TWI580953B - 用於偵測於一離子室中煙霧之方法及設備 - Google Patents

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Description

用於偵測於一離子室中煙霧之方法及設備
本發明係關於煙霧偵測裝置，且更特定而言係關於使用當煙霧被引入於離子室中時會影響離子室之電容值的電容率之改變的煙霧偵測裝置。
本申請案主張Benjamin T.Cooke、Joseph Julicher及Keith Edwin Curtis之2011年12月14日申請之題為「Method and Apparatus for Detecting Smoke」之共同擁有之美國臨時專利申請案第61/570,485號的優先權；且為Joseph Julicher、Keith Curtis及Paul N.Katz之2012年10月2日申請之題為「Differential Current Measurements to Determine Ion Current in the Presence of Leakage Current」之美國專利申請案第13/633,686號的部分接續申請案；該兩案出於所有目的特此以引用之方式併入本文中。
煙霧偵測器一般使用含有一放射性離子源之離子化室，該放射性離子源耦接至一高輸入阻抗運算放大器。圖1展示用於煙霧偵測器中之典型離子化室，該典型離子化室用以產生在存在煙霧粒子時減小之極小電流(nA)。運算放大器用以將此電流轉換為電壓，該電壓接著經量測以判定煙霧之存在。高溫在煙霧偵測器中之運算放大器之輸入上引起增大之漏電流。此情形影響了離子化室煙霧偵測功能之總體效能。因此，漏電流之該等增大可引起多種問題，諸如，不準確性等，該多種問題在設計煙霧偵測器時可需要 另外補償電路且因此可增大裝置之成本。
另外，離子室之阻抗極高，且任何漏電流(例如，印刷電路板漏電流)皆會遮蔽離子室電流。煙霧偵測離子室因此需要複雜的製造程序，在該製造程序中感測積體電路運算放大器之接腳經彎曲且直接在空中熔接至離子室。如以上所提及，需要特殊之低洩漏電路以偵測由離子室中之煙霧之存在所引起的通過離子室之小電流改變。
因此，存在對於既不需要敏感且昂貴之組件亦不需要複雜製造程序的用以偵測煙霧偵測器之離子室中之煙霧之方式的需要。
根據一實施例，一種用於偵測煙霧之方法可包含以下步驟：將一離子化室耦接至一電容性分壓器(CVD)電路；使用該CVD電路判定該離子化室之一電容的一改變；及藉由偵測該電容之一預定改變而偵測煙霧之存在。
根據本方法之另一實施例，該判定該離子化室之該電容之該改變的步驟可進一步包含以下步驟：在該離子化室可處於一第一極性下時判定該離子化室之該電容的一第一改變；在該離子化室可處於一第二極性下時判定該離子化室之該電容的一第二改變；判定該第一改變與該第二改變之間的一差；及將該差用於判定該離子化室之該電容的該改變。根據本方法之另一實施例，該電容之該預定改變可為該電容在一特定時間內之一改變。
根據本方法之另一實施例，該判定該離子化室之該電容 之該改變的步驟可包含以下步驟：將一第一電容器之電容充電至一第一電壓；將該離子化室之該電容充電至一第二電壓；將該第一電容器耦接至該離子化室之該電容，其中得到該第一電容器及該離子化室之該電容上之一第三電壓；將該第三電壓轉換為該第三電壓之一數位表示；比較該經轉換之第三電壓之該數位表示與該第三電壓之一先前所儲存之數位表示；當該經轉換之第三電壓的該數位表示已自該先前所儲存之數位表示改變了至少預定改變時偵測到煙霧之存在；及儲存該第三電壓之該數位表示。
根據本方法之另一實施例，該判定該離子化室之該電容之該改變的步驟可包含以下步驟：將一第一電容器之該電容充電至一第一電壓；將任由煙霧進入之一第一離子化室之電容充電至一第二電壓；將該第一電容器耦接至該第一離子化室之該電容，其中得到該第一電容器及該第一離子化室之該電容上之一第三電壓；將該第三電壓轉換為該第三電壓之一數位表示；儲存該第三電壓之該數位表示；將該第一電容器之該電容充電至一第四電壓；將經封閉而不使煙霧進入之一第二離子化室之電容充電至一第五電壓；將該第一電容器耦接至該第二離子化室之該電容，其中得到該第一電容器及該第二離子化室之該電容上之一第六電壓；將該第六電壓轉換為該第六電壓之一數位表示；儲存該第六電壓之該數位表示；自該第六電壓之該數位表示減去該第三電壓之該數位表示且將該第三電壓之該數位表示除以該第六電壓之該數位表示以產生一所得表示；比較該 所得表示與一先前所儲存之所得表示；當該所得表示已自該先前所儲存之所得表示改變了至少預定改變時偵測到煙霧之該存在；及儲存該所得表示；根據本方法之另一實施例，其中：在一第一量測中，該離子化室之一外殼可耦接至該CVD電路；及在一第二量測中，該離子化室之一收集板可耦接至該CVD電路。
根據本方法之另一實施例，另外步驟可包含如下步驟：自該第二量測之一量測值減去該第一量測之一量測值，接著將該第一量測之該量測值除以該第二量測值；及比較後續時間週期之計數數目以判定該等後續時間週期中之任何一或多者的該計數數目是否已改變了一特定數目之計數。根據本方法之另一實施例，另一步驟可包含藉由來自一溫度感測器之溫度資訊來補償溫度改變的步驟。根據本方法之另一實施例，另一步驟可包含藉由來自一相對濕度感測器之相對濕度資訊來補償相對濕度改變的步驟。
根據本方法之另一實施例，另一步驟可包含藉由來自一電壓感測器之電壓資訊來補償電壓改變的步驟。根據本發明之另一實施例，該第一電壓可約為一電源供應電壓且該第二電壓可約為一公共接地電壓(power supply common)。根據本方法之另一實施例，該第一電壓可約為一公共接地電壓且該第二電壓可約為一電源供應電壓。根據本方法之另一實施例，該第四電壓可約為一電源供應電壓且該第五電壓可約為一公共接地電壓。根據本方法之另一實施例，該第四電壓可約為一公共接地電壓且該第五電壓可約為一 電源供應電壓。
