TWI557616B - 壓力檢測器及其相關之顯示模組 - Google Patents

Description

壓力檢測器及其相關之顯示模組

本發明係有關一種檢測器(sensor)及運用檢測器的顯示模組，尤指一種壓力檢測器及運用壓力檢測器之顯示模組。

請參照第1A圖至第1D圖，其所繪示為習知壓力檢測器及運用壓力檢測器的顯示模組示意圖。該壓力檢測器係揭露於US 8,669,952。

如第1A圖所示，壓力檢測器100包括：密封腔室102、上表面104、第一電極106、第二電極108、下表面118。再者，彈性聚合物(elastic polymer)110裡分布著金屬奈米粒子(metallic nanoparticles)112，並填充於密封腔室102中。其中，第一電極106形成於上表面104，第二電極108形成於下表面118，且第一電極106與第二電極108可為透明電極，例如銦錫氧化膜電極(ITO electrode)。

如第1B圖所示，當上表面104被施加壓力116時，第一電極106與第二電極108之間距離縮短，彈性聚合物110會被壓縮。換言之，金屬奈米粒子112之間的距離會隨著上表面104的施加壓力116而改變。舉例來說，當施加壓力116越大，金屬奈米粒子112之間的距離會越短，將使得第一電極106與第二電極108之間的電阻值(electrical resistance)越小。

如第1A圖所示，當壓力檢測器100未施加壓力時，第一電極106與第二電極108之間的電阻值為R1。如第1B圖所 示，當壓力檢測器100施加壓力116時，第一電極106與第二電極108之間的電阻值為R2。再者，R1>R2。

如第1C圖與第1D圖所示，其為具壓力檢測器的顯示模組之上視圖與切面2B的剖面圖。顯示模組200包括：具有顯示像素202(array of display pixels)陣列的前面板201、背光面板204位於前面板201下方、觸控螢幕206鋪在(overlay)前面板201上。其中，觸控螢幕206上具有壓力檢測器100(array of pressure sensor cell)陣列。而壓力檢測器100mn又可稱之為檢測節點(sensing node)。

基本上，每個壓力檢測器100即如第1A圖所之結構。以壓力檢測器100mn為例，其具有：密封腔室、上表面、第一電極106n、第二電極108m、下表面。再者，根據如第1C圖所示，經由輸入(input)與輸出(output)之間的關係，即可確定哪個壓力檢測單元被施加壓力，並且根據第一電極與第二電極之間的電阻值，可確定該壓力檢測單元的受壓力大小。

請參照第2A圖至第2D圖，其所繪示為習知另一壓力檢測單元(pressure-sensitive cell)。該壓力檢測單元揭露於US 8,736,574。

如第2A圖所示，陣列(matrix)300中包括多個壓力檢測單元，每一個壓力檢測單元可以根據其受力而改變其電阻值(resistance)。舉例來說，其電阻值反比於接收到的受力。

陣列300中有第一層(first layer)322，其上有多個行導體(column conductor)324。再者，陣列300中更有第二層(second layer)326，其上有多個列導體(row conductor)328。其中，第二層326為軟性(flexible)材質，並且受力時會暫時地變形。

如第2B圖所示，第一層322上的行導體324與第二層326上的列導體328之間的交錯區域(intersection)即為壓力檢測單元336。另外，壓力檢測單元336中更包括壓力感應電阻材料(force-sensitive resistive material)338，覆蓋於行導體324與 列導體328上。

基本上，當壓力檢測單元336未受力時，覆蓋於行 導體324與列導體328上的壓力感應電阻材料338不會互相接觸。而當壓力檢測單元336的受力超過一最小臨界力(smallest threshold force)時，覆蓋於行導體324與列導體328上的壓力感應電阻材料338才會互相接觸。

