及1018之節點係標示為1024之一切換節點。適應性控制單元1004包含以下輸入：VOUT (或VREF ，此乃因VOUT 維持處於接近VREF 之一電壓)、Vo (來自比較器1002之輸出)、CLK (時脈訊號)及VIN (輸入電壓)。 根據某些實施例，適應性控制單元1004適應性地計算控制參數以達成電壓調節器電路之一最大效率。如本文中所使用，「適應性」意指控制單元1004能夠基於改變之狀況重新計算控制參數。適應性控制單元1004用一控制訊號1010B來驅動高側電晶體驅動器1010，且用一控制訊號1008B來驅動低側驅動器1008。如下文關於圖4進一步詳細論述，高側驅動器1010將一回饋訊號1010A往回傳輸至適應性控制單元1004以用於空載時間控制。類似地，低側驅動器1008將一回饋訊號1008A往回傳輸至適應性控制單元1004以用於空載時間控制。在某些實施例中，PCD 1012經由連接至節點1024之訊號線1012B而偵測高側電晶體之一峰值電流，且然後將一控制訊號1012A傳輸至適應性控制單元1004以關斷高側電晶體1016，如下文進一步詳細論述。零交點偵測器1006經由訊號線1006B耦合至節點1024以偵測電感器電流IL 之零交點，且此後將指示控制單元1004接通高側電晶體1016之一控制訊號1006A傳輸至適應性控制單元1004，如下文進一步所論述。在某些實施例中，PCD 1012及ZCD 1006耦合至給PCD 1012及ZCD 1006供電之一電源(例如，電路之一VDD 電力軌-未展示)。如圖1中所展示，在某些實施例中，高側電晶體1016之源極耦合至PCD 1012及其電源，該電源在高側電晶體1016被接通時給高側電晶體1016供應電力，如下文進一步詳細論述。 VOUT 係回饋至適應性控制單元1004的電壓調節器電路1000之輸出電壓。VREF 係在比VOUT 低得多之一電力下之一準確維持之參考電壓。VREF 不具有足以將輸出電壓直接供應至負載之電力，而是，VREF 僅充當VOUT 之一參考標準。電壓調節器經實施以使輸出電壓VOUT 維持儘可能地接近參考電壓VREF 。比較器1002比較在其輸入端子處所提供之VOUT 與VREF 訊號，該等輸入端子在圖1中標記為+及-。比較器1002輸出指示VOUT 及VREF 中之哪一者較大之一數位訊號Vo。比較器1002之輸出被傳輸至適應性控制單元1004。適應性控制單元1004透過高側驅動器1010而驅動高側電晶體1016。根據某些實施例，高側電晶體1016係一PMOS電晶體。 在某些實施例中，一峰值電流偵測器係輸出等於所施加AC訊號之峰值之一DC電壓的一二極體與一電容器之一串聯連接。峰值電流偵測器(PCD) 1012偵測IL 之一峰值電流何時流動穿過電感器1018。一旦達到一峰值電流，適應性控制單元1004便關斷高側電晶體1016。當關斷高側電晶體1016時，在一預定空載時間週期(在其期間不可接通裝置以防止一短路之時間間隔)之後，接通低側電晶體1014。沿低側電晶體1014、電感器1018、電容器1020及負載電阻器1022形成一電流環路或路徑1800。電能因環路1800中之固有電阻、電容及電感而在該環路中被耗散。因此，跨越電感器1018之電流IL 隨時間而降低，如下文參考圖2進一步詳細論述。 在某些實施例中，至適應性控制單元1004之一輸入電壓VIN 由一電池1050供應。一工作比d計算為VOUT /VIN ，且然後使用此比率來設定高側電晶體1016之接通持續時間。因此，將高側電晶體1016接通達等於接通持續時間之時間週期，且藉由流動穿過高側電晶體1016之電流而使VOUT 升高。然後，關斷高側電晶體1016，且在一空載時間週期之後接通低側電晶體1014。 根據某些實施例，低側電晶體1014係一NMOS電晶體。當VOUT 隨電流IL 降低而接近VREF 時，比較器1002偵測何時VOUT = VREF 之狀況。一旦VOUT 變得不大於VREF ，適應性控制單元1004便接通高側電晶體1016，且使低側電晶體1014維持關斷。一零交點係其中一數學函數或訊號之符號改變(例如，自正改變為負或零，或者自負改變為正或零)之一點，該點由該函數之圖表中之軸(零值)之一交點表示。當零交點偵測器(ZCD) 1006偵測到一零交點事件時，ZCD 1006產生一對應控制訊號1006A以控制適應性控制單元1004，如下文進一步詳細論述。根據某些實施例，控制訊號1006A將零交點事件告知適應性控制單元1004。在接收到控制訊號1006A之後，適應性控制單元1004起始用以接通高側電晶體1016之步驟。