TWI537802B - 觸控顯示裝置及其驅動方法和驅動電路 - Google Patents

Description

觸控顯示裝置及其驅動方法和驅動電路

本發明涉及觸控顯示領域，尤其涉及一種觸控顯示裝置及其驅動方法和驅動電路。

電容式觸控式螢幕憑藉其靈敏度高的優勢已經在手機等移動設備中廣泛地取代了電阻式觸控式螢幕，為了進一步提高移動設備的輕薄性，在傳統液晶顯示幕工藝上集成電容式觸摸檢測功能成為研究的熱門，盒內內嵌式（In Cell）觸摸面板是其中的一種集成電容式觸摸檢測功能的方式，In Cell觸摸面板將觸摸檢測電極集成在液晶顯示幕的陣列基板上，使得在液晶顯示幕上無需貼合單獨的電容式觸控式螢幕，液晶顯示幕自身集成了觸摸檢測的功能，具有高度的集成性和輕薄性。將公共電極分塊作為自電容觸摸檢測的檢測電極或用作互電容檢測時的發射電極用，可以省去在陣列基板上形成專門的檢測電極，能夠有效提高液晶顯示幕的開口率。

為了實現觸摸檢測，需要考慮公共電極的各種寄生電容問題。圖1示出了一種觸控顯示裝置中顯示單元的一個子圖元單元的等效電路圖，所述子圖元單元包括薄膜電晶體，所述薄膜電晶體包括柵極01、源極02、漏極03，所述柵極01與柵極線07電連接，所述源極02與資料線06電連接，漏極03與圖元電極04相連，公共電極05與Vcom線08相連，通過上述線路與器件的工作，使得圖元電極04與公共電極05之間的液晶發生偏轉，以控制子圖元單元的透光率。圖元電極04與公共電極05之間具有液晶電容Clc，圖中的寄生電容有：公共電極05對柵極線07的寄生電容 Cmg , 公共電極05對資料線06的寄生電容 Cms , 公共電極05對屏體外框(未示出)的寄生電容Cs , 薄膜電晶體的柵極01和漏極03的寄生電容 Cgd ,柵極01和源極02的寄生電容Cgs。

當公共電極05用做自電容觸摸檢測的檢測電極時，所檢測的電容值為寄生電容 Cs，即公共電極05對屏體外框（認為是自電容檢測的地端）的電容。由於畫面顯示變化時，在圖元電極04與公共電極05之間施加不同的灰階電壓時引起液晶偏轉角度不同，造成使Clc電容的填充質介電常數改變，間接造成不同的顯示區域，即使沒有發生觸摸，不同區域的液晶電容Clc也不同。在進行觸摸檢測時，寄生電容 Cs相當於公共電極05與手指之間的電容和手指與大地之間的電容的疊加，由於公共電極05為液晶電容Clc和寄生電容 Cs共用的電極板，可以認為對寄生電容 Cs的測量值上包含了部分液晶電容Clc，因此在圖元電極04與公共電極05之間施加不同的灰階電壓時，液晶電容Clc的變化會導致使寄生電容 Cs發生變化，從而給觸摸檢測帶來干擾。

當公共電極05用做互電容觸摸檢測的檢測電極時，或在利用與薄膜電晶體在同一基板上的其它電極作為互電容或自電容觸摸檢測的檢測電極時，液晶偏轉的變化同樣會給觸摸檢測帶來干擾。

因此，如何減小由畫面顯示時液晶偏轉的變化對觸摸檢測電容值帶來的干擾，進而提高觸摸檢測的精度，成為本領域技術人員亟待解決的問題。

本發明解決的問題是提出一種觸控顯示裝置及其驅動方法和驅動電路，減小由畫面顯示時液晶偏轉的變化對觸摸檢測電容值帶來的干擾，進而提高觸摸檢測的精度。

為解決上述問題，本發明提出了一種觸控顯示裝置的驅動方法，包括：一種觸控顯示裝置的驅動方法，其特徵在於，該觸控顯示裝置包括用於實現觸控感應的多個觸控單元和用於實現圖像顯示的多個顯示單元，該驅動方法包括：

存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數；

存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重；

施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示；

根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數；

根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數；

驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應，根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸摸感應的測量值進行修正。

可選的，存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數的步驟包括：

逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元，其中，對於同一幀，施加同一灰階電壓給所有顯示單元，對於不同幀，施加不同的灰階電壓給所有顯示單元；

在每幀施加灰階電壓給所有顯示單元的步驟中，均檢測位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元的檢測電容值，以獲得與不同灰階電壓相對應的觸控單元檢測電容值；

以一預設灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值作為基準電容值，基於不同灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值與所述基準電容值的關係，獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數。

可選的，存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數的方法還包括：在獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數之後，生成包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表，存儲所述查閱資料表。

可選的，所述多個顯示單元呈陣列排布，存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重的步驟包括：

對顯示單元陣列進行區域劃分，以觸控單元的中心點作為檢測中心，選取所述檢測中心正對位置的顯示單元作為中心顯示單元，以所述中心顯示單元為中心，劃定包括一個或多個顯示單元的第一參考區域，對所述第一參考區域中的顯示單元施加第一灰階電壓，對第一參考區域外的其餘顯示單元施加第二灰階電壓，對觸控單元進行觸控電容檢測，以獲得將此時測量的觸控單元檢測電容值，並作為第一檢測電容值；

以所述中心顯示單元為中心，劃定包括多個顯示單元的第二參考區域，使第二參考區域包括所述第一參考區域，所述第二參考區域內的顯示單元的數量大於第一參考區域內的顯示單元的數量，對所述第二參考區域中的顯示單元施加第一灰階電壓，對第二參考區域外的其餘顯示單元施加第二灰階電壓，對觸控單元進行觸控電容檢測，將此時測量的觸控單元檢測電容值作為第二檢測電容值；

將第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得的數值作為在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重。

可選的，存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重的步驟還包括：記錄第一灰階電壓，所述第一灰階電壓對應的影響係數最大，記錄第二灰階電壓，所述第二灰階電壓對應的影響係數最小。

可選的，將第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得的數值作為在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重的步驟還包括：

以第一參考區域的面積作為第一參量；

以第二參考區域的面積作為第二參量；

對觸控顯示裝置的所有顯示單元施加第二灰階電壓，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第三參量；

對觸控顯示裝置的所有顯示單元施加第一灰階電壓，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第四參量；

將所述第一參量、第二參量、第三參量、第四參量、第一檢測電容值和第二檢測電容值一併帶入所述權重方程。

可選的，所述權重方程為：

y=(C2-C1)/[(Cmax-Cmin)* (area2- area1)],

其中，y為影響權重，C2為第二檢測電容值，C1為第一檢測電容值，Cmax為第四參量，Cmin為第三參量，area2為第二參量，area1為第一參量。

可選的，存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重的步驟還包括：

通過多次劃定第一參考區域和第二參考區域，獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟，其中將每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域，將每次獲得的第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重。

可選的，劃定第一參考區域、第二參考區域的步驟包括：使所述第一參考區域、第二參考區域的形狀與所述觸控單元的形狀相匹配。

可選的，所述觸控單元的形狀為矩形，所述第一參考區域、第二參考區域均為以所述中心顯示單元為中心，包括多個顯示單元的參考陣列，所述參考陣列的行數和列數相等。

可選的，所述觸控單元的形狀為圓形，所述第一參考區域、第二參考區域均為以所述中心顯示單元為中心，包括多個顯示單元的顯示單元集合，所述顯示單元集合最外側的多個顯示單元到中心顯示單元的距離相等。

可選的，存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重的步驟還包括：

基於所述影響權重對顯示單元進行區域劃分，建立各觸控單元對應的採樣區域，位於所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重大於或等於位於所述採樣區域外的顯示單元對觸控單元的影響權重；

存儲各觸控單元對應的採樣區域以及採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重。

可選的，基於所述影響權重對顯示單元進行區域劃分，建立各觸控單元對應的採樣區域的步驟包括：

多次劃定第一參考區域和第二參考區域的步驟，其中將每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域；

以每次劃定的第一參考區域面積作為第一參量；

以每次劃定的第二參考區域面積作為第二參量；

在每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，獲取第一檢測電容值和第二檢測電容值，將第一檢測電容值與第二檢測電容值之差除以第一檢測電容值，獲得的值作為第五參量；

將第一參量到第二參量的變化量與第二參量的比值作為第六參量；

將第六參量與一預設係數相乘，得到第七參量；

當第五參量小於或等於第七參量時，以當前的第二參考區域作為採樣區域。

可選的，所述顯示單元包括：紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元；

所述根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數的步驟包括：

分別獲取紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元上各灰階電壓對應的影響係數；

獲得紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元對應影響係數的平均值，以所述平均值作為顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響係數。

可選的，所述根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數的步驟包括：在觸控顯示裝置進行圖像顯示時在一幀圖像顯示完畢，另一幀圖像顯示之前，根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。

可選的，所述觸控顯示裝置包括第一顯示區域和第二顯示區域；

施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示的步驟包括：在第一顯示區域內顯示單元充電完畢進行圖像顯示時，施加灰階電壓至第二顯示區域的各顯示單元，以驅動第二顯示區域進行圖像顯示；

所述根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數的步驟包括：根據施加至第一顯示區域中各顯示單元的灰階電壓，獲取第一顯示區域中各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。

本發明還提供一種觸控顯示裝置的驅動電路，該觸控顯示裝置包括用於實現觸控感應的多個觸控單元和用於實現圖像顯示的多個顯示單元，所述驅動電路包括：

驅動模組，用於驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應；

顯示模組，用於施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示；

分析模組，用於存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，並存儲有與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重；

所述分析模組還用於根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數對驅動模組獲得的觸摸感應的測量值進行修正。

可選的，所述分析模組包括：

第一存儲模組，用於存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數；

第二存儲模組，用於存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重；

修正模組，與所述驅動模組、顯示模組、第一存儲模組和第二存儲模組相連，用於根據顯示模組施加至各顯示單元的灰階電壓，從所述第一存儲模組獲取灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，並從所述第二存儲模組獲取各顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重，根據所獲取的影響係數以及影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數對驅動模組獲得的檢測電容值進行修正。

可選的，所述第一存儲模組用於存儲包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表。

可選的，每個觸控單元與由多個顯示單元組成的採樣區域相對應，位於所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重大於或等於位於所述採樣區域外的顯示單元對觸控單元的影響權重；

所述第二存儲模組用於存儲所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重。

可選的，所述修正模組用於獲取驅動模組施加至採樣區域內的顯示單元的灰階電壓，通過第一存儲模組獲得採樣區域內各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數組成第一矩陣；

所述修正模組還用於通過所述第二存儲模組獲得所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重，所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重組成第二矩陣；

所述修正模組能夠將所述第一矩陣中的每個影響係數與第二矩陣中與影響係數同位置的影響權重相乘，得到由多個修正係數組成的第三矩陣，以所述第三矩陣中數值之和作為修正因數；

可選的，所述分析模組用於在驅動模組驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應時，將驅動模組獲得的各觸控單元的觸摸感應的測量值以及修正因數帶入電容修復方程，得到各觸控單元的修正後電容值，以修正後電容值作為實際觸摸檢測值。

可選的，所述分析模組用於在觸控顯示裝置進行圖像顯示時在一幀圖像顯示完畢，另一幀圖像顯示之前，根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。

可選的，所述觸控顯示裝置包括第一顯示區域和第二顯示區域；

所述顯示模組用於在第一顯示區域內顯示單元充電完畢進行圖像顯示時，施加灰階電壓至第二顯示區域的各顯示單元，以驅動第二顯示區域進行圖像顯示；

所述分析模組用於根據施加至第一顯示區域中各顯示單元的灰階電壓，獲取第一顯示區域中各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。

可選的，所述驅動模組、顯示模組和所述分析模組集成於一觸摸顯示晶片。

可選的，所述驅動模組與所述分析模組集成在一觸摸晶片，所述顯示模組設置於一顯示晶片。

本發明還提供一種觸控顯示裝置，包括：

用於實現觸控感應的多個觸控單元和用於實現圖像顯示的多個顯示單元；

本發明提供的所述觸控顯示裝置的驅動電路，並且所述觸控顯示裝置的驅動電路與所述多個觸控單元和多個顯示單元相連接，所述觸控顯示裝置的驅動電路用於檢測所述多個觸控單元的觸控單元檢測電容值。

可選的，所述觸控顯示裝置還包括第一基板、第二基板以及設置於第一基板、第二基板之間的液晶層，所述顯示單元包括設置於所述第一基板上的圖元電極，所述觸控單元包括設置於所述第一基板上的觸摸檢測電極。

可選的，所述第一基板上設置有公共電極，所述公共電極用作所述觸控單元的觸摸檢測電極。

可選的，所述觸控單元檢測電容值為所述觸控單元的觸摸檢測電極與地端之間的電容值的測量值。

與現有技術相比，本發明的技術方案具有以下優點：

本發明觸控顯示裝置的驅動方法用於觸控顯示裝置中，所述觸控顯示裝置包括用於實現觸控感應的多個觸控單元和用於實現圖像顯示的多個顯示單元。該驅動方法包括存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數；存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重；施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示；根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數；根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數；驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應，根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸摸感應的測量值進行修正。修正後的測量值基本排除了畫面顯示時不同的灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響，從而有效提高觸摸檢測的精度。

進一步，存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數的方法還包括：在獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數之後，生成包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表，存儲所述查閱資料表。這樣在根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數時，可以方便地從所述查閱資料表中獲得對應當前灰階電壓的影響係數。

在將觸摸檢測電極集成在液晶顯示幕內時，施加不同灰階電壓引起的液晶偏轉的變化容易給觸摸檢測帶來干擾。

本發明提供一種觸控顯示裝置及其驅動方法和驅動電路。所述觸控顯示裝置包括用於實現觸控感應的多個觸控單元和用於實現圖像顯示的多個顯示單元；驅動電路，並且所述驅動電路與所述多個觸控單元和多個顯示單元相連接，所述驅動電路包括：驅動模組，用於驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應；顯示模組，用於施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示；分析模組，用於存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，並存儲有觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重。根據本發明觸控顯示裝置的驅動方法，所述分析模組還用於根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數對驅動模組獲得的觸摸感應的測量值進行修正。修正後的測量值基本排除了畫面顯示時不同的灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響，從而有效提高觸摸檢測的精度。