為了達成上述目的，如第2C圖所示，在壓力檢測 單元336之間形成獨立島(island)374與獨立陸地(land)375分別位於第一層322與第二層326上，並由間隔元件(spacer)344來電性隔離(electrically isolate)行導體324與列導體328。如此，於壓力檢測單元336於未受力時，覆蓋於行導體324與列導體328上的壓力感應電阻材料338不會互相接觸。

再者，壓力檢測單元336中更包括一力散佈層 (force-spreading layer)346，其可將受力的的壓力分配至壓力檢測單元336所在的區域。力散佈層346具有一凸起部(bump)348接觸於第二層326。因此，當力散佈層346受力時，該受力即可經由凸起部348傳遞至第二層326。再者，力散佈層346更具有一凹陷部(trough)378位於凸起部348之間，並對準獨立島374與獨立陸地375所在的位置。

如第2D圖所示，當陣列320上的一接觸區域350 受力時，力散佈層346變形使得凸起部348、347接觸於第二層326，並將受力傳遞至陣列320中的壓力檢測單元352、353、354。 因此，壓力檢測單元352、353、354中位置356、357、358處的壓力感應電阻材料338互相接觸，並降低壓力檢測單元352、353、354的電阻值。再者，獨立島與獨立陸地所在的位置之間有間隔元件344，使得獨立島與獨立陸地所在的位置上的壓力感應電阻材料338並未互相接觸。

由以上的說明可知，習知壓力檢測器係配置於LCD 顯示模組的上方，或者是AMOLED顯示模組的上方，或者是顯 示模組的外框中，或者壓力檢測器是整合於LCD的畫素內。不論是上述何種壓力檢測器架構，壓力檢測器皆位於背光面板上方並且會降低顯示模組的出光亮度(illumination)。再者，由習知壓力檢測器的結構複雜，因此會在顯示模組的製造過程中降低顯示模組的良率。

本發明的目的係提出一種壓力檢測器及其相關之顯 示模組。壓力檢測器係配置於顯示模組內背光面板的下方，因此不影響顯示模組的出光亮度。

本發明係有關於一種顯示模組，包括：一前面板， 係由複數個顯示像素所組成的一陣列；一背光面板，位於該前面板下方；一壓力檢測器，位於該背光面板下方；以及一機構中框，位於該壓力檢測器下方；其中，該前面板接收一施加壓力，使得該壓力檢測器根據該施加壓力獲得一受力大小。

本發明係有關於一種顯示模組，包括：一前面板， 係由複數個顯示像素所組成的一陣列；一壓力檢測器，位於該前面板下方；以及一機構中框，位於該壓力檢測器下方；其中，該壓力檢測器中包括一反光板，位於該前面板下方，且該前面板接收一施加壓力，使得該壓力檢測器根據該施加壓力獲得一受力大小。

本發明係有關於一種顯示模組，包括：一前面板， 係由複數個顯示像素所組成的一陣列；一背光面板，位於該前面板下方；以及一壓力檢測器，位於該背光面板下方；其中，該壓力檢測器中包括一機構中框，直接位於該壓力檢測器的下方，且該前面板接收一施加壓力，使得該壓力檢測器根據該施加壓力獲得一受力大小。

為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解，下 文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