在某些實施例中，在訊號值IL 實際上為零時不產生控制訊號1006A。而是，可稍早地在IL 下降且接近零時產生控制訊號以允許有充足時間來避免達到一負值。根據某些實施例，當訊號實際上進入至負值區中時，電路1000可因一短路而受損。 當接通高側電晶體1016時，電流流動跨越彼電晶體之源極及汲極端子、然後穿過電感器1018、然後穿過電容器1020及負載電阻器1022。因此，VOUT 再次開始上升。下文連同圖2將論述關於電感器電流IL 之特性及行為之更多細節。 圖2係圖解說明根據某些實施例之參考電壓VREF 、輸出電壓VOUT 及電感器電流IL 之一圖式。如上文所論述，電壓調節器經實施以使輸出電壓(VOUT )保持儘可能地接近參考電壓(VREF )。在圖2中，與VOUT 相比，利用較低電力實施方案使VREF 保持處於一恆定值，且VOUT 在左右VREF 波動。電感性電流IL 係流動穿過電感器1018之電流，且比較器1002比較VOUT 與VREF 。在時間t0 處，比較器1002偵測到VOUT 不大於VREF ，且比較器1002之輸出Vo被傳輸至適應性控制單元1004中，適應性控制單元1004觸發高側驅動器1010以接通高側電晶體1016。高側電晶體1016被接通，IL 開始線性地增加，且上升電流之斜率為(VIN – VOUT )/L，其中L係濾波電感器1018之電感。在上升持續時間THS 期間，高側電晶體1016保持接通。 根據某些實施例，一電池1050供應輸入電壓VIN 及輸入電流IIN 。電流自電池1050中流動至驅動高側電晶體1016之高側驅動器1010。當高側驅動器1010接通高側電晶體1016之閘極時，電流自源極至汲極地流動穿過高側電晶體1016。然後，電流流動穿過電感器1018、電容器1020及電阻器1022，之後達到接地。如下文關於圖4進一步詳細論述，在某些實施例中，低側電晶體1014在一「空載時間」期間保持關斷以防止形成短路。在流動穿過電感器1018之後，然後，電流IL 並行地穿過負載電阻器1022及負載電容器1020流動至接地。電流IL 亦饋送至零交點偵測器1006中。當電感器電流IL 接近零時，指示適應性控制單元1004關斷低側電晶體1014之一控制訊號1006A將被發送至適應性控制單元1004。 當IL 達到一峰值電流(IP )位準時，峰值電流偵測器1012透過連接1012B偵測到該狀況且將關斷高側電晶體1016之一控制訊號1012A發送至適應性控制單元1004。在經實施以防止一短路之一短空載持續時間(圖2中所圖解說明)之後，使用一控制訊號1008A來接通低側電晶體1014。控制訊號1008A亦往回傳輸至適應性控制單元1004以用於空載時間控制。IL 在時間t1 處開始以一斜率VOUT /L線性地下降。因此，電流在遵循路徑1800之一環路中自低側電晶體1014流動至電感器1018、然後至負載電阻器1022及負載電容器1020。在此閉合環路中，電流降低。下降時間(其為電流自峰值Ip 降低至零之時間)為TLS = Ip /斜率= Ip /(VOUT /L) = Ip *L/VOUT 。 一旦電流IL 接近零，零交點偵測器1006便偵測到零交點狀況且將關斷低側電晶體1014之控制訊號1008A發送至適應性控制單元1004。然後，根據某些實施例，關斷高側電晶體1016及低側電晶體1014兩者，且電感器電流IL 在t2 之後的剩餘叢發週期Tburst 內保持為零。在時間t0 處，VOUT 之斜率自負改變為正；一叢發週期係在VOUT 接近VREF 時之兩個此類事件之間的週期。因此，根據某些實施例，Tburst 係t0 與t3 之間的持續時間，在該持續時間中，VOUT 上升至其最大值且然後再次下降至VREF 。由於IL 之上升斜率及IL 之下降斜率兩者係已知的，如上文所論述，因此THS 及TLS 亦係已知的。Tpulse 係脈衝持續時間。Tpulse 定義為Tpulse = THS + TLS ，因此Tpulse 亦係已知的。按照設計，Tburst 大於Tpulse 。根據某些實施例，若第一三角形脈衝2100不足以使VOUT 充分地升高，則可使用額外三角形脈衝來使VOUT 升高，如圖2中之虛線三角形脈衝2200所圖解說明。額外三角形脈衝可以與上文所論述之第一脈衝相同之方式產生。 圖3A係圖解說明根據某些實施例之效率ξ隨工作比d (d = VOUT /VIN )及高側接通時間THS 而變之一三維表面曲線圖。根據某些實施例，高側接通持續時間THS 係接通高側電晶體之持續時間。 