CN105718107B - 触控模组检测与优化方法 - Google Patents

Abstract

一种触控模组的检测与优化方法，适用于一个包含多个触控单元的触控模组，每一个触控单元侦测一个电容的电荷变化而获得一个原始数值。该触控模组的检测与优化方法藉由该触控模组对于每一个触控单元：获得多个显示单元所分别显示的多个灰阶的数值；计算该显示单元所显示的该灰阶的数值分别在多个区间的次数；根据该触控单元的该原始数值、在该区间的该次数、及多个补偿系数，计算而获得该触控单元的一个校正数值。该校正数值能有效地补偿该原始数值由于该显示单元所包括的多个液晶电容对该对应的显示单元所侦测的电容的影响所产生的误差。

Description

触控模组检测与优化方法

技术领域

本发明涉及一种优化方法，特别是指一种触控模组的检测与优化方法。

背景技术

将平面显示器(Flat Panel Display)与触控功能相结合的触控屏幕已经广泛地应用在我们的生活中，例如智能型手机、平板电脑、笔记本电脑等等。在多种实现触控屏幕的技术中，采用投射式电容触控(Projected Capacitive Touch)技术以实现多点触控，并采用内嵌式(On-cell，In-Cell等)的设计方式，将触控传感器直接整合入平面显示器的生产制程中，以使得触控屏幕更为轻薄且透光率高，更能符合行动装置的需求与趋势。然而，由于内嵌式的设计方式是将触控传感器的相关电路整合在平面显示器的薄膜晶体管的基板上，导致触控传感器所侦测到的触控信号会受到平面显示器的驱动信号的干扰而具有误差，也因而成为一个待解决的问题。

发明内容

因此，本发明的目的，在于提供一种触控模组的检测与优化方法。

于是，本发明触控模组的检测与优化方法，适用于一个包含多个触控单元的触控模组，每一个触控单元侦测一个电容的电荷变化而获得一个原始数值，该触控模组的检测与优化方法藉由该触控模组对于每一个触控单元来实施，并包含步骤(a)、(b)、及(c)。

步骤(a)，获得多个显示单元所分别显示的多个灰阶的数值。每一个显示单元包括一个液晶电容，且该液晶电容的大小会影响该触控单元所侦测的该电容的大小。

步骤(b)，计算该显示单元所显示的该灰阶的数值分别在多个区间的次数。

步骤(c)，根据该触控单元的该原始数值、在该区间的该次数、及多个补偿系数，计算而获得该触控单元的一个校正数值。

在一些实施例中，其中，在步骤(b)中，该区间的范围彼此不重迭，且该区间的集合为0与一个灰阶最大值之间的所有整数。

在一些实施例中，其中，在步骤(c)中，定义该原始数值为D0、该校正数值为D、该补偿系数分别为C1、C2、C3、...Ck，该区间分别为一个第一区间、一个第二区间、一个第三区间、...一个第k区间，分别在该第一区间、该第二区间、该第三区间、...该第k区间的该次数为N1、N2、N3、...Nk，k为正整数且为该区间的总数，则D＝D0+C1*N1+C2*N2+C3*N3+...+Ck*Nk，C1、C2、C3、...Ck为实数，N1、N2、N3、...Nk为正整数。

本发明的有益效果在于藉由该触控模组获得会影响该触控单元的该显示单元的该灰阶的数值，并根据该触控单元的该原始数值、该灰阶的数值分别落在该区间的次数、及该补偿系数，计算而得一个校正数值。

附图说明

图1是一个示意图，说明现有技术的一个液晶分子所显示的灰阶数值与该液晶分子的电容值之间的对应关系；

图2是一个流程图，说明本发明触控模组的检测与优化方法的一个实施例；

图3是一个示意图，说明该实施例所适用的一个触控单元及多个显示单元之间的相对关系。

其中，S1～S3是步骤，8是显示单元，9是触控单元。

具体实施方式

本发明触控模组的检测与优化方法的实施例，适用于一个包含多个触控单元的触控模组，每一个触控单元侦测一个电容的电荷变化而获得一个原始数值。在本实施例中，该触控模组是应用于一个采用内嵌式技术的触控屏幕中，该原始数值用于指示该触控模组的该对应的触控单元所侦测到的结果，例如：当该原始数值大于或小于一个预定阀值时，表示一个使用者的手指碰触该触控屏幕。该触控屏幕还包含多个显示单元，每一个显示单元包括一个液晶电容。该触控模组的每一个触控单元所侦测的电容的大小会受到对应的该液晶电容的大小的影响。

如图1所示，图1是一示意图，其横轴是灰阶(Gray Level)的数值，纵轴是液晶电容的电容值，用来举例说明一个液晶分子受到不同灰阶的数值的信号驱动时，该液晶分子对应的等效液晶电容的数值的对应关系，要特别补充说明的是：图1是以8位的灰阶为例作说明，但不限于此。更具体的说，该触控屏幕的每一个显示单元可以视为一个像素(Pixel)，且该显示单元通常会分别发出红色、蓝色、绿色三种颜色且亮度不同的光线，使得该触控屏幕显示出一个供用户观看的图像。每一个显示单元会产生一个对应的驱动信号，该对应的驱动信号指示一个灰阶的数值并驱动该对应的液晶分子旋转，且使得该液晶分子所对应的该像素显示对应的颜色及亮度。而当该液晶分子被驱动而有不同的旋转角度时，该液晶分子对应的等效液晶电容就会有不同的电容值。再加上前述该触控模组的每一个触控单元侦测的电容的大小会受到对应的该液晶电容的大小的影响，这就会导致该触控屏幕在显示一个影像，例如不是整个触控屏幕只显示单一个颜色及亮度时，每一显示单元的该驱动信号的灰阶的数值不同，使得每一个显示单元的该液晶电容的大小不同，每一个触控单元所获得的该原始数值(即触控信号)也就会受到该驱动信号的干扰而具有误差。