為使本發明的上述目的、特徵和優點能夠更為明顯易懂，下面結合附圖對本發明的具體實施例做詳細的說明。

本發明首先提供一種觸控顯示裝置。

具體地，本發明觸控顯示裝置是以液晶顯示面板作為顯示部分的觸控顯示裝置。所述觸控顯示裝置包括第一基板、第二基板以及設置於第一基板、第二基板之間的液晶層，所述顯示單元包括設置於所述第一基板上的圖元電極和公共電極，所述觸控單元包括設置於所述第一基板上的觸摸檢測電極。

在本實施例中，所述第一基板、第二基板均為透明玻璃基板，但是本發明對第一基板、第二基板的材質不做限制。

在本實施例中，所述觸控顯示裝置包括顯示觸摸檢測晶片，所述顯示觸摸檢測晶片中內置所述驅動電路的顯示模組、驅動模組和分析模組，所述顯示觸摸檢測晶片綁定在第一基板上。

所述第一基板為陣列基板，即在第一基板上形成有多個顯示單元組成的陣列。圖2示出了本發明觸控顯示裝置一實施例中多個顯示單元的示意圖。

參考圖2，在本實施例中，在第一基板100上形成有多個顯示單元，多個顯示單元呈陣列式排布。每個顯示單元主要由薄膜電晶體101、圖元電極102以及公共電極109構成。在第一基板100上還形成有多條資料線105、多條柵極線103、多條公共電極線（Vcom）104、柵極驅動電路106、源極驅動電路107、公共電極驅動電路108。所述柵極驅動電路106、源極驅動電路107、公共電極驅動電路108構成本發明觸控顯示裝置驅動電路的顯示模組。

需要說明的是，在圖2僅以同一個矩形示意了圖元電極102和公共電極109的位置，實際上，在本實施例中，所述觸控顯示裝置中顯示單元的顯示模式可以為共面轉換（In-Plane-Switching，IPS）模式或邊緣場切換（Fringe Field Switching，FFS）模式，圖元電極102與公共電極109同在第一基板，圖元電極102與公共電極109可以為相互交叉的叉指狀或條形，圖元電極102和公共電極109形成液晶電容 Clc，以圖元電極102與公共電極109之間產生的橫向電場會穿過液晶層中的液晶分子（Liquid Crystal），電場的大小會決定液晶分子的旋轉角度的大小，而液晶分子旋轉角度會決定通過該子圖元光線在特定方向上的強弱。

但是本發明對所述觸控顯示裝置中顯示單元的顯示模式不做限制，在其他實施例中，所述觸控顯示裝置中顯示單元的顯示模式還可以為扭曲向列相（twisted nematic liquid crystal mode，TN）模式，或者垂直取向（Vertical Alignment，VA）模式等，在上述顯示模式中，公共電極設置在第二基板上，圖元電極102和公共電極109的形狀為塊狀。

具體地，在本實施例中，驅動顯示單元工作的方法為：源極驅動電路107為資料線105提供電信號，每條資料線105對一列顯示單元的薄膜電晶體源極（source）施加灰階電壓，而薄膜電晶體稱漏極( drain )的一端則連接圖元電極102，柵極驅動電路106為多條柵極線103提供電信號，每條柵極線103對一行顯示單元的薄膜電晶體柵極施加掃描電壓，以薄膜電晶體作為開關元件通過資料線105對圖元電極102充電（即灰階電壓），公共電極驅動電路108為公共電極線（Vcom）104提供電信號，公共電極線（Vcom）104為所有顯示單元的公共電極109施加基本電壓，不同的灰階電壓使得圖元電極102與公共電極109之間形成的電場大小不同，液晶電容Clc也不同。

需要說明的是，本實施例中僅對驅動顯示單元工作的方法做簡單的說明，在實際的顯示單元中，驅動顯示單元工作的方法可能有所不同，但是不應因此限制本發明，本發明觸控顯示裝置的驅動方法中，可以採用現有技術中其他驅動顯示單元工作的方法使顯示單元工作。

需要說明的是，在本實施例中，所述觸控顯示裝置為彩色顯示裝置，所述第二基板為彩色濾光片基板，即在玻璃基板上形成有多個紅、綠、藍三原色的色阻。但是本發明對此不作限制，在其他實施例中，所述第二基板還可以為無色玻璃基板。

在本實施例中，每個顯示單元包括三個子圖元單元：紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元，其中每個子圖元單元都包括獨立的薄膜電晶體、圖元電極102和公共電極109，第二基板上與每個子圖元單元對應的區域分別具有紅、綠、藍三原色的色阻，並且每個子圖元單元可以獨立的驅動，但是本發明對此不作限制，在其他實施例中，如所述觸控顯示裝置為黑白顯示裝置時，每個所述顯示單元還可以僅包括一個子圖元單元，所述觸控顯示裝置為彩色顯示裝置時，每個所述顯示單元還可以僅包括四個子圖元單元，第二基板上與每個子圖元單元對應的區域分別為紅、綠、藍、白四色的色阻，以增加觸控顯示裝置的色彩飽和度。

還需要說明的是，在其他實施例中，所述觸控顯示裝置為黑白顯示裝置時，所述顯示單元還可以僅包括一個黑白子圖元單元。

本發明觸控顯示裝置還包括多個觸控單元，通過檢測在手指觸摸觸控顯示裝置時，實現觸摸檢測。具體地，所述觸控單元的觸控單元可以是電容式觸摸檢測模式，在本實施例中，以自電容的檢測模式進行觸摸檢測，即所述觸控單元檢測電容值為所述觸控單元的觸摸檢測電極與地端之間電容值的測量值。但是本發明對是否以自電容的檢測模式進行觸摸檢測不做限制，在其他實施例中，還可以以互電容的檢測模式進行觸摸檢測。

在本實施例中，將所述第一基板100上的公共電極109用作所述觸控單元的觸摸檢測電極，這樣在製作觸控顯示裝置時，可以省去單獨形成觸摸檢測電極的步驟，提高觸控顯示裝置的透光率並減小生產成本，因此，在本實施例中，所述觸控單元檢測電容值為公共電極109與大地之間電容值Cs。

但是本發明對是否將所述第一基板100上的公共電極109用作所述觸控單元的觸摸檢測電極不做限制，在其他實施例中，還可以在第一基板100或第二基板上形成獨立的觸摸檢測電極。

如圖3所示，示出了公共電極用作觸控單元的觸摸檢測電極一實施例的示意圖。結合參考圖2、圖3，將整個觸控顯示裝置的公共電極109分成M行N列的方塊電極，每個方塊電極包括多個顯示單元中的公共電極109。每個方塊電極作為一個觸控單元201，由導線連接至觸摸驅動電路202，所述觸摸驅動電路202為本發明觸控顯示裝置的驅動電路的驅動模組。

在其他實施例中，所述觸控單元201還可以為獨立的觸摸檢測電極所組成，也可以在互電容檢測模式下由獨立的發射電極和檢測電極組成。

需要說明的是，在本實施例中，在控制上為了避開液晶顯示對觸摸檢測的干擾，需要對公共電極109做分時複用。即在顯示單元的刷新階段將公共電極109驅動至顯示所需的電位，而在觸摸檢測階段則將公共電極109作為觸控單元的觸摸檢測電極去驅動，具體控制方法為本領域慣用技術，這裡不做贅述。

如背景技術所述，當公共電極109用作自電容檢測模式的觸摸檢測電極時，在圖元電極102與公共電極109之間施加不同的灰階電壓時，不同灰階電壓下的液晶偏轉導致液晶電容Clc的變化，會導致使電容 Cs發生變化，從而給觸摸檢測帶來干擾。在其他一些檢測模式中，液晶電容Clc的變化同樣會對觸摸檢測帶來干擾。例如當公共電極109用作互電容檢測模式的發射電極時，液晶電容Clc的變化會導致公共電極109與互電容檢測模式的接受電極之間的電容發生變化。

不僅當將公共電極109用作觸摸檢測電極時，不同灰階電壓下的液晶偏轉會給觸摸檢測帶來干擾，當採用在第一基板100或第二基板上形成的獨立的觸摸檢測電極作為自電容的檢測電極或互電容的發射電極時，獨立的觸摸檢測電極（互電容中的檢測電極或發射電極）與圖元電極102或公共電極109等會形成由液晶作為電介質的動態電容，所述動態電容也會隨不同灰階電壓下的液晶偏轉的變化而變化，由於觸摸檢測電極為所述動態電容與自電容或互電容檢測所檢測的電容的共用電極板，所述動態電容的變化也會導致自電容或互電容檢測所檢測電容的測量值發生變化，從而也會給觸摸檢測帶來干擾。

為了減少所述干擾，本發明觸控顯示裝置的驅動電路能夠對觸控單元201回饋的觸控單元檢測電容值進行修正，從而提高觸摸檢測的精度。

具體地，參考圖4，示出了本發明觸控顯示裝置的驅動電路中各個模組的關係圖。

驅動模組402，用於驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應。

顯示模組401，用於施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示。

分析模組403，用於存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，並存儲有與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重。

所述分析模組403能夠根據接收顯示模組401傳輸來的當前施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數，對驅動模組402傳輸來的觸摸感應的測量值進行修正，得到更精確的觸控單元檢測電容值。

具體地，在本實施例中，所述分析模組403包括：

第一存儲模組404A，所述第一存儲模組404A用於存儲有不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數。

第二存儲模組404B，所述第二存儲模組404B存儲與有觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重。

修正模組405，所述修正模組405與所述驅動模組402、顯示模組401、第一存儲模組404A和第二存儲模組404B相連，用於根據顯示模組401施加至各顯示單元的灰階電壓，從所述第一存儲模組404A獲取灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，並從所述第二存儲模組404B獲取各顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重，根據所獲取的影響係數以及影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數對驅動模組402獲得的檢測電容值進行修正。

但是本發明對所述分析模組403是否分為第一存儲模組404A、第二存儲模組404B和修正模組405不做限制，在其他實施例中，所述分析模組403還可以為一個整體的模組。

在本實施例中，在所述第一存儲模組404A中存儲有包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表。例如當每個所述顯示單元上能夠載入256個不同的灰階電壓時，所述查閱資料表可以表示為table[0~255]。

在存儲包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表之前，需要獲得與灰階電壓對應的影響係數。結合參考圖3，圖5，圖5為圖3中一個觸控單元201及其周邊顯示單元301的示意圖。需要說明的是，在本實施例中，觸控單元201的觸摸檢測電極為觸控單元201所在區域包括的多個顯示單元301的公共電極，在圖5中觸控單元201所在位置也包括多個未示出的顯示單元301，同樣地，在圖3中僅示出了多個觸控單元201，在第一基板100上還包括多個未示出的顯示單元301。

在本實施例中，可以通過實驗獲得與灰階電壓對應的影響係數：

逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元301，其中，對於同一幀，施加同一灰階電壓給所有顯示單元301，對於不同幀，施加不同的灰階電壓給所有顯示單元301。

在每幀施加灰階電壓給所有顯示單元301的步驟中，均檢測位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元201的檢測電容值，以獲得與不同灰階電壓相對應的觸控單元檢測電容值。

需要說明的是，在本實施例中，柵極驅動電路106逐行地對顯示單元301的薄膜電晶體柵極施加掃描電壓，即每次打開一行的薄膜電晶體，使一行的顯示單元301載入灰階電壓。這樣逐行的對觸控顯示裝置中每行顯示單元301都完成施加灰階電壓，使得觸控顯示裝置能夠顯示一幅完整的畫面的步驟，一般稱為一幀。逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元301，指的是使觸控顯示裝置進行多幀畫面的顯示。對於同一幀，施加同一灰階電壓給所有顯示單元301，指的是在每一幀畫面中，所有顯示單元301上施加的灰階電壓相同。對於不同幀，施加不同的灰階電壓給所有顯示單元301，指的是在不同幀畫面中，施加給顯示單元301的灰階電壓不同。

需要說明的是，在本實施例中，每個所述顯示單元301包括三個子圖元單元，在所有顯示單元301施加同一灰階電壓時，每個所述顯示單元301的三個子圖元單元都施加同一灰階電壓。

在獲得與不同灰階電壓相對應的觸控單元檢測電容值之後，以一預設灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值作為基準電容值，基於不同灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值與所述基準電容值的關係，獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數。

例如，在不同幀的畫面中，每個所述顯示單元301載入多個自小到大的不同的灰階電壓時，可以分別測量多個灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值，以其中最大的觸控單元檢測電容值作為基準電容值，基於不同灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值與所述基準電容值的關係，獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，這樣獲得的影響係數的最大值為1，便於計算。但是本發明對是否以最大的觸控單元檢測電容值作為基準電容值不做限制。

需要說明的是，影響係數僅反映不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響，但是在獲取影響係數的過程中，與觸控單元201具有不同位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響不同，為了減小不同位置的顯示單元301對獲取影響係數造成的干擾，本實施例中，在進行獲得與灰階電壓對應的影響係數的實驗中，在每一幀畫面下，對觸控顯示裝置的所有顯示單元301地施加相同的灰階電壓，在不同幀畫面下，對顯示單元301施加不同的灰階電壓。例如每個顯示單元301能夠施加從灰階【0】到灰階【255】共256個灰階電壓，當需要檢測的灰階電壓為灰階【0】時，使觸控顯示裝置進行第一幀畫面的顯示，在第一幀畫面中，使所有顯示單元301均施加灰階【0】的灰階電壓，並檢測此時位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元201的觸控單元檢測電容值。即假設觸控顯示裝置包括9行9列的觸控單元201時，可以檢測位於觸控顯示裝置第5行第5列的觸控單元201在灰階【0】的灰階電壓下的觸控單元檢測電容值。由於觸控單元201的尺寸遠小於觸控顯示裝置的尺寸，並且所有顯示單元301的灰階電壓均為灰階【0】，可以認為此時檢測到的觸控單元檢測電容值僅與灰階【0】有關，從而使獲得的影響係數僅反映不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響。當需要檢測的灰階電壓為灰階【1】時，使觸控顯示裝置進行第二幀畫面的顯示，在第二幀畫面中，使所有顯示單元301均施加灰階【1】的灰階電壓，並檢測此時位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元201的觸控單元檢測電容值…以上述方法，直到獲得256個灰階電壓所對應的觸控單元檢測電容值。

