TWI549045B - 顯示裝置 - Google Patents

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TWI549045B
TWI549045B TW103121102A TW103121102A TWI549045B TW I549045 B TWI549045 B TW I549045B TW 103121102 A TW103121102 A TW 103121102A TW 103121102 A TW103121102 A TW 103121102A TW I549045 B TWI549045 B TW I549045B
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田中弘
寺本雅博
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日本顯示器股份有限公司
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Description

顯示裝置
本揭示係關於顯示裝置，可應用於例如具有觸控面板之顯示裝置。
液晶顯示裝置具有液晶顯示面板，液晶顯示面板採用於2片基板之間密封有液晶組合物之構成。又，已量產於液晶顯示面板之前面配置有觸控面板作為輸入裝置者。有人提出於該觸控面板之輸入(以下稱為觸控)之檢測時使用靜電電容或電阻值之變化者。
檢測靜電電容之變化之觸控面板係檢測介隔絕緣膜配置之2片電極間之靜電電容之變化者，以下稱為靜電電容方式之觸控面板。於靜電電容方式之觸控面板中，具有設置於顯示面板外之外置型(專利文獻1)與設置於顯示面板中之內置型。於內置型中具有所謂內嵌類型之顯示面板，其係將顯示面板原本具備之顯示用之共通電極(對象電極)兼用作為一對觸控感測器用電極中之一者，且將另一者之電極(觸控檢測電極)配置為與該共通電極交叉(專利文獻2)。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特表2003-511799號公報
[專利文獻2]日本專利特開2009-244958號公報
本申請案發明者們研究靜電電容耦合方式觸控面板之結果發現有以下問題。
即，於靜電電容耦合方式觸控面板中，與面板顯示部之中心部相比，於面板顯示部之端附近，觸控位置之檢測座標精度劣化。
若簡單說明本揭示中代表性者之概要，則如下所述。
即，顯示裝置係於觸控面板檢測電極中，縮小面板顯示部之端之電極之週期。
根據上述顯示裝置，改善於面板顯示部之端附近之檢測座標精度。
1‧‧‧液晶顯示面板
2‧‧‧TFT基板(第1基板)
3‧‧‧彩色濾光片基板(第2基板)
4‧‧‧液晶組合物(液晶層)
5‧‧‧驅動電路
21‧‧‧對向電極(發送側電極、Tx電極)
211‧‧‧端之Tx電極
217‧‧‧端之Tx電極
22‧‧‧對向電極信號線
25‧‧‧驅動電路用輸入端子
31‧‧‧檢測電極(接收側電極、Rx電極)
311‧‧‧端之Rx電極
311c‧‧‧端之Rx電極
311D‧‧‧端之Rx電極
315‧‧‧端之Rx電極
315c‧‧‧端之Rx電極
315D‧‧‧端之Rx電極
33‧‧‧虛設電極
36‧‧‧檢測電極用端子
40‧‧‧前面板
51‧‧‧觸控檢測電路
51c‧‧‧觸控檢測電路
52‧‧‧積分電路
53‧‧‧類比/數位轉換電路
54‧‧‧運算放大器
55‧‧‧電流源
70‧‧‧可撓性基板
75‧‧‧可撓性基板
77‧‧‧連接部
80‧‧‧連接器
100‧‧‧液晶顯示裝置
108‧‧‧手指
200‧‧‧像素部
300‧‧‧觸控面板裝置
301‧‧‧觸控面板
302‧‧‧電容檢測部
303‧‧‧控制部
321‧‧‧表面玻璃
322‧‧‧保護層
323‧‧‧基板層
324‧‧‧電力線
335‧‧‧匯流排連接信號線
341‧‧‧X電極(接收側電極、Rx電極、第2電極)
3411‧‧‧端之Rx電極
