TWI536349B

TWI536349B - 液晶顯示裝置及其驅動方法

Info

Publication number: TWI536349B
Application number: TW100101655A
Authority: TW
Inventors: 李光世
Original assignee: 三星顯示器有限公司
Priority date: 2010-03-11
Filing date: 2011-01-17
Publication date: 2016-06-01
Also published as: KR20110102673A; US8421945B2; TW201131548A; KR101132051B1; US20110221983A1

Description

液晶顯示裝置及其驅動方法

本發明的實施例涉及一種液晶顯示裝置，更特別的是，一種將藉由回扣電壓導致的顯示圖像的品質退化最小化的液晶顯示裝置。

液晶顯示裝置是一種用於顯示圖像的平面顯示裝置，透過使用電場來控制液晶的光穿透度。液晶顯示裝置可包括具有液晶晶胞排列在矩陣中的液晶顯示面板和驅動液晶顯示面板的驅動電路。

優先權宣告

本申請案參考、併入以下申請案於此處。根據35 U.S.C§119宣稱在2010年3月11日在韓國知識產權局較早呈遞的申請案，並且其正式授與序列為第10-2010-0021813號。

本發明的實施例提供了一種將藉由回扣電壓導致的顯示圖像的品質退化最小化的液晶顯示裝置，並且顯示圖像的品質退化最小化可透過檢測回扣電壓的變化和透過在共同電壓中反應回扣電壓的變化來實。

根據本發明的概念，液晶顯示裝置將顯示圖像的品質退化最小化，也就是說，回扣電壓所造成的閃爍和圖像停滯，藉由在共同電壓中反應回扣電壓的變化來優化每一個液晶顯示面板的共同電壓，以補償回扣電壓的這種變化。這種回扣電壓的變化可能產生在製造液晶顯示裝置的過程中。根據本發明的實施例，例如回扣電壓的這種變化可以在液晶面板中檢測出而未採用額外的系統和無需耗費額外的處理時間。

根據本發明的實施，液晶顯示裝置可包括：液晶顯示面板，具有複數個像素；檢測器，配置在該液晶顯示面板內部並且該檢測器檢測到回扣電壓的變化；以及補償共同電壓產生器，根據該檢測器檢測的回扣電壓的變化，藉由調整共同電壓來控制提供給該液晶顯示面板的共同電壓。該檢測器可包括至少一個檢測像素，具有電氣連接到排列在液晶顯示面板中的閘極線並且電氣連接到沿著複數個資料線排列在靠近液晶顯示面板的邊緣的資料線附近的檢測線的檢測像素。

100‧‧‧液晶顯示裝置

110‧‧‧液晶顯示面板

111‧‧‧像素

112‧‧‧閘極驅動器

114‧‧‧數據驅動器

116‧‧‧時序控制器

118‧‧‧電壓產生器

120‧‧‧檢測器

120’‧‧‧檢測器

122‧‧‧檢測像素

S811-S817‧‧‧實現用於共同電壓的電壓補償的步驟

S911-S915‧‧‧實現用於共同電壓的電壓補償的步驟

本發明的更完整理解以及其隨之而來的許多優點將變得很輕易顯現，同時參照以上詳細描述與所附圖式來考慮將更好地理解，其中圖式內相似的符號表示了相同或類似的參考組件，其中，圖1是顯示包含在液晶顯示面板中的像素的簡略電路圖；圖2是顯示在驅動如圖1所描述的像素期間所產生的是一組波形的波形圖；圖3是顯示如本發明實施例的原則所建構的液晶顯示裝置的配置的方格圖；圖4是顯示根據本發明另一實施例的原則的圖3的液晶顯示面板的配置的電路圖；圖5是顯示在驅動如圖4所描述的像素期間所產生的是一組波形的波形圖，圖6是顯示仍根據本發明另一實施例的原則的圖3的液晶顯示面板的配置的電路圖；以及圖7是顯示在驅動如圖6所描述的像素期間所產生的是一組波形的波形圖。

圖8是顯示一種可實現如圖4和5所示的用於共同電壓Vcom的補償電壓的驅動方法。

圖9是顯示一種可實現如圖6和7所示的用於共同電壓Vcom的補償電壓的驅動方法。

在下文中，一些本發明的示範性實施例將參照附圖來說明。在這裡，當第一元件被描述為耦合到第二元件時，第一元件可以直接連接到第二元件，並且可透過第三元件間接耦合到第二元件。此外，為了完整地瞭解本發明，一些沒有必要的元件可以被省略以達清晰的目的。此外，相似的參考符號是指整文中相似的元件。