需要說明的是，由於觸控單元201的尺寸遠小於觸控顯示裝置的尺寸，在每一幀畫面下，對觸控顯示裝置的所有顯示單元301施加相同的灰階電壓時，在觸控顯示裝置中心區域附近的多個觸控單元檢測電容值基本相同，在觸控顯示裝置邊緣區域附近的觸控單元201與在觸控顯示裝置中心區域附近的觸控單元201的觸控單元檢測電容值也相差不大，因此本發明對逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元301時，是否檢測位於觸控顯示裝置中心位置觸控單元201的觸控單元檢測電容值不做限定，在其他實施例中，還可以檢測位於觸控顯示裝置其他位置觸控單元201的觸控單元檢測電容值。

所述第二存儲模組404B用於存儲與觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重。

在所述第二存儲模組404B中存儲與觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重之前，需要通過實驗獲得與每個觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重。

所述影響權重僅反映顯示單元301由於與觸控單元201具有不同的位置關係而對觸控單元檢測電容值造成的不同影響。繼續參考圖5，在本實施例中，通過實驗獲得與觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重：

在本實施例中，以觸控顯示裝置其中一個觸控單元201作為實驗觸控單元。 位於觸控單元201中心的顯示單元301作為中心顯示單元501。

需要說明的是，在圖5中僅示出了以中心顯示單元501為中心的81個顯示單元301，所述觸控顯示裝置還包括除圖5中示出的顯示單元301外的多個顯示單元。在圖5中觸控單元201所在位置包括25個顯示單元301，但是本發明對觸控單元201在位置包括顯示單元301的數量不做限制，在其他實施例中，觸控單元201所在位置可以包括任意數量的顯示單元301。

在本實施例中，所述觸控單元201的形狀為矩形，但是本發明對觸控單元201的形狀不做限制，在其他實施例中，所述觸控單元201的形狀還可以為圓形或其他形狀。需要說明的是，所述觸控單元201的形狀為矩形或圓形，指的是觸控單元201的形狀近似於矩形或圓形，並不一定限制為精確的矩形或圓形。例如，所述觸控單元201的形狀可以為多個條狀的公共電極所組成的近似於矩形的圖形。

根據測定不同灰階電壓對應影響係數的實驗，記錄第一灰階電壓，所述第一灰階電壓對應的影響係數最大，記錄第二灰階電壓，所述第二灰階電壓對應的影響係數最小。

對顯示單元陣列進行區域劃分，以觸控單元201的中心點作為檢測中心，選取所述檢測中心正對位置的顯示單元301作為中心顯示單元501，以所述中心顯示單元501為中心，劃定包括一個或多個顯示單元301的第一參考區域，對所述第一參考區域中的顯示單元301施加第一灰階電壓，對第一參考區域外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，以獲得將此時測量的觸控單元檢測電容值，並作為第一檢測電容值。

以所述中心顯示單元501為中心，劃定包括多個顯示單元301的第二參考區域，使第二參考區域包括所述第一參考區域，所述第二參考區域內的顯示單元301的數量大於第一參考區域內的顯示單元301的數量，對所述第二參考區域中的顯示單元301施加第一灰階電壓，對第二參考區域外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，將此時測量的觸控單元檢測電容值作為第二檢測電容值。

將第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得的數值作為在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元301的影響權重。

為了使獲得的影響權重更好地反應不同顯示單元位置對觸控單元檢測電容值的影響，使劃定的第一參考區域、第二參考區域的形狀與觸控單元201的形狀相近。在本實施例中，第一參考區域、第二參考區域均為以所述中心顯示單元501為中心，包括多個顯示單元301的參考陣列，參考陣列的行數和列數相等，但是本發明對參考陣列的行數和列數是否相等不做限制，對參考區域的形狀也不做限制。

在本實施例中，為獲得所有對觸控單元檢測電容值具有較明顯影響的顯示單元301的影響權重，需要進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域，獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟，其中每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域，將每次獲得的第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以在每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，獲得在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重。

具體地，先以中心顯示單元501作為初始的第一參考區域的範圍，中心顯示單元501的面積為第一參考區域面積的初始值，即初始的參考陣列的行數和列數均為1，對中心顯示單元501施加第一灰階電壓，對中心顯示單元501外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第一檢測電容值。記錄中心顯示單元501的面積，作為第一參量。

以所述中心顯示單元501為中心，劃定包括多個顯示單元301的第二參考區域，使第二參考區域包括所述第一參考區域，所述第二參考區域內的顯示單元的數量大於第一參考區域內的顯示單元的數量。具體地，使所述第二參考區域為以中心顯示單元501為中心，包括9個顯示單元301的第一參考陣列502，所述第一參考陣列502的行數和列數均為3，第一參考陣列502包括中心顯示單元501以及包圍中心顯示單元501的8個顯示單元301。記錄第一參考陣列502的面積，作為第二參量。

對第一參考陣列502內的顯示單元301施加第一灰階電壓，對第一參考陣列502外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，將此時測量的觸控單元檢測電容值作為第二檢測電容值。

對觸控顯示裝置的所有顯示單元301施加第二灰階電壓，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第三參量。

對觸控顯示裝置的所有顯示單元301施加第一灰階電壓，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第四參量。

將所述第一參量、第二參量、第三參量、第四參量、第一檢測電容值和第二檢測電容值一併帶入權重方程，以獲得在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的8個顯示單元301的影響權重。

需要說明的是，在本實施例中，為方便計算，可以使不同顯示單元301的影響權重均小於或等於1。由於中心顯示單元501所在位置對觸控單元201的觸控檢測電容值的影響最大，因此，在本實施例中，預設中心顯示單元501的影響權重為1。但是本發明對是否將中心顯示單元501的影響權重設定為1不做限制，還可以將中心顯示單元501的影響權重設定為其他數值。

在本實施例中，所述權重方程為：

y = (C2-C1)/[(Cmax-Cmin)* (area2- area1)]。

其中，y影響權重，C2為第二檢測電容值，C1為第一檢測電容值，Cmax為第四參量，Cmin為第三參量，area2為第二參量，area1為第一參量。

需要說明的是，根據本實施例中的權重方程，所得到的影響權重與第一檢測電容值，第二檢測電容值相關；還與第一參考區域和第二參考區域的面積之差相關，因此根據本實施例的權重方程得到的影響權重能夠較為精確地反應與觸控單元201具有不同位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響。但是本發明對權重方程的具體形式不做限制，在其他實施例中，權重方程還可以僅包括第一檢測電容值和第二檢測電容值兩個參數，或包括第一檢測電容值，第二檢測電容值，第三參量，第四參量共四個參數。任何對權重方程具體形式的改動均在本發明保護範圍之內。

由於參考區域的形狀與觸控單元201的形狀相近，在本實施例中，因此可以認為在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外多個顯示單元301的影響權重都相同。

在本實施例中，以上述方式，進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域，並獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟，其中每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域，將每次獲得的第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重。

例如在本實施例中，在劃定中心顯示單元501為第一參考區域，第一參考陣列502為第二參考區域之後，再一次進行劃定第一參考區域和第二參考區域，並獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟。在本次劃定第一參考區域和第二參考區域的步驟中，以第一參考陣列502為第一參考區域，以第二參考陣列503為第二參考區域。所述第二參考陣列503以中心顯示單元501為中心，包括第一參考陣列502以及包圍第一參考陣列502的16個顯示單元301。記錄第一參考陣列502的面積，作為第一參量，記錄第二參考陣列503的面積，作為第二參量。將本次劃定第一參考區域和第二參考區域後得到的第一檢測電容值、第二檢測電容值、第一參量、第二參量以及第三參量、第四參量一併帶入權重方程，獲得在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的16個顯示單元301的影響權重。

需要說明的是，在本實施例中，第一參考區域和第二參考區域均為參考陣列，且與第一參考區域相比，第二參考區域的參考陣列的行數和列數均增加2。

需要說明的是，本發明對初始的第一參考區域的範圍不做限制，在其他實施例中，還可以以第一參考陣列502乃至更大的參考陣列作為初始的第一參考區域。本發明對與第一參考區域相比，第二參考區域的參考陣列的行數和列數增加的數量也不做限制，在其他實施例中，與第一參考區域相比，第二參考區域的參考陣列的行數和列數的增加數還可以為2的整數倍的數值。

還需要說明的是，在其他實施例中，當所述觸控單元201的形狀為圓形時，所述第一參考區域、第二參考區域可以均為以所述中心顯示單元501為中心，包括多個顯示單元301的顯示單元集合。所述顯示單元集合最外側的多個顯示單元301到中心顯示單元501的距離相等。這樣，顯示單元集合的形狀也近似於圓形。第二參考區域的半徑大於第一參考區域的半徑。

還需要說明的是，在本實施例中，每個顯示單元301包括三個子圖元單元，在進行獲得影響權重的實驗時，在每個顯示單元301的三個子圖元單元上施加的灰階電壓相同。

由於距離實驗觸控單元的檢測中心較遠的顯示單元301的影響權重較小，在對觸控單元檢測電容值進行修正時，這樣較小的影響權重可以忽略不計。因此，在本實施例中，在進行獲得影響權重的實驗時，可以在建立包括多個顯示單元301的採樣區域，位於所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重大於或等於位於所述採樣區域外的顯示單元對觸控單元的影響權重。在獲得採樣區域內顯示單元301的影響權重之後，忽略其餘顯示單元301對觸控檢測電容值的影響，在第二存儲模組404B中存儲所述採樣區域內的顯示單元301對實驗觸控單元的影響權重。

具體地，建立採樣區域的步驟可以和獲得影響權重的實驗同步進行：

以中心顯示單元501的面積作為第一參考區域面積的初始值，進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域的步驟，其中每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域；

以每次劃定的第一參考區域的面積作為第一參量；

以每次劃定的第二參考區域的面積作為第二參量；

在每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，獲取第一檢測電容值到第二檢測電容值，將第一檢測電容值與第二檢測電容值之差除以第一檢測電容值，獲得的值作為第五參量；

將第一參量到第二參量的變化量與第二參量的比值作為第六參量；

將第六參量與一預設係數相乘，得到第七參量；

當第五參量小於或等於第七參量時，以此時的參考區域作為採樣區域。

具體地，繼續參考圖5，以劃定第二參考陣列503為第一參考區域，第三參考陣列504為第二參考區域為例，所述第三參考陣列504以中心顯示單元501為中心，包括所述第二參考陣列503以及包圍所述第二參考陣列503的24個顯示單元301。

以第二參考陣列503的面積作為第一參量，以第三參考陣列504的面積作為第二參量。

在劃定第二參考陣列503為第一參考區域，第三參考陣列504為第二參考區域之後，將第一檢測電容值與第二檢測電容值之差除以第一檢測電容值，獲得的值作為第五參量。

將第一參量到第二參量的變化量與第二參量的比值作為第六參量；

將第六參量與一預設係數相乘，得到第七參量，此預設係數可以在0.01到0.4的範圍內，這樣將第五參量和第七參量比較，能夠更準確的反映每次重新劃定第一參考區域和第二參考區域，並將上一次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域時，觸控單元檢測電容值的變化量與第二參考區域面積變化量之間的關係，但是本發明對預設係數的具體數值不做限制。

當第五參量小於或等於第七參量時，以當前的第二參考區域作為採樣區域，即採樣區域為包括49個顯示單元的第三參考陣列504。在採樣區域的範圍之外，隨著參考陣列面積的增大，每次重新劃定第一參考區域和第二參考區域後測量的觸控檢測電容值變化很小，可以將採樣區域的範圍之外顯示單元301對觸控檢測電容值當做雜訊忽略不計。

需要說明的是，在本實施例中，以第三參考陣列504作為採樣區域，但是採樣區域所包括的範圍以實際情況而定。一般來說，需要進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域，並將上一次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域劃定的步驟，以確定採樣區域的範圍。

還需要說明的是，在其他實施例中，當第五參量小於或等於第七參量時，還可以以第一參考區域作為採樣區域，即採樣區域為第二參考陣列503。

對於觸控顯示裝置中的除上述實驗觸控單元外的其他觸控單元201，可以以上述方法，對每個觸控單元201進行實驗，獲得每個觸控單元201對應的影響權重和採樣區域。對於一般情況，簡單地，還可以記錄上述實驗中，實驗觸控單元的採樣區域以及採樣區域中每個顯示單元301的影響權重，其他觸控單元201可以建立與實驗觸控單元的採樣區域相同面積的採樣區域，並將實驗觸控單元的採樣區域內各顯示單元301的影響權重類推到其他觸控單元中，以獲得其他觸控單元201的採樣區域以及採樣區域中個顯示單元301的影響權重。

需要說明的是，通常情況下，多個觸控單元201的採樣區域的面積大小相同，但是在觸控顯示裝置的邊界處，由於邊界的限制，邊界處觸控單元201的採樣區域面積可能小於觸控顯示裝置中間部位的觸控單元201的採樣區域面積。可以根據具體情況對採樣區域做相應調整，比如在觸控顯示裝置邊界處以與觸控單元201面積大小相當的參考區域作為採樣區域能夠達到的最大面積，類似於這種細微的調整均在本發明保護範圍之內。

在獲得觸控顯示裝置中，各個觸控單元201對應的採樣區域以及採樣區域中個顯示單元301的影響權重之後，在第二存儲模組404B中存儲各個觸控單元201對應的採樣區域以及採樣區域中個顯示單元301的影響權重。