根據另一實施例，一種用於偵測煙霧之設備可包含：一耦接至一電容性分壓器(CVD)電路的離子化室，該電容性分壓器(CVD)電路用於判定該離子化室之一電容；其中該離子化室之該電容之一預定改變指示該離子化室中煙霧之存在。
根據另一實施例，可提供電路，該等電路用於交替地在一第一極性下耦接至該離子化室以用於判定該離子化室之一第一電容且在一第二極性下耦接至該離子化室以用於判定該離子化室之一第二電容，藉此該第一電容與該第二電容之間的一差可用於判定該離子化室中煙霧之該存在。根據另一實施例，該CVD電路可為一微控制器中之一周邊裝置。根據另一實施例，一數位處理器與記憶體可耦接至該CVD電路及一警報電路。
根據另一實施例，一溫度感測器可耦接至該數位處理器及一溫度補償查找表，該溫度補償查找表儲存於耦接至該數位處理器之該記憶體中且用以補償該離子化室之電容之由溫度所誘發的改變。根據另一實施例，一濕度感測器可耦接至該數位處理器及一濕度補償查找表，該濕度補償查找表儲存於耦接至該數位處理器之該記憶體中且用以補償該離子化室之該電容之由濕度所誘發的改變。根據另一實施例，一電壓感測器可耦接至該數位處理器及一電壓補償查找表，該電壓補償查找表儲存於耦接至該數位處理器之該記憶體中且用以補償該離子化室之該電容之由電壓所誘 發的改變。根據另一實施例，一可聽警告可由該離子化室中煙霧之該存在致動。根據另一實施例，一視覺警告可由該離子化室中煙霧之該存在致動。
根據又一實施例，一種用於偵測煙霧之設備可包含；一耦接至一電容性分壓器(CVD)電路的第一離子化室，該電容性分壓器(CVD)電路用於判定該第一離子化室之一電容，其中該第一離子化室可任由煙霧進入；一耦接至該CVD電路之第二離子化室，該CVD電路用於判定該第二離子化室之一電容，其中該第二離子化室可經封閉而不使煙霧進入；其中該第一離子化室及該第二離子化室之該等電容之一預定差指示該第一離子化室中煙霧之存在。根據另一實施例，一煙霧偵測計時器可用於判定該預定差是否發生於一特定時間週期內。
可藉由參考結合隨附圖式進行之以下描述來獲得對本發明之更完整理解。
儘管本發明易受各種修改及替代形式影響，但其特定實例實施例已在圖式中展示且在本文中詳細描述。然而應理解，本文中對特定實例實施例之描述並不意欲將本發明限於本文中所揭示之特定形式，相反，本發明欲涵蓋如由附加申請專利範圍界定之所有修改及等效物。
離子室中之放射性源使得室中之氣體(例如，空氣)中的一些離子化。結果為歸因於高於正常電極化(離子化)氣體分子數目之電極化(離子化)氣體分子數目而導致氣體之高 於正常電容率的電容率。當煙霧進入離子室時，煙霧與經離子化氣體分子反應，藉此改變其電容率ε。離子室可特徵化為具有由離子室之經充電板102及104(圖1)之間的離子流所判定之量之漏電流的洩漏電容器。由板102及104形成之電容器的電容C根據如下公式為導電板102及104之面積A、板102及104之間的距離d及板102及104之間的介電質(空氣)之電容率ε的函數：C=εA/d。因此，離子室中之氣體的電容率的改變亦改變了離子室之電容值。因此，藉由使用一電容量測功能(例如，微控制器中之電容性分壓器(CVD))，可偵測由此洩漏電容器之氣體介電質之電容率改變所引起的電容值改變以判定離子室中煙霧之存在。
微控制器現包括增強該等電容值改變之偵測及評估的周邊裝置。一種該應用利用電容性分壓器(CVD)方法來判定電容值及/或評估該電容值是否已改變。CVD方法更完整地描述於在www.microchip.com處可獲得之應用筆記AN1208中；且CVD方法之更詳細解釋係呈現於Dieter Peter之題為「Capacitive Touch Sensing using an Internal Capacitor of an Analog-To-Digital Converter(ADC)and a Voltage Reference」之共同擁有之美國專利申請公開案第US 2010/0181180號中；其中該兩文獻出於所有目的特此以引用之方式併入本文中。亦經考量且在本發明之範疇內，具有必要解析度之任何類型之電容量測電路可用於判定離子室之電容值及/或電容值之改變，且一般熟習電子裝置技術且受益於本發明之人士可實施此電容量測電路。
溫度及電池電壓變化可引起氣體(空氣)之電容率的明顯差異連同第一離子室之電容量測的對應變化。藉由提供一經密封而不使煙霧進入之第二離子室，可使用第一離子室及第二離子室中之每一者的經量測電容值的比較來補償此等變化且提供一偵測煙霧粒子之敏感方式。舉例而言，自第二離子室電容值減去第一離子室電容值且接著將第一離子室電容值除以第二離子室電容值移除了溫度及電池電壓影響，進而剩下主要受第一離子室中煙霧之存在影響的合成值。
可將溫度感測器、相對濕度(RH)感測器及/或電池電壓感測器併入至煙霧偵測系統中用於判定針對用於煙霧偵測之離子室之電容量測所必要的補償。相比於離子室電容器之板之間的空氣中之污染物(碳粒子，等等)之量的突然改變，歸因於溫度、RH及/或電壓改變之電容率變化大體係在一較長時間週期上發生。用以忽略歸因於溫度、RH及/或電壓改變之電容率變化的另一較不敏感之方式將為使用包絡偵測或平均程序，以忽略離子室電容歸因於電壓及/或溫度改變的緩慢漂移，但辨識出空氣之電容率歸因於碳粒子在離子室中突然顯現的更突然(迅速)改變。可使用用於量測電容之改變的各種技術且其出於所有目的而在本文中考量。一般熟習電容器量測電路且受益於本發明之人士可容易地將彼等電容器量測電路應用於煙霧偵測設備中。混合信號(類比及數位功能)微控制器可用於電容量測(例如，CVD，使用微控制器中之類比數位轉換器(ADC))，進 行用以判定煙霧是否存在於離子室中且補償及/或平均歸因於溫度、RH及/或電池電壓改變之電容率改變所必要的計算。