3411c‧‧‧端之Rx電極
3415‧‧‧端之Rx電極
3415c‧‧‧端之Rx電極
342‧‧‧Y電極(發送側電極、Tx電極、第1電極)
3421‧‧‧端之Tx電極
3421c‧‧‧端之Tx電極
3427‧‧‧端之Tx電極
3427c‧‧‧端之Tx電極
360‧‧‧手指(虛擬接地之導體)
A‧‧‧部分
Ac‧‧‧感度修正值
Ax‧‧‧感度修正值
Ay‧‧‧感度修正值
B‧‧‧部分
Cint‧‧‧積分電容
Cxy‧‧‧耦合電容
FF‧‧‧虛擬手指
L‧‧‧長度
L’‧‧‧長度
Pex‧‧‧電極週期
PRx‧‧‧Rx電極之週期
PRxe‧‧‧端之Rx電極之週期
PTx‧‧‧Tx電極之週期
PTxe‧‧‧端之Tx電極之週期
Px‧‧‧電極週期
Rx‧‧‧電極
Sij‧‧‧觸控反應值
S’ij‧‧‧觸控反應值
Tx‧‧‧電極
Vout‧‧‧積分輸出電壓
Vref‧‧‧參照電壓源
Vz‧‧‧電壓
X‧‧‧方向
Y‧‧‧方向
ε‧‧‧收束判定常數
圖1係顯示實施例1之液晶顯示裝置之基本構成之概略圖。
圖2係顯示實施例1之液晶顯示面板之基板構成之概略圖。
圖3係放大實施例1之顯示部之剖面之一部分之概略剖面圖。
圖4A係比較例1之發送電極圖案及接收電極圖案之俯視圖。
圖4B係實施例1之發送電極圖案及接收電極圖案之俯視圖。
圖4C係實施例1之發送電極圖案及接收電極圖案之俯視圖。
圖4D係實施例1之發送電極圖案及接收電極圖案之俯視圖。
圖5(a)、(b)係顯示面板中央之觸控反應之圖。
圖6(a)、(b)係顯示比較例1之面板端之觸控反應之圖。
圖7A(a)、(b)係顯示比較例1之面板端之觸控反應之圖。
圖7B(a)、(b)係顯示比較例1之面板端之觸控反應之圖。
圖7C(a)、(b)係顯示比較例1之面板端之觸控反應之圖。
圖8A(a)、(b)係顯示實施例1之面板端之觸控反應之圖。
圖8B(a)、(b)係顯示實施例1之面板端之觸控反應之圖。
圖8C(a)、(b)係顯示實施例1之面板端之觸控反應之圖。
圖9係實施例1之感度修正之流程圖。
圖10A係說明比較例1之外周座標修正之圖。
圖10B係說明實施例1之外周座標修正之圖。
圖11係顯示觸控檢測電路之基本構成之圖。
圖12(a)-(d)係顯示觸控檢測電路之信號波形之圖。
圖13係顯示具有校準功能之觸控檢測電路之基本構成之圖。
圖14係實施例1之校準之流程圖。
圖15係顯示實施例2之觸控面板裝置之整體構成之方塊圖。
圖16係顯示實施例2之觸控面板之剖面構造之概略剖面圖。
圖17A係比較例2之發送電極圖案及接收電極圖案之俯視圖。
圖17B係實施例2之發送電極圖案及接收電極圖案之俯視圖。
圖17C係實施例2之發送電極圖案及接收電極圖案之俯視圖。
以下，參照圖式說明實施例。另，於用以說明實施例之全圖中，具有相同功能者係標註相同符號，且省略其重複之說明。
於以下之實施例中，以液晶顯示裝置為例進行說明，亦可應用於有機EL(Electro Luminescence：電致發光)顯示裝置等之其他形式之顯示裝置。
[實施例1]
圖1係顯示實施例1之液晶顯示裝置之基本構成之概略圖。如該圖所示，液晶顯示裝置100包含液晶顯示面板1、驅動電路5、可撓性基板70、前面板40、收納盒(未圖示)、背光燈(未圖示)。
液晶顯示面板1係使TFT(Thin Film Transistor：薄膜電晶體)基板(第1基板)2與彩色濾光片基板(第2基板)3隔開特定之間隙重合，藉由 於該兩基板間之周緣部附近設置成框狀之密封材料(未圖示)，使兩基板貼合，且於密封材料之內側封入液晶組合物並密封，進而於兩基板之外側貼附偏光板而構成。
於TFT基板2設置有對向電極21、與自驅動電路5連接於對向電極21之對向電極信號線22。對向電極信號係自驅動電路5經由對向電極信號線22傳送至對向電極21。於彩色濾光片基板3設置有檢測電極31，檢測電極31係以連接部77與可撓性基板75連接。可撓性基板75係以連接器80與可撓性基板70連接。檢測信號係自檢測電極31經由可撓性基板75、連接器80、可撓性基板70傳送至驅動電路5。