在某些實施例中，能夠在一寬範圍之輸入及輸出位準內適應性地達到最大效率之適應性電壓調節器1000之設計係基於依據工作比d及高側接通時間THS 對效率ξ之一詳細分析，如以下方程式中所陳述。效率ξ可藉由適應性地改變工作比或改變高側接通持續時間或兩者之一組合而最佳化。當外部狀況(諸如VIN )隨時間改變時，工作比隨之改變。且因此，效率ξ偏離其現有最佳值。為判定ξ之一新最佳值，如下可將偏導數設定為等於零：∂ξ/∂d = 0及∂ξ/∂THS = 0。下文呈現對效率ξ及其偏導數之一詳細分析。 一電壓調節器之效率ξ定義為：其中Eout 為輸出能量，且Eloss_total 為總能量損失。 根據某些實施例，Eloss_total 定義為由各種狀況所致的包含Ec_p 、Eg_p 、Ec_n 、Eg_n 、Esw 、Ec_i 、Ec_c 、Eother_c 及Eother_i 之總能量損失。下文論述貢獻於總能量損失之此等術語之細節。 在圖1中所圖解說明之實施例中，Ec_p 係為一PMOS (p)之高側電晶體(例如，HS 1016)上之傳導(c)能量損失；Ip 係流動穿過PMOS (p)之電流；Rds_p 係高側PMOS (例如，HS 1016)之汲極(d)與源極(s)之間的接通電阻；THS 係高側接通持續時間。下文呈現對THS 之詳細數學論述。 在圖1中所圖解說明之實施例中，Eg_p 係為一PMOS (p)之高側電晶體(例如，HS 1016)上之閘極(g)能量損失；Cgs_p 係高側PMOS (p)之閘極(g)與源極(s)之間的電容；Cgd_p 係高側PMOS (p)之閘極(g)與汲極(d)之間的電容；且Vi 係輸入電壓。 在圖1中所圖解說明之實施例中，Ec_n 係為一NMOS (n)之低側電晶體(例如，LS 1014)上之傳導(c)能量損失；In 係流動穿過NMOS (n)之電流；Rds_n 係低側NMOS (例如，LS 1014)之汲極(d)與源極(s)之間的接通電阻；TLS 係低側接通時間，TLS = IP *L/VOUT = THS * (VIN - VOUT )/L，其中L係電感器1018之電感。下文呈現對TLS 及THS 之詳細數學論述。 在圖1中所圖解說明之實施例中，Eg_n 係為一NMOS (p)之低側電晶體(例如，LS 1014)上之閘極(g)能量損失；Cgs_n 係低側NMOS (p)之閘極(g)與源極(s)之間的電容；Cgd_n 係低側NMOS (p)之閘極(g)與汲極(d)之間的電容；且Vi 係輸入電壓。 在圖1中所圖解說明之實施例中，Esw 係連接1016、1014及1018之切換節點1024上之切換能量損失。Csw 係切換節點1024上之等效電容；Vi 係輸入電壓；且Vo 係輸出電壓。下文列出每一參數之定義： 由PMOS傳導所致之能量損失為：其中下標「c」表示「傳導」，下標「p」表示「PMOS」，下標「ds」表示「汲極-源極」。 由PMOS閘極電容所致之能量損失為：其中下標「g」表示「閘極」，下標「gs」表示「閘極-源極」，下標「gd」表示「閘極-汲極」，且下標「i」表示輸入。 由NMOS傳導所致之能量損失為：其中下標「c」表示「傳導」，下標「n」表示「NMOS」，下標「ds」表示「汲極-源極」。 由NMOS閘極電容所致之能量損失為：其中下標「g」表示「閘極」，下標「gs」表示「閘極-源極」，下標「gd」表示「閘極-汲極」，且下標「i」表示輸入。 切換能量損失為：其中下標「sw」表示「切換」，下標「i」表示輸入。 由電感器上之傳導所致之能量損失為：其中下標「c」表示「傳導」，下標「i」表示電感器，下標「dcr」表示直流電阻。 由電容器上之傳導所致之能量損失為：其中下標「c」表示「傳導」，第二下標「c」表示電容，下標「esr」表示等效串聯電阻。 由其他傳導所致之其他能量損失為：其中RT 係所有其他電阻之總電阻。 由其他電感所致之其他能量損失為：其中LT 係所有其他電感之總電感。 在圖1中所圖解說明之實施例中，Ec_i 係由電感器(i) 1018之等效電阻所致的電感器(i) 1018上之傳導(c)能量損失。Ip 係流動穿過PMOS (p)之電流，Rdcr 係等效直流電阻。Ec_c係由電容器1020之等效電阻所致的電容器(c) 1020上之傳導(c)能量損失。Resr 係電容器1020之等效串聯電阻。Tpulse 係脈衝時間。Eother_c 係由具有一總等效電阻RT 之所有其他因素所致之傳導能量損失，且Eother_i 係由具有一總等效電感LT 之所有其他因素所致之電感能量損失。