100、100aa、100mn‧‧‧壓力檢測器

102‧‧‧密封腔室

104、104b‧‧‧上表面

106、106a~106n‧‧‧第一電極

108、108a~108m‧‧‧第二電極

110‧‧‧彈性聚合物

116‧‧‧施加壓力

118‧‧‧下表面

200‧‧‧顯示模組

201‧‧‧前面板

202‧‧‧顯示相素

204‧‧‧背光面板

206‧‧‧觸控螢幕

300、320‧‧‧陣列

322‧‧‧第一層

324‧‧‧行導體

326‧‧‧第二層

328‧‧‧列導體

336、352、353、354‧‧‧壓力檢測單元

338‧‧‧壓力感應電阻材料

344‧‧‧間隔元件

346‧‧‧力散佈層

348、347‧‧‧凸起部

350‧‧‧接觸區域

356、357、358‧‧‧位置

374‧‧‧獨立島

375‧‧‧獨立陸地

378‧‧‧凹陷部

400‧‧‧顯示模組

410‧‧‧前面板

412‧‧‧顯示像素

420‧‧‧背光面板

430‧‧‧壓力檢測器

440‧‧‧機構中框

450‧‧‧手指

460、502、512、525、535‧‧‧第一基板

543、553、563、573‧‧‧第一基板

465‧‧‧施加壓力

470、504、514、526、536、545、555、565、575‧‧‧中介層

480、509、519、528、538‧‧‧第二基板

549、559、569、579‧‧‧第二基板

506、518、546、557、566、577‧‧‧下電極層

508、516、547、556、567、576‧‧‧下基板

522、534、541、552、562、571‧‧‧上基板

524、532、542、551、561、572‧‧‧上電極層

592‧‧‧矩形電極

594‧‧‧多邊型電極

596‧‧‧圓形電極

598‧‧‧中空圓形電極

第1A圖至第1D圖所繪示為習知壓力檢測器及運用壓力檢測器的顯示模組示意圖。

第2A圖至第2D圖所繪示為習知另一壓力檢測單元。

第3A圖所繪示為本發明具壓力檢測器的顯示模組示意圖。

第3B圖所繪示為本發明壓力檢測器的架構。

第3C圖所繪示為壓力檢測器接收到施加壓力的示意圖。

第4A圖至第4H圖所繪示為壓力檢測器的各種實施例。

第5圖為各種圖案化電極。

請參照第3A圖，其所繪示為本發明具壓力檢測器的顯示模組示意圖。顯示模組400至少包括：機構中框(panel frame)440、壓力檢測器430、背光面板420與前面板410，堆疊成顯示模組300。其中，前面板410上包括多個顯示像素412(array of display pixels)所組成的陣列，而前面板410更可包括一觸控層(touch control layer，未繪示)，使得手指450可在前面板410上進行操控。

如第3A圖所示，背光面板420位於前面板410下方，壓力檢測器430位於背光面板420下方，且機構中框440位於壓力檢測器430下方。基本上，背光面板420、壓力檢測器430與機構中框440係相互貼合。明顯地，由於壓力檢測器430配置於背光面板420與機構中框440之間，因此壓力檢測器430並不會影響顯示模組的出光亮度(illumination)。

請參照第3B圖，其所繪示為本發明壓力檢測器的架構。壓力檢測器430包括：一第一基板460、一中介層(interlayer)470、一第二基板480。其中，中介層470位於第一基 板460與第二基板480之間，其可為一介電中介層(dielectric interlayer)或者一電阻性層(resistive layer)。再者，第一基板460上具有一上電極層(top electrode layer，未繪示)且第二基板480上具有一下電極層(bottom electrode layer，未繪示)，而根據上電極層與下電極層之間的信號變化，即可以進行壓力檢測的動作。

請參照第3C圖，其所繪示為壓力檢測器接收到施 加壓力的示意圖。基本上，第一基板460、中介層470、與第二基板480皆具有彈性。因此，當顯示模組400接收到一施加壓力465時，該施加壓力465會傳遞至壓力檢測器430，並造成第一基板460的形變，並進一步擠壓一中介層470。

當中介層470的材料為介電中介層時，根據第一基 板460與第二基板480之間的一電容值的變化進一步獲得顯示模組400的受力大小。或者，當中介層470的材料為電阻性層時，根據第一基板460與第二基板480之間的電阻值的變化進一步獲得顯示模組400的受力大小。

由以上之說明可之，顯示模組400中，前面板410 與背光面板420可視為顯示模組400中的發光模組，且發光模組可為一液晶發光模組或一有機材料發光模組。

再者，手指450碰觸之表面可視為發光模組的一出 光面，而背光模組420的下表面即為發光模組中與該出光面相對之一背面。而壓力檢測器430，即位於該背面與該機構中框440之間。