通過本發明觸控顯示裝置中的分析模組403，能夠根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸控單元檢測電容值進行修正。

所述分析模組403能夠根據接收顯示模組401傳輸來的當前施加至各顯示單元301的灰階電壓，獲取各顯示單元301當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元201的觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸控單元201回饋的觸控單元檢測電容值進行修正。

具體地，本實施例中，觸控顯示裝置進行觸摸檢測的工作過程如下：

繼續參考圖5，顯示模組401施加灰階電壓至各顯示單元301，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示。在本實施例中，以公共電極109作為自電容檢測模式的觸摸檢測電極，需要對公共電極109做分時複用，在觸控顯示裝置進行圖像顯示時，在一幀圖像顯示完畢，另一幀圖像顯示之前，所述顯示模組401將施加至各顯示單元301的灰階電壓傳輸給所述分析模組403中的修正模組405，所述修正模組405根據施加至各顯示單元301的灰階電壓，調用存儲於第一存儲模組404A中的查閱資料表，從而獲取各顯示單元301當前對觸控單元201的觸控單元檢測電容值的影響係數，並將各顯示單元301當前對觸控單元201的觸控單元檢測電容值的影響係數組成第一矩陣。

所述修正模組405能夠從所述第二存儲模組404B中獲取與所述觸控單元201相對應的所述採樣區域內的顯示單元301對觸控單元201的影響權重，組成第二矩陣。

在所述修正模組405中，將所述第一矩陣中的每個影響係數與第二矩陣中與影響係數同位置的影響權重相乘，得到由多個修正係數組成的第三矩陣，以所述第三矩陣中數值之和作為修正因數。

使所述驅動模組402工作，驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應，根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸摸感應的測量值進行修正，在本實施例中，所述觸摸感應的測量值即在各觸控單元201上檢測得到的觸控單元檢測電容值。

具體地，在本實施例中，在驅動模組402驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應時，將各觸控單元201的觸控單元檢測電容值的測量值與各觸控單元201對應的修正因數作為參數帶入電容修復方程，得到各觸控單元201的修正後電容值，以修正後電容值作為實際的觸控單元檢測電容值。

修正後電容值排除了不同的灰階電壓造成的液晶偏轉對觸控單元檢測電容值的測量值的影響，能夠更真實地反映手指觸摸時觸控單元檢測電容值的變化，從而提高了觸摸檢測的精度。

需要說明的是，本發明對是否在在觸控顯示裝置進行圖像顯示時在一幀圖像顯示完畢，另一幀圖像顯示之前進行觸摸檢測不做限制。在其他實施例中，圖像顯示和觸摸檢測還可以同時進行。

例如，在其他實施例中，所述觸控顯示裝置包括第一顯示區域和第二顯示區域，第一顯示區域和第二顯示區域分別包括多個顯示單元301，以及與多個顯示單元301對應的多個觸控單元201。

顯示模組401施加灰階電壓至各顯示單元301，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示的步驟包括：在第一顯示區域內各顯示單元301充電完畢進行圖像顯示時，施加灰階電壓至第二顯示區域的各顯示單元301，以驅動第二顯示區域進行圖像顯示。

此時第一顯示區域內顯示單元301的灰階電壓穩定，可以根據施加至第一顯示區域中各顯示單元301的灰階電壓，獲取第一顯示區域中各顯示單元301當前對第一顯示區域中各觸控單元201的觸控單元檢測電容值的影響係數，並進一步通過驅動模組402進行觸摸檢測，並獲得修正後觸控單元檢測電容值。這樣對第一顯示區域的觸控單元201的觸摸檢測和第二顯示區域的各顯示單元301的圖像顯示可以同時進行。需要說明的是，當第一顯示區域內顯示單元301的灰階電壓穩定時，可以在第二顯示區域的各顯示單元301的圖像顯示過程中，或者第一顯示區域內各顯示單元301圖像顯示與第二顯示區域的各顯示單元301圖像顯示之間的時間內，獲取第一顯示區域中各顯示單元301當前對第一顯示區域中各觸控單元201的觸控單元檢測電容值的影響係數。

需要說明的是，在本實施例中，每個所述顯示單元301包括三個子圖元單元：紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元。由於三個子圖元單元極為細小且緊密排列，可以認為三個子圖元單元的對觸控單元201影響權重相同，可以通過查閱資料表分別獲得紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元對應的影響係數，以三個子圖元單元影響係數的平均值作為顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響係數。假設三個子圖元單元的灰階電壓分別為灰階[R]、灰階[G]、灰階[B]，每個顯示單元301通過查閱資料表得到的影響係數為 (table[R]+table[G]+table[B])/3。

在其他實施例中，還可以分別獲得採樣區域內每個子圖元單元的影響係數，組成第四矩陣，在存儲模組中存儲採樣區域內每個子圖元單元的影響權重，組成第五矩陣，將所述第四矩陣中的每個影響係數與第五矩陣中與影響係數同位置的影響權重相乘，得到由多個修正係數組成的第六矩陣，以所述第六矩陣中數值之和作為修正因數。所述第六矩陣包含的修正係數為是第三矩陣包含的修正係數的三倍，所計算出的修正因數較第三矩陣中的修正因數更加精確，但是所需計算量較大。

需要說明的是，由於在本實施例中，所述觸控顯示裝置包括綁定在第一基板100上的顯示觸摸檢測晶片（未示出），所述顯示觸摸檢測晶片中內置所述驅動電路的顯示模組401、驅動模組402和分析模組403。顯示模組401、驅動模組402和分析模組403之間可以由顯示觸摸檢測晶片控制，通過顯示觸摸檢測晶片方便地交換和傳輸影響係數、影響權重、灰階電壓等資訊，但是本發明對顯示模組401、驅動模組402和分析模組403是否集成在一個顯示觸摸檢測晶片中不做限制。在其他實施例中，所述觸控顯示裝置還可以包括顯示驅動晶片和觸摸檢測晶片，所述顯示驅動晶片中內置所述驅動電路的顯示模組401，所述觸摸檢測晶片中內置所述驅動電路的驅動模組402和分析模組403，所述顯示驅動晶片和觸摸檢測晶片均綁定在第一基板100上。在上述實施例中，由於顯示模組401和驅動模組402、分析模組403分別位於兩個晶片上，因此需要其他處理晶片（如中央處理器）對所述顯示驅動晶片和觸摸檢測晶片進行控制，使得顯示模組401和驅動模組402、分析模組403之間可以交換和傳輸影響係數、影響權重、灰階電壓等資訊。

本發明還提供一種觸控顯示裝置的驅動電路，該觸控顯示裝置包括用於實現觸控感應的多個觸控單元和用於實現圖像顯示的多個顯示單元，所述觸控顯示裝置包括但不限於上述本發明提供的觸控顯示裝置。通過檢測在手指觸摸觸控顯示裝置時，觸控單元的觸控單元檢測電容值變化，實現觸摸檢測。

可以繼續參考圖4，所述驅動電路包括：

驅動模組402，用於驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應。

顯示模組401，用於施加灰階電壓至各顯示單元301，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示。

分析模組403，所述分析模組403存儲有不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，並存儲有觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重。

所述分析模組403能夠根據接收顯示模組401傳輸來的當前施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數，對驅動模組402傳輸來的觸摸感應的測量值進行修正，得到更精確的觸控單元檢測電容值。

使修正後的觸控單元檢測電容值的變化能夠精確地反應手指對觸控顯示裝置的觸摸.

可以繼續參考圖3至圖5，所述觸控顯示裝置是以液晶顯示面板作為顯示部分的觸控顯示裝置。所述觸控顯示裝置包括第一基板100、第二基板（未示出）以及設置於第一基板100、第二基板之間的液晶層，所述顯示單元301設置於所述第一基板100或第二基板上，所述觸控單元201設置於所述第一基板100或第二基板上。本發明對所述觸控單元201的觸摸檢測模式不做限制，所述觸控單元201可以以自電容或互電容的模式進行觸摸檢測。每個觸控單元201所在區域可以包括多個顯示單元301。

如本發明提供的觸控顯示裝置實施例中所述，施加在顯示單元301上的不同灰階電壓造成的液晶偏轉不同，會影響所述觸控單元201的觸控單元檢測電容值。

通過本發明提供的驅動電路中的分析模組403，能夠修正觸控單元檢測電容值，得到不受灰階電壓干擾的觸控單元檢測電容值，進而提高觸控顯示裝置的精度。

具體地，在本實施例中，所述分析模組403包括：

第一存儲模組404A，所述第一存儲模組404A用於存儲有不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數。

第二存儲模組404B，所述第二存儲模組404B存儲與有觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重。

修正模組405，所述修正模組405與所述驅動模組402、顯示模組401、第一存儲模組404A和第二存儲模組404B相連，用於根據顯示模組401施加至各顯示單元的灰階電壓，從所述第一存儲模組404A獲取灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，並從所述第二存儲模組404B獲取各顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重，根據所獲取的影響係數以及影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數對驅動模組獲得的檢測電容值進行修正。

在本實施例中，在所述第一存儲模組404A中存儲有包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表。例如當每個所述顯示單元上能夠載入256個不同的灰階電壓時，所述查閱資料表可以表示為table[0~255]。

在存儲包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表之前，需要獲得與灰階電壓對應的影響係數。結合參考圖3，圖5，圖5為圖3中一個觸控單元201及其周邊顯示單元301的示意圖。在本實施例中，通過實驗獲得與灰階電壓對應的影響係數：

逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元301，其中，對於同一幀，施加同一灰階電壓給所有顯示單元301，對於不同幀，施加不同的灰階電壓給所有顯示單元301。

在每幀施加灰階電壓給所有顯示單元301的步驟中，均檢測位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元201的檢測電容值，以獲得與不同灰階電壓相對應的觸控單元檢測電容值。

需要說明的是，在本實施例中，觸控顯示裝置顯示畫面的方式為：逐行地使顯示單元301載入灰階電壓。這樣逐行的對觸控顯示裝置中每行顯示單元301都完成施加灰階電壓，使得觸控顯示裝置能夠顯示一幅完整的畫面的步驟，一般稱為一幀。逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元301，指的是使觸控顯示裝置進行多幀畫面的顯示。對於同一幀，施加同一灰階電壓給所有顯示單元301，指的是在每一幀畫面中，所有顯示單元301上施加的灰階電壓相同。對於不同幀，施加不同的灰階電壓給所有顯示單元301，指的是在不同幀畫面中，施加給顯示單元301的灰階電壓不同。

需要說明的是，在本實施例中，每個所述顯示單元301包括三個子圖元單元，在所有顯示單元301施加同一灰階電壓時，每個所述顯示單元301的三個子圖元單元都施加同一灰階電壓。

在獲得與不同灰階電壓相對應的觸控單元檢測電容值之後，以一預設灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值作為基準電容值，基於不同灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值與所述基準電容值的關係，獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數。

例如，在不同幀的畫面中，每個所述顯示單元301載入多個自小到大的不同的灰階電壓時，可以分別測量多個灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值，以其中最大的觸控單元檢測電容值作為基準電容值，基於不同灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值與所述基準電容值的關係，獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，這樣獲得的影響係數的最大值為1，便於計算。但是本發明對是否以最大的觸控單元檢測電容值作為基準電容值不做限制。

需要說明的是，影響係數僅反映不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響，但是在獲取影響係數的過程中，與觸控單元201具有不同位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響不同，為了減小不同位置的顯示單元301對獲取影響係數造成的干擾，本實施例中，在進行獲得與灰階電壓對應的影響係數的實驗中，在每一幀畫面下，對觸控顯示裝置的所有顯示單元301地施加相同的灰階電壓，在不同幀畫面下，對顯示單元301施加不同的灰階電壓。例如每個顯示單元301能夠施加從灰階【0】到灰階【255】共256個灰階電壓，當需要檢測的灰階電壓為灰階【0】時，使觸控顯示裝置進行第一幀畫面的顯示，在第一幀畫面中，使所有顯示單元301均施加灰階【0】的灰階電壓，並檢測此時位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元201的觸控單元檢測電容值。即假設觸控顯示裝置包括9行9列的觸控單元201時，可以檢測位於觸控顯示裝置第5行第5列的觸控單元201在灰階【0】的灰階電壓下的觸控單元檢測電容值。由於觸控單元201的尺寸遠小於觸控顯示裝置的尺寸，並且所有顯示單元301的灰階電壓均為灰階【0】，可以認為此時檢測到的觸控單元檢測電容值僅與灰階【0】有關，從而使獲得的影響係數僅反映不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響。當需要檢測的灰階電壓為灰階【1】時，使觸控顯示裝置進行第二幀畫面的顯示，在第二幀畫面中，使所有顯示單元301均施加灰階【1】的灰階電壓，並檢測此時位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元201的觸控單元檢測電容值…以上述方法，直到獲得256個灰階電壓所對應的觸控單元檢測電容值。

需要說明的是，由於觸控單元201的尺寸遠小於觸控顯示裝置的尺寸，在每一幀畫面下，對觸控顯示裝置的所有顯示單元301施加相同的灰階電壓時，在觸控顯示裝置中心區域附近的多個觸控單元檢測電容值基本相同，在觸控顯示裝置邊緣區域附近的觸控單元201與在觸控顯示裝置中心區域附近的觸控單元201的觸控單元檢測電容值也相差不大，因此本發明對逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元301時，是否檢測位於觸控顯示裝置中心位置觸控單元201的觸控單元檢測電容值不做限定，在其他實施例中，還可以檢測位於觸控顯示裝置其他位置觸控單元201的觸控單元檢測電容值。

所述第二存儲模組404B用於存儲與觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重。

在所述存儲模組404中存儲與觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重之前，需要獲得與每個觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重。

所述影響權重僅反映顯示單元301由於與觸控單元201具有不同的位置關係而對觸控單元檢測電容值造成的不同影響。繼續參考圖5，在本實施例中，通過實驗獲得與觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重：