簡言之：進一步簡化方程式，所獲得之針對Eloss_total 之一表達式如下：且Eout 可表達為如下：然後：其中：且：且：為達到最大效率，採用如下偏導數：∂ξ(d, THS )/∂d = 0，且∂ξ(d, THS )/∂THS = 0，其中ξ(d, THS ) = Eloss_total /Eout ，因此其中：且最大效率為：此產生：進一步簡化：在經簡化公式中，高側接通持續時間THS 為工作比d之一函數：THS = K*(d/(1-d)2 )(1/3) ，其中d為VOUT /VIN 。因此，在提供常數K (參見方程式(24))時，便於判定THS 。 依據以上分析，效率ξ為d及THS 兩者之一函數：ξ(d, THS )，此係一三維表面，粗略地概述為兩個正交輪廓線，如圖3A中所圖解說明。在水平平面中，x軸為THS (高側接通持續時間)，且y軸為d (工作比)。z軸為針對一對(THS , d)之對應效率ξ值。 由於ξ(d, THS )表面之三維本質，因此最大效率ξmax 取決於參數d及THS 兩者。當參數中之一者固定或出於某些原因無法充分修改時，此時僅可達到一區域最大值而非全域最大值。全域最大值係系統之真實最大效率。 圖3B係圖解說明根據某些實施例之效率ξ隨工作比d及高側接通持續時間THS 而變之一表面曲線圖。圖3B中之表面曲線圖標繪為工作比d及高側接通持續時間THS 之一函數。在此圖中，工作比介於自0至1之範圍內，且接通持續時間介於自0至10奈秒之範圍內。因此，效率ξ值具有一寬範圍。此寬效率ξ範圍係一理論範圍。實務上，根據某些實施例，一電壓源之工作比受各種因素限制，此等因素將工作比侷限於一相當窄範圍。舉例而言，對於由緊裝電池供電之IoT中之應用，緊裝電池之輸出電壓隨裝置之壽命而變化。因此，工作比d隨時間而改變。一新裝置之工作比可顯著不同於一使用過之裝置之工作比。因此，即使效率在裝置自工廠發貨時係最大化的，在一段時間之後，效率必然將偏離彼最佳值。 由於電池之特定特性，因此其實際工作比實際上並非介於自0至1之範圍內，如圖3B中所圖解說明。一給定電池之實際工作比可為d-THS 平面中之一窄切面(slice)。類似地，實際接通持續時間亦可為d-THS 平面中之一窄切面。裝置之所得工作範圍(工作裝置實際上可達到之範圍)為d-THS 平面中之一矩形3100，如圖3B中所圖解說明，且對應效率ξ為工作範圍3100上方之彎曲表面之一面片(patch) 3200，該面片稱作效率面片。每個裝置在其效率面片內工作，且一裝置之最大效率可僅在其自身效率面片內達成。無法保證任何個別裝置皆達成效率表面之全域最大值。圖1中之實施例經實施以適應性地達成其自身效率面片內之最大效率。當電池隨時間劣化時，效率浮動至效率面片上之一不同點。圖1中之實施例藉由計算新工作比值及新接通持續時間值而適應性地使效率面片上之效率最大化。 圖3C係圖解說明根據某些實施例之在一固定工作比(d = 0.20)處效率隨高側接通持續時間THS 而變之一曲線。圖3C中之效率曲線係在工作比d固定於0.20處時圖3B中之效率表面之一剖面圖。圖3C展示當工作比固定於0.20處時，在接通時間為3.72奈秒時達成最大效率80.05%。如圖3B中所論述，通常在實務上，高側接通持續時間無法介於自0至10奈秒之範圍內。舉例而言，若針對一特定裝置，出於各種實際原因，其高側接通持續時間侷限於自6奈秒至7奈秒之範圍內，則彼裝置之最大效率無法達到整個0至10奈秒範圍內之全域最大值。而是，如在曲線上可觀察到，最大效率係在高側接通持續時間為6奈秒時之效率值(未展示實際值)。 圖3D係圖解說明根據某些實施例之在一固定高側接通持續時間(THS = 5.83奈秒)處效率隨工作比d而變之一曲線。圖3D中之效率曲線係在高側接通持續時間固定於5.83奈秒處時圖3B中之效率表面之一剖面圖。圖3D展示當高側接通時間固定於5.83奈秒處時，在工作比為0.45時達成最大效率85.49%。如圖3B中所論述，通常在實務上，工作比d無法介於自0至1之範圍內。舉例而言，若出於各種實際原因，一特定裝置之工作比侷限於自0.2至0.3之一工作範圍內，則彼裝置之最大效率無法達到自0至1之整個d範圍內之全域最大值。而是，如在曲線上可觀察到，最大效率係在工作比為0.3時之效率值(未展示實際值)。 圖4係根據某些實施例之適應性控制單元1004之一示意圖。在此實施方案中，適應性控制單元1004包含一類比轉數位轉換器裝置ADC 4002、一加法器/乘法器裝置4004、一遞減計數器裝置4006、一第一「及」邏輯電路4008、一空載時間單元4010及一第二「及」邏輯電路4012。