圖1是顯示包含在液晶顯示面板中的像素的簡略電路圖。

參照圖1，液晶顯示面板包括相互交叉的閘極線(GL)和資料線(DL)，以及驅動液晶晶胞(Clc)的薄膜電晶體(TFT)。薄膜電晶體(TFT)可幾何地形成在閘極線(GL)和資料線(DL)之間的交叉處。此外，液晶顯示面板包括維持施加到液晶晶胞(Clc)的電壓的儲存電容(Cst)。在某些情況下，TFT的閘極電極可電氣連接到閘極線GL，TFT的源極和汲極電極的一者可電氣連接到資料線DL，並且TFT的源極和汲極電極的另一者可電氣連接到液晶晶胞(Clc)和儲存電容(Cst)的某一終端。

液晶晶胞(Clc)可包括像素電極PE，共同電極CE和強加在像素電極和共同電極之間的液晶層。當數據電壓(Vdata)傳輸到像素電極並且共同電壓(Vcom)提供至共同電極時，透過控制實際提供至像素電極的電壓電位(Vlc)，液晶晶胞(Clc)可控制通過液晶晶胞的光的量，並且透過液晶分子的排列的改變可切斷光。在像素電極和共同電極之間的電壓差被施加於液晶晶胞的液晶層。數據信號電壓具有適用於驅動液晶晶胞(Clc)的預定伽瑪電壓的值。

圖2是顯示在驅動如圖1所描述的像素的驅動電壓的波形圖。圖2的波形顯示實際提供至液晶晶胞(Clc)的像素電極PE的電壓(Vlc)、傳送到液晶晶胞(Clc)的共同電極CE的共同電壓(Vcom)和提供至閘極線(GL)的掃描信號(SCP)。

參照圖2，掃描信號(SCP)在作為開啟TFT的開啟電壓所決定的閘極高電壓(Vgh)和作為關閉TFT的關閉電壓所決定的閘極低電壓(Vgl)之間搖擺。

在掃描周期內的某段周期時間的期間，掃描信號(SCP)保持作為Vgh的閘極電壓並且開啟TFT，液晶晶胞(Clc)以作為伽馬電壓提供的數據信號(Vdata)來充電，並且充電電壓可藉由儲存在儲存電容(Cst)中來維持。

顯示圖像的品質和液晶的特點可能會降低，因為維持單一極性的驅動電壓(例如，數據信號)的持續應用，因此，液晶晶胞可透過使用定期地對數據信號的極性反轉的數據信號(Vdata)來驅動。在某些情況下，數據信號(Vdata)可在某些週期時間中具有正極性，然後在下個周期時間具有負極性。

驅動如上述討論的反轉的方法可透過框反轉、線反轉、點反轉等等的方式來達到，並且在框反轉的情況下，例如，每個框的數據信號(Vdata)的極性可被反轉。框可指向掃描信號(SCP)的重複周期。