除了獨立型的(stand along)壓力檢測器430之外，壓 力檢測器430亦可整合背光面板、或者整合機構中框。換言之，壓力檢測器430包含上電極層，下電極層、與位於上電極層暨下電極層間的中介層。而上電極層包含上述發光模組之該背面之一金屬層；或者，下電極層包含該機構中框之一金屬層。以下詳細說明本發明壓力檢測器430的各種實施例。

第一實施例

請參照第4A圖，其所繪示為壓力檢測器的第一實施例。壓力檢測器430包括：第一基板502、中介層504、第二基板509。其中，第一基板502為上基板(top substrate)，其材質為金屬。因此，第一基板502係為一金屬基板(metal substrate)，可作為上電極層。再者，第二基板509包括一下電極層506與一下基板(bottom substrate)508，且下電極層506的材料可為金屬或者銦錫氧化膜(ITO)。再者，中介層504位於第一基板502與下電極層506之間，其可為介電中介層或者電阻性層。

當壓力檢測器430為獨立型的壓力檢測器430時，第一基板502(上電極層)上更可包括多個子上電極(sub-electrode)且下電極層506上更可包括多個子下電極。根據子上電極與子下電極之間的電容值或者電阻值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

當壓力檢測器430為整合背光模組的壓力檢測器430時，由於第一基板502係為金屬基板可做為上電極層，並可作為背光面板中的反光板(reflective layer)，用以將光線反射回顯示模組的前面板。當第一基板502做為反光板時，下電極層506即包括多個子下電極，而根據第一基板502與子下電極之間的電容值或者電阻值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

另外，當壓力檢測器430為整合機構中框的壓力檢測器430時，將機構中框作為下基板508並鍍上一接地金屬層(ground metal layer)作為下電極層506，即可形成第二基板509。換言之，壓力檢測器430中已經整合了顯示模組的機構中框。此時，上第一基板502中包括多個子上電極，而根據子上電極與下電極層506之間的電容值或者電阻值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

第二實施例

請參照第4B圖，其所繪示為壓力檢測器的第二實 施例。壓力檢測器430包括：第一基板512、中介層514、第二基板519。其中，第一基板512為上基板，其材質為金屬。因此，第一基板512係為一金屬基板，可作為上電極層。再者，第二基板519包括一下電極層518與一下基板516，且下電極層518的材料可為金屬或者銦錫氧化膜(ITO)。再者，中介層514位於第一基板512與下基板516之間，其可為介電中介層。

當壓力檢測器430為獨立型的壓力檢測器430時， 第一基板512(上電極層)上更可包括多個子上電極且下電極層518上更可包括多個子下電極。根據子上電極與子下電極之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

當壓力檢測器430為整合背光模組的壓力檢測器 430時，由於第一基板512係為金屬基板可做為上電極層，並可作為背光面板中的反光板，用以將光線反射回顯示模組的前面板。當第一基板512可作為反光板時，下電極層518即包括多個子下電極，而根據第一基板512與子下電極之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

另外，當壓力檢測器430為整合機構中框的壓力檢 測器430時，將機構中框作為下基板516並鍍上一接地金屬層作為下電極層518，即可形成第二基板519。換言之，壓力檢測器430中已經整合了顯示模組的機構中框。此時，第一基板512中包括多個子上電極，而根據子上電極與下電極層518之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

第三實施例

請參照第4C圖，其所繪示為壓力檢測器的第三實施例。壓力檢測器430包括：第一基板525、中介層526、第二基板528。其中，第一基板525包括一上電極層524與一上基板522，且上電極層524的材料可為金屬或者銦錫氧化膜(ITO)，且 上基板522可為透明基板(例如玻璃基板或塑膠基板)。第二基板528為下基板，其材質為金屬。因此，第二基板528係為一金屬基板，可作為下電極層。再者，中介層526位於上電極層524與第二基板528之間，其可為介電中介層或者電阻性層。