空載時間單元4010充當一防護以防止高側電晶體1016與低側電晶體1014被同時接通。如上文所論述，空載時間係在其期間不允許接通裝置以防止損壞電路(例如，一短路)之一短時間週期。若高側電晶體1016及低側電晶體1014之接通時間重疊或若低側電晶體1014在關斷高側電晶體1016之前被接通，則可產生一短路狀況或對整個系統之損壞。 輸入電壓VIN 用作ADC 4002之一參考電壓(而非電壓調節器之參考電壓)，且電壓調節器之輸出電壓VOUT 用作至ADC 4002之輸入。根據某些實施例，ADC 4002之輸出為DOUT = VOUT /VIN ，按照定義，此為工作比d。工作比d被傳輸至加法器/乘法器單元4004以計算K*(d/(1-d)2 )1/3 ，根據定義，此為高側接通持續時間THS 。K為根據以上方程式(24)之一預定常數。來自加法器/乘法器單元4004之輸出為一數位值，該數位值係在高側接通持續時間內之時脈循環次數。按照定義，來自加法器/乘法器單元4004之輸出乘以時脈週期Δt得出高側接通持續時間。用具有一時脈週期Δt之一時脈訊號CLK將時脈循環次數傳輸至一遞減計數器4006。 計數器4006對時脈循環次數進行計數以獲得高側接通持續時間THS (THS =時脈循環次數* Δt)。然後，計數器4006輸出持續時間值THS 。時間值THS 被傳輸至一第一「及」邏輯電路4008中以控制高側驅動器1010及高側電晶體1016。第一「及」邏輯電路4008亦採用比較器1002之輸出Vo及來自空載時間單元4010之一訊號作為輸入。當VREF ＜ VOUT 時，Vo等於0，此使得「及」邏輯電路4008之輸出為零，此亦意指不接通高側電晶體。當「及」邏輯電路4008透過訊號線或連接1010B將0輸出至高側驅動器1010時，關斷高側驅動器1010。因此，高側電晶體1016保持關斷。另一方面，當VREF ＞ VOUT 時，Vo等於1，且「及」邏輯電路4008之輸出值藉由來自計數器4006之輸出及來自空載時間單元4010之輸出而判定。在某些實施例中，第一「及」邏輯電路4008之輸出亦透過訊號線或連接1010A回饋至空載時間單元4010。當不接通高側電晶體1016時，可根據空載時間邏輯而接通低側電晶體1014。空載時間單元4010亦將一訊號發送至一第二「及」邏輯電路4012，該第二「及」邏輯電路採用ZCDIN作為另一輸入。ZCDIN係自ZCD 1006發送至適應性控制單元1004之一零交點控制訊號。第二「及」閘4012之輸出透過訊號線或連接1008B而傳輸以控制低側驅動器1008及低側電晶體1014。在某些實施例中，第二「及」邏輯電路4012之輸出亦透過訊號線或連接1008A回饋至空載時間單元4010。通常，藉由知曉何時接通及關斷高側電晶體1016及低側電晶體1014且基於此等狀態而實施邏輯功能，空載時間單元4010防止高側電晶體1016與低側電晶體1014被同時接通以保護電路免於一短路狀況。在某些實施例中，輸入至「及」閘4012之ZCDIN對應於圖1之ZCDIN訊號1006A。在圖4中所展示之實施例中，不存在PCD，且HS電晶體1016 (圖1)接通時間藉由偵測峰值電流或藉由對時脈週期進行計數而控制，如上文所論述。 圖5係圖解說明根據某些實施例之適應性控制單元1004中之ADC 4002之一類比實施方案之一示意圖。在此實施方案中，ADC包含一電流源5002、一電容器5004、一NMOS電晶體5006、一比較器5008及一計數器5010。比較器5008之+輸入上之電壓為n*Δt*VIN *C/R，其中n係計數器5010之時脈循環次數，Δt係一單個時脈循環之持續時間，VIN 係輸入電壓，且R係用以自VIN 產生一充電電流之一預定電阻。比較至比較器5008之彼輸入(n*Δt*VIN *C/R)與VREF (或VOUT ，此乃因VOUT 及VREF 維持為彼此極接近的)。一旦達到n*Δt*VIN *C/R = VOUT 之狀況，計數器5010便輸出工作比d且藉由使電晶體5006短路而重設電容器5004，從而使計數器5010準備好進行下一遞減計數。計數器5010之輸出為工作比d。 圖6係圖解說明根據某些實施例之一適應性電壓調節方法之一流程圖。在步驟6002處，量測一輸出電壓VOUT (待調節之電壓)，且在步驟6003處，比較輸出電壓VOUT 與一參考電壓VREF 。當偵測到VOUT ≤ VREF 之狀況時，在步驟6004處，將彼特定時間處之一工作比計算為d = VOUT /VIN 。根據某些實施例，用圖4中之ADC 4002來實施工作比之計算。