如圖2所示，共同電壓(Vcom)可作為具有恆定絕對電壓值的電壓來供應，當其具有交替極性時。共同電壓(Vcom)可具有與數據信號(Vdata)的極性相反的極性。

回扣電壓(Vkb)可作為在實際提供至像素電極的電壓電位(Vlc)和傳送到液晶晶胞(Clc)的像素電極的數據信號(Vdata)之間的電壓差來產生。

透過TFT的寄生電容(Cgd)所產生的回扣電壓(Vkb)可作為降低在液晶顯示裝置中的圖像品質的關鍵因素，並且回扣電壓(Vkb)可被定義為以下[公式1]：

公式1中，Cgd表示形成在連接到閘極線GL的TFT的閘極電極和汲極電極之間的寄生電容。此外，Clc表示液晶晶胞的電容，並且CST表示儲存電容的電容。

傳輸到液晶晶胞的像素電極的數據信號(Vdata)是透過回扣電壓(Vkb)來不利地改變，因此，閃爍和圖像停滯可能會產生於顯示的圖像。例如，當數據信號(Vdata)的極性是在頻率為60Hz時反轉，由於在偶數框跟奇數框之間的亮度差的產生，閃爍會出現在頻率為30Hz的顯示圖像。偶數框跟奇數框之間的亮度差可透過如圖2所示的Vc和Vc'之間的電壓差所導致。Vc和Vc'皆指施加到液晶晶胞(Clc)的液晶層的電壓。Vc是指在框1中電壓Vlc和共同電壓Vcom之間的電壓差，並且Vc'是指在框2中電壓Vlc和共同電壓Vcom之間的電壓差。回扣電壓Vkb產生Vc和Vc'之間的差異，因此，在框1和2之間的亮度差是透過回扣電壓Vkb所產生。當液晶顯示裝置在這種條件下運做了很長一段時間，在液晶晶胞中的電壓的傳輸特性可能是不佳地偏移，並且由於應用於液晶晶胞的DC電壓補償，圖像殘留可能會出現在顯示圖像。

為了解決這些回扣電壓(Vkb)所造成的問題，預先計算將產生的回扣電壓可反應在數據信號(Vdata)，但是，這種預先計算的回扣電壓不反應藉由透過TFT基板的製造過程所產生的設計錯誤所造成的變化。

本發明實施例現在將參照附圖以詳細描述如下。

圖3是顯示根據本發明實施所建構的液晶顯示裝置的配置的方格圖。

參照圖3，按照本發明實施例的原則所建構的液晶顯示裝置100可具有液晶顯示面板110，其包含複數個像素111、114提供數據信號到液晶顯示面板110的資料線(DL1到DLm)的數據驅動器112、用於提供掃描信號到閘極線(GL1到GLn)的閘極驅動器、藉由使用從外部提供的同步信號SYN來控制數據驅動器114和閘極驅動器112的時序控制器116、檢測回扣電壓的變化的檢測器120和反應藉由檢測器所檢測的回扣電壓120的變化的補償共同電壓產生器118。在實施例中，檢測器120可包括在液晶顯示面板110內部。

時序控制器116可重新安排從液晶顯示裝置100外部輸入的數位影像數據(RGB)，例如，從系統的圖形控制器，並且時序控制器116將數位影像數據(RGB)供應至數據驅動器114。此外，時序控制器116產生用於控制數據驅動器114的數據控制信號(DCS)和用於控制閘極驅動器112的閘極控制信號(GCS)。

在這個時候，用於控制閘極驅動器112的閘極控制信號(GCS)可包括閘極啟動脈衝(GSP)、閘極偏移時鐘(GSC)、閘極輸出使能(GOE)等等。

此外，用於控制數據驅動器114的數據控制信號(DCS)可包括源極啟動脈衝(SSP)、源極偏移時鐘(SSC)、源極輸出使能(SOE)、極性(POL)等等。

數據驅動器114對從時序控制器116傳送的數據控制信號(DCS)所響應，將數位影像數據(R、G、B)轉變成對應灰階的模擬伽瑪電壓，並且然後將模擬伽瑪電壓供應到資料線(DL1到DLm)。

此外，閘極驅動器112透過將連續的掃描信號提供至閘極線(GL1到GLn)，對從時序控制器116傳送的閘極控制信號(DCS)所響應。根據上述製程，閘極驅動器112可透過閘極線(GL1到GLn)藉由將掃描信號提供至薄膜電晶體(TFT)的閘極電極來控制和驅動TFT。

包括在液晶顯示面板110的複數個像素111可以矩陣來排列並且幾何地配置在閘極線(GL1到GLn)和資料線(DL1到DLm)的交叉，並且每個像素111可包括液晶晶胞(Clc)和薄膜電晶體(TFT)，以及儲存電容(Cst)。在實施例中，TFT的閘極電氣連接至閘極線，TFT的源極和汲極電極的一者電性連接到資料線，TFT的另一個源極和汲極電極電氣連接到液晶晶胞(Clc)和儲存電容(Cst)的某一終端。

正如前面所討論的，閃爍和圖像停滯可能會出現在顯示圖像，因為實際提供到液晶晶胞的像素電極的數據信號是透過包括在每個像素111中的薄膜電晶體的寄生電容(Cgd)所產生的回扣電壓(Vkb)不利地改變。