在本實施例中，以觸控顯示裝置其中一個觸控單元201作為實驗觸控單元。 位於觸控單元201中心的顯示單元301作為中心顯示單元501。

需要說明的是，在圖5中僅示出了以中心顯示單元501為中心的81個顯示單元301，所述觸控顯示裝置還包括除圖5中示出的顯示單元301外的多個顯示單元。在圖5中觸控單元201所在位置包括25個顯示單元301，但是本發明對觸控單元201在位置包括顯示單元301的數量不做限制，在其他實施例中，觸控單元201所在位置可以包括任意數量的顯示單元301。

在本實施例中，所述觸控單元201的形狀為矩形，但是本發明對觸控單元201的形狀不做限制，在其他實施例中，所述觸控單元201的形狀還可以為圓形或其他形狀。需要說明的是，所述觸控單元201的形狀為矩形或圓形，指的是觸控單元201的形狀近似於矩形或圓形，並不一定限制為精確的矩形或圓形。例如，所述觸控單元201的形狀可以為多個條狀的公共電極所組成的近似於矩形的圖形。

根據測定不同灰階電壓對應影響係數的實驗，記錄第一灰階電壓，所述第一灰階電壓對應的影響係數最大，記錄第二灰階電壓，所述第二灰階電壓對應的影響係數最小。

對顯示單元陣列進行區域劃分，以觸控單元201的中心點作為檢測中心，選取所述檢測中心正對位置的顯示單元301作為中心顯示單元501，以所述中心顯示單元501為中心，劃定包括一個或多個顯示單元301的第一參考區域，對所述第一參考區域中的顯示單元301施加第一灰階電壓，對第一參考區域外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，以獲得將此時測量的觸控單元檢測電容值，並作為第一檢測電容值。

以所述中心顯示單元501為中心，劃定包括多個顯示單元301的第二參考區域，使第二參考區域包括所述第一參考區域，所述第二參考區域內的顯示單元301的數量大於第一參考區域內的顯示單元301的數量，對所述第二參考區域中的顯示單元301施加第一灰階電壓，對第二參考區域外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，將此時測量的觸控單元檢測電容值作為第二檢測電容值。

將第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得的數值作為在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元301的影響權重。

為了使獲得的影響權重更好地反應不同顯示單元位置對觸控單元檢測電容值的影響，使劃定的第一參考區域、第二參考區域的形狀與觸控單元201的形狀相近。在本實施例中，第一參考區域、第二參考區域均為以所述中心顯示單元501為中心，包括多個顯示單元301的參考陣列，參考陣列的行數和列數相等，但是本發明對參考陣列的行數和列數是否相等不做限制，對參考區域的形狀也不做限制。

在本實施例中，為獲得所有對觸控單元檢測電容值具有較明顯影響的顯示單元301的影響權重，需要進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域，並獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟，並將每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域，將每次獲得的第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以在每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，獲得在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重。

具體地，先以中心顯示單元501作為初始的第一參考區域的範圍，中心顯示單元501的面積為第一參考區域面積的初始值，即初始的參考陣列的行數和列數均為1，對中心顯示單元501施加第一灰階電壓，對中心顯示單元501外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第一檢測電容值。記錄中心顯示單元501的面積，作為第一參量。

以所述中心顯示單元501為中心，劃定包括多個顯示單元301的第二參考區域，使第二參考區域包括所述第一參考區域，所述第二參考區域內的顯示單元的數量大於第一參考區域內的顯示單元的數量。具體地，使所述第二參考區域為以中心顯示單元501為中心，包括9個顯示單元301的第一參考陣列502，所述第一參考陣列502的行數和列數均為3，第一參考陣列502包括中心顯示單元501以及包圍中心顯示單元501的8個顯示單元301。記錄第一參考陣列502的面積，作為第二參量。

對第一參考陣列502內的顯示單元301施加第一灰階電壓，對第一參考陣列502外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，將此時測量的觸控單元檢測電容值作為第二檢測電容值。

對觸控顯示裝置的所有顯示單元301施加第二灰階電壓，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第三參量。

對觸控顯示裝置的所有顯示單元301施加第一灰階電壓，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第四參量。

將所述第一參量、第二參量、第三參量、第四參量、第一檢測電容值和第二檢測電容值一併帶入權重方程，以獲得在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的8個顯示單元301的影響權重。

需要說明的是，在本實施例中，為方便計算，可以使不同顯示單元301的影響權重均小於或等於1。由於中心顯示單元501所在位置對觸控單元201的觸控檢測電容值的影響最大，因此，在本實施例中，預設中心顯示單元501的影響權重為1。但是本發明對是否將中心顯示單元501的影響權重設定為1不做限制，還可以將中心顯示單元501的影響權重設定為其他數值。

在本實施例中，所述權重方程為：

y = (C2-C1)/[(Cmax-Cmin)* (area2- area1)]。

其中，y影響權重，C2為第二檢測電容值，C1為第一檢測電容值，Cmax為第四參量，Cmin為第三參量，area2為第二參量，area1為第一參量。

需要說明的是，根據本實施例中的權重方程，所得到的影響權重與第一檢測電容值，第二檢測電容值相關；還與第一參考區域和第二參考區域的面積之差相關，因此根據本實施例的權重方程得到的影響權重能夠較為精確地反應與觸控單元201具有不同位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響。但是本發明對權重方程的具體形式不做限制，在其他實施例中，權重方程還可以僅包括第一檢測電容值和第二檢測電容值兩個參數，或包括第一檢測電容值，第二檢測電容值，第三參量，第四參量共四個參數。任何對權重方程具體形式的改動均在本發明保護範圍之內。

由於參考區域的形狀與觸控單元201的形狀相近，在本實施例中，因此可以認為在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外多個顯示單元301的影響權重都相同。

在本實施例中，以上述方式，進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域，並獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟，其中每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域，將每次獲得的第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重。

例如在本實施例中，在劃定中心顯示單元501為第一參考區域，第一參考陣列502為第二參考區域之後，再一次進行劃定第一參考區域和第二參考區域，並獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟。在本次劃定第一參考區域和第二參考區域的步驟中，以第一參考陣列502為第一參考區域，以第二參考陣列503為第二參考區域。所述第二參考陣列503以中心顯示單元501為中心，包括第一參考陣列502以及包圍第一參考陣列502的16個顯示單元301。記錄第一參考陣列502的面積，作為第一參量，記錄第二參考陣列503的面積，作為第二參量。將本次劃定第一參考區域和第二參考區域後得到的第一檢測電容值、第二檢測電容值、第一參量、第二參量以及第三參量、第四參量一併帶入權重方程，獲得在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的16個顯示單元301的影響權重。

需要說明的是，在本實施例中，第一參考區域和第二參考區域均為參考陣列，且與第一參考區域相比，第二參考區域的參考陣列的行數和列數均增加2。

需要說明的是，本發明對初始的第一參考區域的範圍不做限制，在其他實施例中，還可以以第一參考陣列502乃至更大的參考陣列作為初始的第一參考區域。本發明對與第一參考區域相比，第二參考區域的參考陣列的行數和列數增加的數量也不做限制，在其他實施例中，與第一參考區域相比，第二參考區域的參考陣列的行數和列數的增加數還可以為2的整數倍的數值。

還需要說明的是，在其他實施例中，當所述觸控單元201的形狀為圓形時，所述第一參考區域、第二參考區域可以均為以所述中心顯示單元501為中心，包括多個顯示單元301的顯示單元集合。所述顯示單元集合最外側的多個顯示單元301到中心顯示單元501的距離相等。這樣，顯示單元集合的形狀也近似於圓形。第二參考區域的半徑大於第一參考區域的半徑。

還需要說明的是，在本實施例中，每個顯示單元301包括三個子圖元單元，在進行獲得影響權重的實驗時，在每個顯示單元301的三個子圖元單元上施加的灰階電壓相同。

由於距離實驗觸控單元的檢測中心較遠的顯示單元301的影響權重較小，在對觸控單元檢測電容值進行修正時，這樣較小的影響權重可以忽略不計。因此，在本實施例中，在進行獲得影響權重的實驗時，可以在建立包括多個顯示單元301的採樣區域，位於所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重大於或等於位於所述採樣區域外的顯示單元對觸控單元的影響權重。在獲得採樣區域內顯示單元301的影響權重之後，忽略其餘顯示單元301對觸控檢測電容值的影響，在第二存儲模組404B中存儲所述採樣區域內的顯示單元301對實驗觸控單元的影響權重。

具體地，建立採樣區域的步驟可以和獲得影響權重的實驗同步進行：

以中心顯示單元501的面積作為第一參考區域面積的初始值，進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域的步驟，其中每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域；

以每次劃定的第一參考區域的面積作為第一參量；

以每次劃定的第二參考區域的面積作為第二參量；

在每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，獲取第一檢測電容值到第二檢測電容值，將第一檢測電容值與第二檢測電容值之差除以第一檢測電容值，獲得的值作為第五參量；

將第一參量到第二參量的變化量與第二參量的比值作為第六參量；

將第六參量與一預設係數相乘，得到第七參量；

當第五參量小於或等於第七參量時，以此時的參考區域作為採樣區域。

具體地，繼續參考圖5，以劃定第二參考陣列503為第一參考區域，第三參考陣列504為第二參考區域為例，所述第三參考陣列504以中心顯示單元501為中心，包括所述第二參考陣列503以及包圍所述第二參考陣列503的24個顯示單元301。

以第二參考陣列503的面積作為第一參量，以第三參考陣列504的面積作為第二參量。

在劃定第二參考陣列503為第一參考區域，第三參考陣列504為第二參考區域之後，將第一檢測電容值與第二檢測電容值之差除以第一檢測電容值，獲得的值作為第五參量。

將第一參量到第二參量的變化量與第二參量的比值作為第六參量；

將第六參量與一預設係數相乘，得到第七參量，此預設係數可以在0.01到0.4的範圍內，這樣將第五參量和第七參量比較，能夠更準確的反映每次重新劃定第一參考區域和第二參考區域，並將上一次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域時，觸控單元檢測電容值的變化量與第二參考區域面積變化量之間的關係，但是本發明對預設係數的具體數值不做限制。

當第五參量小於或等於第七參量時，以當前的第二參考區域作為採樣區域，即採樣區域為包括49個顯示單元的第三參考陣列504。在採樣區域的範圍之外，隨著參考陣列面積的增大，每次重新劃定第一參考區域和第二參考區域後測量的觸控檢測電容值變化很小，可以將採樣區域的範圍之外顯示單元301對觸控檢測電容值當做雜訊忽略不計。

需要說明的是，在本實施例中，以第三參考陣列504作為採樣區域，但是採樣區域所包括的範圍以實際情況而定。一般來說，需要進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域，並將上一次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域劃定的步驟，以確定採樣區域的範圍。

還需要說明的是，在其他實施例中，當第五參量小於或等於第七參量時，還可以以第一參考區域作為採樣區域，即採樣區域為第二參考陣列503。

對於觸控顯示裝置中的除上述實驗觸控單元外的其他觸控單元201，可以以上述方法，對每個觸控單元201進行實驗，獲得每個觸控單元201對應的影響權重和採樣區域。對於一般情況，簡單地，還可以記錄上述實驗中，實驗觸控單元的採樣區域以及採樣區域中每個顯示單元301的影響權重，其他觸控單元201可以建立與實驗觸控單元的採樣區域相同面積的採樣區域，並將實驗觸控單元的採樣區域內各顯示單元301的影響權重類推到其他觸控單元中，以獲得其他觸控單元201的採樣區域以及採樣區域中個顯示單元301的影響權重。

需要說明的是，通常情況下，多個觸控單元201的採樣區域的面積大小相同，但是在觸控顯示裝置的邊界處，由於邊界的限制，邊界處觸控單元201的採樣區域面積可能小於觸控顯示裝置中間部位的觸控單元201的採樣區域面積。可以根據具體情況對採樣區域做相應調整，比如在觸控顯示裝置邊界處以與觸控單元201面積大小相當的參考區域作為採樣區域能夠達到的最大面積，類似於這種細微的調整均在本發明保護範圍之內。

在獲得觸控顯示裝置中，各個觸控單元201對應的採樣區域以及採樣區域中個顯示單元301的影響權重之後，在第二存儲模組404B中存儲各個觸控單元201對應的採樣區域以及採樣區域中個顯示單元301的影響權重。

所述分析模組403能夠根據接收顯示模組401傳輸來的當前施加至各顯示單元301的灰階電壓，獲取各顯示單元301當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元201的觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸控單元檢測電容值進行修正。

具體地，本實施例中，使驅動電路驅動所述觸控顯示裝置工作，進行觸摸檢測的工作過程如下：

繼續參考圖5，顯示模組401施加灰階電壓至各顯示單元301，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示。在本實施例中，以公共電極109作為自電容檢測模式的觸摸檢測電極，需要對公共電極109做分時複用，在觸控顯示裝置進行圖像顯示時在一幀圖像顯示完畢，另一幀圖像顯示之前，所述顯示模組401將施加至各顯示單元301的灰階電壓傳輸給所述分析模組403中的修正模組405，所述修正模組405根據施加至各顯示單元301的灰階電壓，調用存儲於第一存儲模組404A中的查閱資料表，從而獲取各顯示單元301當前對觸控單元201的觸控單元檢測電容值的影響係數，並將各顯示單元301當前對觸控單元201的觸控單元檢測電容值的影響係數組成第一矩陣。

所述修正模組能夠從所述第二存儲模組404B中獲取與所述觸控單元201相對應的所述採樣區域內的顯示單元301對觸控單元201的影響權重，組成第二矩陣。

在所述修正模組405中，將所述第一矩陣中的每個影響係數與第二矩陣中與影響係數同位置的影響權重相乘，得到由多個修正係數組成的第三矩陣，以所述第三矩陣中數值之和作為修正因數。

使所述驅動模組402工作，驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應，根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸摸感應的測量值進行修正，在本實施例中，所述觸摸感應的測量值即在各觸控單元201上檢測得到的觸控單元檢測電容值。