在步驟6006處，判定對應於彼時間處之工作比d之高側接通持續時間THS ，例如，根據以上論述，如下：THS = K*(d/(1-d)2 )1/3 。在步驟6008處，藉由對一時脈循環次數(其等於THS )進行計數而將THS 之數位值轉換為一時間值。然後，在步驟6010處，將驅動高側電晶體1016之高側驅動器1010接通達一持續時間THS 。然後，關斷高側電晶體1016。在步驟6012處，在等待一預定空載時間週期之後，將驅動低側電晶體1014之低側驅動器1008接通達一時間週期TLS 。當關斷高側電晶體1016及低側電晶體1014兩者時，比較器1002繼續比較VOUT 與VREF 以偵測何時VOUT ≤ VREF 之下一事件。 根據某些實施例，揭露一電壓調節器電路1000。電壓調節器電路1000包含一比較器1002。比較器1002經組態以具有耦合至電壓調節器電路之一輸出電壓VOUT 之一第一輸入V-、耦合至一參考電壓VREF 之一第二輸入V+及一輸出訊號。該電壓調節器電路亦包含一第一電晶體1016及一第二電晶體1014，該第一電晶體之一汲極連接至該第二電晶體之一汲極。該電壓調節器電路進一步包含：一電感器1018，其經由節點1024連接至第一電晶體1016之汲極及第二電晶體1014之汲極；一電容器1020及一電阻器1022，其並聯連接於電感器1018與第二電晶體1014之一源極之間；一峰值電流偵測器單元1012，其經組態以偵測電感器中之峰值電流；及一零交點偵測器單元1006，其經組態以偵測電感器中之零交點電流。控制單元1004經組態以接收包含至少一輸入電壓及一時脈訊號之複數個輸入訊號。 在某些實施例中，控制單元1004經組態以藉由以下操作而適應性地控制電壓調節器電路1000：基於電壓調節器電路之輸出節點上之一電壓及控制單元之輸入電壓而判定一工作比；基於該工作比而計算針對第一電晶體之一接通持續時間之一時脈循環次數；及對該接通持續時間之該時脈循環次數進行計數以輸出表示該接通持續時間之一訊號。 根據某些實施例，一電壓調節器電路1000進一步包含：一類比轉數位轉換器4002，其經組態以接收電壓調節器電路之輸出電壓VOUT 及輸入電壓，且輸出一工作比；一數位邏輯4004，其經組態以基於該工作比而計算針對第一電晶體之一接通持續時間之一時脈循環次數；及一計數器4006，其經組態以對該接通持續時間之該時脈循環次數進行計數以產生該接通持續時間。控制單元1004進一步包含：一空載時間單元4010，其經組態以防止第一電晶體與第二電晶體被同時接通；一第一邏輯閘4008，其經組態以控制第一電晶體；及一第二邏輯閘4012，其經組態以控制第二電晶體。 類比轉數位轉換器進一步包含：一電流源5002，其經組態以提供一電流；一電容器5004，其連接至電流源5002之輸出；一電晶體5006，該電晶體之源極連接至電容器5004及電流源5002之輸出，汲極連接至電容器5004之另一側。類比轉數位轉換器進一步包含一比較器5008，該比較器之一個輸入V+連接至電晶體之源極及電容器，該比較器之另一輸入V-連接至電壓調節器電路之輸出電壓VOUT ，電晶體之閘極連接至該比較器之輸出。類比轉數位轉換器進一步包含一計數器5010，比較器之輸出傳輸至該計數器。 根據其他實施例，揭露一控制單元。控制單元1004包含：一類比轉數位轉換器4002，其經組態以接收電壓調節器電路之輸出電壓VOUT 及輸入電壓，且輸出一工作比；一數位邏輯4004，其經組態以基於該工作比而計算針對第一電晶體之一接通持續時間之一時脈循環次數；一計數器4006，其經組態以對該接通持續時間之該時脈循環次數進行計數以產生該接通持續時間；及一空載時間單元4010，其經組態以防止第一電晶體與第二電晶體被同時接通。該控制單元進一步包含：一第一邏輯閘4008，其經組態以控制第一電晶體；及一第二邏輯閘4012，其經組態以控制第二電晶體。 根據其他實施例，揭露一控制方法。該控制方法包含以下步驟：在一比較器處比較一電壓調節器電路之一輸出電壓VOUT 與一參考電壓；然後偵測該電壓調節器電路之該輸出電壓VOUT 等於或小於該參考電壓之一狀況；然後在一類比轉數位轉換器處將一工作比d計算為該電壓調節器電路之該輸出電壓VOUT 與一輸入電壓VIN 之一比率；然後在一數位邏輯處依據該工作比而計算一第一電晶體之一接通持續時間THS ；然後將該第一電晶體接通達一持續時間THS ；然後在該持續時間THS 之後關斷該第一電晶體；然後在不可接通電晶體時維持一空載持續時間；然後計算一第二電晶體之一接通持續時間TLS ；然後將該第二電晶體接通達一持續時間TLS 。