當壓力檢測器430為獨立型的壓力檢測器430時， 上電極層524上更可包括多個子上電極且第二基板528(下電極層)上更可包括多個子下電極。根據子上電極與子下電極之間的電容值或電阻值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

當壓力檢測器430為整合背光模組的壓力檢測器 430時，由於第一基板525的上基板522為透明基板，因此上電極層524可作為反光板，用以將光線反射回顯示模組的前面板。 當上電極層524做為反光板時，第二基板528(下電極層)中包括多個子下電極，而根據上電極層524與子下電極之間的電容值或電阻值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

另外，當壓力檢測器430為整合機構中框的壓力檢 測器430時，第二基板528即可視為機構中框，並作為接地金屬層。換言之，壓力檢測器430中已經整合了顯示模組的機構中框。 此時，上電極層524中包括多個子上電極，而根據子上電極與第二基板528之間的電容值或電阻值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

第四實施例

請參照第4D圖，其所繪示為壓力檢測器的第四實施例。壓力檢測器430包括：第一基板535、中介層536、第二基板538。其中，第一基板535包括一上電極層532與一上基板534，且上電極層532可為金屬層。第二基板538為下基板，其材質為金屬。因此，第二基板538係為一金屬基板，可作為下電極層。再者，中介層536位於上基板534與第二基板538之間，其可為介電中介層。

當壓力檢測器430為獨立型的壓力檢測器430時， 上電極層532上更可包括多個子上電極且第二基板538(下電極層)上更可包括多個子下電極。根據子上電極與子下電極之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

當壓力檢測器430為整合背光模組的壓力檢測器 430時，由於上電極層532為金屬層可作為背光面板中的反光板，用以將光線反射回顯示模組的前面板。當上電極層532做為反光板時，第二基板538(下電極層)中包括多個子下電極，而根據上電極層532與子下電極之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

另外，當壓力檢測器430為整合機構中框的壓力檢測器430時，第二基板538即可視為機構中框，並作為接地金屬層。換言之，壓力檢測器430中已經整合了顯示模組的機構中框。此時，上電極層532中包括多個子上電極，而根據子上電極與第二基板538之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

第五實施例

請參照第4E圖，其所繪示為壓力檢測器的第五實施例。壓力檢測器430包括：第一基板543、中介層545、第二基板549。其中，第一基板543包括一上電極層542與一上基板541，且上電極層542的材料可為金屬，且上基板541可為透明基板(例如玻璃基板或塑膠基板)。第二基板549包括一下電極層546與一下基板547，且下電極層546的材料可為金屬或者銦錫氧化膜(ITO)。再者，中介層545位於上電極層542與下電極層546之間，其可為介電中介層或者電阻性層。

當壓力檢測器430為獨立型的壓力檢測器430時，上電極層542上更可包括多個子上電極且下電極層546上更可包括多個子下電極。根據子上電極與子下電極之間的電容值或電阻值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

當壓力檢測器430為整合背光模組的壓力檢測器 430時，由於第一基板543的上基板541為透明基板，因此上電極層542可作為背光面板中的反光板，用以將光線反射回顯示模組的前面板。當上電極層542做為反光板時，下電極層546中包括多個子下電極，而根據上電極層542與子下電極之間的電容值或電阻值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

另外，當壓力檢測器430為整合機構中框的壓力檢 測器430時，將機構中框作為下基板547並鍍上一接地金屬層(ground metal layer)作為下電極層546，即可形成第二基板549。 換言之，壓力檢測器430中已經整合了顯示模組的機構中框。此時，上電極層542中包括多個子上電極，而根據子上電極與下電極層546之間的電容值或電阻值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