另，液晶顯示面板1具有矩陣狀地具備複數個像素之顯示部(關於詳細內容予以後述)。對向電極21為共通電極，於像素中與像素電極對向而配置於TFT基板2。即，液晶顯示面板1為FFS(Fringe Field Switching：邊緣場切換)或IPS(In Plane Switching：面板內切換)等之橫向電場方式。藉由於兩電極間施加電壓，液晶分子之配向發生變化。隨著該液晶分子之配向之變化，透過面板之光之比例發生變化，藉此顯示圖像。
其次，使用圖2說明對向電極21與檢測電極31。如上所述，對向電極21係設置於TFT基板2上之共通電極，為作為觸控檢測用驅動電極使用而以圖2所示之方式分割。自驅動電路5對對向電極21供給對向電極信號。該對向電極信號係主要施加有共通電極之電壓，且於未寫入於像素之時序施加用於觸控之檢測之驅動信號。
於對向電極21施加驅動信號時，於與對向電極21隔開特定間隔配置且構成電容之檢測電極31產生檢測信號。該檢測信號係經由檢測電極用端子36取出至外部。
另，於檢測電極31之兩側形成有虛設電極33。虛設電極33未連接於任一電極或配線。檢測電極31係於一側之端部朝向虛設電極33側 擴展而形成有T字狀之檢測電極用端子36。又，於TFT基板2，除對向電極信號線22以外，亦形成如驅動電路用輸入端子25之多種配線、端子等。
圖3中顯示放大顯示部之剖面之一部分之概略剖面圖。如圖3所示，於TFT基板2設置有像素部200，對向電極21係作為像素之一部分用於圖像顯示。又，於TFT基板2與彩色濾光片基板3之間夾著液晶組合物(液晶層)4。設置於彩色濾光片基板3之檢測電極31與設置於TFT基板2之對向電極21形成有電容，於對向電極21施加驅動信號時，檢測電極31之電壓發生變化。此時如圖3所示，手指108等導電體介隔前面板40接近或接觸時，電容發生變化，於檢測電極31產生之電壓與無接近、接觸之情形相比發生變化。
如此，藉由檢測發生於形成於液晶顯示面板1之對向電極21與檢測電極31之間之電容之變化，可於液晶顯示面板1具備觸控面板之功能。
圖4A至圖4D係示意性顯示靜電電容型內嵌觸控面板之電極之平面圖案之圖。為便於說明，顯示有對向電極(發送側電極、Tx電極、第1電極)21為7條，檢測電極(接收側電極、Rx電極、第2電極)31為5條之情形。圖4A係通常之電極圖案(比較例1)，圖4B係經變更端電極之週期之第1例(調整電極圖案)，圖4C係變更端電極之週期之第2例(單純切斷電極圖案)，圖4D係變更端電極之週期之第3例(按比例縮小電極圖案)。
於圖4A之比較例1中，Tx電極21之寬度及間隔完全相同，Rx電極31之寬度及間隔完全相同。Tx電極21之寬度較Tx電極21之間隔要大，Rx電極31之寬度較Rx電極31之間隔要小。Tx電極21之週期(PTx)係橫虛線之間隔，且全部固定。Rx電極31之週期(PRx)係縱虛線之間隔，且全部固定。Tx電極21位於橫虛線間之中心，Rx電極31位於縱 虛線間之中心。
於圖4B之變更端電極之週期之第1例中，端之Tx電極(Tx1、Tx7)211、217之寬度較其他Tx電極21之寬度要小，端之Tx電極(Tx1、Tx7)211、217之週期(PTxe)較其他Tx電極21之週期(PTx)要小(PTxe<PTx)。又，端之Rx電極(Rx1、Rx5)311、315之週期(PRxe)較其他Rx電極31之週期(PRx)要小(PRxe<PRx)。端之Rx電極(Rx1、Rx5)311、315與Tx電極之X方向之端為止之距離變短。即，端之Rx電極(Rx1、Rx5)311、315係自縱虛線間之中心偏向Tx電極之X方向之端之側。此時，不改變端之Rx電極(例如Rx1)與其相鄰之Rx電極(例如Rx2)之間之距離係為了不改變內側之Rx電極(Rx2)之感度之方法。又，配合週期之縮小，而縮小端之Rx電極311、315之寬度。因週期之縮小造成於端電極之感度下降，藉由同時縮小端之Rx電極311、315之寬度，緩和感度之下降。