如图2所示，该触控模组的检测与优化方法藉由该触控模组对于每一个触控单元来实施，并包含步骤S1～S3。

步骤S1，藉由该触控模组获得多个显示单元所分别显示的多个灰阶的数值。该显示单元的该液晶电容的大小会影响该触控单元所侦测的该电容的大小。

步骤S2，藉由该触控模组计算该显示单元所显示的该灰阶的数值分别落在多个区间的次数。该区间的范围彼此不重迭，且该区间的集合为0与一个灰阶最大值之间的所有整数。

步骤S3，藉由该触控模组根据该触控单元的该原始数值、在该区间的该次数、及多个补偿系数，计算而获得该触控单元的一个校正数值。更具体的说，定义该原始数值为D0、该校正数值为D、该补偿系数分别为C1、C2、C3、...Ck，该区间分别为一个第一区间、一个第二区间、一个第三区间、...一个第k区间，该灰阶的数值分别落在该第一区间、该第二区间、该第三区间、...该第k区间的该次数为N1、N2、N3、...Nk，k为正整数且为该区间的总数，则D＝D0+C1*N1+C2*N2+C3*N3+...+Ck*Nk，C1、C2、C3、...Ck为实数，N1、N2、N3、...Nk为正整数。

如图3所示，图3是一个示意图，说明该实施例所适用的一个触控单元9及多个显示单元设置在该触控屏幕时的相对关系。在图3的粗线条的外框是该触控屏幕的一个触控单元9，在图3的每一个小方框是该触控屏幕的一个显示单元，为了画面简洁，在图3中仅标示出二个编号8的显示单元，且每一个显示单元都标示一个数字以表示该显示单元的该驱动信号所指示的该对应的灰阶的数值。为表示该触控单元9所包含的该显示单元8的数量可以因为实际应用而不同，在图3的部分显示单元仅标示三个点，以表示数量不固定。

由图3可知，该触控单元9的上方或下方设置有多个显示单元，使得该触控单元9所侦测的该电容会受到该显示单元的该液晶电容的大小的影响。此外，要特别补充说明的是，图3所要表示的是该触控单元9及多个显示单元设置在上方或下方而产生干扰，并未限制该触控单元9及每一个显示单元的形状，例如在图3都是矩形。

再者，图3是以每一显示单元的该驱动信号所指示的的灰阶是8位，也就是说该灰阶的数值的最大值为255为例作说明，该区间例如可以是一个第一区间大于等于0且小于17、一个第二区间大于等于17且小于34、...一个第十六区间大于等于238且小于等于255。该触控模组所获得的该原始数值例如为X1，该补偿系数分别为C1、C2、C3、...C16，该次数分别为N1、N2、N3、...N16，则该校正数值等于X1+C1*N1+C2*N2+C3*N3+...+C16*N16。

另外要特别补充说明的是：在本实施例中，该触控模组的补偿方法是适用在一个触控模组，且该触控模组是应用在一个采用内嵌式技术的触控屏幕中，而在其他实施例中，该触控模组也可以是应用在采用其他技术的触控屏幕中，只要该触控屏幕的该显示单元的该驱动信号所指示的该灰阶的数值会对该对应的触控单元所侦测的该电容产生影响即可。

综上所述，本发明触控模组的检测与优化方法是藉由该触控模组获得会影响该触控单元的该显示单元的该灰阶的数值，并根据该触控单元的该原始数值、该灰阶的数值分别落在该区间的次数、及该补偿系数，计算而得一个校正数值，以补偿在该液晶电容的大小不同时，对该触控单元的该电容的影响，故确实能达成本发明的目的。

惟以上所述者，仅为本发明的实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，凡是依本发明申请专利范围及专利说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利涵盖的范围内。

Claims (3)

1.一种触控模组的检测与优化方法，该触控模组的检测与优化方法藉由一个触控模组来实施，所述触控模组包括多个触控单元，每一个触控单元侦测一个电容的电荷变化而获得一个原始数值，所述检测与优化方法包含对于每一个触控单元执行下列步骤：

(a)获得该触控单元对应的多个显示单元所分别显示的多个灰阶的数值；

(b)计算所述多个灰阶的数值分别在多个区间的次数；及

(c)至少根据在每个区间的该次数、及多个补偿系数，计算而获得该触控单元的一个校正数值，其中，定义该原始数值为D0、该校正数值为D、该补偿系数分别为C1、C2、C3、...Ck，该区间分别为一个第一区间、一个第二区间、一个第三区间、...一个第k区间，分别在该第一区间、该第二区间、该第三区间、...该第k区间的该次数为N1、N2、N3、...Nk，k为正整数且为该区间的总数，则D＝D0+C1*N1+C2*N2+C3*N3+...+Ck*Nk，C1、C2、C3、...Ck为实数，N1、N2、N3、...Nk为正整数，

在步骤(b)中，该区间的范围彼此不重迭，且该区间的集合为0与一个灰阶最大值之间的所有整数。

2.如权利要求1所述的触控模组的检测与优化方法，其中，在步骤(a)中，每一个显示单元包括一个液晶电容，且该液晶电容的大小会影响该触控单元所侦测的该电容的大小。

3.如权利要求2所述的触控模组的检测与优化方法，其中，当步骤(a)中的该显示单元所分别显示的灰阶为8位时，则在步骤(b)中的该灰阶最大值为255。