現參看圖式，示意性地說明特定實例實施例之細節。圖式中的相似元件將由相似數字表示，且類似元件將由具有一不同小寫字母字尾的相似數字來表示。
參看圖1，其描繪具有輻射源且用作煙霧偵測感測器之離子室的示意圖。離子室102可特徵化為具有在電容器板104及106之間的一些經離子化氣體分子的電容器。該等氣體分子係藉由輻射源離子化，且當在兩個電容器板104及106之間施加一電壓時，電流將流過經離子化氣體及與電容器板104及106串聯連接之電阻器108。此電流產生跨越電阻器108之電壓。藉由量測跨越電阻器108之電壓，可判定氣體之電容率ε。離子室中之煙霧將引起電容率ε之突然改變，從而導致電流及跨越電阻器108之電壓的突然改變。此電壓係藉由一極高阻抗之運算放大器(未圖示)進行量測，該極高阻抗之運算放大器需要複雜電路及製造程序。根據本發明之教示，較佳方式為在煙霧進入離子室中之前及在煙霧進入離子室中之後量測離子室之電容值。當經離子化氣體電容率ε改變時，離子室之電容值亦改變。藉由使用具有足夠高之電容值量測解析度的電容性量測模組，由於煙霧進入至離子室中所引起的電容之改變可被偵測到且用以產生一煙霧偵測警報。
參看圖1A，其描繪具有輻射源之離子室的示意圖，且該 離子室展示了在不同極性電壓源連接至該離子室的情況下流過該離子室之電流。離子室102可特徵化為在其間具有一些經離子化氣體(例如，空氣)分子的三個電極(例如，電極104、106及210)。氣體分子由輻射源108離子化。當在第一極性下(電極106為正且電極104為負)於兩個電極104及106之間施加電壓電位112時，正偏壓之離子化電子電流116 Ichamber將流過經離子化氣體。當在第二極性下(電極104為正且電極106為負)於兩個電極104及106之間施加電壓電位112時，實質上將無負偏壓之離子化電子電流116a流過經離子化氣體，因為現在電極104將排斥經離子化氣體電子。然而，漏電流114 Ileakage(例如，印刷電路板污染物、油脂、灰塵，等)將無關於電壓電位112之連接極性而流動。
因此，當跨越室102電極104及106在第一極性下連接電壓電位112時，通過電流計110之總電流為經離子化電子電流116 Ichamber加上漏電流114 Ileakage。且當跨越室102電極104及106在第二極性下連接電壓電位112時，通過電流計110之總電流實質上為無經離子化電子電流116a加上漏電流114 Ileakage，此導致實質上僅有漏電流114 Ileakage。因此，藉由自總電流減去漏電流114 Ileakage，可判定實際的經離子化電子電流116 Ichamber。此允許對經離子化電子電流116 Ichamber之任何改變的更敏感量測而不會使此等改變被不當漏電流114 Ileakage遮蔽。考量且在本發明之範疇內，可由離子源108離子化之任何流體(例如，氣體或液體) 將如上文所描述起作用。
參看圖2，其描繪具有輻射源之典型雙室煙霧偵測感測器的示意性正視圖。離子室102包含兩個室102a及102b。頂部室102a任由煙霧進入其中，且底部室102b封閉而不使煙霧進入。導電屏柵210位於兩個室102a及102b之間。鄰近於離子室102或在離子室102中之輻射源108使得室102a及102b中之氣體中的一些氣體離子化。室102a及102b內之氣體的此離子化使得通過兩個室102a及102b之離子化電流116 Ichamber在離子室102之電極104及106之間增大。
當煙霧存在於頂部室102a中時，煙霧與經離子化氣體組合，從而中和離子化電流116 Ichamber之電流路徑中的經離子化氣體中之一些。因此，頂部室102a之電容率小於下部室102b中之電容率。離子化電流116 Ichamber連續流過室102a及102b且因此當煙霧存在於室102a中時將較低。當跨越室102a及102b之電壓反向時，實質上將無反向離子化電流116a流動，且在電極104及106之間流動的僅有電流將為漏電流114。漏電流114之存在減小了量測離子化電流116之改變方面的敏感性。藉由自室102a中之煙霧判定移除此共模漏電流114，得到一更敏感之煙霧偵測器。
參看圖3，其描繪根據本發明之一特定實例實施例的煙霧偵測器之示意性方塊圖。大體上由數字300表示之煙霧偵測器可包含一具有電容性分壓器(CVD)及輸入多工功能之類比數位轉換器(ADC)208、一煙霧偵測感測器離子室102a、一數位處理器與記憶體314、一警報驅動器316及一 可聽/視覺警告318。ADC 208、數位處理器與記憶體314及警報驅動器316可設在一積體電路微控制器330中。煙霧偵測感測器離子腔室102a耦接至ADC 208，在該ADC 208中量測煙霧偵測感測器離子室102a之電容值之表示且接著每一代表性電容值由數位處理器與記憶體314讀取且在數位處理器與記憶體314中進行處理。當在一特定時間內存在電容值表示之改變時，數位處理器314將啟用警報驅動器316，該警報驅動器316接通可聽/視覺警告318以指示在煙霧偵測器300之位置存在煙霧。
煙霧偵測器300可進一步包含一第二離子室102b，該第二離子室102b經封閉而不使可含有煙霧之外部空氣進入。第一離子室102a及第二離子室102b可用於進行第一離子室102a及第二離子室102b中之每一者之經量測電容值的比較，且補償此等變化，藉此提供偵測煙霧粒子之更敏感方式，如上文中更完整地描述。