圖4C之變更端電極之週期之第2例係單純切斷端之Tx電極與端之Rx電極圖案者。於圖4C中，端之Rx電極311c、315c之週期(PRxe)雖亦較其他Rx電極31之週期(PRx)縮小，但與圖4B不同點在於未改變端之Rx電極311c、315c之寬度。該情形時，雖感度較圖4B下降，但對座標精度改善有效果。另，Tx電極係與圖4B相同。
圖4D之變更端電極之週期之第3例係按比例縮小端之Tx電極與端之Rx電極圖案者。於圖4D中，端之Rx電極之週期(PRxe)雖亦較其他Rx電極之週期(PRx)縮小，但與圖4B不同點係因於端之Rx電極311D、315D之區域按比例縮小，故端之Rx電極311D、315D與相鄰之Rx電極31之間之距離發生改變。於該情形時，內側1個之電極之感度略微下降，但對座標精度改善有效果。因於端之Rx電極311D、315D之區域按比例縮小，故端之Rx電極311D、315D之寬度較其他Rx電極31之寬度要小，又，端之Rx電極(Rx1、Rx5)311D、315D係位於縱虛線間之中心。另， Tx電極係與圖4B相同。
<座標精度改善之原理>
藉由端之電極週期縮小而改善座標精度之理由係因相對於對面板端附近之觸控僅於1條端之電極發生反應之區域變小，而複數條電極發生反應。對此進行說明。
作為座標計算，多使用將對各Tx電極與Rx電極之交點(Tx-Rx之交點)之觸控之反應值之重心作為觸控檢測座標之方法。於本揭示中亦設想該方法。為求簡單，將Tx電極週期(PTx)與Rx電極週期(PRx)設為相等，亦將觸控之虛擬手指之直徑(=2r)設為與電極週期相等而進行說明。於面板端附近之觸控與中央不同的是於一側無相鄰之電極。
圖5係顯示觸控面板之中央時之反應之圖。圖5(a)係顯示有面板之觸控位置，圖5(b)係顯示有反應值。如圖5(a)所示，雖然虛擬手指FF之中心位於交點6，但虛擬手指FF亦觸及交點7。如圖5(b)所示，於面板中央之觸控中，於交點6與交點7存在較大反應，藉由重心計算而高精度地求得觸控位置之中心。圖6係顯示觸控比較例1之面板之端時之反應之圖。圖6(a)係顯示有面板之觸控位置，圖6(b)係顯示有反應值。如圖6(a)所示，雖然虛擬手指FF之中心位於交點4，但虛擬手指FF亦觸及端外。如圖6(b)所示於面板之端附近之觸控中，較大之反應僅存在於交點4，橫方向之檢測精度不佳。另，虛線與虛線之間具有電極。
對此於圖7A至圖7C中更詳細地觀察。圖7A係顯示觸控比較例1之面板之端(x=0)時之反應之圖。圖7A(a)係顯示有面板之觸控位置，圖7A(b)係顯示有反應值。如圖7A(a)所示，虛擬手指FF之中心位於面板之端(x=0)。如圖7A(b)所示，於x=0之位置，僅電極RxN之交點(交點2、交點4、交點6)發生反應。圖7B係顯示觸控比較例1之面板之端至r/2之位置(x=r/2)時之反應之圖。圖7B(a)係顯示有面板之觸控位 置，圖7B(b)係顯示有反應值。如圖7B(a)所示，虛擬手指FF之中心位於面板之端(x=r/2)。如圖7B(b)所示，雖然於x=r/2之位置時於交點3略微出現反應，但因係尚與雜訊無較大差別之位準，故無助於座標計算。其結果，因於面板端中x=0至x=r/2之位置為止僅1條RxN發生反應，故無法檢測x方向之位置之區別。即，觸控位置為x=0至x=r/2之間，檢測座標之位置未變化。其係座標精度於面板端劣化之原因。圖7C係顯示觸控比較例1之面板之端至r之位置(x=r)時之反應之圖。圖7C(a)係顯示有面板之觸控位置，圖7C(b)係顯示有反應值。如圖7C(a)所示，虛擬手指FF之中心位於面板之端(x=r)。如圖7C(b)所示，於x=r中交點3之反應值足夠大，有助於座標計算。