根據某些實施例，該方法進一步包含以下步驟：將工作比d重新計算為該電壓調節器電路之輸出電壓VOUT 與一輸入電壓VIN 之一比率；然後依據該工作比重新計算該第一電晶體之該接通持續時間THS ：THS = K*(d/(1-d)2 )1/3 ；然後將該第一電晶體接通達一持續時間THS ；然後在該持續時間THS 之後關斷該第一電晶體；然後在不可接通電晶體時維持一空載持續時間；然後重新計算該第二電晶體之該接通持續時間TLS ：TLS = IP *L/VOUT ；及然後將該第二電晶體接通達一持續時間TLS 。 前述內容概述了數項實施例之構件，使得熟習此項技術者可較佳地理解本揭露之態樣。熟習此項技術者應瞭解，熟習此項技術者可容易地使用本揭露作為用於設計或修改用於實施本文中所介紹之實施例之相同目的及/或達成本文中所介紹之實施例之相同優點之其他製程及結構之基礎。熟習此項技術者亦應認識到，此等等效構造並不背離本揭露之精神及範疇，且在不背離本揭露之精神及範疇之情況下，此等等效構造在本文中可做出各種改變、替代及變更。
1000‧‧‧適應性電壓調節器/電壓調節器/電壓調節器電路/電路
1002‧‧‧比較器
1004‧‧‧適應性控制單元/控制單元
1006‧‧‧零交點偵測器/零交點偵測器單元
1006A‧‧‧控制訊號/對應控制訊號/ZCDIN訊號
1006B‧‧‧訊號線
1008‧‧‧低側驅動器
1008A‧‧‧回饋訊號/控制訊號/訊號線/連接
1008B‧‧‧控制訊號/訊號線/連接
1010‧‧‧高側驅動器/高側電晶體驅動器
1010A‧‧‧回饋訊號/訊號線/連接
1010B‧‧‧控制訊號/訊號線/連接
1012‧‧‧峰值電流偵測器/峰值電流偵測器單元
1012A‧‧‧控制訊號
1012B‧‧‧訊號線/連接
1014‧‧‧低側NMOS電晶體/低側電晶體/低側/第二電晶體
1016‧‧‧高側PMOS電晶體/高側電晶體/高側/第一電晶體
1018‧‧‧電感器/濾波電感器
1020‧‧‧電容器/負載電容器
1022‧‧‧負載電阻器/電阻器
1024‧‧‧切換節點/節點
1050‧‧‧電池
1800‧‧‧電流環路/路徑/環路
4002‧‧‧類比轉數位轉換器裝置/類比轉數位轉換器
4004‧‧‧加法器/乘法器裝置/加法器/乘法器單元/數位邏輯
4006‧‧‧遞減計數器裝置/遞減計數器/計數器
4008‧‧‧第一「及」邏輯電路/「及」邏輯電路/第一邏輯閘
4010‧‧‧空載時間單元
4012‧‧‧第二「及」邏輯電路/第二「及」閘/「及」閘/第二邏輯閘
5002‧‧‧電流源
5004‧‧‧電容器
5006‧‧‧NMOS電晶體/電晶體
5008‧‧‧比較器
5010‧‧‧計數器
CLK‧‧‧時脈訊號
d‧‧‧工作比/參數
DOUT‧‧‧輸出
IIN‧‧‧輸入電流
IL‧‧‧電感器電流/電流/訊號值/電感性電流
IP‧‧‧峰值電流/峰值/電流
K‧‧‧常數/預定常數
R‧‧‧預定電阻
t0‧‧‧時間
t1‧‧‧時間
t2‧‧‧時間
t3‧‧‧時間
Tburst‧‧‧叢發週期
THS‧‧‧高側接通時間/上升持續時間/高側接通持續時間/持續時間值/時間值/持續時間/接通持續時間/參數
TLS‧‧‧低側接通時間/時間週期/接通持續時間/持續時間
Tpulse‧‧‧脈衝持續時間/脈衝時間
VIN‧‧‧輸入電壓
Vo‧‧‧輸出/數位訊號/輸出電壓
VOUT‧‧‧輸出電壓
VREF‧‧‧參考電壓
ZCDIN‧‧‧零交點控制訊號
ξ‧‧‧效率/對應效率
當連同附圖一起閱讀時，自以下詳細說明最佳地理解本發明之態樣。應注意，根據工業中之標準方法，各種構件未必按比例繪製。實際上，為論述之清晰起見，可任意地增加或減小各種構件之尺寸。 圖1係圖解說明根據某些實施例之一適應性電壓調節器之一示意圖。 圖2係圖解說明根據某些實施例之參考電壓VREF 、輸出電壓VOUT 及電感器電流IL 之一訊號曲線圖。 圖3A係圖解說明根據某些實施例之效率ξ隨工作比d及高側接通時間THS 而變之一曲線圖。 圖3B係圖解說明根據某些實施例之效率ξ隨工作比d及高側接通時間THS 而變之一表面網格。 圖3C係圖解說明根據某些實施例之在一固定工作比(d = 0.20)處效率隨高側接通時間THS 而變之一曲線圖。 圖3D係圖解說明根據某些實施例之在一固定高側接通時間(THS = 5.83奈秒)處效率隨工作比d而變之一曲線圖。 圖4係圖解說明根據某些實施例之一適應性控制單元之一數位實施方案之一方塊圖。 圖5係圖解說明根據某些實施例之適應性控制單元中之一ADC之一類比實施方案之一示意圖。 圖6係圖解說明根據某些實施例之一適應性電壓調節方法之一流程圖。