煙霧偵測器300可進一步包含一溫度感測器320、一相對濕度感測器322及/或一耦接至電源供應器(例如，電池(未圖示))之電壓感測器324。其中數位處理器314可(例如)使用含有用於煙霧感測器離子室102之校準及補償資料的查找表來補償可在不同溫度、濕度及/或電壓條件下改變的電容量測。另外，數位處理器314可執行平滑、時間平均、雜訊抑制、過取樣及/或數位信號處理以增強電容改變偵測敏感性及/或減少雜訊拾取。
參看圖4，其描繪圖3中所展示之電容性分壓器功能之示 意性方塊圖。該電容性分壓器(CVD)功能不使用外部組件。根據本發明之教示，其僅需要一設在微控制器中之類比數位轉換器(ADC)。具有ADC能力之微控制器330在使用判定離子室102之電容值的電容性分壓器(CVD)方法時適用。在CVD方法中，兩個電容器被充電/放電至相反電壓值。接著，兩個經相反充電之電容器被耦接在一起且在經連接之兩個電容器上量測所得電壓。該所得電壓由ADC442轉換為其數位表示且由數位處理器314讀取。此數位表示可由數位處理器314轉換為一電容值或數位表示本身可被使用，因為該數位表示與電容值成比例。所得電壓之此數位表示的足量改變可用以指示離子室102中之煙霧。為了實現更可靠之煙霧偵測的另一增強為要求數位表示之該足量改變在小於或等於一特定時間週期內發生，以便去除歸因於溫度、相對濕度及/或供應電壓(例如，電池，未圖示)之改變的離子室102之緩慢電容改變。
多工器開關G可用以選擇離子室102a或102b中之任一者，且可受數位處理器314控制。圖4中所展示之開關可為(例如但不限於)場效電晶體(FET)開關。節點436為耦接至內部單線(導體)類比匯流排444的類比節點。
第一CVD電容器為離子室102之電容，且第二CVD電容器可為一取樣與保持電容器444。較佳地，此等兩個電容器具有相當接近之電容值，例如，1：1至約3：1。若非如此，則可將額外電容添加至第一CVD電容器或是第二CVD電容器。在CVD方法中，此情形之原因為來自一電容器之 電荷的部分被轉移至不具有電荷或相反電荷的另一電容器。舉例而言，當兩個CVD電容器之值相等時，一個CVD電容器上之電荷的一半將被轉移至另一電容器。二比一之電容比將導致電荷之1/3被轉移至較小(1/2 C)電容器或自較小(1/2 C)電容器獲取電荷之1/3(視該等電容器中之哪一者最初經充電而定)。
當取樣與保持電容器440實質上小於離子室102之電容時，可從外部將額外電容438a添加至節點436，及/或可獨立於節點436添加內部電容438b，以使得電容器440、438a及/或438b之經組合電容具有相對於離子室102之電容值的足量電容以符合以上準則。此情形導致使用CVD方法判定電容值方面之最佳解析度。電容器440亦為用以在電荷於兩個CVD電容器之間進行轉移之後取樣且保持所得之類比電壓的取樣與保持電容器。一旦電荷轉移完成，類比數位轉換器(ADC)442便將所得電荷電壓轉換為由數位處理器314讀取之數位值以用於離子室102之電容值或該電容值之改變的進一步處理及判定。
在後文中所呈現之實例中，可結合取樣與保持電容器440選擇離子室102(第一CVD電容器)、電容器438a(外部連接之電容器)及/或電容器438b(內部連接之電容器)的電容值，以導致為Vdd電壓之1/3或2/3的組合電荷電壓(分別視第一CVD電容器(離子室102)放電至Vss抑或充電至Vdd，及電容器438及440之組合充電至Vdd抑或放電至Vss而定)。在此實例中，離子室102之電容約為電容器438及440 之並聯連接組合之電容的兩倍。在將兩個相反極性之經充電CVD電容器耦接在一起之後的所得靜態電壓將在離子室電容最初放電至Vss時為約1/3*Vdd，且在離子室電容最初充電至Vdd時為約2/3*Vdd。
根據各種實施例，在一量測中，離子室102a(圖2)之外殼106可被充電/放電且接著與電容器440並聯耦接且所得電壓由ADC 442轉換。在另一量測中，離子室102a之內部收集板104可與電容器440並聯連接。又，自離子室102b所得電壓值減去離子室102a所得電壓值且將離子室102a所得電壓值除以離子室102b所得電壓值移除了溫度及電池電壓影響，從而剩下主要受離子室102a中煙霧之存在影響的所得電壓值。
參看圖5，其描繪根據本發明之另一特定實例實施例的圖3中所展示之電容性分壓器功能之一部分的示意性方塊圖，其展示用於去除共模漏電流之切換構件。開關550及552以及554及556分別改變室102a及102b之極性連接。對室102a及102b中之每一者進行兩個CVD量測操作，在第一極性下進行一個CVD量測操作及在一與第一極性相反之第二極性下進行第二CVD量測操作。此等CVD量測操作之結果係儲存於數位處理器314之記憶體中以用於進一步計算處理(例如，自每一室102a及102b之較高CVD量測操作電容值減去較低CVD量測操作電容值，藉此消除由漏電流114引起之影響，結果為僅存在室離子化電流116之表示)。因為每一室102a及102b係獨立地進行量測，所以兩 個室之離子化電流116的任何差將指示煙霧對室102a中之氣體之離子化的影響。相對於表示煙霧離子化室102b之CVD量測操作電容值判定表示經封閉離子化室之離子化電流116之CVD操作電容值藉此允許獲得一基本值，該基本值可用以追蹤室102a之基本電容參考值或使室102a之基本電容參考值「浮動」，使得可更容易地將基本值之小改變辨識為指示偵測到室102a中之煙霧。
儘管已藉由參考本發明之實例實施例而描繪、描述且界定了本發明之實施例，但該等參考不暗示對本發明之限制，且不應推導出該限制。所揭示之標的物能夠在形式及功能上具有相當多的修改、變更及等效物，該等修改、變更及等效物為一般熟習相關技術且受益於本發明之人士易想到的。所描繪且描述之本發明之實施例僅係實例，且並非為詳盡無遺的本發明範疇。