於圖8A至圖8C顯示縮小端之電極週期之情形。圖8A係顯示觸控實施例1之面板之端(x=0)時之反應之圖。圖8A(a)係顯示有面板之觸控位置，圖8A(b)係顯示有反應值。如圖8A(a)所示，虛擬手指FF之中心位於面板之端(x=0)。如圖8A(b)所示，於x=0時之交點4之反應值雖較圖7A(b)(比較例1)要小，但於圖8A(b)中，於交點3已略微存在反應。圖8B係顯示觸控實施例1之面板之端至r/2之位置(x=r/2)時之反應之圖。圖8B(a)係顯示有面板之觸控位置，圖8B(b)係顯示有反應值。如圖8B(a)所示，虛擬手指FF之中心位於面板之端(x=r/2)。如圖8B(b)所示，於x=r/2時，於交點3反應值已足夠大，有助於重心計算。圖8C係顯示觸控實施例1之面板之端至r之位置(x=r)時之反應之圖。圖8C(a)係顯示有面板之觸控位置，圖8C(b)係顯示有反應值。如圖8C(a)所示，虛擬手指FF之中心位於面板之端(x=r)。如圖8C(b)所示，於x=r時，交點3之反應值足夠大，有助於座標計算。即，於縮小端之電極週期之情形時，即使於x=0附近，亦可檢測出觸控位置改變。藉由上述理由，而改善於面板端之座標精度。
另，已以端之Rx電極之例進行說明，端之Tx電極亦相同。藉由 改善檢測座標精度，於在觸控面板描繪線或畫之情形時，即使於面板顯示部之端附近，與以觸控描繪之軌跡相同之軌跡亦無失真地輸出。
<感度之修正>
因端電極之感度根據週期變更而改變，故於座標計算時以軟體修正感度。估算Tx-Rx交點之感度係與該交點之區域面積(Tx週期×Rx週期)成比例。因此，於縮小端之Tx電極與端之Rx電極之週期之情形時，感度最低的是4角(角落)之交點。因即使以軟體修正感度亦無法修正雜訊，故必須於該4角之交點確保S/N比，且根據該條件決定週期縮小之界限。
圖9係感度修正之流程圖。自A/D轉換電路獲得Tx-Rx各交點之Sij(步驟S91)。由於感度修正值因Tx-Rx交點之位置而異，故判定Tx-Rx交點之位置(步驟S92)。將交點(i，j)中之觸控反應值設為Sij，將經感度修正之觸控反應值設為S’ij，將X方向端中之感度修正值設為Ax，將Y方向端中之感度修正值設為Ay，將角落中之感度修正值設為Ac。另，若無觸控則Sij=0，但因存在雜訊，故通常不為0。於X方向之端中，設為S’ij=Sij×Ax(步驟S93)。此處，Ax≒(中央之X方向之週期)/(端之X方向之週期)。於Y方向之端中，設為S’ij=Sij×Ay(步驟S94)。此處，Ay≒(中央之Y方向之週期)/(端之Y方向之週期)。於角落中，設為S’ij=Sij×Ac(步驟S95)。此處，Ac≒Ax×Ay。於中央(端以外)，設為S’ij=Sij(無修正)(步驟S96)。基於各交點之S’ij，進行重心計算而求得觸控檢測座標(步驟S97)。對進行重心計算求得之觸控檢測座標進行端修正(步驟S98)。關於端修正，係向主機(Host)側輸出經進行後述之端修正之座標(步驟S99)。
<端修正>
圖10A係說明比較例1之外周座標修正之圖。若將X方向之電極週期設為Px，則於通常圖案(比較例1)中，重心計算中之各交點之週期 亦成為Px。若將X方向之整體之長度設為L，則單純重心計算中之觸控座標可取之範圍成為Px/2~L-Px/2。因此，進行將Px/2~Px之座標轉換成0~Px、且將L-Px~L-Px/2之座標轉換成L-Px~L之修正。將該修正稱為端修正或外周座標修正。
圖10B係說明實施例1之外周座標修正之圖。於縮小端之電極週期後之圖案(實施例1)中，以重心計算中之各交點之週期為Px之方式定義端之交點之位置。若將X方向之端之電極週期設為Pex，將X方向之整體之長度設為L’，則單純重心計算中之觸控座標可取之範圍為Pex-Px/2~L’-Pex+Px/2。因此，進行將Pex-Px/2~2(Pex-Px/2)之座標轉換成0~2(Pex-Px/2)，且將L’-2(Pex+Px/2)~L’-Pex+Px/2之座標轉換成L’-2(Pex+Px/2)~L’之修正。
以上說明係X方向之端修正，Y方向亦同樣地進行修正。
<各交點之校準>
端中之校準值會因週期縮小而發生變化，故分別於各Tx-Rx交點進行校準。