此外，薄膜電晶體的寄生電容的變化可導致回扣電壓的變化。薄膜電晶體的寄生電容(Cgd)的變化可能在液晶顯示面板製造過程中不利地生成。在製造液晶顯示面板期間，薄膜電晶體的寄生電容(Cgd)的變化可透過包括在薄膜電晶體中的膜的厚度變化和透過在薄膜電晶體的膜之間的錯位來導致。

因此，按照本發明實施例所建構的液晶顯示裝置是為了解決回扣電壓的變化所造成的問題來提供。根據本發明的實施例，液晶顯示裝置可包括對共同電壓補償的檢測器120，透過檢測藉由薄膜電晶體的寄生電容的變化所產生的回扣電壓的變化，以及透過對共同電壓反應的回扣電壓的變化。

換句話說，本發明實施例提供一種包括用於檢測回扣電壓的變化的檢測器120的液晶顯示裝置。在圖3所示的實施例中，檢測器120可包含在液晶顯示面板110內部。

如圖3所示，配置檢測器120以包括至少一個檢測像素(未顯示)，其配置在像素111之間，並且檢測像素包括薄膜電晶體和儲存電容，藉由執行與像素111製程相同的方式來實施。

檢測像素可電氣連接到鄰近資料線(D1或Dm)的檢測線，其排列在液晶顯示面板的末端並且靠近形成在液晶顯示面板中的至少一個或多個閘極線。

包括在檢測像素的薄膜電晶體可透過使用與製造包含液晶顯示面板的其他像素111的薄膜電晶體相同的方法來形成，從而使包含檢測像素的薄膜電晶體的寄生電容的變化是與其他像素111一樣。

因此，本發明的實施例是檢測包含液晶顯示面板的像素111的薄膜電晶體的寄生電容的變化，透過檢測檢測像素的薄膜電晶體的寄生電容的變化。在此實施例中，檢測像素不參與顯示圖像。

為了檢測薄膜電晶體的寄生電容的變化，預定的回扣電壓(Vkb)或預定的共同電壓(Vcom)可提供給包含檢測器120的檢測像素中的薄膜電晶體的源極電極。在實施例中，當檢測器120具有比一個還多的檢測像素時，預定的回扣電壓(Vkb)或預定的共同電壓(Vcom)可提供給包含檢測器120的每個檢測像素中的每個薄膜電晶體的源極電極。因此，當包括在檢測像素中的薄膜電晶體開啟時，反應薄膜電晶體的變化的電壓可輸出至薄膜電晶體的汲極電極。

當預定的回扣提供給檢測像素的薄膜電晶體的源極電壓時，藉由寄生電容的變化所改變的回扣電壓可輸出到薄膜電晶體的汲極電極，因此，回扣電壓的變化所造成的缺點可以透過在供應的共同電壓中反應回扣電壓的變化來控制提供給液晶顯示面板的共同電壓來克服。

此外，當預定的共同電壓供應到薄膜電晶體的源極電極，共同電壓可透過寄生電容的變化來改變。換言之，共同電壓可以調整以對寄生電容的變化彌補，並且可反應回扣電壓的變化。共同電壓可透過檢測像素的薄膜電晶體來輸出，因此，回扣電壓的變化所造成的不利可以透過提供經調整的共同電壓到液晶顯示面板來解決。

圖4是顯示根據本發明實施例的圖3的液晶顯示面板110的配置的電路圖。

在如圖4所示的實施例中，檢測器120可以包括檢測像素122，並且這實施例將被描述為一個例子，其中預定的回扣電壓(Vkb)提供給包含在檢測像素122中的薄膜電晶體(DTFT)的源極電極。

然而本發明不限於圖4所示的實施例，並且可以包括包含在檢測器120中的一個以上的檢測像素的實施例。

參照圖4，液晶顯示面板110包含以矩陣排列的複數個像素111，每個像素111可配置於對應於每個資料線(DL1到DLm的一者)和每個閘極線(GL1到GLn的一者)的交叉。每個像素111可包括液晶晶胞(Cls)、與液晶晶胞相連接的薄膜電晶體(TFT)和儲存電容(Cst)。

薄膜電晶體(TFT)透過從資料線(DL1到DLm)傳送的像素電壓信號來提供，以響應從閘極線(GL)傳送的掃描信號，並且提供至TFT的閘極電極。儲存電容(Cst)不斷保持在液晶晶胞(Clc)中充電電壓。