102‧‧‧經充電板/板/導電板/離子室/室/煙霧感測器離子室
102a‧‧‧室/頂部室/煙霧偵測感測器離子室/離子室
102b‧‧‧室/底部室/第二離子室
104‧‧‧經充電板/板/導電板/電容器板/電極/內部收集板
106‧‧‧電容器板/電極/外殼
108‧‧‧電阻器/輻射源
110‧‧‧電流計
112‧‧‧電壓電位
114‧‧‧漏電流
116‧‧‧正偏壓之離子化電子電流/經離子化電子電流/離子化電流/室離子化電流
116a‧‧‧負偏壓之離子化電子電流/經離子化電子電流/離子化電流
208‧‧‧類比數位轉換器(ADC)
210‧‧‧電極/導電屏柵
300‧‧‧煙霧偵測器
314‧‧‧數位處理器與記憶體/數位處理器
316‧‧‧警報驅動器
318‧‧‧可聽/視覺警告
320‧‧‧溫度感測器
322‧‧‧相對濕度感測器
324‧‧‧電壓感測器
330‧‧‧積體電路微控制器
436‧‧‧節點
438a‧‧‧額外電容/電容器
438b‧‧‧內部電容/電容器
440‧‧‧取樣與保持電容器/電容器
442‧‧‧類比數位轉換器(ADC)
444‧‧‧內部單線(導體)類比匯流排/取樣與保持電容器
550‧‧‧開關
552‧‧‧開關
554‧‧‧開關
556‧‧‧開關
圖1說明具有輻射源且用作煙霧偵測感測器之離子室的示意圖；圖1A說明具有輻射源之離子室的示意圖，且該離子室展示了在不同極性電壓源連接至該離子室的情況下流過該離子室之電流；圖2說明用作煙霧偵測感測器之典型離子室的示意性正視圖；圖3說明根據本發明之一特定實例實施例之煙霧偵測器之示意性方塊圖； 圖4說明圖3中所展示之電容性分壓器功能的示意性方塊圖；及圖5說明根據本發明之另一特定實例實施例的在圖3中所展示之電容性分壓器功能之一部分的示意性方塊圖，其展示用於去除共模漏電流之切換構件。
102a‧‧‧室/頂部室/煙霧偵測感測器離子室/離子室
102b‧‧‧室/底部室/第二離子室
208‧‧‧類比數位轉換器(ADC)
300‧‧‧煙霧偵測器
314‧‧‧數位處理器與記憶體/數位處理器
316‧‧‧警報驅動器
318‧‧‧可聽/視覺警告
320‧‧‧溫度感測器
322‧‧‧相對濕度感測器
324‧‧‧電壓感測器
330‧‧‧積體電路微控制器

Claims (23)

  1. 一種用於偵測煙霧之方法，其包含以下步驟：將一離子化室耦接至一電容性分壓器(CVD)電路；使用該CVD電路以下步驟判定該離子化室之一電容的一改變：在該離子化室處於一第一極性下時判定該離子化室之該電容的一第一改變；在該離子化室處於一第二極性下時判定該離子化室之該電容的一第二改變；判定該第一改變與該第二改變之間的一差；及將該差用於判定該離子化室之該電容的該改變；及藉由偵測該電容之一預定改變而偵測煙霧之存在。
  2. 如請求項1之方法，其中該電容之該預定改變為該電容在一特定時間內之一改變。
  3. 如請求項1之方法，其中該判定該離子化室之該電容之該第一改變或該第二改變的步驟包含以下步驟：將一第一電容器之電容充電至一第一電壓；將該離子化室之該電容充電至一第二電壓；將該第一電容器耦接至該離子化室之該電容，其中得到該第一電容器及該離子化室之該電容上之一第三電壓；將該第三電壓轉換為該第三電壓之一數位表示；比較該經轉換之第三電壓之該數位表示與該第三電壓之一先前所儲存之數位表示； 當該經轉換之第三電壓的該數位表示已自該先前所儲存之數位表示改變了至少該預定改變時偵測到煙霧之該存在；及儲存該第三電壓之該數位表示。
  4. 如請求項1之方法，其中該離子化室包含任由煙霧進入之一第一離子化室及經封閉而不使煙霧進入之一第二離子化室，且其中該判定該離子化室之該電容之該改變的步驟包含以下步驟：將一第一電容器之該電容充電至一第一電壓；將任由煙霧進入之該第一離子化室之電容充電至一第二電壓；將該第一電容器耦接至該第一離子化室之該電容，其中得到該第一電容器及該第一離子化室之該電容上之一第三電壓；將該第三電壓轉換為該第三電壓之一數位表示；儲存該第三電壓之該數位表示；將該第一電容器之該電容充電至一第四電壓；將經封閉而不使煙霧進入之該第二離子化室之電容充電至一第五電壓；將該第一電容器耦接至該第二離子化室之該電容，其中得到該第一電容器及該第二離子化室之該電容上之一第六電壓；將該第六電壓轉換為該第六電壓之一數位表示；儲存該第六電壓之該數位表示； 自該第六電壓之該數位表示減去該第三電壓之該數位表示且將該第三電壓之該數位表示除以該第六電壓之該數位表示以產生一所得表示；比較該所得表示與一先前所儲存之所得表示；當該所得表示已自該先前所儲存之所得表示改變了至少該預定改變時偵測到煙霧之該存在；及儲存該所得表示。
  5. 如請求項1之方法，其中：在一第一量測中，該離子化室之一外殼耦接至該CVD電路；及在一第二量測中，該離子化室之一收集板耦接至該CVD電路。
  6. 如請求項5之方法，其進一步包含如下步驟：自該第二量測之一量測值減去該第一量測之一量測值，接著將該第一量測之該量測值除以該第二量測值；及比較後續時間週期之計數數目以判定該等後續時間週期中之任何一或多者的該計數數目是否已改變了一特定數目之計數。
  7. 如請求項1之方法，其進一步包含藉由來自一溫度感測器之溫度資訊來補償溫度改變的步驟。
  8. 如請求項1之方法，其進一步包含藉由來自一相對濕度感測器之相對濕度資訊來補償相對濕度改變的步驟。
  9. 如請求項1之方法，其進一步包含藉由來自一電壓感測器之電壓資訊來補償電壓改變的步驟。
  10. 如請求項3之方法，其中該第一電壓約為一電源供應電壓且該第二電壓約為一公共接地電壓。