首先，對校準進行說明。於圖11中顯示觸控檢測電路之基本構成(無校準電路)例。又，於圖12中顯示觸控檢測之波形之例。圖12(a)顯示Tx脈衝之電壓波形，圖12(b)顯示耦合電流之電流波形，圖12(c)顯示積分輸出之電壓波形，圖12(d)顯示放大圖12(c)之積分輸出之電壓波形。觸控檢測電路51具有積分電路52、與類比/數位轉換電路(A/D轉換電路、A/D Converter)53。積分電路52具有運算放大器54、積分電容Cint、及參照電壓源Vref。若將如圖12(a)所示之Tx脈衝施加於Tx電極，則基於Tx-Rx之耦合電容Cxy之如圖12(b)所示之脈衝狀之耦合電流流動於Rx電極。將該耦合電流以積分電路52轉換成如圖12(c)所示之電壓。將積分電路52之輸出(積分輸出)以A/D轉換電路53轉換成數位值。Tx-Rx之耦合電容Cxy藉由觸控而發生變化，藉此檢測觸 控。
然而，因觸控時與非觸控時之耦合電容Cxy之變化量(Δ Cxy)係如圖12(d)所示，為耦合電容Cxy之10%~20%左右，故於積分輸出施加偏移(Offset)，且適當地設定A/D轉換之範圍。將施加該偏移稱為觸控面板之校準，且將決定Offset量之設定值作為校準值。以將圖12(d)之A部分設為A/D轉換之範圍之方式，藉由校準使B部分Offset(偏移)。
圖13係顯示具有校準功能之觸控檢測電路之基本構成之圖。觸控檢測電路51c具有積分電路52、A/D轉換電路53、及電流源55。積分電路52具有運算放大器54、積分電容Cint、及參照電壓源Vref。於圖13之電路中，Offset量為校準電流之積分值。另，雖然圖11-13係顯示有Tx脈衝1次量之波形，但通常每1訊框、每1個Tx電極累計複數次脈衝進行觸控檢測。
若縮小端之電極週期，則Cxy亦大致與交點之區域面積(Tx週期×Rx週期)成比例減少。即，必要之Offset量係於端之電極與中央之電極有所不同。因此，於各交點分別進行校準，且於各交點分別記錄校準值。校準係於顯示裝置之出貨時進行，預先將校準值記憶於EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory：電子可擦可程式唯讀記憶體)或快閃記憶體等之非揮發性記憶體，在顯示裝置之每次啟動時讀取校準值。
圖14係實施例1之校準之流程圖。將校準值設定成中央之值(步驟S141)。以非觸控狀態進行檢測動作(步驟S142)。將積分輸出電壓設為Vout，藉由校準將非觸控下之Vout作為目標之電壓設為Vz，且將收束判定常數設為ε，從而判定Vout之值(步驟S143)。於Vout>Vz+ε之情形時，於減少校準電流之方向變更校準值(步驟S144)。於Vout<Vz-ε之情形時，於增加校準電流之方向變更校準值(步驟S145)。於∣Vout-Vz∣<ε之情形時，決定校準值(步驟S146)。
Tx電極係選擇某個Tx電極輸出脈衝，Rx電極係同時進行動作，因此，相對於1個Tx電極，全部Rx電極係同時進行校準。對全部Tx電極進行此點。
[實施例2]
圖15係顯示實施例2之觸控面板裝置之整體構成之方塊圖。本實施例之觸控面板裝置300係包含靜電電容方式之觸控面板301、電容檢測部302、控制部303、及匯流排連接信號線335。於觸控面板301，形成有用以檢測使用者之觸控之感測器端子即電極圖案(X電極341及Y電極342)。X電極341及Y電極342係連接於電容檢測部302。電容檢測部302係將X電極341設為發送電極(驅動電極)依序進行脈衝施加，將Y電極342設為接收電極，藉此測定各電極交點之電極間電容(互電容)。控制部303係基於上述之各電極交點之電極間電容之測定結果進行觸控檢測，且經由匯流排連接信號線335，向主機通知檢測結果。
圖16係顯示實施例2之觸控面板之剖面構造之概略剖面圖。觸控面板301具有將基板層323設為底面，並使Y電極342與X電極341、及保護層322積層，且貼附有表面玻璃321之構造。另，毋庸多言，本實施例之觸控面板301搭載於顯示面板(例如，液晶顯示面板、有機EL顯示面板等)上。於圖16之構成中，係顯示以手指360觸控觸控面板301時之電力線之狀態之圖。手指(虛擬接地之導體)360成為屏蔽件，而阻礙電力線324。藉此，X電極341與Y電極342之間之電極間電容值(互電容值)減少。
