TWI613536B - 轉速量測裝置校正系統及其方法 - Google Patents

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轉速量測裝置校正系統及其方法
本發明係有關於一種轉速校正系統，更詳而言之，尤指一種利用比對校正法進行轉速校正之轉速量測裝置校正系統及其方法。
角速度為一導出量，以rad/s或rev/s為單位，即每秒旋轉之徑度(radian)或圈數(revolution)，馬達、離心機的角速度又可稱為轉速，常見於工業、醫療、及民生等用途之產品，而其轉速的準確度影響產品品質。
請參閱第1圖，係為習知轉速量測系統示意圖，如圖所示，該系統係包括一發射模組11、一旋轉裝置12、一接收模組13及一處理模組14，透過該發射模組11產生一光訊號，該旋轉裝置12係具有一轉盤121，於該轉盤121一側貼覆一反光單元122，利用該反光單元122反射該光訊號，轉盤121轉動後，透過接收模組13接收該反射之光訊號，將該光訊號轉換成一電訊號，並將該電訊號傳遞至處理模組14，藉由顯示器讀出該轉速值。
請參閱第2圖，係為習知轉速校正系統示意圖，轉速校正系統為標準件，轉速量測裝置為待校正件，如圖所 示，該系統係包括一轉速控制電路21及一馬達22，該馬達22主軸運用齒輪連接增速副軸與減速副軸(未圖示)，增速副軸與主軸之轉速比例值為5，減速副軸與主軸之轉速比例值為1/10，於該轉軸裝上貼有反光單元231之轉盤23，將一待校正轉速量測裝置24之感測鏡頭，對著該轉盤23上反光單元231之位置量測，於該馬達22之轉速範圍內取十個校正點，其待校正轉速量測裝置24所顯示之器示值，與該校正系統之轉速度標準值進行比對，藉以達到校正之目的。
該技術另一運用，係將該轉速量測裝置作為轉速量測標準件，該離心機為待校正件，在該離心機之轉軸或轉臂上貼一反光貼紙，將轉速量測標準件之感測鏡頭，對著該離心機上反光貼紙之位置進行量測，於該離心機之使用範圍內取十個校正點，其器示值與該轉速量測裝置之速度標準值進行比對，藉以達到校正之目的。
如上所述馬達所組成的標準轉速校正系統，於執行轉速量測裝置校正時，會產生以下問題(1)馬達在低轉速時，易有轉速超越的現象(overshoot)，而高轉速時，易有轉速失步(delayed action)的現象；(2)轉速校正系統的馬達主軸運用齒輪連接增速副軸與減速副軸時，齒輪的摩擦力造成轉速誤差；(3)馬達會有累積轉速誤差；(4)轉速控制電路內振盪頻率之穩定度；(5)工作標準件上反光單元之位置點不確定度；(6)標準轉速校正系統如操作於15000rpm以上時，產生高 頻刺耳的噪音和工安疑慮。
鑒於上述習知技術之缺點，本發明主要之目的在於提供一種轉速量測裝置校正系統及其方法，透過比對待測轉速量測裝置及標準轉速校正系統所產生之數據，達到校正轉速量測裝置之目的。
為達上述目的，本發明係提供一種轉速量測裝置校正系統及其方法，以比對校正法進行轉速裝置之校正，利用訊號產生模組產生特定頻率之光訊號，透過接收該光訊號，俾使待校正轉速量測裝置，產生一轉速器示值，該電訊號係透過處理單元運算，產生一轉速標準值，比對該轉速標準值及該器示值，取得該轉速標準值及該器示值之器差值，利用器差值修正轉速量測數據，以達該待校正轉速量測裝置之校正目的。
11‧‧‧發射模組
12‧‧‧旋轉裝置
13‧‧‧接收模組
14‧‧‧處理模組
121‧‧‧轉盤
122、231‧‧‧反光單元
21‧‧‧轉速控制電路
22‧‧‧馬達
23‧‧‧轉盤
24‧‧‧轉速量測裝置
31‧‧‧訊號產生模組
32‧‧‧待校正轉速量測裝置
311‧‧‧訊號產生單元
312‧‧‧發光單元
S1~S3‧‧‧校正方法步驟
第1圖係為習知轉速量測系統示意圖。
第2圖係為習知轉速校正系統示意圖。
第3圖係為本發明轉速量測裝置校正系統示意圖。
第4圖係為本發明轉速量測裝置校正方法步驟 示意圖。
以下係藉由特定的具體實例說明本發明之實施方式，熟悉此技藝之人士可由本說明書所揭示之內容瞭解本發明之其他優點與功效。
請參閱第3圖，係為本發明轉速量測裝置校正系統示意圖，如圖所示，該系統係包括訊號產生模組31及待校正轉速量測裝置32，該訊號產生模組31具有一訊號產生單元311，及一發光二極體(LED)或雷射之發光單元312，利用該訊號產生單元產生311一特定頻率之電訊號，驅動該發光單元312元產生特定頻率之光訊號，該待校正轉速量測裝置32係接收該光訊號，產生一轉速器示值，其中，該訊號產生單元311係產生一特定頻率之電訊號，且該特定頻率係由訊號產生器電性連接一原子鐘，透過該原子鐘得到原級頻率標準，透過該特定頻率模擬不同轉速度值，將該電訊號透過運算，產生一轉速標準值，透過比對該轉速標準值及該器示值，藉由比對該轉速標準值及該器示值，取得該轉速標準值及該器示值之器差值，利用器差值修正轉速量測數據，以達該待校正轉速量測裝置之校正目的。
請參閱第4圖係為本發明轉速量測裝置校正方法步驟示意圖，如圖所示， 步驟1(S1)：提供一特定頻率之電訊號；步驟2(S2)：接收該電訊號產生特定頻率之光訊號；步驟3(S3)：接收該光訊號，產生一轉速器示值，其中，該電訊號透過運算得到一轉速標準值，藉由比對該轉速標準值及該器示值，取得該轉速標準值及該器示值之器差值，利用器差值修正轉速量測數據，以達該待校正轉速量測裝置之校正目的。
上述之實施例僅為例示性說明本發明之特點及其功效，而非用於限制本發明之實質技術內容的範圍。任何熟習此技藝之人士均可在不違背本發明之精神及範疇下，對上述實施例進行修飾與變化。因此，本發明之權利保護範圍，應如後述之申請專利範圍所列。
31‧‧‧訊號產生模組
32‧‧‧待校正轉速量測裝置
311‧‧‧訊號產生單元
312‧‧‧發光單元