  11. 如請求項3之方法，其中該第一電壓約為一公共接地電壓且該第二電壓約為一電源供應電壓。
  12. 如請求項4之方法，其中該第四電壓約為一電源供應電壓且該第五電壓約為一公共接地電壓。
  13. 如請求項4之方法，其中該第四電壓約為一公共接地電壓且該第五電壓約為一電源供應電壓。
  14. 一種用於偵測煙霧之設備，其包含：一耦接至一電容性分壓器(CVD)電路的離子化室，該電容性分壓器(CVD)電路用於判定該離子化室之一電容；其中該離子化室之該電容之一預定改變指示該離子化室中煙霧之存在；及電路，該等電路用於交替地在一第一極性下耦接至該離子化室以用於判定該離子化室之一第一電容且在一第二極性下耦接至該離子化室以用於判定該離子化室之一第二電容，藉此該第一電容與該第二電容之間的一差用於判定該離子化室中煙霧之該存在。
  15. 如請求項14之用於偵測煙霧之設備，其中該CVD電路為一微控制器中之一周邊裝置。
  16. 如請求項15之用於偵測煙霧之設備，其中該微控制器包含一耦接至該CVD電路及一警報電路之數位處理器與記憶體。
  17. 如請求項16之用於偵測煙霧之設備，其進一步包含一耦接至該數位處理器及一溫度補償查找表之溫度感測器，該溫度補償查找表儲存於耦接至該數位處理器之該記憶體中且用以補償該離子化室之該電容之由溫度所誘發的改變。
  18. 如請求項16之用於偵測煙霧之設備，其進一步包含一耦接至該數位處理器及一濕度補償查找表之濕度感測器，該濕度補償查找表儲存於耦接至該數位處理器之該記憶體中且用以補償該離子化室之該電容之由濕度所誘發的改變。
  19. 如請求項16之用於偵測煙霧之設備，其進一步包含一耦接至該數位處理器及一電壓補償查找表之電壓感測器，該電壓補償查找表儲存於耦接至該數位處理器之該記憶體中且用以補償該離子化室之該電容之由電壓所誘發的改變。
  20. 如請求項14之用於偵測煙霧之設備，其進一步包含一可聽警告，該可聽警告係由該離子化室中煙霧之該存在致動。
  21. 如請求項14之用於偵測煙霧之設備，其進一步包含一視覺警告，該視覺警告係由該離子化室中煙霧之該存在致動。
  22. 如請求項14-21中之任一項之設備，其中該離子化室包含：任由煙霧進入之一第一離子化室；及 經封閉而不使煙霧進入之一第二離子化室；其中該第一離子化室及該第二離子化室之該等電容之一預定差指示該第一離子化室中煙霧之存在。
  23. 如請求項22之用於偵測煙霧之設備，其進一步包含一煙霧偵測計時器，該煙霧偵測計時器用於判定該預定差是否在一特定時間週期內發生。
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US13/667,196 US9176088B2 (en) 2011-12-14 2012-11-02 Method and apparatus for detecting smoke in an ion chamber

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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9921184B2 (en) * 2016-05-20 2018-03-20 Terrapower, Llc Sodium-cesium ionization detector
CN106846710A (zh) * 2017-04-06 2017-06-13 安徽理工大学 一种家用新型智能烟感探测器
EP3489921B1 (de) * 2017-11-24 2020-01-01 Siemens Schweiz AG Verfahren und vorrichtung zum abgleich eines rauchmelders
WO2019123304A1 (en) * 2017-12-19 2019-06-27 Murphil S.R.L. A radiation detector
JP2019168289A (ja) * 2018-03-22 2019-10-03 株式会社東芝 ガスセンシング方法、ガスセンサ、及びガスセンシングシステム
CN111402540B (zh) * 2020-02-25 2021-08-24 王勇强 吸气式感烟火灾探测装置、方法及设备
CN116824789A (zh) * 2023-03-11 2023-09-29 中国船舶重工集团公司第七0三研究所 一种电容式粒子分析型感烟探测器及其粒子浓度检测方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW557356B (en) * 1998-05-06 2003-10-11 Ibm Endpoint detection by chemical reaction
US20110163872A1 (en) * 2008-09-10 2011-07-07 Koninklijke Philips Electronics N.V. System, device and method for emergency presence detection

Family Cites Families (71)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DK101900C (da) * 1961-12-30 1965-06-08 Danske Securitas As Elektrisk alarmanlæg, fortrinsvis til brandalarmering.