具體地，在本實施例中，在驅動模組402驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應時，將各觸控單元201的觸摸感應的觸控單元檢測電容值與各觸控單元201對應的修正因數作為參數帶入電容修復方程，得到各觸控單元201的修正後電容值，以修正後電容值作為實際的觸控單元檢測電容值。

修正後電容值排除了液晶偏轉對觸控單元檢測電容值的影響，能夠更真實地反映手指觸摸時觸控單元檢測電容值的變化，從而提高了觸摸檢測的精度。

需要說明的是，本發明對是否在在觸控顯示裝置進行圖像顯示時在一幀圖像顯示完畢，另一幀圖像顯示之前進行觸摸檢測不做限制。在其他實施例中，圖像顯示和觸摸檢測還可以同時進行。

例如，在其他實施例中，所述觸控顯示裝置包括第一顯示區域和第二顯示區域，第一顯示區域和第二顯示區域分別包括多個顯示單元301，以及與多個顯示單元301對應的多個觸控單元201。

顯示模組401施加灰階電壓至各顯示單元301，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示的步驟包括：在第一顯示區域內各顯示單元301充電完畢進行圖像顯示時，施加灰階電壓至第二顯示區域的各顯示單元301，以驅動第二顯示區域進行圖像顯示。

此時第一顯示區域內顯示單元301的灰階電壓穩定，可以根據施加至第一顯示區域中各顯示單元301的灰階電壓，獲取第一顯示區域中各顯示單元301當前對第一顯示區域中各觸控單元201的觸控單元檢測電容值的影響係數，並進一步通過驅動模組進行觸摸檢測，並獲得修正後觸控單元檢測電容值。這樣對第一顯示區域的觸控單元201的觸摸檢測和第二顯示區域的各顯示單元301的圖像顯示可以同時進行。需要說明的是，當第一顯示區域內顯示單元301的灰階電壓穩定時，可以在第二顯示區域的各顯示單元301的圖像顯示過程中，或者第一顯示區域內各顯示單元301圖像顯示與第二顯示區域的各顯示單元301圖像顯示之間的時間內，獲取第一顯示區域中各顯示單元301當前對第一顯示區域中各觸控單元201的觸控單元檢測電容值的影響係數。

需要說明的是，在本實施例中，每個所述顯示單元301包括三個子圖元單元：紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元。由於三個子圖元單元極為細小且緊密排列，可以認為三個子圖元單元的對觸控單元201影響權重相同，可以通過查閱資料表分別獲得紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元對應的影響係數，以三個子圖元單元影響係數的平均值作為顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響係數。假設三個子圖元單元的灰階電壓分別為灰階[R]、灰階[G]、灰階[B]，每個顯示單元301通過查閱資料表得到的影響係數為 (table[R]+table[G]+table[B])/3。

在其他實施例中，還可以分別獲得採樣區域內每個子圖元單元的影響係數，組成第四矩陣，在存儲模組中存儲採樣區域內每個子圖元單元的影響權重，組成第五矩陣，將所述第四矩陣中的每個影響係數與第五矩陣中與影響係數同位置的影響權重相乘，得到由多個修正係數組成的第六矩陣，以所述第六矩陣中數值之和作為修正因數。所述第六矩陣包含的修正係數為是第三矩陣包含的修正係數的三倍，所計算出的修正因數較第三矩陣中的修正因數更加精確，但是所需計算量較大。

需要說明的是，由於在本實施例中，所述觸控顯示裝置包括綁定在第一基板100上的顯示觸摸檢測晶片（未示出），所述顯示觸摸檢測晶片中內置所述驅動電路的顯示模組401、驅動模組402和分析模組403。顯示模組401、驅動模組402和分析模組403之間可以由顯示觸摸檢測晶片控制，通過顯示觸摸檢測晶片方便地交換和傳輸影響係數、影響權重、灰階電壓等資訊，但是本發明對顯示模組401、驅動模組402和分析模組403是否集成在一個顯示觸摸檢測晶片中不做限制。在其他實施例中，所述觸控顯示裝置還可以包括顯示驅動晶片和觸摸檢測晶片，所述顯示驅動晶片中內置所述驅動電路的顯示模組401，所述觸摸檢測晶片中內置所述驅動電路的驅動模組402和分析模組403，所述顯示驅動晶片和觸摸檢測晶片均綁定在第一基板100上。在上述實施例中，由於顯示模組401和驅動模組402、分析模組403分別位於兩個晶片上，因此需要其他處理晶片（如中央處理器）對所述顯示驅動晶片和觸摸檢測晶片進行控制，使得顯示模組401和驅動模組402、分析模組403之間可以交換和傳輸影響係數、影響權重、灰階電壓等資訊。

本發明還提供一種觸控顯示裝置的驅動方法，該觸控顯示裝置包括用於實現觸控感應的多個觸控單元和用於實現圖像顯示的多個顯示單元。通過檢測在手指觸摸觸控顯示裝置時，觸控單元的觸控單元檢測電容值變化，實現觸摸檢測。

參考圖6，示出了本發明觸控顯示裝置的驅動方法的流程圖，本發明觸控顯示裝置的驅動方法包括：

步驟S1，存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數。

步驟S2，存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重。

步驟S3，施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示。

步驟S4，根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。

步驟S5，根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數。

步驟S6，驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應，根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸摸感應的測量值進行修正。

具體地，可以繼續參考圖3、圖5，所述觸控顯示裝置是以液晶顯示面板作為顯示部分的觸控顯示裝置。所述觸控顯示裝置包括第一基板100、第二基板（未示出）以及設置於第一基板100、第二基板之間的液晶層（未示出），所述顯示單元301設置於所述第一基板100上，所述觸控單元201設置於所述第一基板100或第二基板上。本發明對所述觸控單元201的觸摸檢測模式不做限制，所述觸控單元201可以以自電容或互電容的模式進行觸摸檢測。

如本發明提供的觸控顯示裝置的實施例中所述，施加在顯示單元301上的不同灰階電壓造成的液晶偏轉不同，會影響所述觸控單元201的觸控單元檢測電容值。

通過本發明提供的觸控顯示裝置的驅動方法，能夠修正觸控單元檢測電容值的測量值，得到不受不同的灰階電壓干擾的觸控單元檢測電容值，進而提高觸控顯示裝置的精度。

下面結合圖3至圖5，對本發明提供的觸控顯示裝置的驅動方法的一實施例進行詳細說明。

執行步驟S1，存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數。

在本實施例中，存儲有包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的方法為：存儲包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表。例如當每個所述顯示單元301上能夠載入256個不同的灰階電壓時，所述查閱資料表可以表示為table[0~255]。

在存儲包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表之前，需要通過實驗獲得與灰階電壓對應的影響係數。結合參考圖3，圖5，在本實施例中，通過實驗獲得與灰階電壓對應的影響係數的方法入下：

逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元301，其中，對於同一幀，施加同一灰階電壓給所有顯示單元301，對於不同幀，施加不同的灰階電壓給所有顯示單元301。

在每幀施加灰階電壓給所有顯示單元301的步驟中，均檢測位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元201的檢測電容值，以獲得與不同灰階電壓相對應的觸控單元檢測電容值。

需要說明的是，在本實施例中，觸控顯示裝置顯示畫面的方式為：逐行地使顯示單元301載入灰階電壓。這樣逐行的對觸控顯示裝置中每行顯示單元301都完成施加灰階電壓，使得觸控顯示裝置能夠顯示一幅完整的畫面的步驟，一般稱為一幀。逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元301，指的是使觸控顯示裝置進行多幀畫面的顯示。對於同一幀，施加同一灰階電壓給所有顯示單元301，指的是在每一幀畫面中，所有顯示單元301上施加的灰階電壓相同。對於不同幀，施加不同的灰階電壓給所有顯示單元301，指的是在不同幀畫面中，施加給顯示單元301的灰階電壓不同。

需要說明的是，在本實施例中，每個所述顯示單元301包括三個子圖元單元，在所有顯示單元301施加同一灰階電壓時，每個所述顯示單元301的三個子圖元單元都施加同一灰階電壓。

在獲得與不同灰階電壓相對應的觸控單元檢測電容值之後，以一預設灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值作為基準電容值，基於不同灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值與所述基準電容值的關係，獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數。

例如，在不同幀的畫面中，每個所述顯示單元301載入多個自小到大的不同的灰階電壓時，可以分別測量多個灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值，以其中最大的觸控單元檢測電容值作為基準電容值，基於不同灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值與所述基準電容值的關係，獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，這樣獲得的影響係數的最大值為1，便於計算。但是本發明對是否以最大的觸控單元檢測電容值作為基準電容值不做限制。

需要說明的是，影響係數僅反映不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響，但是在獲取影響係數的過程中，與觸控單元201具有不同位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響不同，為了減小不同位置的顯示單元301對獲取影響係數造成的干擾，本實施例中，在進行獲得與灰階電壓對應的影響係數的實驗中，在每一幀畫面下，對觸控顯示裝置的所有顯示單元301地施加相同的灰階電壓，在不同幀畫面下，對顯示單元301施加不同的灰階電壓。例如每個顯示單元301能夠施加從灰階【0】到灰階【255】共256個灰階電壓，當需要檢測的灰階電壓為灰階【0】時，使觸控顯示裝置進行第一幀畫面的顯示，在第一幀畫面中，使所有顯示單元301均施加灰階【0】的灰階電壓，並檢測此時位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元201的觸控單元檢測電容值。即假設觸控顯示裝置包括9行9列的觸控單元201時，可以檢測位於觸控顯示裝置第5行第5列的觸控單元201在灰階【0】的灰階電壓下的觸控單元檢測電容值。由於觸控單元201的尺寸遠小於觸控顯示裝置的尺寸，並且所有顯示單元301的灰階電壓均為灰階【0】，可以認為此時檢測到的觸控單元檢測電容值僅與灰階【0】有關，從而使獲得的影響係數僅反映不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響。當需要檢測的灰階電壓為灰階【1】時，使觸控顯示裝置進行第二幀畫面的顯示，在第二幀畫面中，使所有顯示單元301均施加灰階【1】的灰階電壓，並檢測此時位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元201的觸控單元檢測電容值…以上述方法，直到獲得256個灰階電壓所對應的觸控單元檢測電容值。

需要說明的是，由於觸控單元201的尺寸遠小於觸控顯示裝置的尺寸，在每一幀畫面下，對觸控顯示裝置的所有顯示單元301施加相同的灰階電壓時，在觸控顯示裝置中心區域附近的多個觸控單元檢測電容值基本相同，在觸控顯示裝置邊緣區域附近的觸控單元201與在觸控顯示裝置中心區域附近的觸控單元201的觸控單元檢測電容值也相差不大，因此本發明對逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元301時，是否檢測位於觸控顯示裝置中心位置觸控單元201的觸控單元檢測電容值不做限定，在其他實施例中，還可以檢測位於觸控顯示裝置其他位置觸控單元201的觸控單元檢測電容值。

獲得與不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數之後，存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數。

執行步驟S2，存儲與觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重。

存儲與觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重之前，需要通過實驗獲得與每個觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重。

所述影響權重僅反映顯示單元301由於與觸控單元201具有不同的位置關係而對觸控單元檢測電容值造成的不同影響。繼續參考圖5，在本實施例中，通過實驗獲得與觸控單元201具有不同相對位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響權重：

在本實施例中，以觸控顯示裝置其中一個觸控單元201作為實驗觸控單元。 位於觸控單元201中心的顯示單元301作為中心顯示單元501。

需要說明的是，在圖5中僅示出了以中心顯示單元501為中心的81個顯示單元301，所述觸控顯示裝置還包括除圖5中示出的顯示單元301外的多個顯示單元。在圖5中觸控單元201所在位置包括25個顯示單元301，但是本發明對觸控單元201在位置包括顯示單元301的數量不做限制，在其他實施例中，觸控單元201所在位置可以包括任意數量的顯示單元301。

在本實施例中，所述觸控單元201的形狀為矩形，但是本發明對觸控單元201的形狀不做限制，在其他實施例中，所述觸控單元201的形狀還可以為圓形或其他形狀。需要說明的是，所述觸控單元201的形狀為矩形或圓形，指的是觸控單元201的形狀近似於矩形或圓形，並不一定限制為精確的矩形或圓形。例如，所述觸控單元201的形狀可以為多個條狀的公共電極所組成的近似於矩形的圖形。

根據測定不同灰階電壓對應影響係數的實驗，記錄第一灰階電壓，所述第一灰階電壓對應的影響係數最大，記錄第二灰階電壓，所述第二灰階電壓對應的影響係數最小。

對顯示單元陣列進行區域劃分，以觸控單元201的中心點作為檢測中心，選取所述檢測中心正對位置的顯示單元301作為中心顯示單元501，以所述中心顯示單元501為中心，劃定包括一個或多個顯示單元301的第一參考區域，對所述第一參考區域中的顯示單元301施加第一灰階電壓，對第一參考區域外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，以獲得將此時測量的觸控單元檢測電容值，並作為第一檢測電容值。

以所述中心顯示單元501為中心，劃定包括多個顯示單元301的第二參考區域，使第二參考區域包括所述第一參考區域，所述第二參考區域內的顯示單元301的數量大於第一參考區域內的顯示單元301的數量，對所述第二參考區域中的顯示單元301施加第一灰階電壓，對第二參考區域外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，將此時測量的觸控單元檢測電容值作為第二檢測電容值。

將第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得的數值作為在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元301的影響權重。

為了使獲得的影響權重更好地反應不同顯示單元位置對觸控單元檢測電容值的影響，使劃定的第一參考區域、第二參考區域的形狀與觸控單元201的形狀相近。在本實施例中，第一參考區域、第二參考區域均為以所述中心顯示單元501為中心，包括多個顯示單元301的參考陣列，參考陣列的行數和列數相等，但是本發明對參考陣列的行數和列數是否相等不做限制，對參考區域的形狀也不做限制。