第六實施例

請參照第4F圖，其所繪示為壓力檢測器的第六實施例。壓力檢測器430包括：第一基板553、中介層555、第二基板559。其中，第一基板553包括一上電極層551與一上基板552，且上電極層551可為金屬層。第二基板559包括一下電極層557與一下基板556，且下電極層557可為金屬層。再者，中介層555位於上基板552與下基板556之間，其可為介電中介層。

當壓力檢測器430為獨立型的壓力檢測器430時，上電極層551上更可包括多個子上電極且下電極層557上更可包括多個子下電極。根據子上電極與子下電極之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

當壓力檢測器430為整合背光模組的壓力檢測器430時，由於上電極層551為金屬層可作為背光面板中的反光板，用以將光線反射回顯示模組的前面板。當上電極層551可作為反光板時，下電極層557中包括多個子下電極，而根據上電極層551 與子下電極之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

另外，當壓力檢測器430為整合機構中框的壓力檢 測器430時，將機構中框作為下基板556並鍍上一接地金屬層作為下電極層557，即可形成第二基板559。換言之，壓力檢測器430中已經整合了顯示模組的機構中框。此時，上電極層551中包括多個子上電極，而根據子上電極與下電極層557之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

第七實施例

請參照第4G圖，其所繪示為壓力檢測器的第七實施例。壓力檢測器430包括：第一基板563、中介層565、第二基板569。其中，第一基板563包括一上電極層561與一上基板562，且上電極層561的材料可為金屬。第二基板569包括一下電極層566與一下基板567，且下電極層566的材料可為金屬或者銦錫氧化膜(ITO)。再者，中介層565位於上基板562與下電極層566之間，其可為介電中介層。

當壓力檢測器430為獨立型的壓力檢測器430時，上電極層561上更可包括多個子上電極且下電極層566上更可包括多個子下電極。根據子上電極與子下電極之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

當壓力檢測器430為整合背光模組的壓力檢測器430時，由於上電極層561可作為背光面板中的反光板，用以將光線反射回顯示模組的前面板。當上電極層561可作為反光板時，下電極層566中包括多個子下電極，而根據上電極層561與子下電極之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

另外，當壓力檢測器430為整合機構中框的壓力檢測器430時，將機構中框作為下基板567並鍍上一接地金屬層作為下電極層566，即可形成第二基板569。換言之，壓力檢測器 430中已經整合了顯示模組的機構中框。此時，上電極層561中包括多個子上電極，而根據子上電極與下電極層566之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

第八實施例

請參照第4H圖，其所繪示為壓力檢測器的第八實施例。壓力檢測器430包括：第一基板573、中介層575、第二基板579。其中，第一基板573包括一上電極層572與一上基板571，且上電極層572可為金屬層，上基板571可為一透明基板(例如玻璃基板或塑膠基板)。第二基板579包括一下電極層577與一下基板576，且下電極層577可為金屬層。再者，中介層575位於上電極層572與下基板576之間，其可為介電中介層。

當壓力檢測器430為獨立型的壓力檢測器430時，上電極層572上更可包括多個子上電極且下電極層577上更可包括多個子下電極。根據子上電極與子下電極之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

當壓力檢測器430為整合背光模組的壓力檢測器430時，由於上基板571為透明基板，因此上電極層572為金屬層並可作為背光面板中的反光板，用以將光線反射回顯示模組的前面板。當上電極層572可作為反光板時，下電極層577中包括多個子下電極，而根據上電極層572與子下電極之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

另外，當壓力檢測器430為整合機構中框的壓力檢測器430時，將機構中框作為下基板576並鍍上一接地金屬層作為下電極層577，即可形成第二基板579。換言之，壓力檢測器430中已經整合了顯示模組的機構中框。此時，上電極層572中包括多個子上電極，而根據子上電極與下電極層577之間的電容值的變化，即可檢測顯示模組的受力大小。

由以上的各個實施例之說明可知，本發明的優點在 於提出一種壓力檢測器及其相關之顯示模組。在顯示模組中，壓力檢測器係位於背光面板下方，並且利用背光面板與機構中框之間所形成壓力，來進行受力大小的檢測。亦即，顯示模組中，前面板可接收使用者施予的一施加壓力，而壓力檢測器可根據此施加壓力，進一步獲得顯示模組的受力大小。