正如前面所討論的，閃爍和圖像停滯可出現於顯示圖像，因為提供給液晶晶胞的像素電極的數據信號透過包含在每個像素的111中的薄膜電晶體的寄生電容(Cgd)所產生的回扣電壓(Vkb)來改變，並且因為回扣電壓的變化可不定期在液晶顯示面板中產生，由於包括在液晶顯示面板中的薄膜電晶體的寄生電容的變化。

本發明的實施例可以解決藉由回扣電壓的變化所產生的弊端，其藉由共同電壓補償的回扣電壓的變化所反應，其中回扣電壓的變化透過薄膜電晶體的寄生電容的變化所產生。

在本發明的實施例中，包括在液晶顯示面板110內的檢測器120可檢測回扣電壓的變化，並且檢測器120可包括至少一個檢測像素122。

如圖4所示，檢測像素122包括儲存電容(DCst)和薄膜電晶體(DTFT)，其透過以包括在液晶顯示面板110中的像素111相同的製程來實施。

檢測像素122電氣連接到檢測線(DS)，其接近排列在液晶顯示面板末端的資料線(例如，第一資料線，DL1)和接近形成在液晶顯示面板中並在閘極線之間的閘極線(例如，閘極線的n階，GLn)。

更具體地說，在包括檢測像素122的薄膜電晶體(DTFT)中，薄膜電晶體(DTFT)的閘極電極電氣連接到閘極線的n階(GLn)，以及薄膜電晶體的源極電極電氣連接到檢測線(DS)。汲極電極電氣連接到儲存電容(DCst)的某一電極，以及對應於輸入到源極電極的電壓可被輸出到汲極電極。換句話說，反應了薄膜電晶體(DTFT)的寄生電容的變化的電壓Vkb'可被輸出到汲極電極。

在這個時候，預定的回扣電壓(Vkb)的值供應到檢測線(DS)，其中該值是假設回扣電壓理想不變的預定的。

因此，如果掃描信號供應到閘極線的n階GLn，包括在檢測像素122中的薄膜電晶體(DTFT)可以開啟，從而預定的回扣電壓(Vkb)可透過檢測線(DS)提供給DTFT的源極電極，並且可被輸出到薄膜電晶體的汲極電極。輸出到汲極電極的電壓值可以是透過薄膜電晶體的寄生電容的變化所改變回扣電壓(Vkb')。

如圖3所示，輸出的回扣電壓Vkb(即反應薄膜電晶體的寄生電容的變化的電壓值被提供至補償共同電壓產生器118，並且補償共同電壓產生器118供應對回扣電壓的改變值反應的經調整的共同電壓(CVcom)至液晶顯示面板110。在這裡，共同電壓Vcom透過Vkb'調整並成為經補償的共同電壓(CVcom)。

圖5是顯示在驅動如圖4所描述的像素期間所產生的是一組波形的波形圖。如圖2所示，當回扣電壓(Vkb')的變化產生時，藉由共同電壓和數據信號之間的電壓差所產生的大量電荷的平衡並沒有在數據信號的回歸上被實現，即Va≠Vb。

然而，在如圖5所示的本發明實施例中，共同電壓水平可被控制以具有對回扣電壓的變化反應的經調整的電壓水平。當根據提供的每個框的經反轉的數據信號時，透過在共同電壓和數據信號之間的電壓差所產生的大量電荷的平衡可以實現，即Va'=Vb'。換句話說，在經調整的共同電壓(CVcom)和數據電壓(Vdata)之間的電壓在每個框內大致相同。

根據本發明的實施例，藉由在彼此接近的奇數框和偶數框中的電荷的不平衡所造成的閃爍問題可得到解決。

圖6是顯示根據本發明另一個實施例所建構的圖3的液晶顯示面板的配置的電路圖。

如圖6所描述的實施例是如圖3所描述的檢測器120'以複數個檢測像素122來配置，並被形容為在將預定的共同電壓(Vcom)提供到包括檢測像素122的薄膜電晶體(DTFT)的源極電極的情況下的範例。

如圖6所示的檢測器120，的配置是與圖4相比為不同的，然而，液晶顯示面板的像素111的是相同的。因此，相同的元件可使用相同的圖式參考編號並且像素111的詳細說明將被省略。