在本實施例中，為獲得所有對觸控單元檢測電容值具有較明顯影響的顯示單元301的影響權重，需要進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域，並獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟，其中每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域，將每次獲得的第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以在每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，獲得在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重。

具體地，先以中心顯示單元501作為初始的第一參考區域的範圍，中心顯示單元501的面積為第一參考區域面積的初始值，即初始的參考陣列的行數和列數均為1，對中心顯示單元501施加第一灰階電壓，對中心顯示單元501外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第一檢測電容值。記錄中心顯示單元501的面積，作為第一參量。

以所述中心顯示單元501為中心，劃定包括多個顯示單元301的第二參考區域，使第二參考區域包括所述第一參考區域，所述第二參考區域內的顯示單元的數量大於第一參考區域內的顯示單元的數量。具體地，使所述第二參考區域為以中心顯示單元501為中心，包括9個顯示單元301的第一參考陣列502，所述第一參考陣列502的行數和列數均為3，第一參考陣列502包括中心顯示單元501以及包圍中心顯示單元501的8個顯示單元301。記錄第一參考陣列502的面積，作為第二參量。

對第一參考陣列502內的顯示單元301施加第一灰階電壓，對第一參考陣列502外的其餘顯示單元301施加第二灰階電壓，對觸控單元201進行觸控電容檢測，將此時測量的觸控單元檢測電容值作為第二檢測電容值。

對觸控顯示裝置的所有顯示單元301施加第二灰階電壓，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第三參量。

對觸控顯示裝置的所有顯示單元301施加第一灰階電壓，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第四參量。

將所述第一參量、第二參量、第三參量、第四參量、第一檢測電容值和第二檢測電容值一併帶入權重方程，以獲得在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的8個顯示單元301的影響權重。

需要說明的是，在本實施例中，為方便計算，可以使不同顯示單元301的影響權重均小於或等於1。由於中心顯示單元501所在位置對觸控單元201的觸控檢測電容值的影響最大，因此，在本實施例中，預設中心顯示單元501的影響權重為1。但是本發明對是否將中心顯示單元501的影響權重設定為1不做限制，還可以將中心顯示單元501的影響權重設定為其他數值。

在本實施例中，所述權重方程為：

y = (C2-C1)/[(Cmax-Cmin)* (area2- area1)]。

其中，y影響權重，C2為第二檢測電容值，C1為第一檢測電容值，Cmax為第四參量，Cmin為第三參量，area2為第二參量，area1為第一參量。

需要說明的是，根據本實施例中的權重方程，所得到的影響權重與第一檢測電容值，第二檢測電容值相關；還與第一參考區域和第二參考區域的面積之差相關，因此根據本實施例的權重方程得到的影響權重能夠較為精確地反應與觸控單元201具有不同位置關係的顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響。但是本發明對權重方程的具體形式不做限制，在其他實施例中，權重方程還可以僅包括第一檢測電容值和第二檢測電容值兩個參數，或包括第一檢測電容值，第二檢測電容值，第三參量，第四參量共四個參數。任何對權重方程具體形式的改動均在本發明保護範圍之內。

由於參考區域的形狀與觸控單元201的形狀相近，在本實施例中，因此可以認為在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外多個顯示單元301的影響權重都相同。

在本實施例中，以上述方式，進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域，並獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟，其中每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域，將每次獲得的第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重。

例如在本實施例中，在劃定中心顯示單元501為第一參考區域，第一參考陣列502為第二參考區域之後，再一次進行劃定第一參考區域和第二參考區域，並獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟。在本次劃定第一參考區域和第二參考區域的步驟中，以第一參考陣列502為第一參考區域，以第二參考陣列503為第二參考區域。所述第二參考陣列503以中心顯示單元501為中心，包括第一參考陣列502以及包圍第一參考陣列502的16個顯示單元301。記錄第一參考陣列502的面積，作為第一參量，記錄第二參考陣列503的面積，作為第二參量。將本次劃定第一參考區域和第二參考區域後得到的第一檢測電容值、第二檢測電容值、第一參量、第二參量以及第三參量、第四參量一併帶入權重方程，獲得在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的16個顯示單元301的影響權重。

需要說明的是，在本實施例中，第一參考區域和第二參考區域均為參考陣列，且與第一參考區域相比，第二參考區域的參考陣列的行數和列數均增加2。

需要說明的是，本發明對初始的第一參考區域的範圍不做限制，在其他實施例中，還可以以第一參考陣列502乃至更大的參考陣列作為初始的第一參考區域。本發明對與第一參考區域相比，第二參考區域的參考陣列的行數和列數增加的數量也不做限制，在其他實施例中，與第一參考區域相比，第二參考區域的參考陣列的行數和列數的增加數還可以為2的整數倍的數值。

還需要說明的是，在其他實施例中，當所述觸控單元201的形狀為圓形時，所述第一參考區域、第二參考區域可以均為以所述中心顯示單元501為中心，包括多個顯示單元301的顯示單元集合。所述顯示單元集合最外側的多個顯示單元301到中心顯示單元501的距離相等。這樣，顯示單元集合的形狀也近似於圓形。第二參考區域的半徑大於第一參考區域的半徑。

還需要說明的是，在本實施例中，每個顯示單元301包括三個子圖元單元，在進行獲得影響權重的實驗時，在每個顯示單元301的三個子圖元單元上施加的灰階電壓相同。

由於距離實驗觸控單元的檢測中心較遠的顯示單元301的影響權重較小，在對觸控單元檢測電容值進行修正時，這樣較小的影響權重可以忽略不計。因此，在本實施例中，在進行獲得影響權重的實驗時，可以在建立包括多個顯示單元301的採樣區域，位於所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重大於或等於位於所述採樣區域外的顯示單元對觸控單元的影響權重。在獲得採樣區域內顯示單元301的影響權重之後，忽略其餘顯示單元301對觸控檢測電容值的影響，在第二存儲模組404B中存儲所述採樣區域內的顯示單元301對實驗觸控單元的影響權重。

具體地，建立採樣區域的步驟可以和獲得影響權重的實驗同步進行：

以中心顯示單元501的面積作為第一參考區域面積的初始值，進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域的步驟，其中每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域；

以每次劃定的第一參考區域的面積作為第一參量；

以每次劃定的第二參考區域的面積作為第二參量；

在每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，獲取第一檢測電容值到第二檢測電容值，將第一檢測電容值與第二檢測電容值之差除以第一檢測電容值，獲得的值作為第五參量；

將第一參量到第二參量的變化量與第二參量的比值作為第六參量；

將第六參量與一預設係數相乘，得到第七參量；

當第五參量小於或等於第七參量時，以此時的參考區域作為採樣區域。

具體地，繼續參考圖5，以劃定第二參考陣列503為第一參考區域，第三參考陣列504為第二參考區域為例，所述第三參考陣列504以中心顯示單元501為中心，包括所述第二參考陣列503以及包圍所述第二參考陣列503的24個顯示單元301。

以第二參考陣列503的面積作為第一參量，以第三參考陣列504的面積作為第二參量。

在劃定第二參考陣列503為第一參考區域，第三參考陣列504為第二參考區域之後，將第一檢測電容值與第二檢測電容值之差除以第一檢測電容值，獲得的值作為第五參量。

將第一參量到第二參量的變化量與第二參量的比值作為第六參量；

將第六參量與一預設係數相乘，得到第七參量，此預設係數可以在0.01到0.4的範圍內，這樣將第五參量和第七參量比較，能夠更準確的反映每次重新劃定第一參考區域和第二參考區域，並將上一次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域時，觸控單元檢測電容值的變化量與第二參考區域面積變化量之間的關係，但是本發明對預設係數的具體數值不做限制。

當第五參量小於或等於第七參量時，以當前的第二參考區域作為採樣區域，即採樣區域為包括49個顯示單元的第三參考陣列504。在採樣區域的範圍之外，隨著參考陣列面積的增大，每次重新劃定第一參考區域和第二參考區域後測量的觸控檢測電容值變化很小，可以將採樣區域的範圍之外顯示單元301對觸控檢測電容值當做雜訊忽略不計。

需要說明的是，在本實施例中，以第三參考陣列504作為採樣區域，但是採樣區域所包括的範圍以實際情況而定。一般來說，需要進行多次劃定第一參考區域和第二參考區域，並將上一次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域劃定的步驟，以確定採樣區域的範圍。

還需要說明的是，在其他實施例中，當第五參量小於或等於第七參量時，還可以以第一參考區域作為採樣區域，即採樣區域為第二參考陣列503。

對於觸控顯示裝置中的除上述實驗觸控單元外的其他觸控單元201，可以以上述方法，對每個觸控單元201進行實驗，獲得每個觸控單元201對應的影響權重和採樣區域。對於一般情況，簡單地，還可以記錄上述實驗中，實驗觸控單元的採樣區域以及採樣區域中每個顯示單元301的影響權重，其他觸控單元201可以建立與實驗觸控單元的採樣區域相同面積的採樣區域，並將實驗觸控單元的採樣區域內各顯示單元301的影響權重類推到其他觸控單元中，以獲得其他觸控單元201的採樣區域以及採樣區域中個顯示單元301的影響權重。

需要說明的是，通常情況下，多個觸控單元201的採樣區域的面積大小相同，但是在觸控顯示裝置的邊界處，由於邊界的限制，邊界處觸控單元201的採樣區域面積可能小於觸控顯示裝置中間部位的觸控單元201的採樣區域面積。可以根據具體情況對採樣區域做相應調整，比如在觸控顯示裝置邊界處以與觸控單元201面積大小相當的參考區域作為採樣區域能夠達到的最大面積，類似於這種細微的調整均在本發明保護範圍之內。

在獲得觸控顯示裝置中，各個觸控單元201對應的採樣區域以及採樣區域中個顯示單元301的影響權重之後，存儲各個觸控單元201對應的採樣區域以及採樣區域中個顯示單元301的影響權重。

執行步驟S3，施加灰階電壓至各顯示單元301，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示。

執行步驟S4，根據施加至各顯示單元301的灰階電壓，獲取各顯示單元301當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。

具體地，在本實施例中，獲取施加至採樣區域內的顯示單元301的灰階電壓，獲得採樣區域內各顯示單301當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，組成第一矩陣。

需要說明的是，在本實施例中，在觸控顯示裝置進行圖像顯示時在一幀圖像顯示完畢，另一幀圖像顯示之前，根據施加至各顯示單元301的灰階電壓，獲取各顯示單元301當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，組成第一矩陣。

需要說明的是，在本實施例中，每個所述顯示單元301包括三個子圖元單元：紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元。由於三個子圖元單元極為細小且緊密排列，可以認為三個子圖元單元的對觸控單元201影響權重相同，可以通過查閱資料表分別獲得紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元對應的影響係數，以三個子圖元單元影響係數的平均值作為顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響係數。假設三個子圖元單元的灰階電壓分別為灰階[R]、灰階[G]、灰階[B]，每個顯示單元301通過查閱資料表得到的影響係數為 (table[R]+table[G]+table[B])/3。

參考圖5，執行步驟S5，根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數。

具體地，本實施例中，將所述採樣區域內的顯示單元301對觸控單元201的影響權重組成第二矩陣。

將所述第一矩陣中的每個影響係數與第二矩陣中與影響係數同位置的影響權重相乘，得到由多個修正係數組成的第三矩陣，以所述第三矩陣中數值之和作為修正因數。所述修正因數能夠反映灰階電壓造成的液晶偏轉對觸控單元檢測電容值的影響。

步驟S6，驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應，根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸摸感應的測量值進行修正。

驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應，根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸摸感應的測量值進行修正。

具體地，在本實施例中，將各觸控單元檢測電容值與各觸控單元201對應的修正因數作為參數帶入電容修復方程，得到各觸控單元201的修正後電容值，以修正後電容值作為實際的觸控單元檢測電容值。

修正後電容值排除了液晶偏轉對觸控單元檢測電容值的測量值的影響，能夠更真實地反映手指觸摸時觸控單元檢測電容值的變化，從而提高了觸摸檢測的精度。

需要說明的是，本發明驅動方法對是否以三個子圖元單元影響係數的平均值作為顯示單元301對觸控單元檢測電容值的影響係數不做限制。還可以分別獲得採樣區域內每個子圖元單元的影響係數，組成第四矩陣，在存儲模組中存儲採樣區域內每個子圖元單元的影響權重，組成第五矩陣，將所述第四矩陣中的每個影響係數與第五矩陣中與影響係數同位置的影響權重相乘，得到由多個修正係數組成的第六矩陣，以所述第六矩陣中數值之和作為修正因數。所述第六矩陣包含的修正係數為是第三矩陣包含的修正係數的三倍，所計算出的修正因數較第三矩陣中的修正因數更加精確，但是所需計算量較大。

在所述觸控顯示裝置為黑白顯示裝置時，每個顯示單元僅包括一個子圖元單元，因此各顯示單元301當前對觸控單元檢測電容值的影響係數也就是各子圖元單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。

還需要說明的是，本發明對是否在在觸控顯示裝置進行圖像顯示時在一幀圖像顯示完畢，另一幀圖像顯示之前進行觸摸檢測不做限制。在其他實施例中，圖像顯示和觸摸檢測還可以同時進行。

例如，在其他實施例中，所述觸控顯示裝置包括第一顯示區域和第二顯示區域，第一顯示區域和第二顯示區域分別包括多個顯示單元301，以及與多個顯示單元301對應的多個觸控單元201。

施加灰階電壓至各顯示單元301，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示的步驟包括：在第一顯示區域內顯示單元301充電完畢進行圖像顯示時，施加灰階電壓至第二顯示區域的各顯示單元301，以驅動第二顯示區域進行圖像顯示。