圖17A至圖17C係示意性顯示靜電電容型外置型觸控面板之電極之平面圖案之圖。為便於說明，顯示有Y電極(發送側電極、Tx電極、第1電極)342為7條，X電極(接收側電極、Rx電極、第2電極)341為5條之情形。圖17A係通常之電極圖案(比較例2)，圖17B係變更端電極之週期之第1例(調整電極圖案)，圖17C係變更端電極之週期之第2 例(按比例縮小電極圖案)。
於圖17A之比較例2中，Tx電極342之寬度及間隔完全相同，Rx電極341之寬度及間隔完全相同。Tx電極342之週期(PTx)係橫虛線之間隔，且全部固定。Rx電極341之週期(PRx)係縱虛線之間隔，且全部固定。Tx電極342位於橫虛線間之中心，Rx電極341位於縱虛線間之中心。
於圖17B之變更端電極之週期之第1例中，端之Tx電極(Tx1與Tx7)3421、3427之寬度較其他Tx電極342之寬度要小，端之Tx電極3421、3427之週期(PTxe)較其他Tx電極342之週期(PTx)要小(PTxe<PTx)。又，端之Rx電極(Rx1與Rx5)3411、3415之寬度較其他Rx電極341之寬度要小，端之Rx電極3411、3415之週期(PRxe)較其他Rx電極341之週期(PRx)要小(PRxe<PRx)。端之Tx電極(Tx1、Tx7)3421、3427與Rx電極交叉之部分係自橫虛線間之中心偏向Rx電極之Y方向之端之側。端之Rx電極(Rx1、Rx5)3411、3415與Tx電極交叉之部分係自縱虛線間之中心偏向Tx電極之X方向之端之側。此時，使連接於端之Rx電極(例如Rx1)與其相鄰之Rx電極(例如Rx2)之部分之Tx電極之菱形不變形係為了不改變內側1個之Rx電極(Rx2)之感度之方法。
圖17C之變更端電極之週期之第2例係按比例縮小端之Tx電極與端之Rx電極圖案者。於圖17C中，雖然端之Tx電極3421c、3427c之週期(PTxe)及端之Rx電極3411c、3415c之週期(PRxe)變小，但與圖17B不同點在於：因於端之Rx電極3411c、3415c之區域按比例縮小，故端之Rx電極3411c、3415c與Tx電極交叉之部分與相鄰之Rx電極341與Tx電極交叉之部分之間之距離改變。因於端之Tx電極3421c、3427c之區域按比例縮小，故端之Tx電極3421c、3427c之寬度較其他Tx電極342之寬度要小，又，端之Tx電極(Tx1、Tx7)3421c、3427c係位於橫虛線間之中心。因於端之Rx電極3411c、3415c之區域按比例縮小，故端之Rx電極 3411c、3415c之寬度較其他Rx電極341之寬度要小，又，端之Rx電極(Rx1、Rx5)3411c、3145c係位於縱虛線間之中心。該情形時，雖然內側1個之電極之感度略微下降，但對座標精度改善有效果。
於如上所述縮小端之電極週期之情形時，根據與實施例1相同之理由，面板端中之座標精度改善。藉由改善檢測座標精度，於在觸控面板描繪線或畫之情形時，即使於面板顯示部之端附近，與以觸控描繪之軌跡相同之軌跡亦無失真地輸出。
以上，已基於實施例具體說明由本發明者完成之發明，當然，本發明並非限定於上述實施例者，可進行多種變更。
21‧‧‧對向電極
211‧‧‧端之Tx電極
217‧‧‧端之Tx電極
31‧‧‧檢測電極
311‧‧‧端之Rx電極
315‧‧‧端之Rx電極
PRx‧‧‧Rx電極之週期
PRxe‧‧‧端之Rx電極之週期
PTx‧‧‧Tx電極之週期
PTxe‧‧‧端之Tx電極之週期
Rx‧‧‧電極
Tx‧‧‧電極
X‧‧‧方向
Y‧‧‧方向

Claims (19)