Claims (10)

  1. 一種電壓調節器電路，其包括：一第一比較器，其具有一第一輸入、一第二輸入及一輸出，其中該第一輸入連接至該電壓調節器電路之一輸出節點，且該第二輸入連接至具有一參考電壓之一參考節點；一第一電晶體及一第二電晶體，其中該第一電晶體之一汲極連接至該第二電晶體之一汲極；一電感器，其耦合於該第一電晶體之該汲極與該輸出節點之間；一第一電容器及一電阻器，其並聯連接於該輸出節點與該第二電晶體之一源極之間；一峰值電流偵測器，其經組態以偵測穿過該電感器之峰值電流；一零交點偵測器，其經組態以偵測穿過該電感器之零交點電流；及一控制單元，其經組態以接收包含一輸入電壓、一時脈訊號及該第一比較器之該輸出之複數個輸入訊號以適應性地控制該電壓調節器電路，其中該控制單元經組態以：基於該電壓調節器電路之該輸出節點上之一電壓及該控制單元之該輸入電壓而判定一工作比；基於該工作比而計算針對該第一電晶體之一接通持續時間之一時脈循環次數；及對該接通持續時間之該時脈循環次數進行計數以輸出表示該接通持續時間之一訊號。
  2. 如請求項1之電壓調節器電路，其中該控制單元進一步包括：一類比轉數位轉換器，其具有連接至該輸出節點之一第一輸入及連接至該輸入電壓之第二輸入，其中該類比轉數位轉換器經組態以輸出該工作比；一數位邏輯單元，其具有連接至該類比轉數位轉換器之一輸出之一輸入，其中該數位邏輯單元經組態以計算該時脈循環次數；及一計數器，其具有連接至該數位邏輯單元之輸出之一輸入，其中該計數器經組態以對該時脈循環次數進行計數。
  3. 如請求項1之電壓調節器電路，其中該控制單元進一步包括：一第一邏輯閘，其經組態以控制該第一電晶體；一第二邏輯閘，其經組態以控制該第二電晶體；及一空載時間單元，其耦合至該第一邏輯閘及該第二邏輯閘之輸出，且經組態以基於該第一邏輯閘及該第二邏輯閘之該等輸出之狀態而防止該第一電晶體與該第二電晶體被同時接通。
  4. 如請求項1之電壓調節器電路，其中該零交點偵測器之一輸出及該峰值電流偵測器之一輸出傳輸至該控制單元。
  5. 如請求項2之電壓調節器電路，其中類比轉數位轉換器進一步包括：一電流源；一第二電容器，其連接至該電流源之一輸出；一第三電晶體，其具有連接至該電流源之輸出之一汲極及連接至該 第二電容器之一源極；一第二比較器，其中該第二比較器之一第一輸入連接至該第三電晶體之該汲極且連接至該第二電容器，該比較器之一第二輸入連接至該參考節點或該電壓調節器電路之該輸出節點，且該第二電晶體之一閘極連接至該第二比較器之一輸出；及一計數器，其具有連接至該比較器之該輸出之一輸入。
  6. 如請求項1之電壓調節器電路，其進一步包括：一第一驅動器電路，其經組態以自該控制單元接收一第一控制訊號且驅動該第一電晶體。
  7. 如請求項1之電壓調節器電路，其中該電壓調節器進一步包括：一第二驅動器電路，其經組態以自該控制單元接收一第二控制訊號且驅動該第二電晶體。
  8. 如請求項1之電壓調節器電路，其中該峰值電流偵測器及該零交點偵測器分別經由該第一電晶體及該第二電晶體連接至該電感器。
  9. 一種控制單元，其包括：一類比轉數位轉換器，其具有連接至一第一節點之一第一輸入及連接至一第二節點之一第二輸入，其中該類比轉數位轉換器經組態以基於該第一節點及該第二節點處之電壓而輸出一工作比；一數位邏輯單元，其具有連接至該類比轉數位轉換器之一輸出之一 輸入，其中該數位邏輯單元經組態以基於該工作比而計算針對第一電晶體之一接通持續時間之一時脈循環次數；及一計數器，其具有連接至該數位邏輯單元之輸出之一輸入，其中該計數器經組態以對該接通持續時間之該時脈循環次數進行計數以輸出表示該接通持續時間之一訊號；及一空載時間單元，其經組態以防止該第一電晶體與一第二電晶體被同時接通。
  10. 一種用於電壓調節之方法，其包括：量測一電壓調節器電路之一輸出節點處之一輸出電壓；在一比較器處比較該電壓調節器電路之該輸出電壓與一參考電壓以偵測該輸出電壓等於或小於該參考電壓之一狀況；在一類比轉數位轉換器處將一工作比計算為該輸出電壓與一輸入電壓之一比率；在一數位邏輯電路處依據該工作比而計算一第一電晶體之一接通持續時間THS，其中一電感器耦合於該第一電晶體之一汲極與該輸出節點之間；在一計數器處對時脈循環進行計數以獲得該接通持續時間THS；及將該第一電晶體接通達該持續時間THS。
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