此時第一顯示區域內顯示單元301的灰階電壓穩定，可以根據施加至第一顯示區域中各顯示單元的灰階電壓，獲取第一顯示區域中各顯示單元當前對第一顯示區域中各觸控單元201的觸控單元檢測電容值的影響係數，並進一步通過驅動模組進行觸摸檢測，並獲得修正後觸控單元檢測電容值。這樣對第一顯示區域的觸控單元201的觸摸檢測和第二顯示區域的各顯示單元301的圖像顯示可以同時進行。需要說明的是，當第一顯示區域內顯示單元301的灰階電壓穩定時，可以在第二顯示區域的各顯示單元301的圖像顯示過程中，或者第一顯示區域內各顯示單元301圖像顯示與第二顯示區域的各顯示單元301圖像顯示之間的時間內，獲取第一顯示區域中各顯示單元301當前對第一顯示區域中各觸控單元201的觸控單元檢測電容值的影響係數。

雖然本發明披露如上，但本發明並非限定於此。任何本領域技術人員，在不脫離本發明的精神和範圍內，均可作各種更動與修改，因此本發明的保護範圍應當以權利要求所限定的範圍為准。

01‧‧‧柵極
02‧‧‧源極
03‧‧‧漏極
04‧‧‧圖元電極
05‧‧‧公共電極
06‧‧‧數據線
07‧‧‧柵極線
100‧‧‧第一基板
101‧‧‧薄膜電晶體
102‧‧‧圖元電極
103‧‧‧柵極線
104‧‧‧公共電極線
105‧‧‧數據線
106‧‧‧柵極驅動電路
107‧‧‧源極驅動電路
108‧‧‧公共電極驅動電路
109‧‧‧公共電極
201‧‧‧觸控單元
202‧‧‧觸摸驅動電路
301‧‧‧顯示單元
401‧‧‧顯示模組
402‧‧‧驅動模組
403‧‧‧分析模組
404A‧‧‧第一存儲模組
404B‧‧‧第二存儲模組
405‧‧‧修正模組
501‧‧‧中心顯示單元
502‧‧‧第一參考陣列
503‧‧‧第二參考陣列
504‧‧‧第三參考陣列
S1‧‧‧存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數
S2‧‧‧存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重
S3‧‧‧施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示
S4‧‧‧根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數
S5‧‧‧根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數
S6‧‧‧驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應，根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸摸感應的測量值進行修正

圖1是一種觸控顯示裝置中顯示單元的一個子圖元單元的等效電路圖； 圖2是本發明觸控顯示裝置一實施例中多個顯示單元的示意圖； 圖3是本發明觸控顯示裝置一實施例中多個觸控單元的示意圖； 圖4是本發明觸控顯示裝置一實施例中驅動電路各個模組的關係圖； 圖5為圖3中一個觸控單元其周邊顯示單元的示意圖；及 圖6為本發明觸控顯示裝置的驅動方法的流程圖。

100‧‧‧第一基板

101‧‧‧薄膜電晶體

102‧‧‧圖元電極

103‧‧‧柵極線

104‧‧‧公共電極線

105‧‧‧數據線

106‧‧‧柵極驅動電路

107‧‧‧源極驅動電路

108‧‧‧公共電極驅動電路

109‧‧‧公共電極

Claims (30)

1. 一種觸控顯示裝置的驅動方法，該觸控顯示裝置包括用於實現觸控感應的多個觸控單元和用於實現圖像顯示的多個顯示單元，該驅動方法包括：存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數；存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重；施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示；根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數；根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數；及驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應，根據當前顯示圖像獲得的修正因數對觸摸感應的測量值進行修正，其中，與觸控單元具有不同位置關係的顯示單元具有不同的影響權重。
2. 如請求項1所述的方法，存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數的步驟包括：逐幀施加灰階電壓給觸控顯示裝置的所有顯示單元，其中，對於同一幀，施加同一灰階電壓給所有顯示單元，對於不同幀，施加不同的灰階電壓給所有顯示單元； 在每幀施加灰階電壓給所有顯示單元的步驟中，均檢測位於觸控顯示裝置中心位置的觸控單元的檢測電容值，以獲得與不同灰階電壓相對應的觸控單元檢測電容值；以一預設灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值作為基準電容值，基於不同灰階電壓對應的觸控單元檢測電容值與所述基準電容值的關係，獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數。
3. 如請求項2所述的方法，存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數的方法還包括：在獲得不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數之後，生成包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表，存儲所述查閱資料表。
4. 如請求項1所述的方法，所述多個顯示單元呈陣列排布，存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重的步驟包括：對顯示單元陣列進行區域劃分，以觸控單元的中心點作為檢測中心，選取所述檢測中心正對位置的顯示單元作為中心顯示單元，以所述中心顯示單元為中心，劃定包括一個或多個顯示單元的第一參考區域，對所述第一參考區域中的顯示單元施加第一灰階電壓，對第一參考區域外的其餘顯示單元施加第二灰階電壓，對觸控單元進行觸控電容檢測，以獲得將此時測量的觸控單元檢測電容值，並作為第一檢測電容值；以所述中心顯示單元為中心，劃定包括多個顯示單元的第二參考區域，使第二參考區域包括所述第一參考區域，所述第二參考區域內的顯示單元的數量大於第一參考區域內的顯示單元的數量，對所述第二參考 區域中的顯示單元施加第一灰階電壓，對第二參考區域外的其餘顯示單元施加第二灰階電壓，對觸控單元進行觸控電容檢測，將此時測量的觸控單元檢測電容值作為第二檢測電容值；將第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得的數值作為在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重。
5. 如請求項4所述的方法，存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重的步驟還包括：記錄第一灰階電壓，所述第一灰階電壓對應的影響係數最大，記錄第二灰階電壓，所述第二灰階電壓對應的影響係數最小。
6. 如請求項5所述的方法，將第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得的數值作為在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重的步驟還包括：以第一參考區域的面積作為第一參量；以第二參考區域的面積作為第二參量；對觸控顯示裝置的所有顯示單元施加第二灰階電壓，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第三參量；對觸控顯示裝置的所有顯示單元施加第一灰階電壓，以此時測量的觸控單元檢測電容值作為第四參量；及將所述第一參量、第二參量、第三參量、第四參量、第一檢測電容值和第二檢測電容值一併帶入所述權重方程。
7. 如請求項6所述的方法，所述權重方程為： y=(C2-C1)/[(Cmax-Cmin)*(area2-area1)],其中，y為影響權重，C2為第二檢測電容值，C1為第一檢測電容值，Cmax為第四參量，Cmin為第三參量，area2為第二參量，area1為第一參量。
8. 如請求項4所述的方法，存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重的步驟還包括：通過多次劃定第一參考區域和第二參考區域，獲得第一檢測電容值和第二檢測電容值的步驟，其中每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域，將每次獲得的第一檢測電容值和第二檢測電容值帶入權重方程，以獲得每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，在第二參考區域之內並且在第一參考區域之外的多個顯示單元的影響權重。
9. 如請求項4所述的方法，劃定第一參考區域、第二參考區域的步驟包括：使所述第一參考區域、第二參考區域的形狀與所述觸控單元的形狀相匹配。
10. 如請求項9所述的方法，所述觸控單元的形狀為矩形，所述第一參考區域、第二參考區域均為以所述中心顯示單元為中心，包括多個顯示單元的參考陣列，所述參考陣列的行數和列數相等。
11. 如請求項9所述的方法，所述觸控單元的形狀為圓形，所述第一參考區域、第二參考區域均為以所述中心顯示單元為中心，包括多個顯示單元的顯示單元集合，所述顯示單元集合最外側的多個顯示單元到中心顯示單元的距離相等。
12. 如請求項4所述的方法，存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重的步驟還包括：基於所述影響權重對顯示單元進行區域劃分，建立各觸控單元對應的採樣區域，位於所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重大於或等於位於所述採樣區域外的顯示單元對觸控單元的影響權重；存儲各觸控單元對應的採樣區域以及採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重。
13. 如請求項12所述的方法，基於所述影響權重對顯示單元進行區域劃分，建立各觸控單元對應的採樣區域的步驟包括：多次劃定第一參考區域和第二參考區域的步驟，其中每次劃定的第二參考區域作為下一次劃定的第一參考區域；以每次劃定的第一參考區域面積作為第一參量；以每次劃定的第二參考區域面積作為第二參量；在每次劃定第一參考區域和第二參考區域之後，獲取第一檢測電容值和第二檢測電容值，將第一檢測電容值與第二檢測電容值之差除以第一檢測電容值，獲得的值作為第五參量；將第一參量到第二參量的變化量與第二參量的比值作為第六參量；將第六參量與一預設係數相乘，得到第七參量；當第五參量小於或等於第七參量時，以當前的第二參考區域作為採樣區域。
14. 如請求項1所述的方法，所述顯示單元包括：紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元； 所述根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數的步驟包括：分別獲取紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元上各灰階電壓對應的影響係數；獲得紅色子圖元單元、綠色子圖元單元、藍色子圖元單元對應影響係數的平均值，以所述平均值作為顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響係數。
15. 如請求項1所述的方法，所述根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數的步驟包括：在觸控顯示裝置進行圖像顯示時在一幀圖像顯示完畢，另一幀圖像顯示之前，根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。
16. 如請求項1所述的方法，所述觸控顯示裝置包括第一顯示區域和第二顯示區域；施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示的步驟包括：在第一顯示區域內顯示單元充電完畢進行圖像顯示時，施加灰階電壓至第二顯示區域的各顯示單元，以驅動第二顯示區域進行圖像顯示；所述根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數的步驟包括：根據施加至第一顯示區域中各顯示單元的灰階電壓，獲取第一顯示區域中各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。
17. 一種觸控顯示裝置的驅動電路，該觸控顯示裝置包括用於實現觸控感應的多個觸控單元和用於實現圖像顯示的多個顯示單元，所述驅動電路包括：驅動模組，用於驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應；顯示模組，用於施加灰階電壓至各顯示單元，以驅動所述觸控顯示裝置進行圖像顯示；分析模組，用於存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，並存儲有與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重；所述分析模組還用於根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，根據所獲取的影響係數以及與所存儲的影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數對驅動模組獲得的觸摸感應的測量值進行修正，其中，與觸控單元具有不同位置關係的顯示單元具有不同的影響權重。
18. 如請求項17所述的驅動電路，所述分析模組包括：第一存儲模組，用於存儲不同灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數；第二存儲模組，用於存儲與觸控單元具有不同相對位置關係的顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重；修正模組，與所述驅動模組、顯示模組、第一存儲模組和第二存儲模組相連，用於根據顯示模組施加至各顯示單元的灰階電壓，從所述第一 存儲模組獲取灰階電壓對觸控單元檢測電容值的影響係數，並從所述第二存儲模組獲取各顯示單元對觸控單元檢測電容值的影響權重，根據所獲取的影響係數以及影響權重，獲得各觸控單元檢測電容值受所述灰階電壓影響的修正因數，並根據當前顯示圖像獲得的修正因數對驅動模組獲得的檢測電容值進行修正。
19. 如請求項18所述的驅動電路，所述第一存儲模組用於存儲包括每個灰階電壓及與所述灰階電壓對應的影響係數的查閱資料表。
20. 如請求項18所述的驅動電路，每個觸控單元與由多個顯示單元組成的採樣區域相對應，位於所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重大於或等於位於所述採樣區域外的顯示單元對觸控單元的影響權重；所述第二存儲模組用於存儲所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重。
21. 如請求項18所述的驅動電路，所述修正模組用於獲取驅動模組施加至採樣區域內的顯示單元的灰階電壓，通過第一存儲模組獲得採樣區域內各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數，各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數組成第一矩陣；所述修正模組還用於通過所述第二存儲模組獲得所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重，所述採樣區域內的顯示單元對觸控單元的影響權重組成第二矩陣； 所述修正模組能夠將所述第一矩陣中的每個影響係數與第二矩陣中與影響係數同位置的影響權重相乘，得到由多個修正係數組成的第三矩陣，以所述第三矩陣中數值之和作為修正因數。
22. 如請求項17所述的驅動電路，所述分析模組用於在驅動模組驅動所述觸摸顯示裝置進行觸摸感應時，將驅動模組獲得的各觸控單元的觸摸感應的測量值以及修正因數帶入電容修復方程，得到各觸控單元的修正後電容值，以修正後電容值作為實際觸摸檢測值。
23. 如請求項17所述的驅動電路，所述分析模組用於在觸控顯示裝置進行圖像顯示時在一幀圖像顯示完畢，另一幀圖像顯示之前，根據施加至各顯示單元的灰階電壓，獲取各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。
24. 如請求項17所述的驅動電路，所述觸控顯示裝置包括第一顯示區域和第二顯示區域；所述顯示模組用於在第一顯示區域內顯示單元充電完畢進行圖像顯示時，施加灰階電壓至第二顯示區域的各顯示單元，以驅動第二顯示區域進行圖像顯示；所述分析模組用於根據施加至第一顯示區域中各顯示單元的灰階電壓，獲取第一顯示區域中各顯示單元當前對觸控單元檢測電容值的影響係數。
25. 如請求項17所述的驅動電路，所述驅動模組、顯示模組和所述分析模組集成於一觸摸顯示晶片。
26. 如請求項17所述的驅動電路，所述驅動模組與所述分析模組集成在一觸摸晶片，所述顯示模組設置於一顯示晶片。
27. 一種觸控顯示裝置，包括：用於實現觸控感應的多個觸控單元和用於實現圖像顯示的多個顯示單元；如請求項17~26任意一項所述的觸控顯示裝置的驅動電路，並且所述觸控顯示裝置的驅動電路與所述多個觸控單元和多個顯示單元相連接，所述觸控顯示裝置的驅動電路用於檢測所述多個觸控單元的觸控單元檢測電容值。
28. 如請求項27所述的觸控顯示裝置，所述觸控顯示裝置還包括第一基板、第二基板以及設置於第一基板、第二基板之間的液晶層，所述顯示單元包括設置於所述第一基板上的圖元電極，所述觸控單元包括設置於所述第一基板上的觸摸檢測電極。
29. 如請求項28所述的觸控顯示裝置，所述第一基板上設置有公共電極，所述公共電極用作所述觸控單元的觸摸檢測電極。
30. 如請求項28所述的觸控顯示裝置，所述觸控單元檢測電容值為所述觸控單元的觸摸檢測電極與地端之間的電容值的測量值。