SE402660B (sv) 1970-11-12 1978-07-10 Securitas Int Ab Brandalarmanleggning
GB1598821A (en) 1978-04-13 1981-09-23 Plessey Co Ltd Ionization detectors
US4213047A (en) * 1978-10-25 1980-07-15 General Signal Corporation Smoke detector having unipolar ionization chamber
US4401978A (en) 1979-02-21 1983-08-30 The Gamewell Corporation Combination detector
GB2044504B (en) 1979-03-17 1983-04-20 Hochiki Co Count discriminating fire detector
US4222045A (en) 1979-05-04 1980-09-09 Firetek Corporation Capacitive shift fire detection device
US4266220A (en) * 1979-07-27 1981-05-05 Malinowski William J Self-calibrating smoke detector and method
FR2473201A1 (fr) * 1980-01-02 1981-07-10 Gamma Electronic Detecteur de fumees capacitif a faible source d'ionisation
FR2523309A1 (fr) * 1982-03-09 1983-09-16 Hugon Emile Nouveau detecteur de fumees capacitif a modules interchangeables
CH666135A5 (de) 1982-12-03 1988-06-30 Slm Investissements S A Brandmelder.
US4538137A (en) 1983-01-20 1985-08-27 Nittan Company, Limited Fire detector
JPS60186994A (ja) 1984-03-05 1985-09-24 ホーチキ株式会社 火災感知器
CH681932A5 (zh) 1990-12-04 1993-06-15 Cerberus Ag
US5173683A (en) 1991-04-22 1992-12-22 Simplex Time Recorder Co. Apparatus and method for multiplexing multiple data and analog values in a peripheral device
US5422807A (en) 1992-08-31 1995-06-06 Microchip Technology Incorporated Microcontroller with improved A/D conversion
WO1995028563A1 (en) 1994-04-19 1995-10-26 Gas Research Institute Breakdown voltage measurement apparatus and method
CA2170561C (en) 1996-02-28 2001-01-30 Raymond Wood Gas, fire and earthquake detector
US5705988A (en) 1996-07-08 1998-01-06 Detection Systems, Inc. Photoelectric smoke detector with count based A/D and D/A converter
US5966078A (en) * 1997-02-19 1999-10-12 Ranco Inc. Battery saving circuit for a dangerous condition warning device
US6257049B1 (en) * 1999-08-31 2001-07-10 Lucent Technologies, Inc. Ambient humidity measurement using microwaves
US6981090B1 (en) 2000-10-26 2005-12-27 Cypress Semiconductor Corporation Multiple use of microcontroller pad
US6591674B2 (en) 2000-12-21 2003-07-15 Honeywell International Inc. System for sensing the motion or pressure of a fluid, the system having dimensions less than 1.5 inches, a metal lead frame with a coefficient of thermal expansion that is less than that of the body, or two rtds and a heat source
US6469623B2 (en) 2001-01-26 2002-10-22 Gentex Corporation Smoke detector maintenance and verification tool
US6509758B2 (en) 2001-04-18 2003-01-21 Cygnal Integrated Products, Inc. IC with digital and analog circuits and mixed signal I/O pins
US6433712B1 (en) 2001-07-25 2002-08-13 Texas Instruments Incorporated Offset error compensation of input signals in analog-to-digital converter
US7333129B2 (en) 2001-09-21 2008-02-19 Rosemount Aerospace Inc. Fire detection system
US7030766B2 (en) 2003-06-18 2006-04-18 Edwards Systems Technology, Inc. Ambient condition detector with multi-function test
US7129847B2 (en) * 2003-08-06 2006-10-31 Edwards Systems Technology, Inc. Detector with dust filter and airflow monitor
DE502005009411D1 (de) 2005-05-06 2010-05-27 Siemens Building Tech Ag Verfahren und Vorrichtung zur Flammenüberwachung
US7733234B2 (en) 2005-05-16 2010-06-08 Tony Chavers Montgomery Microprocessor operated, portable early fire detection and prevention device
US7288946B2 (en) 2005-06-03 2007-10-30 Synaptics Incorporated Methods and systems for detecting a capacitance using sigma-delta measurement techniques
US7161512B1 (en) 2005-06-16 2007-01-09 Qualcomm Inc. Gain error correction in an analog-to-digital converter
US7307485B1 (en) 2005-11-14 2007-12-11 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance sensor using relaxation oscillators
US8067948B2 (en) 2006-03-27 2011-11-29 Cypress Semiconductor Corporation Input/output multiplexer bus
US20080079148A1 (en) 2006-09-30 2008-04-03 Silicon Laboratories Inc. Package for mixed signal mcu with minimal pin count
US8547114B2 (en) 2006-11-14 2013-10-01 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance to code converter with sigma-delta modulator
US7460441B2 (en) 2007-01-12 2008-12-02 Microchip Technology Incorporated Measuring a long time period
US8065544B2 (en) 2007-05-03 2011-11-22 Microchip Technology Incorporated Interrupt/wake-up of an electronic device in a low power sleep mode when detecting a sensor or frequency source activated frequency change