基本上，壓力檢測器中的中介層也可以由多個介電 材料層堆疊而成，或者中介層也可以是空氣。同理，電阻性層也可以由多個電阻性材料層堆疊而成，電阻性層的材料可為導電橡膠或者泡棉。

再者，上電極層或者下電極層中子上電極與子下電 極係為特定的圖案化電極(patterned electrode)。如第5圖所示的圖案化電極，其可為矩形電極592、多邊型電極594、圓形電極596或者中空圓形電極598。當然，本發明並不限於圖案化電極的實際形狀。

由以上的說明可知，本發明係提出一種壓力檢測器 及其相關之顯示模組。壓力檢測器係配置於顯示模組內背光面板的下方，因此不影響顯示模組的出光亮度，並且簡化顯示模組的結構設計的複雜度。

綜上所述，雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

400‧‧‧顯示模組

410‧‧‧前面板

412‧‧‧顯示像素

420‧‧‧背光面板

430‧‧‧壓力檢測器

440‧‧‧機構中框

450‧‧‧手指

Claims (20)

1. 一種顯示模組，包括：一前面板，係由複數個顯示像素所組成的一陣列；一背光面板，位於該前面板下方；一壓力檢測器，位於該背光面板下方，其中該壓力檢測器包括一第一基板、一中介層，以及一第二基板，且該中介層位於該第一基板與該第二基板之間，且該第一基板包括一上電極層，該第二基板包括一下電極層，且該中介層係為一介電中介層或者一電阻性層；以及一機構中框，位於該壓力檢測器下方；其中，該前面板接收一施加壓力，使得該壓力檢測器根據該施加壓力獲得一受力大小，且該介電中介層係由複數個介電材料層堆疊而成，該介電中介層係為空氣，或者該電阻性層係由多個電阻性材料層堆疊而成。
2. 如申請專利範圍第1項所述之顯示模組，其中當該中介層係為該介電中介層且於接收到該施加壓力時，根據該上電極層與該下電極層之間的一電容值的變化進一步獲得該受力大小；或者當該中介層係為該電阻性層且於接收到該施加壓力時，根據該上電極層與該下電極層之間的一電阻值的變化進一步獲得該受力大小。
3. 如申請專利範圍第1項所述之顯示模組，其中該第一基板包括該上電極層與一上基板，且該上電極層包括複數個子上電極，該些子上電極的材料為一金屬或者一銦錫氧化膜；或者該第二基板包括該下電極層與一下基板，且該下電極層包括複數個子下電極，該些子下電極的材料為該金屬或者該銦錫氧化膜。
4. 如申請專利範圍第3項所述之顯示模組，其中該下電極 層係為一接地金屬層。
5. 一種顯示模組，包括：一前面板，係由複數個顯示像素所組成的一陣列；一背光面板，位於該前面板下方；一壓力檢測器，位於該背光面板下方，其中該壓力檢測器包括一第一基板、一中介層，以及一第二基板，且該中介層位於該第一基板與該第二基板之間，且該第一基板包括一上電極層，該第二基板包括一下電極層，且該中介層係為一介電中介層或者一電阻性層；以及一機構中框，位於該壓力檢測器下方；其中，該前面板接收一施加壓力，使得該壓力檢測器根據該施加壓力獲得一受力大小，其中該電阻性層的材料為一導電橡膠或者一泡棉。
6. 一種顯示模組，包括：一前面板，係由複數個顯示像素所組成的一陣列；一壓力檢測器，位於該前面板下方；以及一機構中框，位於該壓力檢測器下方；其中，該壓力檢測器中包括一反光板，位於該前面板下方，且該前面板接收一施加壓力，使得該壓力檢測器根據該施加壓力獲得一受力大小。