Claims (9)

  1. 一種轉速量測裝置校正系統，係利用比對校正法進行轉速裝置之校正系統，該系統係包括：一訊號產生模組，係具有一訊號產生單元，及一發光單元，利用該訊號產生單元產生一特定頻率之電訊號，驅動該發光單元產生特定頻率之光訊號；一待校正轉速量測裝置，係接收該光訊號，產生一轉速器示值，其中，該電訊號透過運算，產生一轉速標準值，透過比對該轉速標準值及該器示值，取得該轉速標準值及該器示值之器差值，利用器差值修正轉速量測數據，以達該待校正轉速量測裝置之校正目的。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之轉速量測裝置校正系統，其中，該特定頻率係由訊號產生器電性連接一原子鐘，透過該原子鐘得到原級頻率標準。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之轉速量測裝置校正系統，其中，該發光單元係為一發光二極體(LED)或雷射。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之轉速量測裝置校正系統，其中，該特定頻率係用以模擬不同轉速度值。
  5. 一種轉速量測裝置校正方法，係利用比對校正法進行轉速裝置校正之校正系統，該方法步驟係包括：提供一特定頻率之電訊號；接收該電訊號產生特定頻率之光訊號； 接收該光訊號，產生一轉速器示值，其中，該電訊號透過運算得到一轉速標準值，藉由比對該轉速標準值及該器示值，取得該轉速標準值及該器示值之器差值，利用器差值修正轉速量測數據，以達該待校正轉速量測裝置之校正目的。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之轉速量測裝置校正方法，其中，該特定頻率之電訊號係透過訊號產生單元產生。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之轉速量測裝置校正方法，其中，該特定頻率係由訊號產生器電性連接一原子鐘，透過該原子鐘得到原級頻率標準。
  8. 如申請專利範圍第5項所述之轉速量測裝置校正方法，其中，該光訊號係利用一發光二極體(LED)或雷射產生。
  9. 如申請專利範圍第5項所述之轉速量測裝置校正方法，其中，該特定頻率係用以模擬不同轉速度值。
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