EP2071342B1 (de) * 2007-12-10 2009-11-25 Mtronix Precision Measuring Instruments Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines definierten Ladungspulses zur Ausführung einer Teilentladungsmessung
US8143584B2 (en) * 2008-02-04 2012-03-27 Radon Technologies, Inc. Radon monitor
CN102007465B (zh) 2008-02-28 2015-05-20 纽约大学 用于给处理器提供输入的方法和设备以及传感器垫
US7764213B2 (en) 2008-07-01 2010-07-27 Microchip Technology Incorporated Current-time digital-to-analog converter
US8237667B2 (en) 2008-09-10 2012-08-07 Apple Inc. Phase compensation for multi-stimulus controller
US8592697B2 (en) 2008-09-10 2013-11-26 Apple Inc. Single-chip multi-stimulus sensor controller
EP2177880A1 (en) 2008-10-16 2010-04-21 Dialog Imaging Systems GmbH Distance measurement with capacitive sensor
US8497690B2 (en) 2008-10-27 2013-07-30 Microchip Technology Incorporated Automated capacitive touch scan
US8836350B2 (en) 2009-01-16 2014-09-16 Microchip Technology Incorporated Capacitive touch sensing using an internal capacitor of an analog-to-digital converter (ADC) and a voltage reference
US7982471B2 (en) 2009-03-16 2011-07-19 Texas Instruments Incorporated Capacitance measurement system and method
US8487655B1 (en) 2009-05-05 2013-07-16 Cypress Semiconductor Corporation Combined analog architecture and functionality in a mixed-signal array
US8358285B2 (en) 2009-05-06 2013-01-22 Silicon Laboratories Inc. Method and apparatus for scanning a touchscreen with multi-touch detection using master/slave devices
US20120005693A1 (en) 2010-01-08 2012-01-05 Cypress Semiconductor Corporation Development, Programming, and Debugging Environment
CN102422263B (zh) 2009-05-07 2016-03-30 赛普拉斯半导体公司 开发、编程和除错环境
WO2010129071A1 (en) 2009-05-08 2010-11-11 Computer Performance, Inc. Reduced parts count isolated ac current switching and sensing
US8981754B1 (en) 2009-05-10 2015-03-17 Cypress Semiconductor Corporation Programmable reference signal selection
DE102009030495A1 (de) 2009-06-24 2011-01-05 Ident Technology Ag System zur Näherungs- und Gestendetektion
US8723833B2 (en) 2009-07-13 2014-05-13 Microchip Technology Incorporated Capacitive touch system with noise immunity
US8547135B1 (en) 2009-08-28 2013-10-01 Cypress Semiconductor Corporation Self-modulated voltage reference
US8031094B2 (en) 2009-09-11 2011-10-04 Apple Inc. Touch controller with improved analog front end
CN201689048U (zh) * 2009-12-30 2010-12-29 山西盛华电子系统工程有限公司 紫外光烟雾传感器
US8456243B2 (en) 2010-03-26 2013-06-04 Microchip Technology Incorporated Failsafe oscillator monitor and alarm
US8599155B2 (en) 2010-04-30 2013-12-03 Microchip Technology Incorporated Touch sense using time domain reflectometry
US8542215B2 (en) 2010-04-30 2013-09-24 Microchip Technology Incorporated Mutual capacitance measurement in a multi-touch input device
TW201218644A (en) 2010-10-26 2012-05-01 Ping-Ying Wang Voltage converter
US9252769B2 (en) 2011-10-07 2016-02-02 Microchip Technology Incorporated Microcontroller with optimized ADC controller
US8847802B2 (en) 2011-10-06 2014-09-30 Microchip Technology Incorporated Microcontroller ADC with a variable sample and hold capacitor
US9467141B2 (en) 2011-10-07 2016-10-11 Microchip Technology Incorporated Measuring capacitance of a capacitive sensor with a microcontroller having an analog output for driving a guard ring
US8890050B2 (en) 2011-11-21 2014-11-18 Tyco Electronics Corporation Photosensor circuits including a regulated power supply comprising a power circuit configured to provide a regulated power signal to a comparator of a pulse-width modulator
US8640081B2 (en) 2012-05-07 2014-01-28 Cypress Semiconductor Corporation Graphical user interface for display of system resistance
EP2672393A1 (en) 2012-06-04 2013-12-11 Dialog Semiconductor B.V. Circuit and methods to use an audio interface to program a device within an audio stream
US8884771B2 (en) 2012-08-01 2014-11-11 Microchip Technology Incorporated Smoke detection using change in permittivity of capacitor air dielectric

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW557356B (en) * 1998-05-06 2003-10-11 Ibm Endpoint detection by chemical reaction
US20110163872A1 (en) * 2008-09-10 2011-07-07 Koninklijke Philips Electronics N.V. System, device and method for emergency presence detection

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