7. 如申請專利範圍第6項所述之顯示模組，其中該壓力檢測器包括一第一基板、一中介層，以及一第二基板，且該中介層位於該第一基板與該第二基板之間，且該第一基板中具有該反光板作為一上電極層，該第二基板包括一下電極層，且該中介層係為一介電中介層或者一電阻性層。
8. 如申請專利範圍第7項所述之顯示模組，其中當該中介層係為該介電中介層且於接收到該施加壓力時，根據該上電極層與該下電極層之間的一電容值的變化進一步獲得該受力大小；或者當該中介層係為該電阻性層且於接收到該施加壓力時，根據該上電極層與該下電極層之間的一電阻值的變化進一步獲得該受力大小。
9. 如申請專利範圍第7項所述之顯示模組，其中該第一基板包括該上電極層與一上基板，且該上電極層為該反光板；以及該第二基板包括該下電極層與一下基板，且該下電極層包括複數個子下電極，該些子下電極的材料為一金屬或者一銦錫氧化膜。
10. 如申請專利範圍第7項所述之顯示模組，其中該介電中介層係由複數個介電材料層堆疊而成，該介電中介層係為空氣，或者該電阻性層係由多個電阻性材料層堆疊而成。
11. 如申請專利範圍第7項所述之顯示模組，其中該電阻性層的材料為一導電橡膠或者一泡棉。
12. 一種顯示模組，包括：一前面板，係由複數個顯示像素所組成的一陣列；一背光面板，位於該前面板下方；以及一壓力檢測器，位於該背光面板下方；其中，該壓力檢測器中包括一機構中框，位於該壓力檢測器的下方，且該前面板接收一施加壓力，使得該壓力檢測器根據該施加壓力獲得一受力大小。
13. 如申請專利範圍第12項所述之顯示模組，其中該壓力檢測器包括一第一基板、一中介層，以及一第二基板，且該中介 層位於該第一基板與該第二基板之間，且該第二基板中包括一下電極層，該第一基板包括一上電極層，且該中介層係為一介電中介層或者一電阻性層。
14. 如申請專利範圍第13項所述之顯示模組，其中當該中介層係為該介電中介層且於接收到該施加壓力時，根據該上電極層與該下電極層之間的一電容值的變化進一步獲得該受力大小；或者當該中介層係為該電阻性層且於接收到該施加壓力時，根據該上電極層與該下電極層之間的一電阻值的變化進一步獲得與該受力大小。
15. 如申請專利範圍第13項所述之顯示模組，其中該第一基板包括該上電極層與一上基板，且該上電極層包括複數個子上電極，該些子上電極的材料為一金屬或者一銦錫氧化膜；以及該下電極層係為一接地金屬層。
16. 如申請專利範圍第13項所述之顯示模組，其中該介電中介層係由複數個介電材料層堆疊而成，該介電中介層係為空氣，或者該電阻性層係由多個電阻性材料層堆疊而成。
17. 如申請專利範圍第13項所述之顯示模組，其中該電阻性層的材料為一導電橡膠或者一泡棉。
18. 一種顯示模組，包含：一發光模組，該發光模組包含一出光面和與該出光面相對之一背面；一機構中框；以及一壓力檢測器，位於該背面與該機構中框之間，其中，該壓力檢測器包含一上電極層，一下電極層、與位於該上電極層暨該 下電極層間的一中介層，該上電極層包含該發光模組之該背面之一金屬層。
19. 一種顯示模組，包含：一發光模組，該發光模組包含一出光面和與該出光面相對之一背面；一機構中框；以及一壓力檢測器，位於該背面與該機構中框之間，其中該壓力檢測器包含一上電極層，一下電極層、與位於該上電極層暨該下電極層間的一中介層，該下電極層包含該機構中框之一金屬層。
20. 如申請專利範圍第19項所述之顯示模組，其中該發光模組係一液晶發光模組或一有機材料發光模組。