  1. 一種顯示裝置，其包含：複數個第1電極，其係以特定週期於第1方向延伸；及複數個第2電極，其係以特定週期於第2方向延伸；且上述複數個第1電極與上述複數個第2電極係配置為於俯視時重疊，於剖視時分離；上述複數個第1電極中位於兩端之第1電極之週期較其他第1電極之週期要小；上述複數個第2電極中位於兩端之第2電極之週期較其他第2電極之週期要小；上述第1電極係於上述第2方向具有寬度；與上述位於兩端之第1電極之週期之中心相較，上述位於兩端之第1電極之上述寬度之中心係位於較外側；基於上述複數個第1電極與上述複數個第2電極交叉之部位之電容變化而檢測觸控。
  2. 如請求項1之顯示裝置，其修正上述複數個第1電極之兩端及上述複數個第2電極之兩端之觸控反應值，且藉由重心計算求得觸控檢測座標。
  3. 如請求項2之顯示裝置，其對上述觸控檢測座標進行外周座標修正。
  4. 如請求項1之顯示裝置，其中於上述複數個第1電極與上述複數個第2電極交叉之每個部位進行校準。
  5. 如請求項1之顯示裝置，其中上述位於兩端之第1電極之寬度較其他第1電極之寬度要小；上述位於兩端之第2電極之寬度較其他第2電極之寬度要小。
  6. 如請求項1之顯示裝置，其中將上述位於兩端之第2電極與鄰接於上述位於兩端之第2電極之上述其他第2電極之距離、與鄰接之上述其他第2電極間之距離設為相同。
  7. 如請求項1之顯示裝置，其中上述位於兩端之第2電極與鄰接於上述位於兩端之第2電極之上述其他第2電極之距離較鄰接之上述其他第2電極間之距離要小。
  8. 如請求項1之顯示裝置，其中進而包含形成像素之第1基板與形成彩色濾光片之第2基板；且上述複數個第1電極形成於上述第1基板與上述第2基板之間。
  9. 如請求項8之顯示裝置，其中進而於上述第1基板與上述第2基板間包含液晶層；且上述複數個第2電極形成於與上述液晶層為相反側之上述第2基板上。
  10. 如請求項1之顯示裝置，其中上述複數個第1電極與上述複數個第2電極於俯視時不重疊之部分之電極為菱形形狀；上述位於兩端之第1電極之寬度較其他第1電極之寬度要小；上述位於兩端之第2電極之寬度較其他第2電極之寬度要小。
  11. 如請求項10之顯示裝置，其中進而包含形成像素之顯示面板與表面玻璃；且上述複數個第1電極及上述複數個第2電極形成於上述顯示面板與上述表面玻璃之間。
  12. 如請求項11之顯示裝置，其中上述顯示面板為液晶顯示面板。
  13. 一種顯示裝置，其包含：第1基板；第2基板；及液晶層，其被夾於上述第1基板與上述第2基板之間；且 上述第1基板具備以特定週期於第1方向延伸之複數個第1電極；上述第2基板具備以特定週期於第2方向延伸之複數個第2電極；上述複數個第1電極兼具顯示用之共通電極之功能；上述複數個第1電極與上述複數個第2電極係配置為於俯視時重疊，於剖視時分離；上述複數個第1電極中位於兩端之第1電極之週期較其他第1電極之週期要小；上述複數個第2電極中位於兩端之第2電極之週期較其他第2電極之週期要小；上述第1電極係於上述第2方向具有寬度；與上述位於兩端之第1電極之週期之中心相較，上述位於兩端之第1電極之上述寬度之中心係位於較外側；基於上述複數個第1電極與上述複數個第2電極交叉之部位之電容變化而檢測觸控。
  14. 如請求項13之顯示裝置，其修正上述複數個第1電極之兩端及上述複數個第2電極之兩端之觸控反應值，且藉由重心計算求得觸控檢測座標。
  15. 如請求項14之顯示裝置，其對上述觸控檢測座標進行外周座標修正。
  16. 如請求項13之顯示裝置，其中於上述複數個第1電極與上述複數個第2電極交叉之每個部位進行校準。
  17. 如請求項13之顯示裝置，其中上述位於兩端之第1電極之寬度較其他第1電極之寬度要小；上述位於兩端之第2電極之寬度較其他第2電極之寬度要小。
  18. 如請求項13之顯示裝置，其中將上述位於兩端之第2電極與鄰接於上述位於兩端之第2電極之上述其他第2電極之距離，與鄰接之上述其他第2電極間之距離設為相同。
  19. 如請求項13之顯示裝置，其中上述位於兩端之第2電極與鄰接於上述位於兩端之第2電極之上述其他第2電極之距離，較鄰接之上述其他第2電極間之距離要小。
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