在如圖6所示的本發明實施例中，檢測器120'檢測回扣電壓的變化，並且檢測器120'形成在液晶顯示面板110的內部。在本發明實施例中，檢測器120'可包括複數個檢測像素122。

在此實施例中，每個檢測像素122可包括透過與包含在液晶顯示面板中的像素111的相同製程來實施的薄膜電晶體(DTFT)和儲存電容(Cst)。

檢測像素122電氣連接到檢測線(DS)，其接近排列在液晶顯示面板末端的資料線(例如，第一資料線，DL1)，並且接近形成在液晶顯示面板上的複數個閘極線(GL1到GLn)。

更具體地說，分別包括在檢測像素122中的薄膜電晶體(DTFT)分別電氣連接到對應於閘極電極的閘極線(GL1到GLn)。DTFT的源極電極電氣連接到檢測線(DS)，DTFT的汲極電極電氣連接到儲存電容(DCst)的某一電極，並且輸入到DTFT的源極電極的電壓可在DTFT的汲極電極處輸出。如前所述，當從源極電極輸入的電壓被輸出到汲極電極，輸出到汲極電極的電壓值反應了薄膜電晶體的寄生電容的變化。

因此，預定的共同電壓(Vcom)可供應給檢測線(DS)。

根據上述製程中，當掃描信號也陸續提供給閘極線時，包括在檢測像素122中的薄膜電晶體(DTFT)可以開啟，從而透過檢測線(DS)所提供的預定的共同電壓(Vcom)可透過薄膜電晶體(DTFT)的源極電極被輸出到DTFT的汲極電極。因此，根據薄膜電晶體(DTFT)的寄生電容的變化，輸出到DTFT的汲極電極的電壓具有經調整的共同電壓(CVcom)的值。

因此，輸出共同電壓(即對寄生電容的變化反應的經調整的共同電壓(CVcom)的電壓值)供應給圖3所描述的補償共同電壓產生器118。補償共同電壓產生器118以經調整的共同電壓(CVcom)來供應並且供應如補償電壓的經調整的共同電壓(CVcom)到液晶顯示面板110。

圖7是顯示在驅動如圖6所描述的像素期間所產生的是一組波形的波形圖。

參照圖7，共同電壓水平根據回扣電壓的變化來調整，並且被控制以具有經調整的共同電壓值(CVcom)。因此，在每個框中的共同電壓和數據信號之間的電壓差所產生的大量電荷的平衡可以實現，即(Va'=Vb')，然而經反轉的數據信號根據每個框來供應。換句話說，在經調整的共同電壓(CVcom)和數據電壓(Vdata)之間的電壓差在每個框中大致相同。根據本發明實施例，藉由在彼此接近的奇數框和偶數框中的電荷的不平衡所造成的閃爍問題可得到解決。

如圖8所示的驅動方法可實現如圖4和5所示的用於共同電壓Vcom的補償電壓。

在步驟S811中，預定的回扣電壓Vkb被施加到包括在檢測像素122中的薄膜電晶體DTFT的源極電極。在步驟S813中，對薄膜電晶體(DTFT)的寄生電容的變化反應的實際回扣電壓Vkb'輸出到DTFT的汲極電極，並且供應至補償共同電壓產生器118。在步驟S815中，補償共同電壓產生器118藉由使用經檢測的實際回扣電壓Vkb'來調整共同電壓(Vcom)。在步驟S817中，補償共同電壓產生器118將對回扣電壓的改變值反應的經調整的共同電壓值(CVcom)供應至液晶顯示面板110。

如圖9所示的驅動方法可實現如圖6和7所示的用於共同電壓Vcom的補償電壓。

在步驟S911中，預定的共同電壓Vcom被施加到包括在檢測像素122中的薄膜電晶體DTFT的源極電極。在步驟S913中，對薄膜電晶體(DTFT)的寄生電容的變化反應的經調整的共同電壓CVcom是被輸出到DTFT的汲極電極，並供應至補償共同電壓產生器118。在步驟S915中，補償共同電壓產生器118將對回扣電壓的改變值反應的經調整的共同電壓(CVcom)供應至液晶顯示面板110。

雖然本發明已以相關聯的某些示範性實施例來描述，但可以理解成本發明不僅限於所披露的實施例，但與之相反的是，意圖用涵蓋包含在所附的申請專利範圍的精神和範圍中的各種修改和排列，以及其等效物。